JP4155996B2 - 増幅型固体撮像装置 - Google Patents

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Description

この発明は、画素部に増幅回路を有する増幅型固体撮像装置に関し、より詳しくは、増幅型固体撮像装置の性能向上に関する。
一般に、増幅型固体撮像装置としては、増幅機能を持たせた画素部とその画素部の周辺に配置された走査回路とを有し、その走査回路により画素部から画素データを読み出すものが普及している。
そのような増幅型固体撮像装置の一例としては、画素部が周辺の駆動回路および信号処理回路と一体化するのに有利なCMOS(コンプリメンタリ・メタル・オキサイド・セミコンダクタ)により構成されたAPS(Active Pixel Sensor)型イメージセンサが知られている。APS型イメージセンサの中でも、近年は高画質が得られる4トランジスタ型が主流となりつつある。
図8は、画素部110内に4つのMOS型トランジスタを備えた4トランジスタ型の画素構成を示す図である。ここで、受光部101は、通常埋め込みフォトダイオードで構成され、受光部101から信号電荷蓄積部103(FD)へは転送トランジスタ102により信号電荷が転送される。信号電荷蓄積部103は、受光部101から信号電荷が転送される前に、リセットトランジスタ104により電源電圧Vdにリセットされる。次いで、転送トランジスタ102がオンとなり信号電荷が転送される。リセット後および信号電荷転送後の信号電荷蓄積部103の電位は、増幅トランジスタ105により増幅され、選択トランジスタ106を介して読み出し信号線107に読み出され、末端に接続された定電流負荷111で受けて、後段に出力される。
この画素構成においては、リセット動作時、信号電荷蓄積部103の電位VFDは次式のようになる。
VFD=Vd−Vth ……… (式1)
ここで、Vdはリセットトランジスタ104のドレイン電圧(電源電圧)、Vthはリセットトランジスタ104の閾値電圧であるが、ソース電圧VFD>0のためにバックゲート効果が働き、ソース電圧VFD=0のときの値Vth(0)より高くなる。従って、式1より、一般にリセット電位はドレイン電圧より低くなる。
信号電荷蓄積部103のリセット電位が低い場合、転送トランジスタ102をオンとして、埋め込みフォトダイオード101から信号電荷蓄積部103に電荷転送するときに、両者間の電圧差が不十分となり、完全転送が困難となる。即ち、フォトダイオード101に電荷が残留し、残像が発生する。
そこで、リセット動作時に信号電荷蓄積部の電位を高める手法として、例えば、非特許文献1の方法が提案されている。その非特許文献1に記載された増幅型固体撮像装置の画素構成を図9に示している。図9において、201は受光部、202は転送トランジスタ、211は定電流負荷、212はスイッチトランジスタである。
図9では、選択トランジスタを省いて増幅トランジスタ205のソースが読み出し信号線207に直接接続されている。リセット動作時、リセットトランジスタ204をオンとすることにより、信号電荷蓄積部203電位は短時間で、まず(Vd−Vth)まで上昇する。その後、読み出し信号線207の電位が比較的ゆっくりと上昇し、増幅トランジスタ205のゲート/ソース間容量により、更にαだけ上昇する。即ち、この場合の信号電荷蓄積部203の電位VFDは次式のようになる。
VFD=Vd−Vth+α ……… (式2)
しかしながら、非特許文献1の方法には次の課題が存在する。
上記(式2)において、リセットトランジスタ204の閾値電圧Vthはバックゲート効果のためVth(0)より高くなる。一般には0.8V程度になる。他方、αの値は、増幅トランジスタ205のゲート/ソース間容量および信号電荷蓄積部203の容量に依存するが、非特許文献1の例では0.4V程度である。従って、信号電荷蓄積部203の電位VFDの値は電源電圧Vdを超えることは困難である。
馬渕圭司,外7名,「FD−Driving型CMOSセンサとその低電圧駆動技術」,映像情報メディア学会,2004年3月26日,Vol.28,No.23,PP.35−38
そこで、この発明の課題は、リセット動作時に信号電荷蓄積部の電位を高くして、転送トランジスタがオンとなったときの光電変換素子と信号電荷蓄積部との間の電位差を十分に確保でき、光電変換素子から信号電荷蓄積部への信号電荷の完全転送(=無残像)が容易にできる増幅型固体撮像装置を提供することにある。
上記課題を解決するため、この発明の増幅型固体撮像装置は、
光電変換素子と、上記光電変換素子からの信号電荷を信号電荷蓄積部に転送する転送トランジスタと、上記信号電荷蓄積部の電位をリセットするリセットトランジスタとソース側が読み出し信号線に直接接続され、上記信号電荷蓄積部の電位を増幅して読み出す増幅トランジスタとを有する画素部と、
上記転送トランジスタと上記リセットトランジスタを制御すると共に上記増幅トランジスタのドレイン側電位を制御する制御部と
を備え、
上記制御部は、
上記光電変換素子からの信号電荷を上記信号電荷蓄積部に転送する前に、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を低くして上記読み出し信号線の電位を第1の電位に保持した状態で上記リセットトランジスタを所定期間オンして上記信号電荷蓄積部の電位をリセットした後、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くして上記読み出し信号線の電位を上記第1の電位よりも高い第2の電位にして、上記増幅トランジスタの入力側と上記読み出し信号線側との間の容量を介して上記信号電荷蓄積部の電位をリセット直後の電位よりも高くなるようにし、
上記信号電荷蓄積部の電位をリセット直後の電位よりも高くした状態で上記転送トランジスタをオンして、上記光電変換素子からの信号電荷を上記信号電荷蓄積部に転送することを特徴とする。
上記構成の増幅型固体撮像装置によれば、リセット前において、上記制御部によって、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を低くすることにより、読み出し信号線に直接接続された増幅トランジスタのソース側を低い状態の第1の電位にすることが可能となる。その後、上記制御部によって、リセットトランジスタを所定期間オンして信号電荷蓄積部の電位をリセットした後、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くして増幅トランジスタのドレイン側を高電位とすることにより、読み出し信号線の電位を第1の電位よりも高い第2の電位にすることが可能となる。そうすることにより、上記増幅トランジスタの入力側と出力側(読み出し信号線側)との間の容量を介して、信号電荷蓄積部の電位はリセット直後の電位よりも高くなるようにする。この状態で転送トランジスタをオンすれば、光電変換素子と信号電荷蓄積部(FD)との間の電位差を十分に確保して完全転送を容易にすることが可能となり、それによって、無残像化が実現できる。また、光電変換素子および信号電荷蓄積部それぞれの電圧マージンが拡大することにより、最大取り扱い信号量を拡大して、画素性能を向上できる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、
上記増幅トランジスタのドレイン側と高電位電源側との間に挿入された選択トランジスタを備え、
上記選択トランジスタは上記制御部により制御されることを特徴とする。
上記構成の増幅型固体撮像装置によれば、リセット前において、上記制御部によって、上記選択トランジスタを高電位電源に対してオフとすることにより、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を低くすることにより、読み出し信号線に直接接続された増幅トランジスタのソース側を低い状態の第1の電位にすることが可能となる。その後、上記制御部によって、リセットトランジスタを所定期間オンして信号電荷蓄積部の電位をリセットした後、上記選択トランジスタを高電位とすることにより、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くして増幅トランジスタのドレイン側を高電位電源とすることにより、読み出し信号線の電位を第1の電位よりも高い第2の電位にすることが可能となる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、
上記増幅トランジスタのドレイン側がドレイン信号線に接続され、
上記ドレイン信号線の電位は上記制御部により制御されることを特徴とする。
上記構成の増幅型固体撮像装置によれば、リセット前において、上記制御部によって、上記ドレイン信号線の電位を低くし、増幅トランジスタのドレイン側の電位を低くすることにより、読み出し信号線に直接接続された増幅トランジスタのソース側を低い状態の第1の電位にすることが可能となる。その後、上記制御部によって、リセットトランジスタを所定期間オンして信号電荷蓄積部の電位をリセットした後、上記ドレイン信号線の電位を高くし、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くすることにより、読み出し信号線の電位を第1の電位よりも高い第2の電位にすることが可能となる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記制御部は、上記光電変換素子からの信号電荷を信号電荷蓄積部に転送するために、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くして上記読み出し信号線の電位を上記第2の電位にした後、上記転送トランジスタをオンする。
上記実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、上記制御部によって、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くして上記読み出し信号線の電位を第2の電位にした後、転送トランジスタをオンして光電変換素子からの信号電荷を信号電荷蓄積部に転送することによって、光電変換素子から信号電荷蓄積部への電荷転送を完全化できる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記読み出し信号線と低電位電源側との間に接続された負荷を備えている。
上記実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、上記読み出し信号線が低電位電源側に負荷を介して接続されているので、増幅トランジスタにより増幅された信号電荷蓄積部の電位に相当する読み出し信号が読み出し信号線に出力される。
更にまた、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記制御部は、上記リセットトランジスタをオンするときに上記選択トランジスタをオフ状態にして上記増幅トランジスタのドレイン側電位を低くし、上記読み出し信号線の電位を上記第1の電位にした後、上記選択トランジスタをオンすることにより上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くし、上記読み出し信号線の電位を上記第2の電位とする。
上記実施形態によれば、リセット前において、増幅トランジスタのドレイン側を高電位電源に対してオフ状態にすることにより、読み出し信号線に接続された増幅トランジスタのソース側電位を低い状態にし、上記読み出し信号線の電位を第1の電位にすることが可能となると共に、リセット後、増幅トランジスタのドレイン側を高電位電源に対してオン状態とすることにより、読み出し信号線の電位を第1の電位よりも高い電位にすることが可能となる。
更にまた、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記制御部は、上記リセットトランジスタをオンするときに上記ドレイン信号線の電位を低くして、上記読み出し信号線の電位を上記第1の電位にした後、上記ドレイン信号線電位を高くして、上記読み出し信号線の電位を上記第2の電位とする。
上記実施形態によれば、リセット前において、上記ドレイン信号線の電位を低くすることにより、読み出し信号線に接続された増幅トランジスタのソース側電位を低い状態にし、上記読み出し信号線の電位を第1の電位にすることが可能となると共に、リセット後、上記ドレイン信号線の電位を高くすることにより、増幅トランジスタのドレイン側を高い電位とし、読み出し信号線の電位を第1の電位よりも高い電位にすることが可能となる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記信号電荷蓄積部と上記読み出し信号線との間にキャパシタンス要素が挿入されている。
上記実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、上記増幅トランジスタのゲート/ソース間容量に加えて上記キャパシタンス要素による容量が付加されるために増幅トランジスタの入力側と出力側(読み出し信号線側)との間の容量が増大し、読み出し信号線の電位上昇時に、信号電荷蓄積部の電位がリセット時の電位から高められる効果が増大する。このため、光電変換素子から信号電荷蓄積部への電荷転送を完全化(=無残像化)することを一層容易にする。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記リセットトランジスタがデプレッション型のMOS型トランジスタである。
上記実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、上記リセットトランジスタにデプレッション型のMOS型トランジスタを用いることによって、読み出し信号線の電位が低い第1の電位にて信号電荷蓄積部をリセットするとき、信号電荷蓄積部の電位は電源電圧まで高めることが可能となる。従ってその後、読み出し信号線の電位を第1の電位よりも高い第2の電位にすると、信号電荷蓄積部の電位は電源電圧よりも高い値まで高めることが可能となる。このため、光電変換素子から信号電荷蓄積部への電荷転送を完全化(=無残像化)することに一段と有利となる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記選択トランジスタがデプレッション型のMOS型トランジスタである。
上記実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、上記選択トランジスタにデプレッション型のMOS型トランジスタを用いることによって、信号電荷蓄積部の電位が電源電圧よりも高い値まで高められても、増幅トランジスタがエンハンスメント型であれば、増幅トランジスタの出力電圧範囲全体に渡り、選択トランジスタにより増幅トランジスタをスイッチングすることが可能となる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記読み出し信号線と上記負荷との間に設けられたスイッチトランジスタを備えている。
上記実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、上記選択トランジスタがデプレッション型のMOS型トランジスタで上記スイッチトランジスタがない場合、非選択状態においても高電位電源側と低電位電源側との間に上記負荷を介してリーク電流が生じるが、この実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、非選択時にスイッチトランジスタをオフとすることにより、上記負荷を介して流れるリーク電流を抑えることが可能となる。
また、一実施形態の増幅型固体撮像装置では、上記光電変換素子が埋め込み型のフォトダイオードである。
上記実施形態の増幅型固体撮像装置によれば、光電変換素子から信号電荷蓄積部に電荷転送するとき、埋め込み型のフォトダイオードは完全空乏化され、転送を完全化することが容易となり、高画質の画像を得ることができる。
以上より明らかなように、この発明の増幅型固体撮像装置によれば、リセット動作時に信号電荷蓄積部の電位を電源電圧よりも高くすることができ、転送トランジスタがオンとなったときの埋め込みフォトダイオードと信号電荷蓄積部(FD)との間の電位差を十分に確保して、光電変換素子から信号電荷蓄積部への信号電荷の完全転送(=無残像)が容易にできる増幅型固体撮像装置を提供することにある。
以下、この発明の増幅型固体撮像装置を図示の実施の形態により詳細に説明する。
(第1実施形態)
図1は、この発明の第1実施形態の増幅型固体撮像装置の要部を示す回路図である。この第1実施形態の増幅型固体撮像装置は、マトリックス状に配列された複数の画素部10と、上記画素部10を制御する制御部の一例としての走査回路20とを備えている。図1では、画素部10は1つのみを示す。上記画素部10および走査回路20を半導体基板(図示せず)上に形成している。
上記画素部10は、光電変換素子の一例として埋め込み型のフォトダイオード1と、上記フォトダイオード1からの信号電荷を転送する転送トランジスタ2と、上記転送トランジスタ2から転送されたフォトダイオード1の信号電荷を蓄積する信号電荷蓄積部3と、上記信号電荷蓄積部3の電位をリセットするリセットトランジスタ4と、上記信号電荷蓄積部3の電位を増幅して読み出す増幅トランジスタ5と、上記増幅トランジスタ5と高電位電源側である電源電圧Vdとの間に挿入された選択トランジスタ6とを有している。
上記増幅トランジスタ5により増幅された信号電荷蓄積部3の電位を、増幅トランジスタ5の出力側に直接接続された読み出し信号線7に出力する。上記フォトダイオード1のアノードをグランドに接続し、フォトダイオード1のカソードを転送トランジスタ2の一端に接続している。上記転送トランジスタ2の他端を信号電荷蓄積部3に接続し、転送トランジスタ2のゲートに転送制御信号線23を接続している。上記信号電荷蓄積部3にリセットトランジスタ4のソースが接続され、リセットトランジスタ4のドレインを高電位電源側である電源電圧Vdに接続している。上記リセットトランジスタ4のゲートにリセット信号線22を接続している。また、上記信号電荷蓄積部3に増幅トランジスタ5のゲートを接続し、増幅トランジスタ5のソースを読み出し信号線7に接続している。また、増幅トランジスタ5のドレインに選択トランジスタ6のソースを接続し、選択トランジスタ6のドレインに電源電圧Vdを印加している。上記選択トランジスタ6のゲートに選択制御信号線21を接続している。
上記読み出し信号線7の一端と低電位電源側であるグランドとの間に定電流負荷11を接続している。この定電流負荷11は、ベースにバイアス電圧Vcが印加されたエンハンスメント型のMOSトランジスタである。
上記リセットトランジスタ4と転送トランジスタ2と増幅トランジスタ5および選択トランジスタ6は、エンハンスメント型のMOSトランジスタである。また、上記信号電荷蓄積部3は、半導体基板(図示せず)上に形成された浮遊拡散領域である。
また、上記走査回路20は、選択制御信号SEL,リセット信号RSTおよび転送制御信号TXを出力する。上記選択トランジスタ6のゲートに選択制御信号線21を介して選択制御信号SELを入力する。また、上記リセットトランジスタ4のゲートにリセット信号線22を介してリセット信号RSTを入力する。また、上記転送トランジスタ2のゲートに転送制御信号線23を介して転送制御信号TXを入力する。
ここで画素部10は、図8に示した従来の増幅型固体撮像装置の構成に比べ、選択トランジスタ6が増幅トランジスタ5の高電位電源側(Vd)に接続されている点が異なっている。また、信号電荷蓄積部3(FD)と読み出し信号線7との間にキャパシタンス8が付加されていても良い。
図2は図1に示す増幅型固体撮像装置の各駆動パルスのタイミングを示している。
まず、時刻t1において、リセット信号RSTがローレベルからハイレベルとなってリセットトランジスタ4がオンし、信号電荷蓄積部3の電位は電源電圧Vd付近まで高められる。
次に、時刻t2でリセット信号RSTがハイレベルからローレベルとなってリセットトランジスタ4がオフしても、その信号電荷蓄積部3の電位は保持される。
また、時刻t3以前において、選択制御信号SELはローレベルで選択トランジスタ6がオフ状態であるため、読み出し信号線7の電位Voutは、第1の電位の一例としての接地電位(GND)に近い電位Vgに保持されている。
次に、時刻t3になると、選択制御信号SELがローレベルからハイレベルとなって選択トランジスタ6がオンするため、読み出し信号線7の電位Voutは、第2の電位の一例としてのリセットレベルVrstまでΔV上昇する。これに伴い、信号電荷蓄積部3電位はkΔVだけ上昇する。kの値は次式で表される。
k=(Cgs+C8)/(Cfd+Cgs+C8) ……… (式3)
ここで、Cfd:信号電荷蓄積部3全体の容量、
Cgs:増幅トランジスタ5のゲート/ソース間容量、
C8:キャパシタンス8の容量
である。キャパシタンス8が無い場合はC8=0である。
この動作では、時刻t3直前において、増幅トランジスタ5のゲート電位は電源電圧Vd付近と高く、増幅トランジスタ5のソース電位は接地電位(GND)付近と低い。従って、増幅トランジスタ5のチャネルが形成された状態であり、Cgsはほぼ増幅トランジスタ5のゲート全体の容量である。従って、キャパシタンス8が無くてもkの値を十分確保することができ、キャパシタンス8が有れば一層kの値を増大できる。なお、キャパシタンス8は、配線間容量等、レイアウトの工夫により形成しても良い。
信号電荷蓄積部3の電位が電源電圧Vdよりも高い状態となった期間Trにおいて、読み出し信号線7のリセットレベルVrstを読み出す。 次に、時刻t4で転送トランジスタ2をオンすれば、埋め込み型のフォトダイオード1と信号電荷蓄積部3との間の電位差を十分に確保でき、完全転送(=無残像)を容易にすることが可能となる。
次に、時刻t5で転送トランジスタ2が閉じると、電荷量に応じて信号電荷蓄積部3の電位が変化し、それに対応して出力信号が変化するから、期間Ts(t5〜t6)で読み出し信号線7の信号レベルVsigを読み出す。
上記構成の増幅型固体撮像装置によれば、リセット前において、転送トランジスタ2,リセットトランジスタ4および選択トランジスタ6をオフして増幅トランジスタ5のドレイン側を高電位電源に対してオフ状態にすることにより、読み出し信号線7に接続された増幅トランジスタ5のソース側を低い状態の第1の電位(電位Vg)にすることが可能となる。また、その後、リセットトランジスタ4を所定期間(t1〜t2の間)オンして信号電荷蓄積部3の電位をリセットした後、選択トランジスタ6をオンして増幅トランジスタ5のドレイン側を高電位電源に対してオン状態とすることにより、読み出し信号線7の電位をよりも高い第2の電位(リセットレベルVrst)にすることが可能となる。そうすることにより、上記増幅トランジスタ5の入力側と出力側(読み出し信号線7側)との間の容量を介して、信号電荷蓄積部3の電位をリセット直後の第1の電位(電位Vg)よりも高くする。この状態で転送トランジスタ2をオンすれば、フォトダイオード1と信号電荷蓄積部3との間の電位差を十分に確保して完全転送を容易にすることが可能となり、それによって、無残像化を実現することができる。また、フォトダイオード1および信号電荷蓄積部3それぞれの電圧マージンが拡大することにより、最大取り扱い信号量を拡大して、画素性能を向上できる。
また、上記制御部によって、上記選択トランジスタ6をオンして読み出し信号線7の電位を第2の電位(リセットレベルVrst)にした後、転送トランジスタ2をオンしてフォトダイオード1からの信号電荷を信号電荷蓄積部3に転送することによって、フォトダイオード1から信号電荷蓄積部3への電荷転送を完全化することができる。
また、上記読み出し信号線7が低電位電源側に定電流負荷11を介して接続されているので、増幅トランジスタ5により増幅された信号電荷蓄積部3の電位に相当する読み出し信号が読み出し信号線7に出力される。
また、上記増幅トランジスタ5のゲート/ソース間容量に加えてキャパシタンス8による容量が付加されるために増幅トランジスタ5の入力側と出力側(読み出し信号線7側)との間の容量が増大し、読み出し信号線7の電位上昇時に、信号電荷蓄積部3の電位がリセット時の電位から高められる効果が増大する。このため、フォトダイオード1から信号電荷蓄積部3への電荷転送を完全化(=無残像化)することが一層容易になる。
また、上記埋め込み型のフォトダイオード1を用いることによって、フォトダイオード1から信号電荷蓄積部3への電荷転送を完全化することが容易となり、さらにフォトダイオード1で発生する暗電流を低減することが可能となって、高画質の画像を得ることができる。
(第2実施形態)
図3は、この発明の第2実施形態の増幅型固体撮像装置の要部を示すタイミング図である。ここで対象となる画素部の回路図は、第1実施形態の図1に示す増幅型固体撮像装置の画素部と同じである。
この第2実施形態の増幅型固体撮像装置において、タイミングで第1実施形態の図2に示すタイミング図と異なるのは、リセット信号RSTが、時刻t2までおよび時刻t7以降をハイレベルに固定している点、即ち時刻t2〜t7のみローレベルとしている点である。図3では、時刻t1〜t8では図2と同じであるため、この期間の動作は図2と同様である。更に、図3の場合には、非読出し期間となる時刻t1までおよび時刻t8以降において、リセットトランジスタ4は常時オンのため、信号電荷蓄積部3(FD)の電位は電源電圧Vdに固定される。このため、フォトダイオード1に過大な入射光があった場合などに、フォトダイオード1で発生した過剰な信号電荷は、まず転送トランジスタ2を介して信号電荷蓄積部3(FD)へ流入するが、上記のように信号電荷蓄積部3(FD)の電位は電源電圧Vdに固定されているため、速やかに電源電圧Vdに排出され、過剰な信号電荷が排出されず周囲へ溢れるブルーミング現象が防止される効果がある。
(第3実施形態)
図4は、この発明の第3実施形態の増幅型固体撮像装置の要部を示す回路図である。この第3実施形態の増幅型固体撮像装置は、リセットトランジスタ14および選択トランジスタ16がデプレッション型のMOS型トランジスタである点、読み出し信号線7と定電流負荷11との間にスイッチトランジスタ12を設けた点、および走査回路40を除いて第1実施形態の増幅型固体撮像装置と同一の構成をしている。
図4に示すように、この第3実施形態の増幅型固体撮像装置は、マトリックス状に配列された複数の画素部30と、上記画素部30を制御する制御部の一例としての走査回路40とを備えている。図4では、画素部30は1つのみを示す。上記画素部30および走査回路40を半導体基板(図示せず)上に形成している。
上記画素部30は、光電変換素子の一例として埋め込み型のフォトダイオード1と、上記フォトダイオード1からの信号電荷を転送する転送トランジスタ2と、上記転送トランジスタ2から転送されたフォトダイオード1の信号電荷を蓄積する信号電荷蓄積部3と、上記信号電荷蓄積部3の電位をリセットするリセットトランジスタ14と、上記信号電荷蓄積部3の電位を増幅して読み出す増幅トランジスタ5と、上記増幅トランジスタ5と高電位電源側との間に挿入された選択トランジスタ16とを有している。
上記増幅トランジスタ5により増幅された信号電荷蓄積部3の電位を、増幅トランジスタ5の出力側に直接接続された読み出し信号線7に出力する。上記フォトダイオード1のアノードをグランドに接続し、フォトダイオード1のカソードを転送トランジスタ2の一端に接続している。上記転送トランジスタ2の他端を信号電荷蓄積部3に接続し、転送トランジスタ2のゲートに転送制御信号線23を接続している。上記信号電荷蓄積部3にリセットトランジスタ14のソースが接続され、リセットトランジスタ14のドレインを電源電圧Vdに接続している。上記リセットトランジスタ14のゲートにリセット信号線22を接続している。また、上記信号電荷蓄積部3に増幅トランジスタ5のゲートを接続し、増幅トランジスタ5のソースを読み出し信号線7に接続している。また、選択トランジスタ16のドレインに電源電圧Vdを印加している。
上記読み出し信号線7の一端とグランドとの間にスイッチトランジスタ12と定電流負荷11を接続している。この定電流負荷11は、ベースにバイアス電圧Vcが印加されたエンハンスメント型のMOSトランジスタである。
上記転送トランジスタ2と増幅トランジスタ5は、エンハンスメント型のMOSトランジスタであり、リセットトランジスタ14と選択トランジスタ16はデプレッション型のMOS型トランジスタである。また、上記信号電荷蓄積部3は、半導体基板(図示せず)上に形成された浮遊拡散領域である。
また、上記走査回路20は、選択制御信号SEL,リセット信号RST,転送制御信号TXおよびスイッチ制御信号SWを出力する。上記選択トランジスタ16のゲートに選択制御信号線21を介して選択制御信号SELを入力する。また、上記リセットトランジスタ14のゲートにリセット信号線22を介してリセット信号RSTを入力する。また、上記転送トランジスタ2のゲートに転送制御信号線23を介して転送制御信号TXを入力する。さらに、上記スイッチトランジスタ12のスイッチ制御信号線24を介してスイッチ制御信号SWを入力する。
図5は図4に示す増幅型固体撮像装置の各駆動パルスのタイミングを示している。
まず、時刻t0以前と時刻t9以降では、スイッチ制御信号SWをローレベルとし、スイッチトランジスタ12がオフとなる。このとき、選択トランジスタ16がデプレッション型のMOS型トランジスタであっても、スイッチトランジスタ12をオフすることによって、選択トランジスタ16がオフにおいて、高電位電源側と低電位電源側との間での定電流負荷11を介してのリーク電流が流れることは無い。
時刻t0になると、選択トランジスタ16がオフの状態で、スイッチ制御信号SWがローレベルからハイレベルとなって、スイッチトランジスタ12がオンすることにより、読み出し信号線7の電位Voutは接地電位(GND)付近の低い電位Vgとなる。
次に、時刻t1になると、リセット信号RSTがローレベルからハイレベルとなってリセットトランジスタ14がオンになる。このとき、リセットトランジスタ14がデプレッション型であるため、信号電荷蓄積部3の電位は電源電圧Vdまで高められる。
次に、時刻t3になると、選択制御信号SELがローレベルからハイレベルとなって選択トランジスタ16がオンとなるため、読み出し信号線7の電位VoutはリセットレベルVrstまでΔV上昇する。これに伴い、信号電荷蓄積部3の電位は、電源電圧VdからkΔVだけ上昇する。
増幅トランジスタ5はエンハンスメント型であり、そのゲート電位が電源電圧より高くなるため、もし選択トランジスタ16がエンハンスメント型であると、選択トランジスタ16のゲート電位を電源まで上げても十分オンしなくなる。これに対して、この第3実施形態の増幅型固体撮像装置では、選択トランジスタ16にデプレッション型のMOS型トランジスタを用いているため、増幅トランジスタ5の入力が電源電圧Vd以上であってもオンさせることが可能となる。
また、上記リセットトランジスタ14にデプレッション型のMOS型トランジスタを用いることによって、読み出し信号線7の電位が低い第1の電位(電位Vg)にて信号電荷蓄積部3をリセットするとき、信号電荷蓄積部3の電位は電源電圧まで高めることが可能となる。従って、その後、読み出し信号線7の電位を第1の電位(電位Vg)よりも高い第2の電位(リセットレベルVrst)にすると、信号電荷蓄積部3の電位は電源電圧よりも高い値まで高めることが可能となる。このため、埋め込みフォトダイオード1から信号電荷蓄積部3への電荷転送を完全化(=無残像化)することに一段と有利となる。
また、上記選択トランジスタ16にデプレッション型のMOS型トランジスタを用いることによって、信号電荷蓄積部3の電位が電源電圧よりも高い値まで高められても、増幅トランジスタ5がエンハンスメント型であれば、増幅トランジスタ5の出力電圧範囲全体に渡り、選択トランジスタ16により増幅トランジスタ5をスイッチングすることが可能となる。
また、上記読み出し信号線07と定電流負荷11との間に設けられたスイッチトランジスタ12を備えていることによって、選択トランジスタ16がデプレッション型のMOS型トランジスタの場合、非選択状態においてスイッチトランジスタ12をオフとすることにより、定電流負荷11を介して流れるリーク電流を抑えることができる。
(第4実施形態)
図6はこの発明の第4実施形態の増幅型固体撮像装置の要部の回路図を示しており、図7は上記増幅型固体撮像装置のタイミングを示している。
この第4実施形態の増幅型固体撮像装置の画素部50は図1に比べて、選択トランジスタ6が無いこと、および増幅トランジスタ5のドレイン側がドレイン信号線25に接続されていることが異なる。ここで、走査回路60によって、ドレイン信号線25のドレイン信号PVdの動作波形を図7に示すタイミングで駆動することにより、増幅トランジスタ5のドレイン側は、図1および図2の場合と同様の動作となる。従って、選択トランジスタ6が無いにもかかわらず、第1実施形態の図1および図2の場合と同様の効果が可能となる。
上記第1〜第4実施形態では、光電変換素子の一例として埋め込み型のフォトダイオード1を用いた増幅型固体撮像装置について説明したが、光電変換素子はこれに限らない。
また、上記第1〜第4実施形態では、マトリックス状に複数の画素部が配列された増幅型固体撮像装置について説明したが、行方向または列方向に1列に配列された増幅型固体撮像装置にこの発明を適用してもよい。
図1はこの発明の第1実施形態の増幅型固体撮像装置の要部を示す回路図である。 図2は図1に構成を示す増幅型固体撮像装置のタイミングを示す図である。 図3はこの発明の第2実施形態として、図1に構成を示す増幅型固体撮像装置の別のタイミングを示す図である。 図4はこの発明の第3実施形態の増幅型固体撮像装置の要部を示す回路図である。 図5は図4に構成を示す増幅型固体撮像装置のタイミングを示す図である。 図6はこの発明の第4実施形態の増幅型固体撮像装置の要部を示す回路図である。 図7は図6に構成を示す第4実施形態の増幅型固体撮像装置のタイミングを示す図である。 図8は従来の増幅型固体撮像装置の要部を示す回路図である。 図9は従来の別の増幅型固体撮像装置の要部を示す回路図である。
符号の説明
1…埋め込み型のフォトダイオード
2…転送トランジスタ
3…信号電荷蓄積部
4,14…リセットトランジスタ
5…増幅トランジスタ
6,16…選択トランジスタ
7…読み出し信号線
10,30,50…画素部
20,40,60…走査回路

Claims (12)

  1. 光電変換素子と、上記光電変換素子からの信号電荷を信号電荷蓄積部に転送する転送トランジスタと、上記信号電荷蓄積部の電位をリセットするリセットトランジスタとソース側が読み出し信号線に直接接続され、上記信号電荷蓄積部の電位を増幅して読み出す増幅トランジスタとを有する画素部と、
    上記転送トランジスタと上記リセットトランジスタを制御すると共に上記増幅トランジスタのドレイン側電位を制御する制御部と
    を備え、
    上記制御部は、
    上記光電変換素子からの信号電荷を上記信号電荷蓄積部に転送する前に、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を低くして上記読み出し信号線の電位を第1の電位に保持した状態で上記リセットトランジスタを所定期間オンして上記信号電荷蓄積部の電位をリセットした後、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くして上記読み出し信号線の電位を上記第1の電位よりも高い第2の電位にして、上記増幅トランジスタの入力側と上記読み出し信号線側との間の容量を介して上記信号電荷蓄積部の電位をリセット直後の電位よりも高くなるようにし、
    上記信号電荷蓄積部の電位をリセット直後の電位よりも高くした状態で上記転送トランジスタをオンして、上記光電変換素子からの信号電荷を上記信号電荷蓄積部に転送することを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  2. 請求項1に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記増幅トランジスタのドレイン側と高電位電源側との間に挿入された選択トランジスタを備え、
    上記選択トランジスタは上記制御部により制御されることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  3. 請求項1に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記増幅トランジスタのドレイン側がドレイン信号線に接続され、
    上記ドレイン信号線の電位は上記制御部により制御されることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  4. 請求項1に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記制御部は、上記光電変換素子からの信号電荷を信号電荷蓄積部に転送するために、上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くして上記読み出し信号線の電位を上記第2の電位にした後、上記転送トランジスタをオンすることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  5. 請求項1に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記読み出し信号線と低電位電源側との間に接続された負荷を備えたことを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  6. 請求項2に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記制御部は、上記リセットトランジスタをオンするときに上記選択トランジスタをオフ状態にして上記増幅トランジスタのドレイン側電位を低くし、上記読み出し信号線の電位を上記第1の電位にした後、上記選択トランジスタをオンすることにより上記増幅トランジスタのドレイン側電位を高くし、上記読み出し信号線の電位を上記第2の電位とすることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  7. 請求項3に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記制御部は、上記リセットトランジスタをオンするときに上記ドレイン信号線の電位を低くして、上記読み出し信号線の電位を上記第1の電位にした後、上記ドレイン信号線電位を高くして、上記読み出し信号線の電位を上記第2の電位とすることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  8. 請求項1に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記信号電荷蓄積部と上記読み出し信号線との間にキャパシタンス要素が挿入されていることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  9. 請求項1に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記リセットトランジスタがデプレッション型のMOS型トランジスタであることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  10. 請求項2に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記選択トランジスタがデプレッション型のMOS型トランジスタであることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  11. 請求項5に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記読み出し信号線と上記負荷との間に設けられたスイッチトランジスタを備えたことを特徴とする増幅型固体撮像装置。
  12. 請求項1に記載の増幅型固体撮像装置において、
    上記光電変換素子が埋め込み型のフォトダイオードであることを特徴とする増幅型固体撮像装置。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009253559A (ja) * 2008-04-03 2009-10-29 Sharp Corp 固体撮像装置および電子情報機器
JP5258416B2 (ja) * 2008-06-27 2013-08-07 パナソニック株式会社 固体撮像装置
JP5446282B2 (ja) * 2009-01-21 2014-03-19 ソニー株式会社 固体撮像素子およびカメラシステム
JP2011044879A (ja) * 2009-08-20 2011-03-03 Toshiba Corp 固体撮像装置およびその駆動方法
US20130113768A1 (en) * 2010-07-27 2013-05-09 Sharp Kabushiki Kaisha Display device and drive method for same
JP5677103B2 (ja) * 2011-01-20 2015-02-25 富士フイルム株式会社 固体撮像素子、固体撮像素子の駆動方法、撮像装置
WO2014024348A1 (ja) * 2012-08-09 2014-02-13 パナソニック株式会社 固体撮像装置
US9491386B2 (en) * 2014-12-03 2016-11-08 Omnivision Technologies, Inc. Floating diffusion reset level boost in pixel cell
JP6551882B2 (ja) 2015-06-08 2019-07-31 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置および信号処理回路
TWI701819B (zh) * 2015-06-09 2020-08-11 日商索尼半導體解決方案公司 攝像元件、驅動方法及電子機器
US10341592B2 (en) 2015-06-09 2019-07-02 Sony Semiconductor Solutions Corporation Imaging element, driving method, and electronic device
JP2017027972A (ja) * 2015-07-15 2017-02-02 シャープ株式会社 固体撮像装置および電子情報機器
KR101685077B1 (ko) * 2015-08-18 2016-12-09 연세대학교 산학협력단 작은 크기의 픽셀에 사용 가능한 선형성을 증가시킨 픽셀 통합 개회로 증폭기
US10103187B2 (en) * 2015-12-17 2018-10-16 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor color correction
JP7063651B2 (ja) * 2018-02-19 2022-05-09 エイブリック株式会社 信号検出回路及び信号検出方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997007629A1 (fr) * 1995-08-11 1997-02-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Dispositif semi-conducteur mos pour effectuer une saisie d'image
JP4537271B2 (ja) 2000-02-28 2010-09-01 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム
JP3796412B2 (ja) 2000-02-28 2006-07-12 キヤノン株式会社 撮像装置
JP3558589B2 (ja) * 2000-06-14 2004-08-25 Necエレクトロニクス株式会社 Mos型イメージセンサ及びその駆動方法
JP2003101004A (ja) 2001-09-25 2003-04-04 Toshiba Corp 固体撮像装置及びその製造方法
JP4161855B2 (ja) * 2003-09-10 2008-10-08 ソニー株式会社 固体撮像装置、駆動制御方法及び駆動制御装置
JP3951994B2 (ja) 2003-09-16 2007-08-01 ソニー株式会社 固体撮像装置およびカメラシステム
JP4194544B2 (ja) 2003-12-05 2008-12-10 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法
JP4074599B2 (ja) * 2004-03-26 2008-04-09 シャープ株式会社 増幅型固体撮像装置
JP2006019343A (ja) 2004-06-30 2006-01-19 Pentax Corp 固体撮像素子

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