TWI698650B - 測試音訊的產生方法及分析方法 - Google Patents

Abstract

一種測試音訊的產生方法，用於測試裝置，其中，測試裝置用以產生測試音訊並提供至待測裝置進行測試，測試音訊的產生方法包括下列步驟：產生標記訊號，其中標記訊號包括標記頻率，待測裝置能夠根據標記頻率判斷測試音訊的分析起點；以及產生第一測試訊號，第一測試訊號之位置位於標記訊號之後，其中第一測試訊號包括第一頻率，且第一頻率係不同於標記頻率。

Description

測試音訊的產生方法及分析方法

本發明涉及一種音訊測試系統及方法，特別是涉及一種通過設置標示區域來標記起始點的音訊測試系統及方法。

在現有的音訊測試系統中，無論是針對待測裝置的發音端或是收音端進行測試時，均會有播放和錄音不同步的情況發生。舉例而言，測試收音端時，會先啟動收音端進行錄音，再啟動標準發音設備，或是在測試發音端時，會先啟動標準錄音設備，之後再啟動發音端進行發音。待錄製完成之後，測試裝置再分析錄音檔，以檢測待測裝置的音訊參數，例如總諧波失真(THD)、聲壓位準(SPL)及訊號雜訊比(SNR)等。

然而，由於上述不同步造成的時間差，測試裝置通常會同時分析非測試音源，或是誤判分析的起始點。不論是對整個波形進行分析，或是到達觸發點時才開始分析，均會被所錄製到的外界雜訊所干擾，因而導致分析值的誤差，或是分析起始點的誤判。

再者，現有的音訊測試系統採用的測試音訊會包括多個頻率，然而，使用者需要預先針對多個頻率對應的長度進行設定，因此需要對音訊測試程式進行對應的修改。

故，如何通過音訊測試系統及方法的改良，來排除未播放測試 音訊時的雜音以及時間差的區間，來克服上述的缺陷，已成為該項事業所欲解決的重要課題之一。

本發明所要解決的技術問題在於，針對現有技術的不足提供一種通過設置標示區域來標記起始點的音訊測試系統及方法。

為了解決上述的技術問題，本發明所採用的其中一技術方案是，提供一種測試音訊的產生方法，用於一測試裝置，其中該測試裝置用以產生測試音訊並提供至待測裝置進行測試，該測試音訊的產生方法包括下列步驟：產生標記訊號，其中標記訊號包括標記頻率，待測裝置能夠根據標記頻率判斷測試音訊的分析起點；以及產生第一測試訊號，第一測試訊號之位置位於標記訊號之後，其中第一測試訊號包括第一頻率，且第一頻率係不同於標記頻率。

為了解決上述的技術問題，本發明所採用的另一技術方案是，提供一種測試音訊的分析方法，用於待測裝置，待測裝置用以接收測試音訊，其中測試音訊包括標記訊號及第一測試訊號，第一測試訊號之位置位於標記訊號之後，標記訊號包括標記頻率，測試音訊的分析方法包括下列步驟：接收測試音訊；自測試音訊中辨識出標記頻率時設定分析起點；以及自分析起點加上特定時間長度以作為分析第一測試訊號的起點。

為使能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與圖式，然而所提供的圖式僅用於提供參考與說明，並非用來對本發明加以限制。

1、2、3:音訊測試系統

TD:測試裝置

DUT:待測裝置

TM:測試主機

TS:測試發音端

TR:測試收音端

RUT:收音端

SUT:發音端

TA、TA1、TA2:測試音訊

AUT1:第一待測音訊

AUT2:第二待測音訊

MK:標記訊號

R1:第一測試訊號

R2:第二測試訊號

fm:標記頻率

Tm:標記長度

f1:第一頻率

T1:第一時間長度

f2:第二頻率

T2:第二時間長度

Tstart1:第一分析起點

Tstart2:第二分析起點

Tm’:特定時間長度

Ta:第一預定取樣長度

Tb:第一測試長度

Tc:第二預定取樣長度

Td:第二測試長度

Info1:第一資料訊號

Info2:第二資料訊號

fb1、fb2、fb3、fb4、fb5、fb6:子區域

b2、b1、b0、c2、c1、c0:位元長度

Tq:未播音區域

T0:時間

圖1為本發明第一實施例的音訊測試系統的方塊圖。

圖2為本發明第一實施例的測試音訊的波形示意圖。

圖3為本發明第一實施例的測試音訊的產生方法的流程圖。

圖4為本發明第一實施例的第一待測音訊的波形示意圖。

圖5為本發明第一實施例的測試音訊的另一波形示意圖。

圖6為本發明第一實施例的收音測試程序的流程圖。

圖7為本發明第二實施例的測試音訊的分析方法的流程圖。

圖8為本發明第二實施例的發音測試程序的流程圖。

圖9為本發明第三實施例的音訊測試系統的方塊圖。

圖10為本發明第三實施例的收音測試程序的部分流程圖。

圖11為本發明第四實施例的音訊測試系統的方塊圖。

圖12為本發明第五實施例的音訊測試方法的流程圖。

以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所公開有關“音訊測試方法”的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用，本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用，在不悖離本發明的構思下進行各種修改與變更。另外，本發明的附圖僅為簡單示意說明，並非依實際尺寸的描繪，事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容，但所公開的內容並非用以限制本發明的保護範圍。

應當可以理解的是，雖然本文中可能會使用到“第一”、“第二”、“第三”等術語來描述各種元件或者信號，但這些元件或者信號不應受這些術語的限制。這些術語主要是用以區分一元件與另一元件，或者一信號與另一信號。另外，本文中所使用的術語“或”，應視實際情況可能包括 相關聯的列出項目中的任一個或者多個的組合。

[第一實施例]

參閱圖1所示，本發明第一實施例提供一種音訊測試系統1，包括測試裝置TD及待測裝置DUT。測試裝置TD包括測試主機TM、測試發音端TS及測試收音端TR，待測裝置DUT連接於測試裝置TD，包括收音端RUT以及發音端SUT。

於實施過程中，本實施例的音訊測試系統1主要用於測試待測裝置DUT的發音端SUT及收音端RUT是否正常。可於測試主機TM的作業平台上撰寫軟體程式來檢測待測裝置DUT的發音端SUT及收音端RUT，測試主機TM可例如是平板電腦、智慧型手機或筆記型電腦。相對地，由於必須在測試主機TM上執行符合本實施例精神的音訊測試方法，因此測試主機TM可以是通用作業平台，例如，視窗作業系統、LINUX作業系統等的電腦裝置。

請參照圖2及圖3，針對音訊測試系統1，本實施例提供了一種測試音訊的產生方法，圖2為本發明第一實施例的測試音訊的波形示意圖，圖3本發明第一實施例的測試音訊的產生方法的流程圖。測試音訊的產生方法適用於第一實施例中的測試裝置TD，且測試裝置TD可用以產生測試音訊並提供至待測裝置DUT進行測試，但不限於此。

如圖所示，本實施例的測試音訊的產生方法包括下列步驟：

步驟S100：產生標記訊號。例如圖2所示，標記訊號MK位於時間T0之後，且標記訊號MK包括標記頻率fm。

步驟S101：產生第一測試訊號。

在標記訊號及第一測試訊號產生後，可先進入步驟S101-1：將標記訊號及第一測試訊號形成測試音訊。例如圖3所示，第一測試訊號R1之位置係位於標記訊號MK之後，且包括第一頻率f1。此外，標記頻率 fm不同於第一頻率f1，標記頻率fm可不為第一頻率f1的倍頻，且標記訊號MK的時間長度，例如標記長度Tm，可少於或等於第一測試訊號R1的時間長度，例如第一時間長度T1的一半。此處，標記頻率fm主要用於使待測裝置DUT能夠據其判斷測試音訊的分析起點。標記訊號MK及第一測試訊號R1的產生順序可為依序、不分順序或同時產生。

步驟S102：產生第二測試訊號。

在標記訊號、第一測試訊號及第二測試訊號產生後，可先進入步驟S102-1：將標記訊號、第一測試訊號及第二測試訊號形成測試音訊。例如圖2所示，第二測試訊號R2之位置位於第一測試訊號R1之後，且包括第二頻率f2，第二頻率f2不同於標記頻率fm或第一頻率f1，且標記頻率fm可不為第一頻率f1或第二頻率f2的倍頻。其中，標記頻率fm、第一頻率f1與第二頻率f2可均不同，舉例而言，標記訊號MK是使用2500Hz的標記頻率fm，第一測試訊號R1是使用1000Hz的第一頻率f1，第二測試訊號R2是使用2000Hz的第二頻率f2。標記訊號MK、第一測試訊號R1及第二測試訊號R2的產生順序可為依序、不分順序或同時產生。

可進一步參照圖4，其為本發明第一實施例的第一待測音訊的波形示意圖。如圖4所示，由於發音端TR及測試收音端RUT不同步造成的時間差，傳統的測試裝置通常會同時分析非測試音源，或是誤判分析的起始點。不論是對整個波形進行分析，或是到達觸發點時才開始分析，均會被所錄製到的外界雜訊所干擾。例如，在未播音區域Tq，將會錄到雜訊，因而導致分析值的誤差，或是分析起始點的誤判。因此，本發明通過對測試音訊加入標記區域，使測試主機TM能得知測試音訊確切的起始點以提昇分析的準確度。

步驟S103：產生第一資料訊號。

在標記訊號、第一測試訊號、第二測試訊號及第一資料訊號產 生後，可先進入步驟S103-1：將標記訊號、第一測試訊號、第二測試訊號及第一資料訊號形成測試音訊。請進一步參閱圖5，其為本發明第一實施例的測試音訊的另一波形示意圖。圖5與圖2及圖4不同之處在於，測試音訊TA更包括第一資料訊號Info1，設置在標記訊號MK及第一測試訊號R1之間，具有用於表示第一時間長度T1的第一長度資訊。標記訊號MK、第一測試訊號R1、第二測試訊號R2及第一資料訊號Info1的產生順序可為依序、不分順序或同時產生。

可進一步參照如圖5所示，第一資料訊號Info1可包括第一測試訊號R1的時間長度的訊息，例如第一時間長度T1的訊息。此外，第一資料訊號Info1可以複數位元代表第一測試訊號R1的第一時間長度T1，例如圖5的多個子區域fb1、fb2及fb3是以3位元代表第一測試訊號R1的第一時間長度T1。

更詳細而言，第一資料訊號Info1可以複數位元代表第一測試訊號R1的第一時間長度T1。例如，第一資料訊號Info1具有多個子區域fb1、fb2及fb3，該些子區域的數量對應於一位元數，例如，3個子區域fb1、fb2及fb3對應於3位元，子區域fb1、fb2及fb3各自具有位元長度b2、b1、b0，且以每個子區域fb1、fb2及fb3各自以一個位元頻率表示該位元數，例如，子區域fb1以9.5KHz來表示，子區域fb2以10.5KHz來表示，子區域fb3以11.5KHz來表示，且該些位元頻率與標記頻率fm、第一頻率f1及第二頻率f2不同，但本實施例不限於此。子區域fb1、fb2及fb3也可是小於20KHz的相同頻率，且非第一頻率f1、第二頻率f2的倍頻，例如，子區域fb1、fb2及fb3可均為10.5KHz。

步驟S104：產生第二資料訊號。

在標記訊號、第一測試訊號、第二測試訊號、第一資料訊號及第二資料訊號產生後，可先進入步驟S104-1：將標記訊號、第一測試訊號、第二測試訊號、第一資料訊號及第二資料訊號形成測試音訊。其中，標記訊 號MK、第一測試訊號R1、第二測試訊號R2、第一資料訊號Info1及第二資料訊號Info2的產生順序可為依序、不分順序或同時產生。

類似的，參閱圖5，測試音訊TA更包括第二資料訊號Info2，設置在第一測試訊號R1及第二測試區域R2之間，具有用於表示第二時間長度T2的第二長度資訊。例如，第二資料訊號Info2具有多個子區域fb4、fb5及fb6，該些子區域的數量對應於一位元數，子區域fb4、fb5及fb6各自具有位元長度c2、c1、c0例如，3個子區域fb4、fb5及fb6對應於3位元，且以每個子區域fb4、fb5及fb6各自以一個位元頻率表示該位元數，並可採用如第一資料訊號Info1相同的格式。例如，子區域fb4以9.5KHz來表示，子區域fb5以10.5KHz來表示，子區域fb6以11.5KHz來表示，且該些位元頻率與標記頻率fm、第一頻率f1及第二頻率f2不同。

在此實施例中，位元數以3位元來表示後續待分析波形的時間長度，其中，第一時間長度T1是5個單位長度，第二時間長度T2為1個單位長度，以3位元表示時，第一長度資訊為101，第二長度資訊則為001。由於分析及測試所需的時間會與訊號長度成正比，且與所需的波形週期數相關，因此針對高頻的波形僅需較短的時間就可以完成分析。

舉例而言，當音訊測試系統2需要使用10個週期來做資料分析，所以對於1KHz的第一頻率f1而言，需要使用10ms，而對於5KHz的第二頻率f2而言只需要使用2ms。因此，整個測試音訊TA的時間只要用到2*(0.5ms)+10ms+2ms，相對於傳統固定長度的分析方式，節省相當多的時間。並且，若測試音訊TA中包括更多的高頻，就能夠節省更多的分析時間。

如圖5所示，第二資料訊號Info2包括第二測試訊號R2的時間長度的訊息，例如第二時間長度T2的訊息。此外，第二資料訊號Info2可以複數位元代表第二測試訊號R2的第二時間長度T2，例如圖7的多個子區域 fb4、fb5及fb6是以3位元代表第二測試訊號R2的第二時間長度T2。

通過採用本實施例的測試音訊的產生方法，在測試音訊中的每個測試區域前方加入相關的時間長度資訊，相對於傳統固定長度的分析方式，節省相當多的時間，當測試音訊包括多個頻率時，使用者無需預先針對多個頻率對應的長度進行設定，可讓程式自動偵測，提昇了音訊分析的便利性。

接著，請一併參照圖2及圖6，圖6為本發明第一實施例的收音測試程序的流程圖。為了對待測裝置DUT的收音端RUT進行測試，測試裝置TD經配置以執行其內建記憶體中儲存的收音測試程序。並且，測試發音端TS及測試收音端TR可分別為經過校正的標準發音設備及標準錄音設備，以確保測試的準確性。

如圖6所示，收音程序包括下列步驟：

步驟S200：通過測試發音端TS發送測試音訊TA1，並控制待測裝置DUT通過收音端RUT接收測試音訊TA1以產生第一待測音訊AUT1。

其中，如圖2所示，測試音訊TA1包括標記訊號MK、第一測試訊號R1及第二測試訊號R2。標記訊號MK設置於測試音訊TA1的起始點，且具有標記頻率fm及標記長度Tm。第一測試訊號R1設置於標記訊號MK後方，具有第一頻率f1及第一時間長度T1，第二測試訊號R2設置於第一測試訊號R1後方，具有第二頻率f2及第二時間長度T2。

步驟S202：分析第一待測音訊AUT1以找出第一待測音訊AUT1中頻率在預定範圍內的區域，並基於此區域標記出第一分析起點Tstart1。

舉例來說，測試主機TM可執行音訊分析軟體，以辨識使用2500Hz作為標記頻率fm的標記訊號MK。因此，可預先設定所要偵測的預定範圍，例如，2400Hz至2600Hz的範圍，進而在取樣到標記訊號MK中的多個 週期之後，可判斷出要設定起始點的位置。

更進一步而言，為了避免背景雜訊帶有與標記訊號MK相同的標記頻率fm，可進一步以數位訊號處理演算法進行偵測。例如，可採用Goertzel演算法，其由Gerald Goertzel在1958年提出，用於數位信號處理，是屬於離散傅立葉變換的範疇，目的是從給定的取樣中求出某一特定頻率信號的能量，可用於評估有效性。由於背景雜訊的能量遠小於測試音訊的能量，因此，通過數位訊號處理演算法偵測第一待測音訊AUT1中對應標記頻率fm的能量，可將偵測到大於此預定能量的時間點設定為第一分析起點Tstart1。

步驟S204：基於標記長度Tm、第一頻率f1及第一時間長度T1分析第一待測音訊AUT1於第一分析起點Tstart1之後的區域，以產生收音測試結果。在此步驟中，測試裝置TD分析第一待測音訊AUT1，以檢測待測裝置的音訊參數，例如總諧波失真(THD)、聲壓位準(SPL)及訊號雜訊比(SNR)等。

詳細而言，設定好第一分析起點Tstart1之後，可在經過一特定時間長度Tm’後開始對第一待測音訊AUT1取樣，此特定時間長度Tm’可為標記訊號MK的時間長度，即為標記長度Tm。此外，由於第一頻率f1為已知，可以第一頻率f1取樣第一預定取樣長度Ta，例如，十個週期，即可分析出收音端於第一頻率f1下的各項音訊參數。其中，分析第一測試訊號R1的第一測試長度Tb亦可為第一測試訊號R1的第一時間長度T1的一半。

另一方面，由於第一待測音訊AUT1更包括第二測試訊號R2，具有第二頻率f2及第二時間長度T2，因此，設定好第一分析起點Tstart1之後，可在經過特定時間長度Tm’及第一測試長度Tb之後，作為分析該第二測試訊號的起點開始對第一待測音訊AUT1以第二頻率f2進行取樣，且此第一測試長度Tb可為已知的第一時間長度T1。此外，由於第二頻率f2為已知，可以第二頻率f2取樣第二預定取樣長度Tc，例如，十個週期，即可分析出收音端 於第二頻率f2下的各項音訊參數。以此類推，若測試音訊TA1還包括其他測試區域，可在第一分析起點Tstart1後，經過特定時間長度Tm’、第一測試長度Tb及第二測試長度Td之後，開始對第一待測音訊AUT1以其他測試頻率進行取樣，第二測試長度Td可為已知的第二時間長度T2。較佳者，標記長度Tm可少於或等於第一時間長度T1的一半，以節省測試時間，但本發明不限於此。

[第二實施例]

請參照圖7，本發明第二實施例提供一種測試音訊的分析方法，圖7為本發明第二實施例的測試音訊的分析方法的流程圖。本發明的測試音訊的產生方法適用於第一實施例中的待測裝置，例如圖1所示，待測裝置DUT用以接收測試音訊TA2，而測試音訊TA2包括標記訊號MK及第一測試訊號R1，第一測試訊號R1的位置位於標記訊號MK之後，標記訊號MK包括標記頻率fm。

如圖所示，本實施例的測試音訊的分析方法包括下列步驟：

步驟S300：接收測試音訊。

步驟S301：自測試音訊中辨識出標記頻率時設定分析起點。

再者，若測試音訊更包括其位置位於標記訊號與第一測試訊號之間的第一資料訊號，例如圖5所示，第一資料訊號Info1包括第一測試訊號R1的第一時間長度T1的訊息，則進入步驟S302：辨識第一資料訊號並獲得第一測試訊號的時間長度的訊息。

步驟S303：自分析起點加上特定時間長度以作為分析第一測試訊號的起點。舉例而言，特定時間長度可為標記訊號MK的時間長度，例如圖3所示的標記長度Tm。可選的，在步驟S303中，更包括以第一測試訊號的時間長度的一半對第一測試訊號進行分析。

類似的，若測試音訊更包括其位置位於第一測試訊號與第二 測試訊號之間的第二資料訊號，例如圖5所示，第二資料訊號Info2包括第二測試訊號R2的第二時間長度T2的訊息，則進入步驟S304：辨識第二資料訊號並獲得第二測試訊號的時間長度的訊息。

另一方面，若測試音訊包括其位置位於第一測試訊號之後的第二測試訊號，則本實施例的測試音訊的分析方法更包括步驟S305：自分析起點加上特定時間長度及第一測試訊號的時間長度以作為分析第二測試訊號的起點。舉例而言，特定時間長度及第一測試訊號的時間長度可分別為標記訊號MK的時間長度，例如圖4所示的標記長度Tm，以及第一測試訊號R1的第一時間長度T1。可選的，在步驟S305中，更包括以第二測試訊號的時間長度的一半對第二測試訊號進行分析。

通過採用本實施例的測試音訊的分析方法，可預先判斷測試訊號前方相關的時間長度資訊，來設定針對不同測試訊號的分析時間，相對於傳統固定長度的分析方式，節省相當多的時間，當測試音訊包括多個頻率時，使用者無需預先針對多個頻率對應的長度進行設定，可讓程式自動偵測，提昇了音訊分析的便利性。

另一方面，為了對待側裝置DUT的發音端SUT進行測試，可進一步執行發音測試程序。可參照圖1、圖4及圖8，圖8為本發明第二實施例的發音測試程序的流程圖。如圖所示，測試裝置TD可經配置以執行發音測試程序，包括下列步驟：

步驟S400：控制待測裝置TD通過發音端SUT發送測試音訊TA2，並通過測試收音端TR接收測試音訊TA2以產生第二待測音訊AUT2。

步驟S402：分析第二待測音訊AUT2以找出第二待測音訊AUT2中頻率在預定範圍內的區域，並基於此區域標記出為第二分析起點Start2。

類似的，測試主機TM可執行音訊分析軟體，以找出使用2500Hz 作為標記頻率fm的標記訊號MK。因此，可預先設定所要偵測的預定範圍，例如，2400Hz至2600Hz的範圍，進而在取樣到標記訊號MK中的多個週期之後，可判斷出要設定起始點的位置。此外，亦可通過數位訊號處理演算法偵測第二待測音訊AUT2中對應標記頻率fm的能量，可將偵測到大於此預定能量的時間點設定為第二分析起點Tstart2。

步驟S404：基於標記長度Tm、第一時間長度T1、第二頻率f2及第二時間長度T2分析第二待測音訊AUT2於第二分析起點Tstart2之後的區域，以產生發音測試結果。在此步驟中，分析第二測試訊號R2的第二時間長度T2可為第二測試訊號R2的第二時間長度T2的一半。測試裝置TD分析第二待測音訊AUT2，以檢測待測裝置的音訊參數，例如總諧波失真(THD)、聲壓位準(SPL)及訊號雜訊比(SNR)等。其中，測試裝置TD分析第二待測音訊AUT2的方式與分析第一待測音訊AUT1的方式相同，故不在此贅述。

因此，通過本發明的音訊測試系統，對測試音訊加入標記區域，使測試主機能得知測試音訊確切的起始點以提昇分析的準確度，同時可排除未播放測試音訊時的雜音以及時間差的區間。再者，通過數位訊號處理演算法偵測待測音訊中對應標示頻率的能量，可避免背景雜訊帶有與標示區域相同的標示頻率，更提昇了分析的正確度。

[第三實施例]

參閱圖9所示，本發明第三實施例提供一種音訊測試系統2，包括測試裝置TD及待測裝置DUT。測試裝置TD包括測試主機TM及測試發音端TS，待測裝置DUT連接於測試裝置TD，包括收音端RUT。此處，測試裝置TD及待測裝置DUT的配置與前述實施例類似，故不在此贅述。

其中，為了對待測裝置DUT的收音端RUT進行測試，測試主機TM經配置以執行其內建記憶體中儲存的收音測試程序。並且，測試發音端TS 可為經過校正的標準發音設備，以確保測試的準確性。收音測試程序與前述實施例類似，其通過測試發音端TS發送測試音訊TA，並控制待測裝置DUT通過收音端RUT進行錄音以產生第一待測音訊AUT1。

因此，請參照圖10，其為本發明第三實施例的收音測試程序的部分流程圖。如圖所示，收音測試程序更包括下列步驟：

步驟S500：分析第一資料訊號的第一長度資訊以取得第一時間長度。

步驟S502：基於第一頻率及第一時間長度分析第一待測音訊於第一分析起點至標記長度之後的區域，以產生收音測試結果。

步驟S504：分析第二資料訊號的第二長度資訊以取得第二時間長度。

步驟S506：基於第二頻率及第二時間長度分析第一待測音訊於第一分析起點至標記長度及第一時間長度之後的區域，以產生另一收音測試結果。

在此實施例中，通過在測試音訊中的每個測試區域前方加入相關的時間長度資訊，相對於傳統固定長度的分析方式，節省相當多的時間，當測試音訊包括多個頻率時，使用者無需預先針對多個頻率對應的長度進行設定，可讓程式自動偵測，提昇了音訊分析的便利性。

[第四實施例]

參閱圖11所示，本發明第四實施例提供一種音訊測試系統3，包括測試裝置TD及待測裝置DUT。測試裝置TD包括測試主機TM及測試收音端TR，待測裝置DUT連接於測試裝置TD，包括發音端SUT。此處，測試裝置TD及待測裝置DUT的配置與前述實施例類似，故不在此贅述。

其中，為了對待測裝置DUT的發音端SUT進行測試，測試主機 TM經配置以執行其內建記憶體中儲存的發音測試程序。並且，測試收音端TR可為經過校正的標準錄音設備，以確保測試的準確性。發音測試程序與前述實施例類似，其控制待測裝置DUT通過發音端SUT發送測試音訊TA，並通過測試收音端TR進行錄音以產生第二待測音訊AUT2。

類似的，亦可採用第二實施例的測試音訊TA，進行發音測試程序。其分析亦可包括分析第一資料訊號的第一長度資訊以取得第一時間長度，並基於第一頻率及第一時間長度分析第二待測音訊於第一分析起點至標記長度之後的區域，以產生發音測試結果。

[第五實施例]

請參照圖12，其為本發明第五實施例的音訊測試方法的流程圖。本發明的音訊測試方法適用於第一至第四實施例中的音訊測試系統，但不限於此。此外，詳細的測試流程均於上述實施例描述過，故不再贅述。

如圖所示，本實施例的音訊測試方法包括下列步驟：

步驟S600：以測試裝置連接於待測裝置。

步驟S601：配置測試裝置執行收音測試程序。

步驟S602：通過測試發音端發送測試音訊，並控制待測裝置通過收音端進行錄音以產生第一待測音訊。

步驟S603：分析第一待測音訊以找出第一待測音訊中頻率在預定範圍內的區域，並基於區域標記出第一分析起點。

步驟S604：基於標記長度、第一頻率及第一時間長度分析第一待測音訊於第一分析起點之後的區域，以產生收音測試結果。

步驟S605：配置測試裝置執行發音測試程序。

步驟S606：控制待測裝置通過發音端發送測試音訊，並通過測試收音端進行錄音以產生一第二待測音訊。

步驟S607：分析第二待測音訊以找出第二待測音訊中頻率在預定範圍內的區域，並基於區域標記出為第二分析起點。

步驟S608：基於標記長度、第二頻率及第二時間長度分析第二待測音訊於第二分析起點之後的區域，以產生發音測試結果。

[實施例的有益效果]

本發明的其中一有益效果在於，本發明所提供的測試音訊的產生方法及分析方法，其藉由在測試音訊中加入標記區域，能得知測試音訊確切的起始點以提昇分析的準確度，同時可排除未播放測試音訊時的雜音以及時間差的區間。

更進一步來說，通過數位訊號處理演算法偵測待測音訊中對應標示頻率的能量，可避免背景雜訊帶有與標示區域相同的標示頻率，更提昇了分析的正確度。

此外，通過在測試音訊中的每個測試區域前方加入相關的時間長度資訊，相對於傳統固定長度的分析方式，節省相當多的時間，當測試音訊包括多個頻率時，使用者無需預先針對多個頻率對應的長度進行設定，可讓程式自動偵測，提昇了音訊分析的便利性。

以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例，並非因此侷限本發明的申請專利範圍，所以凡是運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化，均包含於本發明的申請專利範圍內。

1:音訊測試系統

TD:測試裝置

DUT:待測裝置

TM:測試主機

TS:測試發音端

TR:測試收音端

RUT:收音端

SUT:發音端

TA1、TA2:測試音訊

AUT1:第一待測音訊

AUT2:第二待測音訊

Claims (16)

1. 一種測試音訊的產生方法，用於一測試裝置，其中該測試裝置用以產生該測試音訊並提供至一待測裝置進行測試，該測試音訊的產生方法包括下列步驟：產生一標記訊號，其中該標記訊號包括一標記頻率，該待測裝置係能夠根據該標記頻率判斷該測試音訊的分析起點；產生一第一測試訊號，其中該第一測試訊號包括一第一頻率，且該第一頻率係不同於該標記頻率；以及將該標記訊號及該第一測試訊號形成一測試音訊，其中該第一測試訊號之位置係位於該標記訊號之後。
2. 如申請專利範圍第1項所述的測試音訊的產生方法，更包括下列步驟：產生一第二測試訊號，其中該第二測試訊號包括一第二頻率，該第二頻率係不同於該標記頻率或該第一頻率；其中，在將該標記訊號及該第一測試訊號形成該測試音訊之步驟中，更包括：將該標記訊號、該第一測試訊號及該第二測試訊號形成該測試音訊，其中該第二測試訊號之位置係位於該第一測試訊號之後。
3. 如申請專利範圍第2項所述的測試音訊的產生方法，其中該標記頻率不是該第一頻率或該第二頻率的倍頻。
4. 如申請專利範圍第1項所述的測試音訊的產生方法，其中該標記訊號的時間長度少於或等於該第一測試訊號的時間長度的一半。
5. 如申請專利範圍第1項所述的測試音訊的產生方法，其中該標記頻率不是該第一頻率的倍頻。
6. 如申請專利範圍第2項所述的測試音訊的產生方法，更包括下列步驟： 產生一第一資料訊號，其中該第一資料訊號包括該第一測試訊號的時間長度的訊息；其中，在將該標記訊號、該第一測試訊號及該第二測試訊號形成該測試音訊之步驟中，更包括：將該標記訊號、該第一測試訊號、該第二測試訊號及該第一資料訊號形成該測試音訊，其中該第一資料訊號之位置係位於該標記訊號與該第一測試訊號之間。
7. 如申請專利範圍第6項所述的測試音訊的產生方法，其中該第一資料訊號係以複數位元代表該第一測試訊號的時間長度。
8. 如申請專利範圍第6項所述的測試音訊的產生方法，更包括下列步驟：產生一第二資料訊號，其中該第二資料訊號包括該第二測試訊號的時間長度的訊息：其中，在將該標記訊號、該第一測試訊號、該第二測試訊號及該第一資料訊號形成該測試音訊之步驟中，更包括：將該標記訊號、該第一測試訊號、該第二測試訊號、該第一資料訊號及該第二資料訊號形成該測試音訊，其中該第二資料訊號之位置係位於該該第一測試訊號與該第二測試訊號之間。
9. 如申請專利範圍第8項所述的測試音訊的產生方法，其中該第二資料訊號係以複數位元代表該第二測試訊號的時間長度。
10. 一種測試音訊的分析方法，用於一待測裝置，該測試音訊的分析方法包括下列步驟：接收該測試音訊，該測試音訊包括一標記訊號及一第一測試訊號，該第一測試訊號係之位置係位於該標記訊號之後，該標記訊號包括一標記頻率；自該測試音訊中辨識出該標記頻率時設定一分析起點；以及自該分析起點加上一特定時間長度以作為分析該第一測試訊號 的起點。
11. 如申請專利範圍第10項所述的測試音訊的分析方法，其中該特定時間長度係該標記訊號的時間長度。
12. 如申請專利範圍第10項所述的測試音訊的分析方法，其中在自該分析起點加上該特定時間長度以作為分析該第一測試訊號的起點之步驟中，其中分析該第一測試訊號的時間長度為該第一測試訊號的時間長度的一半。
13. 如申請專利範圍第10項至第12項中任一項所述的測試音訊的分析方法，其中該測試音訊更包括一第二測試訊號，該第二測試訊號之位置係位於該第一測試訊號之後，且該測試音訊的分析方法更包括：自該分析起點加上該特定時間長度及該第一測試訊號的時間長度以作為分析該第二測試訊號的起點。
14. 如申請專利範圍第13項所述的測試音訊的分析方法，其中在自該分析起點加上該第一測試訊號的時間長度以作為分析該第二測試訊號的起點之步驟中，其中分析該第二測試訊號的時間長度為該第二測試訊號的時間長度的一半。
15. 如申請專利範圍第10項至第12項中任一項所述的測試音訊的分析方法，其中該測試音訊更包括一第一資料訊號，該第一資料訊號之位置係位於該標記訊號與該第一測試訊號之間，其中該第一資料訊號包括該第一測試訊號的時間長度的訊息，且該測試音訊的分析方法中，在自該測試音訊中辨識出該標記訊號時設定該分析起點的步驟後更包括下列步驟：辨識該第一資料訊號並獲得該第一測試訊號的時間長度的訊息。
16. 如申請專利範圍第15項所述的測試音訊的分析方法，其中該測試音訊更包括一第二資料訊號，該第二資料訊號之位置係位於該第一測試訊號與該第二測試訊號之間，其中該第二資料訊號包括該第二測試訊號的時間長度的訊息，且該測試音訊的分析方法中，在自該測試音訊中辨識出該標記訊號時設定該分析起點的步驟後更包括下列步驟：辨識該第二資料訊號並獲得該第二測試訊號的時間長度的訊息。

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