JP4189682B2 - スピーカのチェック装置およびチェック方法 - Google Patents

Description

この発明は、複数のスピーカを使用する再生装置に対するスピーカのチェック装置およびチェック方法に関する。

ホームシアターやＡＶシステムなどに適用して好適なスピーカシステムとして、スピーカアレイがある。図１３は、そのスピーカアレイ１０の一例を示すもので、このスピーカアレイ１０は、多数のスピーカ（スピーカユニット）ＳＰ1〜ＳＰmが配列されて構成される。この場合、一例として、ｍ＝256、スピーカの口径は数cmであり、したがって、実際には、スピーカＳＰ1〜ＳＰmは平面上に２次元状に配列されることになるが、以下の説明においては、簡単のため、水平方向の直線上に配列されているものとする。

そして、オーディオ信号が、信号源ＳＳから遅延回路ＤＬ1〜ＤＬmに供給されて所定の時間τ1〜τmだけ遅延され、その遅延されたオーディオ信号がパワーアンプＰＡ1〜ＰＡmを通じてスピーカＳＰ1〜ＳＰmにそれぞれ供給される。なお、遅延回路ＤＬ1〜ＤＬmの遅延時間τ1〜τmについては、後述する。

すると、どの場所においても、スピーカＳＰ1〜ＳＰmから出力される音波が合成され、その合成結果の音圧が得られることになる。そこで、図１３に示すように、スピーカＳＰ1〜ＳＰmにより形成される音場において、所定のポイントＰtg、Ｐncを、
Ｐtg：周囲よりも音圧を上げたい場所。音圧増強点。
Ｐnc：周囲よりも音圧を下げたい場所。音圧低減点。
とすると、任意の場所を音圧増強点Ｐtgとする方法は、図１４あるいは図１５に示す方法に大別できる。

すなわち、図１４に示す方法の場合には、
Ｌ1〜Ｌm：スピーカＳＰ1〜ＳＰmから音圧増強点Ｐtgまでの各距離
ｓ ：音速
とすると、遅延回路ＤＬ1〜ＤＬmの遅延時間τ1〜τmを、
τ1＝（Ｌm−Ｌ1）／ｓ
τ2＝（Ｌm−Ｌ2）／ｓ
τ3＝（Ｌm−Ｌ3）／ｓ
・・・・
τm＝（Ｌm−Ｌm）／ｓ＝０
に設定する。

すると、信号源ＳＳから出力されるオーディオ信号がスピーカＳＰ1〜ＳＰmにより音波に変換されて出力されるとき、それらの音波は上式で示される時間τ1〜τmだけ遅れて出力されることになる。したがって、それらの音波が音圧増強点Ｐtgに到達するとき、すべてが同時に到達することになり、音圧増強点Ｐtgの音圧は周囲よりも大きくなる。

つまり、図１４のシステム場合は、スピーカＳＰ1〜ＳＰmから音圧増強点Ｐtgまでの行路差により各音波に時間差を生じるが、この時間差を遅延回路ＤＬ1〜ＤＬmにより補償して音圧増強点Ｐtgに音の焦点を結ばせるものである。

また、図１５に示す方法の場合には、スピーカＳＰ1〜ＳＰmから出力される進行波（音波）の位相波面が同じになるように、遅延回路ＤＬ1〜ＤＬmの遅延時間τ1〜τmを設定することにより、音波に指向性を与えるとともに、その指向方向を音圧増強点Ｐtgの方向とするものである。このシステムは、焦点型のシステムにおいて、距離Ｌ1〜Ｌmを無限大にした場合とも考えられる。

なお、先行技術文献として例えば以下のものがある。
特開平９−２３３５９１号公報 特開２００４−１７２６６１号公報

上述のように、スピーカアレイ１０を使用すれば、音圧増強点Ｐtgを自由な位置に設定することができる。ところが、スピーカアレイ１０を構成するスピーカＳＰ1〜ＳＰmの数は数十個〜数百個であり、しかも、再生時には、それらのスピーカＳＰ1〜ＳＰmがほとんど同時に鳴っている。

このため、いずれかのスピーカに故障、例えば接続不良やボイスコイルの断線などを生じても、その故障に気が付かないことがある。また、故障しているスピーカの特定や判定にも多くの時間を必要としてしまう。

この発明は、このような点にかんがみ、スピーカアレイのように多数のスピーカを使用するシステムにおいて、そのスピーカごとに故障の有無、すなわち、良否の判断を迅速に、かつ、正確にチェックができるようにするものである。

この発明においては、
周波数が互いに異なる第１および第２の正弦波信号を加算して第１〜第ｍ（ｍは２以上の自然数）のテストトーン信号を形成する信号形成部と、
この信号形成部を制御することにより、上記第１〜第ｍのテストトーン信号ごとに、上記第１および第２の正弦波信号の周波数を異ならせるとともに、上記第１〜第ｍのテストトーン信号の周波数成分を互いに異ならせる制御回路と、
上記第１〜第ｍのテストトーン信号をそれぞれ第１〜第ｍのスピーカに同時に供給する出力回路と、
上記第１〜第ｍのスピーカから出力されるテストトーンを収音したマイクロフォンの出力信号を、上記第１〜第ｍのスピーカごとのテストトーン信号に解析する解析部と、
この解析部の解析結果のテストトーン信号が、規定値以上の上記第１あるいは第２の正弦波信号を含むとき、上記解析結果に対応するスピーカを正常と判定するとともに、上記解析部の解析したテストトーン信号が、上記規定値以上の上記第１および第２の正弦波信号を含まないとき、上記解析結果に対応するスピーカを異常と判定する判定部と、
この判定部の判定結果を表示する表示部と
を備えたスピーカのチェック装置
とするものである。

この発明によれば、スピーカの故障の有無をチェックするとき、これを迅速に行うことができる。さらに、テストトーンが複数の周波数成分を含むので、そのチェックを正確に行うことができる。

〔１〕 この発明のアウトライン
この発明においては、少なくとも２つの正弦波信号Ｓa、Ｓbを混合してテストトーン信号ＳTTを形成し、このテストトーン信号ＳTTをスピーカＳＰ1〜ＳＰmに供給する。このとき、スピーカごとにテストトーン信号ＳTTに含まれる正弦波信号Ｓa、Ｓbの周波数を異ならせる。

すると、スピーカＳＰ1〜ＳＰmからは、テストトーン信号ＳTTに対応した周波数成分のテストトーンが出力されるので、その出力されたテストトーンを周波数解析する。そして、ある周波数成分が得られれば、その周波数成分のテストトーンを出力したスピーカは正常であり、得られなければ、その周波数成分のテストトーンを出力するはずのスピーカは故障しているとみなせる。そこで、解析結果の周波数成分の大きさから該当するスピーカの故障の有無を判定するものである。

〔２〕 正弦波信号について
いま、図１Ａに示すように、Ｄ／Ａ変換したときに正弦波信号Ｓ1の１サイクルに変換されるデジタルデータＤDが、メモリに保存ないし格納されているとする。この場合、デジタルデータＤDは、正弦波信号Ｓ1の１サイクルを、Ｎサンプルにサンプリングしたときのデータに相当するものであり、したがって、１サイクルがＮサンプルから構成されているものとする。

また、このとき、
Ｎ＝２のべき乗 ・・・ (1)
であり、例えば、
Ｎ＝4096
であるとする。

さらに、デジタルデータＤDの各サンプルは、そのサンプルごとに、メモリの０番地から（Ｎ−１）番地に正順に書き込まれているものとする。なお、デジタルデータＤDは、デジタルオーディオにおいて一般的なフォーマットのデータ、すなわち、量子化ビット数が16ビットで、２の補数形式のデータでよい。

そして、
ｆS：データＤDをメモリから読み出すときのクロック周波数
ｆ1：正弦波信号Ｓ1の周波数。ｆ1＝ｆS／Ｎ
ＴN：正弦波信号Ｓ1の１サイクル期間。ＴN＝１／ｆ1
とする。

すると、
ｆS＝48〔ｋHz〕
とすれば、
ｆ1＝ｆS／Ｎ ・・・ (2)
＝48000／4096
≒11.72〔Hz〕
となる。

したがって、メモリからデジタルデータＤDをクロック周波数ｆSで読み出す場合、メモリの各番地から１サンプルずつ順に読み出せば、図１Ｂにａ＝１として示すように、期間ＴNに周波数11.72Hz（＝ｆ1）の正弦波信号Ｓ1の１サイクルを得ることができる。

また、メモリからデジタルデータＤDを読み出す場合、２番地につき１番地の割り合いで読み出すとともに、その読み出しを２回繰り返すときには、図１Ｂにａ＝２として示すように、期間ＴNに２倍の周波数２ｆ1（＝23.44Hz）の正弦波信号Ｓ2を２サイクル得ることができる。

さらに、メモリからデジタルデータＤDを読み出す場合、３番地につき１番地の割り合いで読み出すとともに、その読み出しを３回繰り返すときには、図１Ｂにａ＝３として示すように、期間ＴNに３倍の周波数３ｆ1（＝35.16Hz）の正弦波信号Ｓ3を３サイクル得ることができる。

以下、同様に、メモリからデジタルデータＤDを読み出す場合、ａ番地（ａは自然数）につき１番地の割り合いで読み出すとともに、その読み出しをａ回繰り返すときには、期間ＴNにａ倍の周波数ａ・ｆ1の正弦波信号Ｓaをａサイクル得ることができる。

以上のことから
ｆa：期間ＴNに得られる正弦波信号Ｓaの周波数
とすれば、(2)式から
ｆa＝ｆ1×ａ
＝ｆS／Ｎ×ａ ・・・ (3)
となる。さらに、同様にして周波数ｆbの正弦波信号Ｓbも形成することができる。

そして、このように期間ＴNに正弦波信号Ｓaのａサイクルがちょうど収まる場合には、その正弦波信号Ｓaを例えばＦＦＴにより周波数解析するとき、その正弦波信号Ｓaの周波数ｆaの位置にだけ振幅を生じ、他の周波数の位置には振幅を生じなくなる。また、正弦波信号Ｓbについても同様である。したがって、被試験スピーカから出力されるテストトーンを収音して正弦波信号Ｓa、Ｓbを得、この信号Ｓa、Ｓbを周波数解析するとき、窓関数の処理を実行する必要がなくなり、解析処理が簡単になる。

また、メモリにおけるサンプル数Ｎを(1)式の関係としているので、メモリにむだを生じにくくなる。さらに、例えば、デジタルデータＤDは最初の1/4サイクル分だけメモリに用意し、データＤDを読み出すとき、最初の1/4サイクル期間は読み出しアドレスを正順とし、第２番目の1/4サイクル期間は逆順とし、また、第３番目の1/4サイクル期間および第４番目の1/4サイクル期間は、同様の順序で読み出しを行うとともに、読み出したデータの符号（極性）を反転すれば、１サイクル分のデジタルデータＤDを得ることができ、メモリを節約することもできる。また、デジタルデータＤDを、正弦波信号Ｓ1に代えて余弦波信号のデータ列とすることもできる。

なお、以下において、具体的に数値を示すときには、上記の数値例であるＮ＝4096、ｆS＝48ｋHzの場合により説明する。

〔３〕 トーン周波数リストについて
「トーン周波数リスト」は、テストトーン信号ＳTTを使用するとき、そのテストトーン信号ＳTTに含まれる正弦波信号Ｓa、Ｓbの周波数を規定するためのリスト（あるいはテーブル）である。このため、トーン周波数リストは、例えば図２に示すような内容とされる。なお、図２においては、128種類のテストトーン信号ＳTTを使用できるようにした場合である。

すなわち、このトーン周波数リストにおいて、第１列は、128種のテストトーン信号ＳTTを区別するためのパターン番号PNを示し、この例においては、PN＝１〜128である。また、第２列および第３列は、テストトーン信号ＳTTのそれぞれに含まれる正弦波信号Ｓa、Ｓbの値ａおよびｂを示す。

例えば、PN＝１の行では、ａ＝100、ｂ＝740であるから、PN＝１のテストトーン信号ＳTTは、正弦波信号Ｓ100、Ｓ740から構成されることになる。このとき、正弦波信号Ｓ100、Ｓ740の周波数ｆ100、ｆ740は、(3)式から
ｆ100＝48000／4096×100≒1171.9〔Hz〕
ｆ740＝48000／4096×740≒8671.9〔Hz〕
となる。また、PN＝128のテストトーン信号ＳTTは、正弦波信号Ｓ735、Ｓ1375から構成され、このとき、それらの周波数ｆ735、ｆ1375は、
ｆ735＝48000／4096×735≒8623.3〔Hz〕
ｆ1375＝48000／4096×1375≒16113.3〔Hz〕
となる。

そして、このトーン周波数リストにも示すように、テストトーン信号ＳTTを構成する正弦波信号Ｓa、Ｓbの周波数ｆa、ｆbは、すべて互いに異なる。

〔４〕 トーンシーケンスリストについて
「トーンシーケンスリスト」は、スピーカＳＰ1〜ＳＰmと、これらに供給されるテストトーン信号ＳTTのパターン番号PNとの対応関係を示すリスト（ないしテーブル）である。したがって、トーンシーケンスリストは、例えば図３に示すような内容とされる。なお、図３においては、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの数が128個（ｍ＝128）の場合である。

さらに、図３のトーンシーケンスリストにおいては、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128の故障を短時間のうちにチェックできるようにするため、128個のスピーカＳＰ1〜ＳＰ128に128種（PN＝１〜128）のテストトーン信号ＳTT〜ＳTTを同時に供給する場合である。

ただし、一般に、スピーカの周波数特性には、ピークやディップがある。そして、そのディップのため、スピーカにテストトーン信号ＳTTを供給しても、スピーカから該当するテストトーンが出力されないことがあり、その結果、テストトーンを収音できないことがある。そして、これはスピーカの故障の場合との区別が難しい。

そこで、図３のトーンシーケンスリストにおいては、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128にテストトーン信号ＳTTを供給する場合、その供給を３回まで繰り返すようにした場合である。すなわち、図３のトーンシーケンスリストにおいて、第１列は、スピーカＳＰ1〜ＳＰmに与えられたスピーカ番号SNを示し、この例においては、ｍ＝128なので、SN＝１〜128である。また、第２列〜第４列は、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128に供給するテストトーン信号ＳTTのパターン番号PNを示し、「第１回目」（SEQ＝１）〜「第３回目」（SEQ＝３）の供給が用意される。

そして、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128にテストトーン信号ＳTTを供給する場合、これが第１回目の供給であれば、図３の「第１回目」の列に示すように、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128に、PN＝１〜128のテストトーン信号ＳTT〜ＳTTを同時に供給する。また、第２回目の供給であれば、図３の「第２回目」の列に示すように、スピーカＳＰ1〜ＳＰ96およびＳＰ97〜ＳＰ128に、PN＝33〜128およびPN＝１〜32のテストトーン信号ＳTT〜ＳTTを同時に供給する。さらに、第３回目の供給であれば、図３の「第３回目」の列に示すように、スピーカＳＰ1〜ＳＰ64およびＳＰ65〜ＳＰ128に、PN＝65〜128およびPN＝１〜64のテストトーン信号ＳTT駆動ＳTTを同時に供給する。

このようにすれば、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128に供給されるテストトーン信号ＳTT〜ＳTTの周波数成分はスピーカごとに異なるので、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128から出力されるテストトーンの周波数成分は、スピーカごとに異なる。したがって、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128から出力されたテストトーンを周波数解析し、その解析結果の周波数成分をチェックすれば、故障の有無をスピーカＳＰ1〜ＳＰ128のそれぞれごとに知ることができる。

そして、このとき、128個のスピーカＳＰ1〜ＳＰ128にテストトーン信号ＳTT〜ＳTTを同時に供給しているので、128個のスピーカＳＰ1〜ＳＰ128について短時間のうちに故障の有無をチェックすることができる。また、図３に「第１回目」〜「第３回目」として示すように、必要に応じてチェックを繰り返すとともに、１回のチェックごとに、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128に供給されるテストトーン信号ＳTT〜ＳTTの周波数成分を変更しているので、スピーカＳＰ1〜ＳＰ128の周波数特性にディップがあっても故障の有無を正確にチェックすることができる。

〔５〕 テストトーン信号ＳTTのフォーマットについて
図４Ａは、１チャンネル分のテストトーン信号ＳTTのフォーマット（タイミングチャート）を示す。このテストトーン信号ＳTTは、テスト期間ＴTにわたって形成されて所定の１つのスピーカに供給されるものであるが、このテスト期間ＴTは、無音期間ＴMと、準備期間ＴRと、チェック期間ＴCと、演出期間ＴEとから構成される。

ここで、無音期間ＴMは、スピーカＳＰ1〜ＳＰmが設置されている部屋の暗騒音（背景雑音）を測定するための期間であり、テストトーン信号ＳTTは無信号とされる。また、準備期間ＴRは、続くチェック期間ＴCにスピーカからテストトーンを出力するとき、その音量を適正値に設定するための期間である。さらに、チェック期間ＴCは、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無を実際にチェックするための期間である。そして、演出期間ＴEは、テストトーンの終了の演出に使用するための期間であり、スピーカの故障の有無のチェックには使用されない。

そして、図４Ａの場合、期間ＴM、ＴR、ＴC、ＴEは、どれも１つの単位期間ＴUから構成される。ただし、チェック期間ＴCは、基本的には１つの単位期間ＴUから構成されるが、上述のようにスピーカＳＰ1〜ＳＰmのチェックを繰り返す場合には、図４Ｂあるいは図４Ｃに示すように、２つあるいは３つの単位期間ＴUから構成される。

また、図４Ｄにも示すように（図４Ｄ以降は時間軸を伸張して示す）、単位期間ＴUは図１における２つの期間ＴN、ＴNに等しい長さとされる。そして、複数のテストトーン信号ＳTT〜ＳTTが、スピーカＳＰ1〜ＳＰmに同時に供給されるが、そのとき、単位期間ＴUを単位として内容が変更される。

ここで、テストトーン信号ＳTTは、上記のように正弦波信号Ｓa、Ｓbの混合信号であり、期間ＴNにおける信号Ｓa、Ｓbのサイクル数ａ、ｂは自然数とされているので、単位期間ＴUにおける期間ＴNとＴNとのつなぎ目でテストトーン信号ＳTTの位相は滑らかに変化する。

なお、上記の数値例の場合、
ＴU＝ＴN×２
＝4096／48000×２
≒171〔ｍ秒〕
である。また、テスト期間ＴTは、図４Ａの場合、
ＴT＝ＴM＋ＴR＋ＴC＋ＴE
＝ＴU×４
≒683〔ｍ秒〕
である。

このようなテストトーン信号ＳTTが被試験スピーカに供給されると、その被試験スピーカが正常であれば、そのテストトーン信号ＳTTに対応した周波数成分のテストトーンがその被試験スピーカから出力される。

そこで、その被試験スピーカから出力されるテストトーンをマイクロフォンにより収音すると、マイクロフォンからは、図４Ｅにも示すようにテストトーン信号ＳTTが出力される（以後、このマイクロフォンから出力されるときのテストトーン信号ＳTTを「応答信号ＳTT」と呼ぶ）。なお、応答信号ＳTTは、スピーカに供給されたテストトーン信号ＳTT（図４Ｄ）に対して、被試験スピーカと、マイクロフォンとの間隔に対応した時間τだけ遅れる。

したがって、図４Ｆに示すように、マイクロフォンからの応答信号ＳTTを所定の期間ＴAにわたって周波数解析をすれば、その被試験スピーカの故障をチェックできる。

そして、その場合、図４Ｅにも示すように、マイクロフォンからの応答信号ＳTTは、単位期間ＴUの期間ＴN、ＴNに同じ内容が２回繰り返されているので、解析期間ＴAの時間位置には十分な余裕がある。このため、例えば、マイクロフォンから応答信号ＳTTが出力されたら、その出力信号の立ち上がりをチェック期間ＴCの基準として応答信号ＳTTの周波数解析を開始することができ、収音した応答信号ＳTTの遅延時間τをあまり考慮する必要がない。

また、テストトーン信号ＳTTは正弦波信号Ｓa、Ｓbの混合信号なので、解析期間ＴAをＴA＝ＴNとすることにより、解析期間ＴAにおける応答信号ＳTTのサイクル数は整数となる。したがって、周波数解析を行う場合、窓関数の処理を実行する必要がなくなり、その解析処理が簡単になる。

さらに、図４Ａに示すように、チェック期間ＴC（＝ＴU）にチェックを行った場合に、あるスピーカからテストトーンが出力されていないときには、図４Ｂあるいは図４Ｃに示すように、チェック期間ＴCを延長するとともに、そのスピーカに供給されるテストトーン信号ＳTTの正弦波信号Ｓa、Ｓbの周波数を図３に示すように変更しているので、スピーカからテストトーンが出力されないとき、それが故障によるものであるか周波数特性のディップによるものであるかを区別することができ、スピーカの故障の有無を確実に判定することができる。

〔６〕 暗騒音（背景雑音）およびスピーカの故障の有無の判定方法
図４にも示すように、テスト期間ＴTの先頭の無音期間ＴMは、スピーカの故障の有無のチェックが暗騒音により影響されることを避けるために使用される。すなわち、スピーカから出力されるテストトーンを収音し、その収音により得られた応答信号ＳTTを解析してテストトーンの各周波数成分のレベルを測定するとき、その解析結果（周波数成分）には、暗騒音による周波数成分も含まれてしまう。

したがって、テストトーンの解析結果からスピーカの故障の有無を判定するときには、その暗騒音による周波数成分について考慮する必要がある。以下、暗騒音を考慮した判定方法の一例について説明する。

まず、無音期間ＴMにおける暗騒音を収音して周波数解析を行い、例えば図５Ｂに示すように、周波数成分（ノイズ成分）ごとにそのレベルを求めて、そのレベルをいったん記憶しておく。このとき、テストトーン信号ＳTTに含まれる正弦波信号Ｓa、Ｓbの周波数と等しい周波数の成分についてだけ、そのレベルを記憶すればよく、他の周波数の成分については記憶する必要はない。また、この記憶するときの周波数は、トーン周波数リストを参照することにより知ることができる。

次にチェック期間ＴCに、被試験スピーカにテストトーン信号ＳTTを供給するとともに、その被試験スピーカの応答信号ＳTTを周波数解析し、例えば図５Ａに示すように、周波数成分ごとに、そのレベルを求める。図５Ａにおいては、信号Ｓa、Ｓbが、ある被試験スピーカにより得られた周波数成分であり、他の周波数成分は暗騒音によるものとする。なお、一般に、信号Ｓa、Ｓbは、スピーカの周波数特性によりレベルが異なるとともに、暗騒音の周波数成分も含んでいる。

そして、信号Ｓaと、レベルを記憶しておいたノイズ成分（図５Ｂ）のうちの信号Ｓaと等しい周波数のノイズ成分ＮaとのＳ／Ｎを求め、これを値Ｖaとする。同様に、信号Ｓbと、ノイズ成分のうちの信号Ｓbと等しい周波数のノイズ成分ＮbとのＳ／Ｎを求め、これを値Ｖbとする。なお、この場合、信号Ｓa、Ｓbのうち、レベルが規定値ＶTHに達しない信号があるときには、上述のＳ／Ｎは算出しないで、対応する値を０とする。

そして、値Ｖa、Ｖbのうち、Ｓ／Ｎが高いほうの値Ｖx（ｘはａ、ｂのどちらか）を選択し、この最大値Ｖxと規定値ＶREFとを比較し、
(i) Ｖx＞ＶREFのとき、チェックされたスピーカは正常
(ii) Ｖx≦ＶREFのとき、チェックされたスピーカは故障
と判定する。

このようにすれば、収音した応答信号ＳTTに含まれる信号Ｓa、Ｓbのうち、最もＳ／Ｎの良好な信号について、そのＳ／Ｎと規定値ＶREFとを比較して該当するスピーカの故障の有無を判定しているので、スピーカの周波数特性や部屋の定在波特性などに影響されずに、スピーカの故障の有無を正確に判定することができる。

〔７〕 音場補正装置
図６は、この発明を音場補正装置に適用した場合の一例を示す。なお、この例においては、ｍ＝128である。

〔７−１〕 音場補正装置の構成およびその動作
ＤＶＤプレーヤ、デジタルチューナ、ゲーム機などの信号源ＳＳからデジタルオーディオ信号ＤAが取り出され、このデジタルオーディオ信号ＤAが入力端子２１を通じてデジタルフィルタ２２１〜２２ｍ（ｍ＝128）に供給される。

このとき、デジタルオーディオ信号ＤAは、正弦波信号Ｓ1のデジタルデータＤDと同様のフォーマットである。また、デジタルフィルタ２２１〜２２ｍは、図１３における遅延回路ＤＬ1〜ＤＬmの遅延処理を行うとともに、必要に応じて他の音場補正などの処理も行うものである。したがって、デジタルフィルタ２２１〜２２ｍからは、図１４あるいは図１５に示すような音圧増強点Ｐtgを形成するデジタルオーディオ信号が取り出される。

そこで、このデジタルオーディオ信号が、スイッチ回路２３１〜２３ｍを通じてデジタルアンプ２４１〜２４ｍに供給される。デジタルアンプ２４１〜２４ｍは、この例においては、いわゆるＤ級アンプの構成とされているものであり、供給されたデジタルオーディオ信号をスイッチングによりＤ級パワー増幅して各チャンネルのアナログオーディオ信号を出力するものである。

そして、このアンプ２４１〜２４ｍから出力されたオーディオ信号が、スピーカＳＰ1〜ＳＰmにそれぞれ供給される。この場合、スピーカＳＰ1〜ＳＰmは、上述のようにスピーカアレイ１０を構成しているものであり、例えば図１３に示すようにリスナの前方に１列に、あるいは複数行×複数列に配置されているものである。また、このような配置とするため、図示はしないが、スピーカＳＰ1〜ＳＰmは１つのキャビネットに収納されている。

さらに、制御回路２５が設けられる。この制御回路２５は、マイクロコンピュータにより構成され、デジタルフィルタ２２１〜２２ｍがデジタルオーディオ信号ＤAに対して遅延を行うとき、その遅延時間τ1〜τmを音圧増強点Ｐtg（あるいは音圧低減点Ｐnc）の位置に対応して設定するものである。このため、制御回路２５からデジタルフィルタ２２１〜２２ｍに遅延時間τ1〜τmの制御信号が供給される。

また、制御回路２５からスイッチ回路２３１〜２３ｍに制御信号が供給され、スイッチ回路２３１〜２３ｍは、通常の再生時には図の状態に接続され、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無のチェック時には図とは逆の状態に接続される。さらに、制御回路２５には、各種の操作スイッチ２６も接続される。

したがって、通常の再生時には、信号源ＳＳからのデジタルオーディオ信号ＤAが、デジタルフィルタ２２１〜２２ｍ→スイッチ回路２３１〜２３ｍ→デジタルアンプ２４１〜２４ｍの信号ラインを通じてスピーカＳＰ1〜ＳＰmに供給される。そして、このとき、デジタルフィルタ２２１〜２２ｍにおいて、デジタルオーディオ信号ＤAに所定の遅延時間τ1〜τmが付与されるので、音圧増強点Ｐtgが形成されるとともに、その音圧増強点Ｐtgの位置が制御される。

〔７−２〕 スピーカの故障チェックのための構成
スピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無のチェックのため、以下のように構成される。すなわち、テストトーン信号ＳTTを形成する信号形成回路３１が例えばＤＳＰにより構成されるとともに、制御回路２５から信号形成回路３１にテストトーン信号ＳTTに含まれる正弦波信号Ｓa、Ｓbの周波数ｆa、ｆbを指示する制御信号が供給される。

また、制御回路２５は、上述の解析期間ＴAに、スピーカＳＰ1〜ＳＰmから出力されたテストトーンの周波数解析を行うとともに、その解析結果にしたがってスピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無を判定するものである。このため、制御回路２５は、これを構成するマイクロコンピュータが実行するプログラムとして、例えば図７〜図９に示すルーチン１００、２００、３００を有する。

これらルーチン１００〜３００の詳細については後述するが、図７〜図９においては、この発明に関連する部分を抜粋して示している。そして、制御回路２５により信号形成回路３１が制御されてテストトーン信号ＳTTが形成されると、そのテストトーン信号ＳTTがスイッチ回路２３１〜２３ｍに供給されるとともに、スイッチ回路２３１〜２３ｍは信号形成回路３１に接続される。

さらに、スピーカＳＰ1〜ＳＰmからテストトーンが出力されたとき、そのテストトーンを収音するマイクロフォン３２が設けられ、このマイクロフォン３２から出力される応答信号ＳTTがマイクアンプ３３を通じてＡ／Ｄコンバータ回路３４に供給されてデジタル信号にＡ／Ｄ変換され、このデジタル応答信号ＳTTが制御回路２５に供給される。

なお、マイクロフォン３２は、スピーカＳＰ1〜ＳＰmを収納しているキャビネットに設けることができる。また、制御回路２５には、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無の判定結果を表示する表示素子として、例えばＬＣＤパネル３５が接続される。

〔７−３〕 スピーカの故障チェック時の動作
操作スイッチ２６のうちのチェックスイッチを操作すると、制御回路２５を構成するマイクロコンピュータの処理が、ルーチン１００のステップ１０１からスタートし、次にステップ１０２において初期設定が行われ、スイッチ回路２３１〜２３ｍが図とは逆の状態に接続されるとともに、テストトーン信号ＳTTの形成が開始され、テスト期間ＴTに入る。

このテスト期間ＴTに入ると、まず、ステップ１１１〜１１４により無音期間ＴMにおける暗騒音のレベルが測定される。すなわち、マイクロフォン３２により暗騒音が収音されるとともに、その収音した暗騒音の信号が、アンプ３３およびＡ／Ｄコンバータ回路３４を通じて制御回路２５に供給される。

すると、ステップ１１１において、その暗騒音の信号が例えばＦＦＴにより周波数解析され（図５Ｂ）、暗騒音のレベルが周波数成分ごとにいったん記憶される。この記憶は、トーン周波数リスト（図２）を参照することにより、テストトーン信号ＳTTに含まれる信号Ｓa、Ｓbと等しい周波数の周波数成分について行えばよい。

次に、ステップ１１２において、ステップ１１１により解析および記憶された周波数成分ごとのレベルが規定のノイズレベルと比較される。

そして、ステップ１１３において、ステップ１１２の比較結果がチェックされ、すべてのノイズレベルが規定のノイズレベルより小さいときには、処理はステップ１１３からステップ１１４に進み、このステップ１１４において、ステップ１１１により解析された周波数成分ごとのノイズレベルのうち、テストトーン信号ＳTTに含まれる信号Ｓa、Ｓbと等しい周波数の周波数成分のノイズレベルが制御回路２５のメモリに保存される。

そして、処理はステップ１１４からステップ１２０に進み、準備期間ＴRの処理が実行される。すなわち、信号形成回路３１によりテストトーン信号ＳTT〜ＳTTが形成され、このテストトーン信号ＳTT〜ＳTTが、スイッチ回路２３１〜２３ｍ→デジタルアンプ２４１〜２４ｍの信号ラインを通じてスピーカＳＰ1〜ＳＰmに供給される。

なお、この準備期間ＴRにおけるテストトーン信号ＳTT〜ＳTTは、例えば図２に示すパターン番号PNのテストトーン信号ＳTT〜ＳTTであって、例えば図３の第１回目の列に示す組み合わせでスピーカＳＰ1〜ＳＰmにそれぞれ供給することができる。こうして、準備期間ＴRには、スピーカＳＰ1〜ＳＰmから同時にテストトーンが出力されることになる。

また、準備期間ＴRにおけるテストトーンは、続くチェック期間ＴCにおけるスピーカＳＰ1〜ＳＰmの出力レベルを適正値に設定するためのものなので、そのレベルは比較的小さくされるが、その直前の無音期間ＴMにおける暗騒音の解析結果を考慮して決定することができる。さらに、準備期間ＴRのテストトーンがマイクロフォン３２により収音され、その収音された応答信号ＳTTが制御回路２５に供給され、続くチェック期間ＴCにおけるテストトーン信号ＳTT〜ＳTTのレベルが設定される。

続いて、処理はステップ１３０に進み、このステップ１３０において、後述するようにチェック期間ＴCの処理が実行され、その後、ステップ１４０において、演出期間ＴEの処理が実行され、すなわち、制御回路２５により信号形成回路３１が制御されて終了用のテストトーン信号ＳTT〜ＳTTが形成され、これら信号ＳTT〜ＳTTがスピーカＳＰ1〜ＳＰmに供給される。

そして、その後、ステップ１５１において、テストトーン信号ＳTTの形成が終了されるとともに、スイッチ回路２３１〜２３ｍが図の状態に接続されてテスト期間ＴTを終了し、さらに、ステップ１５２において、ルーチン１００を終了する。

なお、ステップ１１３において、規定のノイズレベルより大きいノイズ成分（周波数成分）があるときには、処理はステップ１１３からステップ１１６に進み、このステップ１１６において、暗騒音のレベルの測定（無音期間ＴMにおける測定）が規定の回数に達したか否かがチェックされ、達していないときには、処理はステップ１１６からステップ１１１に戻り、無音期間ＴMが繰り返されてステップ１１１以降における暗騒音の周波数成分ごとのレベルの測定が再び実行される。

また、ステップ１１６において、暗騒音のレベルの測定回数をチェックした場合に、規定の回数に達していたときには、処理はステップ１１６からステップ１１７に進み、このステップ１１７において、例えばＬＣＤパネル３５に、環境を改善して暗騒音を小さくする必要があることが表示され、その後、ステップ１４０を通じてステップ１５２に進み、ルーチン１００を終了する。

そして、ステップ１３０におけるチェック期間ＴCの処理は、例えば図８にルーチン２００として示すように実行される。すなわち、チェック期間ＴCになると、制御回路２５を構成するマイクロコンピュータの処理がルーチン２００のステップ２０１からスタートし、次にステップ２０２において、図３のトーンシーケンスリストの何回目であるかを示す変数SEQが１にセットされる。

続いて、ステップ２０３において、図２に示すパターン番号PNのテストトーン信号ＳTT〜ＳTTが、図３のトーンシーケンスリストのうち、変数SEQの示す列の組み合わせで、今の場合は第１回目の列に示す組み合わせで形成され、これら信号ＳTT〜ＳTTがスピーカＳＰ1〜ＳＰmに同時に供給される。こうして、チェック期間ＴCには、スピーカＳＰ1〜ＳＰmからテストトーンが出力される。

そこで、このテストトーンがマイクロフォン３２により収音され、その収音された応答信号ＳTTが制御回路２５に供給され、上述の解析期間ＴAに周波数解析されるとともに、その解析結果からスピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無がスピーカごとに判定される。なお、この周波数解析およびスピーカＳＰ1〜ＳＰmごとの故障の有無の判定は、ルーチン３００により行われる。

そして、このルーチン３００の判定の結果がステップ２０４においてチェックされ、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてが正常のときには、処理はステップ２０４からステップ２０５に進み、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてが正常であることがＬＣＤパネル３５に表示され、その後、ステップ２０９によりルーチン２００を終了し、処理はステップ１４０に進む。

しかし、ステップ２０４において、ルーチン３００の判定の結果をチェックした場合に、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのいずれかからテストトーンが出力されていないときには、処理はステップ２０４からステップ２０６に進み、このステップ２０６において、変数SEQが１だけインクリメントされ、その後、ステップ２０７において、変数SEQが図３におけるチェック回数である３回を越えたか否かがチェックされる。

そして、変数SEQが３回を越えていないときには、処理はステップ２０７からステップ２０３に戻り、以後、ステップ２０３以降の処理が繰り返され、すなわち、チェック期間ＴCのチェックが繰り返される。

ただし、このとき、ステップ２０６が実行されるごとに変数SEQがインクリメントされるので、ステップ２０３以降の処理が繰り返されるごとに、図２に示すパターン番号PNのテストトーン信号ＳTT〜ＳTTが、図３のトーンシーケンスリストのうち、第２回目の列あるいは第３回目の列に示す組み合わせに変更されていく。こうして、スピーカＳＰ1〜ＳＰmからは、チェック期間ＴCが繰り返されるごとに異なる組み合わせの周波数成分でテストトーンが出力される。

そして、第２回目あるいは第３回目のチェックの結果、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてが正常のときには、上述のように、処理はステップ２０４からステップ２０５に進み、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてが正常であることがＬＣＤパネル３５に表示され、その後、ステップ２０９によりルーチン２００を終了し、処理はステップ１４０に進む。

しかし、第３回目のチェックでも、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのいずれかからテストトーンが出力されていないときには、処理がステップ２０６に進むとともに、SEQ≧４となるので、処理はステップ２０７からステップ２０８に進み、このステップ２０８において、異常のあるスピーカを示すスピーカ番号などがＬＣＤパネル３５に表示され、その後、ステップ２０９によりルーチン２００を終了し、処理はステップ１４０に進む。

以上の処理に加え、制御回路２５においては、ルーチン１００の処理と平行してルーチン３００が解析期間ＴAに実行され、スピーカＳＰ1〜ＳＰmごとの故障が判定される。すなわち、このルーチン３００においては、処理はステップ３０１からスタートし、次にステップ３０２において、解析期間ＴAにＡ／Ｄコンバータ回路３４から出力される応答信号ＳTTが制御回路２５に取り込まれて周波数解析される。そして、ステップ３０３において、ステップ３０２により解析された周波数成分が、対応するスピーカごとに分離される。なお、この分離は、トーン周波数リストおよびトーンシーケンスリストを参照して実行される。

続いてステップ３０４において、スピーカ番号SN（図３）が第１番目のスピーカＳＰ1に対応して「１」にセットされるとともに、「故障リスト」が用意される。この故障リストは、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのそれぞれごとに、その故障の有無を示す情報を有するもので、ステップ３０４においては、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてについて、“故障”に仮設定される。

次にステップ３０５において、ステップ３０３により分離された周波数成分と、ルーチン１００のステップ１１４でメモリに保存されたノイズ成分とがレベル比較される。このレベル比較は、スピーカ番号SNの示すスピーカに供給されたテストトーン信号ＳTTに含まれる信号Ｓa、Ｓbと、これと等しい周波数のノイズ成分Ｎa、Ｎbとについて比較するものである（図５）。なお、このとき、比較の対象となる信号Ｓa、Ｓbの周波数は、スピーカ番号SNと、回数SEQと、パターン番号PN（図３）とから知ることができる。

そして、この比較の結果、上述の(i)の場合には、処理はステップ３０５からステップ３０６に進み、このステップ３０６において、ステップ３０４により用意した故障リストのうち、スピーカ番号SNの示すスピーカが“正常”に設定され、その後、処理はステップ３０７に進む。

しかし、ステップ３０５における比較の結果、(ii)の場合には、処理はステップ３０５からステップ３０６をスキップしてステップ３０７に進む。

そして、ステップ３０７において、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてについて、チェックが実行されたか否かが、スピーカ番号SNから判別され、まだ、チェックされていないスピーカがあるときには、処理はステップ３０７からステップ３０８に進み、スピーカ番号SNが「１」だけインクリメントされて次のスピーカがチェック対象とされ、その後、処理はステップ３０５に戻る。

こうして、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてに対して、応答信号ＳTTに含まれる信号Ｓa、Ｓbのレベル比較の結果から故障の有無が判定され、故障のないスピーカについては、故障リストの情報が“正常”に設定されていく。

そして、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてに対して、故障の有無が判定されると、処理はステップ３０７からステップ３０９に進み、ルーチン３００を終了する。

なお、ルーチン２００のステップ２０４は、ステップ３０６により更新された故障リストの内容からスピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無を判定し、ステップ２０８は、その故障リストの内容から故障しているスピーカのスピーカ番号SNなどをＬＣＤパネル３５に表示する。

こうして、ルーチン１００〜３００によれば、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無をチェックし、その結果を報告することができる。

〔８〕 信号形成回路３１の例
図１０は、信号形成回路３１を個別の回路により構成した場合の一例を示す。この例においては、ＲＯＭ４１に、図１Ａに示すように、正弦波信号Ｓ1の１サイクルに変換されるデジタルデータＤDが格納されている。そして、期間ＴNに、このデジタルデータＤDが、ＲＯＭ４１のａ番地につき１番地の割り合いで読み出されるとともに、その読み出しがａ回繰り返されて正弦波信号Ｓaが取り出され、この信号Ｓaがメモリ４２１ａに書き込まれる。

また、別の期間ＴNに、ＲＯＭ４１のデジタルデータＤDが、ＲＯＭ４１のｂ番地につき１番地の割り合いで読み出されるとともに、その読み出しがｂ回繰り返されて正弦波信号Ｓbが取り出され、この信号Ｓbがメモリ４２１ｂに書き込まれる。したがって、メモリ４２１ａ、４２１ｂには、正弦波信号Ｓa、Ｓbが同時化されて保存されていることになる。

そこで、これらメモリ４２１ａ、４２１ｂの信号Ｓa、Ｓbが期間ＴNごとに同時に読み出され、その読み出された信号Ｓa、Ｓbがレベル調整回路４３１ａ、４３１ｂによりレベルが調整されてから加算回路４４１に供給されてテストトーン信号ＳTTに加算され、このテストトーン信号ＳTTがスイッチ回路２３１を通じて取り出される。

また、同様にして、メモリ（４２２ａ、４２２ｂ）〜（４２ｍａ、４２ｍｂ）、レベル調整回路（４３２ａ、４３２ｂ）〜（４３ｍａ、４３ｍｂ）および加算回路４４２〜４４ＭによりスピーカＳＰ2〜ＳＰmのテストトーン信号ＳTT〜ＳTTがそれぞれ形成され、スイッチ回路２３２〜２３ｍを通じて取り出される。

こうして、スピーカＳＰ1〜ＳＰmに供給されるテストトーン信号ＳTT〜ＳTTを形成することができる。なお、ＤＳＰやＣＰＵにより信号形成回路３１を構成する場合には、ＲＯＭ４１のデジタルデータＤDに対してメモリ４２１ａ〜４２ｍｂ以降の処理を行えばよい。

〔９〕 トーン周波数リストおよびトーンシーケンスリストの他の例
図１１は、トーン周波数リストの他の例を示し、この例においては、384種類のテストトーン信号ＳTT（PN＝１〜384）を使用できるようにした場合である。このトーン周波数リストにおいても、テストトーン信号ＳTTを構成する正弦波信号Ｓa、Ｓbの周波数ｆa、ｆbは、すべて互いに異なる。

また、図１２はトーンシーケンスリストの他の例を示す。図３のトーンシーケンスリストは、パターン番号PNの種類と、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの数とが等しいので、チェックごとに、スピーカ番号SNとパターン番号PNとの組み合わせをずらしているが、図１２の例においては、すべて異なるパターン番号PNを使用するようにした場合である。

〔１０〕 まとめ
上述のチェック装置によれば、多数のスピーカＳＰ1〜ＳＰmを使用する再生装置において、周波数が互いに異なるテストトーン信号ＳTT〜ＳTTをスピーカＳＰ1〜ＳＰmに同時に供給するとともに、スピーカＳＰ1〜ＳＰmから出力されたテストトーンを周波数解析し、スピーカＳＰ1〜ＳＰmに対応する周波数成分の有無からそのスピーカの故障の有無を判定しているので、接続不良、ボイスコイルの断線などを迅速にチェックすることができる。

また、チェック時、必要に応じてテストトーン信号ＳTTの周波数を変更してチェックを繰り返すようにしているので、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの周波数特性にディップがあっても、スピーカＳＰ1〜ＳＰmの故障の有無を正確にチェックすることができる。さらに、テストトーン信号ＳTTは、正弦波信号Ｓa、Ｓbの整数サイクルから構成しているので、テストトーンをＦＦＴなどにより周波数解析をする場合、これが容易となる。

〔１１〕 その他
上述においては、スピーカＳＰ1〜ＳＰmのすべてを同時にチェックしているが、スピーカＳＰ1〜ＳＰmを複数のグループに分割し、そのグループ単位で同時にチェックこともできる。また、端子２１からアンプ２４１〜２４ｍまでを、スピーカＳＰ1〜ＳＰmと一体に１つのキャビネットに収納することもできる。

さらに、5.1チャンネルステレオなどのマルチチャンネルステレオシステムや３ウェイスピーカシステムなどのマルチウェイスピーカシステムにおいて、それらのスピーカの故障の有無をチェックする場合にも、この発明を適用することができる。また、信号形成回路３１は、制御回路２５を構成するマイクロコンピュータにより実現することもでき、逆に応答信号ＳTTの周波数解析を専用のＤＳＰやＣＰＵにより行うこともできる。

〔略語の一覧〕
Ａ／Ｄ：Analog to Digital
ＣＰＵ：Central Processing Unit
Ｄ／Ａ：Digital to Analog
ＤＳＰ：Digital Signal Processor
ＦＦＴ：Fast Fourier Transform
ＬＣＤ：Liquid Crystal Display
ＲＯＭ：Read Only Memory
Ｓ／Ｎ：Signal to Noise ratio

この発明を説明するための波形図である。 この発明を説明するための表図である。 この発明を説明するための表図である。 この発明を説明するためのタイミング図である。 この発明を説明するための周波数スペクトル図である。 この発明の一形態を示す系統図である。 図６の装置の処理の一形態を示すフローチャート図である。 図７のルーチンの一部の詳細を示すフローチャート図である。 図６の装置の処理の一形態を示すフローチャート図である。 図６の装置の一部を示す系統図である。 この発明を説明するための表図である。 この発明を説明するための表図である。 この発明を説明するための図である。 この発明を説明するための図である。 この発明を説明するための図である。

符号の説明

１０…スピーカアレイ、２２１〜２２ｍ…デジタルフィルタ、２４１〜２４ｍ…デジタルアンプ、２５…制御回路、２６…操作スイッチ、３１…信号形成回路、３２…マイクロフォン、３４…Ａ／Ｄコンバータ回路、３５…表示素子、Ｐnc…音圧低減点、Ｐtg…音圧増強点、ＳＰ1〜ＳＰm…スピーカ、

Claims (6)

1. 周波数が互いに異なる第１および第２の正弦波信号を加算して第１〜第ｍ（ｍは２以上の自然数）のテストトーン信号を形成する信号形成部と、
   この信号形成部を制御することにより、上記第１〜第ｍのテストトーン信号ごとに、上記第１および第２の正弦波信号の周波数を異ならせるとともに、上記第１〜第ｍのテストトーン信号の周波数成分を互いに異ならせる制御回路と、
   上記第１〜第ｍのテストトーン信号をそれぞれ第１〜第ｍのスピーカに同時に供給する出力回路と、
   上記第１〜第ｍのスピーカから出力されるテストトーンを収音したマイクロフォンの出力信号を、上記第１〜第ｍのスピーカごとのテストトーン信号に解析する解析部と、
   この解析部の解析結果のテストトーン信号が、規定値以上の上記第１あるいは第２の正弦波信号を含むとき、上記解析結果に対応するスピーカを正常と判定するとともに、上記解析部の解析したテストトーン信号が、上記規定値以上の上記第１および第２の正弦波信号を含まないとき、上記解析結果に対応するスピーカを異常と判定する判定部と、
   この判定部の判定結果を表示する表示部と
   を備えたスピーカのチェック装置。
2. 請求項１に記載のチェック装置において、
   上記信号形成部は、
   少なくとも１／４サイクル分の正弦波信号を表すデジタルデータを保存しているメモリと、
   上記デジタルデータを上記メモリからａサンプル（ａは自然数）ごとに読み出すことにより、上記正弦波信号のａ倍の周波数の第１の正弦波信号を形成する第１の形成部と、
   上記デジタルデータを上記メモリからｂサンプル（ｂは自然数。ｂ≠ａ）ごとに読み出すことにより、上記正弦波信号のｂ倍の周波数の第２の正弦波信号を形成する第２の形成部と、
   上記第１の正弦波信号および上記第２の正弦波信号を加算して上記テストトーン信号を形成する加算回路と
   を備えたスピーカのチェック装置。
3. 請求項１に記載のチェック装置において、
   上記解析部は、
   上記第１〜第ｍのスピーカからテストトーンが出力される前に、上記マイクロフォンの出力信号により暗騒音を周波数解析し、
   上記制御回路は、
   上記周波数解析した暗騒音のレベルが規定値より低いとき、上記出力回路に上記テストトーン信号を出力させる
   ようにしたスピーカのチェック装置。
4. 請求項１に記載のチェック装置において、
   上記制御回路は、
   上記判定部が異常と判定したスピーカがあるとき、その異常と判定したスピーカに供給される上記テストトーン信号に含まれる上記第１および第２の正弦波信号の周波数を変更して上記周波数解析および上記良否の判定を再実行させる
   ようにしたスピーカのチェック装置。
5. 周波数が互いに異なる第１および第２の正弦波信号を加算して第１〜第ｍ（ｍは２以上の自然数）のテストトーン信号を形成するとともに、
   上記第１〜第ｍのテストトーン信号ごとに、上記第１および第２の正弦波信号の周波数を異ならせて上記第１〜第ｍのテストトーン信号の周波数成分を互いに異ならせ、
   上記第１〜第ｍのテストトーン信号をそれぞれ第１〜第ｍのスピーカに同時に供給し、
   上記第１〜第ｍのスピーカから出力されるテストトーンを収音したマイクロフォンの出力信号を、上記第１〜第ｍのスピーカごとのテストトーン信号に解析し、
   この解析結果のテストトーン信号が、規定値以上の上記第１あるいは第２の正弦波信号を含むとき、上記解析結果に対応するスピーカを正常と判定するとともに、上記解析部の解析したテストトーン信号が、上記規定値以上の上記第１および第２の正弦波信号を含まないとき、上記解析結果に対応するスピーカを異常と判定し、
   この判定結果を表示する
   ようにしたスピーカのチェック方法。
6. 請求項５に記載のチェック方法において、
   上記テストトーン信号の形成は、
   少なくとも１／４サイクル分の正弦波信号を表すデジタルデータを保存しているメモリから、上記デジタルデータをａサンプル（ａは自然数）ごとに取り出して上記正弦波信号のａ倍の周波数の第１の正弦波信号を形成するとともに、
   上記デジタルデータをｂサンプル（ｂは自然数。ｂ≠ａ）ごとに取り出して上記正弦波信号のｂ倍の周波数の第２の正弦波信号を形成し、
   上記第１の正弦波信号と上記第２の正弦波信号とを加算して上記テストトーン信号を形成する
   ようにたスピーカのチェック方法。

Images