JP4844854B2 - 固体撮像素子及び撮影装置 - Google Patents

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Description

本発明は固体撮像素子及びその固体撮像素子を用いた撮影装置に関し、さらに詳しくは、破壊、爆発、燃焼などの高速の現象を撮影するために好適な高速動作可能な固体撮像素子及び撮影装置に関する。
例えば爆発、破壊、燃焼、衝突、放電などの高速の現象を、短時間だけ連続的に撮影するための高速撮影装置(高速ビデオカメラ)が従来より開発されている(非特許文献1など参照)。こうした高速撮影装置では、100万フレーム/秒程度以上もの、きわめて高速度の撮影が必要である。そのため、従来一般的にビデオカメラやデジタルカメラなどに利用されている撮像素子とは異なる、特殊な構造を有する高速動作可能な固体撮像素子が利用されている。
こうした固体撮像素子として、従来、特許文献1などに記載の画素周辺記録型撮像素子(IS−CCD)と呼ばれる素子が知られている。この撮像素子について概略的に説明する。即ち、受光部であるフォトダイオード毎にそれぞれ記録枚数(フレーム数)分の転送を兼ねた蓄積用CCDを備え、撮影中には、フォトダイオードで光電変換された画素信号を蓄積用CCDに順次転送する。そして、撮影終了後に蓄積用CCDに記憶してある記録フレーム数分の画素信号をまとめて読み出し、撮像素子の外部で記録フレーム数分の画像を再現する。撮影中に記録フレーム数分を越えた画素信号は古い順に廃棄され、常に最新の所定フレーム数分の画素信号が蓄積用CCDに保持される。そのため、撮影の終了時に蓄積用CCDへの画素信号の転送を中止すれば、その時点から記録フレーム数分だけ時間的に遡った時点以降の最新の画像が得られる。
上述のような高速撮影では観察対象の特定の現象の発生タイミングに同期した撮影を行うことが重要であり、外部からトリガ信号が与えられると、それに応じて撮影を開始したり終了したりする制御が行われている。こうしたトリガ信号を生成するために、例えば接触センサ、位置センサ、振動センサ、圧力センサなどの撮像装置とは別のセンサを用いることが一般に行われている。しかしながら、被写体とこうしたセンサとを近付けることが困難である場合、或いは、顕微鏡の下での微小な物体の撮影行う場合などにおいては、上記方法では適切なトリガ信号を得ることが困難であることが多い。
上記のように別のセンサからトリガ信号を得ることが難しい場合、被写体の撮影画像から被写体の動きや変化などを検知してトリガ信号を生成することが望ましい。従来、比較的低速な撮影では、取得した撮影画像からリアルタイムの画像処理を行って被写体の動きや変化を検知し、トリガ信号を生成するような装置が開発されている。このような装置では、固体撮像素子を駆動する基準クロックを実際の撮影に必要な速度の数倍から数十倍に上げて(つまりオーバーサンプリングを行って)撮影を実行し、固体撮像素子から読み出した画像信号により再現される画像に対しリアルタイムで被写体の動き検知処理を実施する。そして、被写体の動きや変化が検知された場合にトリガ信号を生成し、これを受けて本来の撮影の開始や停止を行ったり、或いは撮影のための照明のオン・オフ等、撮像装置以外の機器の制御を行ったりするようにしている。
しかしながら、撮像素子から読み出した信号をリアルタイムで画像処理して被写体の動きや変化を検知する場合、通常、外部のフレームメモリに画像を記憶させたり大量の演算処理が必要になったりするため、目的とする現象の生起からトリガ信号が発生するまでの時間遅れが大きくなる傾向にある。特に高速撮影の場合、この時間遅れのために目的とする現象を捉えた画像を得られないおそれがある。
こうした課題に対し、特許文献2に記載の撮影システムでは、撮像レンズの後方にビームスプリッタやハーフミラーなどの光分割手段を設け、入射光を複数に分割してそれぞれ第1及び第2なる2台の撮像装置に導入し、第1の撮像装置を画像の急激な変化を検知するためのモニタリング専用とし、それによって得られたトリガ信号に応じて第2の撮像装置において画像信号の取り込みを制御するようにしている。しかしながら、こうした撮影システムでは、被写体から到来する入射光を複数に分割するための光学系が必要になるとともに撮像装置(撮像素子)も複数用意する必要がある。そのため、システムが大掛かりとなり、コストを引き下げることが難しく、システムの小型化・軽量化も困難である。
また特許文献3には、固体撮像素子の画素領域の中や周囲に入射光量の変化を検出するための専用の変化検出素子を設け、その変化検出素子の検出信号に基づいて撮影の開始や停止などの制御を行うようにしている。しかしながら、変化検出素子を撮像素子領域中に設けた場合、変化検出素子が存在する部分では撮影用の画素信号が得られないため、画質が劣化することが避けられない。これを回避するため、変化検出素子が撮像素子領域から分離されて配置され、入射光をプリズムやハーフミラーなどで分割して変化検出素子と撮像素子領域とに照射する構成も提案されている。しかしながら、こうした光学系を用いて光を分割することは特許文献2に記載の従来技術と同様に、コストアップの大きな要因となる。また、撮影範囲の一部で起こる変化を捉えるには或る程度多数の変化検出素子を用意する必要があるが、そうなると固体撮像素子のチップ面積が大きくなってやはりコストアップの要因となる。
特開2001−345441号公報 特開平5−336420号公報 特開2007−166581号公報 近藤ほか5名、「高速度ビデオカメラHyperVision HPV-1の開発」、島津評論、島津評論編集部、2005年9月30日発行、第62巻、第1・2号、p.79−86
本発明は上記課題に鑑みて成されたものであり、その主な目的は、特別な光学系を用意することなく、連続的な撮影で得られる画像中の被写体の変化や動き、観測対象の特定の現象の生起などを確実に捉えて、高速撮影の開始や停止などを制御したり外部の機器を制御したりするためのトリガ信号を生成することができる固体撮像素子を提供することにある。
また本発明の他の目的は、上記のような固体撮像素子を利用して、低廉なコストで、目的とする高速の現象を確実に捉えて記録することができる撮影装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された本発明に係る固体撮像素子は、
a)二次元アレイ状に配列され、それぞれが、光を受光して光電荷を生成する光電変換素子と、前記光電変換素子で生成された光電荷を検出ノードへ転送する転送素子と、前記検出ノードから後記画素出力線に電荷に応じた出力信号を送出するバッファ素子と、を少なくとも含む複数の画素と、
b)前記複数の画素毎に独立して設けられた画素出力線と、
c)前記画素出力線を通して各画素から出力される出力信号を保持するために各画素に対して複数設けられた記憶部と、
d)前記各画素における撮像に対応した光電荷の蓄積動作及び前記画素出力線を通しての各画素から前記複数の記憶部の1つへの信号の転送動作を全画素で一斉に、且つ撮像毎に信号を保持させる記憶部を順番に変えながら繰り返し行う途中で、異なる時点で得られた2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号を該当する記憶部から逐次読み出すように各画素及び各記憶部を動作させる駆動制御手段と、
e)前記駆動制御手段の制御の下に逐次読み出された2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号に基づいて撮影対象の変化又は動きを検知してトリガ信号を生成するトリガ信号生成手段と、
を備えることを特徴としている。
本発明に係る固体撮像素子において、各画素が備える光電変換素子は例えばフォトダイオードであり、検出ノードは電荷信号を電圧信号に変換するものであって例えばフローティングディフュージョン(フローティング領域)であり、転送素子は例えばトランジスタ(MOSトランジスタ)であり、バッファ素子は例えば複数のトランジスタから構成されるソースフォロアアンプであり、記憶部は例えばキャパシタとトランジスタ等のスイッチとの組み合わせであるものとすることができる。
本発明に係る固体撮像素子では、撮影で取得した信号(画素信号)を素子外部に読み出すことなく、1フレームの撮像つまり光電荷蓄積を行う毎に、その出力信号を画素出力線を介して複数の記憶部の1つに記憶させる、という動作を複数の記憶部について規定の順番で行うことにより、きわめて高速に連続撮影を行うことができる。撮像の繰り返しにより、画素毎に用意された複数の記憶部に全て信号が保持された後には、時間的に最も古い信号を破棄して(実際には記憶部の保持内容をリセットして)新たに取得された信号を保持させればよい。画素出力線を介しての各画素から記憶部への信号の転送はきわめて短時間で行えるから、1フレームの撮影に要する時間の殆どは、光電変換素子で光を受光して光電荷を検出ノードなどに蓄積する時間で決まる。
こうして高速の撮影を行う途中で、駆動制御手段は、異なる時点で得られた2つのフレーム、例えば最新のフレームと1フレーム又は複数フレーム前のフレームとについて、全画素又は一部の画素に対応した信号を、該当する記憶部から逐次読み出す。なお、この逐次読み出しの対象の記憶部と異なる記憶部に対しては、画素出力線を介して信号の転送を続けることができるから、上記逐次読み出し中にも撮影を継続することができる。
トリガ信号生成手段は、上記逐次読み出しされた2フレームの画像に対応する信号を利用して、撮影対象の被写体の動きや変化などを検知する。例えば、同一位置の画素信号の差分をとり、画素毎の差分値を加算してそれが閾値を超えている場合に被写体に動きや変化があるとみなすことができる。
1画素ずつ画素信号を比較する(差分をとる)と、外部の振動などに起因する画像振れの影響を受け易い。そこで、例えば、2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号を該当する記憶部から逐次読み出す際に、二次元のアレイ状に複数配列された画素の中で水平方向及び/又は垂直方向に隣接する又は近接する複数の画素に対応した信号を同時に読み出し、加算処理又は平均化処理を行った上で上記のようにフレーム間の差分をとるようにするとよい。
こうした構成によれば、画像振れなどの影響を軽減して被写体の動きや変化の検知精度を上げることができる。また、トリガ信号生成のために記憶部から信号を逐次読み出す時間を短縮することで、被写体の動きや変化が生じてからトリガ信号が得られるまでの時間遅延を小さくすることができる。
後者の効果を得るために、2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号を該当する記憶部から逐次読み出す際に、二次元のアレイ状に複数配列された画素の中で水平方向及び/又は垂直方向に所定の間隔で飛ばし読み出しを行うようにしてもよい。
また本発明に係る固体撮像素子において、駆動制御手段は、前記トリガ信号生成手段により生成されるトリガ信号に基づいて撮像を停止し、前記複数の記憶部に保持されている複数のフレームに対応した信号を逐次読み出して出力する構成とすることができる。
ここで、トリガ信号に基づいた撮像の停止とは、必ずしもトリガ信号が得られたならば直ちに撮影を停止するとは限らず、トリガ信号の発生のタイミングから撮像を停止するまでに適宜の時間遅延又は適宜のフレーム数遅延を持たせてもよい。この場合、こうした時間遅延やフレーム数遅延を外部から、つまりユーザーが指定可能であるようにするのが好ましい。これら遅延を適宜に設定することにより、実質的にトリガ信号の発生時点から連続撮影を開始して記憶部の数で決まる所定のフレーム数の画像を得ることができる。また、トリガ信号の発生時点で直ちに撮影を停止し、トリガ信号の発生時点から時間的に遡った所定のフレーム数の画像を得ることもできる。
なお、本発明に係る固体撮像素子においては、前記トリガ信号を生成するための2つのフレーム中の特定の範囲を外部から指定可能である構成とするとよい。
爆破など、本固体撮像素子を用いた撮影装置で高速撮影したい現象の兆候を捉えたい場合、必ずしも撮影画像全体を観察する必要はなく、その画像中のごく一部でよいことも多い。そうした場合、トリガ信号を生成するためにフレーム間差分を観察する範囲を狭くすることで、逐次読み出しする信号の数を減らして被写体の動き・変化の迅速な検知が可能となる。これにより、実際の被写体の動きや変化の起こった時点からトリガ信号が発生するまでの時間遅れを短くすることができる。
また本発明に係る固体撮像素子においては、前記トリガ信号を生成するための2つのフレームのフレーム間隔又は時間差を外部から指定可能である構成とするとよい。これにより、撮影したい現象などの種類や被写体の動きや変化の態様に合わせて、適切なタイミングでトリガ信号を生成することができる。
また本発明に係る固体撮像素子では、トリガ信号生成手段により生成されたトリガ信号を外部に出力する出力端子を備える構成とするとよい。外部に出力されたトリガ信号を利用して、例えば照明を点灯させたり、別の撮影装置において撮影を開始させたりするといった制御が容易に行える。また、固体撮像素子の内部でトリガ信号に応じて撮影の開始や停止の制御を行うのではなく、例えば別の条件の下でトリガ信号が発生したときに撮影の開始や停止を行うといった、より複雑で且つ自由度の高い撮影の制御が可能となる。
また本発明に係る撮影装置は、上述のような本発明に係る固体撮像素子を用いた撮影装置であって、前記トリガ信号生成手段により生成されるトリガ信号に応じて当該固体撮像素子の撮影の開始又は停止を制御する制御手段を備えることを特徴としている。
ここで、固体撮像素子の外部に設けられた制御手段には、例えば上記トリガ信号と別のセンサ等で得られたセンサトリガ信号などとの論理和をとったり別の条件の有無を示す信号との論理積をとったりする論理演算回路、トリガ信号を遅延させる遅延回路、などを含むものとすることができる。
本発明に係る固体撮像素子及び撮影装置によれば、目的とする撮影対象の現象の生起、被写体の動きや変化などを的確に捉えたトリガ信号を迅速に、つまり大きな時間遅れなく発生することができるので、目的とする現象の高速度の撮影を確実に行うことができる。また、トリガ信号を得るために、振動センサなどの別のセンサによる検知信号や他の撮影装置による撮影画像が不要になり、また複雑な光学系を用いることなく、1個の固体撮像素子によってトリガ信号が得られるので、システムのコストを抑えるのに有利である。
本発明の一実施例である固体撮像素子の半導体チップ上のレイアウトを示す概略平面図。 本実施例の固体撮像素子において画素領域内の1個の画素のレイアウトを示す概略平面図。 本実施例の固体撮像素子における画素領域及び記憶領域の概略構成を示す平面図。 本実施例の固体撮像素子における略半分の要部のブロック構成図。 本実施例の固体撮像素子における1個の画素の回路構成図。 本実施例の固体撮像素子において1個の画素における光電変換領域のレイアウトを示す概略平面図。 図6中のA−A’矢視線縦断面における概略ポテンシャル図。 本実施例の固体撮像素子において垂直方向に配列された132個の画素に対応する1個の記憶部ユニットの概略構成図。 本実施例の固体撮像素子における1個の記憶部の回路構成図。 本実施例の固体撮像素子において各記憶部に保持されている信号を出力線を通して読み出すための概略構成を示すブロック図。 本実施例の固体撮像素子において連続読み出しモードとバースト読み出しモードの概略タイムチャート。 本実施例の固体撮像素子において光電荷蓄積時間が短い場合の動作モードの駆動タイミング図。 図12に示した動作における画素内の概略ポテンシャル図。 本実施例の固体撮像素子において光電荷蓄積時間が相対的に長い場合の駆動タイミング図。 図14に示した動作における画素内の概略ポテンシャル図。 本実施例の固体撮像素子において連続読み出しモードでの1フレーム分の逐次読み出しの動作タイミング図。 本実施例の固体撮像素子においてバースト読み出しモードでの逐次読み出しの動作タイミング図。 本実施例の固体撮像素子における水平シフトレジスタの要部の動作タイミング図。 本実施例の固体撮像素子における垂直シフトレジスタの要部の動作タイミンング図。 本実施例の固体撮像素子において信号出力線毎に設けられたトリガ信号生成部の概略構成図。 本実施例の固体撮像素子を用いた撮影装置の要部のブロック構成図。 この撮影装置における撮像制御のタイミングを説明するための概略図。 撮影画像を示す模式図。 画素信号の選択を説明するための概略図。
符号の説明
1…半導体基板
2、2a、2b…画素領域
3a、3b…記憶領域
4a、4b…垂直走査回路領域
5a、5b…水平走査回路領域
6a、6b…電流源領域
10…画素
11…光電変換領域
12…画素回路領域
13…配線領域
14、141…画素出力線
15…駆動ライン
20…記憶部ユニット
21…記憶部ユニット行
22…記憶部
23、23a、23b、23c、23d…出力線
24、24a、24b、24c、24d…記憶素子
25、25a、25b、25c、25d…キャパシタ
26、26a、26b、26c、26d…サンプリングトランジスタ
27、27a、27b、27c、27d…読み出しトランジスタ
31…フォトダイオード
32…転送トランジスタ
33、331、332…フローティングディフュージョン
333…金属配線
34…蓄積トランジスタ
35…リセットトランジスタ
36…蓄積キャパシタ
37、40…トランジスタ
38、41…選択トランジスタ
39…電流源
43…ソースフォロアアンプ
50…記憶部ユニットブロック
60…トリガ信号生成部
61、62…サンプルホールド回路部
63…差分回路
64…積算回路
65…比較器
66…パルス発生回路
70…固体撮像素子
71…トリガ信号演算回路
72…トリガ信号出力端子
73…トリガ信号入力端子
74…撮像制御部
75…制御回路
VSR1…垂直シフトレジスタ
HSR1…水平シフトレジスタ
以下、本発明の一実施例である固体撮像素子及び撮影装置について、添付図面を参照して説明する。
まず本実施例による固体撮像素子の全体の構成及び構造について説明する。図1は本実施例の固体撮像素子の半導体チップ上の全体のレイアウトを示す概略平面図、図3は本実施例の固体撮像素子における画素領域及び記憶領域の概略構成を示す平面図、図4は本実施例の固体撮像素子における略半分の要部のブロック構成図である。
図1に示すように、この固体撮像素子においては、光を受光して画素毎の信号を生成するための画素領域2(2a、2b)と、前記信号を所定フレーム数分保持するための記憶領域3a、3bとが、半導体基板1上で混在せずに完全に分離され、それぞれまとまった領域として設けられている。略矩形状の画素領域2内には、N行、M列の合計N×M個の画素10が二次元アレイ状に配置され、この画素領域2はそれぞれ(N/2)×M個の画素10が配置された第1画素領域2a、第2画素領域2bの2つに分割されている。
第1画素領域2aの下側には、小面積の第1電流源領域6aを挟んで第1記憶領域3aが配置され、第2画素領域2bの上側には、同じく小面積の第2電流源領域6bを挟んで第2記憶領域3bが配置されている。第1及び第2記憶領域3a、3bにはそれぞれ、記憶領域3a、3bからの信号の読み出しを制御するためのシフトレジスタやデコーダなどの回路を設けた、第1及び第2垂直走査回路領域4a、4bと、第1及び第2水平走査回路領域5a、5bとが設けられている。図3に示すように、各記憶領域3a、3bからは、素子の外部に信号を読み出すための出力束線SS01〜SS64が上下に32組ずつ、合計64組配設されている。
このように本実施例の固体撮像素子は、画素領域2の略中央を上下の2つに区画する水平線を境界として、ほぼ上下対称の構造となっている。この上半分及び下半分の構造や動作は同じであるため、以下の説明では、下方の第1画素領域2a、第1記憶領域3a、第1垂直走査回路領域4a、第1水平走査回路領域5aの構造及び動作を中心に述べることとする。
画素数、つまり上記N、Mの値はそれぞれ任意に決めることができ、これらの値を大きくすれば画像の解像度は上がるが、その反面、全体のチップ面積が大きくなるか、或いは1画素当たりのチップ面積が小さくなる。この例では、N=264、M=320としている。従って、第1、第2画素領域2a、2bにそれぞれ配置される画素数は、図3、図4中に記載したように、水平方向が320画素、垂直方向が132画素の、42240画素である。
図2は、画素領域2(2a、2b)中の1個の画素10のレイアウトを示す概略平面図である。1個の画素10が占める領域はほぼ正方形であり、この内部は3つの領域、即ち、光電変換領域11、画素回路領域12、及び配線領域13に大別される。配線領域13には、(N/2)+α本の画素出力線14が垂直方向に延伸するようにかためて配設されている。ここでαは0でもよく、その場合、本例では1つの配線領域13を通る画素出力線の本数は132本となる。但し、一般に、このように平行に延伸する配線(例えばAl等の金属配線)を多数形成する場合に、両端の配線の幅や寄生容量が異なるものとなり易い。そこで、実際に信号を通す132本の画素出力線を挟んで両端に、1本ずつダミーの配線を設ける。その場合、α=2であって、1つの配線領域13を通る配線の本数は134本となる。
図5は図2に示した1個の画素10の回路構成図である。各画素10は、光を受光して光電荷を生成するフォトダイオード(本発明における光電変換素子に相当)31と、フォトダイオード31に近接して設けられた光電荷を転送するための転送トランジスタ(本発明における転送素子に相当)32と、転送トランジスタ32を介してフォトダイオード31に接続され、光電荷を一時的に蓄積するとともに電圧信号に変換するフローティングディフュージョン(本発明における検出ノードに相当)33と、光電荷の蓄積動作時にフォトダイオード31から転送トランジスタ32を介して溢れ出る、つまりオーバーフローする電荷を蓄積するための蓄積トランジスタ34及び蓄積キャパシタ36と、フローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36に蓄積された電荷を排出するためのリセットトランジスタ35と、フローティングディフュージョン33に蓄積された電荷又はフローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36の両方に蓄積された電荷を電圧信号として出力するための、従属接続された2個のPMOS型のトランジスタ37、38、同じく従属接続された2個のNMOS型のトランジスタ40、41の2段構成であるソースフォロアアンプ(本発明におけるバッファ素子に相当)43と、ソースフォロアアンプ43の初段の2個のトランジスタ37、38に電流を供給するための定電流トランジスタなどによる電流源39と、を含む。
転送トランジスタ32、蓄積トランジスタ34、リセットトランジスタ35、及び、ソースフォロアアンプ43の選択トランジスタ38、41のゲート端子には、それぞれφT、φC、φR、φXなる制御信号を供給するための駆動ライン15が接続される。図4に示すように、これら駆動ライン15は画素領域2内の全ての画素に共通である。これにより、全ての画素での同時駆動が可能となっている。
ソースフォロアアンプ43の2段目の選択トランジスタ41の出力42が、上述した配線領域13に配設される132本の画素出力線14のうちの1本(図5では符号141で示す画素出力線)に接続される。この画素出力線141は画素10毎にそれぞれ1本ずつ、つまり各画素10に対応して独立に設けられている。それ故に、この固体撮像素子では、画素数と同数の、つまり84480本の画素出力線が設けられている。
ソースフォロアアンプ43は、画素出力線141を高速で駆動するための電流バッファの機能を持つ。各画素出力線141は、図4に示したように、画素領域2aから記憶領域3aまで延伸されているため、或る程度大きな容量性負荷となり、これを高速で駆動するためには大きな電流を流すことが可能な、大きなサイズのトランジスタが必要である。しかしながら、各画素10において光電変換ゲインを上げるためには、光電荷を電圧に変換するためのフローティングディフュージョン33の容量はできるだけ小さいほうがよい。フローティングディフュージョン33に接続されるトランジスタのゲート端子の寄生容量はフローティングディフュージョン33の容量を実効的に増加させるため、上記理由により、このトランジスタ37はゲート入力容量が小さな小型のトランジスタであることが望ましい。そこで、出力側での大電流の供給と入力側での低容量とを共に満たすために、ここではソースフォロアアンプ43を2段構成とし、初段のトランジスタ37を小型のトランジスタとすることにより入力ゲート容量を抑え、後段のトランジスタ40、41は大きなトランジスタを使用して大きな出力電流を確保できるようにしている。
また、ソースフォロアアンプ43において、初段の選択トランジスタ38は基本的な動作を行う上で無くても構わないものであるが、後段の選択トランジスタ41がオフ状態であるときに同時に選択トランジスタ38もオフすることにより、電流源39からトランジスタ37に電流が流れないようにして、その分だけ電流消費を抑えることができる。
図6は1個の画素10における光電変換領域11のレイアウトを示す概略平面図、図7は図6中のA−A’矢視線縦断面における概略ポテンシャル図である。
上面視で略矩形状の受光面を有するフォトダイオード31は埋め込みフォトダイオード構造である。高速撮影では露光時間が極端に短いため、適切な露出を確保するには各画素10のフォトダイオードの受光面の面積をできるだけ広くして、入射(受光)する光量をできるだけ増やす必要がある。しかしながら、一般的に、フォトダイオードの受光面の面積を広くすると、特にその周辺側で生成された光電荷が検出ノードであるフローティングディフュージョンに到達するまでに掛かる時間が問題となり、高速撮影の短い1サイクル期間中に転送できない光電荷は無駄になったり残像現象を起こす原因となったりする。そこで、本実施例の固体撮像素子では、次のような構造を採用することで電荷転送の速度向上を図っている。
通常、フローティングディフュージョンはフォトダイオードの側方に配置されるが、この固体撮像素子では、図6に示すように、フォトダイオード31のほぼ中央部に小面積のフローティングディフュージョン331が形成され、そのフローティングディフュージョン331を取り囲むように環状に転送トランジスタ32のゲート電極が設けられている。このようにフォトダイオード31の中央にフローティングディフュージョン331を配置することにより、フォトダイオード31の周辺部からフローティングディフュージョン331までの光電荷の移動距離が平均的に短くなり、フォトダイオード31の周辺部のどの位置で発生した光電荷もフローティングディフュージョン331に到達し易いようにしている。
さらに、フォトダイオード31を形成する際に、複数のフォトマスクを使用して不純物の打ち込み(ドープ)量(又は打ち込み深さ)を複数段階に変化させることにより、フォトダイオード31の周辺部から中央(つまりフローティングディフュージョン331)に向かって不純物ドープ量(又は打ち込み深さ)が徐々に又はステップ状に変化するようにしている。そのため、フォトダイオード31のpn接合に適宜のバイアス電圧が印加されると、図7(a)に示すように、フォトダイオード31の周辺部から中央に向かって下傾するポテンシャル勾配が形成される。この作り込みの、つまりプロセス上の工夫で形成されるポテンシャル勾配によって、光の受光によりフォトダイオード31で生成された光電荷はその周辺部で生成したものほど大きく加速され中央側に進行する。
このとき、転送トランジスタ32がオフ状態であれば、図7(a)に示したように、転送トランジスタ32の環状のゲート電極直下に形成されるポテンシャル障壁の周囲に光電荷が集積される。転送トランジスタ32がオンすればすぐに、図7(b)に示したように、集積されていた光電荷は転送トランジスタ32を経てフローティングディフュージョン331に落ち込む。一方、光が入射している期間中に転送トランジスタ32がオン状態を維持する場合には、ポテンシャル勾配に沿って中央に集まってきた光電荷はそのまま転送トランジスタ32を経てフローティングディフュージョン331に落ち込む。いずれにしても、フォトダイオード31で生成された光電荷を高い確率で且つ迅速にフローティングディフュージョン331に転送することができる。
フォトダイオード31の中央部にフローティングディフュージョン331を設けることで上述のような大きな利点があるものの、オーバーフローした光電荷を蓄積する蓄積キャパシタ36などをそのフローティングディフュージョン331に近接して配置すると開口率が低下するという問題が生じる。そこでここでは、上記のように光電荷が直接流れ込むフローティングディフュージョン(以下、第1フローティングディフュージョンという)331とは別に画素回路領域12中に第2フローティングディフュージョン332を拡散層として形成し、第1フローティングディフュージョン331と第2フローティングディフュージョン332との間をアルムニウム(Al)等による金属配線333で接続することにより両者が同電位となるようにしている。つまり、ここでは、第1フローティングディフュージョン331及び第2フローティングディフュージョン332が一体となって、電荷信号を電圧信号に変換する検出ノードとしてのフローティングディフュージョン33として機能する。
次に、第1及び第2記憶領域3a、3bの内部の構成の詳細について説明する。図4に示すように第1及び第2記憶領域3a、3b内には、画素領域2a、2b内の垂直方向に並べられた132個の画素10に対してそれぞれ接続された132本の画素出力線14の延伸方向に沿って、蓄積フレーム数L分の記憶部ユニット20が配列されている。この例では、蓄積フレーム数Lつまり連続撮影フレーム数は104であり、垂直方向に104個の記憶部ユニット20が配列され、さらにこれが水平方向に320個並んでいる。従って、第1記憶領域3aには104×320個=33280個の記憶部ユニット20が配設されている。第2記憶領域3bにも同数の記憶部ユニット20が配設されている。
図8は1個の記憶部ユニット20の内部構成を示す概略図である。1個の記憶部ユニット20内には、水平方向に11個、垂直方向に12個の、合計132個の記憶部22が配設されており、各記憶部22はそれぞれ異なる1本ずつの画素出力線141に接続されている。画素出力線141を介して、各記憶部22はそれぞれ画素領域2a内の画素10に一対一に対応しており、1個の記憶部ユニット20内の132個の記憶部22には、画素領域2a内の垂直方向の132個の画素10の出力信号がそれぞれ保持される。従って、図4において水平方向の1行に並べられた320個の記憶部ユニット20(図4中で符号21で示した記憶部ユニット行)に、132×320画素(ピクセル)から成る1フレームの下半分の画素信号が保持されることになる。図3に示した上側の第2記憶領域3bでも同様に、水平方向の1行に並べられた320個の記憶部ユニットに320×132画素から成る1フレームの上半分の画素信号が保持され、両方で1フレームの画像となる。記憶部ユニット行21が垂直方向に104個配列されていることで、104フレーム分の画素信号の保持が可能となっている。
図8に示すように、各記憶部ユニット20において132個の記憶部22の全ての出力は接続されて1本の信号出力線23となっている。さらに図4に示すように、水平方向に並べられた記憶部ユニット20は隣接する10個ずつがまとめられて1組となっており、水平方向に32組の記憶部ユニット20の組が存在し、組毎に10個の記憶部ユニット20の信号出力線23は接続されて1本となっている。さらにまた、垂直方向に配列された104個の記憶部ユニット20の信号出力線23も接続されて1本になっている。従って、記憶領域3aにおいて、水平方向に10個、垂直方向に104個の合計1040個の記憶部ユニット20、さらに各記憶部ユニット20に含まれる記憶部22の数で言うと、137280個の記憶部22の出力が接続されて1本の信号出力線23となっている。図3では、同一の信号出力線23を有する記憶部ユニット20のかたまりである記憶部ユニットブロックを符号50で示している。上記構成により、第1記憶領域3aからの信号出力線23の数は32本であり、第2記憶領域3bからも同数の信号出力線が取り出される。これらの複数の信号出力線を通した信号をSS01〜SS64として示している。
図9は1個の記憶部22の概略回路構成図である。1個の記憶部22は4個の記憶単位を有する。即ち、1本の画素出力線141に接続されたサンプリングトランジスタ26(26a〜26d)と、サンプリングトランジスタ26を介して画素出力線141に接続されるキャパシタ25(25a〜25d)と、キャパシタ25に保持されたアナログ電圧信号を読み出すための読み出しトランジスタ27(27a〜27d)と、から記憶単位である記憶素子24(24a〜24d)が構成され、1個の記憶部22は、4個の記憶素子24a〜24dが1組になって構成される。従って、1個の記憶部22には、同一の画素から同一の画素出力線141を通して出力される4つの異なるアナログ電圧信号を保持することが可能である。4個の読み出しトランジスタ27a〜27dを通した信号出力線23a〜23dはそれぞれ独立に設けられているから、図3、図4、図8に示した信号出力線23は実際には4本(つまり23a〜23d)存在し、素子内で差分などのアナログ的な演算処理が行われて最終的には1本の信号出力線として素子の外部に出力されるように構成される。或いは、上記4本の信号出力線23a〜23dが独立に出力されるようにしてもよい。
上述のように1個の記憶部22が4個の記憶素子24a〜24dから成るのは、後述するようなダイナミックレンジ拡大処理、及びノイズ除去処理を行うために、オーバーフロー前の電荷に応じた信号、オーバーフロー後の電荷に応じた信号、オーバーフロー前の電荷に応じた信号に含まれるノイズ信号、オーバーフロー後の電荷に応じた信号に含まれるノイズ信号、の4つのアナログ電圧信号を独立に保持することが本来の目的である。但し、必ずしもそうした目的に拘泥することなく、他の動作態様で各記憶素子24a〜24dを利用することもできる。例えば、各画素10の蓄積キャパシタ36を利用しないのであれば、オーバーフロー後の信号やオーバーフロー後の信号に含まれるノイズ信号は考慮する必要がなく、その分だけ連続撮影のフレーム数を増やすのに記憶素子24を利用することができる。これにより、2倍の208フレームの連続撮影が可能となる。また、ノイズ除去も行わないのであれば、さらに2倍の416フレームの連続撮影が可能となる。
キャパシタ25a〜25dは各画素10内の蓄積キャパシタ36と同様に、例えばダブルポリシリコンゲート構造やスタック構造により形成することができる。CCD構造を利用した電荷保持を行う場合、熱励起等による暗電荷に由来する偽信号が光信号に加算されるという問題があるが、ダブルポリシリコンゲート構造やスタック構造のキャパシタ25a〜25dではそうした暗電荷の発生がないので偽信号が加算されることがなく、外部に読み出す信号のS/Nを高くすることができる。
図10は記憶領域3a内の各記憶部に保持されている信号を上述したような信号出力線23を通して読み出すための概略構成を示すブロック図である。二次元アレイ状に配置された記憶部ユニット20(20−01〜20−10)の垂直方向の1列毎に水平シフトレジスタHSR1〜HSR320が配置され、水平方向の1行毎に垂直シフトレジスタVSR1〜VSR104が配置されている。逐次読み出しの際には、水平シフトレジスタHSR1〜HSR320と垂直シフトレジスタVSR1〜VSR104との組み合わせにより記憶部ユニット20が選択され、選択された記憶部ユニット20の中で順番に記憶部22が選択されて画素信号が読み出されるようになっている。但し、信号出力線23が分かれている異なる記憶部ユニットブロック50では同時並行的な動作が可能であるから、読み出し動作としては1個の記憶部ユニットブロック50の内部のみを考えればよい。
続いて、本実施例の固体撮像素子の駆動方法と動作について説明する。本実施例の固体撮像素子は、大別して、連続読み出しとバースト読み出しと呼ばれる2つの駆動モードを有する。まず、この両駆動モードの概略的な動作について図11により説明する。図11は連続読み出しモードとバースト読み出しモードの概略タイムチャートである。
(A)連続読み出しモード
連続読み出しモードの基本は図11(a)に示すように、画素領域2(2a、2b)の各画素10において1フレーム分の光電荷蓄積を実行した後に、全ての画素10で一斉にそれぞれの画素出力線141を通して信号を出力し、記憶部22のキャパシタ25に信号電荷を保持させる。これにより、1フレーム分の画素信号が記憶領域3a、3bの記憶部22に揃うから、引き続いて、上述のように水平シフトレジスタ、垂直シフトレジスタを駆動することにより、1フレームの画素信号を順番に読み出して外部へ出力する。このとき、記憶領域3aの中の最も上の1行の320個の記憶部ユニット20を使用するだけでよい。
水平及び垂直シフトレジスタを駆動させるクロック信号の周波数を50MHzとした場合、1画素信号当たりの読み出し時間は0.02μ秒である。1個の記憶部ユニットブロック50の最も上の行には、132×10=1320個の記憶部22が存在するから、これに要する総読み出し時間は26.4μ秒となる。上述のように異なる記憶部ユニットブロック50では同時に読み出しが行われるため、26.4μ秒で1フレーム分の画素信号の読み出しが行える。換言すれば、光電荷の蓄積時間をこの時間まで延ばすことができるから、後述するバースト読み出しモードに比べれば光電荷の蓄積時間設定の自由度が大きい。
図11(a)は1フレーム分だけの例であるが、画素領域2a、2bと記憶領域3a、3bとでは画素出力線14を通した出力信号のやりとりのとき以外は独立に動作可能であるため、記憶領域3a、3bから画素信号の逐次読み出しを行っているときに、画素領域2a、2bでは光電荷の蓄積が可能である。従って、図11(b)に示すように、ほぼ連続的に撮影を繰り返し行うことができる。
(B)バースト読み出しモードの場合
バースト読み出しモードでは、図11(c)に示すように、画素信号の逐次読み出しを行うことなしに、各画素において1フレーム分の光電荷蓄積を実行した後に、全画素で一斉にそれぞれの画素出力線を通して信号を出力し、記憶部22のキャパシタ25に信号電荷を保持させる、という動作を繰り返す。このとき、1フレームずつ順番に、104フレーム分用意された記憶部22に順番に出力信号を保持させる。そうして、その所定フレーム数分の画素信号を逐次的に読み出して外部へ出力する。このバースト読み出しモードでは撮影中に外部への信号読み出しを行わないため、上述のような読み出しのためのクロックの周波数の上限に起因するフレームレートの制約は受けず、非常に短いサイクルでの連続撮影が可能である。実施できる最大のフレームレートは、主としてフォトダイオード31内で発生した光電荷を集積してフローティングディフュージョン33へ転送するまでの時間によって律速される。この実施例の固体撮像素子では、上述のように光電荷の蓄積時の光量が減ることを考慮してフォトダイオードの構造設計などが為されているため、従来の画素周辺記録型撮像素子で実現されている100万フレーム/秒よりも高いフレームレートでの高速撮影が可能である。
次に、本実施例の固体撮像素子の詳細な駆動方法として、まず各画素10における光電変換動作とこれにより生成される信号を1個の記憶部22に格納するまでの動作について、図12〜図15により説明する。
本実施例の固体撮像素子では、光電荷蓄積時間が短い場合と光電荷蓄積時間が相対的に長い場合とで異なる2つの動作モードを選択し得る。目安として、前者は光電荷蓄積時間が10μs乃至は100μs程度以下の、転送トランジスタ32で発生する暗電荷量が無視できると考えられる場合であり、100万フレーム/秒以上の高速撮影を行う場合にはこの動作モードを採用することが好ましい。
(A)光電荷蓄積時間が短い場合の動作モード
図12は光電荷蓄積時間が短い場合の動作モードの駆動タイミング図、図13はこの動作における各画素10内の概略ポテンシャル図である。なお、図13(後述の図15も同様)でCPD、CFD、CCSはそれぞれフォトダイオード31、フローティングディフュージョン33、蓄積キャパシタ36の容量を示し、CFD+CCSはフローティングディフュージョン33と蓄積キャパシタ36の合成容量を示す。
各画素10に供給する共通の制御信号であるφXをハイレベルとし、ソースフォロアアンプ43内の選択トランジスタ38、41を共にオン状態に維持する。そして、光電荷蓄積を行う前に、同じく共通の制御信号であるφT、φC、φRをハイレベルとし、転送トランジスタ32、蓄積トランジスタ34、及びリセットトランジスタ35を共にオンする(時刻t0)。これにより、フローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36はリセット(初期化)される。またこのとき、フォトダイオード31は完全に空乏化された状態にある。このときのポテンシャルが図13(a)である。
次にφRをローレベルにしてリセットトランジスタ35をオフすると、フローティングディフュージョン33にはこのフローティングディフュージョン33と蓄積キャパシタ36で発生するランダムノイズと、ソースフォロアアンプ43のトランジスタ37の閾値電圧のばらつきに起因する固定パターンノイズを等価的に含むノイズ信号N2が生じ(図13(b)参照)、このノイズ信号N2に対応した出力が画素出力線141に現れる。そこで、このタイミング(時刻t1)で記憶部22にサンプリングパルスφN2を与えてサンプリングトランジスタ26dをオンすることにより、画素出力線141を通して出力されたノイズ信号N2を取り込んでキャパシタ25dに保持する。
次に、φCをローレベルにして蓄積トランジスタ34をオフすると、その時点でフローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36に蓄積されていた信号電荷は、フローティングディフュージョン33と蓄積キャパシタ36とのそれぞれの容量CFD、CCSの比に応じて配分される(図13(c)参照)。このときフローティングディフュージョン33にはφCをオフしたときに発生するランダムノイズとソースフォロアアンプ43のトランジスタ37の閾値電圧のばらつきに起因する固定パターンノイズを等価的に含むノイズ信号N1が生じ、このノイズ信号N1に対応した出力が画素出力線141に現れる。そこで、このタイミング(時刻t2)で記憶部22にサンプリングパルスφN1を与えてサンプリングトランジスタ26cをオンすることにより、画素出力線141を通して出力されたノイズ信号N1を取り込んでキャパシタ25cに保持する。
転送トランジスタ32はオン状態に維持されるので、フォトダイオード31に入射した光により発生した光電荷は転送トランジスタ32を通して(図7(b)に示した状態)フローティングディフュージョン33に流れ込み、ノイズ信号N1に重畳してフローティングディフュージョン33に蓄積される(時刻t3)。仮に強い光が入射してフォトダイオード31で多量の光電荷が発生しフローティングディフュージョン33が飽和した場合には、オーバーフローした電荷が蓄積トランジスタ34を介して蓄積キャパシタ36に蓄積される(図13(d)参照)。蓄積トランジスタ34の閾値電圧を適宜に低く設定しておくことにより、フローティングディフュージョン33から蓄積キャパシタ36に効率良く電荷を転送することができる。これにより、フローティングディフュージョン33の容量CFDが小さく、そこに蓄積可能な最大飽和電荷量が少なくても、飽和した電荷を廃棄することなく有効に利用することができる。このようにして、フローティングディフュージョン33での電荷飽和(オーバーフロー)前及び電荷飽和(オーバーフロー)後のいずれに発生した電荷も、出力に反映させることができる。
所定の光電荷蓄積時間(露光時間)が経過したならば、蓄積トランジスタ34をオフした状態で記憶部22にサンプリングパルスφS1を与えることでサンプリングトランジスタ26aをオンすることにより、その時点(時刻t4)でフローティングディフュージョン33に蓄積されている電荷に応じた信号を画素出力線141を通して取り込んでキャパシタ25aに保持する(図13(e)参照)。このときにフローティングディフュージョン33に蓄積されている信号はノイズ信号N1にオーバーフロー前の電荷に応じた信号S1が重畳されたものであるから、キャパシタ25aに保持されるのは、蓄積キャパシタ36に蓄積されている電荷の量を反映しないS1+N1である。
その直後にφCをハイレベルにして蓄積トランジスタ34をオンすると、その時点でフローティングディフュージョン33に保持されていた電荷と蓄積キャパシタ36に保持されていた電荷は混合される(図13(f)参照)。その状態で記憶部22にサンプリングパルスφS2を与えることでサンプリングトランジスタ26bをオンすることにより(時刻t5)、フローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36に蓄積されていた電荷に応じた信号、つまりノイズ信号N2にオーバーフロー後の信号S2が重畳された信号を画素出力線141を通して取り込んでキャパシタ25bに保持する。従って、キャパシタ25bに保持されるのは、蓄積キャパシタ36に蓄積されている電荷の量を反映したS2+N2である。
以上のようにして、1個の記憶部22に含まれる4個のキャパシタ25a、25b、25c、25dにそれぞれ、信号S1+N1、S2+N2、N1、N2を保持し、これを以て1サイクルの画像信号の取り込みを終了する。上述のようにランダムノイズや固定パターンノイズを含むノイズ信号N1、N2が、これらノイズ信号を含む信号とは別に求まる。そこで、それぞれの信号をキャパシタ25a、25b、25c、25dから読み出した後に図示しないアナログ演算回路により減算処理することで、ノイズ信号N1、N2の影響を除去した、高いS/Nの画像信号を得ることができる。また、フローティングディフュージョン33からオーバーフローした電荷も廃棄されずに利用されるので、強い光が入射した際にも飽和が起こりにくく、その光を反映した信号を得ることができ、広いダイナミックレンジを確保することができる。なお、こうしたダイナミックレンジの拡大が可能であることについての詳しい説明は、例えば特開2006−245522号公報などの文献に記載されているので、ここでは説明を省略する。
(B)光電荷蓄積時間が相対的に長い場合の動作モード
次に、光電荷蓄積時間が相対的に長い場合の動作について説明する。図14は光電荷蓄積時間が相対的に長い場合の駆動タイミング図、図15はこの動作における画素10内の概略ポテンシャル図である。
光電荷蓄積時間が短い場合と最も大きく異なる点は、光電荷蓄積期間中に転送トランジスタ32をオフしフォトダイオード31で発生した光電荷を空乏層に蓄積すること、光電荷蓄積期間中において転送トランジスタ32をオフにすること、ノイズ信号N1のサンプリングを光電荷蓄積期間の最後に行うことによりフローティングディフュージョン33で発生する暗電荷(及び光電荷)をS1信号に含めないこと、などである。転送トランジスタ32をオフにするのは、そのゲート直下のシリコン−絶縁膜界面をアキュムレーション状態として、シリコン表面をホールで満たしシリコン−絶縁膜界面からの暗電荷の侵入を防止するためである。さらにまた光電荷蓄積時間が長いため、消費電力を抑えるべくソースフォロアアンプ43の選択トランジスタ38、41を所定時間オフするようにしている。
光電荷蓄積を行う前にはφT、φC、φRをハイレベルとし、転送トランジスタ32、蓄積トランジスタ34及びリセットトランジスタ35を共にオンする(時刻t10)。これにより、フローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36はリセット(初期化)される。またこのとき、フォトダイオード31は完全に空乏化された状態にある。このときのポテンシャルの状態が図15(a)である。次にφRをローレベルにしてリセットトランジスタ35をオフすると、フローティングディフュージョン33にはこのフローティングディフュージョン33と蓄積キャパシタ36で発生するランダムノイズと、ソースフォロアアンプ43のトランジスタ37の閾値電圧のばらつきに起因する固定パターンノイズを等価的に含むノイズ信号N2が生じ(図15(b)参照)、このノイズ信号N2に対応した出力が画素出力線141に現れる。そこで、このタイミング(時刻t11)で記憶部22にサンプリングパルスφN2を与えてサンプリングトランジスタ26dをオンすることにより、画素出力線141を通してノイズ信号N2を取り込んでキャパシタ25dに保持する。ここまでの動作は上記の光電荷蓄積時間が短い場合の動作モードと同じである。
次に、φCをローレベルにして蓄積トランジスタ34をオフすると、その時点でフローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36に蓄積されていた電荷は、フローティングディフュージョン33と蓄積キャパシタ36とのそれぞれの容量CFD、CCSの比に応じて配分される。さらにφTをローレベルにして転送トランジスタ32をオフし、φXもローレベルにしてソースフォロアアンプ43の2個の選択トランジスタ38、41もオフにする(時刻t12)。これにより、フォトダイオード31とフローティングディフュージョン33との間にはポテンシャル障壁が形成され、フォトダイオード31での光電荷の蓄積が可能な状態となる(図15(c)参照)。
フォトダイオード31に入射した光により発生した光電荷はフォトダイオード31に蓄積されるが、フォトダイオード31で電荷飽和が生じるとそれ以上の過剰な電荷はオーバーフローし転送トランジスタ32を介して、上述のように配分されたノイズ信号に重畳してフローティングディフュージョン33に蓄積される。さらに強い光が入射してフローティングディフュージョン33で飽和が生じると、オーバーフローした電荷が蓄積トランジスタ34を介して蓄積キャパシタ36に蓄積されるようになる(図15(d)参照)。
蓄積トランジスタ34の閾値電圧を転送トランジスタ32の閾値電圧よりも適宜に低く設定しておくことにより、フローティングディフュージョン33で飽和した電荷をフォトダイオード31側に戻すことなく蓄積キャパシタ36に効率良く転送することができる。これにより、フローティングディフュージョン33の容量が小さく、そこに蓄積可能な電荷量が少なくても、オーバーフローした電荷を廃棄することなく有効に利用することができる。このようにして、フローティングディフュージョン33でのオーバーフロー前及びオーバーフロー後のいずれに発生した電荷も出力に反映させることができる。
所定の光電荷蓄積時間が経過したならば、φXをハイレベルにして選択トランジスタ38、41をオンした後に、記憶部22にサンプリングパルスφN1を与えることでサンプリングトランジスタ26cをオンすることにより、その時点(時刻t13)でフローティングディフュージョン33に蓄積されている信号電荷に対応したノイズ信号N1を画素出力線141を通して取り込んでキャパシタ25cに保持する。このときのノイズ信号N1にはソースフォロアアンプ43のトランジスタ37の閾値電圧のばらつきに起因する固定パターンノイズが含まれる。なお、このときにはノイズのみならず光電変換により生起された光電荷の一部も含まれるが、ここではこれもノイズとみなしている。
次に、φTをハイレベルにして転送トランジスタ32をオンさせ、フォトダイオード31に蓄積されていた光電荷をフローティングディフュージョン33に完全に転送する(図15(e)参照)。その直後に(時刻t14)、記憶部22にサンプリングパルスφS1を与えることでサンプリングトランジスタ26aをオンすることにより、フローティングディフュージョン33に蓄積されている電荷に応じた信号を画素出力線141を通して取り込んでキャパシタ25aに保持する。このときの信号は先のノイズ信号N1にフォトダイオード31に蓄積されていた電荷による信号、つまりオーバーフロー前の信号S1が重畳したものであるから、S1+N1である。
続いて、φCをハイレベルにして蓄積トランジスタ34をオンすると、その時点でフローティングディフュージョン33に保持されていた電荷と蓄積キャパシタ36に保持されていた電荷は混合される(図15(f)参照)。その状態で(時刻t15)記憶部22にサンプリングパルスφS2を与えることでサンプリングトランジスタ26bをオンすることにより、フローティングディフュージョン33及び蓄積キャパシタ36に蓄積されていた電荷に応じた信号を画素出力線141を通して取り込んでキャパシタ25bに保持する。このときの信号はS2+N2となる。
以上のようにして、1個の記憶部22に含まれる4個のキャパシタ25a、25b、25c、25dにそれぞれ、信号S1+N1、S2+N2、N1、N2を保持し、これを以て1サイクルの画像信号の取り込みを終了する。光電荷蓄積時間が短い場合の動作モードと同様に、ランダムノイズや固定パターンノイズを含むノイズ信号N1、N2が、これらノイズ信号を含む信号とは別に求まるから、それぞれの信号をキャパシタ25a、25b、25c、25dから読み出した後に減算等のアナログ演算処理することで、ノイズ信号N1、N2の影響を除去した、高いS/Nの画像信号を得ることができる。また、フローティングディフュージョン33からオーバーフローした電荷も廃棄することなく利用できるので、強い光が入射した際にも飽和が起こりにくく、その光を反映した信号を得ることができ、広いダイナミックレンジを確保することができる。
上述のように各画素10に供給される制御信号φX、φT、φR、φCは全画素共通であるため、全ての画素10で同時に上記のような光電荷蓄積動作、及び各画素10から記憶部22への信号の転送動作が行われる。つまり、上記1サイクルで1フレーム分の画像信号が、図3、図4中の記憶部ユニット行21内の記憶部22に保持される。バースト読み出しモードでは、この動作が104回繰り返されることで、全ての記憶部ユニット行21内の記憶部22に画素信号が保持される。105回目以降は再び1番上の記憶部ユニット行21中の各記憶部22に信号が書き込まれるというように循環的に保持動作が実行される。例えば、このような動作を、内部回路又は外部から撮影停止指示信号が与えられるまで繰り返す。撮影停止指示信号が与えられて撮影が中止されると、その時点で最新の104フレーム分の画素信号が記憶領域3a、3bに保持されている。これを逐次読み出しすることで104フレームの連続した画像信号を得ることができる。
なお、各記憶部22において上述のように既に何らかの信号が保持されているキャパシタ25に新たな信号を保持する際には、それ以前の信号を廃棄するリセットを実行する必要がある。そのため、図示しないものの、各画素出力線141にはそれぞれリセット用のトランジスタが接続されており、或る記憶部20のキャパシタ25をリセットする際にはその記憶部20のサンプリングトランジスタ26がオンされるとともに対応する画素出力線141に接続されているリセット用トランジスタがオンされ、キャパシタ25に蓄積されている信号はサンプリングトランジスタ26、画素出力線141を通してリセットされる。こうしたリセットが実行された後に、新たな信号がキャパシタ25に保持される。
次に、記憶領域3a、3bからの信号の逐次読み出しの動作について説明する。図16は連続読み出しモードにおける1フレーム分の逐次読み出しの動作タイミング図、図17はバースト読み出しモードにおける逐次読み出しの動作タイミング図、図18は水平シフトレジスタHSRの要部の動作タイミング図、図19は垂直シフトレジスタVSRの要部の動作タイミング図である。
各記憶部22のキャパシタ25に保持された信号は、同一の信号出力線23に接続された読み出しトランジスタ27を順番にオンすることにより読み出す。同一記憶部22の4個の読み出しトランジスタ27a〜27dはそれぞれ異なる信号出力線23a〜23dに接続されているから、同一記憶部22内の4個のキャパシタ25a〜25dにそれぞれ保持されている信号は同時に読み出すことができる。そして、図示しない減算回路で(S1+N1)−N1、(S2+N2)−N2の減算処理を行うことにより、ランダムノイズや固定パターンノイズを除去したS1信号、S2信号をそれぞれ取り出すことができる。なお、画素信号としてS1、S2のいずれを採用するかは、S1の飽和信号量以下の適当な信号レベルを基準(閾値)として、それ以上かそれ未満かでそれぞれS1、S2を選択するようにする。飽和信号量以下でこうした切り替えを実施することにより、信号S1の飽和ばらつきの影響を回避することができる。
一例として、図10に示した1フレーム目の320個の記憶部ユニット20の中で、左端側の記憶部ユニットブロック50における読み出し順序を説明する。まず左端の記憶部ユニット20−01において、図8に示す水平方向の1行目の記憶部22の画素信号を左から右に向かって順に11画素分読み出す。この記憶部ユニット20−01は、水平シフトレジスタHSR1と垂直シフトレジスタVSR1とが能動化されることで選択され、水平方向の読み出しクロックH−CLKにより、水平方向の左から右方向へ1個ずつ記憶部22の読み出しトランジスタ27をオンするパルス信号が移動する。このパルス信号の一例が図18に示したy1、y2、y3である。こうして1行分の読み出しが終わると、垂直方向への読み出しを進めるクロックV−CLKが与えられ、これにより次の2行目の記憶部22に移り、同様にこれを左から右に向かって11画素分読み出す。この繰り返しにより、12行目の終わりまで画素信号の読み出しを行う。この垂直方向における各行の読み出しトランジスタ27を能動化する信号の一例が、図19に示したv1、v2、v3である。
その後に、水平シフトレジスタHSR2と垂直シフトレジスタVSR1とが能動化されることで、右隣の記憶部ユニット20−02が選択され、図16、図17に示すように、読み出し対象がこの記憶部ユニット20−02へ移る。そうして先と同様に、行→列の順に1画素分ずつ各記憶部の読み出しトランジスタ27をオンすることにより信号を読み出す。こうして順に記憶部ユニットの選択を記憶部ユニット20−10まで進め、前記記憶部ユニット20−10の12行目の記憶部22の読み出しを終了すると、1フレーム分の読み出しが完了する。別の記憶部ユニットブロック50でも上記と並行して、対応する記憶部ユニット20の記憶部22からの信号の読み出しが実行される。
バースト読み出しモードにおける逐次読み出しの際には、上述のようにして1フレーム目の全ての画素信号の読み出しが終了した後に、引き続き、2フレーム目の画素信号の読み出しが開始される。即ち、図17に示すように、水平シフトレジスタHSR1と垂直シフトレジスタVSR2とが能動化されることで、図10に示した2行目の記憶部ユニットの中の左端のものが選択されるから、1フレーム目と同様の順序で読み出しが実行され、これを繰り返すことで104フレームまでの読み出しが完了する。
但し、読み出しの手順は特にこれに限定されるものではなく、適宜に変更することができる。例えば、バースト読み出しモードにおいては、一番上の水平方向に並んだ記憶部ユニット20に保持されている画素信号が時間的に最も古いものであるとは限らない。何故なら、上から下に向かって順番にフレーム毎に信号の書き込みを行っていって、どのフレームで書き込み停止が為されるかは決まっていないためである。従って、好ましくは、最後に書き込みを行った行の、その次の行から順番に逐次読み出しを行うようにすれば、時系列順に画像信号を取得することができる。
前述のように、高速撮影を行う際にはバースト読み出しモードが利用されるが、外部に読み出し可能な連続撮影フレーム数は104であるため、目的とする現象を的確に捉えて104フレームの撮像を行う必要があり、そのためには目的とする現象の生起の瞬間やその直前の兆候を捉えたトリガ信号を得る必要がある。本実施例の固体撮像素子は、こうしたトリガ信号を生成する回路を内蔵している。次に、このトリガ信号生成回路及びその動作と、本素子を用いた高速撮影装置における、上記トリガ信号を利用した撮影動作の一例について説明する。
図20は各信号出力線23毎に設けられたトリガ信号生成部60の概略構成図、図21は本固体撮像素子を用いた撮影装置の要部のブロック構成図である。図20では、記憶部ユニット20に含まれる132個の記憶部22を水平方向に並べて示している。また、この図では、上述したように1個の記憶部22に含まれる4個の記憶素子をまとめて示しており、信号出力線23は上述したノイズ除去やダイナミックレンジ拡大のための処理が行われた後のものである。
トリガ信号生成部60は、スイッチ、キャパシタ、及び図示しないリセット回路を含み、信号出力線23に接続される2つのサンプルホールド回路部61、62と、そのサンプルホールド回路部61、62の出力の差分信号(アナログ電圧差)を求める差分回路63と、差分信号を順次加算する積算回路64と、積算出力値と設定閾値とを比較する比較器65と、比較器65の出力に応じてトリガ信号としてパルス信号を発生するパルス発生回路66と、を含む。
上述のように本実施例の固体撮像素子では信号出力線23は記憶部ユニットブロック50毎に1本ずつ、合計64本並列に存在するから、図20に示したトリガ信号生成部60も全部で64個存在する。図21に示すように、これら64個のトリガ信号生成部60−01〜60−64の出力であるトリガ信号はトリガ信号演算回路71に入力され、ここで、外部からの設定に応じた論理和、論理積、或いは選択などの演算が行われ、1系統のトリガ信号に集約されてトリガ信号出力端子72を通して固体撮像素子70の外部へと出力される。
この固体撮像素子70を搭載した撮影装置は、トリガ信号出力端子72から出力されるトリガ信号を受けてデジタル的な遅延処理や別のセンサ等から得られたセンサトリガ信号などとの論理和、或いは別の撮影条件を表す条件信号などとの論理積、などのデジタル演算処理を行う制御回路75を備える。この制御回路75で処理された後のトリガ信号が、固体撮像素子70のトリガ信号入力端子73に与えられる。撮像制御部74はトリガ信号入力端子73を通して与えられたトリガ信号に基づき、撮影の開始、終了などの制御を実行する。なお、トリガ信号出力端子72とトリガ信号入力端子73とを直結することで、固体撮像素子70内部で生成したトリガ信号をそのまま利用して撮像の制御を行うようにすることもできる。
図20、図21に加えて図22〜図24を用いて、撮像動作の一例を説明する。図22は撮像の制御のタイミングを説明するための概略図、図23は撮影画像を示す模式図、図24は画素信号の選択を説明するための概略図である。
被写体の動き・変化の検知を行うに先立って、ユーザーは被写体の変化や動きを検知するための画像上の範囲を指定する。この範囲は画像全体でもよいが、狭い範囲を指定するほどトリガ信号の発生の時間遅れが小さくなる。目的とする現象の種類や被写体の動き・変化の態様にも依存するが、一般的に、撮影したい現象や変化などの兆候や端緒を捉えるためには画像全体を観察する必要はなく、画像上の特定の一部分のみを観察すればよいことが多い。ここでは例えば一例として、パイプの先端から微小液滴が高速で噴出する現象を撮影する場合を例として考える。
いま図23(a)に示すように、パイプ80の先端にごく僅かな噴出が見られる状況が、撮影したい現象の端緒であるとすれば、これを検知するにはパイプ80先端の狭い範囲の画像だけを観察すればよい。そこで、図23中に示したような矩形状の範囲81を検知対象範囲として選択するものとする。いま、この選択範囲81が1つの記憶部ユニットブロック50に対応する画素領域の範囲に収まっていれば、1つのトリガ信号生成部60で生成されるトリガ信号のみを利用して撮影の制御が可能である。そこで、トリガ信号演算回路71では、該当するトリガ信号生成部60のトリガ信号のみを選択して出力する。
被写体の変化や動きの検知は、基本的に2フレームのフレーム間差分に基づき行われる。フレーム間差分信号を得るために、同一位置の画素毎に信号の差を求めてもよいが、そうすると記憶部22からの信号読み出しに時間が掛かり、また画像の微小な振れを被写体の変化であると誤検知するおそれも高い。そこで、こうした誤検知を軽減するとともに信号読み出しの時間を短縮するために、ここでは、同一記憶部ユニットブロック50に対応した画素領域の範囲、つまり水平方向に10画素、垂直方向に132画素の画素範囲内で、隣接する複数の画素の信号を同時に読み出して加算する処理を行い、その加算信号値毎に差分をとる。
いまここでは、例えば図24に示すように、水平方向に2画素、垂直方向に3画素の合計6画素から成る画素集合を考え、画素集合に含まれる6個の画素信号を記憶部22から同時に読み出して加算する。これはこの6画素の信号の平均をとることと同等である。具体的には、図20に示した同一の信号出力線23に接続されている、1つの画素集合に対応した6個の記憶部22の読み出しトランジスタ27を同時にオンし、それら記憶部22のキャパシタ25に保持されている信号を信号出力線23上に読み出すことで、前記信号出力線23上で6個の画素信号をアナログ的に加算することができる。この処理を1クロックで行うことができるから、例えば選択範囲81が30画素×10画素の範囲であれば、画素集合は50個となり、全部で50回の信号読み出し操作を行えばよいことになる。
被写体の変化を検知したトリガ信号の生成を行うには、上述したバースト読み出しモードにおける繰り返し速度での光電荷蓄積及び各画素10から記憶部22への信号転送を繰り返す。図22において、このときの1フレームの撮像期間(フレーム周期)をTで示す。所定のフレーム数撮影する毎に、直近に得られたフレームとPフレーム前のフレームとの画素信号を該当する記憶部22から読み出し、トリガ信号生成部60により被写体の変化の有無を判定する。ここでは、P=3であるとするが、このPの値は任意に決めることができる。現時点がQで示すときであるとすると、直近に得られたフレームPaと3フレーム前のフレームPbのフレーム間差分を利用する。このとき、2つのフレームPa、Pbの画像全体ではなく、図23に示した選択範囲81のみで、且つ上述した6画素の画素集合の加算信号の差分を利用して被写体の変化の検知を行う。
具体的には、フレームPaに対応した画素信号が保持されている記憶部ユニット20の中で、1つの画素集合に対応した6個の記憶部20の読み出しトランジスタ27を同時にオンし、読み出した信号の加算値をサンプルホールド回路部61に保持し、引き続いて、フレームPbに対応した画素信号が保持されている記憶部ユニット20の中で、同じ画素の組み合わせの画素集合に対応した6個の記憶部20の読み出しトランジスタ27を同時にオンし、読み出した信号の加算値をサンプルホールド回路部62に保持する。そして、その差分信号を求め、積算回路64で積算する。積算の開始時には積算出力をリセットする。
次いで、フレームPaの中の別の画素集合に対応した6個の記憶部22の読み出しトランジスタ27を同時にオンし、読み出した信号の加算値をサンプルホールド回路部61に保持し、引き続いて、フレームPbの同じ組み合わせの6個の記憶部22の読み出しトランジスタ27を同時にオンし、読み出した信号の加算値をサンプルホールド回路部62に保持する。そして、差分を求め、その差分を先に積算回路64に保持した差分に積算する。これを選択範囲81に含まれる画素集合について繰り返し、最終的に、比較器65において積算値を閾値と比較する。積算値が閾値を超えている場合には被写体の変化があったとみなし、パルス発生回路66はトリガ信号を出力する。一方、積算値が閾値以下であれば被写体には変化がないものとみなし、パルス発生回路66はトリガ信号、つまりパルス信号を出力しない。例えば図23(a)、(b)の2つのフレームの画像信号に対して図23(c)に示すような差分信号が得られるから、この差分信号により被写体の変化の有無が判定されることになる。
いまフレームPa、Pbの比較によりトリガ信号が生成されたものとすると、このトリガ信号がトリガ信号出力端子72から出力され、制御回路75において、所定のフレーム周期T分だけ遅延される。この遅延量はユーザーが任意に設定することができ、トリガ信号生成時点よりも時間的に遡った画像を取得したければ遅延を小さくし、トリガ信号生成時点から後の画像を取得したければ遅延を大きくすればよい。この遅延が施されたトリガ信号がトリガ信号入力端子73に与えられ、撮像制御部74は、このトリガ信号に応じて撮影を停止する。即ち、画素出力線141を通しての各画素10から記憶部20への新たな信号の書き込みを停止する。これにより、上述したバースト信号読み出しモードにおける撮影が終了するから、その時点から104フレーム周期だけ遡った期間中の画像信号が記憶領域3a、3b内の記憶部22に保持されている。その後に、上述したように水平及び垂直シフトレジスタを駆動することにより、各記憶部22の読み出しトランジスタ27を順番にオンすることで逐次読み出しを行い、固体撮像素子70の外部に設けられたフレームメモリなどに画素信号が格納される。
但し、各記憶部22のキャパシタ25から信号出力線23への信号読み出しは、ソースフォロアアンプ等のバッファを介していないのでキャパシタ25の保持電位は保存されない。つまり、これは破壊読み出しである。そのため、上記のようなトリガ信号生成のために利用されたフレームの画像信号は失われることになる。そこで、このフレームについては例えば前後のフレームの画像信号を利用した補間処理を行うことにより補うことが望ましい。
また、上記動作では、バースト読み出しモードでの連続的な撮影により得られたフレームの一部を利用して被写体の変化の検知を行っていたために、その検知に利用されたフレームの画像が欠落してしまっていたが、始めから被写体の変化の検知処理用の画素信号を撮影画像と別に用意することにより、上記の不具合を解消することができる。即ち、画素出力線141を介した画素10から記憶部22への信号読み出しはソースフォロアアンプ43を通しているので非破壊読み出しである。そこで、これを利用して、同じフレームで同じ画素の信号を異なる2つの記憶部20に書き込み、一方を被写体の変化検知用に、他方を画素信号としての外部読み出し用に用いることができる。
また、上記実施例では、バースト読み出しモードでの連続的な撮影を実行しつつトリガ信号を受けて撮影を停止するようにしていたが、被写体の変化が生起するまでは比較的低速で高感度の撮影を行い、被写体の変化がみられた以降は高速度での撮影を行うようにフレーム周期Tを変更するようにしてもよい。また、バースト読み出しモードでの連続的な撮影を実行し続けると、その間は外部への逐次信号読み出しが行えないため、撮影画像をモニタすることができない。そこで、所定のフレーム数だけバースト読み出しモードでの連続的な撮影を行った後に図11(a)に示したような1フレームのみの連続読み出しモードでの駆動制御を行い、それから再びバースト読み出しモードでの連続的な撮影に戻る、という制御を繰り返すようにしてもよい。これにより、撮影画像を定期的にモニタすることができる。
なお、上記実施例は本発明に係る固体撮像素子及び撮影装置の一例であり、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正、追加を行っても本願請求の範囲に包含されることは当然である。

Claims (9)

  1. a)二次元アレイ状に配列され、それぞれが、光を受光して光電荷を生成する光電変換素子と、前記光電変換素子で生成された光電荷を検出ノードへ転送する転送素子と、前記検出ノードから後記画素出力線に電荷に応じた出力信号を送出するバッファ素子と、を少なくとも含む複数の画素と、
    b)前記複数の画素毎に独立して設けられた画素出力線と、
    c)前記画素出力線を通して各画素から出力される出力信号を保持するために各画素に対して複数設けられた記憶部と、
    d)前記各画素における撮像に対応した光電荷の蓄積動作及び前記画素出力線を通しての各画素から前記複数の記憶部の1つへの信号の転送動作を全画素で一斉に、且つ撮像毎に信号を保持させる記憶部を順番に変えながら繰り返し行う途中で、異なる時点で得られた2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号を該当する記憶部から逐次読み出すように各画素及び各記憶部を動作させる駆動制御手段と、
    e)前記駆動制御手段の制御の下に逐次読み出された2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号に基づいて撮影対象の変化又は動きを検知してトリガ信号を生成するトリガ信号生成手段と、
    を備えることを特徴とする固体撮像素子。
  2. 請求項1に記載の固体撮像素子であって、前記駆動制御手段は、前記トリガ信号生成手段により生成されるトリガ信号に基づいて撮像を停止し、前記複数の記憶部に保持されている複数のフレームに対応した信号を逐次読み出して出力することを特徴とする固体撮像素子。
  3. 請求項2に記載の固体撮像素子であって、前記トリガ信号の発生のタイミングから撮像を停止するまでの時間遅延又はフレーム数遅延を外部から指定可能であることを特徴とする固体撮像素子。
  4. 請求項1に記載の固体撮像素子であって、前記トリガ信号を生成するための2つのフレーム中の特定の範囲を外部から指定可能であることを特徴とする固体撮像素子。
  5. 請求項1に記載の固体撮像素子であって、前記トリガ信号を生成するための2つのフレームのフレーム間隔又は時間差を外部から指定可能であることを特徴とする固体撮像素子。
  6. 請求項1〜5のいずれかに記載の固体撮像素子であって、前記トリガ信号を外部に出力する出力端子を備えることを特徴とする固体撮像素子。
  7. 請求項1に記載の固体撮像素子であって、前記駆動制御手段は、2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号を該当する記憶部から逐次読み出す際に、二次元のアレイ状に複数配列された画素の中で水平方向及び/又は垂直方向に所定の間隔で飛ばし読み出しを行うことを特徴とする固体撮像素子。
  8. 請求項1に記載の固体撮像素子であって、前記駆動制御手段は、2つのフレームの全画素又は一部の画素に対応した信号を該当する記憶部から逐次読み出す際に、二次元のアレイ状に複数配列された画素の中で水平方向及び/又は垂直方向に隣接する又は近接する複数の画素に対応した信号を同時に読み出し、加算処理又は平均化処理を行うことを特徴とする固体撮像素子。
  9. 請求項1〜8のいずれかに記載の固体撮像素子を用いた撮影装置であって、前記トリガ信号生成手段により生成されるトリガ信号に応じて当該固体撮像素子の撮影の開始又は停止を制御する制御手段を備えることを特徴とする撮影装置。
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Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5115937B2 (ja) * 2007-09-05 2013-01-09 国立大学法人東北大学 固体撮像素子及びその製造方法
JP5412152B2 (ja) * 2009-03-18 2014-02-12 株式会社日立国際電気 撮像方法及び撮像装置
JP4807440B2 (ja) * 2009-06-19 2011-11-02 カシオ計算機株式会社 映像信号処理回路、撮像装置及び映像信号処理方法
US20120211642A1 (en) * 2009-10-27 2012-08-23 Konica Minolta Opto, Inc. Solid-State Imaging Device
US20120300092A1 (en) * 2011-05-23 2012-11-29 Microsoft Corporation Automatically optimizing capture of images of one or more subjects
US9001107B2 (en) * 2011-07-14 2015-04-07 SK Hynix Inc. Image pixel and image pixel control method
JP5959187B2 (ja) * 2011-12-02 2016-08-02 オリンパス株式会社 固体撮像装置、撮像装置、および信号読み出し方法
KR101368244B1 (ko) * 2011-12-30 2014-02-28 주식회사 실리콘웍스 유기발광다이오드 표시장치의 문턱전압 센싱 회로
JP5796509B2 (ja) * 2012-02-16 2015-10-21 株式会社島津製作所 フローサイトメータ
US9292569B2 (en) 2012-10-02 2016-03-22 Oracle International Corporation Semi-join acceleration
JP5639670B2 (ja) * 2013-02-01 2014-12-10 浜松ホトニクス株式会社 画像取得装置及び撮像装置
CN103347150A (zh) * 2013-06-24 2013-10-09 王旭亮 一种视频侦测式监控数字摄录仪及其动态侦测方法
KR101605195B1 (ko) 2013-07-08 2016-03-21 주식회사 레이언스 이미지센서와 그 구동방법
KR101496924B1 (ko) * 2013-07-08 2015-03-04 주식회사 레이언스 이미지센서와 그 구동방법
JP2015060053A (ja) 2013-09-18 2015-03-30 株式会社東芝 固体撮像装置、制御装置及び制御プログラム
KR20150037708A (ko) 2013-09-30 2015-04-08 주식회사 엘지화학 유기 발광 소자
KR102071298B1 (ko) * 2013-09-30 2020-03-02 주식회사 실리콘웍스 샘플 앤드 홀드 회로 및 이를 구비하는 소스 드라이버
US9386220B2 (en) * 2013-12-06 2016-07-05 Raytheon Company Electro-optical (EO)/infrared (IR) staring focal planes with high rate region of interest processing and event driven forensic look-back capability
US9807326B2 (en) 2014-01-24 2017-10-31 Universite Catholique De Louvain Image sensor
EP2899967A1 (en) * 2014-01-24 2015-07-29 Université Catholique De Louvain Image sensor
EP2899966A1 (en) * 2014-01-24 2015-07-29 Université Catholique De Louvain Image sensor
EP3097686B1 (en) 2014-01-24 2019-08-21 Université Catholique de Louvain Image sensor
JP6612056B2 (ja) * 2014-05-16 2019-11-27 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、及び監視装置
US10306168B2 (en) 2015-05-04 2019-05-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, imaging system, and electronic device
WO2017057373A1 (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 株式会社ニコン 撮像素子、撮像装置、および電子機器
WO2017095549A2 (en) * 2015-10-21 2017-06-08 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for true high dynamic range (thdr) time-delay-and-integrate (tdi) imaging
JP6669246B2 (ja) * 2016-03-16 2020-03-18 株式会社リコー 光電変換装置、画像読取装置及び画像形成装置
US10313610B2 (en) * 2016-04-14 2019-06-04 Qualcomm Incorporated Image sensors with dynamic pixel binning
EP3367669B1 (en) * 2017-02-24 2019-07-03 Melexis Technologies NV Sample and hold device
JP6769349B2 (ja) 2017-03-03 2020-10-14 株式会社リコー 固体撮像素子及び撮像装置
ES2751121T3 (es) * 2017-06-01 2020-03-30 Specialised Imaging Ltd Elemento de sensor de píxeles, sensor de imágenes, dispositivo de formación de imágenes y procedimiento
US10955551B2 (en) 2017-10-16 2021-03-23 Sensors Unlimited, Inc. Pixel output processing circuit with laser range finding (LRF) capability
US10520589B2 (en) 2017-10-16 2019-12-31 Sensors Unlimited, Inc. Multimode ROIC pixel with laser range finding (LRF) capability
JP7150469B2 (ja) * 2018-05-17 2022-10-11 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム
CN112602194A (zh) * 2018-08-23 2021-04-02 国立大学法人东北大学 光传感器及其信号读出方法、以及区域式光传感器及其信号读出方法
CN112311964B (zh) * 2019-07-26 2022-06-07 华为技术有限公司 一种像素采集电路、动态视觉传感器以及图像采集设备
JP7330124B2 (ja) * 2020-03-19 2023-08-21 株式会社東芝 固体撮像装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62190753A (ja) * 1986-02-18 1987-08-20 Agency Of Ind Science & Technol 輪郭抽出用半導体装置
JPS63174356A (ja) * 1987-01-14 1988-07-18 Agency Of Ind Science & Technol 画像処理用半導体装置
JP3116967B2 (ja) * 1991-07-16 2000-12-11 ソニー株式会社 画像処理装置および画像処理方法
JPH0773339B2 (ja) 1992-06-04 1995-08-02 学校法人近畿大学 撮影装置
US6753904B1 (en) * 1997-08-12 2004-06-22 Nikon Corporation Solid-state imaging apparatus for motion detection
JPH11164210A (ja) * 1997-11-28 1999-06-18 Nikon Corp 動き検出用固体撮像装置
JP4326050B2 (ja) 1998-09-22 2009-09-02 ハイスペック合資会社 高速撮像素子
JP2001005166A (ja) * 1999-06-17 2001-01-12 Nec Corp パターン検査方法及びパターン検査装置
JP2001189893A (ja) * 1999-12-28 2001-07-10 Toshiba Corp 固体撮像装置
JP3704052B2 (ja) 2000-03-28 2005-10-05 リンク・リサーチ株式会社 高速撮像素子及び高速撮影装置
GB0027931D0 (en) * 2000-11-16 2001-01-03 Sgs Thomson Microelectronics Solid state imaging device
US7027092B2 (en) * 2001-09-17 2006-04-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Image capture and storage device
US20040012684A1 (en) * 2002-07-16 2004-01-22 Fairchild Imaging Image reconstruction techniques for charge coupled devices
CN100525401C (zh) * 2004-04-12 2009-08-05 国立大学法人东北大学 固体摄像装置、光传感器及固体摄像装置的动作方法
JP5066704B2 (ja) 2005-02-04 2012-11-07 国立大学法人東北大学 固体撮像装置、および固体撮像装置の動作方法
WO2006109683A1 (ja) * 2005-04-07 2006-10-19 Tohoku University 光センサ、固体撮像装置、および固体撮像装置の動作方法
JP2007166581A (ja) * 2005-11-16 2007-06-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高速撮影用固体撮像装置

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