JPH06150429A - 光磁気記録の記録制御方法 - Google Patents

光磁気記録の記録制御方法

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JPH06150429A
JPH06150429A JP4302174A JP30217492A JPH06150429A JP H06150429 A JPH06150429 A JP H06150429A JP 4302174 A JP4302174 A JP 4302174A JP 30217492 A JP30217492 A JP 30217492A JP H06150429 A JPH06150429 A JP H06150429A
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JP
Japan
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recording
level
pulse
laser
magneto
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Pending
Application number
JP4302174A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Ide
井手  浩
Fumiyoshi Kirino
文良 桐野
Takeshi Toda
戸田  剛
Takeshi Maeda
武志 前田
Hiroyuki Tsuchinaga
浩之 土永
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 環境温度変動やパターン間の干渉等を除去
し、マークエッジ記録を行う場合に好適な、微小磁区を
安定に形成することを可能とする光磁気記録の記録制御
方法を提供すること。 【構成】 少なくとも外部印加磁界とレーザ光を用いて
記録,再生あるいは消去を行う光磁気記録において、記
録時に用いるレーザパルスの波形の形状として、レーザ
パワーレベルが、少なくとも第1レベルと第2レベルと
の2つのレベルを有するものを用い、それらの2つのレ
ベルの設定値の比が一定値となる如く制御することを特
徴とする光磁気記録の記録制御方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレーザ光と外部印加磁界
を用いて記録,再生あるいは消去を行う光磁気記録の記
録制御方法に関し、特に超高密度記録を実現するのに有
効な光磁気記録の記録制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の高度情報化社会の進展に伴い、高
密度でしかも大容量のファイルメモリへのニーズが高ま
っており、その中で、このニーズに応えるものとして光
記録が注目されている。光記録には、再生専用型,追記
型そして書換え型の3種類があり、中でも、光磁気記録
は書換え可能なメモリとして、文書ファイルや画像ファ
イルとして広く用いられている。現在、多くの研究機関
で、ディスク性能の向上を目指して研究開発が進められ
ている。その目標の1つに、記録容量の増大がある。現
状では、記録方式としてマーク長記録,ゾーンCAV方
式を用い、また、ディスクのトラックピッチおよびビッ
トピッチを詰めて記録すること、更に、短波長のレーザ
光源を用いること等が研究されている。光磁気記録は基
本的には熱磁気記録であることから、環境温度の影響を
容易に受け易い。そのため、磁区の形状が変動し、特に
マーク長記録においてはエラーの原因となる場合があっ
た。これに関しては、特開平3-22223号 公報に開示され
た技術を挙げることができる。この技術は、記録ビット
の書き込み信号をパルス化して所望のビット形状を得、
C/Nの良い再生信号を得るというものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、環境
温度が変動する場合やデータパターン間に干渉がある場
合には、所望の磁区形状が得られないことがあり、エッ
ジシフトやエラーの原因になる。そのため、信頼性を確
保することが困難な場合があった。これらの問題を解消
するものとしては、本出願人が先に特願平4-26509号「光
磁気記録の記録制御方法」により提案した技術を挙げる
ことができる。この技術は、データの記録に先立ってテ
スト記録を行い、その結果を用いて記録条件を制御する
ものであるが、この技術においては、複数のパワーレベ
ルを独立して制御すると、制御誤差が大きくなり、結果
として、磁区形状、特に、磁区長や磁区幅が大きく変動
する場合があった。そのため、マークエッジ記録を行う
場合には、エッジシフトとして高密度記録ができない場
合があった。本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、従来の技術における上述
の如き問題を解消し、環境温度変動やパターン間の干渉
等を除去し、マークエッジ記録を行う場合に好適な、微
小磁区を安定に形成することを可能とする光磁気記録の
記録制御方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の上述の目的は、
少なくとも外部印加磁界とレーザ光を用いて記録,再生
あるいは消去を行う光磁気記録において、記録時に用い
るレーザパルスの波形の形状として、レーザパワーレベ
ルが、少なくとも第1レベルと第2レベルとの2つのレ
ベルを有するものを用い、それらの2つのレベルの設定
値の比が一定値となる如く制御することを特徴とする光
磁気記録の記録制御方法(以下、単に「記録制御方法」と
いう)によって達成される。
【0005】
【作用】高密度記録を実現するためには、マーク長記録
は有効な方法であり、その場合に重要なのは、形成され
る磁区の長さを高精度に制御することである。前述の如
く、装置の使用環境温度が変動したりすると、エッジの
位置が変動するエッジシフトが発生し、エラーを生じる
場合がある。これを抑制するのに、ディスクにとって見
かけ上同じ温度になるように、レーザパワーやパルス幅
を制御する必要がある。そのために、本発明に係る記録
制御方法においては、記録に用いるレーザパルスの形状
として、少なくとも2つの部分から構成されるパルスを
用いた。すなわち、パワーレベルにより分類され、複数
のレベルより成り、その第1のレベルにより記録膜のプ
リヒートを行う等熱流のコントロールを行い、環境温度
によらず常に一定の温度となるように制御する。記録
は、第2レベルで行う。また、記録部分のパルスとして
は、複数の微小パルスから成るパルス群に分割されたも
のを用いた。この形状は、記録膜の局部を暖めることが
可能で、かつ、周囲への熱の拡散も抑制されるので、熱
的な干渉を生じることがなく、ビットピッチを詰めてし
かも微小な磁区の形成が可能となるので、超高密度記録
には好適である。
【0006】上述の記録部分のパルスは、マーク長記録
をする場合には、最も短いデータパターンを記録する先
頭のパルス部分とそれより長いデータパターンを記録す
る後続のパルスとからなる。ここで、設定パワーは、先
頭パルスと後続パルスとの高さ(パワー)を同じに設定し
ても良く、また、異なるパワーを設定しても良い。パル
ス幅を任意に選択しても良い。より具体的に説明する
と、以下の通りである。すなわち、第1のレベルを環境
温度に対応して変動させる。ここで、環境温度の変動を
検出するのには、一定のテストパターンをディスクのテ
スト領域に記録を行い、その振幅等の変化を検出するこ
とにより行うのが一つの方法である。ここで重要なの
は、その検出結果を受けて最適記録条件を設定する方法
である。高密度の記録を行うためには、記録パワーやパ
ルス幅等を高精度で制御する必要がある。そのためには
記録条件を簡単に決定できる方法を用いる必要がある。
そこで有効なのが、第1のレベルと第2のレベルとを一
定比率となるように設定する方法である。これにより、
第2のレベルを設定すれば、第1のレベルは比例配分で
自動的に決定される。つまり、温度変動により第1のレ
ベルを変えても、常に、その場合に重要なのは、第1の
レベルと第2のレベルとの比を一定に保つことである。
【0007】ところで、上述の比の値は、温度等の環境
条件により変わらないが、ディスクの構造等が異なるた
めに熱の流れが異なると、変化する値である。また、記
録部分のパルスを照射後に、第1のレベルに移行する前
に第1のレベルより低いレベルの領域を経た後に、再び
第1のレベルへ戻っても良い。これは、ピット間の干渉
を除去する効果がある。この第1のレベルより低いレベ
ルの領域で記録膜に与えられた熱が冷却していき、途中
からプリヒートパワーが照射され始め冷却速度は鈍り、
ある時間から記録膜の温度は一定になる。環境温度の変
動により、前のパルスからの熱の流入量が変化するとと
もに、冷却速度が変化するので、与えるプリヒートパワ
ーを変動させてこのバランスをとれば良い。これによ
り、外部条件の変動により生じる磁区形状の変動を制御
できる。この場合にも、第1レベルと第2レベルとの比
を一定に保てば良い。比を一定に保つということは、記
録媒体内での熱の流れを一定化することに相当する。こ
のように、第1レベルと第2レベルとの比を一定に保つ
ように設定することにより、磁区形状の制御精度が向上
するとともに、装置の構成が簡単になる。
【0008】すなわち、従来のパワー制御機構では、幾
つかのパワーが、それぞれ、別個の機構によって制御さ
れていた。しかし、本発明に係る記録制御方法において
は、複数のパワーのレベル比を一定にしているので、同
一の制御手段を用いてその制御信号を調節するだけで、
複数のレベルのパワーを得ることができる。従って、本
発明に係る記録制御方法によれば、従来よりも少ない構
成要素で、制御精度の良い装置が実現することが可能に
なる。図5に、従来のパワー制御を実現するための回路
構成の一例を、図6に、本発明に係るパワー制御を実現
するための回路構成例を示す。図から明らかな如く、従
来の回路構成では、各パワーレベル対応にD/A(ディ
ジタル/アナログ)変換器が必要であったのに対して、
本発明に係る回路構成では、1個のD/A変換器だけで
構成することができる。これにより、装置構成を簡単に
することが可能である。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。ここで用いたディスクの構造は、プラスチ
ック基板上に SiNx(60nm)/TbFeCoNb(25nm)/SiN
x(10nm)/AlTi(40nm)なる構造の膜を、連続的に積層し
たものである。表面を紫外線効果型樹脂によりコートし
た後に、2枚の円板を張り合わせ、1つのディスクとし
た。このディスクに対して、図1に示すアルゴリズムで
テスト記録を行った。そのときに用いた記録ビームパワ
ーのテストパターンを、図2に示す。そして、このパタ
ーンにより、ビット間の熱的干渉を検出するとともに、
磁区幅および磁区長の変化を、以下に示す手順で検出し
た。まず、通常の記録条件を示す。上述のディスクを用
いて、図3に示す記録パルス波形を用いて記録を行っ
た。記録はマークエッジ記録方式およびゾーンCAV方
式を併用し、(1,7)RLL変調方式により記録した。
ここで、ディスクの温度は250Cであった。
【0010】このとき、形成した磁区の幅は0.7μm
で、磁区あるいはギャップの長さは最長が3μm、最短
が0.75μmである。ここで、第2レベル/第1レベル
を 2/1に設定した。すなわち、パルスの第1レベルの
パワーは2.8mWで、第2レベルのパワーは5.6mWで
あった。このときのエッジシフト量を測定したところ、
データパターンに依存せず、±1.5ns以下であった。
次に、図1のアルゴリズムに従い、図2のパターンを用
いて、テスト記録を行った。このディスクを温度500
の環境中に放置した。そのとき、上と同様のサイズの磁
区を形成するための記録条件は、第2のレベル/第1の
レベルを2/1に設定してパワーを変化させて求めたと
ころ、必要なレーザパワーは、第1のレベルが1.8m
W、第2のレベルが3.6mWであった。逆に、温度を0
0Cへ低下させて 同様の手法により最適記録条件を求め
たところ、第1レベルが3.8mW、第2レベルが7.6m
Wであった。このように、レベル比を一定に保ったま
ま、各レベルの値を変化させることにより、最適記録条
件を見出すことができた。各々の温度におけるエッジシ
フトを測定したところ、いずれの温度でも、パターンに
依存しないで ±1.5ns以下であった。
【0011】次に、ディスクとしてSiNx(75nm)/TbF
eCoNb(30nm)/SiNx(5nm)/CuNi(40nm)なる構造の膜
をポリカーボネイト基板上にスパッタ法により連続積層
したディスクについて、上と同様の測定を行った。用い
たパルスの波形を、図4に示す。ここで、先の図2のテ
ストパターンを用いて最適記録条件を探索した。ここで
は、第2レベル/第1レベル=3/1に設定した。このと
きのレーザパワーの値は、250Cのとき、第1レベルが
2.5mW、第2レベルが7.5mWであった。500Cでは
2.0mWと6.0mW、0℃では3.0mWと9.0mWであ
った。このように、ディスクの構造により、第1レベル
と第2レベルの比は異なるものの、一定の値に設定して
高精度の記録が可能であることが分かる。上述の第2レ
ベルと第1レベルとの比は、先に図6に示した如き構成
の制御回路によって、簡単に決定し、また、調整でき
る。すなわち、増幅率の異なる2つの増幅器(増幅器1
1と増幅器12)により所定のレベル比を設定し、前述
の如きディスクの特性等により、変化するレベル用指令
値をD/A変換器10から入力して、各増幅器からの出
力によりレーザ駆動回路13および14を介して、半導
体レーザ15を駆動するわけである。
【0012】上記レベル比制御回路を用いて、記録時に
用いるレーザパルスのパワーレベルを制御することによ
り、前述の如く、外部条件の変動により生じる磁区形状
の変動を制御できる。上記実施例によれば、複数の記録
レベルを有する記録方法において各レベルの比を一定値
に設定することにより、記録制御の精度が大きく向上す
るとともに、安価なディスクドライブを製造できる。こ
の他に、記録パルスの各パワーレベルを一定比に保持す
ることにより、環境温度変動等外部環境条件の変動に対
する耐性が向上し、形成される磁区形状の変化を小さく
抑えられる。エッジに着目して見ると、そのシフトは
±1.5ns以下に抑制できるので、マーク長記録に好適
であり、高密度記録を実現できる。なお、上記実施例は
本発明の一例を示したものであり、本発明はこれに限定
されるべきものではないことは言うまでもないことであ
る。
【0013】
【発明の効果】以上、詳細に説明した如く、本発明によ
れば、環境温度変動やパターン間の干渉等を除去し、マ
ークエッジ記録を行う場合に好適な、微小磁区を安定に
形成することを可能とする光磁気記録の記録制御方法を
実現できるという顕著な効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】テスト記録のアルゴリズムを示す図である。
【図2】テスト記録パターンを示す図である。
【図3】記録パルスの形状を示す図である。
【図4】記録パルスの形状を示す図である。
【図5】従来のパワー制御を実現するための回路構成の
一例を示す図である。
【図6】本発明に係るパワー制御を実現するための回路
構成例を示す図である。
【符号の説明】
10:D/A変換器、11,12:増幅器、13,14レ
ーザ駆動回路、15:半導体レーザ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 前田 武志 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 土永 浩之 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも外部印加磁界とレーザ光を用
    いて記録,再生あるいは消去を行う光磁気記録におい
    て、記録時に用いるレーザパルスの波形の形状として、
    レーザパワーレベルが、少なくとも第1レベルと第2レ
    ベルとの2つのレベルを有するものを用い、それらの2
    つのレベルの設定値の比が一定値となる如く制御するこ
    とを特徴とする光磁気記録の記録制御方法。
  2. 【請求項2】 前記波形の形状を有するレーザパルスを
    用いて記録を行う場合に、記録時のディスクの温度を検
    出して、その結果によりレーザパワーレベルを変動させ
    て記録を行い、その際の少なくとも複数のレーザパワー
    レベルの設定値の比を、環境温度に依存しない一定値に
    設定することを特徴とする請求項1記載の光磁気記録の
    記録制御方法。
  3. 【請求項3】 前記波形の形状を有するレーザパルスを
    用いて記録を行う場合に、用いるレーザパルスの第1レ
    ベルと第2レベルの比の値をディスク構造または/およ
    び用いるレーザパルスのパルス幅によりその比の設定値
    を変化させたことを特徴とする請求項1記載の光磁気記
    録の記録制御方法。
  4. 【請求項4】 前記波形の形状を有するレーザパルスを
    用いて記録を行う場合に、用いるレーザパルスの第1レ
    ベルによりプリヒートを行い、第2レベルにより記録を
    行うことを特徴とする請求項1記載の光磁気記録の記録
    制御方法。
  5. 【請求項5】 前記波形の形状を有するレーザパルスを
    用いて記録を行う場合に、用いるレーザパルスの第2レ
    ベルの部分が複数のパルス群に分割され、かつ、第1レ
    ベルと第2レベルとの間でそのパルスを変調させること
    を特徴とする請求項1の光磁気記録の記録制御方法。
  6. 【請求項6】 前記複数のパルス群に分割されたレーザ
    パルスを、情報に応じて決まるパターンの長さに応じて
    後続のパルスの数を選択し、かつ、そのパワーレベルあ
    るいはパルス幅を先頭パルスとそれに続く後続のパルス
    とで異なる値に設定することを特徴とする請求項5記載
    の光磁気記録の記録制御方法。
  7. 【請求項7】 前記複数のパルス群に分割されたレーザ
    パルスを、第2レベルのパルス群の終了直後に第1レベ
    ルより低いレベルのパワーに一定期間保持した後、再び
    第1レベルとすることを特徴とする請求項5または6記
    載の光磁気記録の記録制御方法。
  8. 【請求項8】 情報の記録に先立ち、所定のテストパタ
    ーンを用いて記録を行い、それを再生してその結果から
    制御情報を得る如く構成された光磁気記録において、記
    録時に用いるレーザパルスの波形の形状として、レーザ
    パワーレベルが、少なくとも第1レベルと第2レベルと
    の2つのレベルを有するものを用い、それらの2つのレ
    ベルの設定値の比が一定値となる如く記録レーザパワー
    のレベルあるいはパルス幅を変化させて記録を行うこと
    を特徴とする光磁気記録の記録制御方法。
JP4302174A 1990-06-29 1992-11-12 光磁気記録の記録制御方法 Pending JPH06150429A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4302174A JPH06150429A (ja) 1992-11-12 1992-11-12 光磁気記録の記録制御方法
US08/149,931 US5513165A (en) 1990-06-29 1993-11-10 Method for controlling the farm of a magnetic domain of a magneto-optical disk using pre-write testing

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4302174A JPH06150429A (ja) 1992-11-12 1992-11-12 光磁気記録の記録制御方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06150429A true JPH06150429A (ja) 1994-05-31

Family

ID=17905821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4302174A Pending JPH06150429A (ja) 1990-06-29 1992-11-12 光磁気記録の記録制御方法

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JP (1) JPH06150429A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5825742A (en) * 1996-10-18 1998-10-20 Fujitsu Limited Information recording method of optical recording medium

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5825742A (en) * 1996-10-18 1998-10-20 Fujitsu Limited Information recording method of optical recording medium

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