JP4742751B2 - 表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器 - Google Patents

表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP4742751B2
JP4742751B2 JP2005249071A JP2005249071A JP4742751B2 JP 4742751 B2 JP4742751 B2 JP 4742751B2 JP 2005249071 A JP2005249071 A JP 2005249071A JP 2005249071 A JP2005249071 A JP 2005249071A JP 4742751 B2 JP4742751 B2 JP 4742751B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display panel
substrate
pattern
laser
pattern formation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005249071A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007062074A (ja
Inventor
一成 梅津
泰宣 黒木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2005249071A priority Critical patent/JP4742751B2/ja
Publication of JP2007062074A publication Critical patent/JP2007062074A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4742751B2 publication Critical patent/JP4742751B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/362Laser etching
    • B23K26/364Laser etching for making a groove or trench, e.g. for scribing a break initiation groove

Description

本発明は、表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器に関する。
従来、表示パネルのガラス基板等の切断方法として、レーザ光を用いて切断するレーザスクライブ方法が知られている。例えば、特許文献1に記載のレーザスクライブ方法では、切断しようとするガラス基板の内部にレーザ光の集光点を合わせて、即ち、集光点でレーザ光のパワー密度が最大となるようにレーザ光を照射し、多光子吸収という現象を利用することにより、集光点部に改質領域を形成させる。そして、改質領域を起点にしてガラス基板が切断される。
特開2002−192371号公報
しかしながら、上記の方法では、レーザ光は、集光点の位置までに留まらず、集光点を超えて基板中を進行してしまうという問題があった。例えば、上下基板を貼り合わせた液晶表示パネルの上基板の内部にレーザ光の集光点を合わせてレーザ光を照射すると、上記のように、レーザ光の一部が上基板を表側から裏側まで進行して、即ち、貫通して、下基板上に形成されたパターン形成部にレーザ光が照射され、パターン焼けやパターン切断による電気的接続不具合を引き起こしやすくなるという問題があった。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、レーザ光が集光点を超えて進行することを抑制することができる表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明では、第1パターンが形成された基板面である第1パターン形成面を有する第1基板と、第2パターンが形成された基板面である第2パターン形成面を有する第2基板とが、当該第1パターン形成面及び当該第2パターン形成面が互いに対向するように配置され、第2基板に当該第2基板の一部を切断するための切断予定ラインが設けられ、第2パターン形成面と垂直な方向に沿い、かつ切断予定ラインを通過する仮想面と、第1パターン形成面と第2パターン形成面とのうち少なくとも一方の面とが交差する線の位置に、反射、吸収、散乱のうち少なくとも一つの機能を有する抑止部が設けられた表示パネルを製造する製造工程と、第2パターン形成面の反対面に向けて、第2パターン形成面と垂直な方向に、かつ、切断予定ラインに沿って、第2基板の内部にレーザ光の集光点が位置するようにレーザ光を照射する照射工程とを備えることを要旨とする。
これによれば、製造工程では、切断予定ラインを通過する仮想面と、第1パターン形成面と第2パターン形成面とのうち少なくとも一方の面とが交差する線の位置に、反射、吸収、散乱のうち少なくとも一つの機能を有する抑止部が形成される。そして、照射工程で、切断予定ラインに沿って照射されたレーザ光のうち第2基板の内部に設定された集光点を超えて、更に進行したレーザ光は、抑止部に達する。当該抑止部に達したレーザ光は、抑止部によって進行力が減衰される。従って、レーザ光の照射方向に対して、抑止部を超える個所に形成された第1パターンの焼けや切断によるパターン欠陥等の不具合を抑えることができる。
本発明の表示パネルのレーザスクライブ方法の製造工程では、抑止部は、金属膜で形成してもよい。
これによれば、金属膜によって、照射されたレーザ光を反射させることができる。
本発明の表示パネルのレーザスクライブ方法の製造工程では、金属膜は、第2パターン形成面に、第2パターンの形成で使用されるブラックマトリクスと同じ材料で形成してもよい。
これによれば、第1パターンの形成に使用されるブラックマトリクスと同じ材料を用いるので、形成されたブラックマトリクスにより、レーザ光を反射させることができ、さらに、材料選定等の工数を省き、作業効率を向上させることができる。
本発明の表示パネルのレーザスクライブ方法の製造工程では、金属膜とブラックマトリクスを同時期に形成してもよい。
これによれば、金属膜とブラックマトリクスを同時期に形成することにより、作業効率を向上させることができる。
本発明の表示パネルのレーザスクライブ方法の製造工程では、抑止部は、樹脂膜で形成してもよい。
これによれば、樹脂膜によって、照射されたレーザ光を吸収させることができる。
本発明の表示パネルのレーザスクライブ方法の製造工程では、第2パターン形成面に、凹凸部を形成することにより抑止部を形成してもよい。
これによれば、形成された凸凹部により、照射されたレーザ光を散乱させることができる。
本発明の表示パネルは、上記の表示パネルのレーザスクライブ方法によって製造されたことを要旨とする。
これによれば、レーザ光を照射して、第2基板の一部を切断するとき、レーザ光の照射方向に対して抑止部を超える個所にあたる第1基板に形成された第1パターンの焼けや切断によるパターン欠陥等の不具合を抑え、信頼性の高い表示パネルを提供することができる。
本発明の電子機器は、上記の表示パネルを搭載したことを要旨とする。
これによれば、信頼性の高い電子機器を提供することができる。
以下、本発明を具体化した第1〜第3実施形態について図面に従って説明する。
[第1実施形態]
(表示パネルの構成)
まず、第1実施形態に係る表示パネルの構成について説明する。図1は、マザー基板の概略を示し、図1(a)は、平面図を示し、同図(b)は、同図(a)のA−A線の断面図を示す。
図1(a)において、マザー基板1は、複数個の表示パネルとしての液晶表示パネル10が区画形成して構成されている。そして、図1(b)に示すように、第1基板11と第2基板12が対向して接着されている。1つの液晶表示パネル10は、それぞれの区画領域の周縁部を切断することによりマザー基板1から切り出される。
図2は、図1に示したマザー基板1から切り出された液晶パネルの構成を示し、図2(a)は、平面図を示し、同図(b)は、同図(a)のB−B線の断面図を示す。また、同図(c)は、第2基板12の一部が切断された後の断面図を示す。
図2(a)および(b)において、液晶表示パネル10は、第1基板11と、第2基板12と、シール材14によって接着された第1,第2基板11,12の隙間に充填された液晶15等で構成されている。
第1基板11は、透明性を有するガラス基板の第1パターン形成面110に第1パターンが形成されている。具体的には、TFT(Thin Film Transistor)素子13と、TFT素子13の3端子のうち一つに接続された画素を構成する画素電極(図示せず)と、TFT素子13の残りの2端子に接続されたデータ線(図示せず)と走査線(図示せず)が形成されている。データ線は、Y軸方向に引き出されてデータ線駆動回路部22に接続されている。走査線は、X軸方向に引き出され、左右の額縁領域にそれぞれ形成された走査線駆動回路部21に接続されている。各データ線駆動回路部22および走査線駆動回路部21の入力側配線は、第1基板11のY軸方向の端部に形成された実装配線20にそれぞれ接続されている。実装配線20とは反対側の額縁領域には、2つの走査線駆動回路部21を繋ぐ配線23が設けられている。
第2基板12は、透明性を有するガラス基板の第2パターン形成面120に第2パターンが形成されている。具体的には、ブラックマトリクス16と、ブラックマトリクス16によって区画された領域に形成された色要素17とブラックマトリクス16および色要素17の上面に形成された共通電極18が形成されている。共通電極18は、第2基板12の四ヶ所に設けられた上下導通部24を介して第1基板11側に設けられた配線と導通しており、該配線も実装配線20に接続されている。
また、液晶15に面する第1基板11の表面および第2基板12の表面には、それぞれ配向膜19が形成されている。
液晶表示パネル10は、外部駆動回路と電気的に繋がる中継基板が実装配線20に接続される。そして、外部駆動回路からの入力信号が各データ線駆動回路部22および走査線駆動回路部21に入力されることにより、TFT素子13が画素電極ごとにスイッチングされ、画素電極と共通電極18との間に駆動電圧が印加されて表示が行われる。
液晶表示パネル10は、上記のように、実装配線20に外部の中継基板との接続を行うスペースを確保するため、実装配線20と対向する位置にあたる第2基板12の一部(切断部12a)を切断する必要がある。
このため、第2基板12には、第2基板12の一部の切断部12aを切断する位置を設定する切断予定ライン30が設けられている。切断予定ライン30は、第2基板12の面に対して垂直な方向において、第1基板11の実装配線20に重なるように設けられている。第2パターン形成面120と垂直な方向に沿い、かつ、切断予定ライン30を通過する仮想面と、第2パターン形成面120とが交差する線の位置に、抑止部としての金属膜16aが形成されている。金属膜16aは、レーザ光を反射させる機能を有し、本実施形態では、クロムを材料とするブラックマトリクス16と同じ材料を用いている。
切断部12aの切断には、レーザ光が用いられ、第2基板12の第2パターン形成面120の反対面から、切断予定ライン30に沿ってレーザ光を照射することにより、図2(c)に示すように、第2基板12の一部の切断部12aが第2基板12から切り離され、液晶表示パネル10aが形成される。
(表示パネルのレーザスクライブ方法)
次に、第1実施形態に係る表示パネルのレーザスクライブ方法について説明する。図3及び図4は、表示パネルとしての液晶表示パネルのスクライブ方法を示す工程図である。詳細には、図3(a)〜(g)は、表示パネルを製造する製造工程を示し、図4(h),(i)は、レーザ光を照射する照射工程を示す。
図3(a)では、第2基板12の第2パターン形成面120にブラックマトリクス16と、切断予定ライン30に沿った個所に抑止部としての金属膜16aを形成する。金属膜16aは、第2パターン形成面120と垂直な方向に沿い、かつ、切断予定ライン30を通過する仮想面と、第2パターン形成面120とが交差する線の位置に形成されている。本実施形態において、金属膜16aは、ブラックマトリクス16と同じ材料を用いている。ブラックマトリクス16と金属膜16aの形成方法は、クロム膜をスパッタ法などにより第2パターン形成面120に成膜され、その後、フォトリソグラフィ法によりクロム膜パターンを施すことにより形成される。
図3(b)では、ブラックマトリクス16の形成によって区画された領域に色要素17を付着させる。色要素17の付着方法は、印刷法、フォトリソグラフィ法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図3(c)では、ブラックマトリクス16および色要素17の表面に共通電極18を形成する。共通電極18の形成方法は、例えば、スピンコート法、ロールコート法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図3(d)では、共通電極18の表面に配向膜19を形成する。配向膜19の形成方法は、例えば、スピンコート法、ロールコート法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図3(e)では、第2パターン形成面120にシール材14を形成する。シール材14は、熱硬化性樹脂やUV硬化性樹脂を用いることができ、印刷法、ディスペンサ法、インクジェット法等を採用することができる。
図3(f)では、第2基板12と、TFT素子13等の第1パターンが形成された第1基板11とをシール材14の接着力によって接着させる。
図3(g)では、シール材14によって規制された両基板11,12の間に液晶15を注入させる。
以上の工程を経て、液晶表示パネル10が形成される。
図4(h)では、レーザ照射装置を用いて、レーザ光源から出射されたレーザ光を集光する集光レンズ33から、液晶表示パネル10の第2基板12の第2パターン形成面120の反対面となるレーザ光照射面130に向けて、第2パターン形成面120と垂直な方向に、かつ、切断予定ライン30に沿って、第2基板12の内部にレーザ光35の集光点Pが位置するようにレーザ光35を照射する。
レーザ照射装置のレーザ光源は、例えばチタンサファイアを固体光源とするレーザ光をフェムト秒のパルス幅で出射するフェムト秒レーザである。この場合、波長:800nm、パルス幅:300fs(フェムト秒)、繰り返し周波数:1kHz、出力:700mWである。集光レンズ33は、倍率:100倍、開口数(NA):0.8の対物レンズである。
レーザ光35は、レーザ光照射面130から第2基板12の厚さ方向に8割程の位置に集光点Pが設定され、切断予定ライン30に沿って走査する。さらに、集光点Pをレーザ光照射面130に近づく方向に位置設定し、レーザ光35を照射しながら切断予定ライン30に沿って走査する。これを複数回走査することにより、切断予定ライン30に沿って改質領域が形成される。
そして、図4(i)に示すように、改質領域を起点として、第2基板12の一部の切断部12aが第2基板12から切り離され、液晶表示パネル10aが形成される。
(電子機器の構成)
次に、電子機器の構成について説明する。図5は、電子機器としてのプロジェクタの構成を示す斜視図である。図5において、プロジェクタ60を構成する光学系に液晶表示パネル10aが複数個搭載されている。
従って、上記の第1実施形態によれば、以下に示す効果がある。
(1)レーザ光照射面130から切断予定ライン30に沿ってレーザ光35を照射したとき、集光点Pを超えて進行したレーザ光35は、第2基板12の第2パターン形成面120に、切断予定ライン30に沿った個所に対応して形成された金属膜16aに達すると、金属膜16aによって反射されるので、レーザ光35の進行がほぼ抑制され、実装配線20への照射をほぼ抑えることができる。従って、実装配線20等のパターンの焼け、パターン欠陥等の不具合を低減することができる。
(2)金属膜16aは、ブラックマトリクス16と同じ材料を用いるので、材料選定等の管理を省いて、作業効率を向上させることができる。
(3)金属膜16aは、ブラックマトリクス16の形成と同時期に形成されるので、作業効率を向上させることができる。
[第2実施形態]
(表示パネルの構成)
次に、第2実施形態に係る表示パネルについて説明する。図6は、表示パネルとしての液晶表示パネルの構成を示し、図6(a)は、断面図を示し、同図(b)は、第2基板12の一部が切断された後の断面図を示す。なお、上記の液晶表示パネルは、第1実施形態で説明した同様のマザー基板1から切り出された個片の液晶表示パネルである(図1参照)。
図6(a)において、液晶表示パネル10は、第1基板11と、第2基板12と、シール材14によって接着された第1,第2基板11,12の隙間に充填された液晶15等で構成されている。なお、液晶表示パネル10の基本構成は、第1実施形態における液晶表示パネル10の構成と同じなので、説明を省略し、異なる部分について説明する。
第2基板12には、第2基板12の一部の切断部12aを切断する位置を設定する切断予定ライン30が設けられている。切断予定ライン30は、第2基板12の面に対して垂直な方向において、第1基板11の実装配線20に重なるように設けられている。第2パターン形成面120と垂直な方向に沿い、かつ、切断予定ライン30を通過する仮想面と、第2パターン形成面120とが交差する線の位置に、抑止部としての樹脂膜40が形成されている。樹脂膜40は、レーザ光を吸収させる機能を有し、例えば、エポキシ樹脂や塩化ビニル樹脂等が用いられる。また、樹脂膜40の色彩は、黒色を採用することが好ましいが、半透明の樹脂膜40を用いてもよい。
切断部12aの切断には、レーザ光が用いられ、第2基板12の第2パターン形成面120の反対面から、切断予定ライン30に沿ってレーザ光を照射することにより、図6(b)に示すように、第2基板12の一部の切断部12aが第2基板12から切り離され、液晶表示パネル10aが形成される。
(表示パネルのレーザスクライブ方法)
次に、第2実施形態に係る表示パネルのレーザスクライブ方法について説明する。図7及び図8は、表示パネルとしての液晶表示パネルのスクライブ方法を示す工程図である。詳細には、図7(a)〜(h)は、表示パネルを製造する製造工程を示し、図8(i),(j)は、レーザ光を照射する照射工程を示す。
図7(a)では、第2基板12の第2パターン形成面120の切断予定ライン30に沿った個所に抑止部としての樹脂膜40を形成する。樹脂膜40は、第2パターン形成面120と垂直な方向に沿い、かつ、切断予定ライン30を通過する仮想面と、第2パターン形成面120とが交差する線の位置に形成されている。樹脂膜40は、例えば、エポキシ樹脂が用いられ、ディスペンサ法、インクジェット法等により形成される。また、必要に応じて、乾燥処理を行い、固化した樹脂膜40が形成される。
図7(b)では、第2基板12の第2パターン形成面120にブラックマトリクス16を形成する。ブラックマトリクス16は、クロム膜をスパッタ法などにより成膜され、その後、フォトリソグラフィ法によりクロム膜パターンを施すことにより形成される。
図7(c)では、ブラックマトリクス16の形成によって区画された領域に色要素17を付着させる。色要素17の付着方法は、印刷法、フォトリソグラフィ法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図7(d)では、ブラックマトリクス16および色要素17の表面に共通電極18を形成する。共通電極18の形成方法は、例えば、スピンコート法、ロールコート法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図7(e)では、共通電極18の表面に配向膜19を形成する。配向膜19の形成方法は、例えば、スピンコート法、ロールコート法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図7(f)では、第2パターン形成面120にシール材14を形成する。シール材は、熱硬化性樹脂やUV硬化性樹脂を用いることができ、印刷法、ディスペンサ法、インクジェット法等を採用することができる。
図7(g)では、第2基板12と、TFT素子13等の第1パターンが形成された第1基板11とをシール材14の接着力によって接着させる。
図7(h)では、シール材14によって規制された両基板11,12の間に液晶15を注入させる。
以上の工程を経て、液晶表示パネル10が形成される。
図8(i)では、レーザ照射装置を用いて、レーザ光源から出射されたレーザ光を集光する集光レンズ33から、液晶表示パネル10の第2基板12の第2パターン形成面120の反対面となるレーザ光照射面130に向けて、第2パターン形成面120と垂直な方向に、かつ、切断予定ライン30に沿って、第2基板12の内部にレーザ光35の集光点Pが位置するようにレーザ光35を照射する。
レーザ照射装置のレーザ光源は、例えばチタンサファイアを固体光源とするレーザ光をフェムト秒のパルス幅で出射するフェムト秒レーザである。この場合、波長:800nm、パルス幅:300fs(フェムト秒)、繰り返し周波数:1kHz、出力:700mWである。集光レンズ33は、倍率:100倍、開口数(NA):0.8の対物レンズである。
レーザ光35は、レーザ光照射面130から第2基板12の厚さ方向に8割程の位置に集光点Pが設定され、切断予定ライン30に沿って走査する。さらに、集光点Pをレーザ光照射面130に近づく方向に位置設定し、レーザ光35を照射しながら切断予定ライン30に沿って走査する。これを複数回走査することにより、切断予定ライン30に沿って改質領域が形成される。
そして、図8(j)に示すように、改質領域を起点として、第2基板12の一部の切断部12aが第2基板12から切り離され、液晶表示パネル10aが形成される。
(電子機器の構成)
電子機器の構成については、第1実施形態の電子機器としてのプロジェクタ60の構成と同様なので説明を省略する(図5参照)。
従って、上記の第2実施形態によれば、第1実施形態の効果に加え、以下に示す効果がある。
(1)レーザ光照射面130から切断予定ライン30に沿ってレーザ光35を照射したとき、集光点Pを超えて進行したレーザ光35は、第2基板12の第2パターン形成面120に、切断予定ライン30に沿った個所に対応して形成された樹脂膜40に達すると、樹脂膜40によって吸収されるので、レーザ光35の進行がほぼ抑制され、実装配線20への照射をほぼ抑えることができる。従って、実装配線20等のパターンの焼け、パターン欠陥等の不具合を低減することができる。
[第3実施形態]
(表示パネルの構成)
次に、第3実施形態に係る表示パネルについて説明する。図9は、表示パネルとしての液晶表示パネルの構成を示し、図9(a)は、断面図を示し、同図(b)は、第2基板12の一部が切断された後の断面図を示す。なお、液晶表示パネル10は、第1実施形態で説明した同様のマザー基板1から切り出された個片の液晶表示パネルである(図1参照)。
図9(a)において、液晶表示パネル10は、第1基板11と、第2基板12と、シール材14によって接着された第1,第2基板11,12の隙間に充填された液晶15等で構成されている。なお、液晶表示パネル10の基本構成は、第1実施形態における液晶表示パネル10の構成と同じなので、説明を省略し、異なる部分について説明する。
第2基板12には、第2基板12の一部の切断部12aを切断する位置を設定する切断予定ライン30が設けられている。切断予定ライン30は、第2基板12面の面に対して垂直な方向において、第1基板11の実装配線20に重なるように設けられている。第2パターン形成面120と垂直な方向に沿い、かつ、切断予定ライン30を通過する仮想面と、第2パターン形成面120とが交差する線の位置に、抑止部としての凹凸部50が形成されている。
切断部12aの切断には、レーザ光が用いられ、第2基板12の第2パターン形成面120の反対面から、切断予定ライン30に沿ってレーザ光を照射することにより、図9(b)に示すように、第2基板12の一部の切断部12aが第2基板12から切り離され、液晶表示パネル10aが形成される。
(表示パネルのレーザスクライブ方法)
次に、第3実施形態に係る表示パネルのレーザスクライブ方法について説明する。図10及び図11は、表示パネルとしての液晶表示パネルのスクライブ方法を示す工程図である。詳細には、図10(a)〜(h)は、表示パネルを製造する製造工程を示し、図11(i),(j)は、レーザ光を照射する照射工程を示す。
図10(a)では、第2基板12の第2パターン形成面120の切断予定ライン30に沿った個所に抑止部としての凹凸部50を形成する。凹凸部50は、第2パターン形成面120と垂直な方向に沿い、かつ、切断予定ライン30を通過する仮想面と、第2パターン形成面120とが交差する線の位置に形成されている。凹凸部50は、例えば、第2基板12の第2パターン形成面120にレーザ光55を照射することにより形成される。
図10(b)では、第2基板12の第2パターン形成面120にブラックマトリクス16を形成する。ブラックマトリクス16は、クロム膜をスパッタ法などにより成膜され、その後、フォトリソグラフィ法によりクロム膜パターンを施すことにより形成される。
図10(c)では、ブラックマトリクス16の形成によって区画された領域に色要素17を付着させる。色要素17の付着方法は、印刷法、フォトリソグラフィ法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図10(d)では、ブラックマトリクス16および色要素17の表面に共通電極18を形成する。共通電極18の形成方法は、例えば、スピンコート法、ロールコート法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図10(e)では、共通電極18の表面に配向膜19を形成する。配向膜19の形成方法は、例えば、スピンコート法、ロールコート法、インクジェット法等といった適宜の手法により形成される。
図10(f)では、第2パターン形成面120にシール材14を形成する。シール材は、熱硬化性樹脂やUV硬化性樹脂を用いることができ、印刷法、ディスペンサ法、インクジェット法等を採用することができる。
図10(g)では、第2基板12と、TFT素子13等の第1パターンが形成された第1基板11とをシール材14の接着力によって接着させる。
図10(h)では、シール材14によって規制された両基板11,12の間に液晶15を注入させる。
以上の工程を経て、液晶表示パネル10が形成される。
図11(i)では、レーザ照射装置を用いて、レーザ光源から出射されたレーザ光を集光する集光レンズ33から、液晶表示パネル10の第2基板12の第2パターン形成面120の反対面となるレーザ光照射面130に向けて、第2パターン形成面120と垂直な方向に、かつ、切断予定ライン30に沿って、第2基板12の内部にレーザ光35の集光点Pが位置するようにレーザ光35を照射する。
レーザ照射装置のレーザ光源は、例えばチタンサファイアを固体光源とするレーザ光をフェムト秒のパルス幅で出射するフェムト秒レーザである。この場合、波長:800nm、パルス幅:300fs(フェムト秒)、繰り返し周波数:1kHz、出力:700mWである。集光レンズ33は、倍率:100倍、開口数(NA):0.8の対物レンズである。
レーザ光35は、レーザ光照射面130から第2基板12の厚さ方向に8割程の位置に集光点Pが設定され、切断予定ライン30に沿って走査する。さらに、集光点Pをレーザ光照射面130に近づく方向に位置設定し、レーザ光35を照射しながら切断予定ライン30に沿って走査する。これを複数回走査することにより、切断予定ライン30に沿って改質領域が形成される。
そして、図11(j)に示すように、改質領域を起点として、切断部12aが第2基板12から切り離され、液晶表示パネル10aが形成される。
(電子機器の構成)
電子機器の構成については、第1実施形態の電子機器としてのプロジェクタ60の構成と同様なので説明を省略する(図5参照)。
従って、上記の第3実施形態によれば、第1及び第2実施形態の効果に加え、以下に示す効果がある。
(1)レーザ光照射面130から切断予定ライン30に沿ってレーザ光35を照射したとき、集光点Pを超えて進行したレーザ光35は、第2基板12の第2パターン形成面120の切断予定ライン30に沿った個所に対応して形成された凹凸部50に達すると、凹凸部50によって散乱されるので、レーザ光35の進行がほぼ抑制され、実装配線20への照射をほぼ抑えることができる。従って、実装配線20等のパターンの焼け、パターン欠陥等の不具合を低減することができる。
本発明は、上記の実施形態に限定されるものではなく、以下のような変形例が挙げられる。
(変形例1)第1及び第2実施形態において、金属膜16aおよび樹脂膜40は、第2基板12の第2パターン形成面120に形成したが、これに限定されない。例えば、第2基板12の面に対して垂直な方向において、切断予定ライン30に重なる第1基板11に形成された実装配線20の上に形成してもよい。このようにしても、レーザ光35は、金属膜16aまたは樹脂膜40によって、反射または吸収されるので、実装配線20の焼けや切断の発生を低減させることができる。
(変形例2)第1及び第2実施形態において、金属膜16aおよび樹脂膜40は、第2基板12に形成したが、これに限定されない。例えば、切断予定ライン30の線上における第2基板12と第1基板11の実装配線20の上の両方に形成してもよい。このようにすれば、実装配線20の焼けや切断に対して、さらに安全性を確保することができる。
(変形例3)第1及び第2実施形態において、金属膜16aおよび樹脂膜40は、一面に隙間のない膜形状としたが、これに限定されない。例えば、スリット形状であってもよい。この場合でも、レーザ光の進行を抑制することができる。
(変形例4)第1及び第2実施形態において、金属膜16aおよび樹脂膜40は、均一な膜厚で形成したが、これに限定されない。例えば、切断予定ライン30にあたる局所部分は、他の膜厚より厚くしてもよい。このようにすれば、さらに、レーザ光35の進行を抑えることができる。
マザー基板の概略を示し、(a)は平面図、(b)は断面図。 第1実施形態における液晶表示パネルの構成を示し、(a)は平面図、(b)及び(c)は、断面図。 第1実施形態における液晶表示パネルのレーザスクライブ方法を示し、(a)〜(g)は製造工程を示す工程図。 第1実施形態における液晶表示パネルのレーザスクライブ方法を示し、(h),(i)は照射工程を示す工程図。 プロジェクタの構成を示す斜視図。 第2実施形態における液晶表示パネルの構成を示し、(a)及び(b)は断面図。 第2実施形態における液晶表示パネルのレーザスクライブ方法を示し、(a)〜(h)は製造工程を示す工程図。 第2実施形態における液晶表示パネルのレーザスクライブ方法を示し、(i),(j)は照射工程を示す工程図。 第3実施形態における液晶表示パネルの構成を示し、(a)及び(b)は断面図。 第3実施形態における液晶表示パネルのレーザスクライブ方法を示し、(a)〜(h)は製造工程を示す工程図。 第3実施形態における液晶表示パネルのレーザスクライブ方法を示し、(i),(j)は照射工程を示す工程図。
符号の説明
1…マザー基板、10,10a…表示パネルとしての液晶表示パネル、11…第1基板、12…第2基板、12a…切断部、13…TFT素子、14…シール材、15…液晶、16…ブラックマトリクス、16a…抑止部としての金属膜、17…色要素、18…共通電極、19…配向膜、20…第1パターンの実装配線、21…走査線駆動回路部、22…データ線駆動回路部、24…上下導通部、30…切断予定ライン、33…集光レンズ、35,55…レーザ光、40…抑止部としての樹脂膜、50…抑止部としての凹凸部、60…電子機器としてのプロジェクタ、110…第1パターン形成面、120…第2パターン形成面、130…レーザ光照射面。

Claims (3)

  1. 第1パターンが形成された第1パターン形成面を有する第1ガラス基板と、ブラックマトリックスを含む第2パターンが形成された第2パターン形成面を有する第2ガラス基板とが、前記第1パターン形成面及び前記第2パターン形成面が互いに対向するように配置され、
    前記第2ガラス基板には前記第2ガラス基板の一部を切断するための切断予定ラインが設けられ、前記第2パターン形成面と垂直な方向に沿い、かつ前記切断予定ラインを通過する仮想面と、前記第2パターン形成面とが交差する線の位置に、レーザー光を反射する機能を有するレーザー光透過抑止部が設けられた表示パネルを製造する製造工程と、
    前記第2パターン形成面の反対面に向けて、前記第2パターン形成面と垂直な方向に、
    かつ、前記切断予定ラインに沿って、前記第2ガラス基板の内部に前記レーザー光の集光点が位置するように前記レーザー光を照射する照射工程と、
    を備え、
    前記レーザー光は、前記第2ガラス基板を透過する波長であり、
    前記ブラックマトリックス及び前記レーザー光透過抑止部は、クロムからなる膜であり、スパッタ法により同時期に形成される、ことを特徴とする表示パネルのレーザスクライブ方法。
  2. 請求項に記載の表示パネルのレーザスクライブ方法によって製造されたことを特徴とする表示パネル。
  3. 請求項に記載の表示パネルを搭載したことを特徴とする電子機器。
JP2005249071A 2005-08-30 2005-08-30 表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器 Expired - Fee Related JP4742751B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005249071A JP4742751B2 (ja) 2005-08-30 2005-08-30 表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005249071A JP4742751B2 (ja) 2005-08-30 2005-08-30 表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007062074A JP2007062074A (ja) 2007-03-15
JP4742751B2 true JP4742751B2 (ja) 2011-08-10

Family

ID=37924856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005249071A Expired - Fee Related JP4742751B2 (ja) 2005-08-30 2005-08-30 表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4742751B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109116612A (zh) * 2018-09-30 2019-01-01 上海天马微电子有限公司 显示面板及显示装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010023071A (ja) 2008-07-18 2010-02-04 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd 貼り合わせ基板の端子加工方法
KR101097324B1 (ko) * 2009-12-29 2011-12-23 삼성모바일디스플레이주식회사 레이저 커팅 방법 및 유기 발광 소자의 제조방법
KR101074812B1 (ko) 2010-01-05 2011-10-19 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시 장치와 그 제조 방법
JP2013152995A (ja) * 2012-01-24 2013-08-08 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの加工方法
US20150165563A1 (en) * 2013-12-17 2015-06-18 Corning Incorporated Stacked transparent material cutting with ultrafast laser beam optics, disruptive layers and other layers

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53117010A (en) * 1977-03-23 1978-10-13 Sharp Kk Method of cutting glass
JPS5994436A (ja) * 1982-11-19 1984-05-31 Nec Home Electronics Ltd 半導体ペレツトの製造方法
JP2002011589A (ja) * 2000-06-28 2002-01-15 Hitachi Ltd レーザ加工用マスクとその製造方法、製造装置、及びレーザアブレーション加工装置、並びに該マスクを用いて製作した画像表示装置
JP2002224870A (ja) * 2001-01-31 2002-08-13 Seiko Epson Corp レーザ切断方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置、および電子機器
WO2003076120A1 (en) * 2002-03-12 2003-09-18 Hamamatsu Photonics K.K. Laser processing method
JP2004111606A (ja) * 2002-09-18 2004-04-08 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハの加工方法
JP2005081715A (ja) * 2003-09-09 2005-03-31 Sony Corp レーザ加工装置およびレーザ加工方法
JP2005099709A (ja) * 2003-08-21 2005-04-14 Seiko Epson Corp 電気光学装置の製造方法、複数基板の分断方法、電気光学装置用基板及び電気光学装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53117010A (en) * 1977-03-23 1978-10-13 Sharp Kk Method of cutting glass
JPS5994436A (ja) * 1982-11-19 1984-05-31 Nec Home Electronics Ltd 半導体ペレツトの製造方法
JP2002011589A (ja) * 2000-06-28 2002-01-15 Hitachi Ltd レーザ加工用マスクとその製造方法、製造装置、及びレーザアブレーション加工装置、並びに該マスクを用いて製作した画像表示装置
JP2002224870A (ja) * 2001-01-31 2002-08-13 Seiko Epson Corp レーザ切断方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置、および電子機器
WO2003076120A1 (en) * 2002-03-12 2003-09-18 Hamamatsu Photonics K.K. Laser processing method
JP2004111606A (ja) * 2002-09-18 2004-04-08 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハの加工方法
JP2005099709A (ja) * 2003-08-21 2005-04-14 Seiko Epson Corp 電気光学装置の製造方法、複数基板の分断方法、電気光学装置用基板及び電気光学装置
JP2005081715A (ja) * 2003-09-09 2005-03-31 Sony Corp レーザ加工装置およびレーザ加工方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109116612A (zh) * 2018-09-30 2019-01-01 上海天马微电子有限公司 显示面板及显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007062074A (ja) 2007-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4742751B2 (ja) 表示パネル、表示パネルのレーザスクライブ方法及び電子機器
US10322526B2 (en) Laser processing method
WO2019138967A1 (ja) 複合材の分断方法
JP2008018547A (ja) 基体の製造方法、tft基板の製造方法、多層構造基板の製造方法、表示装置の製造方法
WO2014126140A1 (ja) レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置
JP2007021514A (ja) スクライブ形成方法、分割予定線付き基板
JP2009172626A (ja) 電気光学装置の製造方法及び電気光学装置
JP2010110818A (ja) 加工対象物分断方法および対象物製造方法
WO2014126137A1 (ja) レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置
JP2007015169A (ja) スクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板
TWI631695B (zh) 顯示面板的製作方法
JP2009122282A (ja) 表示装置及びその製造方法
KR102633196B1 (ko) 스크라이빙 장치 및 스크라이빙 방법
JP2007284269A (ja) レーザスクライブ方法および電気光学装置
JP2007229793A (ja) レーザスクライブ方法、電気光学装置、電子機器
WO2021009961A1 (ja) 複合材の分断方法
JP6512221B2 (ja) パネルの製造方法
JP2008023579A (ja) 基板の分断方法、電気光学装置の製造方法及びレーザスクライブ装置
JP2008044823A (ja) 基板の分断方法、電気光学装置の製造方法及びレーザスクライブ装置
JP4448635B2 (ja) 液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置
KR102368452B1 (ko) 표시 장치와 그 제조 방법과 제조 장치
JP4706570B2 (ja) 基板及びその分断方法、電気光学装置及びその製造方法、電子機器
JP2007319880A (ja) 基体の製造方法、レーザ加工装置、およびtft基板の製造方法、多層構造基板の製造方法、並びに液晶表示装置の製造方法
JP2009195944A (ja) 基板分割方法、及び表示装置の製造方法
JP2021020833A (ja) 基板の加工方法並びに加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070404

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080424

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110118

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110412

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110425

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140520

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4742751

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees