JP2008309714A - 長尺物の外観検査方法及びその装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】外観検査を高精度で行うことのできる長尺物の外観検査方法及びその装置を提供する。
【解決手段】各照射装置10に対してホースHを長手方向に移動させながら、照射線Lを所定時間おきに撮像し、各撮像データからホースHの各幅方向位置と照射線Lの高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出し、各高さ方向位置データを基準データによって減算処理するとともに、減算処理された各高さ方向位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する上で、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して基準データを作成する。これにより、ホースHがうねりを伴っている場合でも、高さ方向位置データからうねり分がキャンセルされる。
【選択図】図1

Description

本発明は、ホース、電線、板状部材等の長尺物の外観を検査するための長尺物の外観検査方法及びその装置に関するものである。
一般に、この種の長尺物の外観検査装置としては、平板状の長尺物を長手方向に移動させる移動機構と、長尺物の上方に設けられ、長尺物の上面に向かって線状光を照射する照射装置と、長尺物の上方に設けられ、線状光が長尺物の上面に照射されて成る照射線を撮像する撮像装置と、撮像装置の撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データを作成する位置データ作成手段と、高さ方向位置データを撮像順に並べ、他の部分と同様の傾向で照射線の高さ方向位置が変化している場合は正常と判定し、他の部分と異なる傾向で照射線の高さ方向位置が変化している場合は異常と判定する判定手段とを備えたものが知られている(例えば、特許文献1参照。)。
特開平6−281593号公報
ところで、前記長尺物の外観検査装置では、撮像装置が長尺物の上方の所定位置に固定されるとともに、撮像装置の撮像範囲に対する照射線の高さ方向位置が高さ方向位置データに用いられ、照射線の高さ方向位置の傾向に基づき異常の有無が判定される。一方、前記外観検査装置によって検査される長尺物は、長手方向に完全に直線状に成形されていることは少なく、若干のうねりを伴っている。従って、長尺物が長手方向に移動すると、長尺物の上面の位置がうねりに応じて上下方向に移動し、撮像装置の撮像範囲内で照射線の高さ方向位置がうねりに応じて上下方向に移動する。このため、判定手段において照射線の高さ方向位置の傾向を判定する場合に、高さ方向の判定可能範囲をうねりを考慮して設定すると、上下方向の解像度が粗くなり、異常の有無を高精度で判定することができないという問題点があった。また、高さ方向の判定可能範囲をうねりを考慮せずに設定すると、照射線の高さ方向位置がうねりによって判定可能範囲を超え、異常の有無を判定することができないという問題点があった。
本発明は前記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、外観検査を高精度で行うことのできる長尺物の外観検査方法及びその装置を提供することにある。
本発明は前記目的を達成するために、長尺物の外周面に向かって所定の光源から線状光を照射するとともに、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させながら、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像する工程と、各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する工程と、各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する工程と、減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する工程と、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する工程とを含む長尺物の外観検査方法であって、前記基準データを、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して作成するようにしている。
また、本発明は、長尺物の外周面に向かって線状光を照射する光源と、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させる移動機構と、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像可能な撮像装置と、撮像装置によって撮像された各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する位置データ抽出手段と、各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する減算処理手段と、減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する検査用画像作成手段と、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する判定手段とを備えた長尺物の外観検査装置であって、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して前記基準データを作成する基準データ作成手段を備えている。
これにより、長尺物の外周面に向かって線状光が照射されることから、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線はその位置の長尺物の輪郭を正確に示す。また、照射線が線状光面と所定の角度をなす方向から撮像されるので、照射線の位置の長尺物の輪郭が正確に撮像される。さらに、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させながら、照射線を所定時間おきに撮像すると、長尺物の輪郭が長手方向に亘って連続的且つ正確に撮像される。また、各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出し、各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理するとともに、減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成し、検査用画像上の異常の有無を判定する上で、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して基準データを作成することから、例えば長尺物が断面円形である場合は、高さ方向位置データから長尺物の外周面の円弧形状がキャンセルされ、長尺物が長手方向にうねりを伴っている場合でも、高さ方向位置データからうねり分がキャンセルされ、減算処理後の高さ方向位置データは長尺物の外周面の凹凸や傷等のみを明確に示すものになる。
また、本発明は前記目的を達成するために、長尺物の外周面に向かって所定の光源から線状光を照射するとともに、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させながら、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像する工程と、各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する工程と、各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する工程と、減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する工程と、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する工程とを含む長尺物の外観検査方法であって、前記基準データを各高さ方向位置データごとにそれぞれ設け、各基準データを、減算処理対象の高さ方向位置データを撮像順の略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して作成するようにしている。
また、本発明は、長尺物の外周面に向かって線状光を照射する光源と、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させる移動機構と、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像可能な撮像装置と、撮像装置によって撮像された各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する位置データ抽出手段と、各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する減算処理手段と、減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する検査用画像作成手段と、所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する判定手段とを備えた長尺物の外観検査装置であって、前記基準データ作成手段を、各高さ方向位置データごとにそれぞれ基準データを作成するとともに、減算処理対象の高さ方向位置データを撮像順の略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して各基準データを作成するように構成している。
これにより、長尺物の外周面に向かって線状光が照射されることから、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線はその位置の長尺物の輪郭を正確に示す。また、照射線が線状光面と所定の角度をなす方向から撮像されるので、照射線の位置の長尺物の輪郭が正確に撮像される。さらに、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させながら、照射線を所定時間おきに撮像すると、長尺物の輪郭が長手方向に亘って連続的且つ正確に撮像される。また、各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出し、各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理するとともに、減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成し、検査用画像上の異常の有無を判定する上で、各高さ方向位置データごとにそれぞれ基準データを作成するとともに、減算処理対象の高さ方向位置データを撮像順の略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して各基準データを作成するようにしたので、例えば長尺物が断面円形である場合は、高さ方向位置データから長尺物の外周面の円弧形状がキャンセルされ、長尺物が長手方向にうねりを伴っている場合でも、高さ方向位置データからうねり分がキャンセルされ、減算処理後の高さ方向位置データは長尺物の外周面の凹凸や傷のみを明確に示すものになる。
本発明によれば、減算処理後の高さ方向位置データは長尺物の外周面の凹凸や傷等のみを明確に示すものになるので、例えば減算処理された各高さ方向位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する場合は、その色調基準を長尺物の外周面形状やうねりの有無に拘わらずに設定することができ、外観検査を高精度で行う上で極めて有利である。
図1乃至図11は本発明の第1実施形態を示すもので、図1は長尺物の外観検査装置の要部斜視図、図2は長尺物の外観検査装置の要部側面図、図3は図2におけるA−A線断面図、図4はホースの要部斜視図、図5は撮像データの例、図6は図5の一部拡大図及び高さ方向位置データの例、図7は基準データの例、図8は減算処理された高さ方向位置データの例、図9は検査用画像の例、図10は長尺物の外観検査装置のブロック図、図11は制御部の動作を示すフローチャートである。
この長尺物の外観検査装置は、照射対象物上で線状となる光(以下、線状光Sという)を照射可能な複数の照射装置10と、ホースHをその長手方向に移動させる移動機構20と、ホースHをガイドするための第1ガイド機構30及び第2ガイド機構40と、各照射装置10の線状光SがホースHの外周面に照射されて成る照射線Lを線状光Sの光面と所定の角度α(本実施形態では略30°)をなす方向から撮像可能な複数の撮像装置50とを備えている。ホースHは、外周面に図示しない布部材を螺旋状に巻付けた状態で加硫するとともに加硫後に布部材を除去することにより成形される。ここで、布部材はナイロン等の繊維を編んで成形されているので、ホースHの外周面は布目跡が転写されて粗面状になる。また、布部材は互いに重なり合うように螺旋状に巻付けられるので、布部材同士が重なり合う部分に螺旋状の凹部SP(または凸部)が形成される。
各照射装置10から照射される線状光Sは赤色レーザー光から成り、線状光SはホースHの外周面に線状に照射される。本実施形態では照射装置10が4つ設けられ、各照射装置10は互いにホースHの周方向に90°ずれた位置に配置されている。また、各照射装置10は線状光Sの光面がホースHの長手方向と略垂直に交わるように配置されている。各照射装置10から照射された線状光Sは互いにホースHの周方向に繋がり、各照射装置10の線状光SがホースHの外周面に照射されてなる照射線LはホースHを一周している。
移動機構20は上下一対のベルトコンベヤ21を有し、各ベルトコンベヤ21の間にホースHを挟持するとともに、各ベルトコンベヤ21を回転させることにより、ホースHをその長手方向に移動可能である。
第1ガイド機構30は4つのガイド部材31を有し、各ガイド部材31は互いにホースHの周方向に略90°ずれた位置に配置されている。各ガイド部材31は照射線Lに対してホースHの搬送方向の上流側に配置され、各ガイド部材31は図示しないエアシリンダによってホースHの外周面に押付けられるようになっている。各ガイド部材31におけるホースHに押付けられる面はホースHの外周面との摩擦係数が0.12以下の低摩擦係数材料から成るとともに、ホースHの軸方向に延びるように形成されている。低摩擦係数材料の例としては、シリコン、フッ素樹脂、分子量が100万以上である超高分子ポリエチレン等が挙げられる。第1ガイド機構30に対してホースHの搬送方向の上流側にはホースHを第1ガイド機構30に案内する補助ガイド機構32が設けられている。
第2ガイド機構40は4つのガイド部材41を有し、各ガイド部材41は互いにホースHの周方向に略90°ずれた位置に配置されている。各ガイド部材41は照射線Lに対してホースHの搬送方向の下流側に配置され、各ガイド部材41は図示しないエアシリンダによってホースHの外周面に押付けられるようになっている。各ガイド部材41におけるホースHに押付けられる面はホースHの外周面との摩擦係数が0.12以下の低摩擦係数材料から成るとともに、ホースHの軸方向に延びるように形成されている。低摩擦係数材料の例としては、シリコン、フッ素樹脂、分子量が100万以上である超高分子ポリエチレン等が挙げられる。
各撮像装置50はX軸方向(ホースHの幅方向に応じた方向)及びX軸と直交しているY軸方向(ホースHの高さ方向に応じた方向)にそれぞれ複数ずつ画素を有する二次元撮像装置である。本実施形態では撮像装置50は4つ設けられ、各撮像装置50は互いにホースHの周方向に略90°ずれた位置に配置されている。また、各撮像装置50は各照射装置10とホースHの周方向に互い違いに配置され、各撮像装置50は各照射装置10と互いにホースHの周方向に略45°ずれた位置に配置されている。
各照射装置10、移動機構20、各撮像装置50は周知のマイクロコンピュータから成る制御部60に接続され、制御部60は液晶画面等の周知の表示装置61及び操作部62に接続されている。操作部62にはスタートボタンが設けられている。
以上のように構成された長尺物の外観検査装置において、ホースHの外観を検査する方法について、図4乃至図9と図11のフローチャートを参照しながら説明する。
先ず、ホースHが各ガイド機構30,40を通過して移動機構20の各ベルトコンベヤ21によって挟持されている状態で、操作部62のスタートボタンが操作されると(S1)、移動装置20によってホースHを移動させるとともに(S2)、各照射装置10によってホースHの外周面に向かって線状光Sを照射する(S3)。
続いて、各ベルトコンベヤ21の回転速度が所定の回転速度になり、ホースHが所定速度(本実施形態では35m/min)になると(S4)、各撮像装置50によってそれぞれ所定時間おき(本実施形態では1mm秒おき)にホースHの外周面の照射線Lを撮像する(S5)。即ち、ホースHが所定距離(本実施形態では0.58mm)移動する度に各撮像装置50による撮像が行われる。以下は各撮像装置50のうち1つの撮像装置50について説明するが、他の撮像装置50についても同様の処理が行われる。
続いて、撮像装置50によって撮像された各撮像データ(例えば図5参照)から、ホースHの各幅方向位置(X軸方向の各画素の位置)と照射線Lの高さ方向(Y軸方向)位置とを対応させた高さ方向位置データを抽出する(S6)。例えば、X軸方向の左から15番目の画素位置(図6のX15)における高さ方向位置が68.2となり、X軸方向の左から17番目の画素位置(図6のX17)における高さ方向位置が70.7となる高さ方向位置データが抽出される。また、高さ方向位置データはY軸方向の画素1つ分を1として数値化されたものであり、輝度の重心位置を周知のサブピクセル処理にて位置データとして抽出している。尚、図5及び図6は図4の照射線Lを撮像した撮像データであり、図4に示すホースHの外周面には凹状の傷Kが形成されている。
続いて、各撮像データに応じた各高さ方向位置データを各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する(S7)。この基準データは、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して作成される。具体的な例としては、撮像順が連続する所定個数(本実施形態ではt1〜t128)の減算処理前の高さ方向位置データを1つのグループとして扱い、そのグループ中の前半(t1〜t64)の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置(X軸方向の各画素の位置)ごとに平均化して前半基準データAv1を作成し、後半(t65〜t128)の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して後半基準データAv2を作成する(図7参照)。また、前半(t1〜t64)の高さ方向位置データは前半基準データAv1によって減算処理し、後半(t65〜t128)の高さ方向位置データは後半基準データAv2によって減算処理する。
次に、減算処理された各高さ方向位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像(図9参照)を作成するとともに表示装置61に表示させる(S8)。ここで、1枚の検査用画像には前記1グループ分(t1〜t128)の減算処理後の高さ方向位置データを使用する。また、所定の色調基準として、位置データの数値が小さいほど色を濃くする基準を用いると、ホースHの外周面において凹状の部分の色が他の部分に比べて濃くなり、ホースHの外周面において凸状の部分の色が他の部分に比べて薄くなる。即ち、図9に示すように、螺旋状の凹部SP及び傷Kの部分の色が他の部分に比べて濃くなる。
続いて、所定の判定基準に基づき、作成された検査用画像上の異常の有無を判定する(S9)。ここで、所定の判定基準には、螺旋状の凹部SPのピッチP及びホースHの長手方向に対する角度γの許容範囲が定められている。このため、検査用画像上にあらわれる凹部がピッチP及び角度γの許容範囲内であれば正常と判定され、検査用画像上にあらわれる凹部がピッチP及び角度γの許容範囲を超えるものであれば異常と判定される。また、所定の判定基準は、他の部分よりも許容範囲を超えて凸状の部分があれば異常と判定する。このため、図9のように螺旋状の凹部SPの他に傷Kによる凹部があらわれ、傷Kによる凹部と螺旋状の凹部SPとのピッチPが許容範囲内にないか、傷Kによる凹部の角度γが許容範囲内にない場合は、前述のように異常と判定される。
続いて、ステップS9において異常と判定された場合は、移動機構20によるホースHの移動を停止させる(S10)。
このように、本実施形態によれば、ホースHの外周面に向かって線状光Sが照射されることから、線状光SがホースHの外周面に照射されて成る照射線Lはその位置のホースHの輪郭を正確に示す。また、照射線Lが線状光Sの光面と所定の角度αをなす方向から撮像されるので、照射線Lの位置のホースHの輪郭が正確に撮像される。さらに、各照射装置10に対してホースHを長手方向に移動させながら、照射線Lを所定時間おきに撮像すると、ホースHの輪郭が長手方向に亘って連続的且つ正確に撮像される。また、各撮像データからホースHの各幅方向位置と照射線Lの高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出し、各高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理するとともに、減算処理された各高さ方向位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成し、検査用画像上の異常の有無を判定する上で、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して基準データを作成することから、高さ方向位置データからホースHの外周面の円弧形状がキャンセルされ、ホースHが長手方向にうねりを伴っている場合でも、高さ方向位置データからうねり分がキャンセルされ、減算処理後の高さ方向位置データはホースHの外周面の凹凸や傷のみを明確に示すものになる。即ち、本実施形態のようにホースHの外観検査を行う場合は、各ガイド機構30,40によってホースHを案内しても、ホースHが長手方向に若干うねるが、検査用画像を作成する際にホースHの外周面形状やうねりの有無に拘わらずに色調基準を設定することができ、外観検査を高精度で行う上で極めて有利である。
また、本実施形態のように、撮像順が連続する所定個数(t1〜t128)の減算処理前の高さ方向位置データを1つのグループとして扱い、1グループ分(t1〜t128)の減算処理後の高さ方向位置データを使用して1枚の検査用画像を作成する場合に、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと同じ検査用画像に用いられる減算処理前の高さ方向位置データのうち所定回数分をホースHの各幅方向位置ごとに平均化して基準データを作成するようにしたので、高さ方向位置データからホースHの外周面の円弧形状を正確にキャンセルすることができ、ホースHが長手方向にうねりを伴っている場合でも、高さ方向位置データからうねり分を正確にキャンセルすることができる。
尚、本実施形態では、1グループ分(t1〜t128)の減算処理後の高さ方向位置データを使用して1枚の検査用画像を作成するものを示したが、検査用画像を区切り無く連続的に作成することも可能である。この場合でも、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して基準データを作成することが可能である。
図12乃至図14は本発明の第2実施形態を示すもので、図12は基準データの例、図13は長尺物の外観検査装置の要部側面図、図14はX15における高さ方向位置の測定結果の例である。尚、第1実施形態と同等の構成部分には同一の符号を付して示す。
第2実施形態の外観検査装置は、第1実施形態と同等の各照射装置10、移動機構20、各ガイド機構30,40、各撮像装置50、制御部60、表示装置61及び操作部62を備えている。また、第1実施形態の図11のフローチャートのようにホースHの外観検査を行うようになっている。
ここで、第1実施形態では、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して基準データを作成するようにしたが、第2実施形態は、基準データを各高さ方向位置データごとにそれぞれ設け、減算処理対象の高さ方向位置データを撮像順の略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して各基準データを作成し、各基準データによって各高さ方向位置データを減算処理するようにしたものである。
具体的には、第1実施形態と同様に撮像順が連続する所定個数(本実施形態ではt1〜t128)の減算処理前の高さ方向位置データを1つのグループとして扱い、例えばt6の高さ方向位置データを撮像順の中央とする所定回数分(t2〜t10)のホースHの各幅方向位置(X軸方向の各画素の位置)ごとに平均化して第6基準データAv6を作成し(図12参照)、t6の高さ方向位置データを第6基準データAv6によって減算処理する。また、その他の高さ方向位置データに対応する基準データも同様に作成する。
ここで、ホースHがうねりを伴う場合、ホースHが部分的に長手方向に傾斜することになる。即ち、図13に示すように傾斜したホースHを撮像装置50によって撮像し、例えばX軸方向の左から15番目の画素位置(X15)における照射線Lの高さ方向位置を撮像順に並べると、図14(a)に示すように、ホースHの傾斜に応じて高さ方向位置が徐々に変化する。図14(a)の各高さ方向位置のデータを相加平均し、その相加平均した値で図14(a)の各高さ方向位置データを減算処理すると、図14(b)に示すように、ホースHの傾斜成分が減算処理後の各高さ方向位置データに含まれるようになる。これに対し、図12に示すように各高さ方向位置データごとに基準データを作成すると、各基準データのX15の値は図14(c)のようにホースHの傾斜に応じて徐々に変化するものとなり、その基準データで減算処理を行うと、図14(d)に示すように、ホースHの傾斜成分が減算処理後の各高さ方向位置データからキャンセルされる。
即ち、各高さ方向位置データごとにそれぞれ基準データを作成するとともに、減算処理対象の高さ方向位置データを撮像順の略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して各基準データを作成し、各基準データによって各高さ方向位置データを減算処理することから、第1実施形態と同様に、ホースHの外周面の円弧形状をキャンセルすることができるとともに、ホースHが長手方向にうねりを伴っている場合でも、高さ方向位置データからうねり分がキャンセルされ、減算処理後の高さ方向位置データはホースHの外周面の傷のみを明確に示すものになる。さらに、ホースHがうねりを伴っている場合に、うねりで傾斜している部分の外観検査を行う上で、高さ方向位置データからうねり成分をより正確にキャンセルすることができるので、外観検査を高精度で行う上で極めて有利である。
尚、本実施形態では、1グループ分(t1〜t128)の減算処理後の高さ方向位置データを使用して1枚の検査用画像を作成するものを示したが、検査用画像を区切り無く連続的に作成することも可能である。この場合でも、減算処理対象の高さ方向位置データを略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データをホースHの各幅方向位置ごとに平均化して各基準データを作成し、各基準データによって各高さ方向位置データを減算処理することが可能である。
また、第1及び第2実施形態では、長尺物としてホースHの外観を検査するものを示したが、長尺物として電線、板状部材等の外観を検査することも可能である。
尚、第1及び第2実施形態では、ホースHを移動機構20によって移動させることにより、ホースHと各照射装置10とを相対的に移動させるものを示したが、ホースHを移動させる代わりに各照射装置10をホースHの長手方向に移動させることにより、ホースHと各照射装置10とを相対的に移動させることも可能である。
また、第1及び第2実施形態では、撮像順が連続する所定個数(本実施形態ではt1〜t128)の減算処理前の高さ方向位置データを1つのグループとして扱い、1グループ分(t1〜t128)の減算処理後の高さ方向位置データを使用して1枚の検査用画像を作成するものを示した。ここで、検査用画像はホースHの移動に応じて連続的に作成されるが、例えば後に作成される検査用画像の高さ方向位置データと先に作成される検査用画像の高さ方向位置データを一部重複させることも可能である。これにより、2枚の検査用画像を跨いであらわれる凹凸や傷を見逃すことがなく、ホースHの外観検査を正確に行う上で極めて有利である。
尚、第1及び第2実施形態では、各高さ方向位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べ、色分けされた検査用画像を作成するようにしたものを示したが、各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べ、立体的な検査用画像を作成することも可能である。
また、第1及び第2実施形態では、ホースHの外周面の傷Kが検査用画像上にあらわれるものを示したが、布部材の巻き付け異常によってホースHの外周面に凹凸が生ずる場合でも、その凹凸が検査用画像上にあらわれる。この場合でも、凹凸が前記ピッチP及び角度γの許容範囲内にない時は、その検査用画像が異常と判定される。
本発明の第1実施形態を示す長尺物の外観検査装置の要部斜視図 長尺物の外観検査装置の要部側面図 図2におけるA−A線断面図 ホースの要部斜視図 撮像データの例 図5の一部拡大図及び高さ方向位置データの例 基準データの例 減算処理された高さ方向位置データの例 検査用画像の例 長尺物の外観検査装置のブロック図 制御部の動作を示すフローチャート 本発明の第2実施形態を示す基準データの例 長尺物の外観検査装置の要部側面図 X15における高さ方向位置の測定結果の例
符号の説明
10…照射装置、20…移動機構、21…コンベヤベルト、30…第1ガイド機構、31…ガイド部材、32…補助ガイド機構、40…第2ガイド機構、41…ガイド部材、50…撮像装置、60…制御部、61…表示装置、62…操作部、H…ホース、S…線状光、L…照射線、SP…螺旋状の凹部、K…凹状の傷、P…ピッチ、γ…角度。

Claims (6)

  1. 長尺物の外周面に向かって所定の光源から線状光を照射するとともに、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させながら、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像する工程と、
    各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する工程と、
    各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する工程と、
    減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する工程と、
    所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する工程とを含む長尺物の外観検査方法であって、
    前記基準データを、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して作成する
    ことを特徴とする長尺物の外観検査方法。
  2. 前記基準データを、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと同じ検査用画像に用いられる減算処理前の高さ方向位置データのうち所定回数分を長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して作成する
    ことを特徴とする請求項1記載の長尺物の外観検査方法。
  3. 長尺物の外周面に向かって所定の光源から線状光を照射するとともに、光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させながら、線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像する工程と、
    各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する工程と、
    各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する工程と、
    減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する工程と、
    所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する工程とを含む長尺物の外観検査方法であって、
    前記基準データを各高さ方向位置データごとにそれぞれ設け、
    各基準データを、減算処理対象の高さ方向位置データを撮像順の略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して作成する
    ことを特徴とする長尺物の外観検査方法。
  4. 長尺物の外周面に向かって線状光を照射する光源と、
    光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させる移動機構と、
    線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像可能な撮像装置と、
    撮像装置によって撮像された各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する位置データ抽出手段と、
    各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する減算処理手段と、
    減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する検査用画像作成手段と、
    所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する判定手段とを備えた長尺物の外観検査装置であって、
    減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと撮像順が近い所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して前記基準データを作成する基準データ作成手段を備えた
    ことを特徴とする長尺物の外観検査装置。
  5. 前記基準データ作成手段を、減算処理対象の高さ方向位置データ及びその高さ方向位置データと同じ検査用画像に用いられる減算処理前の高さ方向位置データのうち所定回数分を長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して基準データを作成するように構成した
    ことを特徴とする請求項4記載の長尺物の外観検査装置。
  6. 長尺物の外周面に向かって線状光を照射する光源と、
    光源と長尺物とを長尺物の長手方向に相対的に移動させる移動機構と、
    線状光が長尺物の外周面に照射されて成る照射線を線状光面と所定の角度をなす方向から所定時間おきに撮像可能な撮像装置と、
    撮像装置によって撮像された各撮像データから長尺物の各幅方向位置と照射線の高さ方向位置とを対応させた高さ方向位置データをそれぞれ抽出する位置データ抽出手段と、
    各高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに設けられた基準データによって減算処理する減算処理手段と、
    減算処理された各高さ方向位置データを所定の基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する検査用画像作成手段と、
    所定の判定基準に基づき検査用画像上の異常の有無を判定する判定手段とを備えた長尺物の外観検査装置であって、
    前記基準データ作成手段を、各高さ方向位置データごとにそれぞれ基準データを作成するとともに、減算処理対象の高さ方向位置データを撮像順の略中央とする所定回数分の減算処理前の高さ方向位置データを長尺物の各幅方向位置ごとに平均化して各基準データを作成するように構成した
    ことを特徴とする長尺物の外観検査装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010000693A (ja) * 2008-06-20 2010-01-07 Murata Mach Ltd フィラメントワインディング装置
JP2010197106A (ja) * 2009-02-23 2010-09-09 Yokohama Rubber Co Ltd:The 長尺物の外観検査方法及びその装置
JP2010197107A (ja) * 2009-02-23 2010-09-09 Yokohama Rubber Co Ltd:The 長尺物の外観検査方法及びその装置
JP2010197105A (ja) * 2009-02-23 2010-09-09 Yokohama Rubber Co Ltd:The 長尺物の外観検査方法及びその装置
JP2015094707A (ja) * 2013-11-13 2015-05-18 リコーエレメックス株式会社 外観検査装置
JP2017536549A (ja) * 2014-11-25 2017-12-07 コーニング インコーポレイテッド ハニカム体製造のための押出物インライン検査およびフィードバック制御の方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62503121A (ja) * 1985-06-14 1987-12-10 ザ ブロ−クン ヒル プロプライエタリ− カンパニ− リミテツド 物体の表面の少なくとも一部分の横断面形状又は輪郭に関する情報を得る方法及び装置
JPH02226003A (ja) * 1989-02-27 1990-09-07 Toyoda Gosei Co Ltd 成形品の光学式検出装置
JPH06241740A (ja) * 1993-02-17 1994-09-02 Nippon Steel Corp 電縫管溶接ビード切削不良・欠陥検出方法
JPH07260444A (ja) * 1994-03-24 1995-10-13 Nippon Avionics Co Ltd 光切断法による対象物の三次元計測方法およびその装置
JP2003057020A (ja) * 2001-06-05 2003-02-26 D S Giken:Kk 形状測定装置
JP2003172611A (ja) * 2001-12-07 2003-06-20 Hamamatsu Photonics Kk 物体表面形状計測装置
JP2004198374A (ja) * 2002-12-20 2004-07-15 Nippon Shokubai Co Ltd 薄板表面の形状異常検出法および装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62503121A (ja) * 1985-06-14 1987-12-10 ザ ブロ−クン ヒル プロプライエタリ− カンパニ− リミテツド 物体の表面の少なくとも一部分の横断面形状又は輪郭に関する情報を得る方法及び装置
JPH02226003A (ja) * 1989-02-27 1990-09-07 Toyoda Gosei Co Ltd 成形品の光学式検出装置
JPH06241740A (ja) * 1993-02-17 1994-09-02 Nippon Steel Corp 電縫管溶接ビード切削不良・欠陥検出方法
JPH07260444A (ja) * 1994-03-24 1995-10-13 Nippon Avionics Co Ltd 光切断法による対象物の三次元計測方法およびその装置
JP2003057020A (ja) * 2001-06-05 2003-02-26 D S Giken:Kk 形状測定装置
JP2003172611A (ja) * 2001-12-07 2003-06-20 Hamamatsu Photonics Kk 物体表面形状計測装置
JP2004198374A (ja) * 2002-12-20 2004-07-15 Nippon Shokubai Co Ltd 薄板表面の形状異常検出法および装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010000693A (ja) * 2008-06-20 2010-01-07 Murata Mach Ltd フィラメントワインディング装置
JP2010197106A (ja) * 2009-02-23 2010-09-09 Yokohama Rubber Co Ltd:The 長尺物の外観検査方法及びその装置
JP2010197107A (ja) * 2009-02-23 2010-09-09 Yokohama Rubber Co Ltd:The 長尺物の外観検査方法及びその装置
JP2010197105A (ja) * 2009-02-23 2010-09-09 Yokohama Rubber Co Ltd:The 長尺物の外観検査方法及びその装置
JP2015094707A (ja) * 2013-11-13 2015-05-18 リコーエレメックス株式会社 外観検査装置
JP2017536549A (ja) * 2014-11-25 2017-12-07 コーニング インコーポレイテッド ハニカム体製造のための押出物インライン検査およびフィードバック制御の方法

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