JP4614775B2 - 電気ヒューズ回路 - Google Patents
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Description
図9は従来から半導体集積回路に使用されている電気ヒューズ装置の構成例を示す回路図である。図9において、31は電気ヒューズ素子、32は電気ヒューズ素子31と直列に接続されたPMOSトランジスタ、33は出力をPMOSトランジスタのゲートに接続されたNAND回路である。
NAND回路33にはプログラム信号が入力され、プログラム選択された電気ヒューズ素子31は、プログラム信号によりPMOS32がオンして電流が導通される。電気ヒューズ素子31は、シリサイドやポリシリコンもしくはメタルの微細パターンで形成され、所定の電流が導通されると熱溶断され、断線や抵抗上昇が発生する。これにより、プログラムされない初期の電気ヒューズ素子抵抗と、プログラムされ高抵抗化された電気ヒューズ素子の抵抗値を読み出すことで、信号状態0/1を認識することができる。このようにして電気ヒューズ装置を実現することができる。
また、本発明の請求項3に記載の電気ヒューズ回路は、請求項1または請求項2記載の電気ヒューズ回路であって、前記シフトレジスタは、前記プログラムイネーブル信号をプログラムクロック信号に同期して前記複数個のヒューズコアのうち1個ずつに順次入力し、前記複数個のヒューズコアは、前記プログラムイネーブル信号の入力ごとに、前記スイッチトランジスタを1個ずつ導通する構成としたことを特徴とする。
(実施の形態1)
本発明の実施の形態1の電気ヒューズ回路を説明する。
図2は図1に示すシフトレジスタ2のi段目の構成を示す回路図である。図2のシフトレジスタ2において、6はPMOSトランジスタのゲートがプログラムクロック信号PCLKに接続され、NMOSトランジスタのゲートがプログラムクロック信号PCLKの反転信号NPCLKに接続され、入力が(i−1)段目の出力であるプログラムイネーブル伝達信号Ai−1に接続されるCMOSゲート回路、7はCMOSゲート回路6の出力を入力とするインバータ、8はインバータ7の出力を入力とし、PCLKを制御信号(Highでイネーブル)とし、出力をCMOSゲート回路6の出力とインバータ7の入力の接続点に接続するトライステート型インバータ回路、9はPMOSトランジスタのゲートがプログラムクロック信号PCLKの反転信号NPCLKに接続され、NMOSトランジスタのゲートがプログラムクロック信号PCLKに接続され、入力がインバータ7の出力に接続されるCMOSゲート回路、10はCMOSゲート回路9の出力を入力とし、出力をプログラムイネーブル伝達信号Aiとプログラムイネーブル信号Siとするインバータ回路、11はインバータ10の出力を入力とし、NPCLKを制御信号(Highでイネーブル)とし、出力をCMOSゲート回路9の出力とインバータ10の入力の接続点に接続するトライステート型インバータ回路である。
図3は本実施の形態1の電気ヒューズ回路の動作を示す波形図である。
電気ヒューズ素子3をプログラム(溶断)する際、プログラムしたい電気ヒューズ素子に対応するプログラムデータDiをHigh(H)にし、プログラムしたくない電気ヒューズ素子に対応するプログラムデータDiをLow(L)にして、2入力AND回路5の一方の入力端子に入力しておく。あるタイミングで実際にプログラムするには、プログラムイネーブル信号Siをパルス信号として、2入力AND回路5のもう一方の入力端子に入力する。
例えば、まず始めに、n個の電気ヒューズコア1に対して、1〜n個目まで(1,0,…,1)とプログラムする場合、(D1,D2,…,Dn)=(1,0,…,1)と入力しておく。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2の電気ヒューズ回路を説明する。
図5は図4に示すシフトレジスタ20のi段目の構成を示す回路図である。図5において、図2と同一のものは同一の符号を付与している。図5に示すシフトレジスタ20において、21はDFF回路、22は2入力NOR回路である。DFF回路21は、(i−1)段目の出力であるプログラムイネーブル伝達信号Bi−1を入力とし、内部信号MOUTおよびSOUTを2入力NOR回路22の入力へ引き渡し、さらにプログラムイネーブル伝達信号Biを出力する。2入力NOR回路22は、DFF回路21の内部信号MOUTおよびSOUTを入力し、プログラムイネーブル信号Fiを出力する。
まず始めに、実施の形態1と同様に、n個の電気ヒューズコア1に対して、1〜n個目まで(1,0,…,1)とプログラムする場合、(D1,D2,…,Dn)=(1,0,…,1)と入力しておく。
(実施の形態3)
本発明の実施の形態3の電気ヒューズ回路を説明する。
簡単のため、n個の電気ヒューズコア1に対して、1〜4個目までは1データを、5〜8個目までは0データを、…、(n−3)〜n個目までは1データをと言うように、4個分単位で同じプログラムデータDiを入力しておく。シフトレジスタ20において、回路動作は実施の形態2と同一である。シフトレジスタ20の出力であるプログラムイネーブル信号Fi(i=1〜n/4)は、電気ヒューズコア1の4個分単位へ、プログラムクロック信号PCLKの周期に合わせて順次入力される。
2、20 シフトレジスタ
3 電気ヒューズ素子
4 NMOSトランジスタ
5 2入力AND回路
6、9 CMOSゲート回路
7、10 CMOSインバータ
8、11 トライステート型CMOSインバータ
21 DFF回路
22 2入力NOR回路
23 マスター
24 スレーブ
31 電気ヒューズ素子
32 PMOSトランジスタ
33 NAND回路
Claims (4)
- ヒューズ素子と前記ヒューズ素子に直列接続されたスイッチトランジスタとを持つ複数個のヒューズコアと、前記ヒューズ素子をプログラムするために前記複数個のヒューズコアに接続されたシフトレジスタとを有し、
前記シフトレジスタは、前記プログラムを可能とするプログラムイネーブル信号を順次転送し、
前記複数個のヒューズコアは、前記シフトレジスタからの前記プログラムイネーブル信号と前記プログラムのためのデータ情報に従って、前記スイッチトランジスタを順次導通し前記ヒューズ素子をプログラムする電気ヒューズ回路であって、
前記シフトレジスタは、
第1のCMOSゲート回路と、
前記第1のCMOSゲート回路の出力が入力される第1のCMOSインバータ回路と、
前記第1のCMOSインバータ回路の出力が入力され、前記第1のCMOSインバータ回路と共に閉ループ回路を構成する第1のトライステート型CMOSインバータ回路と、
前記第1のCMOSインバータ回路の出力が入力される第2のCMOSゲート回路と、
前記第2のCMOSゲート回路の出力が入力される第2のCMOSインバータ回路と、
前記第2のCMOSインバータ回路の出力が入力され、前記第2のCMOSインバータ回路と共に閉ループ回路を構成する第2のトライステート型CMOSインバータ回路と、
を備え、初段のシフトレジスタの第1のCMOSゲート回路に入力されたプログラムイネーブル信号を、プログラムクロック信号に同期して順次転送する
ことを特徴とする電気ヒューズ回路。 - ヒューズ素子と前記ヒューズ素子に直列接続されたスイッチトランジスタとを持つ複数個のヒューズコアと、前記ヒューズ素子をプログラムするために前記複数個のヒューズコアに接続されたシフトレジスタとを有し、
前記シフトレジスタは、その初段の入力がHあるいはLに固定され、その初段の入力をプログラムクロックに同期して順次伝達するDFF回路と、前記DFF回路がプログラムクロック信号に同期して、前記初段の入力を順次伝達する過程で生じる前記DFF回路の内部信号の変化をうけて、前記プログラムを可能とするプログラムイネーブル信号を生成するNOR回路とを有し、
前記複数個のヒューズコアは、前記シフトレジスタからの前記プログラムイネーブル信号と前記プログラムのためのデータ情報に従って、前記スイッチトランジスタを順次導通し前記ヒューズ素子をプログラムする電気ヒューズ回路であって、
前記DFF回路は、前段のシフトレジスタの出力を入力するマスター回路、および前記マスター回路の出力を入力とし、その入力した前記マスター回路の出力を次段のシフトレジスタへ出力するスレーブ回路からなり、前記プログラムイネーブル信号を生成する前記NOR回路は、初段のシフトレジスタの入力を順次伝達する過程で生じる前記マスター回路とスレーブ回路の出力信号の変化をうけて、1ショットのパルス波形である前記プログラムイネーブル信号を生成し、
前記マスター回路は、
第1のCMOSゲート回路と、
前記第1のCMOSゲート回路の出力が入力される第1のCMOSインバータ回路と、
前記第1のCMOSインバータ回路の出力が入力され、前記第1のCMOSインバータ回路と共に閉ループ回路を構成する第1のトライステート型CMOSインバータ回路と、からなり、
前記スレーブ回路は、
前記第1のCMOSインバータ回路の出力が入力される第2のCMOSゲート回路と、
前記第2のCMOSゲート回路の出力が入力される第2のCMOSインバータ回路と、
前記第2のCMOSインバータ回路の出力が入力され、前記第2のCMOSインバータ回路と共に閉ループ回路を構成する第2のトライステート型CMOSインバータ回路と、からなる
ことを特徴とする電気ヒューズ回路。 - 請求項1または請求項2記載の電気ヒューズ回路であって、前記シフトレジスタは、前記プログラムイネーブル信号をプログラムクロック信号に同期して前記複数個のヒューズコアのうち1個ずつに順次入力し、前記複数個のヒューズコアは、前記プログラムイネーブル信号の入力ごとに、前記スイッチトランジスタを1個ずつ導通することを特徴とする電気ヒューズ回路。
- 請求項1または請求項2記載の電気ヒューズ回路であって、前記複数個のヒューズコアが、複数のブロックに分割され、ブロックごとに前記プログラムイネーブル信号の入力を共通とし、前記シフトレジスタは、前記プログラムイネーブル信号をプログラムクロック信号に同期して前記複数のブロックのうちの1ブロック毎に順次入力し、前記複数個のヒューズコアは、前記1ブロック単位で前記プログラムイネーブル信号の入力ごとに、前記スイッチトランジスタを、一斉に導通することを特徴とする電気ヒューズ回路。
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JP2007194458A (ja) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Sanyo Electric Co Ltd | ザッピング回路 |
JP2008042054A (ja) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電気ヒューズ装置 |
JP5082334B2 (ja) * | 2006-08-18 | 2012-11-28 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 電気ヒューズ回路、メモリ装置及び電子部品 |
JP5137408B2 (ja) * | 2007-02-05 | 2013-02-06 | パナソニック株式会社 | 電気ヒューズ回路 |
US7538597B2 (en) * | 2007-08-13 | 2009-05-26 | Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co. Ltd. | Fuse cell and method for programming the same |
JP2009177044A (ja) * | 2008-01-28 | 2009-08-06 | Panasonic Corp | 電気ヒューズ回路 |
US7710813B1 (en) * | 2008-03-05 | 2010-05-04 | Xilinx, Inc. | Electronic fuse array |
US8134854B2 (en) * | 2008-11-25 | 2012-03-13 | Mediatek Inc. | Efuse device |
JP2010146636A (ja) * | 2008-12-18 | 2010-07-01 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置及びメモリシステム |
JP2010206114A (ja) * | 2009-03-05 | 2010-09-16 | Renesas Electronics Corp | 電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路 |
JP5299014B2 (ja) * | 2009-03-25 | 2013-09-25 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 電気フューズ切断制御回路および半導体装置 |
US8391091B2 (en) | 2011-07-21 | 2013-03-05 | Elite Semiconductor Memory Technology Inc. | Anti-fuse circuit and method for anti-fuse programming and test thereof |
KR101811303B1 (ko) * | 2011-07-26 | 2017-12-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 집적회로 및 그의 구동 방법 |
TWI494934B (zh) * | 2013-10-25 | 2015-08-01 | Nuvoton Technology Corp | 熔絲電路 |
CN104505122B (zh) * | 2014-12-27 | 2018-01-23 | 西安紫光国芯半导体有限公司 | 一种e‑fuse链路结构及其控制方法 |
US10304645B2 (en) * | 2015-12-09 | 2019-05-28 | Fuji Electric Co., Ltd. | Trimming apparatus |
TWI601263B (zh) * | 2016-06-06 | 2017-10-01 | 華邦電子股份有限公司 | 電子式熔絲裝置以及電子式熔絲陣列 |
CN107464585B (zh) * | 2016-06-06 | 2020-02-28 | 华邦电子股份有限公司 | 电子式熔丝装置以及电子式熔丝阵列 |
CN107169219A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-09-15 | 北京伽略电子股份有限公司 | 一种高灵活度的熔丝修调电路及其使用方法 |
CN107743035B (zh) * | 2017-09-04 | 2020-12-22 | 浙江芯昇电子技术有限公司 | 一种芯片修调电路及修调方法 |
US11094387B2 (en) * | 2019-06-27 | 2021-08-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Multi-fuse memory cell circuit and method |
CN112151098A (zh) | 2019-06-27 | 2020-12-29 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 多熔丝记忆体单元电路 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001023392A (ja) * | 1999-07-02 | 2001-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2004303354A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Elpida Memory Inc | リダンダンシ制御回路、及びそれを用いた半導体記憶装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58208998A (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-05 | Toshiba Corp | 半導体cmosメモリ |
JP2888034B2 (ja) * | 1991-06-27 | 1999-05-10 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ装置 |
US5708291A (en) | 1995-09-29 | 1998-01-13 | Intel Corporation | Silicide agglomeration fuse device |
KR0173946B1 (ko) * | 1995-12-18 | 1999-04-01 | 김광호 | 동기형 반도체 메모리 장치의 컬럼 리던던시 회로 |
US6292422B1 (en) * | 1999-12-22 | 2001-09-18 | Texas Instruments Incorporated | Read/write protected electrical fuse |
US6798272B2 (en) * | 2002-07-02 | 2004-09-28 | Infineon Technologies North America Corp. | Shift register for sequential fuse latch operation |
US7031218B2 (en) * | 2002-11-18 | 2006-04-18 | Infineon Technologies Ag | Externally clocked electrical fuse programming with asynchronous fuse selection |
-
2005
- 2005-01-14 JP JP2005006960A patent/JP4614775B2/ja active Active
-
2006
- 2006-01-04 US US11/324,243 patent/US7254079B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001023392A (ja) * | 1999-07-02 | 2001-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2004303354A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Elpida Memory Inc | リダンダンシ制御回路、及びそれを用いた半導体記憶装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US7254079B2 (en) | 2007-08-07 |
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