JP4681148B2 - スピン処理装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は基板を回転させながら洗浄処理した後、乾燥処理するためのスピン処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、半導体装置の製造過程においては、基板としての円盤状の半導体ウエハに回路パターンを形成するための成膜プロセスやフォトプロセスがある。これらのプロセスでは上記基板に対して現像やエッチングなどの処理を行った後、洗浄及び乾燥処理が繰り返して行われることになる。
【0003】
上記基板に対する洗浄や乾燥などの処理を行なうためにはスピン処理装置が用いられる。このスピン処理装置はカップ体を有する。このカップ体内には回転モータによって回転駆動される回転体が設けられている。この回転体の周辺部には周方向に所定間隔で複数の回転軸体が軸線を上記回転体の回転面に対して直交させて回転可能に設けられている。
【0004】
上記回転軸体の上端面にはクランプピンが偏心して突設され、このクランプピンには上記回転体の回転面に対して傾斜したテーパ状の受け面を有する支持部材が一体的に設けられている。
【0005】
複数の回転軸体は駆動手段によって同一方向に回転駆動されるようになっている。したがって、上記基板の周縁部の下面を上記受け面に係合させた後、上記回転軸体を所定方向に回転させて上記クランプピンを偏心回転させれば、このクランプピンが基板の外周面に当接するから、基板を回転体に一体的にクランプすることができる。
【0006】
回転体にクランプされた基板に所定の処理を行なった後、上記回転軸体を先程の所定方向と逆方向に回転させることで、基板のクランプ状態を解除することができるから、処理された基板を回転体から取り出すことができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、複数の回転軸体を所定方向に回転させて回転体に基板をクランプするとき、基板は周縁部が複数の保持部の受け面を摺動しながら相対的に上昇し、外周面がクランクピンに係合する。
【0008】
しかしながら、基板の周縁部が上記受け面を上昇する際、各受け面と基板との間の摩擦抵抗に差があると、基板の周縁部が各受け面を移動(上昇)する時間に差が生じることになる。
【0009】
たとえば、基板を4〜6つの受け面で支持した場合、受け面に対し、基板の径方向一端側の移動量が径方向他端側の移動量よりも大きくなると、移動量の大きな基板の径方向一端側が受け面から浮き上がってしまう。
【0010】
そして、基板の一端側の浮き上がり量が大きくなり、クランプピンの上端を越えてしまうと、クランプピンによって基板の径方向他端側をクランプすることができなくなるということがある。
【0011】
とくに、クランクピンは、基板をクランプしたときに、その基板の上面に対して上方へ突出する寸法が大きくなると、その突出部分に洗浄液が衝突して跳ね返ったり、気流を乱すなどの悪影響を及ぼす。そのため、クランクピンは長さ寸法をできるだけ短くするようにしているから、クランプ時に基板の径方向一端側が浮き上がると、その基板の上昇端側がクランクピンから外れ易いということがある。
【0012】
この発明は、基板がクランクピンから外れずに、確実にクランプすることができるようにしたスピン処理装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
この発明は、円盤状の基板を回転させて処理するスピン処理装置において、
回転駆動される回転体と、
この回転体の周辺部に周方向に所定間隔で回転可能かつ軸線を上記回転体の上面側に対して径方向内方に傾斜させて設けられた複数の回転軸体と、
この回転軸体を所定方向に回転駆動する駆動手段と、
上記回転軸体の上端の偏心位置に軸線をこの回転軸体の軸線に対して平行に設けられ偏心回転することで上記基板をクランプするクランプピンと、
上記基板の周縁部を支持する受け面を有し、この受け面を上記回転軸体の軸線に対して直交させて上記クランプピンと一体的に設けられた支持部と
を具備したことを特徴とするスピン処理装置にある。
【0014】
請求項2の発明は、複数の回転軸体の軸線の延長線は、上記受け面に支持される基板の中心点上方の1点で交わることを特徴とする請求項1記載のスピン処理装置にある。
【0015】
請求項3の発明は、上記回転体の上面側はカバーによって覆われ、このカバーには上記回転軸体の上端面が露出する開口部が形成されていて、この開口部から露出する上記回転軸体の上端面は、上記クランプピンが上記基板をクランプした状態で上記カバーの板面と面一になる傾斜面に形成されていることを特徴とする請求項1記載のスピン処理装置にある。
【0016】
この発明によれば、回転軸体がクランクピンとともに軸線を傾斜させて設けられているため、クランプ時にはクランクピンの基板を支持する支持部よりも上方に位置する部分が相対的に斜め上方から斜め下方に向かって移動して基板をクランプする。そのため、基板の径方向の一端部が受け面から浮いていても、その部分の周縁を確実にクランプすることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながらこの発明の一実施の形態を説明する。
【0018】
図1はこの発明の第1の実施の形態を示すスピン処理装置で、このスピン処理装置は同図に鎖線で示すカップ体1を有する。このカップ体1の底部の径方向中心部には通孔2が穿設され、周辺部には複数の排出管1aが周方向に所定間隔で接続されている。
【0019】
上記通孔2には円筒状の動力伝達体3が設けられている。この動力伝達体3は駆動源としての制御モータ4によって回転駆動される。この制御モータ4は筒状の固定子5と、この固定子5内に回転可能に挿入された同じく筒状の回転子6とを有する。
【0020】
上記動力伝達体3は下端が上記回転子6の上端面に接合され、ねじ7によって固定されている。したがって、上記動力伝達体3は上記回転子6と一体に回転するようになっている。
【0021】
上記動力伝達体3のカップ体1内に突出した上端部には回転体11が取付けられている。この回転体11は円盤状をなした下板12と上板13とを接合してなり、これら下板12と上板13との中心部分には上記動力伝達体3の内部空間に連通する通孔14が形成されている。
【0022】
上記回転体11の上板13の周辺部の上面には、周方向に所定間隔、たとえば60度間隔で6つの支持筒部15が一体に突設されている。上記下板12の上記支持筒部15と対応する部分には通孔16が形成されている。上記支持筒部15と通孔16は、上記回転体11の回転面の上面に対して所定の角度θで回転体11の径方向内方に向かって傾斜している。
【0023】
上記支持筒部15と通孔16には、各々ブッシュ17a,17bが嵌着され、このブッシュ17a,17bには回転軸体18が回転可能に支持されている。つまり、回転軸体18は上記支持筒部15と同様、回転体11の回転面に対して角度θで傾斜している。この回転軸体18は、上記ブッシュ17a,17bに支持された軸部19と、この軸部19の上端部に一体形成された上記軸部19よりも大径な頭部20とを有する。
【0024】
上記頭部20の上端面には、回転軸体18の回転中心から偏心した位置にクランクピン21がその軸線を上記回転軸体18の軸線と平行にして設けられている。
【0025】
上記クランクピン21の中途部には、受け面22aを有する支持部22が側方に向かって一体に突出形成されている。上記受け面22aは、図4(a),(b)に示すように上記回転軸体18の軸線Oに対して直交し、水平面に対して回転軸体18の傾斜角度と同じ角度θで傾斜している。
【0026】
各回転軸体18に設けられた支持部22の受け面22aには、半導体ウエハなどの円盤状の基板Wが周辺部の下面を上記受け面22aに係合載置して設けられる。その状態で、各回転軸体18を図3(a)に矢印で示す時計方向に回転させると、上記クランクピン21が偏心回転するから、基板Wの周辺部が支持部22の受け面22aに沿って上昇し、その外周面にクランクピン21の支持部22よりも上方に突出した部分21aが当接する。それによって、基板Wは6つの回転軸体18のクランプピン21によって回転体11に一体的にクランプされる。
【0027】
なお、この実施の形態では、クランプピン21の支持部22よりも上方に突出した部分21aは円柱状になっているが、上記突出部分21aは逆テーパ状にしてもよい。
【0028】
図3(b)に矢印で示すように、上記回転軸体18を先程と逆方向である、反時計方向に回転させると、クランクピン21が基板Wの外周面から離れるとともに、この基板Wの周辺部が支持部22の受け面22aに沿って相対的に下降する。それによって、基板Wの6つの回転軸体18によるクランプ状態が開放される。
【0029】
図5に示すように、6つの回転軸体18(4つだけ図示)の軸線Oの延長線Lは、回転体11に保持された基板Wの回転中心点Cの上方の1点Dで交わっている。6つの支持部22の受け面22aは半径Rの球面Bに外接している。したがって、基板Wの周縁部は6つの受け面22a、つまり球面Bに内接した状態で保持されていることになる。
【0030】
上記回転軸体18の軸部19は下端が回転体11の下面側に突出し、その突出端部には子歯車25が嵌着されている。各回転軸体18の軸部19に嵌着された子歯車25は親歯車26に噛合している。この親歯車26は上記動力伝達体3に軸受27を介して回転可能に保持されている。
【0031】
上記親歯車26は上記動力伝達体3の外周面に設けられたばね28によって所定の回転方向、たとえば反時計方向に付勢されている。それによって、子歯車25が反時計方向に回転し、その回転に回転軸体18が連動してクランプピン21が偏心回転することで、基板Wは各クランプピン21によって回転体11に一体的にクランプされる。
【0032】
基板Wの保持状態を解除するには、上記親歯車26を図示しない解除機構によってばね28の付勢力に抗して時計方向に回転させる。具体的には、上記解除機構によって親歯車26が回転するのを阻止し、その状態で回転体11を制御モータ4によって時計方向に回転させる。それによって、回転軸体18は反時計方向に回転するから、クランプピン21による基板Wの保持状態が解除されることになる。
【0033】
上記動力伝達体3の内部には保持筒31が挿通されている。この保持筒31の上端にはノズルヘッド32が取着されている。このノズルヘッド32には、回転体11に保持された基板Wの下面中心に向けて洗浄液を噴射する第1のノズル体33と、同じく窒素ガスなどの気体を噴射する第2のノズル体34とが設けられている。
【0034】
上記回転体11の上面及び外周面は乱流防止カバー35によって覆われている。この乱流防止カバー35は、回転体11に保持される基板Wの下面に対向する対向壁部36と、この対向壁部36の周縁部にほぼ垂直に設けられた周壁部37とを有する。
【0035】
上記対向壁部36には、第1、第2のノズル体33,34から噴射される洗浄液及び気体を基板Wの下面に到達させるための通孔38が形成されている。
【0036】
上記回転体11の上面に立設された6本の回転軸体18の頭部20は、上記乱流防止カバー35の対向壁部36に穿設された通孔41に露出している。この頭部20の上端面20aは、図1に示すように基板Wをクランプした状態において、乱流防止カバー35の対向壁部36の上面と面一になる傾斜面に形成されている。
【0037】
また、回転体11の上方には、下面側と同様、基板Wに洗浄液を噴射する第3のノズル体及び乾燥気体を供給するクリーンユニット(ともに図示せず)が配設されている。
【0038】
基板Wを回転体11に保持し、この回転体11を数十〜数百r.p.mの低速度で回転させながら、基板Wの上面と下面とに洗浄液を供給する。洗浄液を所定時間供給したならば、その供給を停止し、ついで回転体11を1000r.p.m以上の高速度で回転させるとともに基板Wの下面の中心部分に気体を噴射する。
【0039】
それによって、基板Wの上下面に付着した洗浄液は、この基板Wが回転体11によって高速回転させられることで発生する遠心力と気流とによって基板Wの径方向外方へ流れ、その外周縁から飛散する。
【0040】
なお、基板Wの上下面の中心部に付着した洗浄液には遠心力が作用しないため除去され難いが、図示しないクリーンユニット及び第2のノズル体34から噴射される気体によって中心部から径方向外方へ押し流される。
【0041】
基板Wの中心部から押し流された洗浄液には遠心力が作用するから、その遠心力によって基板Wの周縁部から飛散する。基板Wの周縁から飛散した洗浄液と気体とが混合した流体はカップ体1の内周面に衝突し、その底部に接続された排出管1aへ吸引されて排出される。
【0042】
上記構成のスピン処理装置において、未処理の基板Wを処理する場合、図示しないロボットによって基板Wを回転体11に供給する。回転体11に供給された基板Wは図4(a)に示すように周縁部の下面が支持部22の受け面22aに支持される。
【0043】
ついで、基板Wを回転体11に一体的に保持するため、回転軸体18を図3(a)に矢印で示す時計方向に回転させると、この回転軸体18に偏心して設けられたクランプピン21が偏心回転する。
【0044】
クランプピン21が偏心回転することで、図4(b)に示すように、支持部22の受け面22aに支持された基板Wの周縁部の下面が上記受け面22aを摺接してこの受け面22aを相対的に上昇し、外周面がクランプピン21の受け面22aから突出した部分21aに当接する。それによって、基板Wは6本のクランクピン21によって回転体11に一体的にクランプされる。
【0045】
クランクピン21及びこのクランプピン21が設けられた回転軸体18は、軸線を回転体11の回転面に対して角度θで傾斜して設けられている。そのため、クランクピン21の受け面22aから上方に突出した部分21aは、回転軸体18の回転によって図4(a)に矢印で示すように、基板Wの周縁部の斜め上方から斜め下方に向かって相対的に移動して上記基板Wの周縁部に係合する。
【0046】
クランクピン21の突出部分21aが斜め上方から斜め下方に向かって移動することで、たとえば基板Wと各受け面22aとの摩擦抵抗に差が生じ、基板Wの径方向一端側が受け面22aから浮き上がるようなことがあっても、その浮き上がった端縁に対して上記突出部分21aはその端縁に上方から接近して係合する。
【0047】
そのため、基板Wの一部が受け面22aから浮き上がっても、クランクピン21の突出部分21aは上記基板Wの周縁に確実に係合し、その基板Wをクランプすることになる。
【0048】
基板Wを支持する各支持部22の受け面22aは、半径Rの球面Bに外接しているから、これらの受け面22aによって支持された基板Wの周縁は上記球面Bに内接することになり、また上記受け面22aは球面Bに外接しながら回転することになる。
【0049】
基板Wが球面Bに内接していれば、複数の受け面22aによって支持された基板Wが図5に示すように水平面Hに対して傾いていても、クランプ時には上記基板Wは球面Bの円弧に内接して移動することになる。
【0050】
上記クランプピン21の突出部分21aは球面Bの円弧よりも径方向内方に突出している。そのため、クランプ時に基板Wが球面Bの円弧上を移動することで、上記基板Wの周縁部は上記突出部分21によって確実にクランプされることになる。
【0051】
つまり、回転体11に供給された基板Wが受け面22aによって傾いた状態で支持されていても、上記各受け面22aは球面Bに外接し、かつ外接した状態で回転するため、上記球面Bに内接して上記受け面22aに支持された基板Wを確実にクランプすることができる。
【0052】
このことにより、クランクピン21の突出部分21aの長さ寸法を必要最小限にできるから、クランプ状態において、基板Wの上面側にクランプピン21がほとんど突出しないように設定できる。それによって、基板Wの乾燥処理時に基板Wに付着した洗浄液がクランクピン21で跳ね返ったり、気流に乱れが生じるのを防止できる。
【0053】
回転軸体18の上端面20aを傾斜面に形成することで、基板Wをクランプした状態においては、図1に示すように回転軸体18の上端面20aがカバー35の対向壁部36の上面と面一になるようにした。
【0054】
そのため、基板Wをクランプして乾燥処理する際、洗浄液が基板Wの下面からカバー35の対向壁部36の上面に滴下しても、この上面から飛散する洗浄液が上記回転軸体18に衝突することがないから、回転軸体20で反射して基板Wの裏面に再付着するのを防止することができる。
【0055】
この発明は上記一実施の形態に限定されるものでなく、たとえば回転体に設けられる回転軸体の数は6本でなく4本であってもよく、要は基板Wを確実に支持できる数であればよい。
【0056】
【発明の効果】
以上のようにこの発明によれば、クランクピンが設けられた回転軸体を回転体の回転面に対して軸線を傾斜させて設けた。
【0057】
そのため、クランプ時にはクランクピンの基板を支持する支持部よりも上方に位置する部分が斜め上方から斜め下方に向かって相対的に移動して基板をクランプするから、基板の径方向の一端部がこの基板の周縁を支持する上記支持部の受け面から浮いていても、その部分の周縁を確実にクランプすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態を示す基板をクランプした状態のスピン処理装置の断面図。
【図2】基板のクランプを開放した状態のスピン処理装置の断面図。
【図3】(a)は基板のクランプを開放した状態を説明する図、(b)は基板をクランプした状態を説明する図。
【図4】(a)は受け面に周縁部が載置された基板をクランプする前の状態の図、(b)は同じくクランプした状態の図。
【図5】各支持部の受け面が球面に外接する状態を説明するための図。
【符号の説明】
4…制御モータ(駆動手段)
11…回転体
18…回転軸体
21…クランプピン
22…支持部
22a…受け部
W…基板
Claims (3)
- 円盤状の基板を回転させて処理するスピン処理装置において、
回転駆動される回転体と、
この回転体の周辺部に周方向に所定間隔で回転可能かつ軸線を上記回転体の上面側に対して径方向内方に傾斜させて設けられた複数の回転軸体と、
この回転軸体を所定方向に回転駆動する駆動手段と、
上記回転軸体の上端の偏心位置に軸線をこの回転軸体の軸線に対して平行に設けられ偏心回転することで上記基板をクランプするクランプピンと、
上記基板の周縁部を支持する受け面を有し、この受け面を上記回転軸体の軸線に対して直交させて上記クランプピンと一体的に設けられた支持部と
を具備したことを特徴とするスピン処理装置。 - 複数の回転軸体の軸線の延長線は、上記受け面に支持される基板の中心点上方の1点で交わることを特徴とする請求項1記載のスピン処理装置。
- 上記回転体の上面側はカバーによって覆われ、このカバーには上記回転軸体の上端面が露出する開口部が形成されていて、この開口部から露出する上記回転軸体の上端面は、上記クランクピンが上記基板をクランプした状態で上記カバーの板面と面一になる傾斜面に形成されていることを特徴とする請求項1記載のスピン処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001133086A JP4681148B2 (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | スピン処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001133086A JP4681148B2 (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | スピン処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002329773A JP2002329773A (ja) | 2002-11-15 |
JP4681148B2 true JP4681148B2 (ja) | 2011-05-11 |
Family
ID=18981006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001133086A Expired - Fee Related JP4681148B2 (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | スピン処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4681148B2 (ja) |
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---|---|---|---|---|
US9922861B2 (en) | 2013-04-09 | 2018-03-20 | Shibaura Mechatronics Corporation | Substrate gripping device and substrate processing apparatus |
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-
2001
- 2001-04-27 JP JP2001133086A patent/JP4681148B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JP2002329773A (ja) | 2002-11-15 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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