JP4365844B2 - 荷電粒子線の線量分布測定装置 - Google Patents
荷電粒子線の線量分布測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4365844B2 JP4365844B2 JP2006244119A JP2006244119A JP4365844B2 JP 4365844 B2 JP4365844 B2 JP 4365844B2 JP 2006244119 A JP2006244119 A JP 2006244119A JP 2006244119 A JP2006244119 A JP 2006244119A JP 4365844 B2 JP4365844 B2 JP 4365844B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charged particle
- dose distribution
- particle beam
- electrodes
- signal processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
- A61N5/00—Radiation therapy
- A61N5/10—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy
- A61N5/1048—Monitoring, verifying, controlling systems and methods
- A61N5/1075—Monitoring, verifying, controlling systems and methods for testing, calibrating, or quality assurance of the radiation treatment apparatus
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
- A61N5/00—Radiation therapy
- A61N5/10—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy
- A61N2005/1085—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy characterised by the type of particles applied to the patient
- A61N2005/1087—Ions; Protons
Description
図1は、この発明の荷電粒子線の線量分布測定装置の実施の形態1を示す構成図、図2は、実施の形態1におけるプリント基板の背面図、図3は、実施の形態1における信号処理回路の1つの信号処理ブロックを示す電気回路図である。
実施の形態1では、複数の第1電極21のそれぞれに接続される複数の積分コンデンサ43を、主表面S2の中央領域S2Aの中で、荷電粒子線の影響を受けない第2部分S2A2に配置したが、この実施の形態2では、複数の積分コンデンサ43を、それぞれセラミックコンデンサ43aで構成し、これらの各セラミックコンデンサ43aを、中央領域S2Aの第1部分S2A1、すなわち各第1電極21の背面に配置する。第1部分S2A1は、複数の第1電極21が形成された領域であり、各セラミックコンデンサ43aは、荷電粒子線を受けるが、セラミックコンデンサ43aは、荷電粒子線に対する耐性が高く、各第1電極21の背面にあっても荷電粒子線の影響を受けずに、各第1電極21の電荷を積分して保持することができる。
この実施の形態3は、実施の形態1におけるプリント基板10を、多層プリント基板MPCBで構成したものである。この多層プリント基板MPCBは、相対向する互いに平行なn個の層からなる配線層51、52、53、54、・・・、5(n−1)、5nを含む。多層プリント基板MPCBの主表面S1上に位置する配線層を第1番目の第1配線層51とし、その主表面S2上に位置する配線層を第n番目の第n配線層5nとする。この第1配線層51と第n配線層以外の複数の他の配線層を、順次第1配線層51から第n配線層5nに向かって、第2配線層52、第3配線層53、第4配線層54、・・・、第(n−1)配線層5(n−1)とする。
この実施の形態4は、実施の形態3における多層プリント基板MPCBに、さらにm個の層からなる追加配線層71、72、・・・、7mを加えたものである。結果としてこの実施の形態4では、多層プリント基板MPCBが、(n+m)層の配線層を持つ。
この実施の形態5は、実施の形態3または4に対して、さらに1つの追加配線層81を追加したものである。この追加配線層81は、実施の形態3または4における第2配線層52と第3配線層53との間に配置される。
この実施の形態6は、実施の形態1または実施の形態3において、第2電極基板22を、水と同等な荷電粒子線の透過特性を有する樹脂板22aで構成し、また第2電極板23を金属薄膜23aで構成したものである。
この実施の形態7は、実施の形態1または実施の形態3における第2電極基板22をポリイミドフレキシブル基板22bで構成し、第2電極23を金属薄膜23b、例えば銅薄膜で構成したものである。
この実施の形態8は、実施の形態1または実施の形態3において、信号処理回路30に含まれる複数の信号処理ブロック40に、それぞれ積分コンデンサ43を放電させるための放電回路95を付加したものである。
この実施の形態9は、実施の形態1または実施の形態3において、信号処理回路30を信号処理回路30aに代えたものである。
22、22a、22b:第2電極基板、23,23a、23b:第2電極、
25:間隔フレーム、26:電離空間、30、30a:信号処理回路、
40:信号処理ブロック、41、41a:切換スイッチ、45:増幅回路、
51、52、53、54、・・・、5n:配線層、
71、72、・・・、7m:追加配線層、81:追加配線層、95:放電回路。
Claims (6)
- プリント基板を用いて構成された荷電粒子線の線量分布測定装置であって、
前記プリント基板の一表面には、複数の第1電極が形成され、また、この複数の各第1電極と電離空間を介して対向する第2電極を有する第2電極基板が配置され、
前記プリント基板の一表面と対向する他の表面には、信号処理回路が配置され、この信号処理回路が、前記各第1電極の電荷をそれぞれ積分する複数の積分コンデンサと、少なくとも1つの増幅回路と、前記増幅回路に対してそれに対応する前記各積分コンデンサを切換え接続する少なくとも1つの切換スイッチとを含み、
前記信号処理回路の複数の積分コンデンサは、荷電粒子線に対する耐性の高いセラミックコンデンサで構成され、この各セラミックコンデンサがそれぞれ対応する前記各第1電極に接続されたことを特徴とする荷電粒子線の線量分布測定装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線の線量分布測定装置であって、前記第2電極基板が、水と同等な粒子線等価性能を持つ樹脂板で構成されたことを特徴とする荷電粒子線の線量分布測定装置。
- 請求項1記載の荷電粒子線の線量分布測定装置であって、前記第2電極基板が、ポリイミドフレキシブル基板で構成されたことを特徴とする荷電粒子線の線量分布測定装置。
- 請求項1記載の荷電粒子線の線量分布測定装置であって、前記切換スイッチに、前記積分コンデンサを放電させる放電スイッチを接続したことを特徴とする荷電粒子線の線量分布測定装置。
- 請求項1記載の荷電粒子線の線量分布測定装置であって、前記信号処理回路は、少なくとも3つの前記切換スイッチを有し、この3つの切換スイッチの中の第1、第2の切換スイッチは、前記複数の第1電極の中の互いに異なる複数の第1電極の電荷を切換え、またその第3の切換スイッチは、前記第1、第2の切換スイッチの出力を前記増幅回路に切換え接続するように構成されたことを特徴とする荷電粒子線の線量分布測定装置。
- 請求項5記載の荷電粒子線の線量分布測定装置であって、前記第1、第2の切換スイッ
チの出力側に、前記積分コンデンサを放電させる放電スイッチを接続したことを特徴とする荷電粒子線の線量分布測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006244119A JP4365844B2 (ja) | 2006-09-08 | 2006-09-08 | 荷電粒子線の線量分布測定装置 |
US11/713,698 US8044364B2 (en) | 2006-09-08 | 2007-03-05 | Dosimetry device for charged particle radiation |
CN2007101026901A CN101140326B (zh) | 2006-09-08 | 2007-04-26 | 带电粒子束的剂量分布测定装置 |
DE102007024402.0A DE102007024402B4 (de) | 2006-09-08 | 2007-05-25 | Dosimetrievorrichtung für Ladungsträgerstrahlung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006244119A JP4365844B2 (ja) | 2006-09-08 | 2006-09-08 | 荷電粒子線の線量分布測定装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008307490A Division JP4875048B2 (ja) | 2008-12-02 | 2008-12-02 | 荷電粒子線の線量分布測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008064664A JP2008064664A (ja) | 2008-03-21 |
JP4365844B2 true JP4365844B2 (ja) | 2009-11-18 |
Family
ID=39105227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006244119A Active JP4365844B2 (ja) | 2006-09-08 | 2006-09-08 | 荷電粒子線の線量分布測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8044364B2 (ja) |
JP (1) | JP4365844B2 (ja) |
CN (1) | CN101140326B (ja) |
DE (1) | DE102007024402B4 (ja) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2259664B1 (en) | 2004-07-21 | 2017-10-18 | Mevion Medical Systems, Inc. | A programmable radio frequency waveform generator for a synchrocyclotron |
EP2389983B1 (en) | 2005-11-18 | 2016-05-25 | Mevion Medical Systems, Inc. | Charged particle radiation therapy |
US8933650B2 (en) | 2007-11-30 | 2015-01-13 | Mevion Medical Systems, Inc. | Matching a resonant frequency of a resonant cavity to a frequency of an input voltage |
US8581523B2 (en) | 2007-11-30 | 2013-11-12 | Mevion Medical Systems, Inc. | Interrupted particle source |
JP5247589B2 (ja) * | 2008-12-01 | 2013-07-24 | 三菱電機株式会社 | 電離箱検出器および線量分布測定装置 |
EP3862795A1 (en) * | 2009-03-20 | 2021-08-11 | Ion Beam Applications S.A. | Method for monitoring a hadron beam |
JP5463509B2 (ja) * | 2010-02-10 | 2014-04-09 | 株式会社東芝 | 粒子線ビーム照射装置及びその制御方法 |
EP2377575B1 (de) * | 2010-04-19 | 2012-10-10 | X-Alliance GmbH | Raster-Dosimetrievorrichtung |
CN102175932B (zh) * | 2011-01-26 | 2013-05-29 | 北京大学 | 一种等离子体环境的电荷测试方法和测试系统 |
JP5438826B2 (ja) | 2012-01-20 | 2014-03-12 | 三菱電機株式会社 | ビーム位置モニタ装置及び粒子線治療装置 |
CN103389508A (zh) * | 2012-05-09 | 2013-11-13 | 上海精密计量测试研究所 | 用于电子加速器束流强度实时监测的装置 |
ES2739634T3 (es) | 2012-09-28 | 2020-02-03 | Mevion Medical Systems Inc | Control de terapia de partículas |
TW201422279A (zh) | 2012-09-28 | 2014-06-16 | Mevion Medical Systems Inc | 聚焦粒子束 |
EP2900324A1 (en) | 2012-09-28 | 2015-08-05 | Mevion Medical Systems, Inc. | Control system for a particle accelerator |
WO2014052722A2 (en) | 2012-09-28 | 2014-04-03 | Mevion Medical Systems, Inc. | Focusing a particle beam using magnetic field flutter |
US10254739B2 (en) | 2012-09-28 | 2019-04-09 | Mevion Medical Systems, Inc. | Coil positioning system |
US9185789B2 (en) | 2012-09-28 | 2015-11-10 | Mevion Medical Systems, Inc. | Magnetic shims to alter magnetic fields |
CN105103662B (zh) | 2012-09-28 | 2018-04-13 | 梅维昂医疗系统股份有限公司 | 磁场再生器 |
TW201424467A (zh) | 2012-09-28 | 2014-06-16 | Mevion Medical Systems Inc | 一粒子束之強度控制 |
US9301384B2 (en) | 2012-09-28 | 2016-03-29 | Mevion Medical Systems, Inc. | Adjusting energy of a particle beam |
EP2908729A1 (en) * | 2012-10-19 | 2015-08-26 | Koninklijke Philips N.V. | Method of determining distribution of a dose in a body |
US8791656B1 (en) | 2013-05-31 | 2014-07-29 | Mevion Medical Systems, Inc. | Active return system |
US9730308B2 (en) | 2013-06-12 | 2017-08-08 | Mevion Medical Systems, Inc. | Particle accelerator that produces charged particles having variable energies |
JP6095117B2 (ja) * | 2013-08-07 | 2017-03-15 | 株式会社日立製作所 | ビームモニタシステムおよび粒子線照射システム |
CN110237447B (zh) | 2013-09-27 | 2021-11-02 | 梅维昂医疗系统股份有限公司 | 粒子治疗系统 |
KR101624921B1 (ko) * | 2013-11-04 | 2016-05-30 | 한국표준과학연구원 | 엑스선 정밀 측정장치 |
EP2878976A1 (en) | 2013-11-30 | 2015-06-03 | Ion Beam Applications S.A. | Device and method for radiation dosimetry based on a ionization chamber |
US10675487B2 (en) | 2013-12-20 | 2020-06-09 | Mevion Medical Systems, Inc. | Energy degrader enabling high-speed energy switching |
US9962560B2 (en) | 2013-12-20 | 2018-05-08 | Mevion Medical Systems, Inc. | Collimator and energy degrader |
US9661736B2 (en) | 2014-02-20 | 2017-05-23 | Mevion Medical Systems, Inc. | Scanning system for a particle therapy system |
US9950194B2 (en) | 2014-09-09 | 2018-04-24 | Mevion Medical Systems, Inc. | Patient positioning system |
US9427599B1 (en) * | 2015-02-26 | 2016-08-30 | Pyramid Technical Consultants Inc. | Multi-resolution detectors for measuring and controlling a charged particle pencil beam |
US10786689B2 (en) | 2015-11-10 | 2020-09-29 | Mevion Medical Systems, Inc. | Adaptive aperture |
JP7059245B2 (ja) | 2016-07-08 | 2022-04-25 | メビオン・メディカル・システムズ・インコーポレーテッド | 治療計画の決定 |
US11103730B2 (en) | 2017-02-23 | 2021-08-31 | Mevion Medical Systems, Inc. | Automated treatment in particle therapy |
WO2019006253A1 (en) | 2017-06-30 | 2019-01-03 | Mevion Medical Systems, Inc. | CONFIGURABLE COLLIMATOR CONTROLLED BY LINEAR MOTORS |
WO2019233751A1 (en) * | 2018-06-04 | 2019-12-12 | Paul Scherrer Institut | Pixel detector system optimized for pencil beam scanning proton therapy |
JP6737316B2 (ja) * | 2018-10-26 | 2020-08-05 | 大日本印刷株式会社 | 放射線検出素子 |
JP6747487B2 (ja) | 2018-10-26 | 2020-08-26 | 大日本印刷株式会社 | 放射線検出装置 |
CN109786197B (zh) * | 2019-01-21 | 2021-06-29 | 云谷(固安)科技有限公司 | 电荷量检测装置及方法 |
EP3934752A1 (en) | 2019-03-08 | 2022-01-12 | Mevion Medical Systems, Inc. | Delivery of radiation by column and generating a treatment plan therefor |
JP7081626B2 (ja) * | 2020-07-09 | 2022-06-07 | 大日本印刷株式会社 | 放射線検出素子 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5888164U (ja) * | 1981-12-10 | 1983-06-15 | 横河電機株式会社 | 多点電流計測装置 |
US4500785A (en) * | 1982-05-26 | 1985-02-19 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Radiation detector having a multiplicity of individual detecting elements |
JPS593387U (ja) * | 1982-06-29 | 1984-01-10 | 横河電機株式会社 | X線検出器 |
JPS63175469A (ja) * | 1987-01-16 | 1988-07-19 | Nec Corp | イメ−ジセンサ |
JPH03209795A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Nec Shizuoka Ltd | 多層プリント基板 |
US5308988A (en) * | 1992-05-18 | 1994-05-03 | Radiation Measurements, Inc. | Analyzer for radiotherapy radiation beam |
WO1994025878A1 (en) * | 1993-04-28 | 1994-11-10 | University Of Surrey | Radiation detectors |
JPH0921879A (ja) * | 1995-07-04 | 1997-01-21 | Toshiba Corp | 放射線平面検出器及び放射線撮像装置 |
JP3254164B2 (ja) * | 1997-04-30 | 2002-02-04 | 科学技術振興事業団 | イメージングマイクロストリップガスチャンバー |
US6362482B1 (en) * | 1997-09-16 | 2002-03-26 | Advanced Scientific Concepts, Inc. | High data rate smart sensor technology |
JP3424522B2 (ja) * | 1997-09-25 | 2003-07-07 | 松下電工株式会社 | 赤外線検出器及びその製造方法 |
JP3877860B2 (ja) * | 1998-03-11 | 2007-02-07 | 松下電器産業株式会社 | 固体撮像素子付半導体装置及び該半導体装置の製造方法 |
JP3930644B2 (ja) * | 1998-07-14 | 2007-06-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線パネルセンサ |
JP3868640B2 (ja) * | 1998-11-10 | 2007-01-17 | 株式会社リコー | Ccdアナログ信号処理回路、直流保持コンデンサのドループ低減方法及びプリント基板 |
JP2001320038A (ja) * | 2000-05-09 | 2001-11-16 | Canon Inc | 光電変換装置 |
JP3354551B2 (ja) * | 2000-06-27 | 2002-12-09 | 科学技術振興事業団 | ピクセル型電極によるガス増幅を用いた粒子線画像検出器 |
US6658082B2 (en) * | 2000-08-14 | 2003-12-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, radiation detecting system and X-ray CT apparatus |
JP2003066149A (ja) * | 2000-08-14 | 2003-03-05 | Toshiba Corp | 放射線検出器、放射線検出システム、x線ct装置 |
CN1308487A (zh) | 2000-12-20 | 2001-08-15 | 周宝星 | 一种多层印刷电路板的布线工艺 |
JP2003323858A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-14 | Advantest Corp | 電子ビーム処理装置及び電子ビーム形状測定方法 |
JP2004065285A (ja) | 2002-08-01 | 2004-03-04 | Hitachi Medical Corp | X線検出器及びこれを用いたx線ct装置 |
JP2004138396A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Mitsubishi Electric Corp | 位置検出型放射線検出器 |
JP2004253731A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Sharp Corp | 固体撮像装置およびその製造方法 |
JP2005055372A (ja) * | 2003-08-07 | 2005-03-03 | Japan Atom Energy Res Inst | マイクロビア電極構造の多次元位置検出型放射線センサー素子 |
JP4635191B2 (ja) * | 2003-10-21 | 2011-02-16 | 国立大学法人静岡大学 | 超解像画素電極の配置構造及び信号処理方法 |
JP4384897B2 (ja) * | 2003-11-20 | 2009-12-16 | アールテック有限会社 | ファントム要素及び水ファントム |
JP4509806B2 (ja) * | 2005-01-18 | 2010-07-21 | 株式会社日立メディコ | Icパッケージ及びそれを用いたx線ct装置 |
-
2006
- 2006-09-08 JP JP2006244119A patent/JP4365844B2/ja active Active
-
2007
- 2007-03-05 US US11/713,698 patent/US8044364B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-04-26 CN CN2007101026901A patent/CN101140326B/zh active Active
- 2007-05-25 DE DE102007024402.0A patent/DE102007024402B4/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102007024402B4 (de) | 2015-01-22 |
JP2008064664A (ja) | 2008-03-21 |
US8044364B2 (en) | 2011-10-25 |
US20080061245A1 (en) | 2008-03-13 |
DE102007024402A1 (de) | 2008-03-27 |
CN101140326A (zh) | 2008-03-12 |
CN101140326B (zh) | 2010-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4365844B2 (ja) | 荷電粒子線の線量分布測定装置 | |
US6051832A (en) | Drift chambers | |
AU2005204695B2 (en) | Voltage measuring device | |
US20070152163A1 (en) | Semiconductor radiation detector and radiological imaging apparatus | |
RU2518055C1 (ru) | Трубка для измерения подвижности ионов | |
JP5771447B2 (ja) | 電子増倍器 | |
US10191180B2 (en) | Large scale gas electron multiplier and detection method | |
US7183557B2 (en) | Radiological imaging apparatus | |
JPH05144410A (ja) | セラミツク製電子増倍構造体、光電子増倍管、およびその製法 | |
JP4875048B2 (ja) | 荷電粒子線の線量分布測定装置 | |
JP2010185752A (ja) | 放射線検出器 | |
EP2878976A1 (en) | Device and method for radiation dosimetry based on a ionization chamber | |
EP0920619B1 (en) | Drift chambers | |
JP5711476B2 (ja) | 放射線検出器カード | |
JP4563928B2 (ja) | ビーム位置モニタ | |
US20230015342A1 (en) | Shunt resistor module | |
JP2020067415A5 (ja) | ||
JP6821935B2 (ja) | 検出素子及び放射線検出装置 | |
JP5436880B2 (ja) | 放射線検出器 | |
JP2020191205A (ja) | イオン検出器 | |
JP7333292B2 (ja) | イオン検出器 | |
KR101796679B1 (ko) | 방사선 계측용 모니터 전리함 및 그 내장용 전리 방사선 검출 전극 유닛 | |
JPH06251270A (ja) | 光電式煙感知器 | |
CN114093747A (zh) | 一种pcb板组成的离子迁移管 | |
US10176975B2 (en) | Detector plate for radiation analysis and method for producing same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080110 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080910 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081007 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081202 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090623 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090713 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090804 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090821 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4365844 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130828 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |