JP4849390B2 - アナログ半導体集積回路の調整方法 - Google Patents
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Description
この出力部は、トランジスタ1と、このトランジスタ1のドレインと電源電位VDDの間に接続された負荷抵抗2と、ドレインとゲートの間に接続されたバイアス抵抗3で構成されている。トランジスタ1のゲートには、入力信号に従って内部で生成されたアナログ信号SIGが与えられ、ソースは接地電位GNDに接続され、ドレインが出力端子4に接続されている。この出力部は、バイアス抵抗3によってゲートとドレインを接続することにより、ゲートの電位をドレインの電位とほぼ同じ電位に保つように構成した、セルフバイアス回路となっている。
そして、それぞれ閾値電圧を変えて試作し、またはシミュレーションで生成した複数のアナログLSIを用いて、前記入力端子に所定の電流を注入したときに該入力端子に現れる電圧とそのアナログLSIで最適なバイアス電流を得るための前記ヒューズの切断数との関係を入力端子電圧対ヒューズ切断数情報として予め定める前処理と、調整対象のアナログLSIの入力端子に所定の電流を注入したときに該入力端子に現れる電圧を測定する測定処理と、前記入力端子電圧対ヒューズ切断数情報を参照して前記測定処理で測定された電圧に対応するヒューズ切断数を決定する切断数決定処理と、前記バイアス調整回路内のヒューズを、前記切断数決定処理で決定された数だけ切断するヒューズ切断処理と、を順次行うことを特徴とする。
そして、それぞれ閾値電圧を変えて試作し、またはシミュレーションで生成した複数のアナログLSIを用いて、前記バイアス調整回路のヒューズが未切断のときに前記出力端子に流れ込む電流とそのアナログLSIで最適なバイアス電流を得るための前記ヒューズの切断数との関係を出力端子電流対ヒューズ切断数情報として予め定める前処理と、調整対象のアナログLSIの出力端子に流れ込む電流を測定する測定処理と、前記出力端子電流対ヒューズ切断数情報を参照して前記測定処理で測定された電流に対応するヒューズ切断数を決定する切断数決定処理と、前記バイアス調整回路内のヒューズを、前記切断数決定処理で決定された数だけ切断するヒューズ切断処理と、を順次行うことを特徴とする。
このアナログLSI10は、入力信号INが与えられる入力端子11を有している。入力端子11にはアナログ回路12が接続されると共に、このアナログ回路12を外部から侵入する静電サージから保護するためのNチャネルMOSトランジスタ(以下、「NMOS」という)13aとPチャネルMOSトランジスタ(以下、「PMOS」という)13bによる保護回路13が接続されている。即ち、NMOS13aは、ドレインが入力端子11に接続され、ゲートとソースが電源電位VDDの与えられる電源端子14から延びる電源ライン15に接続されて、通常の入力信号INに対して逆方向接続されたダイオードを呈するようになっている。また、PMOS13bは、ドレインが入力端子11に接続され、ゲートとソースが接地電位GNDが与えられる接地端子16から延びる接地ライン17に接続されて、通常の入力信号INに対して逆方向接続されたダイオードを呈するようになっている。
完成したウエハ状態のアナログLSI10の入力端子11と接地端子16に測定器のプローブを接触させ、一定電流Icを流すと共にこの入力端子11に現われる電圧Vxを測定する。この時、アナログLSI10のヒューズ22iは、すべて未切断状態である。
(1) バイアス調整回路30は、ヒューズ32iを切断したときにトランジスタ31iがオンとなってバイアス電流が増加するように構成しているが、ヒューズ32iを切断したときにトランジスタ31iがオフとなってバイアス電流が減少するように構成しても良い。
(2) 図3の電圧Vjと、電流Ij0と、ヒューズ切断数の関係は、シミュレーションで正確なデータが得られるのであれば、試作品を用いずにシミュレーション結果を使用しても良い。また、幾つかの試作品の試験結果から、内挿及び外挿によってデータを補完しても良い。
(3) PMOS20,抵抗22及びキャパシタ23を削除してPMOS19のドレインを出力端子21に直接接続するようにしても良い。
ここでは、完成したウエハ状態のアナログLSI10の電源端子14と接地端子16の間に直流電源DCから所定の電源電位VDDを供給すると共に、出力端子21を、所定の負荷抵抗Rと電流計AMを介して電源電位VDDに接続する。そして、出力端子21へ流れ込む電流Ixを測定する。
11 入力端子
12 アナログ回路
13 保護回路
14 電源端子
15 電源ライン
16 接地端子
17 接地ライン
19 PMOS
21 出力端子
30 バイアス調整回路
31 トランジスタ
32 ヒューズ
33 抵抗
Claims (2)
- 入力端子に与えられる入力信号に従ってアナログ信号を内部ノードに出力するアナログ回路と、前記入力端子と電源ライン及び接地ラインとの間に設けられてそれぞれ逆方向にダイオード接続されたトランジスタで構成される保護回路と、ゲートが前記内部ノードに接続され、ソースが前記接地ラインに接続され、ドレインが出力端子に接続されたMOSトランジスタによる出力部と、ヒューズの切断数を加減することによって前記内部ノードへ供給するバイアス電圧を調整できるバイアス調整回路とを備えたアナログ半導体集積回路の調整方法であって、
それぞれ閾値電圧を変えて試作し、またはシミュレーションで生成した複数のアナログ半導体集積回路を用いて、前記入力端子に所定の電流を注入したときに該入力端子に現れる電圧とそのアナログ半導体集積回路で最適なバイアス電流を得るための前記ヒューズの切断数との関係を入力端子電圧対ヒューズ切断数情報として予め定める前処理と、
調整対象のアナログ半導体集積回路の入力端子に所定の電流を注入したときに該入力端子に現れる電圧を測定する測定処理と、
前記入力端子電圧対ヒューズ切断数情報を参照して前記測定処理で測定された電圧に対応するヒューズ切断数を決定する切断数決定処理と、
前記バイアス調整回路内のヒューズを、前記切断数決定処理で決定された数だけ切断するヒューズ切断処理と、
を順次行うことを特徴とするアナログ半導体集積回路の調整方法。 - 入力端子に与えられる入力信号に従ってアナログ信号を内部ノードに出力するアナログ回路と、ゲートが前記内部ノードに接続され、ソースが接地ラインに接続され、ドレインが出力端子に接続されたMOSトランジスタによる出力部と、ヒューズの切断数を加減することによって前記内部ノードへ供給するバイアス電圧を調整できるバイアス調整回路とを備えたアナログ半導体集積回路の調整方法であって、
それぞれ閾値電圧を変えて試作し、またはシミュレーションで生成した複数のアナログ半導体集積回路を用いて、前記バイアス調整回路のヒューズが未切断のときに前記出力端子に流れ込む電流とそのアナログ半導体集積回路で最適なバイアス電流を得るための前記ヒューズの切断数との関係を出力端子電流対ヒューズ切断数情報として予め定める前処理と、
調整対象のアナログ半導体集積回路の出力端子に流れ込む電流を測定する測定処理と、
前記出力端子電流対ヒューズ切断数情報を参照して前記測定処理で測定された電流に対応するヒューズ切断数を決定する切断数決定処理と、
前記バイアス調整回路内のヒューズを、前記切断数決定処理で決定された数だけ切断するヒューズ切断処理と、
を、順次行うことを特徴とするアナログ半導体集積回路の調整方法。
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