JP4451004B2 - 光再生装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ビームの照射により生じる熱によって記録マークを読み出す開口部分の大きさを制御することにより再生分解能を向上させる、いわゆる磁気的超解像媒体を用いた光記録媒体を再生するための例えば光ディスク装置等の光再生装置に関するものであり、特に、再生時における光ビームの照射強度を最適に制御するものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
光磁気ディスク装置においては、記録層と面内磁化とを有する再生層とを備えた磁気的超解像方式の光磁気ディスクに対して、再生層側から光ビームを照射して、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生する方式が提案されている。
【０００３】
上記方式では、光ビームの照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分（以下、「アパーチャ」と記す）のみの再生層に、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークの再生が可能となる。
【０００４】
この方式においては、光ビームを発生させる駆動電流を一定に保っていても、再生時の環境温度の変化に応じて光ビームの最適な再生パワーが変動してしまうことがある。
【０００５】
そして、再生パワーが強くなり過ぎるとアパーチャが大きくなり過ぎて、隣接するトラックからの再生信号の出力が増大し、再生されるデータに含まれる雑音信号の割合が多くなって、読み取りエラーの発生する確率が高くなる。また、再生パワーが弱くなり過ぎると、記録マークよりもアパーチャが小さくなるとともに、読み取ろうとしているトラックからの再生信号の出力も小さくなって、やはり読み取りエラーの発生確率が高くなる。
【０００６】
そこで、この問題を解決するために、特開平８−６３８１７号公報では、光磁気ディスク上に記録された異なる２種類の長さの再生パワー制御用マークを再生し、それらの再生信号振幅の比が所定値に近づくように再生パワーを制御することによって、再生パワーを常に最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させている。
【０００７】
すなわち、短マークはアパーチャ径よりも小さいため、再生パワーを大きくするつまりアパーチャ径を大きくすることに伴って、アパーチャに占める短マークの面積の割合は小さくなるので、短マークの振幅は小さくなる。ただし、再生パワーを大きくすると光量も多くなり、このことは短マークの振幅を大きくする方向に働く。一方、アパーチャ径よりも大きな長マークを再生すると、再生パワーによってアパーチャ径が変化しても、アパーチャに占める長マークの面積は、常に１００％である。このため、再生パワー変化に対する長マークの振幅変化は、光量の変化分に対応すると考えられる。そこで、短マーク振幅を長マーク振幅で割った値つまり短マーク振幅を長マーク振幅で正規化した比は、アパーチャ径の変化分に対応する値となるので、この比を一定にすることは、アパーチャ径を一定とすることを意味する。したがって、長短マーク振幅比を一定にすることによって、環境温度やチルトに対して常に最適な再生パワーに制御することが可能となる。
【０００８】
次に、この種の再生パワー最適化方法を具体的に説明する。
【０００９】
先ず、光再生装置の構造を図５に示すとともに、図６には、この光再生装置によって再生される光磁気ディスク２２０の構造を模式的に示す。ここで、上記光磁気ディスク２２０における一単位の記録領域であるセクタ３００は、セクタの位置を示すアドレス領域３０１と、再生パワー制御用マークを記録する再生パワー制御用領域３０２と、デジタル情報データを記録するデータ記録領域３０３とから構成されている。
【００１０】
上記の再生パワー制御用マークは、図７（ａ）（ｂ）に示すように、長さ２Ｔのマークが長さ２Ｔのスペース毎に設けられる短マークパターンと、長さ８Ｔのマークが長さ８Ｔのスペース毎に設けられる長マークパターンとから構成されている。すなわち、Ｔはチャネルビット長を示すものであり、図７（ａ）に示す短マークパターンでは、２Ｔマークとして示される長さ２×Ｔのビット長のマークと、２Ｔスペースとして示される長さ２×Ｔのビット長のスペースとが交互に繰り返されて構成されている。また、図７（ｂ）に示す長マークパターンでは、８Ｔマークとして示される長さ８×Ｔのビット長のマークと、８Ｔスペースとして示される長さ８×Ｔのビット長のスペースとが交互に繰り返されて構成されている。したがって、例えば、チャネルビット長が１ビットであるとした場合には、２進数においては、具体的には、短マークパターンとは「１１００」のビット配列が繰り返されたものをいい、長マークパターンとは「１１１１１１１１００００００００」が繰り返されたものをいう。そして、これら短マークパターン及び長マークパターンが再生パワー制御用領域３０２に記録されているものとなっている。
【００１１】
上記の光再生装置では、図５に示すように、半導体レーザ２０２からの出射光は、光磁気ディスク２２０上の前記セクタ３００のアドレス領域３０１に到達すると、図示しないアドレスデコーダにて目標セクタアドレスが認識される。続いて出射光が再生パワー制御用領域３０２に照射されると、その領域に記録された短マークパターン及び長マークパターンからの反射光がフォトダイオード２０３によって再生信号に変換され、Ａ／Ｄ変換器２０５によってＡ／Ｄ変換された後、それぞれ短マーク振幅検出回路２２１と長マーク振幅検出回路２２２とに入力されて、短マークパターンにおける短マークの振幅値及び長マークパターンにおける長マークの振幅値がそれぞれ求められる。なお、ここでのＡ／Ｄ変換は、ＰＬＬ（Phase Locked Loop)で構成される再生クロック抽出回路２０４により再生信号から抽出されたクロックのタイミングによって行われる。
【００１２】
こうして求められた短マークパターンにおける短マークつまり２Ｔマークの振幅値、及び長マークパターンにおける長マークつまり８Ｔマークの振幅値はそれぞれ割り算回路２１０に入力されて振幅比＝２Ｔマークの振幅値／８Ｔマークの振幅値として出力され、この振幅比と目標振幅比とが差動増幅器２１１によって比較され、その差が小さくなる方向にフィードバックがかかるようにレーザパワー制御回路２１２が半導体レーザ２０２の駆動電流を出力する。
【００１３】
このようにして最適な再生パワーが与えられるようにレーザ光が制御された後、出射光は前記データ記録領域３０３に照射され、読み出された再生信号が二値化処理回路２１３に入力されて、エラーレートの低い再生情報データが出力される。そして、出射光が次のセクタ３００に到達すると、同様の処理が繰り返されて、新たに最適な再生パワーに設定し直される。
【００１４】
このように、再生パワー制御用マークの記録領域をセクタ３００…毎に分散して設けて、セクタ３００…毎に再生パワー制御のための再生信号量を検出することにより、短い時間間隔で再生パワー制御が応答し、最適再生パワーの短時間の変動に追従することができる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の光再生装置では、各セクタ３００…毎に再生パワー制御用領域３０２を備える必要があるため、情報データを記録するための領域がその分だけ減ることになり、光記録媒体の利用率が低下するという欠点がある。
【００１６】
そこで、セクタ３００…毎に再生パワー制御用領域３０２を設けずに、データ記録領域３０３に記録された情報データのビット配列パターンから２Ｔマークと８Ｔマークとを検出し、これらに対応する再生信号から振幅値を求める方式が考えられる。しかし、この方式においては、次のような問題が発生する。
【００１７】
先ず、図８（ａ）に示すように、「２Ｔ２Ｔ２Ｔ２Ｔ」にて示される２Ｔマーク及び２Ｔスペースのみにて構成される短マークパターンにおける再生波形は、同図８（ａ）に示す曲線にて表される。一方、図８（ｂ）に示すように、２Ｔスペース及び２Ｔマークの前後に３Ｔマーク及び３Ｔスペースが連なったマークパターン「３Ｔ２Ｔ２Ｔ３Ｔ」の再生波形は、同図８（ｂ）に示す曲線にて表されるように、３Ｔマーク及び３Ｔスペースでは振幅値が２Ｔスペース及び２Ｔマークの振幅値よりも大きくなる。また、図８（ｃ）に示すように、２Ｔスペース及び２Ｔマークの前後に４Ｔマーク及び４Ｔスペースが連なったマークパターン「４Ｔ２Ｔ２Ｔ４Ｔ」の再生波形は、同図８（ｃ）に示す曲線にて表されるように、４Ｔマーク及び４Ｔスペースでは振幅値が３Ｔスペース及び３Ｔマークの振幅値よりもさらに大きくなる。同様にして、図８（ｄ）に示すように、２Ｔスペース及び２Ｔマークの前後に５Ｔマーク及び５Ｔスペースが連なったマークパターン「５Ｔ２Ｔ２Ｔ５Ｔ」の再生波形は、同図８（ｄ）に示す曲線にて表されるように、５Ｔマーク及び５Ｔスペースでは振幅値が４Ｔスペース及び４Ｔマークの振幅値よりもさらに大きくなる。
【００１８】
ここで、２Ｔマークは光ビームのアパーチャ径よりも小さいため、その再生波形は前後のマーク又はスペースからの波形干渉を受ける。この波形干渉を受ける度合いは、前後にあるマーク又はスペースの長さによって異なる。
【００１９】
実際に光磁気ディスク２２０から読み出した再生信号を用いた測定によって確認した結果は、図９のように示される。同図に示す横軸は図８（ａ）〜（ｄ）の各マークパターンであり、縦軸は各マークパターンの再生信号における２Ｔマークの振幅値を測定した結果である。この実測結果からも、前後のスペース長によって２Ｔマークの振幅値が変化することが確認できる。すなわち、前後のスペース長が３Ｔ、４Ｔと長くなるに伴って、その長いスペース長の影響を受けて２Ｔマーク振幅値が大きくなる。
【００２０】
このように、個々の２Ｔマーク振幅値は、２Ｔマークの前後のスペース長によって変化するため、大きなばらつきを持っている。この結果、情報データのビット配列パターンに含まれる２Ｔマークの再生波形から２Ｔマーク振幅値を求めるためには、複数の２Ｔマークを検出して得られた個々の振幅値を平均化するのが好ましいことが分かる。例えば、再生パワーの制御単位をセクタ３００とした場合、各セクタ３００…に含まれる全ての情報データのビット配列パターンから２Ｔマークを検出して得られた振幅値を平均化することになる。しかし、このとき、２Ｔマークの前後の各スペース長の出現確率は各セクタによって異なっているため、平均化して得られた振幅値も各セクタ３００…によって大きなばらつきを持つことになり、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうことになる。
【００２１】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、光記録媒体の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光再生装置を提供することにある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
本発明の光再生装置は、上記課題を解決するために、光記録媒体に記録された情報データから長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの例えば振幅値等の再生信号特性をそれぞれ測定する所定長マーク信号測定手段を備え、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御する光再生装置において、上記所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定することを特徴としている。
【００２３】
上記の発明によれば、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生するに際して、再生時の環境温度の変化による光ビームの最適な再生パワーの変動を防止すべく、光記録媒体に記録された情報データから長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの再生信号特性を所定長マーク信号測定手段にてそれぞれ測定し、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御する。
【００２４】
ところで、従来では、光記録媒体の各セクタ毎に再生パワー制御用領域を備えていたので、情報データを記録するための領域がその分だけ減ることになり、光記録媒体の利用率が低下するという欠点があった。そこで、この問題を解決するために、情報データのビット配列パターンから再生パワー制御用マークを検出することが考えられるが、情報データのビット配列パターンには、各種の配列パターンが存在する。また、特に、例えば２Ｔマーク等のアパーチャ径よりも短い長さの再生パワー制御用マークについては、その前後に存在する長さの再生パワー制御用マークの波形干渉によって、その短い長さの再生パワー制御用マークの再生信号特性が影響を受ける。
【００２５】
そこで、本発明では、所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定する。
【００２６】
この結果、短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する例えば振幅値等の再生信号特性を測定するので、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定に際して、短い長さの再生パワー制御用マークの前後の影響を回避することができる。このため、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定値がばらつくのを防止し、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうのを防止することができる。
【００２７】
したがって、光記録媒体の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光再生装置を提供することができる。
【００２８】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、光記録媒体の再生信号から情報データビットを再生するデータ再生手段と、上記データ再生手段にて再生された情報データのビット配列パターンと特定パターンとを比較することにより一致を検出する比較手段と、上記比較手段により一致を検出した特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークに対応する情報データビットの再生信号特性を測定する信号測定手段とを備えていることを特徴としている。
【００２９】
上記の発明によれば、データ再生手段にて、光記録媒体の再生信号から情報データビットを再生し、比較手段がこのデータ再生手段にて再生された情報データのビット配列パターンと特定パターンとを比較することにより一致を検出する。
【００３０】
そして、信号測定手段は、比較手段により一致を検出した特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークに対応する情報データビットの再生信号特性を測定する。
【００３１】
これによって、具体的な所定長マーク信号測定手段を構成することができる。
【００３２】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークであり、特定パターンはｍＴ・２Ｔ・２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）の長さ配列のパターンからなっていることを特徴としている。
【００３３】
上記の発明によれば、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークである。また、特定パターンは、短い長さの再生パワー制御用マークを有する２Ｔ・２Ｔを有している。したがって、情報データのビット配列パターンから、再生信号特性の測定に必要な２Ｔ・２Ｔをパターンを検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定することができる。
【００３４】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、ｍ＝ｎ＝２であることを特徴としている。
【００３５】
上記の発明によれば、特定パターンはｍＴ・２Ｔ２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数である。また、説明を判り易くするために、中央の「２Ｔ・２Ｔ」を「２Ｔ２Ｔ」と表現する）の長さ配列のパターンからなっているとともに、ｍ＝ｎ＝２となっている。すなわち、特定パターンは２Ｔ・２Ｔ２Ｔ・２Ｔと表される。
【００３６】
このことは、中央に２Ｔ２Ｔが構成され、その前後においても各２Ｔのパターンが配されることになる。したがって、この２Ｔ２Ｔの前後のパターンが２Ｔと異なる場合には、その前後に存在する長さのパターンの波形干渉によって、２Ｔマークの再生信号特性が影響を受けるが、本発明では、２Ｔ２Ｔの前後がいずれも２Ｔのパターンにて構成されるので、前後のパターンが２Ｔと異なることによる影響を防止することができる。
【００３７】
また、２Ｔマークの前後のマーク長さを最も出現頻度の高い２Ｔマークとすることによって、より多くの２Ｔマークを検出することができるため、求めた２Ｔマークの再生信号特性について平均値を求めて測定値とする場合においても、平均化後の２Ｔマーク振幅値のばらつきを一層小さくすることができる。
【００３８】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに備えられていることを特徴としている。
【００３９】
上記の発明によれば、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに設けられているので、再生条件制御手段によって、確実に、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御することができる。
【００４０】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値の比を測定する一方、再生条件制御手段は、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御することを特徴としている。
【００４１】
上記の発明によれば、所定長マーク信号測定手段にて、長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値の比を測定し、再生条件制御手段にて、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御する。
【００４２】
したがって、これによって、具体的かつ確実に光ビームの再生パワーを適正に制御することができる。
【００４３】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の一形態について図１ないし図４に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００４４】
本実施の形態の光再生装置としての光磁気ディスク再生装置は、図１に示すように、半導体レーザ２、フォトダイオード３、再生クロック抽出回路４、Ａ／Ｄ変換器５、割り算回路１０、差動増幅器１１、レーザパワー制御回路１２及び二値化処理回路１３を備えている。なお、上記の各手段は、前記図５に示す従来技術のものと同様である。また、上記半導体レーザ２、フォトダイオード３、Ａ／Ｄ変換器５及び二値化処理回路１３は、本発明のデータ再生手段としての機能を有しているとともに、上記差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２は、本発明の再生条件制御手段としての機能を有している。
【００４５】
本実施の形態では、上記各手段の他に、さらに、再生された情報データパターンから２Ｔマークを含む特定パターンを検出する短マークパターン検出回路６、同様に情報データパターンから８Ｔマークを含む特定パターンを検出する長マークパターン検出回路７、短マークパターン検出回路６が特定パターンを検出する毎に、そのパターンに対応する再生信号のＡ／Ｄ変換値から２Ｔマークの振幅値を取り出して平均化を行う短マーク振幅計算回路８、同様に長マークパターン検出回路７が特定パターンを検出する毎に、そのパターンに対応する再生信号のＡ／Ｄ変換値から８Ｔマークの振幅値を取り出して平均化を行う長マーク振幅計算回路９とを備えている。ただし、上記のＴはチャネルビット長である。なお、上記の短マークパターン検出回路６及び長マークパターン検出回路７は、本発明の比較手段としての機能を有するとともに、短マーク振幅計算回路８及び長マーク振幅計算回路９は、本発明の信号測定手段としての機能を有している。
【００４６】
また、光記録媒体としての光磁気ディスク１は、従来技術のものとは異なり、図２に示すように、セクタ１００が再生パワー制御用領域を持たず、アドレス領域１０１及びデータ記録領域１０２のみの構成となっている。したがって、これによって、ディスク利用率が向上したものとなっている。
【００４７】
上記構成の光磁気ディスク再生装置による再生動作を説明する。
【００４８】
先ず、図１に示すように、半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク１上の前記セクタ１００のアドレス領域１０１に到達すると、その反射光がフォトダイオード３によって電気信号に変換され再生信号として出力される。こうして得られた前記アドレス領域１０１の再生信号から、図示しないアドレスデコーダにて目標セクタアドレスが認識される。
【００４９】
続いて、出射光がデータ記録領域１０２に照射されると、その反射光はフォトダイオード３及びＡ／Ｄ変換器５を介して二値化処理回路１３、短マーク振幅計算回路８及び長マーク振幅計算回路９に入力される。上記二値化処理回路１３は、デジタル再生信号から前記データ記録領域１０２に記録された０、１の２進数で表される元の情報データパターンを復号する。この情報データパターンは、短マークパターン検出回路６にて、２Ｔを含む特定パターンとの一致判定が行われる。そして、その判定結果は、短マーク振幅計算回路８にて監視され、一致したと判定された場合には、その情報データパターンに対応する再生信号に含まれる２Ｔ再生信号から２Ｔ振幅値が求められる。
【００５０】
これらの処理は、セクタ１００のデータ記録領域１０２全体に対して行われ、求められた個々の２Ｔ振幅値は平均化されて、セクタ１００の平均２Ｔ振幅値として出力される。ここで、一対の２Ｔマーク及び２Ｔスペース（以下、「２Ｔ２Ｔ」と表す）の前後に所定長のマークを備えたパターン、すなわちｍＴ２Ｔ２ＴｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）なるパターンを特定パターンとして設定しておけば、得られる個々の２Ｔ振幅値は全て、前後に同じマーク長を持った２Ｔパターンの再生信号から求められるので、これらを平均化した２Ｔ振幅値のばらつきは非常に小さなものとなる。
【００５１】
また、２Ｔマークのように、アパーチャ径よりも小さなマークの場合においては波形干渉の影響を特に強く受けるため、この効果は顕著なものとなる。さらに、ｍ＝ｎ＝２、すなわち２Ｔ２Ｔ２Ｔ２Ｔなるパターンは他のｍ、ｎのパターンに比べて最も出現頻度が高いと考えられるので、これを特定パターンとして設定しておけば、より多くの２Ｔマークを検出でき、平均化後の２Ｔ振幅値のばらつきを一層小さくすることができる。
【００５２】
同様に、上記長マークパターン検出回路７において、復号された情報データパターンが８Ｔを含む特定パターンと一致したと判定された場合には、長マーク振幅計算回路９にて８Ｔ振幅値が求められ、セクタ１００全体で得られた個々の８Ｔ振幅値は平均化されて、平均８Ｔ振幅値として出力される。
【００５３】
こうして得られた平均２Ｔ振幅値及び平均８Ｔ振幅値は、割り算回路１０にて割り算されてセクタ１００の振幅比が求められる。
【００５４】
以降は、従来技術の場合と同様に、半導体レーザ２の再生パワーがこの振幅比に基づいて制御されるが、上記で説明したように、２Ｔ振幅値のばらつきが特に小さく抑えられているため、制御された再生パワーの誤差も非常に小さくなっており、エラーレートの極めて低いデータ再生を実現することが可能となっている。
【００５５】
次に、上記構成における２Ｔ振幅値の検出から平均化までの構成及び動作について、さらに詳細に説明する。
【００５６】
図３に示すように、短マークパターン検出回路６は、二値化処理回路１３から出力される情報データビットを最新のものから１０ビット分だけ順次記憶する１０段１ビットシフトレジスタ６１、特定パターンとしての２Ｔを含む特定パターンとして「１００１１００１１０」を記憶するレジスタ６２、同様に特定パターンとしての２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」を記憶するレジスタ６３、１０段１ビットシフトレジスタ６１とレジスタ６２とをビット毎に比較して全ビットが一致するか否かを判定するコンパレータ６４、同様に１０段１ビットシフトレジスタ６１とレジスタ６３との一致を判定するコンパレータ６５、及びコンパレータ６４とコンパレータ６５との論理和を求めるＯＲ回路６６から構成されている。
【００５７】
一方、短マーク振幅計算回路８は、Ａ／Ｄ変換器５から出力されるｎビット（ｎはＡ／Ｄ変換器５の量子化ビット数）の再生信号データを最新のものから６個分だけ順次記憶する６段ｎビットシフトレジスタ８１、入力された２つの例えば値Ａと例えば値Ｂとの差の絶対値｜Ａ−Ｂ｜を求める減算器８２、入力データを順次加算して合計を求める合計回路８３、カウンタ８４、及び割り算回路８５から構成されている。
【００５８】
上記構成の短マークパターン検出回路６及び短マーク振幅計算回路８では、二値化処理回路１３から出力されて１０段１ビットシフトレジスタ６１に記憶された情報データビット列「Ｂ０、Ｂ１、…、Ｂ９」は、レジスタ６２に記憶された「１００１１００１１０」とコンパレータ６４にて比較されると同時に、レジスタ６３に記憶された「０１１００１１００１」ともコンパレータ６５にて比較される。
【００５９】
これらの比較結果は、ＯＲ回路６６に入力され、両者の論理和が一致信号として短マーク振幅計算回路８内の合計回路８３とカウンタ８４とに送られる。すなわち、情報データビット列「Ｂ０、Ｂ１、…、Ｂ９」が「１００１１００１１０」又は「０１１００１１００１」のいずれかと一致した時に一致信号が送られる。
【００６０】
一方、Ａ／Ｄ変換器５から出力された再生信号のｎビットデジタルデータ列「Ｄ４、Ｄ５、…、Ｄ９」は、１０段１ビットシフトレジスタ６１と同期して順次６段ｎビットシフトレジスタ８１に記憶されている。なお、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、Ｄ４、Ｄ５、…、Ｄ９はそれぞれ情報データビットＢ４、Ｂ５、…、Ｂ９の再生信号波形に対応するサンプリング点のデジタルデータを表しているものとする。
【００６１】
ここで、１０段１ビットシフトレジスタ６１の記憶データが古いものから順にＢ０、Ｂ１、…である時、６段ｎビットシフトレジスタ８１の記憶データは古いものから順にＤ４、Ｄ５、…となっている。そして、データＤ４とデータＤ６との差の絶対値が減算器８２にて求められている。
【００６２】
ここで、ＯＲ回路６６から一致信号が送られてくると、合計回路８３はその時点において減算器８２から出力されている値、すなわち｜Ｄ４−Ｄ６｜を加算すると同時に、カウンタ８４をインクリメントする。
【００６３】
以上の処理をセクタ１００全体に渡って行うので、セクタ１００の最後まで再生が終わった時点で、合計回路８３にはセクタ１００の情報データパターンに含まれる全ての特定パターン「１００１１００１１０」又は「０１１００１１００１」に対応する個々の再生波形の２Ｔ振幅値の総和が記憶されている。また、カウンタ８４にはセクタ１００に含まれていた特定パターンの総数が記憶されている。これらが割り算回路８５にて割り算されて、セクタ１００の平均２Ｔ振幅値として短マーク振幅計算回路８から出力される。なお、長マークパターン検出回路７と長マーク振幅計算回路９とによって実現される８Ｔ振幅値の検出から平均化までの構成及び動作については、上記短マークパターン検出回路６及び短マーク振幅計算回路８によって行われる２Ｔ振幅値の場合と原理的には全く同様であるので、詳細な説明は省略する。ただし、この場合において、長マークパターン検出回路７の各レジスタに記憶されているのは例えば一方が「０１１１１１１１１００００００００１」であり、他方は「１００００００００１１１１１１１１０」となる。
【００６４】
このように、二値化処理後の再生情報データから特定パターンを検出して、その特定パターンに対応する再生信号から所定長マークの振幅値を確実に求めて平均化することができる。
【００６５】
なお、本実施の形態においては、短マークとして２Ｔ、及び長マークとして８Ｔを用いたが、これらに限らないことは勿論であり、変調方式によって決まる最短マーク長を考慮して最も適切なマーク長を選べばよい。
【００６６】
また、上記の説明においては、２Ｔマークの振幅値を再生波形のピーク位相でサンプリングして求める場合として説明したが、二値化処理方法として例えばＰＲ（１，２，１）特性に基づくＰＲＭＬ(Partial Response Maximam Likelihood) 検出法を用いる場合、２Ｔマーク再生波形のサンプリング位相はピークから半クロックずれるため、特定パターンに含まれる一対の２Ｔマークに対応する波形から、上下各々２つずつの位相でサンプリングされた値を用いて振幅を計算する構成にしてもよい。
【００６７】
また、本実施の形態では、光再生装置の例として光磁気ディスク再生装置について説明したが、本発明の光再生装置はこれに限られるものではなく、例えば本発明を相変化方式の光ディスク等の光再生装置に適用してもよい。
【００６８】
このように、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生するに際して、再生時の環境温度の変化による光ビームの最適な再生パワーの変動を防止すべく、光磁気ディスク１に記録された情報データから、例えば２Ｔマーク及び８Ｔマークの長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値を所定長マーク信号測定手段にてそれぞれ測定し、それら各振幅値に基づいて光ビームの再生パワーを制御する。
【００６９】
ところで、従来では、光磁気ディスク１の各セクタ毎に再生パワー制御用領域を備えていたので、情報データを記録するための領域がその分だけ減ることになり、光磁気ディスク１の利用率が低下するという欠点があった。そこで、この問題を解決するために、情報データのビット配列パターンから再生パワー制御用マークを検出することが考えられるが、情報データのビット配列パターンには、各種の配列パターンが存在する。また、特に、例えば２Ｔマーク等のアパーチャ径よりも短い長さの再生パワー制御用マークについては、その前後に存在する長さの再生パワー制御用マークの波形干渉によって、その２Ｔマークの振幅値が影響を受ける。
【００７０】
そこで、本実施の形態では、２Ｔマークを含む特定パターンとしての「１００１１００１１０」又は「０１１００１１００１」を情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる、中央の「１１００」又は「００１１」にのみ対応する２Ｔマーク振幅値を測定する。
【００７１】
この結果、２Ｔマークにのみ対応する振幅値を測定するので、２Ｔマークの振幅値の測定に際して、２Ｔマークの前後の影響を回避することができる。このため、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定値がばらつくのを防止し、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうのを防止することができる。
【００７２】
したがって、光磁気ディスク１の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光磁気ディスク再生装置を提供することができる。
【００７３】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、半導体レーザ２、フォトダイオード３、Ａ／Ｄ変換器５及び二値化処理回路１３にて、光磁気ディスク１の再生信号から情報データビットを再生し、短マークパターン検出回路６及び長マークパターン検出回路７が再生された情報データのビット配列パターンと、２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」とを比較することにより一致を検出する。
【００７４】
そして、短マーク振幅計算回路８及び長マーク振幅計算回路９は、短マークパターン検出回路６及び長マークパターン検出回路７により一致を検出した２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」に含まれる２Ｔマークに対応する情報データビットの２Ｔマーク振幅値を測定する。
【００７５】
これによって、具体的な所定長マーク信号測定手段を構成することができる。
【００７６】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、２Ｔマークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークである。また、２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」はｍＴ・２Ｔ・２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）の長さ配列のパターンからなっている。
【００７７】
すなわち、２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」は、２Ｔマーク及び２Ｔスペースを対にした２Ｔ２Ｔつまり「１１００」又は「００１１」を有している。したがって、情報データのビット配列パターンから、２Ｔマーク振幅値の測定に必要な２Ｔ２Ｔつまり「１１００」又は「００１１」を検出して、上記特定パターンに含まれる２Ｔマークにのみ対応する２Ｔマーク振幅値を測定することができる。
【００７８】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、ｍ＝ｎ＝２である。すなわち、特定パターンは、一般的にｍＴ２Ｔ２ＴｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数である。）の長さ配列のパターンからなっているとともに、ｍ＝ｎ＝２となっている。したがって、特定パターンは２Ｔ・２Ｔ２Ｔ・２Ｔと表される。
【００７９】
このことは、中央に２Ｔ２Ｔつまり「１１００」又は「００１１」が構成され、その前後においても各２Ｔのパターンつまり「００」又は「１１」が配されることになる。
【００８０】
したがって、この２Ｔ２Ｔの前後のパターンが２Ｔと異なる場合には、その前後に存在するパターンの波形干渉によって、２Ｔマーク振幅値が影響を受けるが、本実施の形態では、２Ｔ２Ｔの前後がいずれも２Ｔのパターンにて構成されるので、前後のパターンが２Ｔと異なることによる影響を防止することができる。
【００８１】
また、２Ｔマークの前後のマーク長さを最も出現頻度の高い２Ｔマークとすることによって、より多くの２Ｔマークを検出することができるため、求めた２Ｔマークの再生信号特性について平均値を求めて測定値とする場合においても、平均化後の２Ｔマーク振幅値のばらつきを一層小さくすることができる。
【００８２】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、測定された２Ｔマーク振幅値に基づいて再生条件を制御する差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２がさらに設けられているので、差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２によって、確実に、それら各２Ｔマーク振幅値及び８Ｔマーク振幅値に基づいて光ビームの再生パワーを制御することができる。
【００８３】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、所定長マーク信号測定手段にて、長短２種類の長さの２Ｔマーク及び８Ｔマークの振幅値の比を測定し、差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２にて、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御する。
【００８４】
したがって、これによって、具体的かつ確実に光ビームの再生パワーを適正に制御することができる。
【００８５】
【発明の効果】
本発明の光再生装置は、以上のように、所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定するものである。
【００８６】
それゆえ、所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定する。
【００８７】
この結果、短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する例えば振幅値等の再生信号特性を測定するので、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定に際して、短い長さの再生パワー制御用マークの前後の影響を回避することができる。このため、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定値がばらつくのを防止し、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうのを防止することができる。
【００８８】
したがって、光記録媒体の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光再生装置を提供することができるという効果を奏する。
【００８９】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、光記録媒体の再生信号から情報データビットを再生するデータ再生手段と、上記データ再生手段にて再生された情報データのビット配列パターンと特定パターンとを比較することにより一致を検出する比較手段と、上記比較手段により一致を検出した特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークに対応する情報データビットの再生信号特性を測定する信号測定手段とを備えている。
【００９０】
それゆえ、具体的な所定長マーク信号測定手段を構成することができるという効果を奏する。
【００９１】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークであり、特定パターンはｍＴ・２Ｔ・２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）の長さ配列のパターンからなっているものである。
【００９２】
それゆえ、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークである。また、特定パターンは、短い長さの再生パワー制御用マークを有する２Ｔ・２Ｔを有している。したがって、情報データのビット配列パターンから、再生信号特性の測定に必要な２Ｔ・２Ｔをパターンを検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定することができるという効果を奏する。
【００９３】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、ｍ＝ｎ＝２であるものである。
【００９４】
それゆえ、特定パターンは２Ｔ・２Ｔ２Ｔ・２Ｔと表される。このことは、中央に２Ｔ２Ｔが構成され、その前後においても各２Ｔのパターンが配されることになる。したがって、この２Ｔ２Ｔの前後のパターンが２Ｔと異なる場合には、その前後に存在する長さのパターンの波形干渉によって、２Ｔマークの再生信号特性が影響を受けるが、本発明では、２Ｔ２Ｔの前後がいずれも２Ｔのパターンにて構成されるので、前後のパターンが２Ｔと異なることによる影響を防止することができる。
【００９５】
また、２Ｔマークの前後のマーク長さを最も出現頻度の高い２Ｔマークとすることによって、より多くの２Ｔマークを検出することができるため、求めた２Ｔマークの再生信号特性について平均値を求めて測定値とする場合においても、平均化後の２Ｔマーク振幅値のばらつきを一層小さくすることができるという効果を奏する。
【００９６】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに備えられているものである。
【００９７】
それゆえ、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに設けられているので、再生条件制御手段によって、確実に、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御することができるという効果を奏する。
【００９８】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値の比を測定する一方、再生条件制御手段は、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御するものである。
【００９９】
それゆえ、具体的かつ確実に光ビームの再生パワーを適正に制御することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明における光再生装置の実施の一形態を示す構成図である。
【図２】上記の光再生装置にて再生される光磁気ディスクの構成を示す模式図である。
【図３】上記光再生装置の短マークパターン検出回路及び短マーク振幅計算回路の詳細を示す構成図である。
【図４】（ａ）（ｂ）（ｃ）は上記短マークパターン検出回路及び短マーク振幅計算回路にて扱われる情報データビット列と再生波形のサンプルデジタルデータとの対応関係を説明する模式図である。
【図５】従来の光再生装置を示す構成図である。
【図６】上記の光再生装置にて再生される光磁気ディスクの構成を示す模式図である。
【図７】（ａ）（ｂ）は上記光磁気ディスクの再生パワー制御用領域に記録されている短マークパターンと長マークパターンとを示す模式図である。
【図８】（ａ）〜（ｄ）は、２Ｔマークの前後のマーク長による再生波形の違いを説明するための模式図である。
【図９】２Ｔマークの前後のマーク長による２Ｔ振幅値の違いを、実際の再生信号を用いた測定によって確認した結果のグラフである。
【符号の説明】
１ 光磁気ディスク（光記録媒体）
２ 半導体レーザ（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
３ フォトダイオード（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
４ 再生クロック抽出回路
５ Ａ／Ｄ変換器（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
６ 短マークパターン検出回路（比較手段、所定長マーク信号測定手段）
７ 長マークパターン検出回路（比較手段、所定長マーク信号測定手段）
８ 短マーク振幅計算回路（信号測定手段、所定長マーク信号測定手段）
９ 長マーク振幅計算回路（信号測定手段、所定長マーク信号測定手段）
１０ 割り算回路
１１ 差動増幅器（再生条件制御手段）
１２ レーザパワー制御回路（再生条件制御手段）
１３ 二値化処理回路（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
６１ １０段１ビットシフトレジスタ
６２ レジスタ（特定パターン）
６３ レジスタ（特定パターン）
６４ コンパレータ
６５ コンパレータ
６６ ＯＲ回路
８１ ６段ｎビットシフトレジスタ
８２ 減算器
８３ 合計回路
８４ カウンタ
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ビームの照射により生じる熱によって記録マークを読み出す開口部分の大きさを制御することにより再生分解能を向上させる、いわゆる磁気的超解像媒体を用いた光記録媒体を再生するための例えば光ディスク装置等の光再生装置に関するものであり、特に、再生時における光ビームの照射強度を最適に制御するものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
光磁気ディスク装置においては、記録層と面内磁化とを有する再生層とを備えた磁気的超解像方式の光磁気ディスクに対して、再生層側から光ビームを照射して、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生する方式が提案されている。
【０００３】
上記方式では、光ビームの照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分（以下、「アパーチャ」と記す）のみの再生層に、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークの再生が可能となる。
【０００４】
この方式においては、光ビームを発生させる駆動電流を一定に保っていても、再生時の環境温度の変化に応じて光ビームの最適な再生パワーが変動してしまうことがある。
【０００５】
そして、再生パワーが強くなり過ぎるとアパーチャが大きくなり過ぎて、隣接するトラックからの再生信号の出力が増大し、再生されるデータに含まれる雑音信号の割合が多くなって、読み取りエラーの発生する確率が高くなる。また、再生パワーが弱くなり過ぎると、記録マークよりもアパーチャが小さくなるとともに、読み取ろうとしているトラックからの再生信号の出力も小さくなって、やはり読み取りエラーの発生確率が高くなる。
【０００６】
そこで、この問題を解決するために、特開平８−６３８１７号公報では、光磁気ディスク上に記録された異なる２種類の長さの再生パワー制御用マークを再生し、それらの再生信号振幅の比が所定値に近づくように再生パワーを制御することによって、再生パワーを常に最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させている。
【０００７】
すなわち、短マークはアパーチャ径よりも小さいため、再生パワーを大きくするつまりアパーチャ径を大きくすることに伴って、アパーチャに占める短マークの面積の割合は小さくなるので、短マークの振幅は小さくなる。ただし、再生パワーを大きくすると光量も多くなり、このことは短マークの振幅を大きくする方向に働く。一方、アパーチャ径よりも大きな長マークを再生すると、再生パワーによってアパーチャ径が変化しても、アパーチャに占める長マークの面積は、常に１００％である。このため、再生パワー変化に対する長マークの振幅変化は、光量の変化分に対応すると考えられる。そこで、短マーク振幅を長マーク振幅で割った値つまり短マーク振幅を長マーク振幅で正規化した比は、アパーチャ径の変化分に対応する値となるので、この比を一定にすることは、アパーチャ径を一定とすることを意味する。したがって、長短マーク振幅比を一定にすることによって、環境温度やチルトに対して常に最適な再生パワーに制御することが可能となる。
【０００８】
次に、この種の再生パワー最適化方法を具体的に説明する。
【０００９】
先ず、光再生装置の構造を図５に示すとともに、図６には、この光再生装置によって再生される光磁気ディスク２２０の構造を模式的に示す。ここで、上記光磁気ディスク２２０における一単位の記録領域であるセクタ３００は、セクタの位置を示すアドレス領域３０１と、再生パワー制御用マークを記録する再生パワー制御用領域３０２と、デジタル情報データを記録するデータ記録領域３０３とから構成されている。
【００１０】
上記の再生パワー制御用マークは、図７（ａ）（ｂ）に示すように、長さ２Ｔのマークが長さ２Ｔのスペース毎に設けられる短マークパターンと、長さ８Ｔのマークが長さ８Ｔのスペース毎に設けられる長マークパターンとから構成されている。すなわち、Ｔはチャネルビット長を示すものであり、図７（ａ）に示す短マークパターンでは、２Ｔマークとして示される長さ２×Ｔのビット長のマークと、２Ｔスペースとして示される長さ２×Ｔのビット長のスペースとが交互に繰り返されて構成されている。また、図７（ｂ）に示す長マークパターンでは、８Ｔマークとして示される長さ８×Ｔのビット長のマークと、８Ｔスペースとして示される長さ８×Ｔのビット長のスペースとが交互に繰り返されて構成されている。したがって、例えば、チャネルビット長が１ビットであるとした場合には、２進数においては、具体的には、短マークパターンとは「１１００」のビット配列が繰り返されたものをいい、長マークパターンとは「１１１１１１１１００００００００」が繰り返されたものをいう。そして、これら短マークパターン及び長マークパターンが再生パワー制御用領域３０２に記録されているものとなっている。
【００１１】
上記の光再生装置では、図５に示すように、半導体レーザ２０２からの出射光は、光磁気ディスク２２０上の前記セクタ３００のアドレス領域３０１に到達すると、図示しないアドレスデコーダにて目標セクタアドレスが認識される。続いて出射光が再生パワー制御用領域３０２に照射されると、その領域に記録された短マークパターン及び長マークパターンからの反射光がフォトダイオード２０３によって再生信号に変換され、Ａ／Ｄ変換器２０５によってＡ／Ｄ変換された後、それぞれ短マーク振幅検出回路２２１と長マーク振幅検出回路２２２とに入力されて、短マークパターンにおける短マークの振幅値及び長マークパターンにおける長マークの振幅値がそれぞれ求められる。なお、ここでのＡ／Ｄ変換は、ＰＬＬ（Phase Locked Loop)で構成される再生クロック抽出回路２０４により再生信号から抽出されたクロックのタイミングによって行われる。
【００１２】
こうして求められた短マークパターンにおける短マークつまり２Ｔマークの振幅値、及び長マークパターンにおける長マークつまり８Ｔマークの振幅値はそれぞれ割り算回路２１０に入力されて振幅比＝２Ｔマークの振幅値／８Ｔマークの振幅値として出力され、この振幅比と目標振幅比とが差動増幅器２１１によって比較され、その差が小さくなる方向にフィードバックがかかるようにレーザパワー制御回路２１２が半導体レーザ２０２の駆動電流を出力する。
【００１３】
このようにして最適な再生パワーが与えられるようにレーザ光が制御された後、出射光は前記データ記録領域３０３に照射され、読み出された再生信号が二値化処理回路２１３に入力されて、エラーレートの低い再生情報データが出力される。そして、出射光が次のセクタ３００に到達すると、同様の処理が繰り返されて、新たに最適な再生パワーに設定し直される。
【００１４】
このように、再生パワー制御用マークの記録領域をセクタ３００…毎に分散して設けて、セクタ３００…毎に再生パワー制御のための再生信号量を検出することにより、短い時間間隔で再生パワー制御が応答し、最適再生パワーの短時間の変動に追従することができる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の光再生装置では、各セクタ３００…毎に再生パワー制御用領域３０２を備える必要があるため、情報データを記録するための領域がその分だけ減ることになり、光記録媒体の利用率が低下するという欠点がある。
【００１６】
そこで、セクタ３００…毎に再生パワー制御用領域３０２を設けずに、データ記録領域３０３に記録された情報データのビット配列パターンから２Ｔマークと８Ｔマークとを検出し、これらに対応する再生信号から振幅値を求める方式が考えられる。しかし、この方式においては、次のような問題が発生する。
【００１７】
先ず、図８（ａ）に示すように、「２Ｔ２Ｔ２Ｔ２Ｔ」にて示される２Ｔマーク及び２Ｔスペースのみにて構成される短マークパターンにおける再生波形は、同図８（ａ）に示す曲線にて表される。一方、図８（ｂ）に示すように、２Ｔスペース及び２Ｔマークの前後に３Ｔマーク及び３Ｔスペースが連なったマークパターン「３Ｔ２Ｔ２Ｔ３Ｔ」の再生波形は、同図８（ｂ）に示す曲線にて表されるように、３Ｔマーク及び３Ｔスペースでは振幅値が２Ｔスペース及び２Ｔマークの振幅値よりも大きくなる。また、図８（ｃ）に示すように、２Ｔスペース及び２Ｔマークの前後に４Ｔマーク及び４Ｔスペースが連なったマークパターン「４Ｔ２Ｔ２Ｔ４Ｔ」の再生波形は、同図８（ｃ）に示す曲線にて表されるように、４Ｔマーク及び４Ｔスペースでは振幅値が３Ｔスペース及び３Ｔマークの振幅値よりもさらに大きくなる。同様にして、図８（ｄ）に示すように、２Ｔスペース及び２Ｔマークの前後に５Ｔマーク及び５Ｔスペースが連なったマークパターン「５Ｔ２Ｔ２Ｔ５Ｔ」の再生波形は、同図８（ｄ）に示す曲線にて表されるように、５Ｔマーク及び５Ｔスペースでは振幅値が４Ｔスペース及び４Ｔマークの振幅値よりもさらに大きくなる。
【００１８】
ここで、２Ｔマークは光ビームのアパーチャ径よりも小さいため、その再生波形は前後のマーク又はスペースからの波形干渉を受ける。この波形干渉を受ける度合いは、前後にあるマーク又はスペースの長さによって異なる。
【００１９】
実際に光磁気ディスク２２０から読み出した再生信号を用いた測定によって確認した結果は、図９のように示される。同図に示す横軸は図８（ａ）〜（ｄ）の各マークパターンであり、縦軸は各マークパターンの再生信号における２Ｔマークの振幅値を測定した結果である。この実測結果からも、前後のスペース長によって２Ｔマークの振幅値が変化することが確認できる。すなわち、前後のスペース長が３Ｔ、４Ｔと長くなるに伴って、その長いスペース長の影響を受けて２Ｔマーク振幅値が大きくなる。
【００２０】
このように、個々の２Ｔマーク振幅値は、２Ｔマークの前後のスペース長によって変化するため、大きなばらつきを持っている。この結果、情報データのビット配列パターンに含まれる２Ｔマークの再生波形から２Ｔマーク振幅値を求めるためには、複数の２Ｔマークを検出して得られた個々の振幅値を平均化するのが好ましいことが分かる。例えば、再生パワーの制御単位をセクタ３００とした場合、各セクタ３００…に含まれる全ての情報データのビット配列パターンから２Ｔマークを検出して得られた振幅値を平均化することになる。しかし、このとき、２Ｔマークの前後の各スペース長の出現確率は各セクタによって異なっているため、平均化して得られた振幅値も各セクタ３００…によって大きなばらつきを持つことになり、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうことになる。
【００２１】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、光記録媒体の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光再生装置を提供することにある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
本発明の光再生装置は、上記課題を解決するために、光記録媒体に記録された情報データから長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの例えば振幅値等の再生信号特性をそれぞれ測定する所定長マーク信号測定手段を備え、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御する光再生装置において、上記所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定することを特徴としている。
【００２３】
上記の発明によれば、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生するに際して、再生時の環境温度の変化による光ビームの最適な再生パワーの変動を防止すべく、光記録媒体に記録された情報データから長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの再生信号特性を所定長マーク信号測定手段にてそれぞれ測定し、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御する。
【００２４】
ところで、従来では、光記録媒体の各セクタ毎に再生パワー制御用領域を備えていたので、情報データを記録するための領域がその分だけ減ることになり、光記録媒体の利用率が低下するという欠点があった。そこで、この問題を解決するために、情報データのビット配列パターンから再生パワー制御用マークを検出することが考えられるが、情報データのビット配列パターンには、各種の配列パターンが存在する。また、特に、例えば２Ｔマーク等のアパーチャ径よりも短い長さの再生パワー制御用マークについては、その前後に存在する長さの再生パワー制御用マークの波形干渉によって、その短い長さの再生パワー制御用マークの再生信号特性が影響を受ける。
【００２５】
そこで、本発明では、所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定する。
【００２６】
この結果、短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する例えば振幅値等の再生信号特性を測定するので、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定に際して、短い長さの再生パワー制御用マークの前後の影響を回避することができる。このため、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定値がばらつくのを防止し、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうのを防止することができる。
【００２７】
したがって、光記録媒体の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光再生装置を提供することができる。
【００２８】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、光記録媒体の再生信号から情報データビットを再生するデータ再生手段と、上記データ再生手段にて再生された情報データのビット配列パターンと特定パターンとを比較することにより一致を検出する比較手段と、上記比較手段により一致を検出した特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークに対応する情報データビットの再生信号特性を測定する信号測定手段とを備えていることを特徴としている。
【００２９】
上記の発明によれば、データ再生手段にて、光記録媒体の再生信号から情報データビットを再生し、比較手段がこのデータ再生手段にて再生された情報データのビット配列パターンと特定パターンとを比較することにより一致を検出する。
【００３０】
そして、信号測定手段は、比較手段により一致を検出した特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークに対応する情報データビットの再生信号特性を測定する。
【００３１】
これによって、具体的な所定長マーク信号測定手段を構成することができる。
【００３２】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークであり、特定パターンはｍＴ・２Ｔ・２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）の長さ配列のパターンからなっていることを特徴としている。
【００３３】
上記の発明によれば、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークである。また、特定パターンは、短い長さの再生パワー制御用マークを有する２Ｔ・２Ｔを有している。したがって、情報データのビット配列パターンから、再生信号特性の測定に必要な２Ｔ・２Ｔをパターンを検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定することができる。
【００３４】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、ｍ＝ｎ＝２であることを特徴としている。
【００３５】
上記の発明によれば、特定パターンはｍＴ・２Ｔ２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数である。また、説明を判り易くするために、中央の「２Ｔ・２Ｔ」を「２Ｔ２Ｔ」と表現する）の長さ配列のパターンからなっているとともに、ｍ＝ｎ＝２となっている。すなわち、特定パターンは２Ｔ・２Ｔ２Ｔ・２Ｔと表される。
【００３６】
このことは、中央に２Ｔ２Ｔが構成され、その前後においても各２Ｔのパターンが配されることになる。したがって、この２Ｔ２Ｔの前後のパターンが２Ｔと異なる場合には、その前後に存在する長さのパターンの波形干渉によって、２Ｔマークの再生信号特性が影響を受けるが、本発明では、２Ｔ２Ｔの前後がいずれも２Ｔのパターンにて構成されるので、前後のパターンが２Ｔと異なることによる影響を防止することができる。
【００３７】
また、２Ｔマークの前後のマーク長さを最も出現頻度の高い２Ｔマークとすることによって、より多くの２Ｔマークを検出することができるため、求めた２Ｔマークの再生信号特性について平均値を求めて測定値とする場合においても、平均化後の２Ｔマーク振幅値のばらつきを一層小さくすることができる。
【００３８】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに備えられていることを特徴としている。
【００３９】
上記の発明によれば、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに設けられているので、再生条件制御手段によって、確実に、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御することができる。
【００４０】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値の比を測定する一方、再生条件制御手段は、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御することを特徴としている。
【００４１】
上記の発明によれば、所定長マーク信号測定手段にて、長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値の比を測定し、再生条件制御手段にて、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御する。
【００４２】
したがって、これによって、具体的かつ確実に光ビームの再生パワーを適正に制御することができる。
【００４３】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の一形態について図１ないし図４に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００４４】
本実施の形態の光再生装置としての光磁気ディスク再生装置は、図１に示すように、半導体レーザ２、フォトダイオード３、再生クロック抽出回路４、Ａ／Ｄ変換器５、割り算回路１０、差動増幅器１１、レーザパワー制御回路１２及び二値化処理回路１３を備えている。なお、上記の各手段は、前記図５に示す従来技術のものと同様である。また、上記半導体レーザ２、フォトダイオード３、Ａ／Ｄ変換器５及び二値化処理回路１３は、本発明のデータ再生手段としての機能を有しているとともに、上記差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２は、本発明の再生条件制御手段としての機能を有している。
【００４５】
本実施の形態では、上記各手段の他に、さらに、再生された情報データパターンから２Ｔマークを含む特定パターンを検出する短マークパターン検出回路６、同様に情報データパターンから８Ｔマークを含む特定パターンを検出する長マークパターン検出回路７、短マークパターン検出回路６が特定パターンを検出する毎に、そのパターンに対応する再生信号のＡ／Ｄ変換値から２Ｔマークの振幅値を取り出して平均化を行う短マーク振幅計算回路８、同様に長マークパターン検出回路７が特定パターンを検出する毎に、そのパターンに対応する再生信号のＡ／Ｄ変換値から８Ｔマークの振幅値を取り出して平均化を行う長マーク振幅計算回路９とを備えている。ただし、上記のＴはチャネルビット長である。なお、上記の短マークパターン検出回路６及び長マークパターン検出回路７は、本発明の比較手段としての機能を有するとともに、短マーク振幅計算回路８及び長マーク振幅計算回路９は、本発明の信号測定手段としての機能を有している。
【００４６】
また、光記録媒体としての光磁気ディスク１は、従来技術のものとは異なり、図２に示すように、セクタ１００が再生パワー制御用領域を持たず、アドレス領域１０１及びデータ記録領域１０２のみの構成となっている。したがって、これによって、ディスク利用率が向上したものとなっている。
【００４７】
上記構成の光磁気ディスク再生装置による再生動作を説明する。
【００４８】
先ず、図１に示すように、半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク１上の前記セクタ１００のアドレス領域１０１に到達すると、その反射光がフォトダイオード３によって電気信号に変換され再生信号として出力される。こうして得られた前記アドレス領域１０１の再生信号から、図示しないアドレスデコーダにて目標セクタアドレスが認識される。
【００４９】
続いて、出射光がデータ記録領域１０２に照射されると、その反射光はフォトダイオード３及びＡ／Ｄ変換器５を介して二値化処理回路１３、短マーク振幅計算回路８及び長マーク振幅計算回路９に入力される。上記二値化処理回路１３は、デジタル再生信号から前記データ記録領域１０２に記録された０、１の２進数で表される元の情報データパターンを復号する。この情報データパターンは、短マークパターン検出回路６にて、２Ｔを含む特定パターンとの一致判定が行われる。そして、その判定結果は、短マーク振幅計算回路８にて監視され、一致したと判定された場合には、その情報データパターンに対応する再生信号に含まれる２Ｔ再生信号から２Ｔ振幅値が求められる。
【００５０】
これらの処理は、セクタ１００のデータ記録領域１０２全体に対して行われ、求められた個々の２Ｔ振幅値は平均化されて、セクタ１００の平均２Ｔ振幅値として出力される。ここで、一対の２Ｔマーク及び２Ｔスペース（以下、「２Ｔ２Ｔ」と表す）の前後に所定長のマークを備えたパターン、すなわちｍＴ２Ｔ２ＴｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）なるパターンを特定パターンとして設定しておけば、得られる個々の２Ｔ振幅値は全て、前後に同じマーク長を持った２Ｔパターンの再生信号から求められるので、これらを平均化した２Ｔ振幅値のばらつきは非常に小さなものとなる。
【００５１】
また、２Ｔマークのように、アパーチャ径よりも小さなマークの場合においては波形干渉の影響を特に強く受けるため、この効果は顕著なものとなる。さらに、ｍ＝ｎ＝２、すなわち２Ｔ２Ｔ２Ｔ２Ｔなるパターンは他のｍ、ｎのパターンに比べて最も出現頻度が高いと考えられるので、これを特定パターンとして設定しておけば、より多くの２Ｔマークを検出でき、平均化後の２Ｔ振幅値のばらつきを一層小さくすることができる。
【００５２】
同様に、上記長マークパターン検出回路７において、復号された情報データパターンが８Ｔを含む特定パターンと一致したと判定された場合には、長マーク振幅計算回路９にて８Ｔ振幅値が求められ、セクタ１００全体で得られた個々の８Ｔ振幅値は平均化されて、平均８Ｔ振幅値として出力される。
【００５３】
こうして得られた平均２Ｔ振幅値及び平均８Ｔ振幅値は、割り算回路１０にて割り算されてセクタ１００の振幅比が求められる。
【００５４】
以降は、従来技術の場合と同様に、半導体レーザ２の再生パワーがこの振幅比に基づいて制御されるが、上記で説明したように、２Ｔ振幅値のばらつきが特に小さく抑えられているため、制御された再生パワーの誤差も非常に小さくなっており、エラーレートの極めて低いデータ再生を実現することが可能となっている。
【００５５】
次に、上記構成における２Ｔ振幅値の検出から平均化までの構成及び動作について、さらに詳細に説明する。
【００５６】
図３に示すように、短マークパターン検出回路６は、二値化処理回路１３から出力される情報データビットを最新のものから１０ビット分だけ順次記憶する１０段１ビットシフトレジスタ６１、特定パターンとしての２Ｔを含む特定パターンとして「１００１１００１１０」を記憶するレジスタ６２、同様に特定パターンとしての２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」を記憶するレジスタ６３、１０段１ビットシフトレジスタ６１とレジスタ６２とをビット毎に比較して全ビットが一致するか否かを判定するコンパレータ６４、同様に１０段１ビットシフトレジスタ６１とレジスタ６３との一致を判定するコンパレータ６５、及びコンパレータ６４とコンパレータ６５との論理和を求めるＯＲ回路６６から構成されている。
【００５７】
一方、短マーク振幅計算回路８は、Ａ／Ｄ変換器５から出力されるｎビット（ｎはＡ／Ｄ変換器５の量子化ビット数）の再生信号データを最新のものから６個分だけ順次記憶する６段ｎビットシフトレジスタ８１、入力された２つの例えば値Ａと例えば値Ｂとの差の絶対値｜Ａ−Ｂ｜を求める減算器８２、入力データを順次加算して合計を求める合計回路８３、カウンタ８４、及び割り算回路８５から構成されている。
【００５８】
上記構成の短マークパターン検出回路６及び短マーク振幅計算回路８では、二値化処理回路１３から出力されて１０段１ビットシフトレジスタ６１に記憶された情報データビット列「Ｂ０、Ｂ１、…、Ｂ９」は、レジスタ６２に記憶された「１００１１００１１０」とコンパレータ６４にて比較されると同時に、レジスタ６３に記憶された「０１１００１１００１」ともコンパレータ６５にて比較される。
【００５９】
これらの比較結果は、ＯＲ回路６６に入力され、両者の論理和が一致信号として短マーク振幅計算回路８内の合計回路８３とカウンタ８４とに送られる。すなわち、情報データビット列「Ｂ０、Ｂ１、…、Ｂ９」が「１００１１００１１０」又は「０１１００１１００１」のいずれかと一致した時に一致信号が送られる。
【００６０】
一方、Ａ／Ｄ変換器５から出力された再生信号のｎビットデジタルデータ列「Ｄ４、Ｄ５、…、Ｄ９」は、１０段１ビットシフトレジスタ６１と同期して順次６段ｎビットシフトレジスタ８１に記憶されている。なお、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、Ｄ４、Ｄ５、…、Ｄ９はそれぞれ情報データビットＢ４、Ｂ５、…、Ｂ９の再生信号波形に対応するサンプリング点のデジタルデータを表しているものとする。
【００６１】
ここで、１０段１ビットシフトレジスタ６１の記憶データが古いものから順にＢ０、Ｂ１、…である時、６段ｎビットシフトレジスタ８１の記憶データは古いものから順にＤ４、Ｄ５、…となっている。そして、データＤ４とデータＤ６との差の絶対値が減算器８２にて求められている。
【００６２】
ここで、ＯＲ回路６６から一致信号が送られてくると、合計回路８３はその時点において減算器８２から出力されている値、すなわち｜Ｄ４−Ｄ６｜を加算すると同時に、カウンタ８４をインクリメントする。
【００６３】
以上の処理をセクタ１００全体に渡って行うので、セクタ１００の最後まで再生が終わった時点で、合計回路８３にはセクタ１００の情報データパターンに含まれる全ての特定パターン「１００１１００１１０」又は「０１１００１１００１」に対応する個々の再生波形の２Ｔ振幅値の総和が記憶されている。また、カウンタ８４にはセクタ１００に含まれていた特定パターンの総数が記憶されている。これらが割り算回路８５にて割り算されて、セクタ１００の平均２Ｔ振幅値として短マーク振幅計算回路８から出力される。なお、長マークパターン検出回路７と長マーク振幅計算回路９とによって実現される８Ｔ振幅値の検出から平均化までの構成及び動作については、上記短マークパターン検出回路６及び短マーク振幅計算回路８によって行われる２Ｔ振幅値の場合と原理的には全く同様であるので、詳細な説明は省略する。ただし、この場合において、長マークパターン検出回路７の各レジスタに記憶されているのは例えば一方が「０１１１１１１１１００００００００１」であり、他方は「１００００００００１１１１１１１１０」となる。
【００６４】
このように、二値化処理後の再生情報データから特定パターンを検出して、その特定パターンに対応する再生信号から所定長マークの振幅値を確実に求めて平均化することができる。
【００６５】
なお、本実施の形態においては、短マークとして２Ｔ、及び長マークとして８Ｔを用いたが、これらに限らないことは勿論であり、変調方式によって決まる最短マーク長を考慮して最も適切なマーク長を選べばよい。
【００６６】
また、上記の説明においては、２Ｔマークの振幅値を再生波形のピーク位相でサンプリングして求める場合として説明したが、二値化処理方法として例えばＰＲ（１，２，１）特性に基づくＰＲＭＬ(Partial Response Maximam Likelihood) 検出法を用いる場合、２Ｔマーク再生波形のサンプリング位相はピークから半クロックずれるため、特定パターンに含まれる一対の２Ｔマークに対応する波形から、上下各々２つずつの位相でサンプリングされた値を用いて振幅を計算する構成にしてもよい。
【００６７】
また、本実施の形態では、光再生装置の例として光磁気ディスク再生装置について説明したが、本発明の光再生装置はこれに限られるものではなく、例えば本発明を相変化方式の光ディスク等の光再生装置に適用してもよい。
【００６８】
このように、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生するに際して、再生時の環境温度の変化による光ビームの最適な再生パワーの変動を防止すべく、光磁気ディスク１に記録された情報データから、例えば２Ｔマーク及び８Ｔマークの長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値を所定長マーク信号測定手段にてそれぞれ測定し、それら各振幅値に基づいて光ビームの再生パワーを制御する。
【００６９】
ところで、従来では、光磁気ディスク１の各セクタ毎に再生パワー制御用領域を備えていたので、情報データを記録するための領域がその分だけ減ることになり、光磁気ディスク１の利用率が低下するという欠点があった。そこで、この問題を解決するために、情報データのビット配列パターンから再生パワー制御用マークを検出することが考えられるが、情報データのビット配列パターンには、各種の配列パターンが存在する。また、特に、例えば２Ｔマーク等のアパーチャ径よりも短い長さの再生パワー制御用マークについては、その前後に存在する長さの再生パワー制御用マークの波形干渉によって、その２Ｔマークの振幅値が影響を受ける。
【００７０】
そこで、本実施の形態では、２Ｔマークを含む特定パターンとしての「１００１１００１１０」又は「０１１００１１００１」を情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる、中央の「１１００」又は「００１１」にのみ対応する２Ｔマーク振幅値を測定する。
【００７１】
この結果、２Ｔマークにのみ対応する振幅値を測定するので、２Ｔマークの振幅値の測定に際して、２Ｔマークの前後の影響を回避することができる。このため、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定値がばらつくのを防止し、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうのを防止することができる。
【００７２】
したがって、光磁気ディスク１の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光磁気ディスク再生装置を提供することができる。
【００７３】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、半導体レーザ２、フォトダイオード３、Ａ／Ｄ変換器５及び二値化処理回路１３にて、光磁気ディスク１の再生信号から情報データビットを再生し、短マークパターン検出回路６及び長マークパターン検出回路７が再生された情報データのビット配列パターンと、２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」とを比較することにより一致を検出する。
【００７４】
そして、短マーク振幅計算回路８及び長マーク振幅計算回路９は、短マークパターン検出回路６及び長マークパターン検出回路７により一致を検出した２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」に含まれる２Ｔマークに対応する情報データビットの２Ｔマーク振幅値を測定する。
【００７５】
これによって、具体的な所定長マーク信号測定手段を構成することができる。
【００７６】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、２Ｔマークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークである。また、２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」はｍＴ・２Ｔ・２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）の長さ配列のパターンからなっている。
【００７７】
すなわち、２Ｔを含む特定パターン「１００１１００１１０」及び２Ｔを含む他の特定パターン「０１１００１１００１」は、２Ｔマーク及び２Ｔスペースを対にした２Ｔ２Ｔつまり「１１００」又は「００１１」を有している。したがって、情報データのビット配列パターンから、２Ｔマーク振幅値の測定に必要な２Ｔ２Ｔつまり「１１００」又は「００１１」を検出して、上記特定パターンに含まれる２Ｔマークにのみ対応する２Ｔマーク振幅値を測定することができる。
【００７８】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、ｍ＝ｎ＝２である。すなわち、特定パターンは、一般的にｍＴ２Ｔ２ＴｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数である。）の長さ配列のパターンからなっているとともに、ｍ＝ｎ＝２となっている。したがって、特定パターンは２Ｔ・２Ｔ２Ｔ・２Ｔと表される。
【００７９】
このことは、中央に２Ｔ２Ｔつまり「１１００」又は「００１１」が構成され、その前後においても各２Ｔのパターンつまり「００」又は「１１」が配されることになる。
【００８０】
したがって、この２Ｔ２Ｔの前後のパターンが２Ｔと異なる場合には、その前後に存在するパターンの波形干渉によって、２Ｔマーク振幅値が影響を受けるが、本実施の形態では、２Ｔ２Ｔの前後がいずれも２Ｔのパターンにて構成されるので、前後のパターンが２Ｔと異なることによる影響を防止することができる。
【００８１】
また、２Ｔマークの前後のマーク長さを最も出現頻度の高い２Ｔマークとすることによって、より多くの２Ｔマークを検出することができるため、求めた２Ｔマークの再生信号特性について平均値を求めて測定値とする場合においても、平均化後の２Ｔマーク振幅値のばらつきを一層小さくすることができる。
【００８２】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、測定された２Ｔマーク振幅値に基づいて再生条件を制御する差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２がさらに設けられているので、差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２によって、確実に、それら各２Ｔマーク振幅値及び８Ｔマーク振幅値に基づいて光ビームの再生パワーを制御することができる。
【００８３】
また、本実施の形態の光磁気ディスク再生装置では、所定長マーク信号測定手段にて、長短２種類の長さの２Ｔマーク及び８Ｔマークの振幅値の比を測定し、差動増幅器１１及びレーザパワー制御回路１２にて、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御する。
【００８４】
したがって、これによって、具体的かつ確実に光ビームの再生パワーを適正に制御することができる。
【００８５】
【発明の効果】
本発明の光再生装置は、以上のように、所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定するものである。
【００８６】
それゆえ、所定長マーク信号測定手段は、短い長さの再生パワー制御用マークを含む特定パターンを情報データのビット配列パターンから検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定する。
【００８７】
この結果、短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する例えば振幅値等の再生信号特性を測定するので、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定に際して、短い長さの再生パワー制御用マークの前後の影響を回避することができる。このため、短い長さの再生パワー制御用マークの振幅値の測定値がばらつくのを防止し、結果的にこの振幅値に基づいて制御した再生パワーに大きな誤差が発生してしまうのを防止することができる。
【００８８】
したがって、光記録媒体の利用率を低下することなく、再生パワーを最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させ得る光再生装置を提供することができるという効果を奏する。
【００８９】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、光記録媒体の再生信号から情報データビットを再生するデータ再生手段と、上記データ再生手段にて再生された情報データのビット配列パターンと特定パターンとを比較することにより一致を検出する比較手段と、上記比較手段により一致を検出した特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークに対応する情報データビットの再生信号特性を測定する信号測定手段とを備えている。
【００９０】
それゆえ、具体的な所定長マーク信号測定手段を構成することができるという効果を奏する。
【００９１】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークであり、特定パターンはｍＴ・２Ｔ・２Ｔ・ｎＴ（ｍ、ｎは所定の正整数）の長さ配列のパターンからなっているものである。
【００９２】
それゆえ、短い長さの再生パワー制御用マークは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマークである。また、特定パターンは、短い長さの再生パワー制御用マークを有する２Ｔ・２Ｔを有している。したがって、情報データのビット配列パターンから、再生信号特性の測定に必要な２Ｔ・２Ｔをパターンを検出して、上記特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マークにのみ対応する再生信号特性を測定することができるという効果を奏する。
【００９３】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、ｍ＝ｎ＝２であるものである。
【００９４】
それゆえ、特定パターンは２Ｔ・２Ｔ２Ｔ・２Ｔと表される。このことは、中央に２Ｔ２Ｔが構成され、その前後においても各２Ｔのパターンが配されることになる。したがって、この２Ｔ２Ｔの前後のパターンが２Ｔと異なる場合には、その前後に存在する長さのパターンの波形干渉によって、２Ｔマークの再生信号特性が影響を受けるが、本発明では、２Ｔ２Ｔの前後がいずれも２Ｔのパターンにて構成されるので、前後のパターンが２Ｔと異なることによる影響を防止することができる。
【００９５】
また、２Ｔマークの前後のマーク長さを最も出現頻度の高い２Ｔマークとすることによって、より多くの２Ｔマークを検出することができるため、求めた２Ｔマークの再生信号特性について平均値を求めて測定値とする場合においても、平均化後の２Ｔマーク振幅値のばらつきを一層小さくすることができるという効果を奏する。
【００９６】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに備えられているものである。
【００９７】
それゆえ、測定された再生信号特性に基づいて再生条件を制御する再生条件制御手段がさらに設けられているので、再生条件制御手段によって、確実に、それら各再生信号特性に基づいて光ビームの再生パワーを制御することができるという効果を奏する。
【００９８】
また、本発明の光再生装置は、上記記載の光再生装置において、所定長マーク信号測定手段は、長短２種類の長さの各再生パワー制御用マークの振幅値の比を測定する一方、再生条件制御手段は、測定された振幅比が目標値に近づくように光ビームの再生パワーを制御するものである。
【００９９】
それゆえ、具体的かつ確実に光ビームの再生パワーを適正に制御することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明における光再生装置の実施の一形態を示す構成図である。
【図２】上記の光再生装置にて再生される光磁気ディスクの構成を示す模式図である。
【図３】上記光再生装置の短マークパターン検出回路及び短マーク振幅計算回路の詳細を示す構成図である。
【図４】（ａ）（ｂ）（ｃ）は上記短マークパターン検出回路及び短マーク振幅計算回路にて扱われる情報データビット列と再生波形のサンプルデジタルデータとの対応関係を説明する模式図である。
【図５】従来の光再生装置を示す構成図である。
【図６】上記の光再生装置にて再生される光磁気ディスクの構成を示す模式図である。
【図７】（ａ）（ｂ）は上記光磁気ディスクの再生パワー制御用領域に記録されている短マークパターンと長マークパターンとを示す模式図である。
【図８】（ａ）〜（ｄ）は、２Ｔマークの前後のマーク長による再生波形の違いを説明するための模式図である。
【図９】２Ｔマークの前後のマーク長による２Ｔ振幅値の違いを、実際の再生信号を用いた測定によって確認した結果のグラフである。
【符号の説明】
１ 光磁気ディスク（光記録媒体）
２ 半導体レーザ（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
３ フォトダイオード（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
４ 再生クロック抽出回路
５ Ａ／Ｄ変換器（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
６ 短マークパターン検出回路（比較手段、所定長マーク信号測定手段）
７ 長マークパターン検出回路（比較手段、所定長マーク信号測定手段）
８ 短マーク振幅計算回路（信号測定手段、所定長マーク信号測定手段）
９ 長マーク振幅計算回路（信号測定手段、所定長マーク信号測定手段）
１０ 割り算回路
１１ 差動増幅器（再生条件制御手段）
１２ レーザパワー制御回路（再生条件制御手段）
１３ 二値化処理回路（データ再生手段、所定長マーク信号測定手段）
６１ １０段１ビットシフトレジスタ
６２ レジスタ（特定パターン）
６３ レジスタ（特定パターン）
６４ コンパレータ
６５ コンパレータ
６６ ＯＲ回路
８１ ６段ｎビットシフトレジスタ
８２ 減算器
８３ 合計回路
８４ カウンタ
Claims (4)
- 光記録媒体に記録された情報データから光ビームのスポット径よりも長い長さと該光ビームのスポット径よりも短い長さとの長短２種類の長さの、各再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースの再生信号特性をそれぞれ測定する所定長マーク信号測定手段を備え、それら各再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースを再生し、それらの再生信号振幅の比が所定値に近づくように光ビームの再生パワーを制御する光再生装置において、
上記所定長マーク信号測定手段は、
情報データから短い長さの再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースの再生信号特性を測定するときには、短い長さの再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースの前後に所定長のスペース又はマークを備えた一定形状のビット配列からなる短マーク用特定パターンのみを情報データのビット配列パターンから検出して、上記短マーク用特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースの再生信号特性を測定する一方、
情報データから長い長さの再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースの再生信号特性を測定するときには、長い長さの再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースを備えた一定形状のビット配列からなる長マーク用特定パターンのみを情報データのビット配列パターンから検出して、上記長マーク用特定パターンに含まれる長い長さの再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースの再生信号特性を測定することを特徴とする光再生装置。 - 所定長マーク信号測定手段は、光記録媒体の再生信号から情報データビットを再生するデータ再生手段と、
上記データ再生手段にて再生された情報データのビット配列パターンと短マーク用特定パターン又は長マーク用特定パターンとを比較することにより一致を検出する比較手段と、
上記比較手段により一致を検出した短マーク用特定パターンに含まれる短い長さの再生パワー制御用マーク若しくは再生パワー制御用スペース、又は長マーク用特定パターンに含まれる長い長さの再生パワー制御用マーク若しくは再生パワー制御用スペースに対応する情報データビットの再生信号特性を測定する信号測定手段とを備えていることを特徴とする請求項１記載の光再生装置。 - 短い長さの再生パワー制御用マーク又は再生パワー制御用スペースは、長さ２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のマーク又はスペースであり、特定パターンはｍＴスペース・２Ｔマーク・２Ｔスペース・ｎＴマーク（ｍ、ｎは所定の正整数）の長さ配列のパターンからなっていることを特徴とする請求項１又は２記載の光再生装置。
- ｍ＝ｎ＝２であることを特徴とする請求項３記載の光再生装置。
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