JP3366973B2 - 光記録媒体の情報記録方法 - Google Patents
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- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/006—Overwriting
- G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビーム光の照射に
より記録マークを形成する光記録媒体の情報記録方法に
関し、特に、高密度記録が可能な磁気超解像再生（ＭＳ
Ｒ，MagneticallyInduced Super Resolution ）される
光磁気記録媒体へのマークエッジ記録方式を用いた情報
記録方法に関する。
より記録マークを形成する光記録媒体の情報記録方法に
関し、特に、高密度記録が可能な磁気超解像再生（ＭＳ
Ｒ，MagneticallyInduced Super Resolution ）される
光磁気記録媒体へのマークエッジ記録方式を用いた情報
記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光磁気ディスクの情報高密度化の
要求に伴い、光磁気記録媒体の情報記録方式としてマー
クエッジ記録方式が用いられている。マークエッジ記録
方式は、記録マークのエッジに二値情報データの‘１’
を対応させる記録方式であり、記録マークを‘１’に対
応させるマークポジション記録方式と比較して、情報を
より高密度に記録することが可能となる。
要求に伴い、光磁気記録媒体の情報記録方式としてマー
クエッジ記録方式が用いられている。マークエッジ記録
方式は、記録マークのエッジに二値情報データの‘１’
を対応させる記録方式であり、記録マークを‘１’に対
応させるマークポジション記録方式と比較して、情報を
より高密度に記録することが可能となる。
【０００３】また、情報の高密度化を実現する方法とし
てＭＳＲ再生方式が注目されている。ＭＳＲ再生方式
は、ビームスポット径よりも小さい寸法で形成された記
録マークを再生可能とする再生方法であり、様々な方式
が提案されている。本願出願人は、特開平７−244877号
公報にてＭＳＲ再生可能な光磁気ディスクであるＭＳＲ
媒体を提案している。図３３及び図３４は、特開平７−
244877号公報にて開示されたＭＳＲ媒体の再生時の磁化
状態を示す図である。図３３はＲＡＤ（Rear Aperture
Detection ）方式を示し、図３４はＦＡＤ（Front Aper
ture Detection）方式を示している。
てＭＳＲ再生方式が注目されている。ＭＳＲ再生方式
は、ビームスポット径よりも小さい寸法で形成された記
録マークを再生可能とする再生方法であり、様々な方式
が提案されている。本願出願人は、特開平７−244877号
公報にてＭＳＲ再生可能な光磁気ディスクであるＭＳＲ
媒体を提案している。図３３及び図３４は、特開平７−
244877号公報にて開示されたＭＳＲ媒体の再生時の磁化
状態を示す図である。図３３はＲＡＤ（Rear Aperture
Detection ）方式を示し、図３４はＦＡＤ（Front Aper
ture Detection）方式を示している。
【０００４】図３３に示すように、光磁気ディスク５０
は基板（図示せず）上に再生層５１，中間層５２及び記
録層５３をこの順に積層して構成されている。再生層５
１はＧｄＦｅＣｏのような希土類−遷移金属非晶質合金
膜からなり、垂直方向に磁化容易軸を有している。中間
層５２は、ＧｄＦｅのような希土類−遷移金属非晶質合
金膜からなり、室温では面内方向に磁化容易軸を有して
おり、レーザ光の照射により昇温された所定温度になる
とその磁化容易軸が面内方向から垂直方向に変化する。
また、記録層５３はＴｂＦｅＣｏ，ＤｙＦｅＣｏのよう
な希土類−遷移金属非晶質合金膜からなり、垂直方向に
磁化容易軸を有している。再生層５１，中間層５２及び
記録層５３のキュリー温度を夫々Ｔｃ１，Ｔｃ２，Ｔｃ
３とした場合に、Ｔｃ２＜Ｔｃ１，Ｔｃ２＜Ｔｃ３の関
係を満たしている。また、再生層５１及び記録層５３の
室温における保磁力を夫々Ｈｃ１，Ｈｃ３とした場合
に、Ｈｃ１＜Ｈｃ３の関係を満たしている。
は基板（図示せず）上に再生層５１，中間層５２及び記
録層５３をこの順に積層して構成されている。再生層５
１はＧｄＦｅＣｏのような希土類−遷移金属非晶質合金
膜からなり、垂直方向に磁化容易軸を有している。中間
層５２は、ＧｄＦｅのような希土類−遷移金属非晶質合
金膜からなり、室温では面内方向に磁化容易軸を有して
おり、レーザ光の照射により昇温された所定温度になる
とその磁化容易軸が面内方向から垂直方向に変化する。
また、記録層５３はＴｂＦｅＣｏ，ＤｙＦｅＣｏのよう
な希土類−遷移金属非晶質合金膜からなり、垂直方向に
磁化容易軸を有している。再生層５１，中間層５２及び
記録層５３のキュリー温度を夫々Ｔｃ１，Ｔｃ２，Ｔｃ
３とした場合に、Ｔｃ２＜Ｔｃ１，Ｔｃ２＜Ｔｃ３の関
係を満たしている。また、再生層５１及び記録層５３の
室温における保磁力を夫々Ｈｃ１，Ｈｃ３とした場合
に、Ｈｃ１＜Ｈｃ３の関係を満たしている。
【０００５】再生層５１は、信号の読み出し又は磁気超
解像のためのマスク層として機能する。また中間層５２
は室温では面内性を示すが、昇温により記録層５３と交
換結合してその磁化方向を再生層５１に転写する。記録
層５３は、記録用磁界を印加しながらキュリー温度付近
に昇温することにより磁化方向を反転させ、これにより
熱磁気記録が行われる。
解像のためのマスク層として機能する。また中間層５２
は室温では面内性を示すが、昇温により記録層５３と交
換結合してその磁化方向を再生層５１に転写する。記録
層５３は、記録用磁界を印加しながらキュリー温度付近
に昇温することにより磁化方向を反転させ、これにより
熱磁気記録が行われる。
【０００６】記録層５３に記録されたデータを再生する
場合は、媒体上に形成されたレーザスポット５５内に生
じる温度勾配を利用して、微小な記録マークを再生す
る。レーザスポット５５内の温度が低い領域では、中間
層５２の磁化は面内方向を向いているので再生層５１の
磁化は上方向に揃う（フロントマスク）。一方、低温領
域よりも温度が高い中間温度領域領域では、記録層５３
が中間層５２と交換結合し、中間層５２が再生層５１と
交換結合して記録層５３のデータを再生層５１に転写
し、開口部を形成する。さらに温度が高い高温領域で
は、中間層５２のキュリー温度Ｔｃ２以上になり、再生
層５１の磁化方向が再生磁場方向に揃う（リアマス
ク）。このように、ＲＡＤ方式を用いて磁気光学的出力
を検出した場合は、レーザスポット５５内において低温
領域と高温領域とが磁気的にマスクを形成し、光磁気信
号を読出さない。また、大きな磁場を印加する初期化磁
石を設けずに超解像再生が可能であり、且つ高い再生出
力を得ることができ、レーザ光の波長の回折限界以下の
小さなマークを正確に再生できる。
場合は、媒体上に形成されたレーザスポット５５内に生
じる温度勾配を利用して、微小な記録マークを再生す
る。レーザスポット５５内の温度が低い領域では、中間
層５２の磁化は面内方向を向いているので再生層５１の
磁化は上方向に揃う（フロントマスク）。一方、低温領
域よりも温度が高い中間温度領域領域では、記録層５３
が中間層５２と交換結合し、中間層５２が再生層５１と
交換結合して記録層５３のデータを再生層５１に転写
し、開口部を形成する。さらに温度が高い高温領域で
は、中間層５２のキュリー温度Ｔｃ２以上になり、再生
層５１の磁化方向が再生磁場方向に揃う（リアマス
ク）。このように、ＲＡＤ方式を用いて磁気光学的出力
を検出した場合は、レーザスポット５５内において低温
領域と高温領域とが磁気的にマスクを形成し、光磁気信
号を読出さない。また、大きな磁場を印加する初期化磁
石を設けずに超解像再生が可能であり、且つ高い再生出
力を得ることができ、レーザ光の波長の回折限界以下の
小さなマークを正確に再生できる。
【０００７】次に、図３４に示すＦＡＤ方式について説
明する。ＦＡＤ方式は、レーザスポット５５内の高温領
域をマスク領域とし、低温領域から記録マークを読出
す。この光磁気ディスク６０は、図３４に示すように、
基板（図示せず）上に再生層６１，スイッチ層６２及び
記録層６３をこの順に積層して構成されている。室温に
おいてはスイッチ層６２を介した交換結合力によって再
生層６１の磁化の向きは記録層６３と同じとなる。しか
しながら、再生層のレーザ光の照射によって温度が上昇
してスイッチ層６２のキュリー温度を越えた部分（マス
ク）では記録層６３からの交換結合力が切れるので、そ
の部分の再生層６１の磁化の向きは、外部から印加する
再生磁界の向きに揃う。その結果、高温領域は形成され
た記録マークを覆い隠すマスクとなり、低温領域では記
録層６３の記録データが再生層６１に転写されて開口部
が形成される。しかしながらこの方式では、低温領域か
らの再生であるため開口部が広く、得られる信号出力は
上述したＲＡＤ方式よりも小さい。
明する。ＦＡＤ方式は、レーザスポット５５内の高温領
域をマスク領域とし、低温領域から記録マークを読出
す。この光磁気ディスク６０は、図３４に示すように、
基板（図示せず）上に再生層６１，スイッチ層６２及び
記録層６３をこの順に積層して構成されている。室温に
おいてはスイッチ層６２を介した交換結合力によって再
生層６１の磁化の向きは記録層６３と同じとなる。しか
しながら、再生層のレーザ光の照射によって温度が上昇
してスイッチ層６２のキュリー温度を越えた部分（マス
ク）では記録層６３からの交換結合力が切れるので、そ
の部分の再生層６１の磁化の向きは、外部から印加する
再生磁界の向きに揃う。その結果、高温領域は形成され
た記録マークを覆い隠すマスクとなり、低温領域では記
録層６３の記録データが再生層６１に転写されて開口部
が形成される。しかしながらこの方式では、低温領域か
らの再生であるため開口部が広く、得られる信号出力は
上述したＲＡＤ方式よりも小さい。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このようなＭＳＲ媒体
の記録マークをマークエッジ記録方式により形成するこ
とによって、さらに情報が高密度記録され得る。以下
に、従来のマークエッジ記録方式による記録マークの形
成方法を説明する。図３５は、従来のマークエッジ記録
方式によるレーザ光の記録波形及び記録マーク長を示し
た図であり、マルチパルス記録方式により記録マークが
形成されている。図に示すように、２Ｔのマーク長の記
録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（３
／２）Ｔ期間照射する。そして、パワー値ＰｂでＴ期間
照射した後、次の記録マーク形成部までパワー値Ｐａで
照射してスペース部を形成している。ここでＴはクロッ
ク周期である。
の記録マークをマークエッジ記録方式により形成するこ
とによって、さらに情報が高密度記録され得る。以下
に、従来のマークエッジ記録方式による記録マークの形
成方法を説明する。図３５は、従来のマークエッジ記録
方式によるレーザ光の記録波形及び記録マーク長を示し
た図であり、マルチパルス記録方式により記録マークが
形成されている。図に示すように、２Ｔのマーク長の記
録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（３
／２）Ｔ期間照射する。そして、パワー値ＰｂでＴ期間
照射した後、次の記録マーク形成部までパワー値Ｐａで
照射してスペース部を形成している。ここでＴはクロッ
ク周期である。
【０００９】３Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐ
ｗ１でレーザ光を（３／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａで（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐｗ２で（１／
２）Ｔ期間照射する。また、４Ｔの記録マーク形成部で
は、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（３／２）Ｔ期間照射
した後、パワー値Ｐａとパワー値Ｐｗ２とを（１／２）
Ｔ期間ずつ交互に２回照射する。なお、ここでパワー値
は、Ｐｗ２＞Ｐｗ１＞Ｐａ＞Ｐｂの関係を満たしてい
る。このようなマルチパルス記録方式では、３Ｔ以長の
記録マーク形成部にて、パワー値Ｐｗ１のレーザ光を照
射した後に上縁がパワー値Ｐｗ２で下縁がパワー値Ｐａ
のパルス光を記録マークの長さに応じた数だけ照射す
る。これにより記録マークが長くなるほどパルス光の数
が多くなるので、記録周波数が低い場合即ち記録マーク
が長い場合でも必要以上の熱を蓄積せず、記録マークの
エッジシフトを低減することができる。
ｗ１でレーザ光を（３／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａで（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐｗ２で（１／
２）Ｔ期間照射する。また、４Ｔの記録マーク形成部で
は、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（３／２）Ｔ期間照射
した後、パワー値Ｐａとパワー値Ｐｗ２とを（１／２）
Ｔ期間ずつ交互に２回照射する。なお、ここでパワー値
は、Ｐｗ２＞Ｐｗ１＞Ｐａ＞Ｐｂの関係を満たしてい
る。このようなマルチパルス記録方式では、３Ｔ以長の
記録マーク形成部にて、パワー値Ｐｗ１のレーザ光を照
射した後に上縁がパワー値Ｐｗ２で下縁がパワー値Ｐａ
のパルス光を記録マークの長さに応じた数だけ照射す
る。これにより記録マークが長くなるほどパルス光の数
が多くなるので、記録周波数が低い場合即ち記録マーク
が長い場合でも必要以上の熱を蓄積せず、記録マークの
エッジシフトを低減することができる。
【００１０】しかしながら、上述したようなＭＳＲ媒体
にマルチパルス記録方式により記録マークを形成した場
合には、記録周波数が高い信号に対しては再生ビーム光
径よりも小径の記録マークを形成しなければならず、記
録ビームの光径を絞って照射する。このとき記録マーク
のエッジに与える熱の影響が通常の記録ビーム光の照射
の場合よりも大きくなり、これにより、例えば２Ｔ及び
３Ｔのような短い記録マークでエッジシフトが生じ易い
という問題があった。
にマルチパルス記録方式により記録マークを形成した場
合には、記録周波数が高い信号に対しては再生ビーム光
径よりも小径の記録マークを形成しなければならず、記
録ビームの光径を絞って照射する。このとき記録マーク
のエッジに与える熱の影響が通常の記録ビーム光の照射
の場合よりも大きくなり、これにより、例えば２Ｔ及び
３Ｔのような短い記録マークでエッジシフトが生じ易い
という問題があった。
【００１１】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、５値のパワー値を用いたマルチパルス記録方
式により記録マークを形成することにより、高周波記録
に対するエッジシフト及びジッタを低減できる情報記録
方法を提供することを目的とする。
のであり、５値のパワー値を用いたマルチパルス記録方
式により記録マークを形成することにより、高周波記録
に対するエッジシフト及びジッタを低減できる情報記録
方法を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】第１発明に係る光記録媒
体の情報記録方法は、パルス発光されるビーム光の光記
録媒体への照射により、一連の記録マーク及び該記録マ
ーク間のスペースが形成され、記録すべき二値情報の一
方を前記記録マークの前縁及び後縁に対応させて光記録
媒体に情報を記録する情報記録方法において、前記記録
マーク及びスペースは、前記光記録媒体の冷却のための
ボトムパワー値Ｐｂと、前記記録マーク形成のための第
１の主熱パワー値Ｐｗ１、第２の主熱パワー値Ｐｗ２及
び第１の予熱パワー値Ｐａｗと、前記スペース形成のた
めの第２の予熱パワー値Ｐａｅとを用いて形成され、夫
々のパワー値は、 Ｐｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐｂ Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅ の関係を満たし、最短の記録マークは、その両側のスペ
ース部後縁と前縁とに夫々対応するボトムパワー値Ｐｂ
の間において、第１の主熱パワー値Ｐｗ１、第１の予熱
パワー値Ｐａｗ、第１の主熱パワー値Ｐｗ１の順にパワ
ー変化するパルス光を用いて形成し、その他の記録マー
クは、その両側のスペース部後縁と前縁とに夫々対応す
るボトムパワー値Ｐｂの間において、第１の主熱パワー
値Ｐｗ１又は第２主熱パワー値Ｐｗ２と第１の予熱パワ
ー値Ｐａｗとの間でのパワー変化を複数回繰り返すパル
ス光を用いて形成し、前記スペースは、ボトムパワー値
Ｐｂから、第２の予熱パワー値Ｐａｅを経てボトムパワ
ー値Ｐｂに戻る順にパワー変化するパルス光を用いて形
成す ることを特徴とする。
体の情報記録方法は、パルス発光されるビーム光の光記
録媒体への照射により、一連の記録マーク及び該記録マ
ーク間のスペースが形成され、記録すべき二値情報の一
方を前記記録マークの前縁及び後縁に対応させて光記録
媒体に情報を記録する情報記録方法において、前記記録
マーク及びスペースは、前記光記録媒体の冷却のための
ボトムパワー値Ｐｂと、前記記録マーク形成のための第
１の主熱パワー値Ｐｗ１、第２の主熱パワー値Ｐｗ２及
び第１の予熱パワー値Ｐａｗと、前記スペース形成のた
めの第２の予熱パワー値Ｐａｅとを用いて形成され、夫
々のパワー値は、 Ｐｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐｂ Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅ の関係を満たし、最短の記録マークは、その両側のスペ
ース部後縁と前縁とに夫々対応するボトムパワー値Ｐｂ
の間において、第１の主熱パワー値Ｐｗ１、第１の予熱
パワー値Ｐａｗ、第１の主熱パワー値Ｐｗ１の順にパワ
ー変化するパルス光を用いて形成し、その他の記録マー
クは、その両側のスペース部後縁と前縁とに夫々対応す
るボトムパワー値Ｐｂの間において、第１の主熱パワー
値Ｐｗ１又は第２主熱パワー値Ｐｗ２と第１の予熱パワ
ー値Ｐａｗとの間でのパワー変化を複数回繰り返すパル
ス光を用いて形成し、前記スペースは、ボトムパワー値
Ｐｂから、第２の予熱パワー値Ｐａｅを経てボトムパワ
ー値Ｐｂに戻る順にパワー変化するパルス光を用いて形
成す ることを特徴とする。
【００１３】
【００１４】
【００１５】第１発明にあっては、記録マーク及びスペ
ースの形成にボトムパワー値Ｐｂ、第１，第２の主熱パ
ワー値Ｐｗ１，Ｐｗ２及び第１，第２の予熱パワー値Ｐ
ａｗ，Ｐａｅの５値を用い、最短の記録マーク（マーク
長２Ｔの記録マーク）を形成する際には、前後のＰｂの
間に、Ｐｗ１、Ｐａｗ、Ｐｗ１の順に配列したパルス光
を用い、また他の長さの記録マーク（マーク長３Ｔ以上
の記録マーク）を形成する際には、前後のＰｂの間に、
Ｐｗ１又はＰｗ２とＰａｗとの間でのパワー変化をマー
ク長に応じて複数回繰り返すように配列したパルス光を
用い、更にスペースを形成する際には、Ｐｂ、Ｐａｅ、
Ｐｂの順に配列したパルス光を用いることにより、再生
ビーム光径よりも小径の記録マークをＭＳＲ媒体に形成
した場合であっても、特に、２Ｔ、３Ｔなるマーク長を
有する短い記録マークのエッジシフト及びジッタの増大
を抑制できる。後述する図５には本発明の実施の形態の
５値のパワー値の記録波形が示され、図１２には比較例
である４値のパワー値の記録波形が示されている。両者
の相違は記録マークの形成の際のパルス下縁のパワー値
である。本発明の実施の形態ではパルス下縁は第１の予
熱パワー値Ｐａｗであり、スペース部の予熱パワー値Ｐ
ａｅと異なるのに対し、比較例ではパルス下縁はパワー
値Ｐａであり、スペース部の予熱パワー値と同値であ
る。これらの記録波形で記録マークを夫々形成した場合
に、後述する図８〜図９及び図１３〜図１４に示した結
果から、本発明の実施の形態では比較例と比べて特に高
周波記録に対するエッジシフト及びジッタが低減されて
いることが判る。
ースの形成にボトムパワー値Ｐｂ、第１，第２の主熱パ
ワー値Ｐｗ１，Ｐｗ２及び第１，第２の予熱パワー値Ｐ
ａｗ，Ｐａｅの５値を用い、最短の記録マーク（マーク
長２Ｔの記録マーク）を形成する際には、前後のＰｂの
間に、Ｐｗ１、Ｐａｗ、Ｐｗ１の順に配列したパルス光
を用い、また他の長さの記録マーク（マーク長３Ｔ以上
の記録マーク）を形成する際には、前後のＰｂの間に、
Ｐｗ１又はＰｗ２とＰａｗとの間でのパワー変化をマー
ク長に応じて複数回繰り返すように配列したパルス光を
用い、更にスペースを形成する際には、Ｐｂ、Ｐａｅ、
Ｐｂの順に配列したパルス光を用いることにより、再生
ビーム光径よりも小径の記録マークをＭＳＲ媒体に形成
した場合であっても、特に、２Ｔ、３Ｔなるマーク長を
有する短い記録マークのエッジシフト及びジッタの増大
を抑制できる。後述する図５には本発明の実施の形態の
５値のパワー値の記録波形が示され、図１２には比較例
である４値のパワー値の記録波形が示されている。両者
の相違は記録マークの形成の際のパルス下縁のパワー値
である。本発明の実施の形態ではパルス下縁は第１の予
熱パワー値Ｐａｗであり、スペース部の予熱パワー値Ｐ
ａｅと異なるのに対し、比較例ではパルス下縁はパワー
値Ｐａであり、スペース部の予熱パワー値と同値であ
る。これらの記録波形で記録マークを夫々形成した場合
に、後述する図８〜図９及び図１３〜図１４に示した結
果から、本発明の実施の形態では比較例と比べて特に高
周波記録に対するエッジシフト及びジッタが低減されて
いることが判る。
【００１６】第２発明に係る光記録媒体の情報記録方法
は、第１発明において、前記ボトムパワー値Ｐｂは、Ｐ
ｂ＝０，の関係を満たすことを特徴とする。
は、第１発明において、前記ボトムパワー値Ｐｂは、Ｐ
ｂ＝０，の関係を満たすことを特徴とする。
【００１７】第２発明にあっては、後述する本発明の実
施の形態についての測定結果から（図１５，図２２及び
図２９参照）、Ｐｂ＝０の場合にエッジシフト及びジッ
タがさらに低減されると言える。
施の形態についての測定結果から（図１５，図２２及び
図２９参照）、Ｐｂ＝０の場合にエッジシフト及びジッ
タがさらに低減されると言える。
【００１８】第３発明に係る光記録媒体の情報記録方法
は、第１発明において、前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１
及び第２の主熱パワー値Ｐｗ２は、−１．０ｍＷ≦Ｐｗ
１−Ｐｗ２≦１．０ｍＷ，の関係を満たすことを特徴と
する。
は、第１発明において、前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１
及び第２の主熱パワー値Ｐｗ２は、−１．０ｍＷ≦Ｐｗ
１−Ｐｗ２≦１．０ｍＷ，の関係を満たすことを特徴と
する。
【００１９】第３発明にあっては、後述する本発明の実
施の形態についての測定結果から（図１６，図２３及び
図３０参照）、−１．０ｍＷ≦Ｐｗ１−Ｐｗ２≦１．０
ｍＷの場合にエッジシフト及びジッタがさらに低減され
ると言える。
施の形態についての測定結果から（図１６，図２３及び
図３０参照）、−１．０ｍＷ≦Ｐｗ１−Ｐｗ２≦１．０
ｍＷの場合にエッジシフト及びジッタがさらに低減され
ると言える。
【００２０】第４発明に係る光記録媒体の情報記録方法
は、第１発明において、前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１
及び第１の予熱パワー値Ｐａｗは、１．５≦Ｐｗ１／Ｐ
ａｗ≦３．０，の関係を満たすことを特徴とする。
は、第１発明において、前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１
及び第１の予熱パワー値Ｐａｗは、１．５≦Ｐｗ１／Ｐ
ａｗ≦３．０，の関係を満たすことを特徴とする。
【００２１】第４発明にあっては、後述する本発明の実
施の形態についての測定結果から（図１７，図２４及び
図３１参照）、１．５≦Ｐｗ１／Ｐａｗ≦３．０の場合
にエッジシフト及びジッタがさらに低減されると言え
る。
施の形態についての測定結果から（図１７，図２４及び
図３１参照）、１．５≦Ｐｗ１／Ｐａｗ≦３．０の場合
にエッジシフト及びジッタがさらに低減されると言え
る。
【００２２】第５発明に係る光記録媒体の情報記録方法
は、第１発明において、前記第１の予熱パワー値Ｐｗ１
及び第２の予熱パワー値Ｐａｅは、２．０≦Ｐｗ１／Ｐ
ａｅ，の関係を満たすことを特徴とする。
は、第１発明において、前記第１の予熱パワー値Ｐｗ１
及び第２の予熱パワー値Ｐａｅは、２．０≦Ｐｗ１／Ｐ
ａｅ，の関係を満たすことを特徴とする。
【００２３】第５発明にあっては、後述する本発明の実
施の形態についての測定結果から（図１８，図２５及び
図３２参照）、２．０≦Ｐｗ１／Ｐａｅの場合にエッジ
シフト及びジッタがさらに低減されると言える。
施の形態についての測定結果から（図１８，図２５及び
図３２参照）、２．０≦Ｐｗ１／Ｐａｅの場合にエッジ
シフト及びジッタがさらに低減されると言える。
【００２４】
【発明の実施の形態】以下、本発明をその実施の形態を
示す図面に基づき具体的に説明する。図１は本発明の記
録方法の実施に用いる記録再生装置の構成を示すブロッ
ク図である。図中、Ｄは後述する膜構成を有する光磁気
ディスクであり、光ヘッド部１２に対向して配されてい
る。入力系端子を経て、符号化された記録すべきデータ
がＡＰＣ（レーザパワー自動制御機構）１に入力され
る。ＡＰＣ１は光ヘッド部１２から出射されるレーザ光
のパワーを制御する信号を出力する制御機構であり、入
力されたデータに応じた信号ａ〜ｆをＬＤ（レーザダイ
オード）回路２へ出力するようになっている。
示す図面に基づき具体的に説明する。図１は本発明の記
録方法の実施に用いる記録再生装置の構成を示すブロッ
ク図である。図中、Ｄは後述する膜構成を有する光磁気
ディスクであり、光ヘッド部１２に対向して配されてい
る。入力系端子を経て、符号化された記録すべきデータ
がＡＰＣ（レーザパワー自動制御機構）１に入力され
る。ＡＰＣ１は光ヘッド部１２から出射されるレーザ光
のパワーを制御する信号を出力する制御機構であり、入
力されたデータに応じた信号ａ〜ｆをＬＤ（レーザダイ
オード）回路２へ出力するようになっている。
【００２５】図２は図１に示すＬＤ回路２の構成を示す
回路図である。ＬＤ回路２は、半導体レーザ光源２３と
半導体レーザ光源２３の制御回路とを備えており、入力
された信号に基づいて半導体レーザ光源２３から所定の
パワー値のレーザ光を出射せしめる回路である。図２に
示すように、半導体レーザ光源２３の制御回路は第１〜
第６定電流源Ｉｗ1 ，Ｉｗ2 ，Ｉａｗ，Ｉａｅ，Ｉｂ，
Ｉｒと、各定電流源と半導体レーザ光源２３との間に接
続された第１〜第６スイッチＳＷ1 ，ＳＷ2 ，ＳＷ3 ，
ＳＷ4 ，ＳＷ5 ，ＳＷ6 とを備えて構成されている。第
１〜第６スイッチＳＷ1 〜ＳＷ6 の夫々は、第１〜第６
定電流源Ｉｗ1 〜１ｒ夫々から半導体レーザ光源２３へ
の電流の供給／遮断を、そのオン／オフに応じて行な
い、第１〜第６スイッチＳＷ1 〜ＳＷ6 のオン／オフの
制御は、ＡＰＣ１から入力される信号ａ〜ｆの出力に応
じて夫々行なわれるようになっている。
回路図である。ＬＤ回路２は、半導体レーザ光源２３と
半導体レーザ光源２３の制御回路とを備えており、入力
された信号に基づいて半導体レーザ光源２３から所定の
パワー値のレーザ光を出射せしめる回路である。図２に
示すように、半導体レーザ光源２３の制御回路は第１〜
第６定電流源Ｉｗ1 ，Ｉｗ2 ，Ｉａｗ，Ｉａｅ，Ｉｂ，
Ｉｒと、各定電流源と半導体レーザ光源２３との間に接
続された第１〜第６スイッチＳＷ1 ，ＳＷ2 ，ＳＷ3 ，
ＳＷ4 ，ＳＷ5 ，ＳＷ6 とを備えて構成されている。第
１〜第６スイッチＳＷ1 〜ＳＷ6 の夫々は、第１〜第６
定電流源Ｉｗ1 〜１ｒ夫々から半導体レーザ光源２３へ
の電流の供給／遮断を、そのオン／オフに応じて行な
い、第１〜第６スイッチＳＷ1 〜ＳＷ6 のオン／オフの
制御は、ＡＰＣ１から入力される信号ａ〜ｆの出力に応
じて夫々行なわれるようになっている。
【００２６】即ち、第１の定電流源Ｉｗ1 は、信号ａに
より第１のスイッチＳＷ1 が閉じたときに設定電流値を
半導体レーザ光源に与える。第２の定電流源Ｉｗ2 は、
信号ｂにより第２のスイッチＳＷ2 が閉じたときに設定
電流値を半導体レーザ光源に与える。第３の定電流源Ｉ
ａｗは、信号ｃにより第３のスイッチＳＷ3 が閉じたと
きに設定電流値を半導体レーザ光源に与える。第４の定
電流源Ｉａは、信号ｄにより第４のスイッチＳＷ4 が閉
じたときに設定電流値を半導体レーザ光源に与える。第
５の定電流源Ｉｂは、信号ｅにより第５のスイッチＳＷ
5 が閉じたときに設定電流値を半導体レーザ光源に与え
る。第６の定電流源Ｉｒは、信号ｆにより第６のスイッ
チＳＷ6 が閉じたときに設定電流値を半導体レーザ光源
に与える。そして、半導体レーザ光源２３に給与される
電流値は、第１〜第６定電流源Ｉｗ１〜Ｉｒから供給さ
れた設定電流値を加算した値となる。
より第１のスイッチＳＷ1 が閉じたときに設定電流値を
半導体レーザ光源に与える。第２の定電流源Ｉｗ2 は、
信号ｂにより第２のスイッチＳＷ2 が閉じたときに設定
電流値を半導体レーザ光源に与える。第３の定電流源Ｉ
ａｗは、信号ｃにより第３のスイッチＳＷ3 が閉じたと
きに設定電流値を半導体レーザ光源に与える。第４の定
電流源Ｉａは、信号ｄにより第４のスイッチＳＷ4 が閉
じたときに設定電流値を半導体レーザ光源に与える。第
５の定電流源Ｉｂは、信号ｅにより第５のスイッチＳＷ
5 が閉じたときに設定電流値を半導体レーザ光源に与え
る。第６の定電流源Ｉｒは、信号ｆにより第６のスイッ
チＳＷ6 が閉じたときに設定電流値を半導体レーザ光源
に与える。そして、半導体レーザ光源２３に給与される
電流値は、第１〜第６定電流源Ｉｗ１〜Ｉｒから供給さ
れた設定電流値を加算した値となる。
【００２７】以上の如き構成のレーザ回路２により出射
されたレーザ光は、光ヘッド部１２が備える光学機構１
３を経て光磁気ディスクＤに照射され、（１，７）ＲＬ
Ｌ変調符号が光磁気記録ディスクＤに記録される。この
とき光磁気ディスクＤは、図示しないモータにより2400
rpm で回転される。なお、（１，７）ＲＬＬ変調符号に
おける最短マークは0.34μｍであり、レーザ光の波長は
680 nmで、光学機構１３の対物レンズのＮＡ（開口数）
は0.55である。このように光磁気ディスクＤに記録され
たデータは、再生用のレーザ光が光磁気ディスクＤに照
射され、その反射光が光学機構１３を経てＰＤ（フォト
ダイオード）回路３へ入光され、電気信号に変換されて
プリアンプ４へ入力される。プリアンプ４にて増幅され
た再生信号はＬＰＦ（ローパスフィルタ）５へ入力され
て高周波域の雑音が除かれ、出力系端子から出力される
ようになっている。
されたレーザ光は、光ヘッド部１２が備える光学機構１
３を経て光磁気ディスクＤに照射され、（１，７）ＲＬ
Ｌ変調符号が光磁気記録ディスクＤに記録される。この
とき光磁気ディスクＤは、図示しないモータにより2400
rpm で回転される。なお、（１，７）ＲＬＬ変調符号に
おける最短マークは0.34μｍであり、レーザ光の波長は
680 nmで、光学機構１３の対物レンズのＮＡ（開口数）
は0.55である。このように光磁気ディスクＤに記録され
たデータは、再生用のレーザ光が光磁気ディスクＤに照
射され、その反射光が光学機構１３を経てＰＤ（フォト
ダイオード）回路３へ入光され、電気信号に変換されて
プリアンプ４へ入力される。プリアンプ４にて増幅され
た再生信号はＬＰＦ（ローパスフィルタ）５へ入力され
て高周波域の雑音が除かれ、出力系端子から出力される
ようになっている。
【００２８】次に、本発明の情報記録方法に使用する光
磁気ディスクＤの膜構成について説明する。図３は本発
明に用いる光磁気ディスクの膜構成図である。図３に示
すように、光磁気ディスクＤは、0.6 μｍピッチにてラ
ンド及びグルーブが夫々形成されたランド／グルーブ記
録が可能な基板３１上に誘電体層３２、再生層３３、中
間層３４、記録層３５及び保護層３６を積層して構成さ
れている。また図４は本発明に用いる他の光磁気ディス
クの膜構成図であり、保護層３６上に反射層３７を積層
した構成である。いずれも図３３及び図３４に示したＭ
ＳＲ再生が可能な膜構成を有している。
磁気ディスクＤの膜構成について説明する。図３は本発
明に用いる光磁気ディスクの膜構成図である。図３に示
すように、光磁気ディスクＤは、0.6 μｍピッチにてラ
ンド及びグルーブが夫々形成されたランド／グルーブ記
録が可能な基板３１上に誘電体層３２、再生層３３、中
間層３４、記録層３５及び保護層３６を積層して構成さ
れている。また図４は本発明に用いる他の光磁気ディス
クの膜構成図であり、保護層３６上に反射層３７を積層
した構成である。いずれも図３３及び図３４に示したＭ
ＳＲ再生が可能な膜構成を有している。
【００２９】第１の実施の形態
上述した記録再生装置を用いて、光磁気ディスクＤのラ
ンド及びグルーブの両方に（１，７）ＲＬＬ変調符号を
記録した。図５は、本発明の第１の実施の形態の記録方
法による記録波形及び記録マークを示す図であり、マル
チパルス記録方式により記録マークが形成される。光磁
気ディスクＤの膜構成は図３に示す膜構成と同様であ
り、基板３１及び各層は以下に示す膜材料及び膜厚を有
し、図３４にて説明した再生原理と同様にＦＡＤ方式の
ＭＳＲ再生が可能である。 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），２７ｎ
ｍ 中間層３４：ＴｂＦｅ（遷移金属磁化優勢），８ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，９０ｎｍ
ンド及びグルーブの両方に（１，７）ＲＬＬ変調符号を
記録した。図５は、本発明の第１の実施の形態の記録方
法による記録波形及び記録マークを示す図であり、マル
チパルス記録方式により記録マークが形成される。光磁
気ディスクＤの膜構成は図３に示す膜構成と同様であ
り、基板３１及び各層は以下に示す膜材料及び膜厚を有
し、図３４にて説明した再生原理と同様にＦＡＤ方式の
ＭＳＲ再生が可能である。 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），２７ｎ
ｍ 中間層３４：ＴｂＦｅ（遷移金属磁化優勢），８ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，９０ｎｍ
【００３０】図５に示すように、２Ｔのマーク長の記録
マーク形成部では、前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１でレ
ーザ光を（１／２）Ｔ期間照射し、前記第１の予熱パワ
ー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間照射し、再びパワー値Ｐ
ｗ１で（１／２）Ｔ期間照射した後、前記ボトムパワー
値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射する。そして
スペース部では、続いて（１／２）Ｔ期間だけパワー値
Ｐｂで照射し、次の記録マーク形成部の（１／２）Ｔ期
間前までを前記第２の予熱パワー値Ｐａｅで照射し、
（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射している。ここ
でＴはクロック周期である。
マーク形成部では、前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１でレ
ーザ光を（１／２）Ｔ期間照射し、前記第１の予熱パワ
ー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間照射し、再びパワー値Ｐ
ｗ１で（１／２）Ｔ期間照射した後、前記ボトムパワー
値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射する。そして
スペース部では、続いて（１／２）Ｔ期間だけパワー値
Ｐｂで照射し、次の記録マーク形成部の（１／２）Ｔ期
間前までを前記第２の予熱パワー値Ｐａｅで照射し、
（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射している。ここ
でＴはクロック周期である。
【００３１】３Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐ
ｗ１でレーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間、前記第２の主熱パワー値
Ｐｗ２で（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐａｗで（１／
２）Ｔ期間照射し、再度パワー値Ｐｗ１で（１／２）Ｔ
期間照射した後、パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間照射
する。４Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１で
レーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー値Ｐａ
ｗとパワー値Ｐｗ２とを（１／２）Ｔ期間ずつ交互に２
回ずつ照射し、パワー値Ｐａｗを（１／２）Ｔ期間、パ
ワー値Ｐｗ１を（１／２）Ｔ期間、そしてパワー値Ｐｂ
を（１／２）Ｔ期間照射する。
ｗ１でレーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間、前記第２の主熱パワー値
Ｐｗ２で（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐａｗで（１／
２）Ｔ期間照射し、再度パワー値Ｐｗ１で（１／２）Ｔ
期間照射した後、パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間照射
する。４Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１で
レーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー値Ｐａ
ｗとパワー値Ｐｗ２とを（１／２）Ｔ期間ずつ交互に２
回ずつ照射し、パワー値Ｐａｗを（１／２）Ｔ期間、パ
ワー値Ｐｗ１を（１／２）Ｔ期間、そしてパワー値Ｐｂ
を（１／２）Ｔ期間照射する。
【００３２】このように本実施の形態では、記録マーク
形成部は、最短マーク（２Ｔ）に上縁がパワー値Ｐｗ１
で下縁がパワー値Ｐａｗのパルス光を用い、３Ｔ以上で
は上縁がＰｗ１で下縁がＰａｗのパルス光と上縁がＰｗ
２で下縁がＰａｗのパルス光とを用いている。３Ｔ以上
の記録マークにおいて、上縁がＰｗ２のパルス光は記録
マークの長さに応じた数だけ照射される。また、各記録
マーク間のスペース部は、上述したように、パワー値Ｐ
ｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射した後、次の記録
マーク形成部の（１／２）Ｔ期間前までをパワー値Ｐａ
ｅで照射し、（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射し
て形成しており、始めと終わりの（１／２）Ｔ期間をパ
ワー値Ｐｂのレーザ光で照射することにより、記録マー
クのエッジをシャープに形成してある。また、各記録マ
ーク形成部の終わりの（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂ
のレーザ光で照射することにより、次の記録マークへの
蓄積熱の影響を緩和している。
形成部は、最短マーク（２Ｔ）に上縁がパワー値Ｐｗ１
で下縁がパワー値Ｐａｗのパルス光を用い、３Ｔ以上で
は上縁がＰｗ１で下縁がＰａｗのパルス光と上縁がＰｗ
２で下縁がＰａｗのパルス光とを用いている。３Ｔ以上
の記録マークにおいて、上縁がＰｗ２のパルス光は記録
マークの長さに応じた数だけ照射される。また、各記録
マーク間のスペース部は、上述したように、パワー値Ｐ
ｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射した後、次の記録
マーク形成部の（１／２）Ｔ期間前までをパワー値Ｐａ
ｅで照射し、（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射し
て形成しており、始めと終わりの（１／２）Ｔ期間をパ
ワー値Ｐｂのレーザ光で照射することにより、記録マー
クのエッジをシャープに形成してある。また、各記録マ
ーク形成部の終わりの（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂ
のレーザ光で照射することにより、次の記録マークへの
蓄積熱の影響を緩和している。
【００３３】なお、本実施の形態では、レーザ光のパワ
ー値はＰｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐ
ｂ，Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ，
Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅを満たし
ている。レーザ光をパワー値Ｐｂで照射する際は、図２
に示す第５及び第６のスイッチＳＷ5 ，ＳＷ6 がオンで
あり、パワー値Ｐａｅで照射する際は、第４〜第６のス
イッチＳＷ4 〜ＳＷ6 がオンである。また、パワー値Ｐ
ａｗで照射する際は第３〜第６のスイッチＳＷ3〜ＳＷ
6 がオン、パワー値Ｐｗ１で照射する際は第２〜第６の
スイッチＳＷ2 〜ＳＷ6 がオン、そしてパワー値Ｐｗ２
で照射する際は第１〜第６のスイッチＳＷ 1 〜ＳＷ6 が
オンである。
ー値はＰｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐ
ｂ，Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ，
Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅを満たし
ている。レーザ光をパワー値Ｐｂで照射する際は、図２
に示す第５及び第６のスイッチＳＷ5 ，ＳＷ6 がオンで
あり、パワー値Ｐａｅで照射する際は、第４〜第６のス
イッチＳＷ4 〜ＳＷ6 がオンである。また、パワー値Ｐ
ａｗで照射する際は第３〜第６のスイッチＳＷ3〜ＳＷ
6 がオン、パワー値Ｐｗ１で照射する際は第２〜第６の
スイッチＳＷ2 〜ＳＷ6 がオン、そしてパワー値Ｐｗ２
で照射する際は第１〜第６のスイッチＳＷ 1 〜ＳＷ6 が
オンである。
【００３４】このように第１の実施の形態の記録方式に
あっては、レーザ光のパワー値は、記録マークを形成す
る際にＰｗ１，Ｐｗ２，Ｐａｗ，Ｐｂの４値に変調さ
れ、スペースを形成する際にＰａｅ，Ｐｂの２値に変調
され、計５値のパワー値を用いて光磁気ディスクＤに情
報が記録される。
あっては、レーザ光のパワー値は、記録マークを形成す
る際にＰｗ１，Ｐｗ２，Ｐａｗ，Ｐｂの４値に変調さ
れ、スペースを形成する際にＰａｅ，Ｐｂの２値に変調
され、計５値のパワー値を用いて光磁気ディスクＤに情
報が記録される。
【００３５】以上の如き記録方法により形成された記録
マークのエッジシフト及びジッタを測定した。エッジシ
フトを評価するために、パターンシフトパターンで記録
した記録マークとサーマルシフトパターンで記録した記
録マークとの夫々についてエッジのシフト量を測定し
た。図６及び図７は、パターンシフト及びサーマルシフ
トを測定するための記録マーク長及びスペース間隔を示
す図である。図６に示すように、パターンシフトパター
ンではスペース間隔を一定にして記録マーク長を変化さ
せてある。このパターンでは、記録マークを形成した際
の熱が記録マークのリアエッジに与える影響を見ること
ができる。また図７に示すように、サーマルシフトパタ
ーンでは記録マーク長を一定にしてスペース間隔を変化
させてある。このパターンでは、スペース間隔での予熱
が次の記録マークのフロントエッジに与える影響を見る
ことができる。
マークのエッジシフト及びジッタを測定した。エッジシ
フトを評価するために、パターンシフトパターンで記録
した記録マークとサーマルシフトパターンで記録した記
録マークとの夫々についてエッジのシフト量を測定し
た。図６及び図７は、パターンシフト及びサーマルシフ
トを測定するための記録マーク長及びスペース間隔を示
す図である。図６に示すように、パターンシフトパター
ンではスペース間隔を一定にして記録マーク長を変化さ
せてある。このパターンでは、記録マークを形成した際
の熱が記録マークのリアエッジに与える影響を見ること
ができる。また図７に示すように、サーマルシフトパタ
ーンでは記録マーク長を一定にしてスペース間隔を変化
させてある。このパターンでは、スペース間隔での予熱
が次の記録マークのフロントエッジに与える影響を見る
ことができる。
【００３６】上述した第１の実施の形態の記録方法を用
いて、記録マークをパターンシフトパターン及びサーマ
ルシフトパターンの両方について形成し、パターンシフ
ト及びサーマルシフトの夫々を測定した。図８は記録マ
ークのシフトを測定した結果を示すグラフである。縦軸
はシフト（％）を示し、横軸は記録パターン長（×Ｔ）
を示している。パターンシフトパターンのシフト（％）
は、形成された記録マークの長さに応じた時間をタイム
インターバルアナライザを用いて測定し、最短記録マー
ク（（１，７）ＲＬＬ変調符号の場合は２Ｔ）の時間を
基準として夫々の長さの記録マークの時間差の割合を求
めている。またサーマルシフトパターンのシフト（％）
は、同様にスペースの長さに応じた時間を測定し、最長
スペース（（１，７）ＲＬＬ変調符号の場合は８Ｔ）の
時間を基準として夫々の長さのスペースの時間差の割合
を求めている。図８から、パターンシフトの範囲は±2.
5％であり、サーマルシフトの範囲は±４％であること
が判る。
いて、記録マークをパターンシフトパターン及びサーマ
ルシフトパターンの両方について形成し、パターンシフ
ト及びサーマルシフトの夫々を測定した。図８は記録マ
ークのシフトを測定した結果を示すグラフである。縦軸
はシフト（％）を示し、横軸は記録パターン長（×Ｔ）
を示している。パターンシフトパターンのシフト（％）
は、形成された記録マークの長さに応じた時間をタイム
インターバルアナライザを用いて測定し、最短記録マー
ク（（１，７）ＲＬＬ変調符号の場合は２Ｔ）の時間を
基準として夫々の長さの記録マークの時間差の割合を求
めている。またサーマルシフトパターンのシフト（％）
は、同様にスペースの長さに応じた時間を測定し、最長
スペース（（１，７）ＲＬＬ変調符号の場合は８Ｔ）の
時間を基準として夫々の長さのスペースの時間差の割合
を求めている。図８から、パターンシフトの範囲は±2.
5％であり、サーマルシフトの範囲は±４％であること
が判る。
【００３７】また、第１の実施の形態の記録方法を用い
て、記録マークをランダムパターン（パターンシフトパ
ターンとサーマルシフトパターンとが混在したパター
ン）で形成し、測定したジッタ（％）から記録パワーマ
ージンを求めた。図９は記録パワーマージンを求めた結
果を示すグラフである。縦軸はジッタ（％）を示し、横
軸はパワー値Ｐｗ１を示している。ここでジッタ10％以
下を記録パワーマージンとする。図９から記録パワーマ
ージンは±15.0％であることが判る。なお、ジッタの測
定は、記録マークのエッジと基準クロックのエッジとの
時間的ずれの標準偏差を算出しており、基準クロックに
対する割合を示している。また、図９に示す夫々のパワ
ー値Ｐｗ１のジッタは、各パワー値Ｐｗ１に対してパワ
ー値Ｐｗ２を異ならせて測定したジッタのうち、最も良
好な値を示している。
て、記録マークをランダムパターン（パターンシフトパ
ターンとサーマルシフトパターンとが混在したパター
ン）で形成し、測定したジッタ（％）から記録パワーマ
ージンを求めた。図９は記録パワーマージンを求めた結
果を示すグラフである。縦軸はジッタ（％）を示し、横
軸はパワー値Ｐｗ１を示している。ここでジッタ10％以
下を記録パワーマージンとする。図９から記録パワーマ
ージンは±15.0％であることが判る。なお、ジッタの測
定は、記録マークのエッジと基準クロックのエッジとの
時間的ずれの標準偏差を算出しており、基準クロックに
対する割合を示している。また、図９に示す夫々のパワ
ー値Ｐｗ１のジッタは、各パワー値Ｐｗ１に対してパワ
ー値Ｐｗ２を異ならせて測定したジッタのうち、最も良
好な値を示している。
【００３８】次に、第１の実施の形態と比較するため
に、図３５に示したようにレーザ光のパワー値を４値に
変調する従来の記録方法により記録マークを形成し、そ
のシフト及び記録パワーマージンを測定した。従来の記
録方法に用いた光磁気ディスクは、第１の実施の形態で
用いた光磁気ディスクＤと同様の膜構成を有し、シフト
及び記録パワーマージンの測定方法については第１の実
施の形態と同様である。図１０は、従来の記録マークの
シフトを測定した結果を示すグラフであり、図１１は、
従来の記録方法の記録パワーマージンを求めた結果を示
すグラフである。なお、シフト及び記録パワーマージン
の測定方法は図８及び図９と同様である。
に、図３５に示したようにレーザ光のパワー値を４値に
変調する従来の記録方法により記録マークを形成し、そ
のシフト及び記録パワーマージンを測定した。従来の記
録方法に用いた光磁気ディスクは、第１の実施の形態で
用いた光磁気ディスクＤと同様の膜構成を有し、シフト
及び記録パワーマージンの測定方法については第１の実
施の形態と同様である。図１０は、従来の記録マークの
シフトを測定した結果を示すグラフであり、図１１は、
従来の記録方法の記録パワーマージンを求めた結果を示
すグラフである。なお、シフト及び記録パワーマージン
の測定方法は図８及び図９と同様である。
【００３９】図１０から、レーザ光を４値に変調して形
成した従来の記録マークのパターンシフト及びサーマル
シフトは、共に±10％を外れていることが判る。また、
図１１から、記録パワーマージンは±7.6 ％であること
が判る。通常、光磁気記録装置の信頼性を考えた場合
に、光磁気ディスクの記録マークのシフトは±10％内、
ジッタは±10％内に抑える必要がある。従来の記録方法
では、最短の記録マークがビーム径よりも小径であるた
めに、２Ｔ，３Ｔの記録マークのシフトが大きくなり
（図１０参照）、このために記録マークのシフト及びジ
ッタが増大していると考えられる。
成した従来の記録マークのパターンシフト及びサーマル
シフトは、共に±10％を外れていることが判る。また、
図１１から、記録パワーマージンは±7.6 ％であること
が判る。通常、光磁気記録装置の信頼性を考えた場合
に、光磁気ディスクの記録マークのシフトは±10％内、
ジッタは±10％内に抑える必要がある。従来の記録方法
では、最短の記録マークがビーム径よりも小径であるた
めに、２Ｔ，３Ｔの記録マークのシフトが大きくなり
（図１０参照）、このために記録マークのシフト及びジ
ッタが増大していると考えられる。
【００４０】さらに第１の実施の形態と比較するため
に、記録マークの形成の際の予熱パワー値をスペースの
予熱パワー値と同値にした比較例の記録方法により記録
マークを形成し、そのシフト及び記録パワーマージンを
測定した。図１２は、比較例の記録方法による記録波形
及び記録マークを示す図である。比較例の記録方法に用
いた光磁気ディスクは、第１の実施の形態で用いた光磁
気ディスクＤと同様の膜構成を有し、シフト及び記録パ
ワーマージンの測定方法については第１の実施の形態と
同様である。図１３は、比較例の記録マークのシフトを
測定した結果を示すグラフであり、図１４は、比較例の
記録方法の記録パワーマージンを求めた結果を示すグラ
フである。なお、シフト及び記録パワーマージンの測定
方法は図８及び図９と同様である。
に、記録マークの形成の際の予熱パワー値をスペースの
予熱パワー値と同値にした比較例の記録方法により記録
マークを形成し、そのシフト及び記録パワーマージンを
測定した。図１２は、比較例の記録方法による記録波形
及び記録マークを示す図である。比較例の記録方法に用
いた光磁気ディスクは、第１の実施の形態で用いた光磁
気ディスクＤと同様の膜構成を有し、シフト及び記録パ
ワーマージンの測定方法については第１の実施の形態と
同様である。図１３は、比較例の記録マークのシフトを
測定した結果を示すグラフであり、図１４は、比較例の
記録方法の記録パワーマージンを求めた結果を示すグラ
フである。なお、シフト及び記録パワーマージンの測定
方法は図８及び図９と同様である。
【００４１】図１３から、比較例の記録マークのサーマ
ルシフトは±10％以内であるがパターンシフトは±10％
を外れていることが判る。また、図１４から、記録パワ
ーマージンは零であることが判る。このように比較例で
は、従来と同様に記録マークのシフト及びジッタが増大
していると考えられる。
ルシフトは±10％以内であるがパターンシフトは±10％
を外れていることが判る。また、図１４から、記録パワ
ーマージンは零であることが判る。このように比較例で
は、従来と同様に記録マークのシフト及びジッタが増大
していると考えられる。
【００４２】これに対して第１の実施の形態は、パター
ンシフトは±2.5 ％、サーマルシフトは±４％であり、
２Ｔ，３Ｔの記録マークについてもシフトは±10％を外
れていない。また、記録パワーマージンは±15.0％であ
る。このことから、第１の実施の形態の記録方法によ
り、ＭＳＲ再生可能な光磁気ディスクＤに高密度に記録
マークを形成した場合でも、高周波域記録のシフトを十
分に低減でき、ジッタを大幅に低減できると言える。
ンシフトは±2.5 ％、サーマルシフトは±４％であり、
２Ｔ，３Ｔの記録マークについてもシフトは±10％を外
れていない。また、記録パワーマージンは±15.0％であ
る。このことから、第１の実施の形態の記録方法によ
り、ＭＳＲ再生可能な光磁気ディスクＤに高密度に記録
マークを形成した場合でも、高周波域記録のシフトを十
分に低減でき、ジッタを大幅に低減できると言える。
【００４３】次に、第１の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｂを変化させた場合のシフト及び記録パ
ワーマージンの変化を調べた。図１５はその結果を示す
グラフであり、縦軸は記録パワーマージン（％）及びシ
フト（％）を示し、横軸はパワー値Ｐｂ（ｍＷ）を示し
ている。ここで、シフト及び記録パワーマージンは、夫
々のパワー値Ｐｂについて図８及び図９に示す如く求め
たシフト範囲及び記録パワーマージンの絶対値を示して
いる。なお、このときのパワー値Ｐｗ１は６ｍＷ、Ｐｗ
２は6.2 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐａｅは1.2 ｍｗで
あり、記録パワーマージンについては、図９に示すよう
にパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。
で、パワー値Ｐｂを変化させた場合のシフト及び記録パ
ワーマージンの変化を調べた。図１５はその結果を示す
グラフであり、縦軸は記録パワーマージン（％）及びシ
フト（％）を示し、横軸はパワー値Ｐｂ（ｍＷ）を示し
ている。ここで、シフト及び記録パワーマージンは、夫
々のパワー値Ｐｂについて図８及び図９に示す如く求め
たシフト範囲及び記録パワーマージンの絶対値を示して
いる。なお、このときのパワー値Ｐｗ１は６ｍＷ、Ｐｗ
２は6.2 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐａｅは1.2 ｍｗで
あり、記録パワーマージンについては、図９に示すよう
にパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。
【００４４】図１５から判るように、パワー値Ｐｂが０
ｍｗである場合に、シフトが最小であり、記録パワーマ
ージンが最大である。これにより、第１の実施の形態の
記録方法において、パワー値Ｐｂを０ｍＷとすることが
好ましいと言える。
ｍｗである場合に、シフトが最小であり、記録パワーマ
ージンが最大である。これにより、第１の実施の形態の
記録方法において、パワー値Ｐｂを０ｍＷとすることが
好ましいと言える。
【００４５】また、第１の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｗ２からＰｗ１を減じた値ΔＰｗ２１を
変化させた場合のシフト及び記録パワーマージンの変化
を調べた。図１６はその結果を示すグラフであり、縦軸
は記録パワーマージン（％）及びシフト（％）を示し、
横軸はパワー値ΔＰｗ２１（ｍＷ）を示している。ここ
で、シフト及び記録パワーマージンは、図１５と同様
に、夫々のパワー値ΔＰｗ２１についてシフト範囲及び
記録パワーマージンを求めた値を示している。なお、こ
のときのパワー値Ｐｗ１は６ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、
Ｐａｅは1.2 ｍＷ、Ｐｂは０ｍＷであり、記録パワーマ
ージンについては、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を
異ならせて求めた値である。
で、パワー値Ｐｗ２からＰｗ１を減じた値ΔＰｗ２１を
変化させた場合のシフト及び記録パワーマージンの変化
を調べた。図１６はその結果を示すグラフであり、縦軸
は記録パワーマージン（％）及びシフト（％）を示し、
横軸はパワー値ΔＰｗ２１（ｍＷ）を示している。ここ
で、シフト及び記録パワーマージンは、図１５と同様
に、夫々のパワー値ΔＰｗ２１についてシフト範囲及び
記録パワーマージンを求めた値を示している。なお、こ
のときのパワー値Ｐｗ１は６ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、
Ｐａｅは1.2 ｍＷ、Ｐｂは０ｍＷであり、記録パワーマ
ージンについては、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を
異ならせて求めた値である。
【００４６】図１６から、パワー値ΔＰｗ２１が±1.0
ｍＷ内である場合に十分なマージンが得られることが判
る。これにより、第１の実施の形態の記録方法におい
て、パワー値（Ｐｗ２−Ｐｗ１）を±1.0 ｍＷとするこ
とが好ましいと言える。また、パワー値（Ｐｗ２−Ｐｗ
１）が1.7 ｍＷのときにパターンシフトが16％であるこ
とから、記録パワーマージンを低下させる要因はパター
ンシフトであることが判る。
ｍＷ内である場合に十分なマージンが得られることが判
る。これにより、第１の実施の形態の記録方法におい
て、パワー値（Ｐｗ２−Ｐｗ１）を±1.0 ｍＷとするこ
とが好ましいと言える。また、パワー値（Ｐｗ２−Ｐｗ
１）が1.7 ｍＷのときにパターンシフトが16％であるこ
とから、記録パワーマージンを低下させる要因はパター
ンシフトであることが判る。
【００４７】さらに、第１の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを変化させた場合のシフト
及び記録パワーマージンの変化を調べた。図１７はその
結果を示すグラフであり、縦軸は記録パワーマージン
（％）及びシフト（％）を示し、横軸はパワー値Ｐｗ１
／Ｐａｗを示している。ここで、シフト及び記録パワー
マージンは、図１５と同様に、夫々のパワー値Ｐｗ１／
Ｐａｗについてシフト範囲及び記録パワーマージンを求
めた値を示している。なお、このときのパワー値Ｐｗ１
は６ｍＷ、Ｐｗ２は6.2 ｍＷ、Ｐａｅは1.2 ｍＷ、Ｐｂ
は０ｍｗであり、記録パワーマージンについては、図９
に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値であ
る。
で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを変化させた場合のシフト
及び記録パワーマージンの変化を調べた。図１７はその
結果を示すグラフであり、縦軸は記録パワーマージン
（％）及びシフト（％）を示し、横軸はパワー値Ｐｗ１
／Ｐａｗを示している。ここで、シフト及び記録パワー
マージンは、図１５と同様に、夫々のパワー値Ｐｗ１／
Ｐａｗについてシフト範囲及び記録パワーマージンを求
めた値を示している。なお、このときのパワー値Ｐｗ１
は６ｍＷ、Ｐｗ２は6.2 ｍＷ、Ｐａｅは1.2 ｍＷ、Ｐｂ
は０ｍｗであり、記録パワーマージンについては、図９
に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値であ
る。
【００４８】図１７から、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗが1.
5 〜３のときにシフト及び記録パワーマージンが十分な
値であることが判る。これにより、第１の実施の形態の
記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを1.5 〜３
とすることが好ましいと言える。
5 〜３のときにシフト及び記録パワーマージンが十分な
値であることが判る。これにより、第１の実施の形態の
記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを1.5 〜３
とすることが好ましいと言える。
【００４９】さらにまた、第１の実施の形態による記録
方法で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを変化させた場合のシ
フト及び記録パワーマージンの変化を調べた。図１８は
その結果を示すグラフであり、縦軸は記録パワーマージ
ン（％）及びシフト（％）を示し、横軸はパワー値Ｐｗ
１／Ｐａｅを示している。ここで、シフト及び記録パワ
ーマージンは、図１５と同様に、夫々のパワー値Ｐｗ１
／Ｐａｅについてシフト範囲及び記録パワーマージンを
求めた値を示している。なお、このときのパワー値Ｐｗ
１は６ｍＷ、Ｐｗ２は6.2 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐ
ｂは０ｍｗであり、記録パワーマージンについては、図
９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値で
ある。
方法で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを変化させた場合のシ
フト及び記録パワーマージンの変化を調べた。図１８は
その結果を示すグラフであり、縦軸は記録パワーマージ
ン（％）及びシフト（％）を示し、横軸はパワー値Ｐｗ
１／Ｐａｅを示している。ここで、シフト及び記録パワ
ーマージンは、図１５と同様に、夫々のパワー値Ｐｗ１
／Ｐａｅについてシフト範囲及び記録パワーマージンを
求めた値を示している。なお、このときのパワー値Ｐｗ
１は６ｍＷ、Ｐｗ２は6.2 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐ
ｂは０ｍｗであり、記録パワーマージンについては、図
９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値で
ある。
【００５０】図１８から、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅが2.
0 以上のときにシフト及び記録パワーマージンが十分な
値であることが判る。これにより、第１の実施の形態の
記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを2.0 以上
とすることが好ましいと言える。なお、パワー値Ｐｗ１
／Ｐａｅの最大値は、レーザ光の最低パワー値のレンジ
限界により、無限大にかぎりなく近い値である。
0 以上のときにシフト及び記録パワーマージンが十分な
値であることが判る。これにより、第１の実施の形態の
記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを2.0 以上
とすることが好ましいと言える。なお、パワー値Ｐｗ１
／Ｐａｅの最大値は、レーザ光の最低パワー値のレンジ
限界により、無限大にかぎりなく近い値である。
【００５１】第２の実施の形態
図５の記録波形を用いてＲＡＤ方式のＭＳＲ媒体（ＲＡ
Ｄ媒体）への記録を行なったところ、上述したＦＡＤ方
式のＭＳＲ媒体（ＦＡＤ媒体）ほどの効果が得られない
ことが判った。これは、ＲＡＤ媒体はＦＡＤ媒体よりも
高い分解能が要求されること、即ちアパーチャが狭いこ
とが原因である。そこで、他の記録波形を用いて、ＲＡ
Ｄ媒体である光磁気ディスクＤのランド及びグルーブの
両方に（１，７）ＲＬＬ変調符号を記録した。図１９
は、第２の実施の形態の記録方法による記録波形及び記
録マークを示す図であり、マルチパルス記録方式により
記録マークが形成されている。光磁気ディスクＤの膜構
成は図３に示す膜構成と同様であり、基板３１及び各層
は以下に示す膜材料及び膜厚を有し、図３３にて説明し
た再生原理と同様にＲＡＤ方式のＭＳＲ再生が可能であ
る。 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（遷移金属類磁化優勢），４
０ｎｍ 中間層３４：ＧｄＦｅ（希土類磁化優勢），４０ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，６０ｎｍ
Ｄ媒体）への記録を行なったところ、上述したＦＡＤ方
式のＭＳＲ媒体（ＦＡＤ媒体）ほどの効果が得られない
ことが判った。これは、ＲＡＤ媒体はＦＡＤ媒体よりも
高い分解能が要求されること、即ちアパーチャが狭いこ
とが原因である。そこで、他の記録波形を用いて、ＲＡ
Ｄ媒体である光磁気ディスクＤのランド及びグルーブの
両方に（１，７）ＲＬＬ変調符号を記録した。図１９
は、第２の実施の形態の記録方法による記録波形及び記
録マークを示す図であり、マルチパルス記録方式により
記録マークが形成されている。光磁気ディスクＤの膜構
成は図３に示す膜構成と同様であり、基板３１及び各層
は以下に示す膜材料及び膜厚を有し、図３３にて説明し
た再生原理と同様にＲＡＤ方式のＭＳＲ再生が可能であ
る。 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（遷移金属類磁化優勢），４
０ｎｍ 中間層３４：ＧｄＦｅ（希土類磁化優勢），４０ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，６０ｎｍ
【００５２】図１９に示すように、２Ｔのマーク長の記
録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（１
／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間照射し、再びパワー値Ｐｗ１で（１／２）Ｔ期間照射
して、パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射
する。その後、スペース部では続いてＴ期間をパワー値
Ｐｂで照射し、次の記録マーク形成部の（１／２）Ｔ期
間前までをパワー値Ｐａｅで照射し、（１／２）Ｔ期間
をパワー値Ｐｂで照射している。
録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（１
／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間照射し、再びパワー値Ｐｗ１で（１／２）Ｔ期間照射
して、パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射
する。その後、スペース部では続いてＴ期間をパワー値
Ｐｂで照射し、次の記録マーク形成部の（１／２）Ｔ期
間前までをパワー値Ｐａｅで照射し、（１／２）Ｔ期間
をパワー値Ｐｂで照射している。
【００５３】３Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐ
ｗ２でレーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐｗ２で
（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間、再度パワー値Ｐｗ２で（１／２）Ｔ期間照射して、
パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射する。
４Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ２でレーザ
光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー値Ｐａｗとパ
ワー値Ｐｗ２とを（１／２）Ｔ期間ずつ交互に３回ずつ
照射し、パワー値Ｐｂを（１／２）Ｔ期間照射する。こ
のように本実施の形態では、記録マーク形成部は最短マ
ーク（２Ｔ）では上縁がＰｗ１で下縁がＰａｗのパルス
光を用い、３Ｔ以降では上縁がＰｗ２で下縁がＰａｗの
パルス光を記録マークの長さに応じた数だけ照射してい
る。
ｗ２でレーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐｗ２で
（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間、再度パワー値Ｐｗ２で（１／２）Ｔ期間照射して、
パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射する。
４Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ２でレーザ
光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー値Ｐａｗとパ
ワー値Ｐｗ２とを（１／２）Ｔ期間ずつ交互に３回ずつ
照射し、パワー値Ｐｂを（１／２）Ｔ期間照射する。こ
のように本実施の形態では、記録マーク形成部は最短マ
ーク（２Ｔ）では上縁がＰｗ１で下縁がＰａｗのパルス
光を用い、３Ｔ以降では上縁がＰｗ２で下縁がＰａｗの
パルス光を記録マークの長さに応じた数だけ照射してい
る。
【００５４】各スペース部は、上述したように、パワー
値ＰｂでＴ期間レーザ光を照射し、次の記録マーク形成
部の（１／２）Ｔ期間前までをパワー値Ｐａｅで照射し
た後、（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射して形成
しており、始めのＴ期間と終わりの（１／２）Ｔ期間と
をパワー値Ｐｂのレーザ光で照射することにより、記録
マークのエッジをシャープに形成してある。また、各記
録マーク形成部の終わりの（１／２）Ｔ期間をパワー値
Ｐｂのレーザ光で照射することにより、次の記録マーク
への蓄積熱の影響を緩和している。
値ＰｂでＴ期間レーザ光を照射し、次の記録マーク形成
部の（１／２）Ｔ期間前までをパワー値Ｐａｅで照射し
た後、（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射して形成
しており、始めのＴ期間と終わりの（１／２）Ｔ期間と
をパワー値Ｐｂのレーザ光で照射することにより、記録
マークのエッジをシャープに形成してある。また、各記
録マーク形成部の終わりの（１／２）Ｔ期間をパワー値
Ｐｂのレーザ光で照射することにより、次の記録マーク
への蓄積熱の影響を緩和している。
【００５５】なお、本実施の形態では、レーザ光のパワ
ー値はＰｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐ
ｂ，Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ，
Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅを満たし
ている。レーザ光を各パワー値で照射する際の各スイッ
チのオン／オフ制御は第１の実施の形態と同様であり、
その説明を省略する。
ー値はＰｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐ
ｂ，Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ，
Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅを満たし
ている。レーザ光を各パワー値で照射する際の各スイッ
チのオン／オフ制御は第１の実施の形態と同様であり、
その説明を省略する。
【００５６】このように第２の実施の形態の記録方式に
あっては、レーザ光のパワー値が、記録マークを形成す
る際にＰｗ１，Ｐｗ２，Ｐａｗ，Ｐｂの４値に変調さ
れ、スペースを形成する際にＰａｅ，Ｐｂの２値に変調
されており、計５値のパワー値を用いて光磁気ディスク
Ｄに情報が記録される。
あっては、レーザ光のパワー値が、記録マークを形成す
る際にＰｗ１，Ｐｗ２，Ｐａｗ，Ｐｂの４値に変調さ
れ、スペースを形成する際にＰａｅ，Ｐｂの２値に変調
されており、計５値のパワー値を用いて光磁気ディスク
Ｄに情報が記録される。
【００５７】以上の如き記録方法により形成された記録
マークのエッジシフト及びジッタを第１の実施の形態と
同様に測定した。図２０は記録マークのシフトを測定し
た結果を示すグラフであり、図２１は記録パワーマージ
ンを求めた結果を示すグラフである。図２０及び図２１
から、パターンシフト及びサーマルシフトの範囲は夫々
±10％以内であり、記録パワーマージンは±17.2％であ
ることが判る。
マークのエッジシフト及びジッタを第１の実施の形態と
同様に測定した。図２０は記録マークのシフトを測定し
た結果を示すグラフであり、図２１は記録パワーマージ
ンを求めた結果を示すグラフである。図２０及び図２１
から、パターンシフト及びサーマルシフトの範囲は夫々
±10％以内であり、記録パワーマージンは±17.2％であ
ることが判る。
【００５８】また第２の実施の形態について、図１２に
示す比較例と同様の記録マークを形成し、そのエッジシ
フト及びジッタを測定したところ、第２の実施の形態と
比較して何れの値も劣っていることが認められた。これ
らにより、第２の実施の形態の記録方法により、ＭＳＲ
再生可能な光磁気ディスクＤに高密度に記録マークを形
成した場合でも、高周波域記録のシフトを十分に低減で
き、ジッタを大幅に低減できると言える。
示す比較例と同様の記録マークを形成し、そのエッジシ
フト及びジッタを測定したところ、第２の実施の形態と
比較して何れの値も劣っていることが認められた。これ
らにより、第２の実施の形態の記録方法により、ＭＳＲ
再生可能な光磁気ディスクＤに高密度に記録マークを形
成した場合でも、高周波域記録のシフトを十分に低減で
き、ジッタを大幅に低減できると言える。
【００５９】次に、第２の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｂを変化させた場合のシフト及び記録パ
ワーマージンの変化を調べた。図２２はその結果を示す
グラフであり、図２２から判るように、パワー値Ｐｂが
０ｍｗである場合に、シフトが最小であり、記録パワー
マージンが最大である。これにより、第２の実施の形態
の記録方法において、パワー値Ｐｂを０ｍＷとすること
が好ましいと言える。なお、このときのパワー値Ｐｗ１
は6.4 ｍＷ、Ｐｗ２は6.0 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐ
ａｅは1.4 ｍｗであり、記録パワーマージンについて
は、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求め
た値である。
で、パワー値Ｐｂを変化させた場合のシフト及び記録パ
ワーマージンの変化を調べた。図２２はその結果を示す
グラフであり、図２２から判るように、パワー値Ｐｂが
０ｍｗである場合に、シフトが最小であり、記録パワー
マージンが最大である。これにより、第２の実施の形態
の記録方法において、パワー値Ｐｂを０ｍＷとすること
が好ましいと言える。なお、このときのパワー値Ｐｗ１
は6.4 ｍＷ、Ｐｗ２は6.0 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐ
ａｅは1.4 ｍｗであり、記録パワーマージンについて
は、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求め
た値である。
【００６０】また、第２の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｗ２からＰｗ１を減じた値ΔＰｗ２１を
変化させた場合のシフト及び記録パワーマージンの変化
を調べた。図２３はその結果を示すグラフであり、図２
３から、パワー値ΔＰｗ２１が−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷ
である場合に十分なマージンが得られることが判る。こ
れにより、第２の実施の形態の記録方法において、パワ
ー値（Ｐｗ２−Ｐｗ１）を−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷとす
ることが好ましいと言える。
で、パワー値Ｐｗ２からＰｗ１を減じた値ΔＰｗ２１を
変化させた場合のシフト及び記録パワーマージンの変化
を調べた。図２３はその結果を示すグラフであり、図２
３から、パワー値ΔＰｗ２１が−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷ
である場合に十分なマージンが得られることが判る。こ
れにより、第２の実施の形態の記録方法において、パワ
ー値（Ｐｗ２−Ｐｗ１）を−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷとす
ることが好ましいと言える。
【００６１】また、パワー値（Ｐｗ２−Ｐｗ１）が1.7
ｍＷのときにパターンシフトが16％であることから、記
録パワーマージンを低下させる要因はパターンシフトで
あることが判る。なお、このときのパワー値Ｐｗ１は6.
4 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐａｅは1.4 ｍＷ、Ｐｂは
０ｍＷであり、記録パワーマージンについては、図９に
示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値であ
る。
ｍＷのときにパターンシフトが16％であることから、記
録パワーマージンを低下させる要因はパターンシフトで
あることが判る。なお、このときのパワー値Ｐｗ１は6.
4 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐａｅは1.4 ｍＷ、Ｐｂは
０ｍＷであり、記録パワーマージンについては、図９に
示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求めた値であ
る。
【００６２】さらに、第２の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを変化させた場合のシフト
及び記録パワーマージンの変化を調べた。図２４はその
結果を示すグラフであり、図２４から、パワー値Ｐｗ１
／Ｐａｗが1.5 〜3.5 のときにシフト及び記録パワーマ
ージンが十分な値であることが判る。これにより、第２
の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐ
ａｗを1.5 〜3.5 とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は6.4 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｅは1.4 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。
で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを変化させた場合のシフト
及び記録パワーマージンの変化を調べた。図２４はその
結果を示すグラフであり、図２４から、パワー値Ｐｗ１
／Ｐａｗが1.5 〜3.5 のときにシフト及び記録パワーマ
ージンが十分な値であることが判る。これにより、第２
の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐ
ａｗを1.5 〜3.5 とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は6.4 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｅは1.4 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。
【００６３】さらにまた、第２の実施の形態による記録
方法で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを変化させた場合のシ
フト及び記録パワーマージンの変化を調べた。図２５は
その結果を示すグラフであり、図２５から、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅが1.8 以上のときにシフト及び記録パワー
マージンが十分な値であることが判る。これにより、第
２の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／
Ｐａｅを1.8 以上とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は6.4 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。また、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅの最大値は、レーザ光の最低パワー値のレ
ンジ限界により、無限大にかぎりなく近い値である。
方法で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを変化させた場合のシ
フト及び記録パワーマージンの変化を調べた。図２５は
その結果を示すグラフであり、図２５から、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅが1.8 以上のときにシフト及び記録パワー
マージンが十分な値であることが判る。これにより、第
２の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／
Ｐａｅを1.8 以上とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は6.4 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｗは3.0 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。また、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅの最大値は、レーザ光の最低パワー値のレ
ンジ限界により、無限大にかぎりなく近い値である。
【００６４】なお、図２０〜図２５に示した夫々のグラ
フは、図８，図９，図１５〜図１８に示すグラフと同様
に測定した結果を示している。
フは、図８，図９，図１５〜図１８に示すグラフと同様
に測定した結果を示している。
【００６５】第３の実施の形態
さらに他の記録波形を用いて、ＲＡＤ媒体である光磁気
ディスクＤのランド及びグルーブの両方に（１，７）Ｒ
ＬＬ変調符号を記録した。図２６は、第３の実施の形態
の記録方法による記録波形及び記録マークを示す図であ
り、マルチパルス記録方式により記録マークが形成され
ている。光磁気ディスクＤの膜構成は図４に示す膜構成
と同様であり、基板３１及び各層は以下に示す膜材料及
び膜厚を有し、図３３にて説明した再生原理と同様にＲ
ＡＤ方式のＭＳＲ再生が可能である。 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（遷移金属類磁化優勢），３
５ｎｍ 中間層３４：ＧｄＦｅ（希土類磁化優勢），３５ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），４５
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，９０ｎｍ 反射層３７：ＡｌＴｉ，１５ｎｍ
ディスクＤのランド及びグルーブの両方に（１，７）Ｒ
ＬＬ変調符号を記録した。図２６は、第３の実施の形態
の記録方法による記録波形及び記録マークを示す図であ
り、マルチパルス記録方式により記録マークが形成され
ている。光磁気ディスクＤの膜構成は図４に示す膜構成
と同様であり、基板３１及び各層は以下に示す膜材料及
び膜厚を有し、図３３にて説明した再生原理と同様にＲ
ＡＤ方式のＭＳＲ再生が可能である。 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（遷移金属類磁化優勢），３
５ｎｍ 中間層３４：ＧｄＦｅ（希土類磁化優勢），３５ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），４５
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，９０ｎｍ 反射層３７：ＡｌＴｉ，１５ｎｍ
【００６６】図２６に示すように、２Ｔのマーク長の記
録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（１
／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間照射し、再びパワー値Ｐｗ１で（１／２）Ｔ期間照射
して、パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射
する。その後、スペース部では続いてＴ期間をパワー値
Ｐｂで照射し、次の記録マーク形成部の（１／２）Ｔ期
間前までをパワー値Ｐａｅで照射し、（１／２）Ｔ期間
をパワー値Ｐｂで照射している。
録マーク形成部では、パワー値Ｐｗ１でレーザ光を（１
／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間照射し、再びパワー値Ｐｗ１で（１／２）Ｔ期間照射
して、パワー値Ｐｂで（１／２）Ｔ期間レーザ光を照射
する。その後、スペース部では続いてＴ期間をパワー値
Ｐｂで照射し、次の記録マーク形成部の（１／２）Ｔ期
間前までをパワー値Ｐａｅで照射し、（１／２）Ｔ期間
をパワー値Ｐｂで照射している。
【００６７】３Ｔの記録マーク形成部では、パワー値Ｐ
ｗ１でレーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐｗ１で
（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間、再度パワー値Ｐｗ１でを（１／２）Ｔ期間照射し、
パワー値Ｐｂを（１／２）Ｔ期間照射する。４Ｔの記録
マーク形成部では、パワー値Ｐｗ２でレーザ光を（１／
２）Ｔ期間照射した後、パワー値Ｐａｗとパワー値Ｐｗ
２とを（１／２）Ｔ期間ずつ交互に３回ずつ照射し、パ
ワー値Ｐｂを（１／２）Ｔ期間照射する。このように本
実施の形態では、記録マーク形成部は最短マーク（２
Ｔ）及び３Ｔの記録マークで、上縁がＰｗ１で下縁がＰ
ａｗのパルス光を用い、４Ｔ以降では上縁がＰｗ２で下
縁がＰａｗのパルス光を記録マークの長さに応じた数だ
け照射している。
ｗ１でレーザ光を（１／２）Ｔ期間照射した後、パワー
値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期間照射し、パワー値Ｐｗ１で
（１／２）Ｔ期間、パワー値Ｐａｗで（１／２）Ｔ期
間、再度パワー値Ｐｗ１でを（１／２）Ｔ期間照射し、
パワー値Ｐｂを（１／２）Ｔ期間照射する。４Ｔの記録
マーク形成部では、パワー値Ｐｗ２でレーザ光を（１／
２）Ｔ期間照射した後、パワー値Ｐａｗとパワー値Ｐｗ
２とを（１／２）Ｔ期間ずつ交互に３回ずつ照射し、パ
ワー値Ｐｂを（１／２）Ｔ期間照射する。このように本
実施の形態では、記録マーク形成部は最短マーク（２
Ｔ）及び３Ｔの記録マークで、上縁がＰｗ１で下縁がＰ
ａｗのパルス光を用い、４Ｔ以降では上縁がＰｗ２で下
縁がＰａｗのパルス光を記録マークの長さに応じた数だ
け照射している。
【００６８】各スペース部は、上述したように、パワー
値ＰｂでＴ期間レーザ光を照射し、次の記録マーク形成
部の（１／２）Ｔ期間前までをパワー値Ｐａｅで照射し
た後、（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射して形成
しており、始めのＴ期間と終わりの（１／２）Ｔ期間と
をパワー値Ｐｂのレーザ光で照射することにより、記録
マークのエッジをシャープに形成してある。また、各記
録マーク形成部の終わりの（１／２）Ｔ期間をパワー値
Ｐｂのレーザ光で照射することにより、次の記録マーク
への蓄積熱の影響を緩和している。
値ＰｂでＴ期間レーザ光を照射し、次の記録マーク形成
部の（１／２）Ｔ期間前までをパワー値Ｐａｅで照射し
た後、（１／２）Ｔ期間をパワー値Ｐｂで照射して形成
しており、始めのＴ期間と終わりの（１／２）Ｔ期間と
をパワー値Ｐｂのレーザ光で照射することにより、記録
マークのエッジをシャープに形成してある。また、各記
録マーク形成部の終わりの（１／２）Ｔ期間をパワー値
Ｐｂのレーザ光で照射することにより、次の記録マーク
への蓄積熱の影響を緩和している。
【００６９】なお、本実施の形態では、レーザ光のパワ
ー値はＰｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐ
ｂ，Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ，
Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅを満たし
ている。レーザ光を各パワー値で照射する際の各スイッ
チのオン／オフ制御は第１の実施の形態と同様であり、
その説明を省略する。
ー値はＰｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐ
ｂ，Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ，
Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅを満たし
ている。レーザ光を各パワー値で照射する際の各スイッ
チのオン／オフ制御は第１の実施の形態と同様であり、
その説明を省略する。
【００７０】このように第３の実施の形態の記録方式に
あっては、レーザ光のパワー値が、記録マークを形成す
る際にＰｗ１，Ｐｗ２，Ｐａｗ，Ｐｂの４値に変調さ
れ、スペースを形成する際にＰａｅ，Ｐｂの２値に変調
されており、計５値のパワー値を用いて光磁気ディスク
Ｄに情報が記録される。
あっては、レーザ光のパワー値が、記録マークを形成す
る際にＰｗ１，Ｐｗ２，Ｐａｗ，Ｐｂの４値に変調さ
れ、スペースを形成する際にＰａｅ，Ｐｂの２値に変調
されており、計５値のパワー値を用いて光磁気ディスク
Ｄに情報が記録される。
【００７１】以上の如き記録方法により形成された記録
マークのエッジシフト及びジッタを第１の実施の形態と
同様に測定した。図２７は記録マークのシフトを測定し
た結果を示すグラフであり、図２８は記録パワーマージ
ンを求めた結果を示すグラフである。図２７及び図２８
から、パターンシフト及びサーマルシフトの範囲は夫々
±10％以内であり、記録パワーマージンは±20.9％であ
ることが判る。
マークのエッジシフト及びジッタを第１の実施の形態と
同様に測定した。図２７は記録マークのシフトを測定し
た結果を示すグラフであり、図２８は記録パワーマージ
ンを求めた結果を示すグラフである。図２７及び図２８
から、パターンシフト及びサーマルシフトの範囲は夫々
±10％以内であり、記録パワーマージンは±20.9％であ
ることが判る。
【００７２】また第３の実施の形態について、図１２に
示す比較例と同様の記録マークを形成し、そのエッジシ
フト及びジッタを測定したところ、第３の実施の形態と
比較して何れの値も劣っていることが認められた。これ
らにより、第３の実施の形態の記録方法により、ＭＳＲ
再生可能な光磁気ディスクＤに高密度に記録マークを形
成した場合でも、高周波域記録のシフトを十分に低減で
き、ジッタを大幅に低減できると言える。
示す比較例と同様の記録マークを形成し、そのエッジシ
フト及びジッタを測定したところ、第３の実施の形態と
比較して何れの値も劣っていることが認められた。これ
らにより、第３の実施の形態の記録方法により、ＭＳＲ
再生可能な光磁気ディスクＤに高密度に記録マークを形
成した場合でも、高周波域記録のシフトを十分に低減で
き、ジッタを大幅に低減できると言える。
【００７３】次に、第３の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｂを変化させた場合のシフト及び記録パ
ワーマージンの変化を調べた。図２９はその結果を示す
グラフであり、図２９から判るように、パワー値Ｐｂが
０ｍｗである場合に、シフトが最小であり、記録パワー
マージンが最大である。これにより、第３の実施の形態
の記録方法において、パワー値Ｐｂを０ｍＷとすること
が好ましいと言える。なお、このときのパワー値Ｐｗ１
は7.0 ｍＷ、Ｐｗ２は6.0 ｍＷ、Ｐａｗは2.8 ｍＷ、Ｐ
ａｅは2.2 ｍｗであり、記録パワーマージンについて
は、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求め
た値である。
で、パワー値Ｐｂを変化させた場合のシフト及び記録パ
ワーマージンの変化を調べた。図２９はその結果を示す
グラフであり、図２９から判るように、パワー値Ｐｂが
０ｍｗである場合に、シフトが最小であり、記録パワー
マージンが最大である。これにより、第３の実施の形態
の記録方法において、パワー値Ｐｂを０ｍＷとすること
が好ましいと言える。なお、このときのパワー値Ｐｗ１
は7.0 ｍＷ、Ｐｗ２は6.0 ｍＷ、Ｐａｗは2.8 ｍＷ、Ｐ
ａｅは2.2 ｍｗであり、記録パワーマージンについて
は、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求め
た値である。
【００７４】また、第３の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｗ２からＰｗ１を減じた値ΔＰｗ２１を
変化させた場合のシフト及び記録パワーマージンの変化
を調べた。図３０はその結果を示すグラフであり、図３
０から、パワー値ΔＰｗ２１が−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷ
である場合に十分なマージンが得られることが判る。こ
れにより、第３の実施の形態の記録方法において、パワ
ー値（Ｐｗ２−Ｐｗ１）を−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷとす
ることが好ましいと言える。なお、このときのパワー値
Ｐｗ１は7.0 ｍＷ、Ｐａｗは2.8 ｍＷ、Ｐａｅは2.2 ｍ
Ｗ、Ｐｂは０ｍＷであり、記録パワーマージンについて
は、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求め
た値である。
で、パワー値Ｐｗ２からＰｗ１を減じた値ΔＰｗ２１を
変化させた場合のシフト及び記録パワーマージンの変化
を調べた。図３０はその結果を示すグラフであり、図３
０から、パワー値ΔＰｗ２１が−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷ
である場合に十分なマージンが得られることが判る。こ
れにより、第３の実施の形態の記録方法において、パワ
ー値（Ｐｗ２−Ｐｗ１）を−1.5 ｍＷ〜＋1.0 ｍＷとす
ることが好ましいと言える。なお、このときのパワー値
Ｐｗ１は7.0 ｍＷ、Ｐａｗは2.8 ｍＷ、Ｐａｅは2.2 ｍ
Ｗ、Ｐｂは０ｍＷであり、記録パワーマージンについて
は、図９に示すようにパワー値Ｐｗ１を異ならせて求め
た値である。
【００７５】さらに、第３の実施の形態による記録方法
で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを変化させた場合のシフト
及び記録パワーマージンの変化を調べた。図３１はその
結果を示すグラフであり、図３１から、パワー値Ｐｗ１
／Ｐａｗが1.5 〜3.5 のときにシフト及び記録パワーマ
ージンが十分な値であることが判る。これにより、第３
の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐ
ａｗを1.5 〜3.5 とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は7.0 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｅは2.2 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。
で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｗを変化させた場合のシフト
及び記録パワーマージンの変化を調べた。図３１はその
結果を示すグラフであり、図３１から、パワー値Ｐｗ１
／Ｐａｗが1.5 〜3.5 のときにシフト及び記録パワーマ
ージンが十分な値であることが判る。これにより、第３
の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／Ｐ
ａｗを1.5 〜3.5 とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は7.0 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｅは2.2 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。
【００７６】さらにまた、第３の実施の形態による記録
方法で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを変化させた場合のシ
フト及び記録パワーマージンの変化を調べた。図３２は
その結果を示すグラフであり、図３２から、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅが1.8 以上のときにシフト及び記録パワー
マージンが十分な値であることが判る。これにより、第
３の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／
Ｐａｅを1.8 以上とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は7.0 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｗは2.8 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。また、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅの最大値は、レーザ光の最低パワー値のレ
ンジ限界により、無限大にかぎりなく近い値である。
方法で、パワー値Ｐｗ１／Ｐａｅを変化させた場合のシ
フト及び記録パワーマージンの変化を調べた。図３２は
その結果を示すグラフであり、図３２から、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅが1.8 以上のときにシフト及び記録パワー
マージンが十分な値であることが判る。これにより、第
３の実施の形態の記録方法において、パワー値Ｐｗ１／
Ｐａｅを1.8 以上とすることが好ましいと言える。な
お、このときのパワー値Ｐｗ１は7.0 ｍＷ、Ｐｗ２は6.
0 ｍＷ、Ｐａｗは2.8 ｍＷ、Ｐｂは０ｍｗであり、記録
パワーマージンについては、図９に示すようにパワー値
Ｐｗ１を異ならせて求めた値である。また、パワー値Ｐ
ｗ１／Ｐａｅの最大値は、レーザ光の最低パワー値のレ
ンジ限界により、無限大にかぎりなく近い値である。
【００７７】なお、図２７〜図３２に示した夫々のグラ
フは、図８，図９，図１５〜図１８に示すグラフと同様
に測定した結果を示している。
フは、図８，図９，図１５〜図１８に示すグラフと同様
に測定した結果を示している。
【００７８】また、第１〜第３の実施の形態により、3.
5 インチ片面で２ＧＢである媒体のスペックが、実現可
能となる。
5 インチ片面で２ＧＢである媒体のスペックが、実現可
能となる。
【００７９】さらに、本発明の記録方法に用いる媒体
は、上述した実施の形態の光磁気ディスクＤの膜構成に
限らず、以下に示す膜材料及び膜厚を有する光磁気記録
媒体であっても第１〜第３の実施の形態と同様の効果が
得られる。 ＭＳＲ媒体Ａ（図３参照のＦＡＤ媒体） 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），３０ｎ
ｍ 中間層３４：ＴｂＤｙＦｅ（遷移金属磁化優勢），１０
ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，９０ｎｍ
は、上述した実施の形態の光磁気ディスクＤの膜構成に
限らず、以下に示す膜材料及び膜厚を有する光磁気記録
媒体であっても第１〜第３の実施の形態と同様の効果が
得られる。 ＭＳＲ媒体Ａ（図３参照のＦＡＤ媒体） 基板３１：ポリカーボネート 誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ 再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），３０ｎ
ｍ 中間層３４：ＴｂＤｙＦｅ（遷移金属磁化優勢），１０
ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，９０ｎｍ
【００８０】ＭＳＲ媒体Ｂ（図４参照のＦＡＤ媒体）
基板３１：ポリカーボネート
誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ
再生層３３：ＧｄＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），２５ｎ
ｍ 中間層３４：ＴｂＤｙＦｅ（遷移金属磁化優勢），８ｎ
ｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），４５
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，１１００ｎｍ 反射層３７：ＡｌＴｉ，２０ｎｍ
ｍ 中間層３４：ＴｂＤｙＦｅ（遷移金属磁化優勢），８ｎ
ｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），４５
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，１１００ｎｍ 反射層３７：ＡｌＴｉ，２０ｎｍ
【００８１】ＭＳＲ媒体Ｃ（図３参照のＲＡＤ媒体）
基板３１：ポリカーボネート
誘電体層３２：ＳｉＮ，７０ｎｍ
再生層３３：ＤｙＦｅＣｏ（希土類磁化優勢），４０ｎ
ｍ 中間層３４：ＧｄＦｅ（希土類磁化優勢），３５ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，６０ｎｍ
ｍ 中間層３４：ＧｄＦｅ（希土類磁化優勢），３５ｎｍ 記録層３５：ＴｂＦｅＣｏ（遷移金属磁化優勢），５０
ｎｍ 保護層３６：ＳｉＮ，６０ｎｍ
【００８２】さらにまた、上述した第１〜第３の実施の
形態では、記録マーク形成部のパルス下縁がパワー値Ｐ
ａｗである場合を示しているが、これに限るものではな
く、例えば記録マーク形成部のパルス下縁がパワー値Ｐ
ａｅであっても、パワー値（Ｐａｗ−Ｐａｅ）分だけパ
ルス上縁を高くし、５値のパワー値を用いることにより
ほぼ同様の効果を得ることができる。
形態では、記録マーク形成部のパルス下縁がパワー値Ｐ
ａｗである場合を示しているが、これに限るものではな
く、例えば記録マーク形成部のパルス下縁がパワー値Ｐ
ａｅであっても、パワー値（Ｐａｗ−Ｐａｅ）分だけパ
ルス上縁を高くし、５値のパワー値を用いることにより
ほぼ同様の効果を得ることができる。
【００８３】さらにまた、環境温度が変化した場合、光
磁気ディスクの記録半径位置の変化に伴う周速変化が生
じた場合には、夫々のパワー値の比を一定に保った状態
で記録パワーの条件を相対的に変化させることが有効で
あることは勿論である。さらに、夫々のパワー値の比を
一定に保った状態で試し書きを行なうことにより、各パ
ワー値の決定を確実に行なうことが可能である。
磁気ディスクの記録半径位置の変化に伴う周速変化が生
じた場合には、夫々のパワー値の比を一定に保った状態
で記録パワーの条件を相対的に変化させることが有効で
あることは勿論である。さらに、夫々のパワー値の比を
一定に保った状態で試し書きを行なうことにより、各パ
ワー値の決定を確実に行なうことが可能である。
【００８４】
【発明の効果】以上のように、本発明においては、記録
マーク及びスペースの形成のためのビーム光のパワー値
として、ボトムパワー値Ｐｂ、第１，第２の主熱パワー
値Ｐｗ１，Ｐｗ２及び第１，第２の予熱パワー値Ｐａ
ｗ，Ｐａｅの５値を用い、最短の記録マークの形成を、
前後のＰｂの間に、Ｐｗ１、Ｐａｗ、Ｐｗ１の順に配列
したパルス光により、また他の長さの記録マークの形成
を、前後のＰｂの間に、Ｐｗ１又はＰｗ２とＰａｗとの
間でのパワー変化をマーク長に応じて複数回繰り返すよ
うに配列したパルス光により、更にスペースの形成を、
Ｐｂ、Ｐａｅ、Ｐｂの順に配列したパルス光により夫々
行うようにしたから、ＭＳＲ再生可能な光記録媒体に高
密度に記録マークを形成した場合であっても、特に、２
Ｔ、３Ｔなるマーク長を有する短い記録マークの形成に
際して生じ易いエッジシフトを十分に低減でき、ジッタ
を大幅に低減できる等、本発明は優れた効果を奏する。
マーク及びスペースの形成のためのビーム光のパワー値
として、ボトムパワー値Ｐｂ、第１，第２の主熱パワー
値Ｐｗ１，Ｐｗ２及び第１，第２の予熱パワー値Ｐａ
ｗ，Ｐａｅの５値を用い、最短の記録マークの形成を、
前後のＰｂの間に、Ｐｗ１、Ｐａｗ、Ｐｗ１の順に配列
したパルス光により、また他の長さの記録マークの形成
を、前後のＰｂの間に、Ｐｗ１又はＰｗ２とＰａｗとの
間でのパワー変化をマーク長に応じて複数回繰り返すよ
うに配列したパルス光により、更にスペースの形成を、
Ｐｂ、Ｐａｅ、Ｐｂの順に配列したパルス光により夫々
行うようにしたから、ＭＳＲ再生可能な光記録媒体に高
密度に記録マークを形成した場合であっても、特に、２
Ｔ、３Ｔなるマーク長を有する短い記録マークの形成に
際して生じ易いエッジシフトを十分に低減でき、ジッタ
を大幅に低減できる等、本発明は優れた効果を奏する。
【図１】本発明の記録方法に用いる記録再生装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】図１のＬＤ回路の構成を示す回路図である。
【図３】本発明の記録方法により記録マークが形成され
る光磁気ディスクの膜構成図である。
る光磁気ディスクの膜構成図である。
【図４】本発明の記録方法により記録マークが形成され
る他の光磁気ディスクの膜構成図である。
る他の光磁気ディスクの膜構成図である。
【図５】第１の実施の形態の記録方法による記録波形及
び記録マークを示す図である。
び記録マークを示す図である。
【図６】パターンシフトを測定するための記録マークパ
ターンを示す図である。
ターンを示す図である。
【図７】サーマルシフトを測定するための記録マークパ
ターンを示す図である。
ターンを示す図である。
【図８】図５の記録方法により形成された記録マークの
エッジシフトを示すグラフである。
エッジシフトを示すグラフである。
【図９】図５の記録方法により形成された記録マークの
記録パワーマージンを示すグラフである。
記録パワーマージンを示すグラフである。
【図１０】従来の記録方法により形成された記録マーク
のエッジシフトを示すグラフである。
のエッジシフトを示すグラフである。
【図１１】従来の記録方法により形成された記録マーク
の記録パワーマージンを示すグラフである。
の記録パワーマージンを示すグラフである。
【図１２】比較例の記録方法による記録波形及び記録マ
ークを示す図である。
ークを示す図である。
【図１３】図１２の記録方法により形成された記録マー
クのエッジシフトを示すグラフである。
クのエッジシフトを示すグラフである。
【図１４】図１２の記録方法により形成された記録マー
クの記録パワーマージンを示すグラフである。
クの記録パワーマージンを示すグラフである。
【図１５】図５の記録方法においてＰｂを変化させた場
合の記録パワーマージン及びシフトを示すグラフであ
る。
合の記録パワーマージン及びシフトを示すグラフであ
る。
【図１６】図５の記録方法において（Ｐｗ２−Ｐｗ１）
を変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示
すグラフである。
を変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示
すグラフである。
【図１７】図５の記録方法においてＰｗ１／Ｐａｗを変
化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグ
ラフである。
化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグ
ラフである。
【図１８】図５の記録方法においてＰｗ１／Ｐａｅを変
化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグ
ラフである。
化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグ
ラフである。
【図１９】第２の実施の形態の記録方法による記録波形
及び記録マークを示す図である。
及び記録マークを示す図である。
【図２０】図１９の記録方法により形成された記録マー
クのエッジシフトを示すグラフである。
クのエッジシフトを示すグラフである。
【図２１】図１９の記録方法により形成された記録マー
クの記録パワーマージンを示すグラフである。
クの記録パワーマージンを示すグラフである。
【図２２】図１９の記録方法においてＰｂを変化させた
場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグラフであ
る。
場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグラフであ
る。
【図２３】図１９の記録方法において（Ｐｗ２−Ｐｗ
１）を変化させた場合の記録パワーマージン及びシフト
を示すグラフである。
１）を変化させた場合の記録パワーマージン及びシフト
を示すグラフである。
【図２４】図１９の記録方法においてＰｗ１／Ｐａｗを
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
【図２５】図１９の記録方法においてＰｗ１／Ｐａｅを
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
【図２６】第３の実施の形態の記録方法による記録波形
及び記録マークを示す図である。
及び記録マークを示す図である。
【図２７】図２６の記録方法により形成された記録マー
クのエッジシフトを示すグラフである。
クのエッジシフトを示すグラフである。
【図２８】図２６の記録方法により形成された記録マー
クの記録パワーマージンを示すグラフである。
クの記録パワーマージンを示すグラフである。
【図２９】図２６の記録方法においてＰｂを変化させた
場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグラフであ
る。
場合の記録パワーマージン及びシフトを示すグラフであ
る。
【図３０】図２６の記録方法において（Ｐｗ２−Ｐｗ
１）を変化させた場合の記録パワーマージン及びシフト
を示すグラフである。
１）を変化させた場合の記録パワーマージン及びシフト
を示すグラフである。
【図３１】図２６の記録方法においてＰｗ１／Ｐａｗを
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
【図３２】図２６の記録方法においてＰｗ１／Ｐａｅを
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
変化させた場合の記録パワーマージン及びシフトを示す
グラフである。
【図３３】従来のＭＳＲ再生方式（ＲＡＤ）による磁化
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図３４】従来のＭＳＲ再生方式（ＦＡＤ）による磁化
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図３５】従来の記録方法による記録波形及び記録マー
クを示す図である。
クを示す図である。
２ ＬＤ回路
３ ＰＤ回路
１２ 光ヘッド部
１３ 光学機構
２３ 半導体レーザ光源
３１ 基板
３２ 誘電体層
３３ 再生層
３４ 中間層
３５ 記録層
３６ 保護層
３７ 反射層
Ｄ 光磁気ディスク
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平９−35357（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−208740（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−129988（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−120685（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−189833（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−298737（ＪＰ，Ａ)
特開 平９−91788（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−185628（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 11/105
G11B 7/00 - 7/013
G11B 7/125
Claims (5)
- 【請求項１】 パルス発光されるビーム光の光記録媒体
への照射により、一連の記録マーク及び該記録マーク間
のスペースが形成され、記録すべき二値情報の一方を前
記記録マークの前縁及び後縁に対応させて光記録媒体に
情報を記録する情報記録方法において、 前記記録マーク及びスペースは、前記光記録媒体の冷却
のためのボトムパワー値Ｐｂと、前記記録マーク形成の
ための第１の主熱パワー値Ｐｗ１、第２の主熱パワー値
Ｐｗ２及び第１の予熱パワー値Ｐａｗと、前記スペース
形成のための第２の予熱パワー値Ｐａｅとを用いて形成
され、夫々のパワー値は、 Ｐｗ１＞Ｐａｗ，Ｐｗ１＞Ｐａｅ，Ｐｗ１＞Ｐｂ Ｐｗ２＞Ｐａｗ，Ｐｗ２＞Ｐａｅ，Ｐｗ２＞Ｐｂ Ｐａｗ＞Ｐｂ，Ｐａｅ＞Ｐｂ，Ｐａｗ≠Ｐａｅ の関係を満たし、 最短の記録マークは、その両側のスペース部後縁と前縁
とに夫々対応するボトムパワー値Ｐｂの間において、第
１の主熱パワー値Ｐｗ１、第１の予熱パワー値Ｐａｗ、
第１の主熱パワー値Ｐｗ１の順にパワー変化するパルス
光を用いて形成し、 その他の記録マークは、その両側のスペース部後縁と前
縁とに夫々対応するボトムパワー値Ｐｂの間において、
第１の主熱パワー値Ｐｗ１又は第２主熱パワー値Ｐｗ２
と第１の予熱パワー値Ｐａｗとの間でのパワー変化を複
数回繰り返すパルス光を用いて形成し、 前記スペースは、ボトムパワー値Ｐｂから、第２の予熱
パワー値Ｐａｅを経てボトムパワー値Ｐｂに戻る順にパ
ワー変化するパルス光を用いて形成す ることを特徴とす
る光記録媒体の情報記録方法。 - 【請求項２】 前記ボトムパワー値Ｐｂは、 Ｐｂ＝０ の関係を満たす 請求項１記載の光記録媒体の情報記録方
法。 - 【請求項３】 前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１及び第２
の主熱パワー値Ｐｗ２は、 −１．０ｍＷ≦Ｐｗ１−Ｐｗ２≦１．０ｍＷ の関係を満たす請求項１記載の 光記録媒体の情報記録方
法。 - 【請求項４】 前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１及び第１
の予熱パワー値Ｐａｗは、 １．５≦Ｐｗ１／Ｐａｗ≦３．０ の関係を満たす請求項１ 記載の光記録媒体の情報記録方
法。 - 【請求項５】 前記第１の主熱パワー値Ｐｗ１及び第２
の予熱パワー値Ｐａｅは、 ２．０≦Ｐｗ１／Ｐａｅ の関係を満たす請求項１ 記載の光記録媒体の情報記録方
法。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27667496A JP3366973B2 (ja) | 1996-10-18 | 1996-10-18 | 光記録媒体の情報記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10124950A JPH10124950A (ja) | 1998-05-15 |
| JP3366973B2 true JP3366973B2 (ja) | 2003-01-14 |
Family
ID=17572744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27667496A Expired - Fee Related JP3366973B2 (ja) | 1996-10-18 | 1996-10-18 | 光記録媒体の情報記録方法 |
Country Status (2)
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| JP3861269B2 (ja) * | 1996-07-16 | 2006-12-20 | ソニー株式会社 | 光ディスク装置、光ディスクの記録方法、光ディスク及び光ディスクの製造方法 |
| JP3648914B2 (ja) * | 1997-04-11 | 2005-05-18 | ソニー株式会社 | レーザ光のパワー制御方法及び光ディスク記録装置 |
| JPH11162035A (ja) * | 1997-09-26 | 1999-06-18 | Canon Inc | 光磁気情報再生方法、光磁気情報再生装置及び情報記録方法 |
| US6781937B2 (en) * | 1998-01-21 | 2004-08-24 | Yamaha Corporation | Optical disk recording method and device |
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| JP4419285B2 (ja) | 2000-06-19 | 2010-02-24 | ソニー株式会社 | 光ディスク記録装置及び光ディスク記録方法 |
| JP2002008237A (ja) | 2000-06-23 | 2002-01-11 | Fujitsu Ltd | 情報記録方法及びその実施に使用する情報記録装置 |
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| KR101034413B1 (ko) | 2002-04-03 | 2011-05-12 | 파나소닉 주식회사 | 광 정보 장치 |
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| JP2006155746A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Fujitsu Ltd | 磁気記録方法 |
| EP1831873B1 (en) * | 2004-12-22 | 2010-11-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Pulsed laser mode for writing labels |
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| JP2008033981A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Tdk Corp | 光記録媒体の情報記録方法、光記録装置 |
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- 1996-10-18 JP JP27667496A patent/JP3366973B2/ja not_active Expired - Fee Related
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- 1997-02-11 US US08/798,643 patent/US5825742A/en not_active Expired - Fee Related
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