JP4445595B2 - セラミックヒータ、セラミックグロープラグおよびその製造方法 - Google Patents

セラミックヒータ、セラミックグロープラグおよびその製造方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、セラミック製抵抗体をセラミック製絶縁体中に埋設したセラミックヒータおよびその製造方法に関するもので、内燃機関(例えば、ディーゼルエンジン等)の始動補助装置として用いられるグロープラグ、暖房装置、電気調理具等の加熱手段に用いて好適な技術である。
【0002】
【従来の技術】
W、Ta、Nb、Ti、Mo、Zr、Hf、V、Crより選ばれた少なくとも1種類以上の珪化物、炭化物あるいは窒化物の導電性セラミックは、抵抗率が10-5〜10-10 Ωcmと低く、また高融点であることから、導電性セラミック粒子はセラミックヒータの抵抗体の主体として適している(特開昭63−37587号公報、特開平1−313362号公報参照)。
【0003】
また、上述の導電性セラミック粒子に、窒化珪素質などの絶縁性セラミック粒子を混入させて抵抗値を調節したセラミック製抵抗体が知られている(特開昭60−60983号公報、特開昭60−216484号公報、特開昭60−254586号公報、特開昭63−96883号公報、特開昭64−61356号公報、特開平2−229765号公報参照)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
セラミック製抵抗体が導電性セラミック粒子(例えば、WC)だけで、これを高強度で耐酸化性に優れたセラミック製絶縁体中に埋設したセラミックヒータは、加熱と放熱が繰り返されると、セラミック製抵抗体とセラミック製絶縁体の熱膨張差によって、セラミック製抵抗体にクラックが生じて、断線する可能性がある。
【0005】
また、導電性セラミック粒子と導電性セラミック粒子との間に絶縁性セラミック粒子が介在すると、導電性セラミック粒子間の電位差によって、絶縁性セラミック粒子が電気分解し、セラミック製抵抗体の抵抗値が上昇する不具合が生じることもある。
【0006】
【発明の目的】
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、その目的は、長期に亘って初期性能を維持することのできる信頼性の高いセラミックヒータ、セラミックグロープラグおよびその製造方法の提供にある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明のセラミックヒータ、セラミックグロープラグおよびその製造方法は、次の技術的手段を採用した。
〔請求項1の手段〕
セラミックヒータは、
通電を受けて発熱するセラミック製抵抗体と、この抵抗体を囲むように設けられ窒化珪素製のセラミック粒子を主体とするセラミック製絶縁体と、を備える。
前記セラミックヒータは、少なくともWC、MoSi2 から選ばれた導電性セラミック粉末40〜80重量%と、窒化珪素18.9〜58.9重量%と、窒化アルミニウム0.5〜5重量%と、アルミナ0.1〜3重量%と、希土類酸化物0.5〜4.5重量%とを混合して成形した抵抗体用の非焼成セラミック体を、窒化珪素を主体とするセラミック粒子で覆って非焼成ヒータを形成した後、この非焼成ヒータを焼成することで形成されるものである。
そして、前記抵抗体は、導電性セラミック粒子と、0<z<5を満足するSi 6-z Al z 8-z z で表される一般式を持つセラミックであって、拡張β−窒化珪素格子を有する副次的セラミック粒子と、希土類元素をEとするとともに0<x<2を満足する2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x を有する境界粒子相と、からなり、前記導電性セラミック粒子間に前記副次的セラミック粒子および前記境界粒子相が介在する。
【0008】
〔請求項2の手段〕
通電を受けて発熱するセラミック製抵抗体と、この抵抗体に電気的に一端が接続された一対のリード電極と、前記抵抗体と前記リード電極を他端が露出して囲むように設けられ窒化珪素製のセラミック粒子を主体とするセラミック製絶縁体と、を備えたセラミックヒータにおいて、
前記セラミックヒータは、少なくともWC、MoSi2 から選ばれた導電性セラミック粉末40〜80重量%と、窒化珪素18.9〜58.9重量%と、窒化アルミニウム0.5〜5重量%と、アルミナ0.1〜3重量%と、希土類酸化物0.5〜4.5重量%とを混合して成形した抵抗体用の非焼成セラミック体を、窒化珪素を主体とするセラミック粒子で覆って非焼成ヒータを形成した後、この非焼成ヒータを焼成することで形成されるものである。
前記抵抗体は、導電性セラミック粒子と、0<z<5を満足するSi 6-z Al z 8-z z で表される一般式を持つセラミックであって、拡張β−窒化珪素格子を有する副次的セラミック粒子と、希土類元素をEとするとともに0<x<2を満足する2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x を有する境界粒子相と、からなり、前記導電性セラミック粒子間に前記副次的セラミック粒子および前記境界粒子相が介在することを特徴とする。
【0009】
〔請求項3の手段〕
請求項2のセラミックヒータにおいて、
前記一対のリード電極は、タングステン製であることを特徴とする。
【0012】
請求項4の手段〕
請求項1ないし請求項3のいずれかのセラミックヒータにおいて、
前記セラミック製抵抗体の比抵抗は、10-4Ωcm以上、1000Ωcm以下であることを特徴とする。
【0013】
請求項5の手段〕
請求項1ないし請求項4のいずれかのセラミックヒータにおいて、
前記導電性セラミック粒子の平均粒径寸法は2〜5μmで、前記副次的セラミック粒子の平均粒径寸法も2〜5μmであることを特徴とする。
【0015】
請求項6の手段〕
請求項1ないし請求項5のいずれかのセラミックヒータにおいて、
前記境界粒子相をなす希土類元素のEは、Er、Yb、Yから選ばれた1つを有することを特徴とする。
【0017】
請求項7の手段〕
通電を受けて発熱するセラミック製抵抗体と、この抵抗体に電気的に接続された一対のリード電極と、前記抵抗体と前記リード電極を囲むように設けられ窒化珪素製のセラミック粒子を主体とするセラミック製絶縁体と、を備え、前記抵抗体は、導電性セラミック粒子と、0<z<5を満足するSi 6-z Al z 8-z z で表される一般式を持つセラミックであって、拡張β−窒化珪素格子を有する副次的セラミック粒子と、希土類元素をEとするとともに0<x<2を満足する2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x を有する境界粒子相と、からなり、前記導電性セラミック粒子間に前記副次的セラミック粒子および前記境界粒子相が介在するセラミックヒータは、次の工程の結合によって製造されることを特徴とするセラミックヒータの製造方法。
(1)少なくともWC、MoSi2 から選ばれた導電性セラミック粉末40〜80重量%と、窒化珪素18.9〜58.9重量%と、窒化アルミニウム0.5〜5重量%と、アルミナ0.1〜3重量%と、希土類酸化物0.5〜4.5重量%とを混合して、混合セラミック体を作る第1工程。
(2)前記混合セラミック体を、前記一対のリード電極が接続された非焼成セラミック体に成形する第2工程。
(3)接合された前記抵抗体用の非焼成セラミック体と前記一対のリード電極とを、化珪素製のセラミック粒子を主体とする絶縁性セラミック粉末で覆って、非焼成ヒータを形成する第3工程。
(4)前記非焼成ヒータを非酸化雰囲気中で焼成する第4工程。
【0018】
請求項8の手段〕
請求項7のセラミックヒータの製造方法において、
前記一対のリード電極は、タングステン製であることを特徴とする。
【0021】
請求項9の手段〕
請求項7または請求項8のセラミックヒータの製造方法において、
前記希土類酸化物は、Er2 3 、Yb2 3 、Y2 3 から選ばれた1つを有することを特徴とする。
【0022】
請求項10の手段〕
請求項1ないし請求項6の何れかのセラミックヒータの特徴を備えたグロープラグ。
【0023】
請求項11の手段〕
請求項10のグロープラグにおいて、
前記セラミック製絶縁体の表面に露出した前記一対のリード電極の他端間の抵抗は、500mΩ以上であることを特徴とするグロープラグ。
【0024】
請求項12の手段〕
請求項10のグロープラグにおいて、
前記セラミック製絶縁体の表面に露出した前記一対のリード電極の他端間の抵抗は、500mΩ〜1Ωであることを特徴とする。
【0025】
請求項13の手段〕
請求項8または請求項9のセラミックヒータの製造方法の特徴を備えたグロープラグの製造方法。
【0026】
【発明の作用および効果】
焼結されたセラミックヒータのセラミック製抵抗体は、導電性セラミック粒子と、副次的セラミック粒子と、境界粒子相とからなる。このため、セラミック製抵抗体とセラミック製絶縁体の熱膨張差が小さく、加熱と放熱が繰り返されても、セラミック製抵抗体とセラミック製絶縁体の熱膨張差によって、セラミック製抵抗体にクラックが生じず、従来に比較してセラミックヒータの耐久性が向上する。
【0027】
また、セラミック製抵抗体を構成する導電性セラミック粒子の各間に、副次的セラミック粒子と境界粒子相(希土類元素をEとするとともに0<x<2を満足する化学式2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x )を介在することにより、導電性セラミック粒子間に電位差が生じても、導電性セラミック粒子間に存在する物質が電気分解しないことを見出した。
このため、この発明では、高温下において導電性セラミック粒子間に電位差が生じても、導電性セラミック粒子間の副次的セラミック粒子や境界粒子相の電気分解が抑えられる。この結果、セラミックヒータが長期に使用されても、セラミック製抵抗体の抵抗値の上昇が抑えられる。
【0028】
さらに、本発明におけるセラミック製抵抗体にリード電極が接続されても、アモルファス相が少ないため、セラミック製抵抗体とリード電極との境界面に剥離が生じにくい。
【0029】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を、実施例および変形例を用いて説明する。
〔実施例の構成〕
図1ないし図7は本発明のセラミックヒータをグロープラグに用いた実施例を説明する図面で、図1はセラミックヒータの断面図、図2は図1におけるP部の拡大図、図3は焼成前におけるセラミック製抵抗体の斜視図、図4はグロープラグの断面図である。
【0030】
グロープラグ1は、内燃機関に締結される略筒状の主体金具2、この主体金具2に挿入されるとともに一部が主体金具2の外部へ突出するセラミックヒータ3、このセラミックヒータ3のリード電極4を主体金具2にアース接地させるとともにセラミックヒータ3を先端側内部に固着する金属外筒5、主体金具2内に配置されてセラミックヒータ3のリード電極6に接続する中軸7、この中軸7に接続される端子電極8、この端子電極8を主体金具2内に絶縁保持させる絶縁体9及びナット10等から構成される。
【0031】
主体金具2は、周囲に締結用のネジ2a、および締結用の六角部2bを備えた筒状金属体で、内燃機関に締結されることで、車両にアース接地される。
セラミックヒータ3は、後述する製造方法によって製造されるもので、略棒状のセラミック製絶縁体11(窒化珪素を主体としたセラミック)の内部に、略U字形に形成されたセラミック製抵抗体12を埋設してなる。
【0032】
セラミック製絶縁体11は、セラミック製抵抗体12の表面を0.3mm以上の厚さで覆うものである。このように、厚さが0.3mm以上に設けられることで、セラミック製抵抗体12が高温(例えば、800〜1300℃)になっても、セラミック製抵抗体12の酸化を防ぐとともに、セラミック製抵抗体12を高い機械的強度で保持することができる。
【0033】
セラミック製抵抗体12は、導電性セラミック粒子と絶縁性セラミック粒子の他に、希土類酸化物を添加して焼結したもので、図2に示すように、焼結後における導電性セラミック粒子S1 、焼成により生じた副次的セラミック粒子S2 および境界粒子相S3 からなる。なお、セラミック製抵抗体12の比抵抗は、後述する製造方法に示す技術によって、25℃において10-4Ωcm以上、且つ1000Ωcm以下に調節されている。
【0034】
導電性セラミック粒子S1 は、W、Ta、Nb、Ti、Mo、Zr、Hf、V、Crより選ばれた少なくとも1種類以上の珪化物、炭化物あるいは窒化物で、例えば、WC、MoSi2 、Mo5 Si3 の少なくとも1つを有し、平均粒径寸法が2〜5μm(例えば、約3μm)のものである。
【0035】
副次的セラミック粒子S2 は、焼成によって生じた平均粒径寸法が2〜5μm(例えば、約3μm)の粒子で、0<z<5を満足するSi6-z Alz 8-z z で表される一般式を持つセラミックである。なお、その一般式を持つセラミックは、拡張β−窒化珪素格子を持ち、β’−サイアロンと称され、例えば、英国特許公報No.1600602号にその一般式が開示されている。なお、このβ’−サイアロンは、製造時に添加される窒化アルミニウムが、窒化珪素およびアルミナに取り込まれて析出するものである。
【0036】
境界粒子相S3 は、焼成によって生じて、導電性セラミック粒子S1 、副次的セラミック粒子S2 の各間隔を充填、結合するもので、希土類元素(Y、La、Ce、Nd、Dy、Sc、Pr、Er、Yb等)をEとし、0<x<2を満足する2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x を有する。なお、この化学式で表される物質は、製造時に添加される希土類酸化物が、絶縁性セラミック粒子(窒化珪素、窒化アルミニウムおよびアルミナ)に取り込まれて析出するものである。この実施例では、希土類元素Eとして、Er、Yb、Yのいずれかを少なくとも備える。希土類元素Eとして、Er、Yb、Yのいずれか、特にEr、Ybの一方を用いることにより、セラミック製抵抗体12の焼き上がりが良く、また機械的強度が優れるため、グロープラグ1として最適なものである。
【0037】
上記では、焼結後における、導電性セラミック粒子S1 および副次的セラミック粒子S2 の平均粒径寸法が、約3μmの例を示したが、この焼結後の粒径は、焼成時に焼成前の粒径より成長したものである。
【0038】
セラミック製抵抗体12の両端には、上述のリード電極6およびアース側のリード電極4が接続されている。この一対のリード電極4、6はタングステン製で、セラミック製抵抗体12とともに、セラミック製絶縁体11内に埋設されている。なお、リード電極6は、セラミックヒータ3の端部(セラミック製抵抗体12とは異なった側)において周囲に露出し、リード電極4は、セラミックヒータ3の中間の外周において周囲に露出する。
【0039】
なお、セラミック製絶縁体11は、副次的セラミック粒子S2の熱膨張率とほぼ同等であるのが好ましく、セラミック製絶縁体11の製造時に添加する絶縁性セラミック粉末は、セラミック製抵抗体12の製造時に用いられる絶縁性セラミック粉末と同質の材料であるのが好ましい。
【0040】
金属外筒5は、セラミックヒータ3の中間外周に固着されるとともに、主体金具2の先端内に固着されて、主体金具2内にセラミックヒータ3を保持する機能と、セラミックヒータ3のリード電極4を主体金具2にアース接地する機能とを果たす。
【0041】
中軸7は、端子電極8に接続されるとともに、主体金具2内において絶縁配置されるもので、端部にはセラミックヒータ3の端部を覆ってリード電極6と接続する断面コ字形の金属キャップ7aを備える。
端子電極8は、外部の通電回路より通電を受ける接続端子で、図示しない接続具を端子電極8に固定するためのナット8aを備える。
絶縁体9は、セラミック等の略筒状絶縁物で、主体金具2の端部の内側に固着された状態で、その内周において端子電極8をナット10を介して固着保持されている。
【0042】
〔セラミックヒータ3の製造方法〕
次に、セラミックヒータ3の製造方法を、図5の表を参照して説明する。なお、表中の添加組成中のおける数字は、重量%を示すものである。また、使用される数値や材質は一例であって、用いられる数値や材質に本願発明が限定されるものではない。
【0043】
1)平均粒径が0.5μmのW、Ta、Nb、Ti、Mo、Zr、Hf、V、Crより選ばれた少なくとも1種類以上の珪化物、炭化物あるいは窒化物(例えば、少なくともWC、MoSi2 、MoSi3 から選ばれたもの)からなる導電性セラミック(例えば、40〜80重量%)に、絶縁性セラミックである窒化珪素(例えば、18.9〜58.9重量%)、窒化アルミニウム(例えば0.5〜5重量%)、アルミナ(例えば0.1〜3重量%)を加え、さらに、Yb2 3 、Er2 3 、Y2 3 などの希土類酸化物を例えば0.5〜4.5重量%を添加し、72時間に亘って湿式粉砕混合する(第A工程)。
この第A工程が、請求項11の第1工程に相当する。
【0044】
セラミック製抵抗体12の比抵抗(抵抗率)は、図7に示すように、導電性セラミック粉末と、絶縁性セラミック粉末との重量比によって調節される。なお、図7は、導電性セラミック粉末として平均粒径が約1μmのWCと、絶縁性セラミック粉末として平均粒径が約1μmの窒化珪素とを用いて測定したグラフである。
また、導電性セラミック粉末の粒子径と絶縁性セラミック粉末の粒子径の粒径比によっても、セラミック製抵抗体12の比抵抗が調節できる。この調節は、粒径比を大きくするとセラミック製抵抗体12の比抵抗が小さくなり、粒径比を小さくするとセラミック製抵抗体12の比抵抗が大きくなるのを利用する。
【0045】
2)第A工程で得られた泥しょうを容器に開けて12時間に亘って乾燥する(第B工程)。
3)第B工程で得られた粉末を混練ニーダー中で、数種のバインダー(例えば、ポリエチレンあるいはワックスと酢酸ビニールとポリエチレンの混合物などからなる合成樹脂系バインダーを例えば30〜70重量%)を添加し、3時間に亘って混練する(第C工程)。
4)第C工程で得られた混練物を、ペレタイザーにて約1mm粒に粉砕する(第D工程)。
【0046】
5)上記第D工程で得られた造粒物を、射出成形機にて、図3の(a)、(b)に示すように、立体のU字状に形成すると同時に、それぞれの端部に一対のリード電極4、6を接続する(第E工程)。なお、この第E工程が、請求項11の第2工程に相当する。
以上の工程によって、非焼成セラミック体12aが製造される。この非焼成セラミック体12aのうち、一対のリード電極4、6を除いた部分が焼成後にセラミック製抵抗体12になる。
なお、射出成形機にて、立体のU字状に形成した造粒物と、一対のリード電極4、6との接続は、造粒物をU字状に形成した後に行っても良い。
【0047】
6)平均粒径が0.7μmの窒化珪素を90重量%、Y2 3 を5重量%、Al2 3 を5重量%を秤量し、粉末を湿式粉砕混合し、バインダーを加えた後、スプレードライにより混合粉末を得る(第F工程)。なお、この混合粉末が焼成後にセラミック製絶縁体11になる。
7)第F工程で得られた混合粉末中に、先に作成した焼成前のセラミック製抵抗体12を埋設し、プレス成形した後、ホットプレス法で、1750℃、300kg/cm2 、N2 ガス雰囲気中の条件下で例えば30分に亘って焼成して焼結体を得る(第G工程)。なお、N2 ガス雰囲気に代えて、H2 ガス雰囲気中やArガス雰囲気中で焼成させても良い。
第F工程、第G工程が、請求項11の第3、第4工程に相当する。
【0048】
8)第G工程で得られた焼成体を、直径3.5mmの略棒状に研磨し、セラミックヒータ3の外形を仕上げるとともに、各リード電極4、6を外部に露出させる(第H工程)。
以上の工程によって、セラミック製絶縁体11内にセラミック製抵抗体12と一対のリード電極4、6が埋設されたセラミックヒータ3が完成する。
【0049】
なお、他の製造方法の一例として、第F工程で得られた混合粉末を板状にプレス成形する。その板状のプレス成形物の表面に第C工程で得られた混練物をペースト状にしたものを用いて発熱体形状をパターン印刷する。さらにその表面に、第F工程で得られた混合粉末を板状にプレス成形したプレス成形物を重ね合わせて焼成し、焼成体を得る。その後研磨して、図8に示すような断面を有するセラミックヒータ3を設けても良い。なお、図8に示すセラミックヒータは、パターン印刷によって2段のセラミック製抵抗体12を設けたものである。
【0050】
〔実験結果〕
次に、図5の表に示すように、本発明にかかる8つのセラミックヒータ3(第1〜第8実施例)と、本発明に係わらない7つのセラミックヒータ(第1〜第7比較例)とを作成した。
第1〜第8実施例のセラミックヒータ3におけるセラミック製抵抗体12は、図6のX線解析のデータに示すように、副次的セラミック粒子S2 であるβ’−サイアロン(図中、β’)と、境界粒子相S3 をなす希土類元素をE、0<x<2とした2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x (図中、A)とが確認された。
【0051】
また、第1〜第7比較例のセラミックヒータ3におけるセラミック製抵抗体12は、副次的セラミック粒子S2 であるβ’−サイアロン、および境界粒子相S3 をなす希土類元素をE、0<x<2とした2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x (図中、A)を有しないものである。
なお、図5の表における符号βはβ−Si3 4 、符号β’はβ’−サイアロン、符号Aは希土類元素をE、0<x<2とした2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x 、符号BはSi3 4 ・Y2 3 、符号Cは非晶質(ガラス相)を示すものである。
【0052】
上記によって製造された第1〜第8実施例のセラミックヒータ3と、第1〜第7比較例のセラミックヒータ3とに、電圧を5分間通電し(セラミックヒータ3は飽和温度1300℃)、1分間冷却するサイクル通電テストを行い、抵抗値の変化を測定した。その抵抗値の測定結果を図5の表に示す。また、その評価(劣化なし=◎、僅かに劣化=〇、劣化あり=△、激しく劣化=×)も図5の表に示す。なお、実験はそれぞれに5回行い、評価精度を高めた。
【0053】
〔実施例の効果〕
本実施例のグロープラグ1に使用されるセラミック製抵抗体12は、導電性セラミック粒子S1 と、副次的セラミック粒子S2 と、境界粒子相S3 とからなり、セラミック製抵抗体12とセラミック製絶縁体11の熱膨張差が小さく設けられている。このため、セラミックヒータ3が、加熱と放熱を繰り返しても、セラミック製抵抗体12とセラミック製絶縁体11の熱膨張差によって、セラミック製抵抗体12にクラックが生じず、従来に比較してセラミックヒータ3の耐久性、つまりグロープラグ1の耐久性が向上する。
【0054】
また、セラミック製抵抗体12を構成する導電性セラミック粒子S1 の各間に、副次的セラミック粒子S2 と境界粒子相S3 を介在することにより、導電性セラミック粒子S1 間に電位差が生じても、導電性セラミック粒子S1 間に存在する物質が電気分解しない。
このため、800〜1300℃などの高温下において導電性セラミック粒子S1 間に電位差が生じても、導電性セラミック粒子S1 間の物質の電気分解が抑えられる。この結果、セラミックヒータ3が長期に使用されても、セラミック製抵抗体12の抵抗値の上昇が抑えられ、結果的にグロープラグ1の初期性能が長期に亘って維持され、高い信頼性を得ることができる。
【0055】
ここで、従来技術で示したように、セラミック製抵抗体12を導電性セラミック粒子(例えば、WC)だけで形成した場合は、比抵抗(抵抗率)は10-4Ωcmより小さくなり、比抵抗の制御が難しく、セラミック製抵抗体12の断面積を大きく製造することが困難になる。すなわち、図1に示すように、セラミック製抵抗体12にリード電極4、6(例えば、直径0.2〜0.3mmのタングステン製の線)を結合することが困難になる。
【0056】
しかるに、この実施例では、導電性セラミック粉末に絶縁性セラミック粉末を混合し、焼成してセラミック製抵抗体12を形成しているため、図7に示すように、導電性セラミック粉末と絶縁性セラミック粉末の重量比によって、比抵抗を10-4Ωcm以上、1000Ωcm以下とすることが容易に調節でき、セラミック製抵抗体12の断面積を大きく製造することが容易にできる。このため、図1に示すように、セラミック製抵抗体12にリード電極4、6を容易に結合することができる。また、リード電極4、6をセラミック製絶縁体11内に埋設した状態で、セラミック製抵抗体12とセラミック製絶縁体11を同時焼結することで、セラミック製抵抗体12とリード電極4、6の電気的結合を強固にできる効果もある。
【0057】
この場合、グロープラグ1としての機能を発揮するには、セラミックヒータ3の表面に露出した一対のリード線4、6間の抵抗が500mΩ以上であることが望ましく、通電による温度上昇、耐久性を考慮すると、500mΩ〜1Ωであることがさらに望ましい。なお、実施例7における一対のリード線4、6間の抵抗値は700mΩであった。
【0058】
〔変形例〕
上記の実施例では、本発明のセラミックヒータをグロープラグに適用した例を示したが、暖房用のセラミックヒータ、電気コンロのセラミックヒータ、産業用機器内における局部加熱用のセラミックヒータなど、他のセラミックヒータに適用しても良い。
また、セラミックヒータを耐熱性金属で覆って、耐酸化性および機械的強度を向上させても良い。
【図面の簡単な説明】
【図1】セラミックヒータの断面図である。
【図2】図1のP部の拡大模式図である。
【図3】(a)は非焼成セラミック体の製造方法の説明図であり、(b)は非焼成セラミック体の側面図である。
【図4】グロープラグの断面図である。
【図5】表を示す図である。
【図6】セラミック製抵抗体のX線解析のデータを示すグラフである。
【図7】導電性セラミック粉末と絶縁性セラミック粉末の重量比に対する比抵抗を示すグラフである。
【図8】セラミックヒータの断面図である。
【符号の説明】
1 グロープラグ
3 セラミックヒータ
4 リード電極
6 リード電極
11 セラミック製絶縁体
12 セラミック製抵抗体
12a 非焼成セラミック体
S1 導電性セラミック粒子
S2 副次的セラミック粒子
S3 境界粒子相

Claims (13)

  1. 通電を受けて発熱するセラミック製抵抗体と、この抵抗体を囲むように設けられ窒化珪素製のセラミック粒子を主体とするセラミック製絶縁体と、を備えたセラミックヒータにおいて、
    前記セラミックヒータは、少なくともWC、MoSi2 から選ばれた導電性セラミック粉末40〜80重量%と、窒化珪素18.9〜58.9重量%と、窒化アルミニウム0.5〜5重量%と、アルミナ0.1〜3重量%と、希土類酸化物0.5〜4.5重量%とを混合して成形した抵抗体用の非焼成セラミック体を、窒化珪素を主体とするセラミック粒子で覆って非焼成ヒータを形成した後、この非焼成ヒータを焼成することで形成されるものであり、
    前記抵抗体は、導電性セラミック粒子と、0<z<5を満足するSi 6-z Al z 8-z z で表される一般式を持つセラミックであって、拡張β−窒化珪素格子を有する副次的セラミック粒子と、希土類元素をEとするとともに0<x<2を満足する2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x を有する境界粒子相と、からなり、前記導電性セラミック粒子間に前記副次的セラミック粒子および前記境界粒子相が介在する
    ことを特徴とするセラミックヒータ。
  2. 通電を受けて発熱するセラミック製抵抗体と、この抵抗体に電気的に一端が接続された一対のリード電極と、前記抵抗体と前記リード電極を他端が露出して囲むように設けられ窒化珪素製のセラミック粒子を主体とするセラミック製絶縁体と、を備えたセラミックヒータにおいて、
    前記セラミックヒータは、少なくともWC、MoSi2 から選ばれた導電性セラミック粉末40〜80重量%と、窒化珪素18.9〜58.9重量%と、窒化アルミニウム0.5〜5重量%と、アルミナ0.1〜3重量%と、希土類酸化物0.5〜4.5重量%とを混合して成形した抵抗体用の非焼成セラミック体を、窒化珪素を主体とするセラミック粒子で覆って非焼成ヒータを形成した後、この非焼成ヒータを焼成することで形成されるものであり、
    前記抵抗体は、導電性セラミック粒子と、0<z<5を満足するSi 6-z Al z 8-z z で表される一般式を持つセラミックであって、拡張β−窒化珪素格子を有する副次的セラミック粒子と、希土類元素をEとするとともに0<x<2を満足する2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x を有する境界粒子相と、からなり、前記導電性セラミック粒子間に前記副次的セラミック粒子および前記境界粒子相が介在する
    ことを特徴とするセラミックヒータ。
  3. 請求項2のセラミックヒータにおいて、
    前記一対のリード電極は、タングステン製であることを特徴とするセラミックヒータ。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれかのセラミックヒータにおいて、
    前記セラミック製抵抗体の比抵抗は、10-4Ωcm以上、1000Ωcm以下であることを特徴とするセラミックヒータ。
  5. 請求項1ないし請求項4のいずれかのセラミックヒータにおいて、
    前記導電性セラミック粒子の平均粒径寸法は2〜5μmで、前記副次的セラミック粒子の平均粒径寸法も2〜5μmであることを特徴とするセラミックヒータ。
  6. 請求項1ないし請求項5のいずれかのセラミックヒータにおいて、
    前記境界粒子相をなす希土類元素のEは、Er、Yb、Yから選ばれた1つを有することを特徴とするセラミックヒータ。
  7. 通電を受けて発熱するセラミック製抵抗体と、この抵抗体に電気的に接続された一対のリード電極と、前記抵抗体と前記リード電極を囲むように設けられ窒化珪素製のセラミック粒子を主体とするセラミック製絶縁体と、を備え、前記抵抗体は、導電性セラミック粒子と、0<z<5を満足するSi 6-z Al z 8-z z で表される一般式を持つセラミックであって、拡張β−窒化珪素格子を有する副次的セラミック粒子と、希土類元素をEとするとともに0<x<2を満足する2E2 3 ・Si2-x Alx 2-x 1+x を有する境界粒子相と、からなり、前記導電性セラミック粒子間に前記副次的セラミック粒子および前記境界粒子相が介在するセラミックヒータは、次の工程の結合によって製造されることを特徴とするセラミックヒータの製造方法。
    (1)少なくともWC、MoSi2 から選ばれた導電性セラミック粉末40〜80重量%と、窒化珪素18.9〜58.9重量%と、窒化アルミニウム0.5〜5重量%と、アルミナ0.1〜3重量%と、希土類酸化物0.5〜4.5重量%とを混合して、混合セラミック体を作る第1工程。
    (2)前記混合セラミック体を、前記一対のリード電極が接続された非焼成セラミック体に成形する第2工程。
    (3)接合された前記抵抗体用の非焼成セラミック体と前記一対のリード電極とを、化珪素製のセラミック粒子を主体とする絶縁性セラミック粉末で覆って、非焼成ヒータを形成する第3工程。
    (4)前記非焼成ヒータを非酸化雰囲気中で焼成する第4工程。
  8. 請求項7のセラミックヒータの製造方法において、
    前記一対のリード電極は、タングステン製であることを特徴とするセラミックヒータの製造方法。
  9. 請求項7または請求項8のセラミックヒータの製造方法において、
    前記希土類酸化物は、Er2 3 、Yb2 3 、Y2 3 から選ばれた1つを有することを特徴とするセラミックヒータの製造方法。
  10. 請求項1ないし請求項6の何れかのセラミックヒータの特徴を備えたグロープラグ。
  11. 請求項10のグロープラグにおいて、
    前記セラミック製絶縁体の表面に露出した前記一対のリード電極の他端間の抵抗は、500mΩ以上であることを特徴とするグロープラグ。
  12. 請求項10のグロープラグにおいて、
    前記セラミック製絶縁体の表面に露出した前記一対のリード電極の他端間の抵抗は、500mΩ〜1Ωであることを特徴とするグロープラグ。
  13. 請求項8または請求項9のセラミックヒータの製造方法の特徴を備えたグロープラグの製造方法。
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