JP4796834B2 - 距離測定方法及び距離測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、レーザ光線を測距光として測定対象物に照射し、測定対象物からの反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法及び距離測定装置、特に測距光を走査する距離測定方法及び距離測定装置に関するものである。
距離測定装置として、レーザ光線を測距光として測定対象物に照射し、測定対象物からの反射光を用いて測定対象物迄の距離を測定する場合、測定対象物に対して1対1の関係で距離測定を行う視準型の光波距離測定方法と、測距光を走査させながら測定対象物からの反射光を受光して距離測定を行う走査型の光波距離測定方法がある。
通常、レーザ光線が光源より発光される場合、干渉により発光面内での強度分布があり、図10に示す様に強度分布により測距光3であるレーザ光線の測距光束断面3′にはスペックルパターン4が生じる。従って、照射される前記測距光3も強度分布に起因するスペックルパターン4を含んでいる。この為、測定対象物に照射されたレーザ光線の光束中心部からの反射光で測定した場合、或は光束周辺部からの反射光で測定した場合、スペックルパターンに起因する測距距離の相違を生じる。
上記した視準型の光波距離測定方法では、測距光の光束の中心部分を視準して測定を行う為、固定された状況での測定となり、繰返し測定が可能となる。それにより測距値が平均化され、スペックルパターンによる測距値の変動を低減することができる。
又、特許文献1、或は特許文献2に示される様に、測距光束の位相斑、光強度斑を均質化することで、スペックルパターンの影響の排除を行っている。
一方、走査型の光波距離測定方法では、図11に示される様に、測距光3が測定対象物2に対して移動しているので、測距時に前記測定対象物2が測距光束断面3′の中心に有るとは限らず、前記測定対象物2が前記測距光束断面3′の周辺部に存在する場合もある。この為、測距をした場合、測距光束の中心部で測距した結果と周辺部で測距した結果が混在することになる。尚、図11は測定対象物2としてポール1に設けられた測距用プリズムを示しており、測距光3が走査面5内を走査されている。
前記測距光束断面3′の周辺部で測距した場合、周辺光量及びスペックルパターンの影響で測距光を検出した場合の重心位置が変り、検出タイミングにズレを生じてしまう。
光波距離測定装置は、反射測距光6と内部参照光との位相差或は時間的なズレから求められる時間に基づき距離を測定するものであり、前記反射測距光6に位相のズレがあると、求められる測定距離の値に重大な誤差を生じてしまう。
又測距光3は常に走査されていることから、測定対象物2を視準した状態で、繰返し測定を行うことができないのでスペックルパターンの影響を排除することができない。従って、走査型の光波距離測定方法では、1つの測定対象物からの測距光束の部分的な反射に基づく1回の測定となってしまう為、測距光束のスペックルパターンに影響された測距値となってしまう。
更に、距離測定に使用される測距光は、所定の光強度を有していないと測定対象物からの反射光に関するS/N比が下がってしまい、測定精度が悪くなってしまうという問題がある。繰返し測定が可能である場合は、繰返し測定で平均化し測距精度を向上させることが可能となるが、測定回数が1回となる走査型の光波距離測定では、測距光の光強度(光量)を増大させることが必要となる。
特許2580148号公報
特開2000−162517号公報
本発明は斯かる実情に鑑み、走査型の光波距離測定方法及び光波距離測定装置に於いて、測距光の光束断面でのスペックルパターンの影響を平均化し、光強度を増大させることなく、測定精度を向上させようとするものである。
本発明は、測距光を測定対象物に照射し、反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法に於いて、所定の広がり角の光束を少なくとも1つ有する測距光を走査照射し、前記光束が測定対象物を横切る間に少なくとも2回パルス発光させ、少なくとも2回反射光を受光して測距し、測距結果を平均化する距離測定方法に係り、又測距光を測定対象物に照射し、反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法に於いて、所定の広がり角の複数の光束が回転と直交方向に重なる測距光を走査照射し、前記光束が測定対象物を横切る間に少なくとも2回パルス発光させ、少なくとも2回反射光を受光して測距し、測距結果を平均化する距離測定方法に係り、又パルス発光回数が可変であり、測定対象物迄の距離が離れるに応じて発光回数が増加する距離測定方法に係り、又前記パルス発光が発光周波数f、前記走査速度が回転角速度Ωであり、測定対象物からの反射光を少なくとも2回受光する様に、前記発光周波数f、前記回転角速度Ωが設定される距離測定方法に係り、又初期発光周波数f0 、初期回転角速度Ω0 で測距光が初期走査照射して、測定対象物からの反射測距光を受光し、少なくとも受光回数を含む走査情報を取得し、該走査情報に基づき、前記発光周波数f、前記回転角速度Ωを設定する距離測定方法に係り、又測定対象物を含む測距発光範囲及び該測距発光範囲の前のダミー発光範囲で部分発光する距離測定方法に係るものである。
又本発明は、所定の発光周波数fで測距光をパルス発光させる発光手段と、広がり角φを有する少なくとも1つの光束を有する測距光を照射する光学系と、測定対象物からの反射測距光を受光する受光手段と、測距光を回転角速度Ωで走査する走査手段と、前記測距光の光束が測定対象物を横切る間に複数回パルス発光される様に前記発光周波数f、前記広がり角φ、前記回転角速度Ωを設定し、前記測定対象物からの反射測距光を複数受光し、受光結果に基づき前記測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備した距離測定装置に係り、又前記演算制御部は、fφ/Ω≧2となる様に、前記発光手段の発光周波数f、前記走査手段の回転角速度Ωを制御する距離測定装置に係り、又前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光光量に応じて前記発光周波数fを制御する距離測定装置に係り、又前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光光量に応じて前記回転角速度Ωを制御する距離測定装置に係り、又前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光回数に応じて測距距離の測定精度を判定する距離測定装置に係り、又前記光学系は、光束分割光学部材を具備し、照射される測距光は分割光束の集合体である距離測定装置に係り、更に又前記演算制御部は、前記発光手段を測定対象物を含む測距発光範囲、該測距発光範囲の前のダミー発光範囲で発光させる様制御する距離測定装置に係るものである。
本発明によれば、測距光を測定対象物に照射し、反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法に於いて、所定の広がり角の光束を少なくとも1つ有する測距光を走査照射し、前記光束が測定対象物を横切る間に少なくとも2回パルス発光させ、少なくとも2回反射光を受光して測距し、測距結果を平均化するので、又測距光を測定対象物に照射し、反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法に於いて、所定の広がり角の複数の光束が回転と直交方向に重なる測距光を走査照射し、前記光束が測定対象物を横切る間に少なくとも2回パルス発光させ、少なくとも2回反射光を受光して測距し、測距結果を平均化するので、走査方式で測距を行う場合に繰返し測定が可能となり、測定精度を向上させることができる。
又本発明によれば、初期発光周波数f0 、初期回転角速度Ω0 で測距光が初期走査照射して、測定対象物からの反射測距光を受光し、少なくとも受光回数を含む走査情報を取得し、該走査情報に基づき、前記発光周波数f、前記回転角速度Ωを設定するので、迅速に適正な前記発光周波数f、前記回転角速度Ωの設定が可能であり、効率のよい距離測定が可能となる。
又本発明によれば、測定対象物を含む測距発光範囲及び該測距発光範囲の前のダミー発光範囲で部分発光するので、消費電力を節約できる。
又本発明によれば、所定の発光周波数fで測距光をパルス発光させる発光手段と、広がり角φを有する少なくとも1つの光束を有する測距光を照射する光学系と、測定対象物からの反射測距光を受光する受光手段と、測距光を回転角速度Ωで走査する走査手段と、前記測距光の光束が測定対象物を横切る間に複数回パルス発光される様に前記発光周波数f、前記広がり角φ、前記回転角速度Ωを設定し、前記測定対象物からの反射測距光を複数受光し、受光結果に基づき前記測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備したので、走査方式で測距を行う場合に繰返し測定が可能となり、測定精度を向上させることができる。
又本発明によれば、前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光光量に応じて前記発光周波数fを制御するので、又前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光光量に応じて前記回転角速度Ωを制御するので、測距光の光強度を増大させることなく、所定の測定精度を得ることが可能となる。
又本発明によれば、前記演算制御部は前記受光手段が受光した反射測距光の受光回数に応じて測距距離の測定精度を判定するので、測定結果の精度の判断が可能となると共に測定状況に合わせ必要に応じた測定精度が得られる。
又本発明によれば、前記光学系は、光束分割光学部材を具備し、照射される測距光は分割光束の集合体であるので、発光手段のスペックルパターンが解消され、測定精度が向上する。
又本発明によれば、前記演算制御部は、前記発光手段を測定対象物を含む測距発光範囲、該測距発光範囲の前のダミー発光範囲で発光させる様制御するので、消費電力を節約できる等の優れた効果を発揮する。
以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。
先ず図1〜図4に於いて、本発明が実施される走査型距離測定装置について概略を説明する。
本発明の実施の形態に於いて、測定対象物2は作業者の持つポール1に設けられた測距用プリズムであり、前記ポール1には後述する測距基準面用レーザ光線9を受光する受光センサ装置8が設けられている。
図1に示される距離測定装置11は、測距部(後述)と測距基準面設定部(図示せず)とを具備している。前記距離測定装置11は、前記測距基準面用レーザ光線9を回転照射すると共に、測距光13を回転照射可能であり、前記測距基準面用レーザ光線9により水平基準面12を設定できると共に前記測距光13により複数箇所の前記測定対象物2迄の距離を測定可能としている。前記距離測定装置11は走査した測距光13の前記測定対象物2からの反射光を受光して距離測定を行う為、前記測定対象物2が前記測距光13の照射範囲内に存在することが必要であり、該測距光13は上下方向に所要の広がりを有している。
前記測距基準面設定部は、少なくとも1つが傾斜した3以上の扇状レーザ光線9a,9b,9cから成る前記測距基準面用レーザ光線9を回転照射して前記水平基準面12を形成する。尚、1つが傾斜した3以上の扇状レーザ光線9a,9b,9cを回転照射するレーザ装置としては、本出願人が特開2004−212058号公報に於いて回転レーザ装置を提案している。
少なくとも1つが傾斜した複数の扇状レーザ光線9a,9b,9cから成る前記測距基準面用レーザ光線9を回転照射し、前記測定対象物2が前記受光センサ装置8を具備し、該受光センサ装置8が2以上の扇状レーザ光線を受光した場合の時間差を求めることで、該時間差と前記扇状レーザ光線の傾斜角より前記距離測定装置11を中心とした前記水平基準面12に対する俯仰角を求めることができる。又、俯仰角を基に測距基準面の設定が可能である。
図2は本発明の実施の形態に係る距離測定装置11の概略を示している。
発光素子15は、例えばレーザダイオードであり、測距用発光駆動回路16によって駆動され、レーザ光線を所定の発光周波数fでパルス発光する。発せられたレーザ光線はリレーレンズ17により射出用光ファイバ18の入射端面に入射され、該射出用光ファイバ18より射出されたレーザ光線は集光レンズ19によりコリメートされ、ミラー21により偏向され、前記測距光13として測距光軸22上に照射される。
前記測距光軸22上には、光束分割光学部材、第1偏向光学部材が配設される。前記光束分割光学部材は回折格子23、或は小凸レンズの集合であるアレイレンズであり、前記第1偏向光学部材は偏向ミラー24或はプリズムである。
前記測距光13は、前記回折格子23によって上下方向(図2では前記測距光軸22に対して垂直方向)に整列された所要数の光束に分割される。分割状態を図3に示す。前記測距光13は前記回折格子23によって回折された分割光束13aの集合体となり、該分割光束13a単体はφの広がり角を有し、隣接する分割光束13a同士は所要の重なりを有している。図3では、分割光束13aの半径分が重なった状態を示している。分割光束13aの集合体となった前記測距光13は上下方向に所要の広がりSを有している。該広がりSは前述した様に前記測距光13の照射範囲を決定するものであり、例えば測距距離が28mの場合に前記測距光軸22を中心に上下5mの範囲を照射する様に設定される。又、分割後の前記測距光13は前記偏向ミラー24により前記測定対象物2に向う様に偏向される。
該測定対象物2によって反射された反射測距光13′は前記測距光軸22に沿って前記偏向ミラー24に入射し、該偏向ミラー24によって偏向される。偏向された前記反射測距光13′は、集光レンズ25によって受光用光ファイバ26に入射される。前記反射測距光13′はリレーレンズ27を介してフォトダイオード等の受光素子28によって受光され、該受光素子28から出力される受光信号は受光回路29によって所要の信号処理が行われ後述する演算制御部30に入力される。
図示しないが、前記発光素子15からのレーザ光線の一部が分割され、前記受光素子28に入射する様に内部参照光路が形成されており、該内部参照光路を経た内部参照光と、前記反射測距光13′とは機械的、或は電気的に切替えられ、或は分別されて前記受光素子28に受光され、内部参照光と前記反射測距光13′の比較で前記測定対象物2迄の距離が演算され、測定される様になっている。
前記発光素子15、前記測距用発光駆動回路16、前記射出用光ファイバ18、前記受光用光ファイバ26、前記受光素子28、前記受光回路29、及び図示しない内部参照光路等は測距部20を構成する。
前記測距基準面用レーザ光線9は、レーザダイオード等の発光素子31から発せられ、回折格子32等の光学部材を透過することで、複数のファンビームが分割形成され、更にファンビームの少なくとも1つは水平面に対して傾斜している。該ファンビームは第2偏向光学部材、例えばペンタプリズム33によって前記測距光軸22と平行に偏向され、前記測距基準面用レーザ光線9として照射される。該測距基準面用レーザ光線9は前記受光センサ装置8によって受光される。前記発光素子31は基準用発光駆動回路34によって駆動され、該基準用発光駆動回路34、前記測距用発光駆動回路16はそれぞれ前記演算制御部30によって駆動状態が制御される。
該演算制御部30には記憶部55が接続されており、該記憶部55には距離測定装置11の測定を実行する為のシーケンスプログラム、測距距離を演算する等の演算プログラム、或は測定条件に対応する測定結果精度判定を行う為のプログラムが格納され、更に前記記憶部55は前記演算制御部30が演算した結果を記憶する様になっている。
前記偏向ミラー24、前記ペンタプリズム33は一体的に回転可能に保持され、所要の駆動手段、例えばモータ(後述)により回転される様になっており、前記偏向ミラー24、前記ペンタプリズム33、駆動手段は回転照射部36を構成する。
図4は前記距離測定装置11の回転照射部36の概略を示している。尚、図4中、図1中で示したものと同等のものには同符号を付してある。
下基板37の上側には円筒状の投光窓38が配置され、該投光窓38は透明ガラス等の材質となっている。該投光窓38の上端には上基板39が設けられ、前記投光窓38の内部には中間基板41が設けられている。
前記下基板37、前記中間基板41に軸受42を介して円筒状のプリズムホルダ43が設けられ、該プリズムホルダ43は前記集光レンズ25の光軸(図2参照)を中心に回転自在となっている。前記プリズムホルダ43の内部には偏向光学部材として前記ペンタプリズム33が設けられ、前記プリズムホルダ43の円筒面の前記ペンタプリズム33に対峙する部分には基準レーザ光線用投光窓45が設けられている。
前記ペンタプリズム33は、前記回折格子32を透過した前記測距基準面用レーザ光線9を偏向して前記測距光軸22と平行に照射するものである。
前記プリズムホルダ43の上側には該プリズムホルダ43と同心にミラーホルダ44が一体的に設けられ、該ミラーホルダ44の内部には前記偏向ミラー24が保持されている。前記ミラーホルダ44の円筒面の前記偏向ミラー24に対峙する部分には、測距用投光窓50が設けられている。
前記上基板39にはレンズホルダ46が設けられ、該レンズホルダ46に前記集光レンズ25が保持されており、上記した様に該集光レンズ25の光軸は前記ミラーホルダ44の回転中心と合致している。又、前記集光レンズ25の光軸上には該集光レンズ25の径より小さい前記ミラー21、前記受光用光ファイバ26の入射端面が配置されており、又前記ミラー21によって偏向された光軸上には射出用光ファイバ18の射出端面が配置されている。
前記プリズムホルダ43の上端には走査ギア47が固着され、前記中間基板41には走査モータ48、エンコーダ49が設けられ、前記走査モータ48の出力軸には駆動ギア51が設けられ、前記エンコーダ49の入力軸には従動ギア52がそれぞれ嵌着され、前記駆動ギア51、前記従動ギア52は前記走査ギア47に噛合している。
前記走査モータ48が駆動されることで、前記プリズムホルダ43、前記ミラーホルダ44が回転され、前記ペンタプリズム33から射出される前記測距基準面用レーザ光線9が回転照射されて測距基準面を設定し、前記偏向ミラー24から前記測距光13が測距の為に回転照射される。
前記エンコーダ49は前記ペンタプリズム33、前記偏向ミラー24の回転角を検出し、前記エンコーダ49からの検出信号は図2に示される信号処理回路54により増幅、A/D変換等所要の信号処理されて前記演算制御部30に入力される。該演算制御部30は前記エンコーダ49の検出結果で、前記測距基準面用レーザ光線9、前記測距光13の照射方向を検出する様になっている。
前記走査モータ48はモータ駆動部53によって駆動され、前記演算制御部30は該モータ駆動部53を介して前記走査モータ48を所定の速度に制御する。例えば、前記エンコーダ49からの検出結果を基に、前記走査モータ48による前記プリズムホルダ43の回転角速度が前記演算制御部30により演算され、演算結果を基に前記プリズムホルダ43の回転角速度、即ち前記測距光13の走査速度が回転角速度Ωとなる様に前記走査モータ48の回転速度が制御される。
又、前記測定対象物2で反射された前記反射測距光13′が前記受光用光ファイバ26を介して前記受光素子28に受光された時の角度が前記エンコーダ49から検出され、検出角度は前記演算制御部30を介して前記記憶部55に記憶される。又、該記憶部55には前記広がり角φ、及び前記発光周波数f、前記回転角速度Ωが記憶される。
前記距離測定装置11による測定は、前記測距基準面用レーザ光線9、前記測距光13を射出した状態で、又前記走査モータ48により前記プリズムホルダ43、前記ミラーホルダ44が定速回転された状態で実施される。
前記射出用光ファイバ18から射出された前記測距光13は、連続回転照射され、所要箇所の前記測定対象物2を照射することで該測定対象物2からの反射測距光が前記偏向ミラー24に入射し、更に前記集光レンズ25を経て前記受光用光ファイバ26に入射し、該受光用光ファイバ26を介して前記受光素子28により受光されて前記測定対象物2迄の測距が行われる。又、前記受光素子28が受光した時の前記エンコーダ49からの信号に基づき前記測距光13の照射方向が検出され、測距結果と照射方向の角度が対応されて前記記憶部55に記憶される。又、前記照射方向が検出されるので、測定した前記測定対象物2の特定も同時に行われる。
又、前記測距基準面用レーザ光線9を前記受光センサ装置8が検出することで、前記距離測定装置11に対する前記測定対象物2の俯仰角が検出され、該測定対象物2の測距距離と前記仰角とで前記測定対象物2の水平基準面に対する高さが測定される。
以下、本発明に於ける測距の作用について図5〜図7を参照して説明する。尚、図6〜図7中で示す光束は説明を簡略化する為1本の分割光束13aのみを示している。
前記射出用光ファイバ18から射出された測距光13は前記回折格子23により複数の分割光束13aに分割され、前記測距光軸22上に射出される。従って、前記距離測定装置11から照射される前記測距光13は複数の分割光束13aの重なりにより平均化されスペックルパターンの影響の少ない光束となっている。尚、本発明の場合、前記測距光13が上下に所要の広がりを有し、充分な光強度を有している場合は前記回折格子23を省略してもよく、前記測距光13にスペックルパターンの影響があった状態でも測距光の光束断面内でのスペックルパターンを平均化し、光強度を増大させることなく、測定精度を向上させることができる。
上記した様に、測距光13の発光周波数f、測距光13の回転角速度Ω、分割光束13aの広がり角φの条件で、前記測距光13を回転照射すると、前記測定対象物2と前記分割光束13aとの関係は、図6に示される様になる。尚、図6は前記測定対象物2と前記分割光束13aとの相対移動関係を示しており、該分割光束13aが同一位置で点滅し、前記測定対象物2が回転角速度Ωで移動している状態を示している。
前記分割光束13aの光束は前記測定対象物2を照射する位置で、直径Dの広がり断面を有し、前記測定対象物2は直径dの面積を有している。
前記測距光13は発光周波数fでパルス発光され、回転角速度Ωで回転しているので、パルス間の移動量(回転角)はΩ/f(<φ)となる。従って、前記測定対象物2が前記測距光13を横切った場合、φ/(Ω/f)=fφ/Ω=n回の反射測距光13′が前記距離測定装置11に入射することになる。尚、前記測定対象物2の直径dに相当する部分が測距光13′の光束となる。この様に、横方向に多点測距することで測距値が平均化され測距精度を高めることができる。
図7は静止している前記測定対象物2をパルス発光された前記測距光13が横切る場合を示しており、n回の前記反射測距光13′が得られる状態を示している。
而して、前記距離測定装置11でn回の繰返し測定が行われ、繰返し測定で測距値が平均化され測距精度を向上させることが可能となる。更に、図6に示される様に、前記測定対象物2は前記スペックルパターン4のある部分、無い部分の光束を反射するので、n回の繰返し測定でスペックルパターンの影響が平均化され、高精度の測定結果が得られる。
又、繰返し回数nは、測定精度と相関関係があり、予め繰返し回数nと測定精度との関係を測定しておき、前記記憶部55に格納しておけば、繰返し回数nで測定した場合の測定精度が判定できる。或は、距離測定の状況に合わせ測定精度を設定すれば、設定した測定精度を得る為の繰返し回数nが求められる。
尚、前記分割光束13aの直径Dと前記測定対象物2の直径dの関係は、前記分割光束13aの広がり角φ、測距距離Lによって決定され、広がり角φ、測距距離Lが大きい程D>>dとなり、前記反射測距光13′の光強度、即ち前記受光素子28が受光する前記反射測距光13′の光量は減少し、又該反射測距光13′が前記分割光束13aの光束断面の局部に限定される為スペックルパターンの影響も大きくなる(図6参照)。従って、広がり角φ、測距距離Lが大きく、D>>dの場合は、Ω/fの値を小さくして、即ち発光周波数fを大きく、或は回転角速度Ωを小さくして前記繰返し回数nの値が大きくなる様に、前記発光素子15の発光を制御し、或は前記走査モータ48の回転速度を制御する。前記繰返し回数nの値を大きくすることで、1回の受光光量の減少を補うことができ、又繰返し回数nの反射測距光13′は前記分割光束13aの光束断面の複数箇所の部分となり、前記スペックルパターン4を含むものと含まないものが混在し、該スペックルパターン4が平均化される。
又、測距距離Lが小さくなり、d/Dの値が大きくなると、前記反射測距光13′の光強度が大きくなり、又光束の広い面積部分を同時に用いることになる。従って、前記スペックルパターン4の影響も小さくなり、前記繰返し回数nの値は小さくて済む様になる。尚、測定の平均効果を得る為、n≧2となる様に発光周波数f、回転角速度Ωが設定されることが好ましい。
而して、広がり角φ、測距距離Lに応じて、発光周波数f、回転角速度Ωを適宜制御することで、発光素子15の発光強度を変えることなく、高精度の距離測定が可能となる。
尚、発光周波数f、回転角速度Ωは、最も厳しい測定条件に合わせて、固定的に設定してもよく、或は測距距離に応じて発光周波数f、回転角速度Ωを変更する様にしてもよい。
測距距離に応じて発光周波数f、回転角速度Ωを変更する場合の作動について説明する。
前記記憶部55には測定開始時の初期作動条件、例えば発光周波数f0 、回転角速度Ω0 が設定入力されている。尚、前記広がり角φは距離測定装置11の光学系により決定される固定値とし、前記発光素子15の発光強度は一定とする。
前記距離測定装置11により測定を開始すると、先ず初期条件で測定が開始される。即ち、測距光13の発光周波数f0 、測距光13の回転角速度Ω0 で測定される。
前記測距光13が前記測定対象物2を走査することで、前記受光素子28が反射測距光13′を受光した回数、更に反射測距光13′の受光強度が検出される。
前記演算制御部30は、受光強度を基に適正な測定繰返し回数nを求め、受光回数がnとなる様に、発光周波数f又は回転角速度Ωを変更する。例えば、発光周波数fを大きくすることで測定繰返し回数nを増やすことができる。或は、発光周波数fを変えないで、前記回転角速度Ωを小さくしても測定繰返し回数nを増やすことができる。又、前記測定対象物2迄の距離が離れるに応じて周速度が大きくなるが、この場合も発光周波数fを大きくして発光回数を増加させ受光回数がnとなる様にする。
適正な発光周波数f、回転角速度Ωが演算されると、該演算結果に基づき前記演算制御部30は前記測距用発光駆動回路16を介して前記発光素子15の発光状態を制御し、又前記モータ駆動部53を介して前記走査モータ48を所定の回転速度となる様に制御する。
前記発光素子15、前記走査モータ48が制御された状態で、本測定が実行される。
尚、上記説明では単一の分割光束13aについて説明したが、該分割光束13aの集合体である測距光13について、図8により説明する。尚、図8中、図6中と同一のものには同符号を付してある。
前記測距光13は上下に整列された分割光束13aの集合体であり、又該分割光束13aは所要部分で重なり合っている。
前記測距光13の広がりSの範囲に測定対象物2がある場合、前記分割光束13aの少なくとも1つが、該測定対象物2を通過し、該測定対象物2により分割光束13aが反射測距光13′として反射され、該反射測距光13′は前記集光レンズ25を介して前記受光用光ファイバ26に入射し、前記受光素子28によって受光される。
尚、図8は前記測定対象物2が分割光束13aの直径部分を通過する状態で、前記発光素子15が8回点滅した場合を示している。
又、上記実施の形態では、回折格子23、アレイレンズ等の光束分割光学部材により、測距光13を上下方向に分割したが、前記ミラー21を所要範囲で往復回転する走査手段を設け、測距光13の広がりがSとなる様に往復走査させてもよい。
図9は、分割光束13aが二重三重に重なった状態の測距光13にて、測定対象物2を横切り測定した場合を示している。(A)は分割光束13aが二重三重に重なった状態の測距状態を示し、(B)は重なったそれぞれの分割光束13aの測距状態を分離して示し、(C)はそれぞれの分割光束13aの測距状態を完全に重ねた状態を示したものである。重なった測距光束の上下方向の複数の反射光が得られ、結果的に測距は上下方向の平均値となる。
又、距離測定を行う場合の測距光の発光状態としては、全周発光させてもよく、或は、測定対象物2を含む所定の角度の範囲のみで部分発光させてもよい。
尚、部分発光させる場合は、測定開始時に1回転或は数回転全周発光させ、測定対象物2の位置を検出し、部分発光させる方向(位置)、測距発光範囲(角度)を設定する。又、発光開始直後の発光素子の不安定な発光状態が測定に影響しない様に、測距発光範囲の前にダミー発光範囲を設ける。
測距光を部分発光させることで、省エネルギ化することができ、電池の消耗量を低減させることができ、又ダミー発光させることで測定の安定化が図れる。
本発明の実施の形態の概略を示す説明図である。 本発明の実施の形態を示す概略構成図である。 本発明の実施の形態に於ける測距光射出部の説明図である。 本発明の実施の形態に於ける回転照射部の断面図である。 本発明の実施の形態の測定状態を示す説明図である。 本発明の実施の形態に於ける測距光と測定対象物との関係を示す説明図である。 本発明の実施の形態に於ける測距光と測定対象物との関係を示す説明図である。 本発明の実施の形態に於ける分割光束と測定対象物との関係を示す説明図である。 本発明の実施の形態に於ける分割光束と測定対象物との関係を示す説明図である。 従来例に於ける測距光と測定対象物との関係を示す説明図である。 従来例に於ける測距光と測定対象物との関係を示す説明図である。
符号の説明
1 ポール
2 測定対象物
8 受光センサ装置
9 測距基準面用レーザ光線
13 測距光
13a 分割光束
13′ 反射測距光
15 発光素子
16 測距用発光駆動回路
23 回折格子
28 受光素子
29 受光回路
30 演算制御部
48 走査モータ
49 エンコーダ
53 モータ駆動部
54 信号処理回路
55 記憶部

Claims (13)

  1. 測距光を測定対象物に照射し、反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法に於いて、所定の広がり角の光束を少なくとも1つ有する測距光を走査照射し、前記光束の広がり断面の直径に対し前記測定対象物の直径が小さく、前記光束が測定対象物を横切る間に、前記広がり断面の少なくとも2つの異なる位置に前記測定対象物が位置する時に前記測距光をパルス発光させ、少なくとも2回反射光を受光して測距し、測距結果を平均化することを特徴とする距離測定方法。
  2. 測距光を測定対象物に照射し、反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法に於いて、所定の広がり角の複数の光束が回転と直交方向に重なる測距光を走査照射し、前記光束の広がり断面の直径に対し前記測定対象物の直径が小さく、前記光束が測定対象物を横切る間に、前記広がり断面の少なくとも2つの異なる位置に前記測定対象物が位置する時に前記測距光をパルス発光させ、少なくとも2回反射光を受光して測距し、測距結果を平均化することを特徴とする距離測定方法。
  3. 定対象物迄の距離が離れるに応じて発光周波数が増加する請求項1又は請求項2の距離測定方法。
  4. 前記パルス発光が発光周波数f、前記走査速度が回転角速度Ωであり、測定対象物からの反射光を少なくとも2回受光する様に、前記発光周波数f、前記回転角速度Ωが設定される請求項1の距離測定方法。
  5. 初期発光周波数f0 、初期回転角速度Ω0 で測距光が初期走査照射して、測定対象物からの反射測距光を受光し、少なくとも受光回数を含む走査情報を取得し、該走査情報に基づき、前記発光周波数f、前記回転角速度Ωを設定する請求項1の距離測定方法。
  6. 測定対象物を含む測距発光範囲及び該測距発光範囲の前のダミー発光範囲で部分発光する請求項1の距離測定方法。
  7. 所定の発光周波数fで測距光をパルス発光させる発光手段と、広がり角φを有する少なくとも1つの光束を有する測距光を照射する光学系と、測定対象物からの反射測距光を受光する受光手段と、測距光を回転角速度Ωで走査する走査手段と、前記光束の広がり断面の直径に対し前記測定対象物の直径が小さく、前記測距光の光束が測定対象物を横切る間に、前記広がり断面の複数の異なる位置に前記測定対象物が位置する時にそれぞれ前記測距光をパルス発光される様に前記発光周波数f、前記広がり角φ、前記回転角速度Ωを設定し、前記測定対象物からの反射測距光を複数受光し、受光結果に基づき前記測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備したことを特徴とする距離測定装置。
  8. 前記演算制御部は、fφ/Ω≧2となる様に、前記発光手段の発光周波数f、前記走査手段の回転角速度Ωを制御する請求項7の距離測定装置。
  9. 前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光光量に応じて前記発光周波数fを制御する請求項7の距離測定装置。
  10. 前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光光量に応じて前記回転角速度Ωを制御する請求項7の距離測定装置。
  11. 前記演算制御部は、前記受光手段が受光した反射測距光の受光回数に応じて測距距離の測定精度を判定する請求項7の距離測定装置。
  12. 前記光学系は、光束分割光学部材を具備し、照射される測距光は分割光束の集合体である請求項7の距離測定装置。
  13. 前記演算制御部は、前記発光手段を測定対象物を含む測距発光範囲、該測距発光範囲の前のダミー発光範囲で発光させる様制御する請求項7の距離測定装置。
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