JP2006214850A - レーザ測量機 - Google Patents
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Abstract
【課題】 ターゲットが設置された壁面までの距離に応じて、レーザ光の出力を自動的に調整して、墨出し作業に最適な略一定の適切な照度で前記壁面を照射するレーザ測量機を提供する。
【解決手段】 可視光のレーザ光(32)をターゲット(2)が設置された壁面に向けて出射するレーザ光源(30)と、ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子(72)とを備えたレーザ測量機(1)において、レーザ光源に供給する電力を制御するレーザ光源駆動回路(68A)と、受光素子の出力を比較回路(77)で基準値と比較して、受光素子の出力が略一定になるようにレーザ光源駆動回路を制御するマイクロコンピュータ(80)とを備える。
【選択図】 図1
【解決手段】 可視光のレーザ光(32)をターゲット(2)が設置された壁面に向けて出射するレーザ光源(30)と、ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子(72)とを備えたレーザ測量機(1)において、レーザ光源に供給する電力を制御するレーザ光源駆動回路(68A)と、受光素子の出力を比較回路(77)で基準値と比較して、受光素子の出力が略一定になるようにレーザ光源駆動回路を制御するマイクロコンピュータ(80)とを備える。
【選択図】 図1
Description
本発明は、室内外で工事等を行うとき、可視レーザ光を設定平面内でスキャン(走査)して、水平面や鉛直面等の基準面を設定するレーザ測量機(レベルプレーナ)に関する。
図3に示したように、レベルプレーナ1は、回転部6から可視光のレーザ光32を出射して、壁面3等に設置されたターゲット2の方向を基準にして、レーザ光32を所定のスキャン幅θでスキャンさせることにより、水平面や鉛直面等の基準面を指示するものである。
図4に、従来のレベルプレーナの光学系と、この光学系を制御する制御系のブロック図を示す。
このレベルプレーナ1は、鉛直上方に可視光のレーザ光31を出射するLD(レーザダイオード)等のレーザ光源30と、レーザ光源30から出射されたレーザ光31を平行光線のレーザ光32とする対物レンズ40と、このレーザ光32を90°偏向させて水平方向に反射してターゲット2を照射するペンタプリズム46とを備えている。レーザ光32の一部34は、ペンタプリズム46を鉛直方向に透過して、天井を照射して鉛直方向を指示するようになっている。このレーザプレーナ1には、床面を照射して鉛直下方を指示するため、鉛直下方へ対物レンズ67を透過させてレーザ光66を出射するレーザ光源64も備えられる。両レーザ光源30、64には、マイクロコンピュータ80によって制御される電源装置68から給電される。
また、このレベルプレーナ1においては、対物レンズ40とペンタプリズム46との間には、レーザ光32の位置ずれを補正する楔ガラス42と、レーザ光32を直線偏光から円偏光に変えるλ/4板44が配置される。レーザ光源30と対物レンズ40との間には、後述するフォーカスレンズ36とビームスプリッタ38とが配置される。
このレベルプレーナ1から出射されたレーザ光32は、ターゲット2で反射され、今来た光路を逆進し、ビームスプリッタ38で直角方向に反射される。ビームスプリッタ38で反射したレーザ光32は、集光レンズ70で受光素子72上に集光させられる。受光素子72の出力は、増幅器74と波形成形回路75を経てマイクロコンピュータ80に入力される。
フォーカスレンズ36は、レーザ光32の集光点距離を調整するためのもので、マイクロコンピュータ80によって制御されるフォーカスモータ(ステッピングモータ)50によって移動させられ、レーザ光32の集光点距離がターゲット2までの距離になるようするものである。これにより、レーザ光32の照射点の照度を上げて視認性を向上させるとともに、高精度に基準面を表示できるようになっている。
ペンタプリズム46は、回転部6(図3参照)内において、メインモータ60で回転駆動される回転支持体62上に固定される。メインモータ60と回転支持体62の中心軸に沿っては、レーザ光32を通過させるため図示しない過貫孔が設けてある。メインモータ60を回転させて、ペンタプリズム46を水平回転させると、レーザ光32は水平平面内で回転又はスキャンする。ペンタプリズム46の回転角は、エンコーダ49で検出されて、マイコロコンピュータ80に入力される。マイクロコンピュータ80は、受光素子72によってターゲット2から反射してきたレーザ光32を検出して、ターゲット2方向を基準にして、レーザ光32が所定のスキャン幅θでスキャンするように、メインモータ60を制御する。
さらに、レベルプレーナ1には、傾斜センサ78と図示しない整準装置が備えてあって、常に水平姿勢を維持され、レーザ光32、34、66により水平面及び鉛直線を指示するようになっている。
特開2002−296034号公報
従来のレベルプレーナ1から出射されるレーザ光32の出力は、通常一定であった。このため、レベルプレーナ1を用いて墨出し作業をしようとして、レーザ光32で壁面をスキャンさせたとき、壁面が近いとレーザ光32が強すぎて、レーザ光32で照射された部分がギラギラ反射して、目視によりレーザ光32の照射位置を精確に読み取れず、作業員には目が疲れるうえ墨出し作業を行い難いという問題があった。
本発明は、前記問題に鑑みてなされたもので、ターゲットが設置された壁面までの距離に応じて、レーザ光の出力を自動的に調整して、墨出し作業に最適な略一定の照度で前記壁面を照射するレーザ測量機を提供する。
前記の問題を解決するため、請求項1に係る発明では、可視光のレーザ光をターゲットが設置された壁面に向けて出射するレーザ光源と、前記ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子とを備えたレーザ測量機において、前記レーザ光源に供給する電力を制御するレーザ光源駆動回路と、前記受光素子の出力が略一定になるように前記レーザ光源駆動回路を制御するレーザ光源制御手段とを備えたことを特徴とする。
請求項2に係る発明では、可視光のレーザ光をターゲットが設置された壁面に向けて出射するレーザ光源を備えたレーザ測量機において、前記レーザ光源への供給電力を制御するレーザ光源駆動回路と、前記壁面までの距離を測定又は推測し、前記距離が小さくなるほど、前記レーザ光源駆動回路を制御して前記供給電力を小さくするレーザ光源制御手段とを備えたことを特徴とする。
請求項3に係る発明では、請求項2に係る発明において、前記レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるフォーカスモータと、該フォーカスレンズの位置を検出する位置センサとを備え、前記レーザ光源制御手段は前記位置センサの出力に基づいて前記距離を推測することを特徴とする。
請求項4に係る発明では、請求項2に係る発明において、前記レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるフォーカスモータと、前記フォーカスモータの回転角を検出する回転角センサとを備え、前記レーザ光源制御手段は前記回転角センサの出力に基づいて前記距離を推測することを特徴とする。
請求項5に係る発明では、請求項2に係る発明において、前記レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるステッピングモータとを備え、前記レーザ光源制御手段は前記ステッピングモータに送ったパルスを計数し、該パルス数に応じて前記距離を推測することを特徴とする。
請求項6に係る発明では、請求項2に係る発明において、前記ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子を備え、前記レーザ光源制御手段は、レーザ光源に所定電力を供給したときの前記受光素子の出力から前記ターゲット又は壁面までの距離を推測することを特徴とする。
請求項6に係る発明では、請求項2に係る発明において、前記ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子を備え、前記レーザ光源制御手段は、レーザ光源に所定電力を供給したときの前記受光素子の出力から前記ターゲット又は壁面までの距離を推測することを特徴とする。
以上の説明から明らかなように、請求項1に係る発明によれば、可視光のレーザ光をターゲットが設置された壁面に向けて出射するレーザ光源と、前記ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子とを備えたレーザ測量機において、前記レーザ光源に供給する電力を制御するレーザ光源駆動回路と、前記受光素子の出力が略一定になるように前記レーザ光源駆動回路を制御するレーザ光源制御手段とを備えたから、ターゲットまでの距離が短くなっても、受光素子からの出力が所定値に維持されるように、レーザ光源制御手段によってレーザ光源駆動回路を制御してレーザ光源から出射するレーザ光を弱くする。このため、ターゲットが設置された壁面を常に略一定の適切な照度で照射することができ、壁面までの距離が近くなっても、レーザ光で照射された部分がギラギラと輝いて周辺がにじむ状態が少なくなり、目視によりレーザ光の照射位置を精確に読み取れ、作業員は目が疲れることなく墨出し作業を行うことができ、非常に使い易いレーザ測量機が得られる。
請求項2に係る発明によれば、可視光のレーザ光をターゲットが設置された壁面に向けて出射するレーザ光源を備えたレーザ測量機において、前記レーザ光源への供給電力を制御するレーザ光源駆動回路と、前記壁面までの距離を測定又は推測し、前記距離が小さくなるほど、前記レーザ光源駆動回路を制御して前記供給電力を小さくするレーザ光源制御手段とを備えたから、ターゲットが設置された壁面までの距離が小さくなると、レーザ光源制御手段によってレーザ光源駆動回路を制御してレーザ光源から出射するレーザ光を弱くして、前記壁面を常に略一定の照度で照射する。このため、請求項1に係る発明と同じ効果を奏する。
請求項3に係る発明によれば、さらに、レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるフォーカスモータと、該フォーカスレンズの位置を検出する位置センサとを備え、レーザ光源制御手段は前記位置センサの出力に基づいて前記距離を推測するから、請求項2に係る発明と同じ効果を奏する。
請求項4に係る発明によれば、さらに、レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるフォーカスモータと、前記フォーカスモータの回転角を検出する回転角センサとを備え、前記レーザ光源制御手段は前記回転角センサの出力に基づいて前記距離を推測するから、請求項2に係る発明と同じ効果を奏する。
請求項5に係る発明によれば、さらに、前記レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるステッピングモータとを備え、前記レーザ光源制御手段は前記ステッピングモータに送ったパルスを計数し、該パルス数に応じて前記距離を推測するから、請求項2に係る発明と同じ効果を奏する。しかも、前記距離を測定又は推測するためのセンサ等を必要としないため、本発明のレーザ測量機を極めて安価に実現できる。
請求項6に係る発明によれば、さらに、ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子とを備え、前記レーザ光源制御手段は前記受光素子の出力から前記ターゲットが設置された壁面までの距離を推測するから、請求項2に係る発明と同じ効果を奏する。
以下、本発明の望ましい実施例について、図面を用いて詳細に説明する。本実施例のレベルプレーナの光学系及びこの光学系を制御する制御系を図1に示す。
このレベルプレーナ1Aは、鉛直上方に可視光のレーザ光31を出射するLD等のレーザ光源30と、レーザ光源30から出射されたレーザ光31を略平行光線のレーザ光32とする対物レンズ40と、このレーザ光32を水平方向に反射してターゲット2を照射するペンタプリズム46とを備えている。
また、このレベルプレーナ1Aにおいては、対物レンズ40とペンタプリズム46との間には、レーザ光32の位置ずれを補正する楔ガラス42と、レーザ光32を直線偏光から円偏光に変えるλ/4板44が配置される。レーザ光源30と対物レンズ40との間には、後述するフォーカスレンズ36とビームスプリッタ38が配置される。ターゲット2で反射して来たレーザ光32は、ビームスプリッタ38で直角方向に反射され、集光レンズ70で受光素子72上に集光するようになっている。受光素子72の出力は、増幅器と波形成形回路を含む受光回路73を経てマイクロコンピュータ80に入力される。
フォーカスレンズ36は、マイクロコンピュータ80によって制御される駆動回路50Aからの駆動電流によって駆動されるフォーカスモータ(ステッピングモータ)50によって移動させられる。
ペンタプリズム46は、回転部6内に収容されるとともに、メインモータ60で回転駆動される回転支持体62上に固定されている。メインモータ60を回転させて、ペンタプリズム46を水平回転させると、レーザ光32は水平平面内で回転又はスキャンする。ペンタプリズム46の回転角は、エンコーダ49で検出されて、マイコロコンピュータ80に入力される。マイクロコンピュータ80は、受光素子72によってターゲット2から反射してきたレーザ光32を検出して、ターゲット2方向を基準にして、レーザ光32が所定のスキャン幅θでスキャンするように、メインモータ60を制御する。
さらに、このレベルプレーナ1Aは、図示しない傾斜センサと整準装置を備えていて、常に水平姿勢を維持している。
以上に説明したレベルプレーナ1Aの構成は、図4に示した従来例と同じであるから、これ以上の説明は省略する。この他に、このレベルプレーナ1Aは、以下に説明するように、レーザ光源30に供給する電力を制御するレーザ光源駆動回路68Aと、ターゲット2が設置された壁面までの距離に応じて、レーザ光源駆動回路68Aを制御するために後述するレーザ光源制御手段とを備えていて、レーザ光32の強度すなわち照射点での照度を自動的に最適に調整するようになっている。
レーザ光源制御手段としては種々のものがあり、第1のレーザ光源制御手段は、受光回路73の出力と基準信号と比較する比較回路77と、この比較回路の出力が入力されるマイクロコンピュータ80からなる。マイクロコンピュータ80は、比較回路77で受光回路73の出力と基準信号との差を検出しており、この差に応じてレーザ光源駆動回路68Aを制御し、受光回路73の出力と基準信号との差が無くなるように、レーザ光源駆動回路68Aを制御する。これで、常に受光素子72に常に一定の反射レーザ光が入力することになり、レーザ光32はターゲット2を設置した壁面も常に略一定の適切な照度で照射することになり、壁面が近い場合でも、レーザ光32で照射された部分がギラギラ反射せず、目視によりレーザ光32の照射位置を精確に読み取れ、作業員には目が疲れることなく、墨出し作業を行うことができる。
第2のレーザ光源制御手段は、フォーカスモータ50にステッピングモータを使用し、マイクロコンピュータ80は、フォーカスモータ50に送ったパルス数を数え、フォーカスレンズ36の無限遠の位置を基準にして、前記フォーカスレンズ36の移動量を前記フォーカスモータ50へ送ったパルス数から得て、この移動量とフォーカスレンズ36の焦点距離とから、レーザ光32の集光距離すなわちターゲット2が設置された壁面までの距離を計算して求め、この距離に応じて、レーザ光源30に供給する電力をレーザ光源駆動回路68Aで制御するものである。ここで、レベルプレーナ1Aのレーザ光源30に供給する電力は通常1mW程度であるが、壁面までの距離が約30m以下になると、作業者にはレーザ光32の照射部を眩しく感じ出すので、図2の実線に示したように、レーザ光源30への供給電力は、距離30m以下では距離が小さくなるほど、レーザ光源30へ供給する電力を小さくし、距離30m以上では1mW程度で一定にする。ただし、レーザ光源30への供給電力は、距離に応じて直線的に変化させる必要はなく、図2に鎖線で示した範囲内で距離に応じてレーザ光源30へ供給する電力を変化させればよい。この第2のレーザ光源制御手段は、新たな部品を必要としないため、ほとんどコストを増加させず、前記第1のレーザ光源制御手段と同じ機能を実現できる。
第3のレーザ光源制御手段は、フォーカスレンズ36の位置を検出する図示しない位置センサ(例えば、パルスモータ)を備え、マイクロコンピュータ80は、フォーカスレンズ36の無限遠の位置を基準にして、前記フォーカスレンズ36の移動量を前記位置センサの出力から得て、この移動量とフォーカスレンズ36の焦点距離とから、レーザ光32の集光距離すなわちターゲット2が設置された壁面までの距離を計算して求め、この距離に応じて、前記第2の制御手段と同様にレーザ光源駆動回路68Aを制御するものである。
第4のレーザ光源制御手段は、フォーカスモータ50の回転角を検出する図示しない角度センサ(例えば、エンコーダ)を備え、マイクロコンピュータ80は、フォーカスレンズ36の無限遠の位置を基準にして、前記フォーカスレンズ36の移動量を前記角度センサの出力から得て、この移動量とフォーカスレンズ36の焦点距離とから、レーザ光32の集光距離すなわちターゲット2が設置された壁面までの距離を計算して求め、この距離に応じて、前記第2の制御手段と同様にレーザ光源駆動回路68Aを制御するものである。
第5のレーザ光源制御手段は、受光回路73の出力電圧を読む図示しない電圧計を備え、マイクロコンピュータ80は、レーザ光源駆動回路68Aからレーザ光源30に所定電圧を供給させて、レーザ光32を出射し、受光素子72で反射レーザ光を受光し、このときの電圧計出力を読んで、予め電圧計出力と距離との関係のテーブルを記憶しておき、このテーブルを用いて、ターゲット2が設置された壁面までの距離を求め、この距離を用いて前記第2の制御手段と同様にレーザ光源駆動回路68Aを制御するものである。
以上の5つのレーザ光源制御手段から適宜1つを選択して備えればよい。もちろん、5つのレーザ光源制御手段の全部を備えてもよいが、5つのレーザ光源制御手段から適宜複数個を選択して用いてもよい。
本実施例によれば、ターゲット2までの距離が小さくなると、レーザ光源制御手段によって、レーザ光源30へ供給する電力を自動的に小さくし、レーザ光32の照射部分を略一定の適切な照度に保つので、レーザ光32の照射面がぎらぎらして目視困難になることがなく、非常に使い易いレーザプレーナとなる。
ところで、本発明は、前記実施例に限るものではなく、種々の変形が可能である。たとえば、ターゲット2までの距離を測定又は推測するのには、前記実施例の方式に限らず、光波距離計や超音波距離計等、適宜の距離測定手段又は距離推測手段の使用が可能である。
1 レーザ測量機(レベルプレーナ)
2 ターゲット
30 レーザ光源
32 レーザ光
36 フォーカスレンズ
50 フォーカスモータ(ステッピングモータ)
72 受光素子
77 比較回路(レーザ光源制御手段)
80 マイクロコンピュータ(レーザ光源制御手段)
2 ターゲット
30 レーザ光源
32 レーザ光
36 フォーカスレンズ
50 フォーカスモータ(ステッピングモータ)
72 受光素子
77 比較回路(レーザ光源制御手段)
80 マイクロコンピュータ(レーザ光源制御手段)
Claims (6)
- 可視光のレーザ光をターゲットが設置された壁面に向けて出射するレーザ光源と、前記ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子とを備えたレーザ測量機において、
前記レーザ光源に供給する電力を制御するレーザ光源駆動回路と、前記受光素子からの出力が略一定になるように前記レーザ光源駆動回路を制御するレーザ光源制御手段とを備えたことを特徴とするレーザ測量機。 - 可視光のレーザ光をターゲットが設置された壁面に向けて出射するレーザ光源を備えたレーザ測量機において、
前記レーザ光源への供給電力を制御するレーザ光源駆動回路と、前記壁面までの距離を測定又は推測し、前記距離が小さくなるほど、前記レーザ光源駆動回路を制御して前記供給電力を小さくするレーザ光源制御手段とを備えたことを特徴とするレーザ測量機。 - 前記レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるフォーカスモータと、該フォーカスレンズの位置を検出する位置センサとを備え、
前記レーザ光源制御手段は前記位置センサの出力に基づいて前記距離を推測することを特徴とする請求項2に記載のレーザ測量機。 - 前記レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるフォーカスモータと、前記フォーカスモータの回転角を検出する回転角センサとを備え、
前記レーザ光源制御手段は前記回転角センサの出力に基づいて前記距離を推測することを特徴とする請求項2に記載レーザ測量機。 - 前記レーザ光の集光点距離を調節するフォーカスレンズと、該フォーカスレンズを移動させるステッピングモータとを備え、
前記レーザ光源制御手段は前記ステッピングモータに送ったパルスを計数し、該パルス数に応じて前記距離を推測することを特徴とする請求項2に記載のレーザ測量機。 - 前記ターゲットで反射してくる反射レーザ光を受光する受光素子を備え、
前記レーザ光源制御手段は、前記レーザ光源に所定電力を供給したときの前記受光素子からの出力から前記ターゲット又は壁面までの距離を推測することを特徴とする請求項2に記載のレーザ測量機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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