JPS626126A - 光スペクトル分析用センサ - Google Patents
光スペクトル分析用センサInfo
- Publication number
- JPS626126A JPS626126A JP60146350A JP14635085A JPS626126A JP S626126 A JPS626126 A JP S626126A JP 60146350 A JP60146350 A JP 60146350A JP 14635085 A JP14635085 A JP 14635085A JP S626126 A JPS626126 A JP S626126A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- diffraction grating
- sensor
- optical waveguide
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 26
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 claims description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 abstract description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0256—Compact construction
- G01J3/0259—Monolithic
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、光について波長に対応した強度を分析する光
スペクトル分析装置に使用するセンサに関する。
スペクトル分析装置に使用するセンサに関する。
(ロ)従来技術とその問題点
従来のこの種の光スペクトル分析用センサとして第3図
に示すようなものがあった。第3図は概略構成図である
。
に示すようなものがあった。第3図は概略構成図である
。
第3図において、21は光ファイバ、22は入力光を平
行ビーム妃するコリメートレンズ、23は光を波長に応
じた角度で回折す名回折格子、24は集光用の球面ミラ
ー、25はスリット、26は光検出素子である。
行ビーム妃するコリメートレンズ、23は光を波長に応
じた角度で回折す名回折格子、24は集光用の球面ミラ
ー、25はスリット、26は光検出素子である。
回折格子23によって回折された平行ビームのうち、球
面ミラー24およびスリット25を介して光検出素子2
6に達する回折光は、特定の周波数成分に限られる。平
行ビーム面に対して垂直な軸心まわりに回折格子23を
回転させて、回折格子23の角度を変えると、その角度
に応じて、光検出素子26に達する回折光の周波数成分
が変わる。即ち、回折格子23の角度変更に基づいて、
波長に対応した光強度を検出することができる。
面ミラー24およびスリット25を介して光検出素子2
6に達する回折光は、特定の周波数成分に限られる。平
行ビーム面に対して垂直な軸心まわりに回折格子23を
回転させて、回折格子23の角度を変えると、その角度
に応じて、光検出素子26に達する回折光の周波数成分
が変わる。即ち、回折格子23の角度変更に基づいて、
波長に対応した光強度を検出することができる。
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合に
は、次のような問題点がある。
は、次のような問題点がある。
〔−〕ココリー−トレン2221折格子231球面ミラ
ー24.スリット25など構成要素の数が多く、しかも
、回折格子23を回転させるための機構を必要とするた
め、構造が著しく複雑になっている0才た、それらの構
成要素を空間的に離して設けた空間伝搬型のものである
ため、全体が大型である。
ー24.スリット25など構成要素の数が多く、しかも
、回折格子23を回転させるための機構を必要とするた
め、構造が著しく複雑になっている0才た、それらの構
成要素を空間的に離して設けた空間伝搬型のものである
ため、全体が大型である。
〔二〕前記の各構成要素を空間的に離して設けているた
め、相互間の配置関係を調整するのに調整箇所が多い上
に、調整自体がむずかしい、うまく調整できたとしても
、振動や温度、湿度などの環境の変化によって検出結果
が大きな影響を受ける。
め、相互間の配置関係を調整するのに調整箇所が多い上
に、調整自体がむずかしい、うまく調整できたとしても
、振動や温度、湿度などの環境の変化によって検出結果
が大きな影響を受ける。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、構造の簡素化、コンパクト化を図るとともに、調整
箇所を少なくし、耐環境性を強化することを目的とする
。
て、構造の簡素化、コンパクト化を図るとともに、調整
箇所を少なくし、耐環境性を強化することを目的とする
。
(ハ)問題点を解決するための手段
本発明は、前記の問題点を解決するために、次のような
構成をとる。
構成をとる。
即ち、本発明の光スペクトル分析用センサは、光導波面
と、この光導波面の端縁の一部分に設けうれた入光部と
、前記光導波面の端縁のうち前記入光部から入射される
光が到達する範囲に形成された回折格子と、前記光導波
面の端縁のうち前記回折格子による回折光が到達する範
囲に設けられた光検出素子列とを備えたものである。
と、この光導波面の端縁の一部分に設けうれた入光部と
、前記光導波面の端縁のうち前記入光部から入射される
光が到達する範囲に形成された回折格子と、前記光導波
面の端縁のうち前記回折格子による回折光が到達する範
囲に設けられた光検出素子列とを備えたものである。
(ニ)作用
本発明の構成による作用は、次の通りである。
(i)基本的に光導波面と回折格子と光検出素子列とか
らなり、構成要素の数が従来例に比べて少なくなってい
る。そして、それらの構成要素がソリッドステート化さ
れており、可動要素がないため、全体として、構造の簡
素化と小型化とが図られる。
らなり、構成要素の数が従来例に比べて少なくなってい
る。そして、それらの構成要素がソリッドステート化さ
れており、可動要素がないため、全体として、構造の簡
素化と小型化とが図られる。
(ii )前記のように構成要素数が少なく、全体がソ
リッドステート化されているため、構成要素相互間の配
置関係を調整するのに調整箇所が従来例に比べて少なく
なっているし、調整自体も容易である。また、振動や温
度、湿度などの環境の変化の影響を受けに<<、耐環境
性が強化される。
リッドステート化されているため、構成要素相互間の配
置関係を調整するのに調整箇所が従来例に比べて少なく
なっているし、調整自体も容易である。また、振動や温
度、湿度などの環境の変化の影響を受けに<<、耐環境
性が強化される。
(ホ)実施例
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図および第2図は本発明の実施例に係り、第1図は
光スペクトル分析用センサの斜視図、第2図はその平面
図である。
光スペクトル分析用センサの斜視図、第2図はその平面
図である。
これらの図において、1は光学ガラスなどの透明基体、
2は埋め込みやイオン交換法によって透。
2は埋め込みやイオン交換法によって透。
明暮体lの内部に形成された高屈折率の光導波面である
。この光導波面2は、透明基体lの表面と平行に形成さ
れ、その端縁の全周が透明基体lの端縁に露出している
。
。この光導波面2は、透明基体lの表面と平行に形成さ
れ、その端縁の全周が透明基体lの端縁に露出している
。
光導波面2の端縁の一部分において、光ファイバ3が連
結されており、その連結部分が入光部4となっている。
結されており、その連結部分が入光部4となっている。
透明基体1の端縁のうち入光部4から入射される光が到
達する端縁部分が曲面に形成され、この曲面に回折格子
5が形成されている。理解を容易にするため、回折格子
5は模式的に図示している。
達する端縁部分が曲面に形成され、この曲面に回折格子
5が形成されている。理解を容易にするため、回折格子
5は模式的に図示している。
回折格子5が光導波面2に臨んでいることはいうまでも
ない。
ない。
透明基体1の端縁のうち回折格子5によって回折された
光が到達する端縁部分において、光導波面2に臨む状態
でCOD (電荷結合素子)やフォト・ダイオード・ア
レイなどの光検出素子列6が接合されている。
光が到達する端縁部分において、光導波面2に臨む状態
でCOD (電荷結合素子)やフォト・ダイオード・ア
レイなどの光検出素子列6が接合されている。
回折格子5の形状、回折格子5と光検出素子列6との距
離は、回折格子5で回折された光が光検出素子列6に焦
点を結ぶように定められている。
離は、回折格子5で回折された光が光検出素子列6に焦
点を結ぶように定められている。
光検出素子列6を構成する各素子は、マイクロコンピュ
ータなどのデータ処理装置7に接続されている。
ータなどのデータ処理装置7に接続されている。
次に、この実施例の動作を説明する。
光ファイバ3を通ってきた光は、入光部4において光導
波面2に入射する。この入射光は、光導波面2を屈折し
ながら伝搬し、回折格子5に達する。そして、回折格子
5によって回折を受ける。
波面2に入射する。この入射光は、光導波面2を屈折し
ながら伝搬し、回折格子5に達する。そして、回折格子
5によって回折を受ける。
回折の度合は、波長によって異なる。従って、回折光は
、光検出素子列6を構成する各素子に対して波長に応じ
た角度で個別的に入射するが、どの波長の回折光も光検
出素子列6の上にほぼ焦点を結ぶ。
、光検出素子列6を構成する各素子に対して波長に応じ
た角度で個別的に入射するが、どの波長の回折光も光検
出素子列6の上にほぼ焦点を結ぶ。
光検出素子列6の各素子は、入射した回折光の強度に比
例した電圧あるいは電流を生じ、これをデータ処理装置
7に入力する。
例した電圧あるいは電流を生じ、これをデータ処理装置
7に入力する。
データ処理装置7は、データとして波長ごとの光強度を
得る。このデータは、CRTなどのディスプレイ装置に
表示されたり、プリンタによってプリントアウトされる
。
得る。このデータは、CRTなどのディスプレイ装置に
表示されたり、プリンタによってプリントアウトされる
。
なお、データ処理装置7としては、高次回折による影響
や、光検出素子列6の波長依存性による影響を取り除く
機能をもつものが好ましい。
や、光検出素子列6の波長依存性による影響を取り除く
機能をもつものが好ましい。
本発明は、透明基体1を省略し、光導波面2に直接、回
折格子5および光検出素子列6を設けたものも実施例と
して含む、また、光導波面2の入光部4に光ファイバ3
を直結したもののほか、入光部4と光ファイバ3とを分
離し、両者間にコリメートレンズを置いてコリメート光
を入光部4に入射するように構成したものも実施例とし
て含む。
折格子5および光検出素子列6を設けたものも実施例と
して含む、また、光導波面2の入光部4に光ファイバ3
を直結したもののほか、入光部4と光ファイバ3とを分
離し、両者間にコリメートレンズを置いてコリメート光
を入光部4に入射するように構成したものも実施例とし
て含む。
なお、本発明の応用として、光検出素子列6を光導波面
2から離し、両者間にレンズ系を置いて光検出素子列6
に集光するように構成したものが考えられる。
2から離し、両者間にレンズ系を置いて光検出素子列6
に集光するように構成したものが考えられる。
(へ)効果
以上のように、本発明によれば、次の効果が発揮される
。
。
(a)構成要素の数が従来例に比べて少なく、かつ、そ
れらがソリッドステート化されており、可動要素がない
ため、全体として、構造の簡素化とコンパクト化とを図
ることができる。
れらがソリッドステート化されており、可動要素がない
ため、全体として、構造の簡素化とコンパクト化とを図
ることができる。
(b)構成要素相互間の配置関係を調整するのに調整箇
所が従来例に比べて少なく、かつ、調整自体も容易であ
るから、検出精度を向上することができる。また、振動
や温度、湿度などの環境の変化の影響を受けにくり、耐
環境性を強化することができる。
所が従来例に比べて少なく、かつ、調整自体も容易であ
るから、検出精度を向上することができる。また、振動
や温度、湿度などの環境の変化の影響を受けにくり、耐
環境性を強化することができる。
第1図および第2図は本発明の実施例に係り、第1図は
光スペクトル分析用センサの斜視図、第2図はその平面
図、第3図は従来例の概略構成図である。 2・・・光導波面、4・・・入光部、5・・・回折格子
6・・・光検出素子列
光スペクトル分析用センサの斜視図、第2図はその平面
図、第3図は従来例の概略構成図である。 2・・・光導波面、4・・・入光部、5・・・回折格子
6・・・光検出素子列
Claims (1)
- (1)光導波面と、この光導波面の端縁の一部分に設け
られた入光部と、前記光導波面の端縁のうち前記入光部
から入射される光が到達する範囲に形成された回折格子
と、前記光導波面の端縁のうち前記回折格子による回折
光が到達する範囲に設けられた光検出素子列とを備えた
光スペクトル分析用センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60146350A JPS626126A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 光スペクトル分析用センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60146350A JPS626126A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 光スペクトル分析用センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS626126A true JPS626126A (ja) | 1987-01-13 |
Family
ID=15405722
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60146350A Pending JPS626126A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 光スペクトル分析用センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS626126A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19543729A1 (de) * | 1995-11-23 | 1997-05-28 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Spektrometer |
WO2008149948A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
WO2008149944A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
JP2008304385A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
US8031336B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-10-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscope |
US8045155B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-10-25 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
US8049887B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-11-01 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
US8068223B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-11-29 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
JP2012053067A (ja) * | 2011-11-17 | 2012-03-15 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5637527A (en) * | 1979-09-05 | 1981-04-11 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
JPS56144407A (en) * | 1980-04-12 | 1981-11-10 | Ritsuo Hasumi | Thick film optical integrated circuit |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP60146350A patent/JPS626126A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5637527A (en) * | 1979-09-05 | 1981-04-11 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
JPS56144407A (en) * | 1980-04-12 | 1981-11-10 | Ritsuo Hasumi | Thick film optical integrated circuit |
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19543729A1 (de) * | 1995-11-23 | 1997-05-28 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Spektrometer |
DE19543729B4 (de) * | 1995-11-23 | 2008-08-21 | Berthold Gmbh & Co. Kg | Spektrometer |
US8045157B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-10-25 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
US8068223B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-11-29 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
JP2008304385A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
JP2008304379A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
JP2008304387A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
US8031336B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-10-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscope |
WO2008149948A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
US8045155B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-10-25 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
US8049887B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-11-01 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
WO2008149944A1 (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | 分光モジュール |
US8068224B2 (en) | 2007-06-08 | 2011-11-29 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
US8477305B2 (en) | 2007-06-08 | 2013-07-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscope |
JP2012208134A (ja) * | 2007-06-08 | 2012-10-25 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光器 |
US8368885B2 (en) | 2007-06-08 | 2013-02-05 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
US8411269B2 (en) | 2007-06-08 | 2013-04-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic module |
US8477306B2 (en) | 2007-06-08 | 2013-07-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscope |
JP2012053067A (ja) * | 2011-11-17 | 2012-03-15 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6791086B2 (en) | Microspectrometer gas analyzer | |
EP1576345B1 (en) | Optical analysis system | |
US5801831A (en) | Fabry-Perot spectrometer for detecting a spatially varying spectral signature of an extended source | |
US5139335A (en) | Holographic grating imaging spectrometer | |
Ogata et al. | Optical sensor array in an artificial compound eye | |
JPH06207853A (ja) | 分光計及び光の分析方法 | |
US7768642B2 (en) | Wide field compact imaging catadioptric spectrometer | |
CN110567580A (zh) | 一种可编程滤光成像模组及其任意光谱透过率的实现方法 | |
US3437411A (en) | Optical null spectrophotometer | |
JPS626126A (ja) | 光スペクトル分析用センサ | |
US4850706A (en) | Low profile spectral analysis system | |
CN113552090A (zh) | 一种基于微型扫描光栅微镜的近红外荧光光谱仪 | |
CN210603594U (zh) | 一种光谱仪 | |
JP3220550B2 (ja) | 多素子型焦電検出器の分岐・集光素子 | |
RU2164012C2 (ru) | Спектрометр (варианты) | |
JP2874288B2 (ja) | 紫外線吸収検出器 | |
RU435716C (ru) | Оптико-электронное устройство дл определени координат энергетического центра двумерного излучател | |
JP2001324384A (ja) | 分光器 | |
JPH02145927A (ja) | フーリエ変換型干渉分光器 | |
JPS5859418A (ja) | 合焦検出装置 | |
RU1825418C (ru) | Фотометр | |
SU1260696A1 (ru) | Многокаскадный полихроматор | |
JPS6132628B2 (ja) | ||
JP2532235B2 (ja) | 光学リレ− | |
JPH05281040A (ja) | 分光測定装置 |