JP4608662B2 - 不飽和アルコール製造用触媒およびそれを用いた不飽和アルコール製造法 - Google Patents
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Description
(触媒調製)
酸化イッテルビウム(関東化学工業:純度99.9%以上、比表面積44m2/g)2gをとり、500℃で2時間焼成したもの0.50gを触媒とした。また、500℃以外に600℃、700℃、800℃、900℃及び1000℃で焼成したものを用意した。また、酸化イッテルビウム以外に酸化テルビウム(関東化学工業:純度99.9%以上、比表面積51m2/g)を500℃および800℃で焼成したものを用意した。
(1,4−ブタンジオールの脱水反応)
上述実施例1にて調製した触媒0.50gを固定床気相流通反応装置に充填した。触媒層がある固定床常圧気相流通反応装置の上部からキャリアガスとして窒素ガスを1.8l/hの流速で流した。この窒素ガスと共に、気化層で気化させた1,4−ブタンジオール(和光純薬製、特級)10.0ml/hを供給した。反応は375℃で行った。触媒の種類による1,4−ブタンジオールの転化率、3−ブテン−1−オールの選択率およびテトラヒドロフラン(以下、THFという)の選択率を表1に示す。
(1,4−ブタンジオールの脱水反応)
上述実施例1にて800℃で焼成して調製した酸化イッテルビウム触媒0.50gを固定床気相流通反応装置に充填した。触媒の充填量を変更した以外は実施例2に準じた方法で反応を行った。触媒の充填量は、0.50g以外に、0.3g、1.0gおよび2.0gとした。触媒の充填量変更に伴う触媒重量/基質流量(原料ガスの触媒層内滞留時間に相当)の相違による1,4−ブタンジオールの転化率、3−ブテン−1−オールの選択率およびTHFの選択率を表2に示す。
(1,4−ブタンジオールの脱水反応)
上述実施例1にて800℃で焼成して調製した酸化イッテルビウム触媒0.50gを固定床気相流通反応装置に充填した。反応温度を変更した以外は実施例2に準じた方法で反応を行った。反応温度は、375℃以外に、350℃、400℃、および425℃とした。反応温度の相違による1,4−ブタンジオールの転化率、3−ブテン−1−オールの選択率およびTHFの選択率を表3に示す。
(1,5−ペンタンジオールの脱水反応)
上述実施例1にて500℃で焼成して調製した酸化イッテルビウム触媒0.30gを固定床気相流通反応装置に充填した。触媒層がある固定床常圧気相流通反応装置の上部からキャリアガスとして窒素ガスを1.8l/hの流速で流した。供給原料を1,5−ペンタンジオールに変更し、供給速度を1.77ml/hとした以外は実施例2に準じた方法で反応を行った。反応温度は400℃とした。触媒に500℃で焼成して調製した酸化イッテルビウム以外に800℃で焼成して調製した酸化イッテルビウムを用いた。触媒の相違による1, 5−ペンタンジオールの転化率、4−ペンテン−1−オールの選択率およびテトラヒドロピラン(以下、THPという)の選択率を表4に示す。
(触媒調製)
硝酸イッテルビウム四水和物(純度99.9%)6.228gを水100gに溶かした水溶液を酸化ジルコニウム(比表面積100m2/g)10.0gに含浸させた後、400℃2時間焼成したものを触媒(YB20)とした。また、同様な方法でYB20以外に触媒100重量部中に酸化イッテルビウム成分を30重量部(YB30)および40重量部(YB40)を含む触媒を用意した。
(1,4−ブタンジオールの脱水反応)
上述実施例6にて調製したYB20触媒0.50gを固定床気相流通反応装置に充填した。触媒を変更した以外は実施例2に準じた方法で反応を行った。触媒は、YB20以外に、実施例6にて調製したYB30、およびYB40とした。触媒の違いによる1,4−ブタンジオールの転化率、3−ブテン−1−オールの選択率およびTHFの選択率を表5に示す。
(1,5−ペンタンジオールの脱水反応)
上述実施例6にて調製したYB20触媒0.30gを固定床気相流通反応装置に充填した。触媒を変更した以外は実施例5に準じた方法で反応を行った。触媒はYB20以外に、YB30、およびYB40とした。触媒の違いによる1, 5−ペンタンジオールの転化率、4−ペンテン−1−オールの選択率およびTHPの選択率を表6に示す。
(1,4−ブタンジオールの脱水反応)
比較のための触媒を固定床気相流通反応装置に充填した。充填触媒および反応温度を変更し、1,4−ブタンジオールの原料供給量を1.77ml/hとし、触媒重量は、0.30gとした以外は実施例2に準じて反応を行った。酸化アルミニウム(DC2282:ダイアキャタリスト製)およびシリカアルミナ(N631L:日揮化学製)を用いたときは反応温度275℃で反応を行った。酸化セリウム(和光純薬製:特級)を触媒に用いたとき反応温度を400℃および425℃に変更した。酸化ジルコニウムを触媒に用いたとき反応温度を325℃、350℃および375℃に変更した。触媒および反応温度の相違による1,4−ブタンジオールの転化率、3−ブテン−1−オールの選択率、およびTHFの選択率を表7に示す。
(触媒調製)
酸化ジルコニウム(純度99.6%以上、平均粒子径10μm、比表面積100m2/g)10gをとり、0.5%水酸化ナトリウム水溶液10mlを少量加えながら水分を蒸発させて含浸させたものを乾燥の後、400℃で2時間焼成したもの0.3gを触媒とした。
(1,4−ブタンジオールの脱水反応)
上述比較例2にて調製した触媒を固定床気相流通反応装置に充填した。触媒充填量を変更し、原料供給量を1.77ml/hとし、反応温度を350℃とした以外は実施例2に準じた方法で反応を行った。触媒充填量は、0.15g、0.3g、0.6gおよび0.9gとした。触媒充填量変更に伴う触媒重量/基質流量の相違による1,4−ブタンジオールの転化率、3−ブテン−1−オールの選択率およびTHFの選択率を表8に示す。
(1,5−ペンタンジオールの脱水反応)
上述比較例2にて塩基処理して調製した酸化ジルコニウム触媒を固定床気相流通反応装置に充填した。反応物を1,5−ペンタンジオールに変更し、触媒充填量を0.30g、反応温度を変更した以外は実施例2に準じた方法で反応を行った。反応温度は、375℃以外に、325℃、350℃および400℃とした。反応温度の相違による1,5−ペンタンジオールの転化率、4−ペンテン−1−オールの選択率およびTHPの選択率を表9に示す。
Claims (16)
- 酸化イッテルビウムを含有する不飽和アルコール製造用触媒。
- 酸化イッテルビウムのみからなる請求項1記載の不飽和アルコール製造用触媒。
- ジオールから不飽和アルコールを製造するために用いられることを特徴とする請求項1記載の不飽和アルコール製造用触媒。
- 前記ジオールは両末端ジオールであることを特徴とする請求項3記載の触媒。
- 製造される前記不飽和アルコールは、2−メチル−2−ペンテン−1−オール、3−ブテン−1−オール、4−ペンテン−1−オール、5−ヘキセン−1−オールからなる群のうち少なくともいずれかである請求項3記載の不飽和アルコール製造用触媒。
- シリカ、アルミナ、チタニア及びジルコニアの少なくともいずれかに担持されることを特徴とする請求項1記載の不飽和アルコール製造用触媒。
- 酸化イッテルビウム又は担体物質に酸化イッテルビウムを担持させた触媒を用いて不飽和アルコールを製造する方法。
- 原料としてジオールを用い、該ジオールを反応させることを特徴とする請求項7記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 触媒重量/原料流量が0.01g−cat・h/ml以上5.0g−cat・h/ml以下の範囲にあることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 触媒重量/原料流量が0.03g−cat・h/ml以上3.0g−cat・h/ml以下の範囲にあることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 触媒重量/原料流量が0.10g−cat・h/ml以上1.0g−cat・h/ml以下の範囲にあることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 250℃以上450℃以下の温度範囲内で前記ジオールを反応させることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 275以上425℃以下の温度範囲内で前記ジオールを反応させることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 300℃以上400℃以下の温度範囲内で前記ジオールを反応させることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 前記ジオールは両末端ジオールであることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
- 製造される不飽和アルコールは、2−メチル−2−ペンテン−1−オール、3−ブテン−1−オール、4−ペンテン−1−オール、5−ヘキセン−1−オールからなる群のうちのすくなくともいずれかであることを特徴とする請求項8記載の不飽和アルコールを製造する方法。
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