JP4585839B2 - 顕微鏡 - Google Patents
顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4585839B2 JP4585839B2 JP2004352556A JP2004352556A JP4585839B2 JP 4585839 B2 JP4585839 B2 JP 4585839B2 JP 2004352556 A JP2004352556 A JP 2004352556A JP 2004352556 A JP2004352556 A JP 2004352556A JP 4585839 B2 JP4585839 B2 JP 4585839B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- photoelectric conversion
- measurement
- measurement area
- stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 98
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 63
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 35
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 31
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2889—Rapid scan spectrometers; Time resolved spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0096—Microscopes with photometer devices
Description
時間分解測定装置は、干渉計よりの干渉光を試料全体に照射し、該試料よりの干渉光を検出することにより、試料全体の時間変化スペクトルを得ていた(例えば特許文献1)。
しかしながら、時間分解測定は、例えばマイクロ秒からナノ秒オーダで変化するスペクトルを測定する必要があり、このようなスペクトル変化に対する顕微鏡の測定速度は改善の余地が残されていたものの、従来はこれを解決することのできる適切な技術も存在しなかった。
本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり、その目的は、時間分解スペクトルを得ることのできる顕微鏡を提供することにある。
ここで、前記顕微手段は、試料の測定エリアよりの光を採取する。
また前記多素子検出器は、複数の光電変換素子を持ち、前記顕微手段により採取された光を検出する。
前記フーリエ変換分光光度計は、干渉計の光路差発生手段である可動鏡を持ち、前記測定エリアへの光ないし該測定エリアよりの光の分光手段としてのものとする。
前記サンプリング手段は、前記フーリエ変換分光光度計よりの可動鏡位置情報に基づいて定められたタイミングで、前記多素子検出器の各光電変換素子からの強度データを同時に及び各光電変換素子ごとに集録する。
前記データ処理手段は、前記各微小測定部位ごとに、前記サンプリング手段により得られた時間変化干渉光データに基づいて、時間分解スペクトルデータを得るためのものとする。
なお、本発明において、前記多素子検出器は、各光電変換素子からの強度データの集録が、より同時に及びより高速に行える点で優れている、各光電変換素子が一次元配置であることが特に好適である。
また本発明において、前記フーリエ変換分光光度計は、前記可動鏡を高速かつ連続的に移動させるラピッドスキャンを行う。前記サンプリング手段は、前記可動鏡が所定位置から一定の距離移動するたびに、前記多素子検出器の各光電変換素子からの強度データを同時に及び各光電変換素子ごとに集録する。前記データ処理手段は、前記各微小測定部位ごとに、前記ラピッドスキャンの各サンプリング位置での強度データに基づいて前記時間変化干渉光データを取得し、さらに時間分解スペクトルデータを得ることが好適である。
また本発明において、前記フーリエ変換分光光度計は、周期性のある反応の時間分解測定を行うため、前記可動鏡をステップ状不連続に移動させてステップスキャンを行う。前記サンプリング手段は、微小測定部位ごとに、前記ステップスキャンの各停止点で、前記周期性のある反応が開始してから所定時間が経過するごとに、前記多素子検出器の各光電変換素子からの強度データを同時に及び各光電変換素子ごとに集録する。前記データ処理手段は、前記各微小測定部位ごとに、前記ステップスキャンの各停止点で前記反応が開始してから前記所定時間が経過するごとに集録された強度データを、経過時間が同一で可動鏡の停止点が異なるインターフェログラムを集めて、さらにそれぞれをフーリエ変換し、経過時間ごとにスペクトルを得ることにより時間分解スペクトルデータを得ることが好適である。
本発明においては、前記測定エリアを移動するための測定エリア移動機構を備える。前記測定エリア移動機構は、ステージと、ステージ移動手段と、ステージ制御手段と、を備える。前記試料の載置されたステージの移動により、該試料の測定エリアの移動を行うことが好適である。
ここで、前記ステージは、前記試料が載置される。
また前記ステージ移動手段は、前記ステージを水平方向に移動する。
前記ステージ制御手段は、前記ステージ移動手段によるステージの移動を制御する。
また本発明においては、さらに測定エリア移動機構との組み合わせにより、高速で試料の面分析が行える。
図1には本発明の一実施形態にかかる顕微鏡の概略構成が示されている。
同図に示すマルチチャンネル赤外顕微鏡(顕微鏡)10は、顕微手段12と、多素子赤外検出器(多素子検出器)14とを備えた赤外顕微鏡において、さらにフーリエ変換赤外分光光度計(フーリエ変換分光光度計)16と、サンプリング回路(サンプリング手段)18と、データ処理手段20とを備える。
ここで、前記顕微手段12は、試料22の測定エリアに干渉光24を照射し、該測定エリアよりの干渉光26を採取する。
また前記多素子赤外検出器14は、一次元方向に配置された複数の光電変換素子を持ち、顕微手段12により採取された干渉光26を検出する。
すなわち、本実施形態において、前記多素子赤外検出器14は、その各光電変換素子が、測定エリアの各微小測定部位に対し一対一で対応する。本実施形態においては、多素子赤外検出器14は、各光電変換素子からの強度データの集録が、より同時に及びより高速に行える点で優れていることから、各光電変換素子が一次元配置されたものを採用している。
また前記フーリエ変換分光光度計16は、可動鏡27を持ち、可動鏡駆動手段28及び可動鏡制御手段29による、可動鏡27のラピッドスキャン又はステップスキャンを行う。
このフーリエ変換赤外分光光度計16は、赤外光源30と、主干渉計32とを備える。またこのフーリエ変換赤外分光光度計16は、可動鏡27の位置情報を得るための位置検出手段34を含む。位置検出手段34は、Ne−Neレーザ36と、主干渉計32と兼用のコントロール干渉計38と、Ne−Ne検出器40とを含む。
前記データ処理手段20は、例えばコンピュータ33等よりなり、各微小測定部位ごとに、サンプリング回路18により得られた時間変化干渉光データに基づいて時間分解スペクトルデータを得るためのものとする。
また本実施形態においては、ステージ42と、ステージ移動手段44と、ステージ制御手段46とを備え、試料22の載置されたステージ42の移動により、該試料の測定エリアの移動を行う。
ここで、前記ステージ42は、試料22が載置される。
また前記ステージ移動手段44は、水平方向にステージ42を移動する。
この結果、本実施形態においては、赤外顕微鏡において従来極めて困難であった、時間変化の顕微測定が正確に行える。
すなわち、通常は、一の測定部位の時間変化干渉光データを時系列の形で得るため、多素子赤外検出器を用いる。すなわち、通常、多素子赤外検出器は各光電変換素子が順に走査され、一の時系列の形で各光電変換素子に対応する強度データを出力している。通常は、このようにして得られた一の時系列データに基づいて、試料全体、つまり試料単位の時間変化スペクトルデータを得る。
これに対し、本実施形態においては、赤外顕微鏡において、同一試料の各微小測定部位ごとの時間変化スペクトルデータを取得するため、赤外顕微鏡に既存の多素子赤外検出器とフーリエ変換赤外分光光度計との組み合わせを採用している。
すなわち、本実施形態において、多素子赤外検出器は、試料全体の強度データを一の時系列の形で得るために用いるのではなく面分布を得るために用いる。このために本実施形態において、多素子赤外検出器14の各光電変換素子は、測定エリアの各微小測定部位に対し一対一で対応する。
また本実施形態において、サンプリング回路18は、多素子赤外検出器の各光電変換素子を順に走査するのではなく、フーリエ変換分光光度計よりのタイミングで同時に及び各光電変換素子ごとに集録する。
また本実施形態において、データ処理手段20は、測定エリアの各微小測定部位ごとに、サンプリング回路18により得られた強度データに基づいて時間変化干渉光データを得る。またデータ処理手段20は、測定エリアの各微小測定部位ごとに、時間変化干渉光データをフーリエ変換し、時間分解スペクトルデータを得ている。
この結果、本実施形態においては、赤外顕微鏡においても、試料22の時間経過による変化を、該試料22の各微小測定部位ごとに測定することができる。
次に可動鏡27をラピッドスキャンした場合の時間分解スペクトルの取得について説明する。
すなわち、フーリエ変換赤外分光光度計16は、可動鏡27を高速かつ連続的に移動させる。
またサンプリング回路18は、可動鏡27が所定位置から一定距離移動するたびに、多素子赤外検出器14の各光電変換素子からの強度データを同時に及び各光電変換素子ごとに集録する。本実施形態において、強度データのサンプリング(集録)の指示には、フーリエ変換赤外分光光度計16よりのタイミングとして、位置検出手段34とサンプリングタイミング発生手段41により得られたレーザ干渉信号(可動鏡の位置情報)のゼロクロス点を用いる。
データ処理手段20は、各微小測定部位ごとに、ラピッドスキャンの各サンプリング位置での強度データに基づいて時間変化干渉光データを取得し、この時間変化干渉光データをフーリエ変換し時間分解スペクトルデータを得る。
次に前記時間分解スペクトルの取得について図2を参照しつつ、より具体的に説明する。
同図において、多素子赤外検出器14の各光電変換素子50a〜50cが、それぞれ測定エリア52の各微小測定部位54a〜54cに対し一対一で対応する。
すなわち、光電変換素子50aが微小測定部位54aよりの干渉光26aの強度を集録する。光電変換素子50bが微小測定部位54bよりの干渉光26bの強度を集録する。光電変換素子50cが微小測定部位54cよりの干渉光26cの強度を集録する。
本実施形態において、例えばサンプリングの開始から時刻t1の時は、光電変換素子50aよりの強度データIa1、光電変換素子50bよりの強度データIb1、及び光電変換素子50cよりの強度データIc1を、それぞれ同時に及び高速に集録する。これを可動
鏡27が一定距離移動するたびに所定点数分行う。そして、時刻tnの時は、光電変換素子50aよりの強度データIan、光電変換素子50bよりの強度データIbn、及び光電変換素子50cよりの強度データIcnを、それぞれ同時に及び高速に集録する。これを可動鏡27が一定距離移動するたびに所定点数分行う。
以上のサンプリングを行うことで、各微小測定部位ごとに一定時刻間隔のn本の時間変化干渉光データを得る。
コンピュータは、前述のような微小測定部位ごとに時間変化干渉光データを取得する。
各微小測定部位ごとに一定時刻間隔(t1,t2,…tn)で得たn本の時間変化干渉光データをおのおのフーリエ変換することで、時間分解スペクトルデータを得る。
すなわち、コンピュータは、微小測定部位50aについて、インターフェログラムデータ56aをフーリエ変換し、時間分解スペクトルデータ58aを得る。同様に微小測定部位50bについて、インターフェログラムデータ56bをフーリエ変換し、時間分解スペクトルデータ58bを得る。同様に微小測定部位50cについて、インターフェログラムデータ56cをフーリエ変換し、時間分解スペクトルデータ58cを得る。
以上のようにして本実施形態にかかるマルチチャンネル赤外顕微鏡10によれば、時間変化の顕微測定がイメージの形で行える。すなわち、本実施形態においては、多素子赤外検出器内蔵の赤外顕微鏡とラピッドスキャンが行えるフーリエ変換赤外分光光度計とを用いて、前述のような時間分解測定を行うことにより、ラピッドスキャンで一回反応のミリ秒時間分解測定の面分布を得ることができる。
本実施形態においては、前述のように可動鏡をラピッドスキャンすることも好ましいが、周期性のある反応の時間変化を測定するにはステップスキャンを用いることも好ましい。
ここで、ステップスキャンの場合、通常は、可動鏡の各停止位置で多素子赤外検出器の全素子からの強度データを順に走査し、時系列の形で各素子に対応する強度データを得るが、このようにして得られた強度データに基づいて得られるのは、試料全体の時間分解スペクトルデータである。
これに対し、本実施形態においては、時間分解スペクトルデータを試料単位ではなく、各微小測定部位単位で得るため、以下に示すような時間分解測定を行うことが好適である。
次に干渉計の可動鏡27をステップスキャンした場合の時間分解スペクトルの取得について、図3を参照しつつ具体的に説明する。
すなわち、フーリエ変換赤外分光光度計は、可動鏡27をステップ状不連続に変化させる。
サンプリング回路は、可動鏡の各停止位置で、周期性のある反応の開始から所定時間の経過ごとに、多素子赤外検出器の各光電変換素子からの強度データを同時に及び各光電変換素子ごとに集録する。
すなわち、同図(A)に示されるような可動鏡27の停止位置P1では、反応の開始から所定時刻間隔ごとに、光電変換素子50aからの強度データIa1、光電変換素子50bからの強度データIb1、及び光電変換素子50cからの強度データIc1を同時に測定する。
また同図(B)に示されるような可動鏡27の停止位置Pnでは、反応の開始から所定時刻間隔ごとに、光電変換素子54aからの強度データIan、光電変換素子54bからの強度データIbn、及び光電変換素子54cからの強度データIcnを同時に測定する。
コンピュータは、各微小測定部位ごとに、可動鏡27の各停止位置で各サンプリング時刻毎の強度データに基づいて、該可動鏡27の停止位置(P1…Pn)に対応する強度データよりなるインターフェログラム(時間変化干渉光データ)を取得する。
すなわち、コンピュータは、微小測定部位54aについて、可動鏡27の各停止位置(P1…Pn)に対応する強度データ(Ia1…Ian)に基づいて、該強度データ(Ia1…Ian)よりなるインターフェログラム(時間変化干渉光データ)56aを取得する(同図(c)参照)。同様に微小測定部位54bについて、可動鏡27の各停止位置(P1…Pn)に対応する強度データ(Ib1…Ibn)に基づいて、該強度データ(Ib1…Ibn)よりなるインターフェログラム(時間変化干渉光データ)56bを取得する(同図(c)参照)。同様に微小測定部位54cについて、可動鏡27の各停止位置(P1…Pn)に対応する強度データ(Ic1…Icn)に基づいて、該強度データ(Ic1…Icn)よりなるインターフェログラム(時間変化干渉光データ)56cを取得する(同図(c)参照)。
このように本実施形態においては、可動鏡のある停止位置で、反応から所定の遅延時間差が与えられた強度データを設定回数だけサンプリングし終えると、可動鏡が次の停止位置まで移動され、該次の停止位置に対応する遅延時間差でのサンプリングが同様に行われる。このようにして各停止位置に対応する遅延時間差でのサンプリングが行われ、目標の回数の測定がなされる。各微小測定部位ごとに、各遅延時間での強度データよりなるインターフェログラムが得られる。
すなわち、コンピュータは、微小測定部位54aについて、インターフェログラムデータ56aをフーリエ変換し、時間分解スペクトルデータ58aを得る。同様に微小測定部位54bについて、インターフェログラムデータ56bをフーリエ変換し、時間分解スペクトルデータ58bを得る。同様に微小測定部位54cについて、インターフェログラムデータ56cをフーリエ変換し、時間分解スペクトルデータ58aを得る。
なお、前記周期性のある反応の開始の再現性を図るため、短パルス等の励起光手段を用いることが好ましい。またサンプリングを良好に行うため、可動鏡の各停止点に応じてサンプリング時刻に遅延時間差を設けることのできる遅延手段を設けることも好ましい。
なお、前記各構成において、試料のより広範囲の面分布を得るためには、測定エリアを移動することも重要であり、本実施形態においては、前述のようなステージ移動による測定エリア移動機構を備える。
そして、本実施形態においては、ある測定エリアを測定し終えると、測定エリア移動機構により、次の測定エリアに移動される。そして、次の測定エリアでの時間分解測定が同様に行われる。このようにして各測定エリアでの時間分解測定と、測定エリア移動機構による測定エリアの移動とが、目標の全エリアの時間分解測定が完了するまで繰り返し行われる。
また前記各構成においては、多素子検出器として各光電変換素子を一次元方向に配置したものを用いた例について説明したが、これは各光電変換素子からの強度データの集録が、より同時に及び高速に行える点で優れているからであるが、以下の理由から、各光電変換素子を二次元方向に配置したものを用いることもできる。
すなわち、一次元配置の多素子検出器は、二次元配置のものに比較し同時に測定可能な測定部位数が少ないものの、互いに隣接する測定部位からの光の影響が少ない。このため本実施形態において、測定時間の短縮化に比較し測定の高精度化が特に重要である場合は、一次元配置の多素子検出器を採用することが特に好ましい。
一方、二次元配置の多素子検出器は、一次元配置のものに比較し互いに隣接する測定部位からの光の影響が大きいものの、同時に測定可能な測定部位数が多い。このため本実施形態において、測定の高精度化に比較し測定時間の短縮化が特に重要な場合は、二次元配置の多素子検出器を採用することもできる。
12 顕微手段
14 多素子赤外検出器(多素子検出器)
16 フーリエ変換赤外分光光度計(フーリエ変換分光光度計)
18 サンプリング回路(サンプリング手段)
20 データ処理手段
Claims (3)
- 試料の測定エリアよりの光を採取する顕微手段と、
複数の光電変換素子を持ち、前記顕微手段により採取された光を検出する多素子検出器と、を備えた顕微鏡において、
前記多素子検出器は、その各光電変換素子が前記測定エリアの各微小測定部位に対し一対一で対応し、
また干渉計の光路差発生手段である可動鏡を持ち、周期性のある反応の時間分解測定を行うため、前記可動鏡をステップ状不連続に移動させてステップスキャンし、前記測定エリアへの光ないし該測定エリアよりの光の分光手段としてのフーリエ変換分光光度計と、
前記微小測定部位ごとにサンプリングを行っており、前記ステップスキャンの各停止点で、前記周期性のある反応が開始してから所定時間が経過するごとに、前記多素子検出器の各光電変換素子からの強度データのそれぞれを同時に集録するサンプリング手段と、
前記各微小測定部位ごとに、前記ステップスキャンの各停止点で前記反応が開始してから前記所定時間が経過するごとに集録された強度データを、経過時間が同じで可動鏡の停止点が異なるものを集めて経過時間ごとのインターフェログラムとし、さらにそれぞれをフーリエ変換し、経過時間ごとのスペクトルを得ることにより時間分解スペクトルデータを得るためのデータ処理手段と、を備えたことを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1記載の顕微鏡において、
前記多素子検出器は、その各光電変換素子が一次元配置であることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1又は2に記載の顕微鏡において、
前記測定エリアを移動するための測定エリア移動機構を備え、
前記測定エリア移動機構は、前記試料の載置されたステージと、
前記ステージを水平方向に移動するステージ移動手段と、
前記ステージ移動手段によるステージの移動を制御するステージ制御手段と、
を備え、前記試料の載置されたステージの移動により、該試料の測定エリアの移動を行うことを特徴とする顕微鏡。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004352556A JP4585839B2 (ja) | 2004-12-06 | 2004-12-06 | 顕微鏡 |
US11/293,931 US20060119856A1 (en) | 2004-12-06 | 2005-12-05 | Microscope |
US12/613,586 US7903253B2 (en) | 2004-12-06 | 2009-11-06 | Microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004352556A JP4585839B2 (ja) | 2004-12-06 | 2004-12-06 | 顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006162373A JP2006162373A (ja) | 2006-06-22 |
JP4585839B2 true JP4585839B2 (ja) | 2010-11-24 |
Family
ID=36573796
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004352556A Active JP4585839B2 (ja) | 2004-12-06 | 2004-12-06 | 顕微鏡 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20060119856A1 (ja) |
JP (1) | JP4585839B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10908072B2 (en) * | 2016-12-15 | 2021-02-02 | The Board Of Regents Of The University Of Texas System | Total internal reflection and transmission illumination fluorescence microscopy imaging system with improved background suppression |
US10641659B2 (en) * | 2018-08-14 | 2020-05-05 | Shimadzu Corporation | Infrared microscope with adjustable connection optical system |
EP4098985A1 (en) * | 2021-06-02 | 2022-12-07 | Thermo Electron Scientific Instruments LLC | System and method for synchronized stage movement |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03158726A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-08 | Hitachi Ltd | 時間分解フーリエ変換赤外分光装置 |
JPH05296835A (ja) * | 1991-03-28 | 1993-11-12 | Jeol Ltd | 時間分解フーリエ変換分光測定法 |
JPH07301562A (ja) * | 1993-07-28 | 1995-11-14 | Numetrix Ltd | 画像のスペクトル解析の方法および装置 |
JPH08313433A (ja) * | 1995-05-17 | 1996-11-29 | Satoshi Kawada | 赤外顕微分光分析方法及び装置 |
JP2004515759A (ja) * | 2000-12-05 | 2004-05-27 | ザ プロクター アンド ギャンブル カンパニー | 生体サンプル内の病変を診断するための方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5265039A (en) * | 1988-10-21 | 1993-11-23 | Bio-Rad Laboratories | Technique for improving the resolution of an A/D converter |
US5835214A (en) * | 1991-02-22 | 1998-11-10 | Applied Spectral Imaging Ltd. | Method and apparatus for spectral analysis of images |
US5166749A (en) * | 1991-05-22 | 1992-11-24 | Bio-Rad Laboratories | Step scanning technique for interferometer |
US5528368A (en) * | 1992-03-06 | 1996-06-18 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services | Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters |
DE19708913C1 (de) * | 1997-03-05 | 1998-07-02 | Bruker Analytische Messtechnik | Optisches Spektrometer und Verfahren zur optischen Spektroskopie |
US6274871B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-08-14 | Vysis, Inc. | Method and system for performing infrared study on a biological sample |
US6717668B2 (en) * | 2000-03-07 | 2004-04-06 | Chemimage Corporation | Simultaneous imaging and spectroscopy apparatus |
US6667808B2 (en) * | 2000-03-08 | 2003-12-23 | Thermo Electron Scientific Instruments Corporation | Multifunctional fourier transform infrared spectrometer system |
DE60044580D1 (de) * | 2000-08-29 | 2010-08-05 | Perkinelmer Singapore Pte Ltd | Mikroskop für Infrarotabbildung |
GB0120170D0 (en) * | 2001-08-17 | 2001-10-10 | Perkin Elmer Int Cv | Scanning IR microscope |
-
2004
- 2004-12-06 JP JP2004352556A patent/JP4585839B2/ja active Active
-
2005
- 2005-12-05 US US11/293,931 patent/US20060119856A1/en not_active Abandoned
-
2009
- 2009-11-06 US US12/613,586 patent/US7903253B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03158726A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-08 | Hitachi Ltd | 時間分解フーリエ変換赤外分光装置 |
JPH05296835A (ja) * | 1991-03-28 | 1993-11-12 | Jeol Ltd | 時間分解フーリエ変換分光測定法 |
JPH07301562A (ja) * | 1993-07-28 | 1995-11-14 | Numetrix Ltd | 画像のスペクトル解析の方法および装置 |
JPH08313433A (ja) * | 1995-05-17 | 1996-11-29 | Satoshi Kawada | 赤外顕微分光分析方法及び装置 |
JP2004515759A (ja) * | 2000-12-05 | 2004-05-27 | ザ プロクター アンド ギャンブル カンパニー | 生体サンプル内の病変を診断するための方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100110441A1 (en) | 2010-05-06 |
US20060119856A1 (en) | 2006-06-08 |
US7903253B2 (en) | 2011-03-08 |
JP2006162373A (ja) | 2006-06-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8305575B1 (en) | Adaptive spectral sensor and methods using same | |
KR20180071171A (ko) | 광학 특성 측정 장치 및 광학 특성 측정 방법 | |
US10209058B1 (en) | Multi-probe gauge for slab characterization | |
JPH0694604A (ja) | 2台の干渉計を用いた分光撮影装置 | |
JP5358890B2 (ja) | 干渉分光光度計 | |
JP4585839B2 (ja) | 顕微鏡 | |
JP3908960B2 (ja) | 赤外画像装置における多素子検出器からのデータ取得方法 | |
US5406377A (en) | Spectroscopic imaging system using a pulsed electromagnetic radiation source and an interferometer | |
US20120175505A1 (en) | Method and Device for Scanning-Microscopy Imaging of a Specimen | |
JP5127159B2 (ja) | 測定装置及び測定方法 | |
KR20140103000A (ko) | 광영역 시료 내 다수 생체 표지자를 고속 정량 분석하는 라만 분석 방법 및 장치 | |
JP2006300674A (ja) | 分光光度計 | |
JP5206322B2 (ja) | 分光光度計 | |
JPH08210915A (ja) | デコンボリューション処理方法及び装置 | |
JP2006300808A (ja) | ラマン分光測定装置 | |
IL306017A (en) | Optical technique for material characterization. | |
JP3754018B2 (ja) | 赤外吸収分光システム | |
JPS6226411B2 (ja) | ||
KR20190062960A (ko) | 광학 드라이브를 이용한 휴대형 식품 성분 분석장치 | |
JPH08313348A (ja) | 赤外光時間応答測定装置 | |
US6867417B2 (en) | Method of acquiring data from multi-element detector in infrared imaging apparatus | |
JPH03158726A (ja) | 時間分解フーリエ変換赤外分光装置 | |
JPH063192A (ja) | フーリエ分光装置における短波長領域測定のためのサンプリング用光路差の決定方法 | |
JP2022050277A (ja) | 分光測定方法、分光測定装置、製品検査方法、製品検査装置及び製品選別装置 | |
JP2023114281A (ja) | 赤外ラマン顕微鏡及びデータ処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071109 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100401 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100601 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100802 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100824 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100906 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4585839 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |