JPH1050645A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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Publication number
JPH1050645A
JPH1050645A JP19926196A JP19926196A JPH1050645A JP H1050645 A JPH1050645 A JP H1050645A JP 19926196 A JP19926196 A JP 19926196A JP 19926196 A JP19926196 A JP 19926196A JP H1050645 A JPH1050645 A JP H1050645A
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JP
Japan
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substrate
wafer
chuck
processing liquid
holding
Prior art date
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Pending
Application number
JP19926196A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Koyama
芳弘 小山
Jun Watanabe
純 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP19926196A priority Critical patent/JPH1050645A/ja
Publication of JPH1050645A publication Critical patent/JPH1050645A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ウエハが挾持爪から離脱することを防止し、ウ
エハが損傷することのない基板処理装置を提供する。 【解決手段】ウエハWの下面の中心にウエハWの下方か
ら垂直に処理液を噴射させてウエハWに処理を施す装置
において、ウエハWを挾持する挾持爪24には、ウエハW
の端部を置くセット面82a 、セット面82a に対してほぼ
垂直上方に立ち上がったチャック面83a および再位置決
め面83b が形成されている。チャック面83a の上部には
突起部86が突設されている。ウエハWをチャックさせる
とき、チャック面83a をウエハWに当接させる。ウエハ
Wのチャックを解除するときには、挾持爪21を回動させ
て再位置決め面83b をウエハWに対向させる。処理はウ
エハWをチャックした状態で行われる。ウエハWが薬液
の勢いによって浮上する場合があるが、その浮上は突起
部86で規制される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえばLCD(L
iquid Crystal Display)製造装置、PDP(Plasma Disp
lay Panel)製造装置または半導体製造装置に適用され、
LCD用ガラス基板やPDP用ガラス基板、半導体ウエ
ハなどの基板に処理を施すための基板処理装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】LCD、PDPおよびIC(Integrated
Circuit)の製造工程には、ガラス基板や半導体ウエハな
どに電子回路を形成する工程が含まれている。電子回路
を基板に形成する工程では、基板表面を洗浄したり基板
表面に薄膜のパターンを形成したりするために、これら
各処理を施すための基板処理装置が用いられる。この種
の基板処理装置は、たとえば特公平3−9607号公報
に開示されている。
【0003】この公告公報に開示されている装置では、
回転軸の上端部に回転板が取り付けられている。回転板
からは複数本のアームが水平方向に放射状に延設されて
いる。アームの先端部には、基板を挾持するための挾持
爪が立設されている。回転板の斜め下方には、基板下面
に向けて処理液を噴射するためのノズルが設けられてい
る。
【0004】挾持爪に基板が挾持されている状態で処理
が開始されると、回転板が回転させられ、その一方でノ
ズルから処理液が噴射される。その結果、回転している
基板の下面に処理液が吹き付けられ、基板下面の処理が
行われる。しかし、回転板からは複数本のアームが放射
状に延設されているから、このアームの回転に伴い、ノ
ズルから基板下面に至る処理液の通路は間欠的に遮られ
る。つまり、ノズルから噴射される処理液は、当該アー
ムに間欠的にぶつかるから、処理液の一部は基板に供給
されずに浪費されることになる。しかも、処理液がアー
ムにぶつかって跳ね返り、周囲の部材に付着すると、そ
の処理液が結晶化し、パーティクルの発生要因となる。
【0005】そこで、たとえば特開平7−86145号
公報に開示されている技術を適用することが考えられ
る。この公開公報に開示されている装置では、円筒状の
回転軸内に処理液供給パイプが内部に挿通されており、
処理液供給パイプの上端のノズルから、処理液をほぼ垂
直上方に向けて噴射するようになっている。つまり、処
理液は基板下方のほぼ中心から供給されるから、処理液
の噴射通路がアームによって遮られることがない。その
ため、処理液の浪費が防止されるとともに、パーティク
ルの発生を抑えることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記公
開公報(特開平7−86145号公報)に開示されてい
る技術では、基板の下方から処理液が噴射されるから、
その噴射力によって基板が上方向に浮上する場合があ
る。このような場合、基板が挾持爪から離脱し、落下す
るおそれがある。そのため、基板の破損等を招くおそれ
がある。
【0007】そこで、本発明の目的は、前述の技術的課
題を解決し、基板の下面に処理液が供給されることによ
り基板が浮上しない、あるいは基板が浮上しても基板が
挾持爪から離脱しない状態を継続できる基板処理装置を
提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項1記載の発明は、回転可能に設けられた回転板
と、この回転板の上面側に基板を挾持するためのもの
で、基板を挾持するための基板挾持位置と、基板の挾持
を解放する基板解放位置との間で変位可能な基板挾持部
材と、この基板挾持部材の所定位置に突設され、この基
板挾持部材が前記基板挾持位置に位置している状態で前
記基板挾持部材によって挾持されている基板の縁部の上
方に位置し、基板の上方への変位を規制する基板浮き上
がり防止突起部と、前記基板挾持部材を前記基板挾持位
置と基板解放位置との間で変位させる挾持部材駆動手段
と、前記基板挾持部材によって挾持される基板の下面に
向けて処理液を吐出するノズルとを含むことを特徴とす
る基板処理装置である。
【0009】本発明では、基板の下面に向けて処理液が
吐出されるから、基板は処理液の勢いで浮上する場合が
ある。一方、本発明では、基板挾持部材が基板挾持位置
に位置している状態で基板挾持部材によって挾持されて
いる基板の縁部の上方に基板浮き上がり防止突起部が位
置するから、この基板浮き上がり防止突起部によって基
板の浮上を防止できる。
【0010】前記基板挾持部材は、たとえば請求項2記
載の発明のように、鉛直軸まわりに回動自在であって、
基板を挾持するためのチャック面を有しており、当該基
板挾持部材の鉛直軸まわりの回動によって、この基板挾
持部材によって挾持された基板の周面に前記チャック面
を選択的に当接させることができるものであってもよ
く、この場合に、前記基板浮き上がり防止突起部は、前
記チャック面において前記基板挾持部材に挾持された基
板の上面よりも上方の位置に突設されていることが好ま
しい。また、この場合に、前記駆動手段は、前記基板挾
持部材を前記鉛直軸まわりに回動させるものであること
が好ましい。
【0011】また、前記基板挾持部材は、たとえば請求
項3記載の発明のように、前記基板解放位置において基
板の周面に対向して、その基板を所定位置に位置決めす
る再位置決め面をさらに有するものであってもよい。こ
の構成では、基板解放位置において基板の周面に再位置
決め面を対向させることができるから、たとえば基板が
基板挾持部材の回動につられて変位しても、基板の周面
が再位置決め面に当接した時点でその変位が規制され
る。そのため、基板の挾持が解除された後の基板の位置
ずれを防止できる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下では、本発明の実施の形態
を、添付図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発
明の一実施形態が適用される基板処理装置の縦断面図で
ある。この基板処理装置は、挾持機構1に挾持されてい
る半導体ウエハ(以下、単に「ウエハ」という。)Wを
高速回転させつつ当該ウエハWの下面のほぼ中心に処理
液を供給して当該ウエハWに薬液による処理や純水によ
る洗浄処理を施すためのものである。
【0013】挾持機構1には、挾持されている状態のウ
エハWの中心を中心軸Oが通るように設けられた円筒構
造の回転構造物2が連結されている。回転構造物2は、
円筒状の回転軸3、および回転軸3に内装された円筒状
のチャック軸4を含む。回転軸3は、この装置の土台と
なる基台5に固定された固定筒体6の上端部および下端
部の内壁面にそれぞれ配置された軸受7a,7bにより
軸支されており、モータMの駆動力によって所定の回転
方向に回転される。チャック軸4は、上端に外向きフラ
ンジ4aが形成されていて、このフランジ4aがスペー
サ4bを介して回転軸3の上端に支持されている。
【0014】チャック軸4の内部空間には、処理液管8
が回転しないように挿通されており、回転構造物2と処
理液管8との間には軸受9a,9bが介在されている。
処理液管8の下端部は基台5に取り付けられた保持部1
0の第1部材10aに固定されている。第1部材10a
は、基台5に直接取り付けられた第2部材10bにボル
ト10cで取り付けられている。
【0015】処理液管8の内部空間には、処理液パイプ
11が内装されている。処理液パイプ11には、その下
端側から図外の処理液タンクからの処理液が供給される
ようになっている。処理液パイプ11の上端部は開口し
ており、処理液タンクから処理液パイプ11に供給され
てきた処理液を吐出するノズル12として機能する。ウ
エハWを挾持するための挾持機構1は、図2に一部が拡
大して示されてるように、回転軸3の上端部に形成され
た外向きフランジ3aにボルト20で締結された回転ヘ
ッド21、回転ヘッド21にボルト22で締結された保
持円板23、保持円板23に立設された基板挾持部材で
ある挾持爪24を備えている。
【0016】なお、この実施形態では、回転ヘッド21
および保持円板23が回転板に相当する。また、挾持機
構1には、挾持爪24の下端部付近に突設された揺動腕
80に一端が連結され、挾持爪24を鉛直軸まわりに回
動させることによりチャック状態とチャック解除状態と
の間で切り換える爪操作リンク25、爪操作リンク25
の他端にボルト26で連結されたリンク操作部材27、
およびリンク操作部材27の下面にボルト28で締結さ
れた連結部材29が備えられている。
【0017】連結部材29は、ボルト30によってチャ
ック軸4の上端の外向きフランジ4aに固定されてい
る。チャック軸4を回動させることで、リンク操作部材
27が中心軸Oまわりに回動し、爪操作リンク25が揺
動する。その結果、挾持爪24が鉛直軸まわりに回動す
ることになる。回転軸3の下端部付近には、チャック軸
4を回動させるためのチャック駆動機構31が設けられ
ている。チャック駆動機構31は、チャック軸4の外周
面にベース部31aを介して取り付けられた回動円板3
1c、回転軸3の外周面にベース部50aを介して取り
付けられた固定円板31b、および固定円板31bに対
して回動円板31cを相対的に回動させるためのエアシ
リンダ31dを含む。
【0018】固定円板31bの下面には、下方に向かっ
て突出する固定ピン31eが設けられている。回動円板
31cの上面には、上方に向かって突出する回動ピン3
1fが設けられている。固定ピン31eと回動ピン31
fとの間には引張コイルばね31gが介装されており、
これにより、チャック軸4は、挾持爪24がチャック状
態となる方向に向けて付勢されている。
【0019】回動円板31cの下面には、下方向に向か
って突出するシリンダ用ピン31hが設けられている。
シリンダ用ピン31hは、エアシリンダ31dのロッド
に対向して設けられている。エアシリンダ31dに図外
の空気供給源から加圧空気が供給されると、エアシリン
ダ31dのロッドが突出してシリンダ用ピン31hを押
し、回動円板31cをコイルばね31gのばね力に抗し
て回動させる。その結果、チャック軸4が回転軸3に対
して相対的に回動する。これに伴い、チャック軸4の上
端側に設けられた爪操作リンク25が揺動し、挾持爪2
4をチャック状態からチャック解除状態に回動させる。
【0020】エアシリンダ31のロッドを引っ込める
と、回動円板31cはコイルばね31gのばね力によっ
て元の位置に復帰する。その結果、チャック軸4および
爪操作リンク25がチャック解除状態に変位するときと
は逆方向に動作し、挾持爪24は元のチャック状態に戻
る。このように、この実施形態では、爪操作リンク2
5、リンク操作部材27、連結部材29、チャック軸4
およびチャック駆動機構31が保持部材駆動手段に相当
する。
【0021】回動円板31cには、周方向に沿う所定長
の規制孔31iが形成されており、この規制孔31iに
は、固定円板31bに取り付けられたピン31jが変位
自在に挿通している。回転円板31cの回動範囲は、規
制孔31iの端面にピン31jが当接することにより規
制される。基台5には、回転軸3を高速回転させるモー
タMが取付部材40を介して取り付けられている。モー
タMには、コード42を介して電力が供給されるように
なっている。モータMは、駆動軸43を上向きにして取
り付けられており、この駆動軸43には、プーリ44が
固定されている。また、回転軸3には、駆動軸43のプ
ーリ44に対応する位置にプーリ45が固定されてお
り、プーリ44,45の間には無端状のベルト46が掛
け回されている。プーリ45の下側には、プーリ45を
固定するためのロックナット47が回動軸3に螺合して
いる。
【0022】モータMが駆動されると、その駆動力は、
駆動軸43に伝達され、さらにプーリ44、ベルト46
およびプーリ45を介して回転軸3に伝達される。その
結果、回転軸3の上端に固定された回転ヘッド21が高
速回転する。そして、回転ヘッド21に挾持爪24、爪
操作リンク25および連結部材29などを介して連結さ
れたチャック軸4もまた高速に回転することになり、結
局、ウエハWを挾持するための挾持機構1全体が回転軸
3とともに回転する。このとき、固定筒体6および回転
構造物2に内装された処理液管8は、回転することな
く、静止状態に保持される。
【0023】モータMの下方には、モータMの回転情報
を検出するためのエンコーダ48が備え付けられてい
る。エンコーダ48の出力は、コード49を介して制御
装置52に与えられ、モータMの回転情報が監視される
ようになっている。固定筒体6の基台5への取付けは、
基台5に取り付けられている第1取付部材5aに固定筒
体6に取り付けられている第2取付部材6aをボルト6
bで取り付けることによって達成されている。
【0024】回転軸3の下端側の部位に関連して、回転
軸3の回転位置を検出するための位置検出機構50が備
えられている。位置検出機構50は、回転軸3の外周面
にベース部50aを介して取り付けられ、所定の位置に
切欠きを有する回転円板50b、および回転円板50b
を発光素子と受光素子とで挟むように配置された透過型
の光電センサ50cを含む。光電センサ50cは、回転
円板50bに形成された切欠きが光電センサ50cの発
光素子と受光素子との間に位置すればオン信号を出力
し、さもなければオフ信号を出力する。このオン/オフ
信号は制御装置52に与えられる。
【0025】制御装置52では、回転軸3が停止したと
き、直前に光電センサ50cがオン信号を出力してから
回転軸3の回転が停止するまでの時間に基づき、回転軸
3の回転位置が把握される。したがって、エンコーダ4
8の出力を監視しながら、さらにモータMを駆動して回
転軸3を回転させることにより、回転ヘッド21の回転
位置を所定位置に自動制御することができる。これによ
り、たとえば挾持爪24とウエハWを取り出すための搬
送ロボットのアーム(図示せず。)とが干渉したりする
ことを防止できる。
【0026】また、チャック駆動機構31の下方には、
チャック状態検出機構51が備えられている。チャック
状態検出機構51は、チャック軸4の回動後の位置を検
出することで挾持爪24におけるウエハWのチャック状
態/チャック解除状態を検出するものである。チャック
状態検出機構51は、ベース部31aに取り付けられた
回動円板51aと、回動円板51aが発光素子および受
光素子の間に挟まれるように配置された透過型の光電セ
ンサ51bとを備えている。
【0027】回動円板51aには、円周上の所定位置に
1つの切欠きが形成されている。切欠きは、ウエハWが
チャックされたときに光電センサ51bの発光素子と受
光素子との間に位置し、ウエハWのチャック解除が完了
したときに光電センサ51bの発光素子と受光素子との
間から外れるようになっている。光電センサ51bが出
力するオン/オフ信号は、制御装置52に与えられる。
【0028】制御装置52では、光電センサ51bの出
力信号に基づいて、ウエハWのチャックおよびチャック
解除が行われたか否かが判断される。これにより、処理
液による基板処理中にチャックが不十分なウエハWが挾
持爪24から離脱したりするのを未然に防ぐことができ
る。この基板処理装置によるウエハWの処理について概
説すれば、次のとおりである。すなわち、図示しない搬
送ロボットによってウエハWが当該基板処理装置に搬送
されてくると、このウエハWが挾持爪24にセットされ
るのに先立ち、エアシリンダ31dに加圧空気が供給さ
れ、回動円板31cがコイルばね31gのばね力に抗し
て固定円板31bに対して相対的に回動する。その結
果、チャック軸4が回動し、これに連動して爪操作リン
ク25が揺動する。これにより、挾持爪24はチャック
解除状態となる。
【0029】その後、搬送ロボットがウエハWを挾持爪
24にセットすると、エアシリンダ31dへの加圧空気
が解放され、回動円板31cはコイルばね31gのばね
力によって元の位置に復帰する。その結果、挾持爪24
はチャック状態に戻る。これにより、ウエハWが挾持爪
24にチャックされる。その後、モータMが駆動され、
回転軸3が回転させられる。また、図示しない処理液タ
ンクから処理液パイプ11に処理液が供給され、処理液
がノズル12からほぼ垂直上方に噴射される。その結
果、ウエハWの下面のほぼ中心に処理液が供給される。
このとき、ウエハWは高速回転しているから、当該処理
液は遠心力によりウエハWの縁部に向かって広がってい
く。これにより、ウエハWの下面に処理液が一様に供給
される。
【0030】ウエハWに対する処理を終了するときに
は、モータMの駆動および処理液の供給が停止される。
処理終了後、エアシリンダ31dに加圧空気が供給さ
れ、挾持爪24がチャック解除状態となる。チャック解
除されたウエハWは、搬送ロボットのアームによって取
り出される。図2は、回転軸3の上端付近および処理液
管8の下端付近の構成を詳述するための拡大断面図であ
る。固定筒体6の上端面には、固定筒体6より小径の突
出筒部60が、その下端に一体形成されたフランジ60
aが突出筒部60の上端に覆い被さった状態でボルト6
1によって取り付けられている。突出筒部60の内周面
には、回転軸3の外周面と摺接するリップシール62,
63が嵌め込まれている。また、回転ヘッド21の突出
筒部60に対向する内周面には、突出筒部60の外周面
に摺接するリップシール64が嵌め込まれている。リッ
プシール62〜64は、軸受7aから漏れるオイルを堰
き止めたり軸受7aで発生するパーティクルを外部に漏
らさないようにするためのものである。また、リップシ
ール62〜64は、回転軸3と固定筒体6との間に、埃
や処理液雰囲気が侵入するのを防止するためでもある。
【0031】また、回転ヘッド21の内周の上端付近に
は段差部が形成されており、この段差部には、チャック
軸4の上端に取り付けられている連結部材29に摺動す
るリップシール65が嵌め込まれている。リップシール
65は、ウエハWをチャックするときに、静止している
回転ヘッド21と、チャック軸4とともに回動する連結
部材29との間の隙間に埃や処理液雰囲気などが侵入す
るのを防止するためのものである。
【0032】リンク操作部材27の上面側において、中
心軸Oに近い位置には、ウエハWの下面で跳ね返った処
理液が回転構造物2の内部に直接降りかかること防ぐ目
的で、カバー66が被せられており、このカバー66は
ボルト67によってリンク操作部材27に固定されてい
る。カバー66は、平面視においてドーナツ状の形状を
しており、中央には、処理液パイプ11の先端を挿通さ
せるための穴68が形成されている。この穴68の下方
側には、処理液管8の上端部に嵌め込まれたキャップ7
0の先端部が入り込む小径の第1段差部66aと、この
第1段差部66aの下方側に形成された大径の第2段差
部66bとが形成されている。こうして、カバー66
は、処理液パイプ11を穴68に挿通させ、かつ、キャ
ップ70の先端部を第1段差部66aに入り込ませた状
態で、カバー66の上面側から穴68と処理液パイプ1
1との間を通り、さらにキャップ70と第1段差部66
aとの間を通って、第2段差部66bの近傍に至る通路
69が形成されるように構成されている。
【0033】キャップ70は、たとえば耐薬品性のある
樹脂などで構成されており、図3(a) 、図3(b) 、図3
(c) および図3(d) にそれぞれ平面図、正面図、断面図
および底面図を示すとおり、処理液パイプ11の外壁に
密接する内壁70dを有する筒状に形成されている。さ
らに、キャップ70は、処理液管8の内壁に密接する外
壁を有する小径部70bと、処理液管8の上端面に当接
する段差面70eを形成する大径部70aとを有してい
る。大径部70aには、周方向に間隔を開けて4個の吸
込口70cが形成されている。キャップ70の内周面に
は、溝70gがキャップ70の長手方向に沿って周方向
に間隔を開けて4個形成されている。溝70gは、吸込
口70cから当該キャップ70の下端まで延びている。
【0034】図4に拡大して示されているように、キャ
ップ70を装着した状態では、吸込口70cの上端部
は、カバー66の第2段差部66bに対向している。し
たがって、キャップ70と第2段差部66bとの間の隙
間(通路69の一部をなす。)は、吸込口70cおよび
溝70gを介して、処理液管8と処理液パイプ11との
間の空間71と連通している。
【0035】なお、キャップ70は、キャップ70の内
周面側に設けられているOリング70fによってキャッ
プ70の内周面が処理液パイプ11の外周面に密着する
ように装着される。また、キャップ70が処理液管8と
処理液パイプ11との間に挿通されることで、処理液パ
イプ11の処理液管8に対する位置決めが達成されてい
る。なお、厳密に言えば、処理液パイプ11は、キャッ
プ70の挿通に加えて、処理液パイプ11の下端部の外
周面に、保持部10の第2取付部材10bに設けられて
いるOリング75が取り付けられることによって、位置
決めされている。
【0036】連結部材29には、処理液管8の上端部の
外周に対向する位置にリップシール72が嵌め込まれて
いる。リップシール72は、キャップ70の外周に摺接
し、チャック軸4と処理液管8との間に介在されている
軸受9aから漏れるオイルを堰き止めたり軸受9aで発
生するパーティクルを外部に漏らさないようにしたりす
るものである。また、チャック軸4と処理液管8との間
に、埃や処理液雰囲気が侵入するのを防止するためでも
ある。
【0037】処理液管8の下端部を保持している第1部
材10aには、下面側に凹所が形成されており、この凹
所と第2部材10bの上面とで囲まれた空間は真空室1
3をなしている。この真空室13内の空間は、上記凹所
から側方に向けて形成された吸引孔73に結合された吸
引管14を介して負圧源である真空源74によって減圧
されている。処理液管8は、下端が真空室13内に入り
込んだ状態で第1部材10aに保持されており、処理液
パイプ11は、真空室13を通過してさらに第2部材1
0bを挿通している。これにより、真空室13は、処理
液管8と処理液パイプ11との間の空間71に連通され
ている。
【0038】ウエハWの処理のために回転ヘッド21を
回転させると、連結部材29に嵌め込まれたリップシー
ル72が処理液管8の外周に摺接するから、パーティク
ルの発生は或る程度避けられない。このパーティクルが
散乱してウエハWに付着すれば、ウエハWの品質を劣化
させるおそれがある。そこで、この実施形態において
は、ウエハWの処理のために回転ヘッド21を回転させ
る際には、真空源74が動作させられ、真空室13が減
圧される。これにより、ノズル12の近傍の空間に存在
する空気は、経路69を通り、さらに、キャップ70の
吸込口70cおよび溝70gを通り、処理液管8と処理
液パイプ11との間の空間71を通って、真空室13に
向けて吸引される。その結果、リップシール72からパ
ーティクルが発生したとしても、このパーティクルは、
上記の経路を介して真空室13に向けて吸引されること
になり、ウエハWの表面に至ることはない。したがっ
て、ウエハWを高品質に維持できる。
【0039】このように、この実施形態においては、中
央に処理液管8を固定配置して、ウエハWの中心に向け
て処理液を吐出する構成であるので、保持円板23や爪
操作リンク25によって処理液の通路が遮られることが
ない。したがって、飛散した処理液に起因するパーティ
クルの発生を抑制できる。しかも、固定配置された処理
液管8とその周囲で回転する回転ヘッド21との間の摺
動部から生成されるパーティクルは、通路69、キャッ
プ70、真空室13および真空源74からなる吸引機構
によって回収され、ウエハWに付着することがない。よ
って、結果として、ウエハWへのパーティクルの付着
を、従来の装置に比較して格段に低減できる。しかも、
磁性流体シールのような高価なシール機構を用いず、安
価なリップシールを用いているので、基板処理装置のコ
ストが過度に増加することもなく、また耐薬品性を向上
させることもできる。
【0040】なお、この実施形態では真空源74を用い
てノズル12近傍の雰囲気を吸引するようにしている
が、真空源74ではなくブロワやアキュムレータなどの
他の負圧源を用いるようにしてもよいのはもちろんであ
る。図5は、ウエハWを挾持するための機構の平面図で
ある。回転ヘッド21の上面には、ドーナツ円板状の保
持円板23がボルト22によって取り付けられている。
保持円板23の周辺部には、挾持爪24が鉛直軸81ま
わりに回動自在であるように等角度間隔で立設されてい
る。挾持爪24の下端部には、水平方向に沿う揺動腕8
0が一体的に形成されている。この揺動腕80の先端に
は、爪操作リンク25の一端が回動自在に連結されてい
る。この爪操作リンク25の他端は、リンク操作部材2
7の周縁部にボルト26によって回動自在に連結されて
いる。この構成により、リンク操作部材27を回動させ
ることによって、挾持爪24を鉛直軸81まわりに回動
させることができる。
【0041】挾持爪24は、図6に拡大して示すよう
に、ウエハWが置かれる水平な載置面82aを上端に有
する円柱状の本体部82と、本体部82の上端において
載置面82a以外の領域から立ち上がったチャック部8
3とを有している。チャック部83は、水平断面がほぼ
扇形のものであり、載置面82aに接続する2つの鉛直
面を有している。この2つの鉛直面のうちの一方は、ウ
エハWを挾持するためのチャック面83aをなし、他方
は、ウエハWのチャック状態を解除するときにウエハW
を大まかに位置決めするための再位置決め面83bをな
す。各面83a,83bは、ウエハWの周面の接線方向
に沿う状態の再位置決め面83bが含まれる平面が、ウ
エハWの周面の接線方向に沿う状態のチャック面83a
が含まれる平面よりもウエハWから後退した位置に位置
するように形成されている。
【0042】チャック面83aの上端付近には、チャッ
ク面83から垂直に突出した突起86が設けられてい
る。この突起86は、ウエハWの下面にノズル12から
噴射される処理液によりウエハWが浮き上がったとき
に、ウエハWの周縁部に当接して、ウエハWの脱落を防
止する。処理を施すためにウエハWが当該基板処理装置
に搬入される以前の期間には、爪操作リンク25は、図
5において実線で示すような状態となっており、このと
き、挾持爪24は図6(a) の状態となっている。すなわ
ち、チャック面83aが中心軸Oに対向するようになっ
ている。
【0043】この状態において搬送ロボットによってウ
エハWが搬送されてくると、ウエハWの受入れに先立
ち、チャック軸4(図1参照。)が、チャック駆動機構
31によって、図5において反時計まわり方向P1に沿
って回動される。これに連動して、リンク操作部材27
が反時計まわり方向P1に沿って回動する。その結果、
爪操作リンク25は、図5に二点鎖線で示すような状態
に変位する。このとき、図6(b) に示すように、再位置
決め面83bが中心軸Oに対向する面となる。そして、
この状態で、ウエハWが、挾持爪24のセット面82a
にセットされる。このとき、突起86は、平面視におい
てウエハWの外側に退避されているから、搬入途中のウ
エハWが突起68と干渉することはない。
【0044】その後、エアシリンダ31dのロッドを引
っ込めると、チャック軸4がコイルばね31gのばね力
で図5において時計まわり方向P2に沿って回動する。
これに連動して、リンク操作部材27が図5において時
計まわり方向P2に沿って回動する。その結果、爪操作
リンク25は図5に実線で示す状態に戻る。これに伴っ
て、図6(a) に示すように、挾持爪24のチャック面8
3aがウエハWの縁部に当接し、セットされたウエハW
は3つの挾持爪24により三方向から位置決めされてチ
ャックされる。
【0045】その後、処理が開始される。すなわち、ウ
エハWが高速回転させられるとともに、処理液がノズル
12からウエハWの下面のほぼ中心に供給される。ウエ
ハWは処理液の勢いによって上方向に向かって浮上する
かもしれないが、ウエハWの浮上は突起68で規制され
るから、ウエハWが挾持爪24から脱落することはな
い。したがって、ウエハWを損傷させることはない。
【0046】処理終了後、ウエハWのチャックが解除さ
れる。より具体的には、リンク操作部材27が図5にお
いて反時計まわり方向P1に沿って回動し、これに連動
して爪操作リンク25が図5に二点鎖線で示すような状
態に変位する。その結果、図6(b) に示すように、再位
置決め面83bがウエハWに対向する状態となる。これ
により、ウエハWのチャックが解除される。
【0047】処理後のウエハWは処理液で濡れているか
ら、チャックを解除する際に、ウエハWの周面や周縁部
がチャック面83aまたは突起86に付着し、チャック
面83aの回動に追随するかもしれない。しかし、この
実施形態においては、挾持爪24の回動に伴い、チャッ
ク面83aが退避すると同時に再位置決め面83bがウ
エハWに近接する。したがって、チャック面83aまた
は突起86にウエハWの周面が付着しても、再位置決め
面83bがウエハWの周面に当接した時点でウエハWの
変位が規制されるから、チャック解除後のウエハWが大
きな位置ずれを起こしていることはない。したがって、
チャック解除後のウエハWを搬送ロボットによって搬出
する場合に、ウエハWが突起86と干渉したり、搬送ロ
ボットへのウエハWの受け渡しに支障が生じたりするこ
とはない。
【0048】本発明の実施の形態の説明は以上のとおり
であるが、本発明は上述の実施形態に限定されるもので
はない。前記実施形態では、保持円板23の周辺部に設
けた挾持爪24でウエハWを挾持する構成とされている
が、たとえば図7に示すように、挾持爪24の間に、チ
ャック解除後のウエハWの再位置決めのための専用の位
置決め突起101を上方に向けて固設するようにしても
よい。この場合、位置決め突起101は、ウエハWの周
面の接線方向に沿う位置決め面101aと、この位置決
め面101aに接続し、ウエハWを挾持するための水平
なウエハ載置面101bとを有するものであることが好
ましい。このような構成を採用した場合には、アーム2
3の各先端部の挾持爪24は、必ずしも再位置決め面8
3bを有する必要はない。
【0049】このような構成は、ウエハWの挾持が安定
する点で優れていると言えるが、前述の実施形態のよう
に再位置決めのための専用のアームを設けなくともウエ
ハWの再位置決めに支障はないから、構成の簡素化の観
点からは、前述の実施形態の構成の方が好ましい。ま
た、前記実施形態では、挾持爪24を回動させることで
チャック状態/チャック解除状態を実現しているが、た
とえば挾持爪24を中心軸Oに向かう方向と中心軸Oか
ら退避する方向とに直線移動させることでチャック状態
/チャック解除状態を実現するような構成を採用しても
よい。
【0050】さらに、前記実施形態では、保持円板23
は円板状であるが、保持円板23はたとえば多角形状で
あってもよく、また先端部に挾持爪24が配設された放
射状のアームを備えたものであってもよい。さらにま
た、前記実施形態では、回転軸3の内部に処理液管8を
挿通し、ウエハWの下面のほぼ中心に下方から処理液を
供給する構成について説明しているが、たとえばウエハ
Wの下面に対して斜め下方から処理液を供給するように
してもよい。要は、ウエハWの下面に対してウエハWを
浮上させる可能性のある方向から処理液を供給する構成
であれば、本発明を適用することができる。
【0051】さらに、前記実施形態では、ICの製造に
用いられるウエハWに処理を施すための基板処理装置に
本発明を適用する場合を説明しているが、本発明は、た
とえばLCD用ガラス基板やPDP用ガラス基板に対し
て処理を施すための基板処理装置に適用することができ
るのはもちろんである。その他、特許請求の範囲に記載
された範囲内で種々の設計変更を施すことが可能であ
る。
【0052】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、基板が処
理液の勢いで浮上しても、その浮上は基板浮き上がり防
止突起部によって規制されるから、基板が基板挾持部材
から離脱するのを防止できる。そのため、基板の損傷を
回避できる。また、請求項2記載の発明によれば、基板
挾持部材を鉛直軸まわりに回動させるため、わずかなス
ペースで基板の挾持状態および解放状態を実現できる。
また、基板挾持部材を直動させる場合に比べて、摺動に
よるパーティクルの発生が少なく、基板を高品質に維持
できる。
【0053】また、請求項3記載の発明によれば、基板
挾持部材に再位置決め面が備えられているから、基板の
解放状態で基板を再位置決めするための専用の構成を追
加する必要はない。そのため、構成の簡素化を図ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態が適用される基板処理装置
の縦断面図である。
【図2】回転軸の上端付近および処理液管の下端付近の
構成を詳述するための拡大断面図である。
【図3】キャップの構成を示す図である。
【図4】キャップを装着した場合の構成をより具体的に
説明するための拡大断面図である。
【図5】ウエハを挾持するための機構の平面図である。
【図6】挾持爪の構成を説明するための図である。
【図7】本発明の他の実施形態が適用される基板処理装
置に設けられるウエハを挾持するための機構の平面図で
ある。
【符号の説明】
1 挾持機構 2 回転構造物 3 回転軸 4 チャック軸 8 処理液管 11 処理液パイプ 21 回転ヘッド 23 保持円板 24 挾持爪 25 爪操作リンク 31 チャック駆動機構 82a セット面 83a チャック面 83b 再位置決め面 86 突起部 W ウエハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/68 H01L 21/30 569C

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】回転可能に設けられた回転板と、 この回転板の上面側に基板を挾持するためのもので、基
    板を挾持するための基板挾持位置と、基板の挾持を解除
    する基板解放位置との間で変位可能な基板挾持部材と、 この基板挾持部材の所定位置に突設され、この基板挾持
    部材が前記基板挾持位置に位置している状態で前記基板
    挾持部材によって挾持されている基板の縁部の上方に位
    置し、基板の上方への変位を規制する基板浮き上がり防
    止突起部と、 前記基板挾持部材を前記基板挾持位置と基板解放位置と
    の間で変位させる挾持部材駆動手段と、 前記基板挾持部材によって挾持される基板の下面に向け
    て処理液を吐出するノズルとを含むことを特徴とする基
    板処理装置。
  2. 【請求項2】前記基板挾持部材は、鉛直軸まわりに回動
    自在であって、基板を挾持するためのチャック面を有し
    ており、当該基板挾持部材の鉛直軸まわりの回動によっ
    て、この基板挾持部材によって挾持された基板の周面に
    前記チャック面を選択的に当接させることができるもの
    であり、 前記基板浮き上がり防止突起部は、前記チャック面にお
    いて前記基板挾持部材に挾持された基板の上面よりも上
    方の位置に突設されており、 前記駆動手段は、前記基板挾持部材を前記鉛直軸まわり
    に回動させるものであることを特徴する請求項1記載の
    基板処理装置。
  3. 【請求項3】前記基板挾持部材は、前記基板解放位置に
    おいて基板の周面に対向して、その基板を所定位置に位
    置決めする再位置決め面をさらに有するものであること
    を特徴とする請求項2記載の基板処理装置。
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