JP4544272B2 - 長尺物の外観検査方法及びその装置 - Google Patents

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Description

本発明は、例えば外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形される長尺状のホースや電線の外観を検査するための長尺物の外観検査方法及びその装置に関するものである。
一般に、長尺状のホースとしては、外周面が樹脂によって被覆された状態で加硫するとともに加硫後に樹脂を除去することにより成形されるものや、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形されるものが知られている(例えば、特許文献1参照。)。
また、長尺物の外観検査方法としては、例えば長尺状のホースの外周面を連続的に撮像可能な撮像装置を用い、長尺状ホースを長手方向に移動しながら、長尺状ホースの外周面を撮像装置によって連続的に撮像し、撮像した画像上でホース外周面の凹凸や傷などの有無を判定するようにしたものが知られている(例えば、特許文献2参照。)。
特開平10−264174号公報 特開2007−003243号公報
ところで、外周面が樹脂によって被覆された状態で加硫されて成るホースでは、ホースの外周面が滑らかで光沢を有することから、ホースの外周面に凹凸や傷がある場合は、凹凸や傷の部分における光の反射が特徴的になり、前記外観検査方法によって凹凸や傷の有無を判定することができる。
しかしながら、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫されて成るホースでは、ホースの外周面は布目跡が転写されて粗面状になるとともに、布部材同士が重なり合う部分に螺旋状の凹部または凸部が生ずるので、ホースの外周面が螺旋状の凹部または凸部を有するとともに光沢のない粗面状になる。即ち、螺旋状の凹部または凸部によって常に外周面上に凹凸箇所が発生しているので、前記外観検査方法によって外周面を撮像する際に、異常レベルの凹凸のみを正確に判定することが難しいという問題点があった。
さらに、前記外観検査方法では、ホースの外周面にその色と異なる色で商品名等の表示がある場合は、表示位置の光の反射状態がホースの他の部分の光の反射状態と異なるので、凹凸や傷の有無を正確に判定する上で妨げになるという問題点があった。
一方、前記外観検査方法によらず、触感及び目視によって検査する方法もあるが、検査者の熟練度に応じて検査の精度がばらつくという問題点があった。
本発明は前記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫されて成る長尺物の外観検査を正確に行うことのできる長尺物の外観検査方法及びその装置を提供することにある。
本発明は前記目的を達成するために、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形される長尺物の外観を検査する長尺物の外観検査方法において、前記長尺物の外周面に向かって所定の光源から線状光を照射するとともに、長尺物を光源に対して長尺物の長手方向に移動させながら、長尺物の幅方向に応じたX軸方向に複数の画素を有するとともにX軸と直交しているY軸方向に複数の画素を有する撮像装置を用い、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像する工程と、各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データをそれぞれ抽出する工程と、各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データを長尺物の外周面形状に応じてX軸方向の各画素の位置ごとに設けられた基準データによってそれぞれ減算処理する工程と、減算処理された各Y軸方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する工程と、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する工程とを含み、長尺物の周方向に互いに間隔をおいて配置されるとともにそれぞれ長尺物の外周面に押付けられるように設けられた複数のガイド部材を有するガイド機構を用いて、前記照射線に対して長尺物の移動方向の上流側において長尺物をガイドするようにしている。
また、本発明は、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形される長尺物の外観を検査する長尺物の外観検査装置において、前記長尺物の外周面に向かって線状光を照射する光源と、長尺物を光源に対して長尺物の長手方向に移動させる移動機構と、長尺物の幅方向に応じたX軸方向に複数の画素を有するとともにX軸と直交しているY軸方向に複数の画素を有し、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像可能な撮像装置と、撮像装置によって撮像された各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データをそれぞれ抽出する位置データ抽出手段と、各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データを長尺物の外周面形状に応じてX軸方向の各画素の位置ごとに設けられた基準データによってそれぞれ減算処理する減算処理手段と、減算処理された各Y軸方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する検査用画像作成手段と、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する判定手段と、前記照射線に対して長尺物の移動方向の上流側において長尺物をガイドするガイド機構とを備え、ガイド機構を、長尺物の周方向に互いに間隔をおいて配置されるとともにそれぞれ長尺物の外周面に押付けられように設けられた複数のガイド部材から構成している。
これにより、長尺物の外周面に向かって線状光が照射されることから、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線はその位置の長尺物の輪郭を正確に示す。また、照射線が線状光面と所定の角度をなす方向から撮像されるので、照射線の位置の長尺物の輪郭が正確に撮像される。さらに、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させながら、照射線を所定時間おきに撮像することから、長尺物の輪郭が長手方向に亘って連続的且つ正確に撮像される。また、長尺物の幅方向に応じたX軸方向に複数の画素を有するとともにX軸と直交しているY軸方向に複数の画素を有する撮像装置を用い、各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データをそれぞれ抽出し、各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データを長尺物の外周面形状に応じてX軸方向の各画素の位置ごとに設けられた基準データによってそれぞれ減算処理することから、例えば長尺物が断面円形であり、基準データとして長尺物の設計寸法に応じたY軸方向の位置データを用いる場合は、各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データから長尺物の外周面の円弧形状がキャンセルされ、減算処理後の各Y軸方向の位置データは長尺物の外周面の凹凸や傷等を明確に示すものになる。さらに、減算処理された各撮像データのY軸方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成し、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定することから、長尺物の外周面の円弧形状をキャンセルせずに検査用画像を作成する場合と比較し、長尺物の外周面の凹凸や傷等が検査用画像上で明確になる。
本発明によれば、長尺物の輪郭を長手方向に亘って連続的且つ正確に撮像することができ、しかも長尺物の外周面の凹凸や傷等を検査用画像上で明確にすることができるので、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫されて成る長尺物の外観検査を正確に行うことができる。
図1乃至図14は本発明の一実施形態を示すもので、図1は長尺物の外観検査装置の要部斜視図、図2は長尺物の外観検査装置の要部側面図、図3は図2におけるA−A線断面図、図4はホースの要部斜視図、図5は撮像データの例、図6は図5の一部拡大図、図7は基準データの例、図8は減算処理された高さ方向の位置データの例、図9は検査用画像の例、図10はホースの要部斜視図、図11は撮像データの例、図12は輝度検査用画像の例、図13は長尺物の外観検査装置のブロック図、図14は制御部の動作を示すフローチャートである。
この長尺物の外観検査装置は、照射対象物上で線状となる光(以下、線状光Sという)を照射可能な複数の照射装置10と、ホースHをその長手方向に移動させる移動機構20と、ホースHをガイドするための第1ガイド機構30及び第2ガイド機構40と、各照射装置10の線状光SがホースHの外周面に照射されて成る照射線Lを線状光Sの光面と所定の角度α(本実施形態では略30°)をなす方向から撮像可能な複数の撮像装置50とを備えている。ホースHは、外周面に図示しない布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形される。ここで、布部材はナイロン等の繊維を編んで成形されているので、ホースHの外周面は布目跡が転写されて粗面状になる。また、布部材は互いに重なり合うように螺旋状に巻付けられるので、布部材同士が重なり合う部分に螺旋状の凹部SP(または凸部)が形成される。
各照射装置10から照射される線状光Sは赤色レーザー光から成り、線状光SはホースHの外周面に線状に照射される。本実施形態では照射装置10が4つ設けられ、各照射装置10は互いにホースHの周方向に90°ずれた位置に配置されている。また、各照射装置10は線状光Sの光面がホースHの軸方向と略垂直に交わるように配置されている。各照射装置10から照射された線状光Sは互いにホースHの周方向に繋がり、各照射装置10の線状光SがホースHの外周面に照射されてなる照射線LはホースHを一周している。
移動機構20は上下一対のベルトコンベヤ21を有し、各ベルトコンベヤ21の間にホースHを挟持するとともに、各ベルトコンベヤ21を回転させることにより、ホースHをその長手方向に移動可能である。
第1ガイド機構30は4つのガイド部材31を有し、各ガイド部材31は互いにホースHの周方向に略90°ずれた位置に配置されている。各ガイド部材31は照射線Lに対してホースHの搬送方向の上流側に配置され、各ガイド部材31は図示しないエアシリンダによってホースHの外周面に押付けられるようになっている。各ガイド部材31におけるホースHに押付けられる面はホースHの外周面との摩擦係数が0.12以下の低摩擦係数材料から成るとともに、ホースHの軸方向に延びるように形成されている。低摩擦係数材料の例としては、シリコン、フッ素樹脂、分子量が100万以上である超高分子ポリエチレン等が挙げられる。第1ガイド機構30に対してホースHの搬送方向の上流側にはホースHを第1ガイド機構30に案内する補助ガイド機構32が設けられている。
第2ガイド機構40は4つのガイド部材41を有し、各ガイド部材41は互いにホースHの周方向に略90°ずれた位置に配置されている。各ガイド部材41は照射線Lに対してホースHの搬送方向の下流側に配置され、各ガイド部材41は図示しないエアシリンダによってホースHの外周面に押付けられるようになっている。各ガイド部材41におけるホースHに押付けられる面はホースHの外周面との摩擦係数が0.12以下の低摩擦係数材料から成るとともに、ホースHの軸方向に延びるように形成されている。低摩擦係数材料の例としては、シリコン、フッ素樹脂、分子量が100万以上である超高分子ポリエチレン等が挙げられる。
各撮像装置50はX軸方向(ホースHの幅方向に応じた方向)及びX軸と直交しているY軸方向(ホースHの高さ方向に応じた方向)にそれぞれ複数ずつ画素を有する二次元撮像装置である。本実施形態では撮像装置50は4つ設けられ、各撮像装置50は互いにホースHの周方向に略90°ずれた位置に配置されている。また、各撮像装置50は各照明装置10とホースHの周方向に互い違いに配置され、各撮像装置50は各照明装置10と互いにホースHの周方向に略45°ずれた位置に配置されている。
各照明装置10、移動機構20、各撮像装置50は周知のマイクロコンピュータから成る制御部60に接続され、制御部60は液晶画面等の周知の表示装置61及び操作部62に接続されている。操作部62にはスタートボタンが設けられている。
以上のように構成された長尺物の外観検査装置において、ホースHの外観を検査する方法について、図4乃至図12と図14のフローチャートを参照しながら説明する。
先ず、ホースHが各ガイド機構30,40を通過して移動機構20の各ベルトコンベヤ21によって挟持されている状態で、操作部62のスタートボタンが操作されると(S1)、移動装置20によってホースHを移動させるとともに(S2)、各照明装置10によってホースHの外周面に向かって線状光Sを照射する(S3)。
続いて、各ベルトコンベヤ21の回転速度が所定の回転速度になり、ホースHが所定速度(本実施形態では35m/min)になると(S4)、各撮像装置50によってそれぞれ所定時間おき(本実施形態では1mm秒おき)にホースHの外周面の照射線Lを撮像する(S5)。即ち、ホースHが所定距離(本実施形態では0.58mm)移動する度に各撮像装置50による撮像が行われる。以下は各撮像装置50のうち1つの撮像装置50について説明するが、他の撮像装置50についても同様の処理が行われる。
続いて、撮像装置50によって撮像された各撮像データ(例えば図5参照)から、ホースHの各幅方向位置(X軸方向の各画素の位置)に応じた照射線Lの高さ方向(Y軸方向)の位置データを抽出する(S6)。例えば、X軸方向の左から15番目の画素位置(図6のX15)における高さ方向の位置データとして68.2が抽出され、X軸方向の左から17番目の画素位置(図6のX17)における高さ方向の位置データとして70.7が抽出される。また、高さ方向の位置データはY軸方向の画素1つ分を1として数値化されたものであり、輝度の重心位置を周知のサブピクセル処理にて位置データとして抽出している。尚、図5及び図6は図4の照射線Lを撮像した撮像データであり、図4に示すホースHの外周面には凹状の傷Kが形成されている。
続いて、各幅方向位置に応じた高さ方向の位置データを各幅方向位置ごとに設けられた基準データ(図7参照)によってそれぞれ減算処理し(S7)、減算処理された高さ方向の位置データ(図8参照)を得る。例えば、X軸方向の左から15番目の画素位置(図8のX15)における減算処理後の位置データは0となり、X軸方向の左から17番目の画素位置(図8のX17)における減算処理後の位置データは−1.3となる。ここで、基準データには、ホースHが設計寸法の中央値であり且つ螺旋状の凹部SP(または凸部)が成形されない場合の各幅方向位置ごとの高さ方向の位置データ(理論上の数値)が用いられている。即ち、基準データはホースHの外周面形状に応じて各幅方向位置ごとに設けられた数値データである。
次に、減算処理された各撮像データの高さ方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像(図9参照)を作成するとともに表示装置61に表示させる(S8)。ここで、1枚の検査用画像には減算処理後の高さ方向の位置データを所定撮像回数分(例えば128回分)だけ使用する。また、所定の色調基準として、位置データの数値が小さいほど色を濃くする基準を用いると、ホースHの外周面において凹状の部分の色が他の部分に比べて濃くなり、ホースHの外周面において凸状の部分の色が他の部分に比べて薄くなる。即ち、図9に示すように、螺旋状の凹部SP及び傷Kの部分の色が他の部分に比べて濃くなる。
続いて、所定の判定基準に基づき、作成された検査用画像上の異常の有無を判定する(S9)。ここで、所定の判定基準には、螺旋状の凹部SPのピッチP及びホースHの長さ方向に対する角度γの許容範囲が定められている。このため、検査用画像上にあらわれる凹部がピッチP及び角度γの許容範囲内であれば正常と判定され、検査用画像上にあらわれる凹部がピッチP及び角度γの許容範囲を超えるものであれば異常と判定される。また、所定の判定基準は、他の部分よりも許容範囲を超えて凸状の部分があれば異常と判定する。このため、図9のように螺旋状の凹部SPの他に傷Kによる凹部があらわれ、傷Kによる凹部と螺旋状の凹部SPとのピッチPが許容範囲内にないか、傷Kによる凹部の角度γが許容範囲内にない場合は、前述のように異常と判定される。
一方、撮像装置50によって撮像された各撮像データ(例えば図11参照)から、ホースHの各幅方向位置(X軸方向の各画素の位置)に応じた照射線Lの輝度データを抽出する(S10)。尚、図11は図10の照射線Lを撮像した撮像データであり、図10に示すホースHの外周面にはホースHの外周面よりも薄い色の異物Dが貼り付いている。
次に、各撮像データの輝度データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて輝度検査用画像(図12参照)を作成するとともに表示装置61に表示させる(S11)。ここで、1枚の輝度検査用画像には輝度データを所定撮像回数分(例えば128回分)だけ使用する。また、所定の色調基準として、輝度データの数値が小さいほど色を濃くする基準を用いると、ホースHの外周面の正常な部分(黒色部分)が濃い色となり、ホースの外周面と異なる色の部分が薄い色になる。図12の場合、異物Dが貼り付いている部分の色が他の部分に比べて薄くなる。
続いて、所定の判定基準に基づき、作成された輝度検査用画像上の異常の有無を判定する(S12)。ここで、前記所定の判定基準では、輝度検査用画像上の他の部分に対して色の薄い部分の面積が所定量以下であれば正常と判定され、他の部分に対して色の薄い部分の面積が所定量を超えると異常と判定される。このため、図12のように異物Hの部分の色が他の部分に対して薄く、その部分の面積が所定量を超える場合は、異常と判定される。
次に、ステップS9またはステップS12において異常と判定された場合は、移動機構20によるホースHの移動を停止させる(S13)。
このように、本実施形態によれば、ホースHの外周面に向かって線状光Sが照射されることから、線状光SがホースHの外周面に照射されて成る照射線Lはその位置のホースHの輪郭を正確に示す。また、照射線Lが線状光Sの光面と所定の角度αをなす方向から撮像されるので、照射線Lの位置のホースHの輪郭が正確に撮像される。さらに、各照射装置10に対してホースHを長手方向に移動させながら、照射線Lを所定時間おきに撮像することから、ホースHの輪郭が長手方向に亘って連続的且つ正確に撮像される。また、各撮像データからホースHの各幅方向位置に応じた照射線Lの高さ方向の位置データをそれぞれ抽出し、その位置データをホースHの外周面形状に応じて各幅方向位置ごとに設けられた基準データによってそれぞれ減算処理することから、高さ方向の位置データからホースHの外周面の円弧形状がキャンセルされ、減算処理後の高さ方向の位置データはホースHの外周面の凹凸や傷等を明確に示すものになる。さらに、減算処理された各撮像データの高さ方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成し、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定することから、ホースHの外周面の円弧形状をキャンセルせずに検査用画像を作成する場合と比較し、ホースHの外周面の凹凸や傷等が検査用画像上で明確になる。従って、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫されて成るホースHの外観検査を正確に行うことができる。
また、各撮像データからホースHの各幅方向位置に応じた照射線Lの輝度データをそれぞれ抽出するとともに、各撮像データの輝度データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて輝度検査用画像を作成し、所定の判定基準に基づき輝度検査用画像上の異常の有無を判定することから、ホースHの外周面の凹凸や傷だけではなく、ホースHの外周面に貼り付いている異物や補強材の露出等を検出することができる。
尚、本実施形態では、ホースHの外周面の傷Kが検査用画像上にあらわれるものを示したが、布部材の巻き付け異常によってホースHの外周面に凹凸が生ずる場合でも、その凹凸が検査用画像上にあらわれる。この場合でも、凹凸が前記ピッチP及び角度γの許容範囲内にない時は、その検査用画像が異常と判定される。
また、本実施形態では、ホースHが設計寸法の中央値であり且つ螺旋状の凹部SPが成形されない場合の各幅方向位置ごとの高さ方向の位置データ(理論上の数値)を基準データとして用いた。これに対し、複数の撮像データを用いて各幅方向位置ごとの高さ方向の位置データの平均値を算出し、その平均値を基準データとして用いることも可能である。この場合でも、基準データはホースHの外周面形状に応じて各幅方向位置ごとに設けられた数値データであり、理論上の数値を用いるよりもホースHの外周面の円弧形状をより正確にキャンセルすることができ、ホースHの外周面の凹凸や傷等を検査用画像上で明確にする上で極めて有利である。
尚、本実施形態では、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫されて成るホースHの外観検査を行うものを示したが、外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫されて成る電線やその他の長尺物の外観を検査することも可能である。
また、本実施形態では、減算処理された位置データまたは輝度データを所定撮像回数分(例えば128回分)だけ使用することにより、1枚の検査用画像または1枚の輝度検査用画像を作成するものを示した。ここで、検査用画像または輝度検査用画像はホースHの移動に応じて連続的に作成されるが、例えば後に作成される検査用画像の位置データと先に作成される検査用画像の位置データを一部重複させることも可能である。これにより、2枚の検査用画像を跨いであらわれる凹凸や傷を見逃すことがなく、ホースHの外観検査を正確に行う上で極めて有利である。
また、本実施形態では、ホースHを移動機構20によって移動させることにより、ホースHと各照射装置10とを相対的に移動させるものを示したが、ホースHを移動させる代わりに各照明装置10をホースHの長手方向に移動させることにより、ホースHと各照明装置10とを相対的に移動させることも可能である。
本発明の一実施形態を示す長尺物の外観検査装置の要部斜視図 長尺物の外観検査装置の要部側面図 図2におけるA−A線断面図 ホースの要部斜視図 撮像データの例 図5の一部拡大図 基準データの例 減算処理された高さ方向の位置データの例 検査用画像の例 ホースの要部斜視図 撮像データの例 輝度検査用画像の例 長尺物の外観検査装置のブロック図 制御部の動作を示すフローチャート
符号の説明
10…照射装置、20…移動機構、21…コンベヤベルト、30…第1ガイド機構、31…ガイド部材、32…補助ガイド機構、40…第2ガイド機構、41…ガイド部材、50…撮像装置、60…制御部、61…表示装置、62…操作部、H…ホース、S…線状光、L…照射線、SP…螺旋状の凹部、K…傷、P…ピッチ、γ…角度、D…異物。

Claims (4)

  1. 外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形される長尺物の外観を検査する長尺物の外観検査方法において、
    前記長尺物の外周面に向かって所定の光源から線状光を照射するとともに、長尺物を光源に対して長尺物の長手方向に移動させながら、長尺物の幅方向に応じたX軸方向に複数の画素を有するとともにX軸と直交しているY軸方向に複数の画素を有する撮像装置を用い、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像する工程と、
    各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データをそれぞれ抽出する工程と、
    各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データを長尺物の外周面形状に応じてX軸方向の各画素の位置ごとに設けられた基準データによってそれぞれ減算処理する工程と、
    減算処理された各Y軸方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する工程と、
    所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する工程とを含み、
    長尺物の周方向に互いに間隔をおいて配置されるとともにそれぞれ長尺物の外周面に押付けられるように設けられた複数のガイド部材を有するガイド機構を用いて、前記照射線に対して長尺物の移動方向の上流側において長尺物をガイドする
    ことを特徴とする長尺物の外観検査方法。
  2. 前記各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線の輝度データをそれぞれ抽出する工程と、
    各撮像データの輝度データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて輝度検査用画像を作成する工程と、
    所定の判定基準に基づき輝度検査用画像上の異常の有無を判定する工程とを含む
    ことを特徴とする請求項1記載の長尺物の外観検査方法。
  3. 外周面に布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形される長尺物の外観を検査する長尺物の外観検査装置において、
    前記長尺物の外周面に向かって線状光を照射する光源と、
    長尺物を光源に対して長尺物の長手方向に移動させる移動機構と、
    長尺物の幅方向に応じたX軸方向に複数の画素を有するとともにX軸と直交しているY軸方向に複数の画素を有し、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像可能な撮像装置と、
    撮像装置によって撮像された各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データをそれぞれ抽出する位置データ抽出手段と、
    各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線のY軸方向の位置データを長尺物の外周面形状に応じてX軸方向の各画素の位置ごとに設けられた基準データによってそれぞれ減算処理する減算処理手段と、
    減算処理された各Y軸方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する検査用画像作成手段と、
    所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する判定手段と、
    前記照射線に対して長尺物の移動方向の上流側において長尺物をガイドするガイド機構とを備え、
    ガイド機構を、長尺物の周方向に互いに間隔をおいて配置されるとともにそれぞれ長尺物の外周面に押付けられように設けられた複数のガイド部材から構成した
    ことを特徴とする長尺物の外観検査装置。
  4. 前記各撮像データにおいてそれぞれ、X軸方向の各画素の位置における照射線の輝度データをそれぞれ抽出する輝度データ抽出手段と、
    各撮像データの輝度データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて輝度検査用画像を作成する輝度検査用画像作成手段と、
    所定の判定基準に基づき輝度検査用画像上の異常の有無を判定する判定手段とを備えた
    ことを特徴とする請求項3記載の長尺物の外観検査装置。
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