JP4180705B2 - 半導体メモリ装置及びそのデータ処理方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体メモリ装置に係るもので、特にデッドサイクル(dead cycle)なしに1サイクル及び2サイクル後のライト動作を行い得る半導体メモリ装置及びそのデータ処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の1サイクル又は2サイクル後のライト機能を具備した半導体メモリ装置は、ライト動作の遂行時にライトアドレスを入力し、前記ライトアドレスの入力から1サイクル又は2サイクルの遅延後に外部からのライトデータを入力してライト動作を行う。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、従来の1サイクル後又は2サイクロ後のライト機能を具備した半導体メモリ装置は、リード動作からライト動作へ、あるいはライト動作からリード動作へ遷移するときにデッドサイクルが要求されるという問題点があった。デッドサイクルが存在することは動作しないサイクル(NOP;no operation)が存在することを意味し、このようなデッドサイクルの存在はバスの使用効率低下の問題を惹起している。
【0004】
そこで最近、デッドサイクルのない1サイクル又は2サイクル後のライト動作を行い得る半導体メモリ装置に対する重要性が増加しているが、この機能を実現する詳細な回路構成及びデータ処理方法は提供されていない。
【0005】
本発明の目的は、デッドサイクルなしに1サイクル及び2サイクル後のライト機能を行い得る半導体メモリ装置及びそのデータ処理方法を提供する。
【0006】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するため、本発明による半導体メモリ装置は、外部からのリードアドレスはそのまま出力し、1サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを1サイクル遅延して出力し、2サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを2サイクル遅延して出力するアドレス入力制御手段と、前記1サイクル後のライト動作遂行時には、外部からライトアドレスの1サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル遅延して出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時には、外部から2サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル又は2サイクル遅延して出力するデータ入力制御手段と、前記1サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると前記0サイクル遅延されたデータを伝送し、リード命令又は非選択とライト命令が連続的に入力すると前記1サイクル遅延されたデータを伝送し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると前記0サイクル遅延されたデータを伝送し、ライト命令、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力するか、リード命令又は非選択、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると、前記1サイクル遅延されたデータを伝送し、リード命令又は非選択、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力すると、前記2サイクル遅延されたデータを伝送するデータ伝送手段とを具備し、前記アドレス入力制御手段からのリードアドレスに該当するセルからのデータをリードして、前記1サイクル後のライト動作遂行時はフロースルー方式によりデータを出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時はパイプライン方式によりデータを出力し、前記アドレス入力制御手段からのライトアドレスに該当するセルに前記データ伝送手段から伝送されるデータをライトすることを特徴とする。
【0007】
又、本発明による半導体メモリ装置のデータ処理方法は、外部からのリードアドレスはそのまま出力し、1サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを1サイクル遅延して出力し、2サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを2サイクル遅延して出力するアドレス入力制御手段と、前記1サイクル後のライト動作遂行時に外部からの1サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル遅延して出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に外部から2サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル又は2サイクル遅延して出力するデータ入力制御手段とを具備し、前記アドレス入力制御手段からのリードアドレスに該当する所定数のセルからのデータをリードして、前記1サイクル後のライト動作遂行時はフロースルー方式によりデータを出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時はパイプライン方式によりデータを出力し、前記アドレス入力制御手段からのライトアドレスに該当する所定数のセルに前記データ入力制御手段からのデータをライトすることを特徴とする半導体メモリ装置のデータ処理方法であって、前記1サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると前記0サイクル遅延されたデータを、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力されると前記1サイクル遅延されたデータを前記所定数のセルに伝送し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると前記0サイクル遅延されたデータを、ライト命令、リード命令又は非選択、ライトの命令が連続的に入力されるか、リード命令又は非選択、ライト命令、ライトの命令が連続的に入力されると、前記1サイクル遅延されたデータを、リード命令又は非選択、リード命令又は非選択、ライトの命令が連続的に入力されると前記2サイクル遅延されたデータを前記所定数のセルに伝送することを特徴とする
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照して、本発明のデッドサイクルのない1及び2サイクル後のライト動作を行い得る半導体メモリ装置の一実施の形態を説明する。
【0008】
<本実施の形態の半導体メモリ装置の構成例>
図1は、本実施の形態の半導体メモリ装置のブロック図であって、n×m個のメモリセル(10-1,10-2,…,10-m,…)、プリーチャージ及び等化回路(12-1,12-2,…,12-m)、列選択スイッチ(14-1,14-2,…,14-m)、行アドレスデコーダ16、列アドレスデコーダ18、ライトドライバ20、センス増幅器22、アドレス入力バッファ24、アドレス入力レジスタ26,28、マルチプレクサ30、データ入力バッファ32、データ入力レジスタ34,36,38、データ伝送制御部40、データ出力バッファ42、スイッチS1,S2,S3,S4,S5,S6,S7、WE入力バッファ44、WE入力レジスタ46,48,50、及び制御信号発生部52から構成されている。
【0009】
以下、このように構成された半導体メモリ装置の各部機能を説明する。
【0010】
n×m個のメモリセル(10-1,10-2,…,10-m,…)は、それぞれのメモリセルに貯蔵されたデータを該当ビットライン対(BL1,BL1B),(BL2,BL2B),…,(BLm,BLmB)に伝送するか、該当ビットライン対に伝送されたデータをそれぞれのメモリセルに貯蔵する。プリーチャージ及び等化回路(12-1,12-2,…,12-m)は、該当ビットライン対(BL1,BL1B),(BL2,BL2B),…,(BLm,BLmB)をプリーチャージし等化する。列選択スイッチ(14-1,14-2,…,14-m)は、該当ビットライン対と該当データライン対(DLK,DLBk)間のデータの伝送を制御する。行アドレスデコーダ16は、行アドレス信号Xをデコーディングしてn個のワードライン選択信号(WL1,WL2,…,WLn)を発生する。列アドレスデコーダ18は、列アドレス信号Yをデコーディングしてm個の列選択スイッチを制御するための制御信号Y1,Y2,…,Ymを発生する。
【0011】
アドレス入力バッファ24は、外部から入力されるアドレスXAiをバッファして出力する。アドレス入力レジスタ26,28は、制御信号COに応じてアドレスXAiをそれぞれ1サイクル、2サイクル遅延して信号WA1,WA2としてそれぞれ出力する。制御信号COは、クロック信号CLKとライトイネーブル信号WEを論理積した信号である。マルチプレクサ30は、リードイネーブル信号REに応じてアドレス入力バッファ24によりバッファされたリードアドレスRAを選択して出力するか、ライトイネーブル信号WEに応じて1サイクル後のライト動作遂行時はライトアドレスWA1を出力し、2サイクル後のライト動作遂行時はライトアドレスWA2を選択して出力する。
【0012】
データ入力バッファ32は、外部からのデータ入力信号XDjをバッファして出力する。データ入力レジスタ34,36,38は、データ入力制御クロックDINCLKに応じてデータ入力バッファ32によりバッファされたデータ入力信号をそれぞれ0サイクル、1サイクル、2サイクル遅延して、信号I1,I2,I3としてそれぞれ出力する。データ入力制御クロックDINCLKは、1サイクル後のライト動作遂行時はライト命令の1サイクル後にクロック信号CLKに同期して発生される信号で、2サイクル後のライト命令遂行時はライト命令の2サイクル後にクロック信号CLKと同期して発生される信号である。データ伝送制御部40は、1サイクル後のライト動作遂行時は、制御信号C1に応じてデータ入力レジスタ34の出力信号を発生し、制御信号C2に応じてデータ入力レジスタ36の出力信号を発生する。そして、2サイクル後のライト動作遂行時は、制御信号C1に応じてデータ伝送ゲート34の出力信号を発生し、制御信号C2に応じてデータ入力レジスタ36の出力信号を発生し、制御信号C3に応じてデータ入力レジスタ38の出力信号を発生する。
【0013】
データ出力バッファ42は、センス増幅器22により増幅されたデータを1サイクル後のライト動作遂行時は信号KDATA,OEに応じて出力信号XDOyとして発生し、2サイクル後のライト動作遂行時は信号KDATA,OEに応じて1サイクル遅延させて出力信号XDOyとして発生する。
【0014】
WE入力バッファ44は、ライトイネーブル信号WEを入力してバッファする。WE入力レジスタ46,48,50は、バッファされたライトイネーブル信号をそれぞれ1サイクル、2サイクル、3サイクル遅延して信号W1,W2,W3としてそれぞれ出力する。制御信号発生部52は、1サイクル後のライト動作遂行時に信号W1,W2の入力を受けて制御信号C1,C2を発生し、2サイクル後のライト遂行時は信号W1,W2,W3の入力を受けて制御信号C1,C2,C3を発生する。即ち、WE入力バッファ44、WE入力レジスタ46,48,50、及び制御信号発生部52は、1サイクル後のライト動作遂行時に2つのライトの命令が連続的に入力すると制御信号C1を発生し、リード、ライトの命令が連続的に入力すると制御信号C2を発生する。そして、2サイクル後のライト動作遂行時にライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると制御信号C1を発生し、リード、ライト、ライトの命令又はライト、リード、ライトの命令が連続的に入力すると制御信号C2を発生し、リード、リード、ライトの命令が連続的に入力すると制御信号C3を発生する。そして、1サイクル後のライト動作遂行時はスイッチS1がオンされてスイッチS2,S3,S4,S5,S6,S7がオフされ、2サイクル後のライト動作遂行時はスイッチS1がオフされてスイッチS2,S3,S4,S5,S6,S7がオンされる。
【0015】
<データ入力部の構成例>
(データ入力制御部及びデータ伝送制御部)
図2は、図1に示したデータ入力レジスタを含むデータ入力制御部並びにデータ伝送制御部の回路例を示す図であって、各部の構成及び動作を説明する。
【0016】
データ入力レジスタ34は、インバータ60、CMOS伝送ゲート62、及びインバータ64,66により構成されたラッチからなっている。CMOS伝送ゲート62は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータ入力バッファ32の出力信号INを伝送する。インバータ64,66により構成されたラッチは、CMOS伝送ゲート62の出力信号をラッチし反転して信号I1として出力する。
【0017】
データ入力レジスタ36は、インバータ68,76、CMOS伝送ゲート70,78、及びインバータ(72,74),(80,82)によりそれぞれ構成されたラッチからなっている。CMOS伝送ゲート70は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じて信号I1を伝送する。インバータ72,74により構成されたラッチは、CMOS伝送ゲート70の出力信号をラッチし反転して出力する。CMOS伝送ゲート78は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてインバータ72の出力信号を伝送する。インバータ80,82により構成されたラッチは、CMOS伝送ゲート78の出力信号をラッチし反転して出力する。
【0018】
データ入力レジスタ38は、インバータ84,92、CMOS伝送ゲート86,94、及びインバータ(88,90)(96,98)によりそれぞれ構成されたラッチからなっている。データ入力レジスタ38の構成及び動作は、データ入力レジスタ36の構成及び動作と同様である。即ち、CMOS伝送ゲート86は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じて信号12を伝送する。インバータ88,90により構成されたラッチは、CMOS伝送ゲート86の出力信号をラッチし反転して出力する。CMOS伝送ゲート94は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてインバータ88の出力信号を伝送する。インバータ96,98により構成されたラッチは、CMOS伝送ゲート94の出力信号をラッチし反転して信号I3として出力する。
【0019】
データ伝送制御部40は、インバータ100,104,108、CMOS伝送ゲート102,106,110、及びインバータ112,114により構成されたラッチからなっている。CMOS伝送ゲート102,106,110のそれぞれは、"ハイ"レベルの制御信号C1,C2,C3に応じて信号I1,I2,I3をそれぞれ伝送する。インバータ112,114により構成されたラッチは、CMOS伝送ゲート102,106,110の出力信号をラッチし反転して信号WDとして出力する。
【0020】
そして、スイッチS4,S5の構成及び動作は上述のようである。
(制御信号生成部)
図3は、図1に示した制御信号発生部を含む制御信号生成部の回路例を示す図であって、各部の構成及び動作を以下に説明する。
【0021】
ライトイネーブル(WE)信号入力バッファ44は、2個の直列連結されたインバータ120,122から構成されている。ライトイネーブル信号入力バッファ44はライトイネーブル信号WEを入力してバッファする。
【0022】
WE入力レジスタ46は、インバータ124,132、CMOS伝送ゲート126,134、及びインバー(128,130)(136,138)によりそれぞれ構成されたラッチからなっている。CMOS伝送ゲート126は、"ロー"レベルのクロック信号CLKに応じてバッファされたライトイネーブル信号WEを伝送する。インバータ128,130により構成されたラッチは、バッファされたライトイネーブル信号WEをラッチし反転して出力する。CMOS伝送ゲート134は、"ハイ"レベルのクロック信号CLKに応じてインバータ128の出力信号を伝送する。インバータ136,138により構成されたラッチは、CMOS伝送ゲート134の出力信号をラッチし反転して信号W1として出力する。
【0023】
WE入力レジスタ48は、インバータ140,148、CMOS伝送ゲート142,150、及びインバータ(144,146)(152,154)により構成されたラッチからなっている。WE入力レジスタ48の構成及び動作は、上述のWE入力レジスタ46の構成及び動作と同様である。この回路は、インバータ152の出力信号を信号W2として出力する。
【0024】
WE入力レジスタ50は、インバータ156,164、CMOS伝送ゲート158,166、及びインバータ(160,162)(168,170)から構成されたラッチによりなっている。WE入力レジスタ50の構成及び動作も、上述のWE入力レジスタ46,48の構成及び動作と同様である。この回路はインバータ168の出力信号を信号W3として出力する。
【0025】
制御信号発生部52は、NANDゲート176,182,190,194,198、NORゲート174,178,184,192,196,199、インバータ180,188、XNORゲート180、及びスイッチS8,S9,S10,S11,S12から構成されている。
【0026】
1サイクル後のライト動作遂行時は、スイッチS9,S11がオンされ、スイッチS6,S7,S8,S10,S12はオフされる。この場合、NANDゲート194は"ハイ"レベルの信号W1,W2が入力されると、"ロー"レベルの信号を発生する。そして、NORゲート196はインバータ172により反転されたクロック信号に応じてNANDゲート194の出力信号を反転して、制御信号C1を発生する。即ち、クロック信号CLKの"ハイ"レベルでNANDゲート194の出力信号を反転して出力する。そして、インバータ180並びにNANDゲート182は"ロー"レベルの信号W2と"ハイ"レベルの信号W1が入力されると、"ロー"レベルの信号を発生する。そして、NORゲート184は反転されたクロック信号に応じてNANDゲート182の出力信号を反転して、制御信号C2を発生する。
【0027】
2サイクル後のライト動作遂行時は、スイッチS6,S7,S8,S10,S12がオンされ、スイッチS9,S11がオフされる。この場合、NANDゲート198は"ハイ"レベルの信号W1,W2,W3が入力されると"ロー"レベルの信号を発生する。NORゲート199は反転されたクロック信号に応じてNANDゲート198の出力信号を反転して、制御信号C1を発生する。そして、XNORゲート186及びインバータ188は、"ハイ"レベルの信号W1と"ロー"レベルの信号W2が入力されるか、"ロー"レベルの信号W1と"ハイ"レベルの信号W2が入力されると"ハイ"レベルの信号を発生する。NANDゲート190は"ハイ"レベルの信号W1と"ハイ"レベルのインバータ188の出力信号が入力されると、"ロー"レベルの信号を発生する。NORゲート192は反転されたクロック信号に応じてNANDゲート182の出力信号を反転して、制御信号C2を発生する。そして、NORゲート174は、"ロー"レベルの信号W2,W3が入力されると"ハイ"レベルの信号を発生する。NANDゲート176は、"ハイ"レベルの信号W1と"ハイ"レベルのNORゲート174の出力信号が入力されると"ロー"レベルの信号を発生する。NORゲート178は反転されたクロック信号に応じてNANDゲート178の出力信号を反転して、制御信号C3を発生する。
【0028】
<データ出力バッファの構成例>
図4は図1に示したデータ出力バッファの回路例を示す図であって、PMOSトランジスタ200,202,204,218,220,224,226、NMOSトランジスタ206,208,210,212,222,228、インバータ214,216,234,236,244,246、NORゲート238,240、NANDゲート242,246、及びインバータ230,232により構成されたラッチからなっている。
【0029】
PMOSトランジスタ200,202,204及びNMOSトランジスタ206,208,210,212により構成されたイネーブル回路は、ライト動作遂行時は、イネーブル信号KDPRECBが"ハイ"レベルであるため、PMOSトランジスタ200がオフされ、NMOSトランジスタ210,212がオンされて、データライン対DTA,DTABを"ロー"レベルにする。そして、リード動作遂行時は、イネーブル信号KDPRECBが"ロー"レベルであるため、PMOSトランジスタ200がオンされ、NMOSトランジスタ210,212がオフされて、センス増幅器出力信号SAS,SASBを増幅してそれぞれデータライン対DTA,DTABに伝送する。
【0030】
インバータ214,216、PMOSトランジスタ218,220,224,226、NMOSトランジスタ222,228、及びインターター230,232から構成されたラッチは、ライト動作遂行時は、データライン対DTA,DTABのデータの全てが"ロー"レベルであるため、PMOSトランジスタ220,226並びにNMOSトランジスタ222,228の全てがオフされ、PMOSトランジスタ218,224がオンされて、データライン対DTBB,DTBにはラッチ230,232にラッチされたデータが維持される。リード動作遂行時は、データライン対DTA,DTABに伝送されたデータをそれぞれ反転してデータライン対DTB,DTBBに伝送する。
【0031】
インバータ234,236及びNORゲート238,240から構成された回路は、クロック信号CLKと同期された信号KDATAにより、データライン対DTBB,DTBに伝送されたデータをそれぞれ反転してデータライン対DTC,DTCBに出力する。即ち、前記回路は、信号KDATAが"ロー"レベルから"ハイ"レベルに遷移するとき、データライン対DTBB,DTBに伝送されたデータをそれぞれ反転して、データライン対DTC,DTCBに伝送する。
【0032】
信号KDATAは、1サイクル後のライト動作遂行時は、センス増幅器22の出力信号をバッファして出力するようにイネーブルされ、2サイクル後のライト動作遂行時は、センス増幅器22の出力信号をバッファしてラッチし、該ラッチされたデータを1サイクル遅延して出力するようにイネーブルされる。即ち、信号KDATAは、1サイクル後のライト動作を行う場合は、現在のサイクルでリードデータを出力するようにイネーブルされ、2サイクル後のライト動作を遂行する場合は、次のサイクルでリードデータを出力するようにイネーブルされる。すなわち、図4に示したデータ出力バッファのラッチ230,232にラッチされるタイミングは、1サイクル又は2サイクル後のライト動作遂行時のどちらでも同じであり、信号KDATAによる出力信号対DOU,DODの出力タイミングにのみ差がある。
【0033】
そして、NANDゲート242,246及びインバータ244,246から構成された回路は、出力イネーブル信号OEに応じてデータライン対DTC,DTCBに伝送された信号をデータ出力信号対DOU,DODにそれぞれ出力する。
【0034】
即ち、1サイクル後のライト動作遂行時のリード方法は、データ出力バッファにラッチされたデータを信号KDATAに応じて現在のサイクルで出力されるフロースルー(flow_through)方法を用い、2サイクル後のライト動作遂行時のリード方法は、データ出力バッファにラッチされたデータを信号KDATAに応じて次のサイクルで出力するパイプライン(pipelined)方法を用いる。
【0035】
尚、スイッチ(S1,S2,S3,S4,S5,S6,S7,S8,S9,S10,S11,S12)の構成を例を挙げて図示していないが、CMOS伝送ゲートで構成することができるし、ヒューズを用いて構成することもできる。
もし、CMOS伝送ゲートを用いて構成する場合は、外部からの1サイクル後ライト動作及び2サイクル後ライト動作の制御信号に応じてCMOS伝送ゲートが制御されるように構成すればよい。例えば、制御信号が”ハイ”レベルである場合に、2サイクル後ライト動作の遂行時にオンされるCMOS伝送ゲートに制御信号が印可され、1サイクル後ライト動作の遂行時にオンされるCMOS伝送ゲートに反転された制御信号が印可されるように構成するとすれば、2サイクル後ライト動作を遂行しようとする場合は”ハイ”レベルの制御信号を印可し、1サイクル後ライト動作を遂行しようとする場合は”ロー”レベルの制御信号を印可すればよい。そして、ヒューズを用いてスイッチを構成して、1サイクル後ライト動作と2サイクル後ライト動作中のいずれかの動作を遂行するように素子を固定する場合は、素子出荷前に該当ヒューズを切断すればよい。
【0036】
<本実施の形態の半導体メモリ装置の動作例>
上述のような本実施の形態に係る半導体メモリ装置の各部動作の説明を参考して、図1に示した本実施の形態の半導体メモリ装置の1サイクル及び2サイクル後のライト動作遂行時のアドレス及びデータ処理方法を、図5及び図6のタイミング図を用いて説明する。
【0037】
(1サイクル後のライト動作の例)
まず、1サイクル後のライト動作は、次の2つの場合に分類される。
【0038】
第1の場合は、2つのライトの命令が連続して入力される場合で、2番目のライト命令時に入力されるライトデータをセルにライトする。第2の場合は、リード、ライトの命令が連続して入力される場合で、2番目のライトの命令時にその連続された命令前の最後に入力されたライト命令に該当するライトデータをセルにライトする。
【0039】
図5は、図1に示した装置の1サイクル後のライト動作を説明するタイミング図であって、ライトデータがライトアドレス入力から1サイクル後に入力される。そして、このときは上述のように図1に示したスイッチS1がオンされ、スイッチS2,S3,S4,S5,S6,S7がオフされ、図3に示したスイッチS8,S10,S12がオフされ、スイッチS9,S11がオンされる。
【0040】
1番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、外部からのアドレスA0をバッファしてアドレス入力レジスタ26に出力する。アドレス入力レジスタ26は、"ハイ"レベルの制御信号COに応じてアドレスA0をラッチし、"ロー"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA0を出力する。一方、データ入力バッファ32は、データD0をバッファして出力する。データ入力レジスタ34は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD0を出力する。WE入力バッファ44は、ライトイネーブル信号WEを入力してバッファする。WE入力レジスタ46は、"ハイ"レベルのクロック信号に応じて"ハイ"レベルの信号WEをラッチし信号W1として出力する。
【0041】
2番目のサイクルでライトの命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、外部からのライトアドレスA1をバッファしてアドレス入力レジスタ26に出力する。アドレス入力レジスタ26は、"ハイ"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA0を、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA1を、信号WA1として出力する。データ入力レジスタ34は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD0を、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1を、信号I1として出力する。データ入力バッファ32は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1をバッファして出力する。データ入力レジスタ36は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD0を出力する。WE入力バッファ44は、WE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48は、"ハイ"レベルの信号を信号W1,W2として出力する。
【0042】
制御信号発生部52は、"ハイ"レベルのクロック信号CLKに応じて信号W1,W2を論理積した制御信号C1を発生する。データ伝送制御部40は、制御信号C1に応じてデータ入力レジスタ34から出力されるデータD0をラッチし、信号WDとして出力する。従って、アドレスA0に該当するライトデータD0のライト動作が行われる。
【0043】
図5で1番目(I)、2番目(II)のサイクルは、第1の場合に当たる。
【0044】
3番目のサイクルでリード命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、外部からのリードアドレスA2をバッファしてマルチプレクサ30に出力する。アドレス入力レジスタ26は、"ロー"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA1を信号WA1として出力する。データ入力レジスタ34は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1を信号I1として伝送する。データ入力レジスタ36は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1を、"ロー"レベルの制御クロックDINCLKに応じてデータD1を、信号I2として伝送する。WE入力レジスタ46,48は、"ロー"レベルと"ハイ"レベルの信号をそれぞれ信号W1,W2として発生する。
【0045】
制御信号発生部52は制御信号C1,C2を発生しない。それで、ライト動作を行わず、フロースルー方式によるデータリード動作が行われて、出力データQ2が出力信号XDOyとして発生される。
【0046】
4番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、アドレスA3をバッファして出力する。アドレス入力レジスタ26は、"ハイ"レベルの制御信号COに応じてアドレスA1を、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA3を、アドレスWA1として出力する。データ入力バッファ32は、データD3をバッファして出力する。データ入力レジスタ34は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD3を出力する。データ入力レジスタ36は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1を出力する。WE入力バッファ44は、WE入力をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48は、"ハイ"レベルと"ロー"レベルの信号をそれぞれ信号W1,W2として出力する。
【0047】
制御信号発生部52は、"ハイ"レベルのクロック信号に応じて制御信号C2を発生する。データ伝送制御部40は、制御信号C2に応じてデータD1を信号WDとして伝送する。従って、アドレスA1に該当するライトデータD1のライト動作が行われる。
【0048】
図5で3番目(III)、4番目(IV)のサイクルは、上述の第2の場合に当たる。
【0049】
図5のタイミング図からわかるように、2番目のライトサイクルでライトデータD0がデータライン対に伝送され、3番目のリードサイクルでリードデータQ2がセルからデータ対に伝送され、4番目のライトサイクルでライトデータD1がデータライン対に伝送される。従って、データライン対におけるデータ衝突問題は発生しない。
【0050】
(2サイクル後のライト動作の例)
次いで、2サイクル後のライト動作は、次の3つの場合に分類される。
【0051】
第1の場合は、3つのライトの命令が連続して入力される場合であって、3番目のライト命令時に入力されるライトデータをセルにライトする。
【0052】
第2の場合は、ライト、リード、ライトの命令が連続して入力されるか、リード、ライト、ライトの命令が連続して入力される場合であって、3番目のライト命令に応じて連続される命令前の最後に入力されたライト命令に該当するライトデータをセルにライトする。
【0053】
第3の場合は、リード、リード、ライトの命令が入力される場合であって、その連結される命令前に入力した2つのライトデータの中で先に入力されたライト命令に該当するライトデータをセルにライトする。
【0054】
図6は、図1に示した装置の2サイクル後のライト動作を説明するための動作タイミング図であって、ライトデータがライトアドレス入力から2サイクル後に入力される。この場合は上述のように図1に示したスイッチS1がオフされ、スイッチS2,S3,S4,S5,S6,S7がオンされ、図3に示したスイッチS8,S10,S12がオンされ、スイッチS9,S11がオフされる。
【0055】
1番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、アドレスA0をバッファして出力する。アドレス入力レジスタ26は、"ロー"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA0を出力する。WE入力バッファ44は、WE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48,50は、"ハイ"レベル、"ロー"レベル、"ロー"レベルの信号を信号W1,W2,W3としてそれぞれ出力する。
【0056】
2番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、アドレスA1をバッファして出力する。アドレス入力レジスタ26は、"ハイ"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA0を、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA1を出力する。アドレス入力レジスタ28は、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA0を出力する。データ入力バッファ32は、データD0をバッファして出力する。データ入力レジスタ34は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD0を出力する。WE入力バッファ44は、WE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48,50は、"ハイ"レベル、ハイ"レベル、"ロー"レベルの信号を信号W1,W2,W3としてそれぞれ発生する。
【0057】
3番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、アドレスA2をバッファして出力する。アドレス入力レジスタ26,28は、"ハイ"レベルの制御信号COに応じてアドレスA1、アドレスA0をそれぞれ出力し、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA2、アドレスA1をそれぞれ出力する。データ入力レジスタ34は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD0を出力し、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1を信号I1として出力する。データ入力レジスタ36は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD0を信号I2として出力する。WE入力バッファ44は、"ハイ"レベルの信号を信号W1,W2,S3としてそれぞれ出力する。
【0058】
制御信号発生部52は、信号W1,W2,W3の入力を受けて"ハイ"レベルのクロック信号CLKに応じて制御信号C1を発生する。データ伝送制御部40は、制御信号C1に応じてデータD0を信号WDとして出力する。従って、アドレスA0に該当するライトデータD0に対するライト動作が行われる。
【0059】
図6で1番目(I)、2番目(II)、3番目(III)のサイクルは、上述の第1の場合に当たる。
【0060】
4番目のサイクルでリード命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、リードアドレスA3をバッファしてマルチプレクサ30に出力する。アドレス入力レジスタ34、36は、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA2,A1を信号WA1,WA2として出力する。データ入力バッファ32は、データD1をバッファして出力する。データ入力レジスタ34,36は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1,D0をそれぞれ出力し、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD2,D1をそれぞれ出力する。データ入力レジスタ38は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータDOを出力する。WE入力バッファ44は、WE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48,50は、"ロー"レベル、"ハイ"レベル、"ハイ"レベルの信号を信号W1,W2,W3としてそれぞれ出力する。
【0061】
制御信号発生部52は制御信号C1,C2,C3を発生しない。データ伝送制御部40はラッチされたデータD0を出力する。そして、アドレスA3に該当するリードデータのリード動作が行われる。
【0062】
5番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ32は、アドレスA4の入力を受けてバッファする。アドレス入力レジスタ26,28は、"ハイ"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA4,A2をそれぞれ出力し、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA4,A2をそれぞれ出力する。データ入力バッファ32は、データD2をバッファして出力する。データ入力レジスタ34は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD2を出力する。データ入力レジスタ36,38は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD1,D0をそれぞれ出力し、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD2,D1をそれぞれ出力する。WE入力バッファ44は、WE信号を入力してバッファする。WE入力レジスタ46は、"ハイ"レベル、"ロー"レベル、"ハイ"レベルの信号を信号W1,W2,W3としてそれぞれ出力する。
【0063】
制御信号発生部52は、信号W1,W2,W3の入力を受けて"ハイ"レベルのクロック信号CLKに応じて制御信号C2を発生する。データ伝送制御部40は、制御信号C2に応じてデータD1を信号WDとして出力する。従って、アドレスA1に該当するライトデータD1のライト動作が行われる。
【0064】
図6において3番目(III)、4番目(IV)、5番目(V)のサイクルは、上述の第2の場合に当たる。
【0065】
6番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、アドレスA5をバッファして出力する。アドレス入力レジスタ26,28は、"ハイ"レベルの制御信号COに応じてアドレスA4,A2をそれぞれ出力し、"ロー"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA5,A4をそれぞれ出力する。データ入力レジスタ34は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD4を出力する。データ入力レジスタ36,38は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD2,D1をそれぞれ出力する。WE入力バッファ44は、WE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48,50は、"ハイ"レベル、"ハイ"レベル、"ロー"レベルの信号をそれぞれ信号W1,W2,W3として出力する。
【0066】
制御信号発生部52は、信号W1,W2,W3の入力を受けて"ハイ"レベルのクロック信号CLKに応じてデータD2を信号WDとして出力する。従って、アドレスA2に該当するライトデータD2のライト動作が行われる。
【0067】
図6において4番目(IV)、5番目(V)、6番目(VI)のサイクルは、上述の第2の他の場合に当たる。
【0068】
7番面のサイクルでリード命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、リードアドレスA6をバッファしてマルチプレクサ30に出力する。アドレス入力レジスタ26,28は、"ロー"レベルの制御信号COに応じてアドレスA5,A4を出力する。データ入力バッファ32は、データD4をバッファして出力する。データ入力レジスタ34,36,38は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD4,D2,D1をそれぞれ出力し、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD5,D4,D2をそれぞれ出力する。WE入力バッファ44は、RE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48,50は、"ロー"レベル、"ハイ"レベル、"ハイ"レベルの信号をそれぞれ信号W1,W2,W3として出力する。
【0069】
制御信号発生部52は制御信号C1,C2,C3を発生しない。データ伝送制御部40は、ラッチされたデータD2を信号WDとして出力する。そして、リードアドレスA6に対するリードデータのリード動作が行われる。
【0070】
8番目のサイクルでリード命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、リードアドレスA7をバッファしてマルチプレクサ30に出力する。アドレス入力レジスタ26,28は、"ロー"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA5,A4を出力する。データ入力バッファ32は、データD4をバッファして出力する。データ入力レジスタ34,36,38は、"ハイ"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD5,D4,D2をそれぞれ出力し、データ入力レジスタ36,38は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD5,D4をそれぞれ出力する。WE入力バッファ44は、RE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48,50は、"ロー"レベル、"ロー"レベル、"ハイ"レベルの信号をそれぞれ信号W1,W2,W3として出力する。
【0071】
制御信号発生部52は制御信号C1,C2,C3を発生しない。データ伝送制御部40は、ラッチされたデータD2を信号WDとして出力する。そして、リードアドレスA7に対するリードデータのリード動作が行われる。
【0072】
9番目のサイクルでライト命令が入力されると、アドレス入力バッファ24は、アドレスA8をバッファして出力する。アドレス入力レジスタ26,28は、"ハイ"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA5,A4をそれぞれ出力し、"ロー"レベルの制御信号C0に応じてアドレスA8,A5をそれぞれ出力する。データ入力レジスタ36,38は、"ロー"レベルのデータ入力制御クロックDINCLKに応じてデータD5,D4をそれぞれ出力する。WE入力バッファ44は、WE信号をバッファして出力する。WE入力レジスタ46,48,50は、"ハイ"レベル、"ロー"レベル、"ロー"レベルの信号を信号W1,W2,W3としてそれぞれ出力する。
【0073】
制御信号発生部52は、信号W1,W2,W3を入力して"ハイ"レベルのクロック信号CLKに応じて制御信号C3を発生する。データ伝送制御部40は、制御信号C3に応じてデータD4を信号WDとして出力する。従って、アドレスA4に対するライトデータD4のライト動作が行われる。
【0074】
図6で7番目(VII)、8番目(VIII)、9番面(IX)のサイクルは、上述の第3の場合に当たる。
【0075】
図6のタイミング図からわかるように、3番目のライトサイクルでライトデータD0がデータライン対に伝送され、4番目のリードサイクルでリードデータQ3がデータライン対に伝送され、5番目のライトサイクルでライトデータD1がデータライン対に伝送され、6番目のライトサイクルでライトデータD2がデータライン対に伝送され、7番目のリードサイクルでリードデータQ6がデータライン対に伝送され、8番目のリードサイクルでリードデータQ7がデータライン対に伝送され、9番目のライトサイクルでライトデータD4がデータライン対に伝送される。従って、上述のようにアドレスとデータを制御することにより、データライン対におけるデータの衝突問題は発生しない。
【0076】
上述の説明では、デッドサイクルなしに1サイクル及び2サイクル後のライト動作を行うことを説明した。しかし、もし使用者がデッドサイクルを設定することを望むなら、動作サイクルの中間に非選択(deselect)サイクルを設定する。非選択サイクルでは、リードサイクルと同様に取り扱われた動作を行う。
【0077】
上記実施の形態では、本発明の半導体メモリ装置及び動作を図面を用いて説明したが、これは一つの例に過ぎず、本発明の技術的思想及び範囲を外れない範囲内で多様な修正及び変更が可能である。
【0078】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、半導体メモリ装置及びそのデータ処理方法において、デッドサイクルなしに1サイクル及び2サイクル後のライト動作とリード動作の遷移を行い得るという効果がある。
【0079】
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態の半導体メモリ装置のブロック図である。
【図2】図1に示したデータ入力部及びデータ伝送制御部の回路例を示す図である。
【図3】図1に示した制御信号生成部の回路例を示す図である。
【図4】図1に示したデータ出力バッファの回路例を示す図である。
【図5】図1に示した半導体メモリ装置の1サイクル後のライト動作を説明する動作タイミング図である。
【図6】図1に示した半導体メモリ装置の2サイクル後のライト動作を説明する動作タイミング図である。

Claims (29)

  1. 外部からのリードアドレスはそのまま出力し、1サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを1サイクル遅延して出力し、2サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを2サイクル遅延して出力するアドレス入力制御手段と、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時には、外部からライトアドレスの1サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル遅延して出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時には、外部から2サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル又は2サイクル遅延して出力するデータ入力制御手段と、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると前記0サイクル遅延されたデータを伝送し、リード命令又は非選択とライト命令が連続的に入力すると前記1サイクル遅延されたデータを伝送し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると前記0サイクル遅延されたデータを伝送し、ライト命令、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力するか、リード命令又は非選択、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると、前記1サイクル遅延されたデータを伝送し、リード命令又は非選択、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力すると、前記2サイクル遅延されたデータを伝送するデータ伝送手段とを具備し、
    前記アドレス入力制御手段からのリードアドレスに該当するセルからのデータをリードして、前記1サイクル後のライト動作遂行時はフロースルー方式によりデータを出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時はパイプライン方式によりデータを出力し、前記アドレス入力制御手段からのライトアドレスに該当するセルに前記データ伝送手段から伝送されるデータをライトすることを特徴とする半導体メモリ装置。
  2. 前記アドレス入力制御手段は、
    第1制御信号COに応じて前記アドレスを1サイクル遅延して出力する第1アドレス入力レジスタと、
    前記第1制御信号COに応じて前記第1アドレス入力レジスタの出力信号を1サイクル遅延して出力する第2アドレス入力レジスタと、
    リード命令に応じてリードアドレスを選択して出力し、前記1サイクル後のライト動作遂行時は、ライト命令に応じて前記第1アドレス入力レジスタの出力信号を選択して出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時は、ライト命令に応じて前記第2アドレス入力レジスタの出力信号を選択して出力する選択手段とを具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。
  3. 前記第1制御信号COは、クロック信号とライト命令信号とを論理積した信号であることを特徴とする請求項2に記載の半導体メモリ装置。
  4. 前記データ入力制御手段は、
    第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記ライトデータを第1データ信号I1として伝送する第1データ入力レジスタと、
    第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第1データ入力レジスタの出力信号をラッチし、前記第1状態の第2制御信号に応じて前記ラッチされたデータを第2データ信号I2として伝送する第2データ入力レジスタと、
    前記第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第2データ入力レジスタの出力信号をラッチし、前記第1状態の第2制御信号に応じて前記ラッチされたデータを第3データ信号I3として伝送する第3データ入力レジスタとを具備し、
    前記第1サイクル後のライト動作遂行時は前記第1及び第2データ信号I1,I2を出力し、前記第2サイクル後のライト動作遂行時は前記第1、第2、及び第3データ信号I1,I2,I3を出力することを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。
  5. 前記第2制御信号DINCLKは、前記1サイクル後のライト動作遂行時は前記ライト命令の1サイクル後の前記クロック信号と同期して前記第2状態の信号が発生され、前記2サイクル後のライト動作遂行ときは前記ライト命令の2サイクル後の前記クロック信号と同期して前記第2状態の信号が発生されることを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ装置。
  6. 前記第1データ入力レジスタは、
    前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記ライトデータを伝送する第1伝送ゲートと、
    前記第1伝送ゲートの出力データをラッチして前記第1データ信号として出力する第1ラッチとを具備することを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ装置。
  7. 記第2データ入力レジスタは、
    前記第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第1データ信号を伝送する第2伝送ゲートと、
    前記第2伝送ゲートの出力データをラッチする第2ラッチと、
    前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第2ラッチの出力データを伝送する第3伝送ゲートと、
    前記第3伝送ゲートの出力データをラッチして前記第2データ信号として伝送する第3ラッチとを具備することを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ装置。
  8. 前記第3データ入力レジスタは、
    前記第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第2データ信号を伝送する第4伝送ゲートと、
    前記第4伝送ゲートの出力データをラッチする第4ラッチと、
    前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第4ラッチの出力データを伝送する第5伝送ゲートと、
    前記第5伝送ゲートの出力データをラッチして前記第3データ信号として伝送する第5ラッチとを具備することを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ装置。
  9. 前記データ伝送手段は、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると第1伝送制御信号C1を、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力されると第2伝送制御信号C2を発生し、前記第2サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的入力されると前記第1伝送制御信号C1を、ライト命令、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力されるか、リード命令又は選択、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると前記第2伝送制御信号C2を発生し、リード命令又は非選択、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力されると第3伝送制御信号C3を発生する制御信号発生手段と、
    第2状態の第1伝送制御信号C1に応じて前記第1データ信号I1を伝送し、前記第2状態の第2伝送制御信号C2に応じて前記第2データ信号I2を伝送し、前記第2状態の第3伝送制御信号C3に応じて前記第3データ信号I3を伝送し、前記伝送されたデータをラッチし出力するデータ伝送制御手段とを具備することを特徴とする請求項1又は4に記載の半導体メモリ装置。
  10. 前記制御信号発生手段は、
    第1状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令をラッチし、第2状態のクロック信号に応じて前記ラッチされたデータを第1命令信号W1として出力する第1ライト/リード命令入力レジスタと、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記第1命令信号W1をラッチし、前記第2状態のクロック信号に応じて前記ラッチされたデータを第2命令信号W2として出力する第2ライト/リード命令入力レジスタと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記第2命令信号W2をラッチし、前記第2状態のクロック信号に応じて前記ラッチされたデータを第3命令信号W3として出力する第3ライト/リード命令入力レジスタと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に前記第1命令信号W1と第2命令信号W2を論理積して前記第1伝送制御信号C1を発生し、前記2サイクル後のライト動作遂行時は前記第1、第2、第3命令信号W1,W2,W3を論理積して前記第1伝送制御信号C1を発生する第1伝送制御信号発生手段と、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に前記第1命令信号W1と第2命令信号W2の反転された信号とを論理積して前記第2伝送制御信号C2を発生し、前記2サイクル後のライト動作遂行時は前記第1命令信号W1と前記第2命令信号W2並びに第3命令信号W3の排他的論理和した信号とを論理積して前記第2伝送制御信号C2を発生する第2伝送制御信号発生手段と、
    前記2サイクル後のライト動作遂行時に前記第1命令信号W1と前記第2命令信号W2の反転された信号と前記第3命令信号W3の反転された信号とを論理積して前記第3伝送制御信号C3を発生する第3伝送制御信号発生手段とを具備することを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。
  11. 記第1ライト/リード命令入力レジスタは、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第6伝送ゲートと、
    前記第6伝送ゲートの出力データをラッチする第6ラッチと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第7伝送ゲートと、
    前記第7伝送ゲートの出力データをラッチして前記第1命令信号W1として出力する第7ラッチとを具備することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置。
  12. 記第2ライト/リード命令入力レジスタは、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記第1命令信号W1を伝送する第8伝送ゲートと、
    前記第8伝送ゲートの出力データをラッチする第8ラッチと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第9伝送ゲートと、
    前記第9伝送ゲートの出力データをラッチして前記第2命令信号W2として伝送する第9ラッチとを具備することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置。
  13. 前記第3ライト/リード命令入力レジスタは、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記第2命令信号W2を伝送する第10伝送ゲートと、
    前記第10伝送ゲートの出力データをラッチする第10ラッチと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第11伝送ゲートと、
    前記第11伝送ゲートの出力データをラッチして前記第3命令信号W3として伝送する第11ラッチとを具備することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置。
  14. 外部からのアドレスをバッファして出力するアドレス入力バッファと、
    第1制御信号COに応じて、前記アドレス入力バッファの出力アドレスを1サイクル又は2サイクル遅延して出力するアドレス入力手段と、
    リード命令時には前記アドレス入力バッファからのリードアドレスを出力し、1サイクル後のライト動作遂行時には前記1サイクル遅延されたアドレスを出力し、2サイクル後のライト動作遂行時には前記2サイクル遅延されたアドレスを出力する選択手段と、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時には前記1サイクル遅延されて入力されるデータをバッファし、前記2サイクル後のライト動作遂行時には前記2サイクル遅延されて入力されるデータをバッファするデータ入力バッファと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に第2制御信号DINCLKに応じて、前記データ入力バッファの出力データを0サイクル又は1サイクル遅延してそれぞれ第1及び第2データ信号I1,I2として出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に前記第2制御信号に応じて、前記データ入力バッファの出力データを0サイクル又は1サイクル又は2サイクル遅延してそれぞれ第1、第2、第3データ信号I1,I2,I3として出力するデータ入力制御手段と、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると第1伝送制御信号C1を発生し、リード命令又は非選択、ライトの命令が連続的に入力されると第2伝送制御信号C2を発生し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると前記第1伝送制御信号C1を発生し、リード命令又は非選択、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されるか、ライト命令、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力すると、前記第2伝送制御信号C2を発生し、リード命令又は非選択、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力すると第3伝送制御信号C3を発生する制御信号発生手段と、
    前記第1伝送制御信号C1に応じて前記第1データ信号I1を伝送し、前記第2伝送制御信号C2に応じて前記第2データ信号I2を伝送し、前記第3伝送制御信号C3に応じて第3データ信号I3を伝送するデータ伝送制御手段とを具備し、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時は、前記ライト命令に応じて前記データ伝送制御手段からのデータをセルアレイにライトし、前記リード命令に応じて前記セルアレイからのリードデータをフロースルー方式によりリードし、前記2サイクル後のライト動作遂行時は、前記ライト命令に応じて前記データ伝送制御手段からのデータを前記セルアレイにライトし、前記リード命令に応じて前記セルアレイからのリードデータをパイプライン方式によりリードすることを特徴とする半導体メモリ装置。
  15. 前記第1制御信号COは、クロック信号とライトイネーブル信号とを論理積した信号であることを特徴とする請求項14に記載の半導体メモリ装置。
  16. 前記第2制御信号DINCLKは、前記1サイクル後のライト動作遂行時には前記ライト命令の1サイクル後に前記クロック信号と同期して発生され、前記2サイクル後のライト動作遂行時は前記ライト命令の2サイクル後に前記クロック信号と同期して発生されることを特徴とする請求項15に記載の半導体メモリ装置。
  17. 前記アドレス入力手段は、
    前記第1制御信号COに応じて、前記アドレス入力バッファの出力信号を1サイクル遅延して出力する第1アドレス入力レジスタと、
    前記第1制御信号COに応じて、前記アドレス入力バッファの出力信号を2サイクル遅延して出力する第2アドレス入力レジスタと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時にオンされて前記第1アドレス入力レジスタの出力信号を前記選択手段に出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時にオフされる第1スイッチと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時にオフされ前記2サイクル後のライト動作遂行時にオンされて、前記第1アドレス入力レジスタの出力信号を前記第2アドレス入力レジスタに出力する第2スイッチと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時にオフされ前記2サイクル後のライト動作遂行時にオンされて、前記第2アドレス入力レジスタの出力信号を前記選択手段に出力する第3スイッチとを具備することを特徴とする請求項14記載の半導体メモリ装置。
  18. 前記データ入力制御手段は、
    前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて、前記データ入力バッファを通って出力されるデータを前記第1データ信号I1として伝送する第1データ入力レジスタと、
    前記第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第1データ入力レジスタの出力信号をラッチし、前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記ラッチされたデータを前記第2データ信号I2として出力する第2データ入力レジスタと、
    前記第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第2データ入力レジスタの出力信号をラッチし、前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記ラッチされたデータを前記第3データ信号I3として出力する第3データ入力レジスタと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時にオフされ前記第2サイクル後のライト動作遂行時にオンされて、前記第2データ信号I2を前記第3データ入力レジスタに伝送する第4スイッチと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時にオフされ前記2サイクル後のライト動作遂行時にオンされて、前記第3データ信号I3を前記データ伝送制御部に出力する第5スイッチとを具備することを特徴とする請求項14に記載の半導体メモリ装置。
  19. 前記第1データ入力レジスタは、
    前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じてオンされて、前記データ入力バッファの出力データを伝送する第1伝送ゲートと、
    前記第1伝送ゲートの出力データをラッチして前記第1データ信号I1として出力する第1ラッチとを具備することを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリ装置。
  20. 前記第2データ入力レジスタは、
    前記第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第1データ信号I1を伝送する第2伝送ゲートと、
    前記第2伝送ゲートの出力データをラッチする第2ラッチと、
    前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第2ラッチの出力データを伝送する第3伝送ゲートと、
    前記第3伝送ゲートの出力データをラッチして前記第2データ信号I2として伝送する第3ラッチとを具備することを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリ装置。
  21. 前記第3データ入力レジスタは、
    前記第2状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第2データ信号I2を伝送する第4伝送ゲートと、
    前記第4伝送ゲートの出力データをラッチする第4ラッチと、
    前記第1状態の第2制御信号DINCLKに応じて前記第4ラッチの出力データを伝送する第5伝送ゲートと、
    前記第5伝送ゲートの出力データをラッチして前記第3データ信号I3として伝送する第5ラッチとを具備することを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリ装置。
  22. 前記データ伝送制御手段は、
    第2状態の第1伝送制御信号C1に応じて前記第1データ信号I1を伝送する第6伝送ゲートと、
    第2状態の第2伝送制御信号C2に応じて前記第2データ信号I2を伝送する第7伝送ゲートと、
    第2状態の第5伝送制御信号C3に応じて前記第3データ信号I3を伝送する第8伝送ゲートと、
    前記第6、第7、第8伝送ゲートの出力データをラッチして出力する第6ラッチとを具備することを特徴とする請求項14に記載の半導体メモリ装置。
  23. 前記制御信号発生手段は、
    第1状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令をラッチし、第2状態のクロック信号に応じて前記ラッチされたデータを第1命令信号W1として出力する第1ライト/リード命令入力レジスタと、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記第1命令信号W1をラッチし、前記第2状態のクロック信号に応じて前記ラッチされたデータを第2命令信号W2として出力する第2ライト/リード命令入力レジスタと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記第2命令信号W2をラッチし、前記第2状態のクロック信号に応じて前記ラッチされたデータを第3命令信号W3として出力する第3ライト/リード命令入力レジスタと、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に前記第1命令信号W1と第2命令信号W2を論理積して前記第1伝送制御信号C1を発生し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に前記第1、第1、及び第3命令信号W1,W2,W3を論理積して前記第1伝送制御信号C1を発生する第1伝送制御信号発生手段と、
    前記第1サイクル後のライト動作遂行時に前記第1命令信号W1と第2命令信号W2の反転信号とを論理積して前記第2伝送制御信号C2を発生し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に前記第1命令信号W1と前記第2命令信号W2並びに第3命令信号W3の排他的論理和した信号とを論理積して前記第2伝送制御信号C2を発生する第2伝送制御信号発生手段と、
    前記2サイクル後のライト動作遂行時に前記第1命令信号W1と前記第2命令信号W2の反転信号と第3命令信号W3の反転信号とを論理積して前記第3伝送制御信号C3を発生する第3伝送制御信号発生手段とを具備することを特徴とする請求項14に記載の半導体メモリ装置。
  24. 前記第1ライト/リード命令入力レジスタは、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第6伝送ゲートと、
    前記第6伝送ゲートの出力データをラッチする第6ラッチと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第7伝送ゲートと、
    前記第7伝送ゲートの出力データをラッチして前記第1命令信号W1として出力する第7ラッチとを具備することを特徴とする請求項23に記載の半導体メモリ装置。
  25. 前記第2ライト/リード命令入力レジスタは、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記第1命令信号W1を伝送する第8伝送ゲートと、
    前記第8伝送ゲートの出力データをラッチする第8ラッチと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第9伝送ゲートと、
    前記第9伝送ゲートの出力データをラッチして前記第2命令信号W2として伝送する第9ラッチとを具備することを特徴とする請求項23に記載の半導体メモリ装置。
  26. 前記第3ライト/リード命令入力レジスタは、
    前記第1状態のクロック信号に応じて前記第2命令信号W2を伝送する第10伝送ゲートと、
    前記第10伝送ゲートの出力データをラッチする第10ラッチと、
    前記第2状態のクロック信号に応じて前記ライト又はリード命令を伝送する第11伝送ゲートと、
    前記第11伝送ゲートの出力データをラッチして前記第3命令信号W3として伝送する第11ラッチと、を具備することを特徴とする請求項23に記載の半導体メモリ装置。
  27. 外部からのリードアドレスはそのまま出力し、1サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを1サイクル遅延して出力し、2サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを2サイクル遅延して出力するアドレス入力制御手段と、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に外部からの1サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル遅延して出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に外部から2サイクル後に入力されるライトデータを0サイクル又は1サイクル又は2サイクル遅延して出力するデータ入力制御手段とを具備し、
    前記アドレス入力制御手段からのリードアドレスに該当する所定数のセルからのデータをリードして、前記1サイクル後のライト動作遂行時はフロースルー方式によりデータを出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行時はパイプライン方式によりデータを出力し、前記アドレス入力制御手段からのライトアドレスに該当する所定数のセルに前記データ入力制御手段からのデータをライトすることを特徴とする半導体メモリ装置のデータ処理方法であって、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると前記0サイクル遅延されたデータを、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力されると前記1サイクル遅延されたデータを前記所定数のセルに伝送し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的に入力されると前記0サイクル遅延されたデータを、ライト命令、リード命令又は非選択、ライトの命令が連続的に入力されるか、リード命令又は非選択、ライト命令、ライトの命令が連続的に入力されると、前記1サイクル遅延されたデータを、リード命令又は非選択、リード命令又は非選択、ライトの命令が連続的に入力されると前記2サイクル遅延されたデータを前記所定数のセルに伝送することを特徴とする半導体メモリ装置のデータ処理方法。
  28. 1サイクル及び2サイクル後のライト動作を行い得る半導体メモリ装置であって、
    外部からのリードアドレスはそのまま出力し、1サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを1サイクル遅延して出力し、2サイクル後のライト動作遂行時にはライトアドレスを2サイクル遅延して出力するアドレス入力制御手段と、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると0サイクル遅延されたデータを伝送し、リード命令又は非選択とライト命令が連続的に入力すると1サイクル遅延されたデータを伝送し、前記2サイクル後のライト動作遂行時に、ライト命令、ライト命令、ライト命令が連続的に入力すると前記0サイクル遅延されたデータを伝送し、ライト命令、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力するか、リード命令又は非選択、ライト命令、ライトの命令が連続的に入力すると、前記1サイクル遅延されたデータを伝送し、リード命令又は非選択、リード命令又は非選択、ライト命令が連続的に入力すると、前記2サイクル遅延されたデータを伝送し、前記アドレス入力制御手段からのライトアドレスに該当するセルに前記伝送されるデータをライトするライト手段と、
    前記アドレス入力制御手段からのリードアドレスに該当するセルからのデータをリードして、前記1サイクル後のライト動作遂行時はフロースルー方式によりデータを出力し、前記2サイクル後のライト動作遂行ときはパイプライン方式によりデータを出力するリード手段とを具備することを特徴とする半導体メモリ装置。
  29. 1サイクル及び2サイクル後のライト動作を行い得る半導体メモリ装置のデータ処理方法であって、
    前記1サイクル後のライト動作遂行時には、ライト命令が連続的に入力する間はライト命令から1サイクル遅延されたデータを順にライトするが、リード命令があると最後のライト命令でライトするデータをライトせずに保持してリード命令を実行しフロースルー方式によりデータを出力し、リード命令後のライト命令で該リード命令の実行後に前記保持された最後のライト命令のデータをライトするよう動作し、
    前記2サイクル後のライト動作遂行時には、ライト命令が連続的に入力する間はライト命令から2サイクル遅延されたデータを順にライトするが、リード命令があると最後の2つのライト命令でライトするデータをライトせずに保持してリード命令を実行しパイプライン方式によりデータを出力し、前記リード命令後のライト命令で前記保持された最後から2番目のライト命令のデータをライトし、その後のライト命令で前記保持された最後のライト命令のデータをライトすることにより、
    リード動作とライト動作の遷移をデッドサイクルなしに行うことを特徴とする半導体メモリ装置のデータ処理方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8164362B2 (en) 2000-02-02 2012-04-24 Broadcom Corporation Single-ended sense amplifier with sample-and-hold reference
AU2001233226A1 (en) * 2000-02-02 2001-08-14 Broadcom Corporation Memory module with hierarchical functionality
US6937538B2 (en) 2000-02-02 2005-08-30 Broadcom Corporation Asynchronously resettable decoder for a semiconductor memory
US6647470B1 (en) * 2000-08-21 2003-11-11 Micron Technology, Inc. Memory device having posted write per command
US7251711B2 (en) * 2002-05-28 2007-07-31 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods having a command sequence
US6938142B2 (en) * 2002-08-28 2005-08-30 Micron Technology, Inc. Multi-bank memory accesses using posted writes
JP2004206850A (ja) * 2002-10-31 2004-07-22 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US9934828B2 (en) * 2016-05-31 2018-04-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Shared sense amplifier and write driver
CN108320771B (zh) * 2018-04-23 2023-10-20 长鑫存储技术有限公司 存储器的写操作控制电路,控制方法及存储器
US11775457B1 (en) * 2021-02-23 2023-10-03 Xilinx, Inc. Command pattern sequencer for memory calibration

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2625277B2 (ja) * 1991-05-20 1997-07-02 富士通株式会社 メモリアクセス装置
JP3304577B2 (ja) * 1993-12-24 2002-07-22 三菱電機株式会社 半導体記憶装置とその動作方法
JP2734957B2 (ja) * 1993-12-24 1998-04-02 日本電気株式会社 半導体記憶回路の制御方法
JP3170146B2 (ja) * 1994-07-29 2001-05-28 株式会社東芝 半導体記憶装置
JPH0883211A (ja) * 1994-09-12 1996-03-26 Mitsubishi Electric Corp データ処理装置
JP3102301B2 (ja) * 1995-05-24 2000-10-23 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
JP3184096B2 (ja) * 1995-08-31 2001-07-09 株式会社東芝 半導体記憶装置
US5838631A (en) * 1996-04-19 1998-11-17 Integrated Device Technology, Inc. Fully synchronous pipelined ram

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