JP4797066B2 - 基板処理システム、検証装置および検証装置の動作検証方法 - Google Patents
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Description
そこで、従来の基板処理システムにおいては、定期点検が必要な部品であるセンサ等の出力を電気信号に変換して半導体製造装置のメインコントローラに取り込み、メインコントローラにあらかじめ設定されている上限値及び下限値と比較することにより、各部品が正常に動作しているか否かを検知する方法が採られている。
前記検証装置は、
前記格納手段に蓄積されたデータを所定の検索条件で検索する検索指定手段と、
前記データの上限値及び下限値を所望の時間間隔毎に指定する上下限指定手段と、
前記格納手段からデータを取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得されたデータが、前記上下限指定手段により指定された範囲内であるか否かを判定する判定手段と、
を備え、前記データがイベントを示すデータであって、このイベントデータが継続する時間を検証することを特徴とする。
なお、全てのデータをデータ収集補助コンピュータ2やデータ収集用コンピュータ3で取得することにより、主コントローラ5はデータ収集補助コンピュータ2やデータ収集用コンピュータ3と通信を行わない構成にすることもできる。
次に、検証用コンピュータ4で動作する検証プログラムについて図3を用いて説明する。図3は、図1に示す検証用コンピュータ4が行う検証プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
0分0秒後は、下限:−10、上限:+10
1分30秒後は、下限:−5、上限:+5
3分10秒後は、下限:−0.1、上限:+0.5
上記の例において、1列目(0分0秒…)は、検証すべき時間範囲の先頭からの相対時間を示している。
なお、上記例では、電源をオンした瞬間は上下限を広くし、設定値(目標値)が変化したときの上下限は徐々に狭く設定する。(逆に最初は狭く、徐々に広く設定する場合もある。)
次に、イベント起動プログラムについて説明する。例えば、冷却水の供給圧力などのように、半導体製造装置1がウエハの処理中であるかアイドリング中であるかに関わらず常時検査すべきデータもあるが、半導体製造装置1がウエハの処理中だけ検査すれば十分であるデータもある。後者のようなデータの場合は、ウエハの処理が終了し次第直ちに検証プログラムを動作させる必要がある。
次に、継続時間検証プログラムについて説明する。図3において説明した検証プログラムの処理は、主にモニタデータに関する検証であった。しかし、センサが高価で使用することができなかったりセンシング技術がなかったりするために必要なモニタデータが得られない場合がある。また、モニタデータが得られたとしても、詳細なデータの上下限値を設定することが煩わしいという場合もある。
本実施の形態では、移載機のイベントについて詳述したが、その他、ボートのイベント例えば、『ボートUP』、『ボートDOWN』でも同様に実施できる。又、真空引きのイベントでも適用できる。
モニタデータ(温度、ガス流量等)についても、予め目標値に収束したことを判定するイベントデータを作成しておくことにより、温度や流量のデータを全てモニタしてチェックする必要がなくなり、データの負荷が軽減される。
イベントデータの継続時間を監視することで、イベントに該当する部品の異常の検知が容易であり、又、各イベントの処理時間のバラツキを監視することができる。そうすることで、更に、各ステップ時間の監視が可能となり、ひいては装置の信頼性のチェックが可能となる。
次に、検証プログラムのステップS1で指定する検索条件の決定処理について説明する。図7は、本発明の基板処理システムに係る検索方法の検索条件を決定する処理の流れを示すフローチャートである。ここで、ステップS30の内部で処理されるステップS31の装置指定からステップS34の開始ディレイ・終了ディレイ指定までの一連の処理によって検索条件の時間指定が決定される。ステップS30は時間指定を複数並列して決定することができ、複数の決定内容をORで結合することができる。
次に、本発明による他の検索方法について図9を参照しながら説明する。図9は、本発明の基板処理システムに係る他の検索方法の検索条件を決定する処理の流れを示すフローチャートである。
本発明の基板処理システムによる検索方法では、開始・終了時刻を、具体的な時刻ではなく、装置で発生するイベントによって指定することが可能である。しかし、イベントによって開始・終了時刻を指定するため、図7のステップS32で設定したおおまかな時間においてユーザの予期しないイベントが多数発生している場合もある。そこで、図7のステップS33での開始イベント及び終了イベントに対して複数の具体的時刻が対応する場合は、図11のように対応させる。
図12は、本発明の基板処理システムにおけるデータ検索の第1の実施例を示す図である。第1の実施例では、指定装置及び指定バッチがそれぞれ1つで指定イベント条件が1つの場合のデータ検索期間を示している。この場合の指定イベント条件は、検索開始がイベント1で検索終了がイベント2である。図12において、(a)はイベントが1つの場合の検索期間である。(b)はイベントが2つの場合の検索期間である。(c)はイベントの開始条件が2回、終了条件が3回であるが、開始条件の方が終了条件よりも少ないため、3回目の終了条件の「イベント2」は対となる開始条件がなく無視される。したがって、検索期間は2つになる。(d)はイベントの開始条件が3回、終了条件が2回であるが、開始条件の方が終了条件よりも多いため、3回目の開始条件の「イベント1」は対となる終了条件がなく無視される。したがって、検索期間は2つになる。
このように、本発明による検索方法によれば、検索期間を示す検索の開始及び終了の時刻の組が、複数発生する場合がある。そのため、検索条件に対する検索結果を図24に示す構成とする。
すなわち、図24は、検索結果の構成を示す概念図であり、900は、検索結果全体を示し、検索条件910、メタデータ912、実データの集合体916を有している。検索条件910は、図7又は図9の処理を経て決定された検索条件に関する情報の全体であり、実データの集合体916は、ステップS35で指定したデータ情報で発生した実データの断片918で構成され、指定したデータ点数だけ存在する。実データの断片918は、ステップS35で指定したデータ情報で発生した実データのうち、具体的な開始、終了時刻の組に対応するものを1つの塊としたものであり、その内容は、発生時刻とそのときの数値、又は論理値、又は状態の組が複数存在する。実データの断片918に、検索条件910が有している具体的な開始、終了時刻の組の情報を加えることにより、より理解しやすく扱いやすい構成となる。
また、メタデータ912は、実データの集合体916と同じ数だけ存在し、一対一に対応するデータであり、実データの集合体916の意味を理解する補足的役割を持つ付加的要素である。二重線914は、それぞれ一対一に対応することを示している。
次に、本発明に適用される基板処理装置の具体的な実施の形態について説明する。本発明を実施するための最良の形態において、基板処理装置は、一例として、半導体装置の製造方法における処理工程を実施する半導体製造装置として構成されている。尚、以下の説明では、基板処理装置として基板に対して酸化、拡散処理、あるいはCVD処理などを行う縦型の基板処理装置(以下、単に処理装置ということがある)を適用した場合について述べる。図20は、本発明に適用される基板処理装置の斜透視図である。また、図21は図20に示す基板処理装置の側面透視図である。
前記検証装置は、
前記格納手段に蓄積されたデータを所定の検索条件で検索する検索指定手段と、
前記データの上限値及び下限値を所望の時間間隔毎に指定する上下限指定手段と、
前記格納手段からデータを取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得されたデータが、前記上下限指定手段により指定された範囲内であるか否かを判定する判定手段と、
を備え、前記データがイベントを示すデータであって、このイベントデータが継続する時間を検証するものである。
前記検証装置は、前記格納手段に蓄積されたデータを所定の条件で検索するように指定する検索指定手段と、
前記検索指定手段により検索されるデータの上限値及び下限値を時間で指定する上下限指定手段と、
前記格納手段からデータを取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得されたデータが所定の状態で継続した時間を算出する継続時間算出手段と、
前記データ取得手段より取得されたデータが前記上下限指定手段により指定された範囲内であるか否かを判定する判定手段とを備える構成とすることもできる。
Claims (3)
- 基板に対して所望の処理を施す少なくとも一台の基板処理装置と、前記基板処理装置からデータを収集するとともに、収集したデータを保存する格納手段を有するデータ収集装置と、前記格納手段に蓄積されたデータを検証する検証装置とによって構成される基板処理システムにおいて、
前記検証装置は、
前記格納手段に蓄積されたデータを所定の期間で検索する検索指定手段と、
前記データの上限値及び下限値を時間で指定する上下限指定手段と、
前記格納手段からデータを取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得されたデータが、前記上下限指定手段により指定された範囲内であるか否かを判定する判定手段と、
を備え、
前記データ取得手段は、前記所定の期間で前記データを取得する際に、予め設定されている状態が終了していたときには、前記所定の期間に属するデータのうち、先頭のデータから予め設定されている一定時間だけ過去に遡った分のデータを取得し、
前記判定手段は、取得したデータに関して前記予め設定されている状態であるか否かを判断した後、前記データが状態の変化を示すイベントデータであって、このイベントデータが継続する時間を前記イベントデータの終了時刻が前記上下限指定手段により指定された上限値及び下限値と比較することにより検証することを特徴とする基板処理システム。 - 基板に対して所望の処理を施す少なくとも一台の基板処理装置から収集したデータを保存する格納手段に蓄積されたデータを検証する検証装置であって、
前記格納手段に蓄積されたデータを所定の期間で検索する検索指定手段と、
前記データの上限値及び下限値を時間で指定する上下限指定手段と、
前記格納手段からデータを取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得されたデータが、前記上下限指定手段により指定された範囲内であるか否かを判定する判定手段と、
を備え、
前記データ取得手段は、前記所定の期間で前記データを取得する際に、予め設定されている状態が終了していたときには、前記所定の期間に属するデータのうち、先頭のデータから予め設定されている一定時間だけ過去に遡った分のデータを取得し、
前記判定手段は、取得したデータに関して前記予め設定されている状態であるか否かを判断した後、前記データが状態の変化を示すイベントデータであって、このイベントデータが継続する時間を前記イベントデータの終了時刻が前記上下限指定手段により指定された上限値及び下限値と比較することにより検証することを特徴とする検証装置。 - 基板に対して所望の処理を施す少なくとも一台の基板処理装置から収集したデータを保存する格納手段に蓄積されたデータを所定の期間で検索する検索指定手段と、
前記データの上限値及び下限値を時間で指定する上下限指定手段と、
前記格納手段からデータを取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得されたデータが、前記上下限指定手段により指定された範囲内であるか否かを判定する判定手段と、
を備えた検証装置の動作検証方法であって、
前記データ取得手段は、前記所定の期間で前記データを取得する際に、予め設定されている状態が終了していたときには、前記所定の期間に属するデータのうち、先頭のデータから予め設定されている一定時間だけ過去に遡った分のデータを取得し、
前記判定手段は、取得したデータに関して前記予め設定されている状態であるか否かを判断した後、前記データが状態の変化を示すイベントデータであって、このイベントデータが継続する時間を前記イベントデータの終了時刻が前記上下限指定手段により指定された上限値及び下限値と比較することにより検証することを特徴とする検証装置の動作検証方法。
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