JP4563733B2 - 走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - Google Patents
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Description
M = α/θ ・・・・・・(数1)
なる関係式により、結像レンズ33の倍率Mが定義される。すなわち、Mは、図1の実施例では、対物レンズ1、1段目投影レンズ6、および2段目投影レンズ13を総合したレンズ作用による倍率を表わす。
r(EL) = L(EL)・θ ・・・・・・(数3)
また、散乱電子線検出器の開口半径38をR(DF)、エネルギー分光器角度制限絞りの開口半径42をR(EL)、結像レンズの像点34を見込む散乱電子線検出器の開口半径に対する物理角度39をγ、結像レンズの像点34を見込むエネルギー分光器角度制限絞り17の開口半径に対する物理角度43をβと置くと、以下の関係式が成り立つ。
β = R(EL)/L(EL) ・・・・・・(数5)
一方、散乱電子線検出器の取りこみ角度γ'、およびエネルギー分光器の取りこみ角度β'は、散乱電子線検出器及びエネルギー分光器位置における電子線広がりと開口半径との比率を像面に換算した値であるので、以下の関係式が成り立つ。
β' = R(EL)/r(EL)・α = M・β ・・・・・・(数7)
すなわち、散乱電子線検出器及びエネルギー分光器の取りこみ角度は、結像レンズの条件で決まる結像レンズ33の倍率Mと結像レンズの像点34の位置によって決定される。ただし、散乱電子線検出器の検出角度範囲40は、散乱電子線検出器の開口半径38の外側から散乱電子線検出器シンチレータ8の外周までの角度範囲であり、γ'は散乱電子線検出器の検出角度範囲の内側角度を表している。エネルギーロススペクトルのS/Nは、エネルギー分光器の取りこみ角度に依存し、その入射電子線の収束角度αに対する割合をエネルギーロススペクトル検出効率Reffとすれば、
Reff = β'/α = M・β/α ・・・・・・(数8)
なる関係式が成り立つ。ここで、良好なエネルギーロススペクトルを得る条件として、エネルギー分光器の物点距離46と、βで定義した結像レンズの像点を見込むエネルギー分光器角度制限絞りの開口半径に対する物理角度43には、スペクトルのエネルギー分解能を実現するために、その大きさには制限があり、βを固定値で使用するとすれば、エネルギーロススペクトル検出効率は結像レンズ33の倍率Mで決定されることがわかる。
β ≧ α/M ・・・・・・(数9)
で表され、入射電子線の一部のみが検出される条件は
β ≦ α/M ・・・・・・(数10)
である。従来の走査透過電子顕微鏡装置を用いたエネルギーロススペクトルの取得においては、散乱電子線検出器やエネルギー分光器の実装、および散乱電子線検出器の取り込み角度範囲とエネルギー分光器の取り込み角度範囲とのマッチングの理由から、必ずしも(数9)で表される条件で使用できないため、S/Nの高いエネルギーロススペクトルの取得ができていない場合が多かった。
β' = M1・M2・β ・・・・・・(数12)
Reff = M1・M2・β/α ・・・・・・(数13)
すなわち、散乱電子線検出器の取り込み角度範囲(検出角度範囲)は、散乱電子線検出器の上段に設置された結像レンズによって設定でき、エネルギー分光器の取り込み角度範囲(検出角度範囲)は、散乱電子線検出器とエネルギー分光器角度制限絞りとの間に設置した1段以上の回転対称レンズによって独立に設定可能となる。このような結像光学系を用いればS/Nの良好な散乱電子線像の取得とS/N及びエネルギー分解能が良好なエネルギーロススペクトルの取得が同時に可能となる。
Claims (10)
- エネルギー分光器を備えた走査透過電子顕微鏡にあって、
試料によって散乱された電子線を検出する散乱電子線検出器の上方に前記散乱電子線の
取り込み角度を設定するための第1の回転対称型磁界レンズを設置し、前記エネルギー分光器の直上にアパーチャを備えた絞りを設置し、前記散乱電子線検出器と前記絞りとの間に第2の回転対称型磁界レンズを設置して、
前記第1の回転対称型磁界レンズにより前記散乱電子線の取り込み角度を設定し、前記
第2の回転対称型磁界レンズにより前記エネルギー分光器に取り込む前記電子線の取り込み角度を設定するよう構成したことを特徴とする走査透過電子顕微鏡。 - エネルギー分光器と組み合わせて使用することが可能な走査透過電子顕微鏡であって、
試料を保持する試料台と、
収束電子線を前記試料上に走査するための照射光学系と、
前記試料によって散乱された電子線を検出する散乱電子線検出器と、
前記試料台と散乱電子線検出器の間に配置された対物レンズと、
前記試料を透過し、前記散乱検出器を通過した電子線を前記エネルギー分光器に取り込むためのアパーチャを備えた絞りと、
前記散乱電子線検出器の上段に配置された1段以上の第1の回転対称型磁界レンズと、
前記散乱電子線検出器の下段で且つ、前記絞りの上段に配置された1段以上の第2の回転対称型磁界レンズとを備え、
前記第1の回転対称型磁界レンズにより前記散乱電子線の取り込み角度を設定し、前記
第2の回転対称型磁界レンズにより前記エネルギー分光器に取り込む前記電子線の取り込み角度を設定するよう構成したことを特徴とする走査透過電子顕微鏡。 - 請求項2記載の走査透過電子顕微鏡において、
前記対物レンズおよび前記絞りは、前記対物レンズへの前記収束電子線の入射角αと前
記エネルギー分光器に入射する電子線の取り込む角度βとが、β≧α/M(ここで、Mは
、前記対物レンズ、前記第1の回転対称型磁界レンズおよび前記第2の回転対称型磁界レ
ンズを総合したレンズ作用による倍率を表わす。)の関係を満たすように配置されている
ことを特徴とする走査透過電子顕微鏡。 - エネルギー分光器と組み合わせて使用することが可能な走査透過電子顕微鏡であって、
試料を保持する試料台と、
収束電子線を前記試料上に走査するための照射光学系と、
前記試料によって散乱された走査電子線を検出する散乱電子線検出器と、
前記試料台と散乱電子線検出器の間に配置された対物レンズと、
前記試料を透過し、前記散乱検出器を通過した電子線を前記エネルギー分光器に取り込むためのアパーチャを備えた絞りと、
前記対物レンズと前記散乱電子線検出器との間に配置された第1の投影レンズと、
前記散乱電子線検出器と前記絞りとの間に配置された第2の投影レンズとを備え、
前記第1の投影レンズにより前記散乱された走査電子線の取り込み角度を設定し、前記
第2の投影レンズにより前記エネルギー分光器に取り込む電子線の取り込み角度を任意に設定するよう構成したことを特徴とする走査透過電子顕微鏡。 - 請求項4記載の走査透過電子顕微鏡において、
前記試料を透過した電子線の前記対物レンズによる第1の像を、前記第1の投影レンズ
によって第2の像に投影し、
前記第2の投影レンズによって前記第2の像を第3の像に投影し、
前記第3の像が前記エネルギー分光器の物点と一致するよう構成したことを特徴とする
走査透過電子顕微鏡装置。 - 請求項4又は5記載の走査透過電子顕微鏡において、
前記試料を透過した電子線を検出するための透過電子線検出器を備えたことを特徴とす
る走査透過電子顕微鏡。 - 請求項6記載の走査透過電子顕微鏡において、
前記散乱電子線検出器は、前記試料を透過した電子線の光軸が通過する開口部を備えた
円環形状を有し、
前記透過電子線検出器は、前記光軸上かつ前記散乱電子線検出器と前記絞りの間に配置
されていることを特徴とする走査透過電子顕微鏡。 - 請求項6または7に記載の走査透過電子顕微鏡において、
前記透過電子線検出器を移動する検出器駆動手段を備え、
エネルギー分光を実行する際には、前記透過電子線検出器を前記光軸上から退避させる
ことが可能なように構成したことを特徴とする走査透過電子顕微鏡。 - 請求項8に記載の走査透過電子顕微鏡において、
暗視野像観測モード、明視野像観測モード、または暗視野像と明視野像の同時観測モー
ドのモード切替えを行なうためのモード切替え入力手段と、
前記検出器駆動手段を制御する制御手段とを備え、
当該制御手段は、前記モード切替え入力手段への入力に応じて前記検出器駆動手段を動
作させ、前記透過電子線検出器を前記光軸上から退避あるいは前記光軸上へ移動させることを特徴とする走査透過電子顕微鏡。 - 電子線源より発生した電子線を照射光学系を介して試料面上に走査し、前記試料によって散乱された電子線の強度を散乱電子線検出器により検出して暗視野像を取得し、前記散
乱電子線検出器を通過した電子線の強度を透過電子線検出器により検出して明視野像を取
得するとともに、前記透過電子線検出器を通過した電子線をエネルギー分光器に入射させ
てエネルギーロススペクトルを取得するようにした走査透過電子顕微鏡を用いた電子線エネルギー分光方法にあって、
前記散乱電子線検出器の上段に配置された第1の投影レンズおよび前記散乱電子線検出器の下段で且つ、前記エネルギー分光器の直上にアパーチャを備えた絞りの上段に配置された第2の投影レンズを用いて、
前記第1の投影レンズにより前記散乱された電子線の取り込み角度を設定し、第2の投影レンズにより前記エネルギー分光器に取り込む前記電子線の取り込み角度を設定するよう構成したことを特徴とする走査透過電子顕微鏡を用いた電子線エネルギー分光方法。
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