JP4122785B2 - 発光素子 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は窒化物半導体発光素子に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、窒化物半導体を用いて構成された発光ダイオード(窒化物半導体発光ダイオード)が、主として青色発光ダイオードとして広く用いられるようになって来ている。この窒化物半導体発光ダイオードは、例えば、サファイア基板上にn型窒化物半導体層、InGaNなどからなる活性層及びp型窒化物半導体層を積層して、活性層及びp型窒化物半導体層の一部を除去して露出させたn型窒化物半導体層の上にn側のオーミック電極を形成し、p型窒化物半導体層の上にp側のオーミック電極を形成することにより構成されている。また、この窒化物半導体発光ダイオードにおいては、n型窒化物半導体層に比べてp型窒化物半導体層の抵抗値が高いために、p側のオーミック電極はp型窒化物半導体層のほぼ全面に形成することにより電流を効率良く活性層全体に注入するように構成されている。
【0003】
以上のように構成された窒化物半導体発光ダイオードにおいて、活性層において発光した光はサファイア基板が透光性を有することを利用して基板側から出射させることもできるし、p側のオーミック電極を薄くして透光性を有するようにしてその透光性を有するp側のオーミック電極を介して出射させるように構成することもできる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の窒化物半導体発光ダイオードは活性層において発光した光を効率よく外部に出射することができないという問題点があった。
そこで、本発明は活性層において発光した光を効率よく出射できる窒化物半導体発光ダイオードを提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
以上の目的を達成するために、本発明に係る発光素子は、基板上に、n側の窒化物半導体層と活性層とp側の窒化物半導体層を順に有し、p側の窒化物半導体層及び活性層の一部が除去されて露出されたn側の窒化物半導体層上にn側の電極を備え、上記p側の窒化物半導体層上にそのp側の窒化物半導体層とオーミック接触するオーミック電極を備えた発光素子において、
反射構造を備え、その反射構造は、上記オーミック電極を透光性オーミック電極とし、上記オーミック電極と、該オーミック電極上に開口部を有しかつ、上記発光素子の全体を覆うように形成された透光性絶縁膜と、その透光性オーミック電極を透光性絶縁膜を介して覆うことにより上記開口部において上記オーミック電極と電気的に接続されかつ、上記透光性絶縁膜を介して上記オーミック電極上のみに形成された反射層と、により構成され、かつ上記反射層はAl、Ag及びRhからなる群から選択された1つからなることを特徴とする。
以上のように構成された本発明に係る発光素子は、上記反射層によって光を反射させて、所望の方向に光を効率よく出射させることができる。
【0006】
上記発光素子は、上記p側の半導体層としてp型窒化物半導体層からなるp型コンタクト層を含み、そのp型コンタクト層に上記透光性オーミック電極が形成されたものでもよい。
【0007】
上記透光性絶縁膜は、反射率を高くするために、屈折率の低い材料であるSiO2からなることが好ましい。
【0008】
上記透光性絶縁膜の膜厚は、その絶縁膜を精度良くパターンニングするために、3μm以下であることが好ましい。
【0009】
上記反射層の膜厚は、0.05μm〜1μmの範囲に設定されたことが好ましい。
【0010】
上記透光性絶縁膜は開口部を有し、その開口部を介して上記オーミック電極と上記反射層とが電気的に接続されていいてもよい。
このようにすると、上記反射層の表面にパッド電極を形成することができる。
この場合、上記パッド電極は上記開口部の上に位置することが好ましい。
また、上記発光素子は矩形であって、上記矩形の1つの隅部において、扇形にn側の窒化物半導体層が露出されていてもよい。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明に係る実施の形態の窒化物半導体発光素子について説明する。
本発明に係る実施の形態1の窒化物半導体発光素子は、図1及び図2に示すように、例えば、サファイアからなる基板10上に、バッファ層11を介してn側の窒化物半導体層20、活性層30、p側の窒化物半導体層40を順次成長させ、n側及びp側の電極を形成することにより構成されている。
ここで、本実施の形態の窒化物半導体発光素子では、特に、p側の窒化物半導体層40(p型コンタクト層42)上のほぼ全面に透光性のp側オーミック電極53を形成し、さらにそのオーミック電極53の上に絶縁膜2を介して覆うように、Al又はAgからなる反射層1を形成したことを特徴とし、これにより、p側における反射率を向上させることを可能にし、基板側又は基板側面から出力される光の取り出し効率を向上させている。
尚、本実施の形態の窒化物半導体発光素子において、n側の電極は従来と同様、p側の窒化物半導体層40及び活性層30の一部を除去して露出させたn側の窒化物半導体層20(n型コンタクト層21)上に形成している。
【0012】
以下、本実施の形態の窒化物半導体発光素子の構成及び製造方法について詳細に説明する。
本実施の形態において、窒化物半導体発光素子の半導体積層構造は、以下のように構成する。
すなわち、サファイア基板10上に、
低温バッファ層であるAlGaN層11、
SiドープのGaNからなり、n電極が形成されるn型コンタクト層21(例えば、厚さ約2μm)、
n型AlGaNからなるn型クラッド層22、
ノンドープのInGaN井戸層を含む(例えば、厚さ約30Å)単一又は多重量子井戸構造の発光層30、
p型AlGaNからなるp型クラッド層41、
MgがドープされたGaNからなるp型コンタクト層42(例えば、厚さ約1200Å)を順に成膜する。
【0013】
また、電極構造は以下のように構成する。
本実施の形態の窒化物半導体発光素子において、n側のオーミック電極51は従来と同様、p側の窒化物半導体層40及び活性層30の一部を除去して露出させたn側の窒化物半導体層20(n型コンタクト層21)上に形成する。
尚、本実施の形態の窒化物半導体発光素子では、図1に示すように、矩形の窒化物半導体発光素子の1つの隅部において、扇形にp側の窒化物半導体層40及び活性層30をn型コンタクト層21の表面を露出させるようにエッチングにより除去してその露出させたn型コンタクト層21の表面にn側のオーミック電極51を形成し、その上にパッド電極52を形成している。
また、n側のオーミック電極51は厚さ100ÅのTi層と厚さ5000ÅのAl層の2層で構成することにより、n型の窒化物半導体からなるn型コンタクト層21と良好なオーミック接触を得ることができる。
また、n側のオーミック電極51では、Ti層に代えてW層を形成することもできる。
【0014】
本実施の形態の窒化物半導体発光素子において、p側のオーミック電極53は、p型コンタクト層42のほぼ全面に透光性を有するように形成される。このp側のオーミック電極53は、例えば、厚さ100ÅのNi層と厚さ100ÅのAu層の2層で構成することができ、このように構成することによりp型コンタクト層42とオーミック接触可能で、かつ透光性を有するp側のオーミック電極53を形成することができる。また、p型コンタクト層42とオーミック接触可能でかつ透光性を有するp側のオーミック電極53としては、上述のNi−Au電極のほか、Ni−Pt電極、Co−Au電極を用いることもできる。
【0015】
また、透光性絶縁膜2は、窒化物半導体発光素子全体を覆うように形成され、n側のオーミック電極51の上に開口部2aを有し、n側のオーミック電極51と対角をなす隅部におけるp側のオーミック電極53上に開口部2bを有している。この透光性絶縁膜2は、少なくとも発光波長に対して透明であることを特徴とし、例えば、SiO2、Al2O3、SiN、TiO2、ZrO2等で構成することができる。また、この透光性絶縁膜2の材料として、特に好ましいものはSiO2とTiO2であり、これは上記例示した材料の中でも特に反射率を高くできるからである。さらに最も好ましいものはSiO2である。この理由は最も反射率が高くできるということだけではなく、安定性に優れているので信頼性を高くできるからである。また、透光性絶縁膜2の膜厚は、発光波長以上、3μm以下の範囲に設定することが好ましく、発光波長以上とすることで、反射層との境界で高い反射が実現でき、また、3μm以下にすることで、透光性絶縁膜をリフトオフにより形成することが容易になり、歩留まりを向上させることができる。
【0016】
さらに、本実施形態の窒化物半導体発光素子において、反射層1はAl、Ag又はRhからなり、透光性絶縁膜2を介してp側のオーミック電極53を覆うように形成される。ここで、反射層1は、開口部2bにおいてp側のオーミック電極53と電気的に接続されている。
反射層1の膜厚は、0.05μm〜1μmの範囲に設定することが好ましく、より好ましくは、0.1μm〜0.3μmの範囲に設定する。
反射層1の膜厚が0.3や1μmより厚くなっても反射に関する効果には変化はないが、製造コストが高くなる。また、反射層1の膜厚が0.05μmより薄いと反射率が低くなるからであり、0.1μm以上であるとより良好な反射特性が得られる。
【0017】
また、n側のパッド電極52及びp側のパッド電極54は、例えば、Ni層を1000Åの厚さに形成した上にAu層を6000Åの厚さに形成することにより共通の材料で構成することができる。
ここで、n側のパッド電極52は、開口部2aを介してn側のオーミック電極51と電気的に導通するようにn側のオーミック電極51の直上に形成され、p側のパッド電極54は反射膜1の表面に開口部2bの上に位置するように形成される。
【0018】
以上のように構成された窒化物半導体発光素子は、透光性オーミック電極53、透光性絶縁膜2及び反射層1により、後述するように反射率の高い反射構造が構成されるので、例えば、基板側又は発光素子の側面等の所望の方向に効率良く光を取り出すことができる。
【0019】
次に、本実施の形態の窒化物半導体発光素子の製造方法について説明する。
ステップ1.
本方法ではまず、サファイア基板(サファイアウエハ)10上に、それぞれ窒化物半導体からなる低温バッファ層11、n型コンタクト層21、n型クラッド層22、発光層30、p型クラッド層41、p型コンタクト層42を順に成膜し、各素子ごとに、n型コンタクト層21の表面を露出させる部分を除いてマスク55を形成する(図3)。
ステップ2.
次に、マスク55が形成されていない部分をn型コンタクト層21の途中までエッチングで除去することにより、各素子ごとに、n型コンタクト層21の表面を露出させた後(図4)、マスク55を除去する(図5)。
【0020】
ステップ3.
次に、例えば、厚さ100ÅのNi層と厚さ100ÅのAu層の2層からなる電極膜53aを形成して(図6)、マスク56を用いてエッチングによりパターンニングすることにより(図7,図8)、p型コンタクト層42とオーミック接触するp側のオーミック電極53を各p型コンタクト層42上のほぼ全面に形成する。
ステップ4.
そして、各素子に対応して露出させたn型コンタクト層21の表面にそれぞれn側のオーミック電極51を形成して(図9)、各素子全体を覆うようにSiO2からなる透光性絶縁膜2を形成する(図10)。
【0021】
ステップ5.
次に、透光性絶縁膜2において、n側のオーミック電極51の上に開口部2aを形成し、各素子のn側のオーミック電極51と対角をなす隅部に開口部2bを形成して、開口部2bにおいてp側のオーミック電極53と接続されるように透光性絶縁膜2を介してp側のオーミック電極53を覆う反射層1を形成する(図11)。
ステップ6.
次に、Ni層を1000Åの厚さに形成しその上にAu層を6000Åの厚さに形成して、パターンニングすることにより、n側のパッド電極52は開口部2aを介してn側のオーミック電極51と電気的に導通するように、p側のパッド電極54は反射膜1の表面に開口部2bの上に位置するように形成する。
以上のようにして、p側に透光性のオーミック電極53、透光性絶縁膜2及び反射層2が積層された反射構造を有する窒化物半導体発光素子を作製できる。
【0022】
以上のように構成された実施の形態の窒化物半導体発光素子は、上述のように構成された反射構造を有しているので、例えば、基板側から光を出力する際に取り出し効率を高くできる。図13は、本発明に係る反射構造の反射特性の波長依存性を示すグラフである。図13において、L1〜L3はいずれも本発明に係る反射構造における、SiO2膜と反射膜との界面での反射特性を示しており、L1は反射層としてAlを用いて構成した反射構造R1の反射特性であり、L2は反射層としてAgを用いて構成した反射構造R2の反射特性であり、L3は反射層としてRhを用いて構成した反射構造R3の反射特性である。また、図13のL4は比較のために示したものであって、p型窒化物半導体層の上に従来のNi/Auからなるオーミック電極のみを形成することにより構成した従来の電極構造における、p型窒化物半導体層とオーミック電極との界面における反射率を示している。
【0023】
図13に示す結果から、次のことがわかる。
第1に、図13に示すように、波長約350nm〜530nmの間では、本発明に係る反射構造は従来例の電極構造に比較して反射率が高くできるので、窒化物半導体を用いて構成された比較的波長の短い黄色から青色の光を発光することができる発光ダイオードにおける反射構造として特に適している。
また、図13に示すように、反射層としてAlを用いて構成した本発明に係る反射構造R1は、反射層としてAg及びRhを用いた本発明に係る反射構造R2,R3に比較して波長約350nm〜430nmの間で反射率を高くできるので、窒化物半導体を用いて構成されたより波長の短い紫外光〜青色の光を発光する発光ダイオードの反射構造として、特に適している。
さらに、図13に示すように、反射層としてAgを用いて構成した本発明に係る反射構造R2は、反射層としてAl及びRhを用いた本発明に係る反射構造R1,R3に比較して波長約430nm以上で反射率を高くできるので、青色〜黄色の光を発光する発光ダイオードの反射構造として、特に適している。
【0024】
また、図14〜図16にそれぞれ反射構造R1,R2,R3において光の入射角を変化させたときの反射特性を示している。ここで、図14〜図16におけるL11,L21,L31は入射角20度の時の反射特性であり、図14〜図16におけるL12,L22,L32は入射角40度の時の反射特性であり、図14〜図16におけるL13,L23,L33は入射角60度の時の反射特性である。
また、図17は従来の電極構造における、入射角が20度の場合(L41)、入射角が40度の場合(L42)、入射角が60度の場合(L43)、の各反射特性を示している。
図14〜図16から、本発明に係る反射構造は入射角にほとんど依存しないことがわかる。
ここで、本検討において、p側オーミック電極の膜厚は、0.02μmとし、SiO2膜2の膜厚は、0.5μmとし、反射層1の膜厚は、0.2μmとした。
【0025】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明に係る発光素子は、半導体層とその半導体層とオーミック接触するオーミック電極とを備えた発光素子において、上記透光性オーミック電極の上に透光性絶縁膜を介して反射層により覆うことにより構成された反射構造を備え、その反射層はAl、Ag及びRhからなる群から選択された1つにより構成されているので、上記反射層によって光を反射させて、所望の方向に光を効率よく出射させることができ、発光した光を効率よく出射できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る実施の形態の窒化物半導体発光素子の構成を示す平面図である。
【図2】 図1のA−A’線についての断面図である。
【図3】 実施の形態の製造方法における、n型コンタクト層21の表面を露出させるエッチング前の断面図である。
【図4】 実施の形態の製造方法における、n型コンタクト層21の表面を露出させるエッチング後の断面図である。
【図5】 図4のエッチング後にマスク55を除去した後の断面図である。
【図6】 p側オーミック電極を形成するための電極膜53aを形成した後の断面図である。
【図7】 電極膜53aの上にマスク56を形成した後の断面図である。
【図8】 マスク56を用いてエッチングした後(p側のオーミック電極53を各p型コンタクト層42上のほぼ全面に形成した後)の断面図である。
【図9】 n型コンタクト層21の表面にn側のオーミック電極51を形成した後の断面図である。
【図10】 各素子全体を覆うようにSiO2からなる透光性絶縁膜2を形成した後の断面図である。
【図11】 反射層1を形成した後の断面図である。
【図12】 n側のパッド電極52とp側のパッド電極54とを形成した後の断面図である。
【図13】 本発明に係る反射構造の反射特性の波長依存性を示すグラフである。
【図14】 本発明に係る反射構造R1において、光の入射角を変化させたときの反射特性を示すグラフである。
【図15】 本発明に係る反射構造R2において、光の入射角を変化させたときの反射特性を示すグラフである。
【図16】 本発明に係る反射構造R3において、光の入射角を変化させたときの反射特性を示すグラフである。
【図17】 従来の電極構造における反射特性を示すグラフである。
【符号の説明】
1…反射層、
2…絶縁膜、
2a…開口部、2b…開口部、
10…基板、
11…バッファ層、
20…n側の窒化物半導体層、
21…n型コンタクト層、
22…n型クラッド層、
30…活性層、
40…p側の窒化物半導体層、
41…p型クラッド層、
42…p型コンタクト層、
51…n側のオーミック電極、
52,54…パッド電極
53…p側オーミック電極、
53a…電極膜、
55,56…マスク。
Claims (7)
- 基板上に、n側の窒化物半導体層と活性層とp側の窒化物半導体層を順に有し、p側の窒化物半導体層及び活性層の一部が除去されて露出されたn側の窒化物半導体層上にn側の電極を備え、上記p側の窒化物半導体層上にそのp側の窒化物半導体層とオーミック接触するオーミック電極を備えた発光素子において、
反射構造を備え、その反射構造は、上記オーミック電極を透光性オーミック電極とし、上記オーミック電極と、該オーミック電極上に開口部を有しかつ、上記発光素子の全体を覆うように形成された透光性絶縁膜と、その透光性オーミック電極を透光性絶縁膜を介して覆うことにより上記開口部において上記オーミック電極と電気的に接続されかつ、上記透光性絶縁膜を介して上記オーミック電極上のみに形成された反射層と、により構成され、かつ上記反射層はAl、Ag及びRhからなる群から選択された1つからなることを特徴とする発光素子。 - 上記p側の窒化物半導体層としてp型窒化物半導体層からなるp型コンタクト層を含み、そのp型コンタクト層に上記透光性のオーミック電極が形成された請求項1記載の発光素子。
- 上記透光性絶縁膜はSiO2からなる請求項1又は2記載の窒化物半導体発光素子。
- 上記透光性絶縁膜の膜厚は、3μm以下である請求項1〜3のうちのいずれか1つに記載の発光素子。
- 上記反射層の膜厚は、0.05μm〜1μmの範囲に設定された請求項1〜4のうちのいずれか1つに記載の発光素子。
- 上記開口部を介して上記オーミック電極と上記反射層とが電気的に接続され、上記反射層の表面においてさらに上記開口部の上に位置する部分にパッド電極が形成されている請求項1〜5のうちのいずれか1つに記載の発光素子。
- 上記発光素子は矩形であって、上記矩形の1つの隅部において、扇形にn側の窒化物半導体層が露出されてなることを特徴とする請求項1〜6記載の発光素子。
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| KR101008023B1 (ko) | 2004-08-04 | 2011-01-14 | 광주과학기술원 | 화합물 반도체 발광소자의 저저항 전극 및 이를 이용한화합물 반도체 발광소자 |
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| TWI299914B (en) * | 2004-07-12 | 2008-08-11 | Epistar Corp | Light emitting diode with transparent electrically conductive layer and omni directional reflector |
| US7375380B2 (en) | 2004-07-12 | 2008-05-20 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor light emitting device |
| US7291865B2 (en) | 2004-09-29 | 2007-11-06 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light-emitting semiconductor device |
| US7274040B2 (en) * | 2004-10-06 | 2007-09-25 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Contact and omnidirectional reflective mirror for flip chipped light emitting devices |
| CN100383989C (zh) * | 2004-11-23 | 2008-04-23 | 北京大学 | 在金属热沉上的激光剥离功率型led芯片及其制备方法 |
| WO2006082687A1 (ja) * | 2005-02-07 | 2006-08-10 | Mitsubishi Cable Industries, Ltd. | GaN系発光ダイオードおよび発光装置 |
| JP2006237386A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Sanyo Electric Co Ltd | 窒化物系半導体発光ダイオード |
| JP4956902B2 (ja) * | 2005-03-18 | 2012-06-20 | 三菱化学株式会社 | GaN系発光ダイオードおよびそれを用いた発光装置 |
| CN100369279C (zh) * | 2005-05-27 | 2008-02-13 | 中国科学院物理研究所 | 桥式n电极型氮化镓基大管芯发光二极管及制备方法 |
| JP4841909B2 (ja) * | 2005-09-14 | 2011-12-21 | 昭和電工株式会社 | 窒化物系半導体発光素子 |
| JP4799974B2 (ja) * | 2005-09-16 | 2011-10-26 | 昭和電工株式会社 | 窒化物系半導体発光素子及びその製造方法 |
| CN100383992C (zh) * | 2005-09-21 | 2008-04-23 | 南茂科技股份有限公司 | 发光二极管及其制造方法 |
| JP2007165409A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子及び半導体発光素子の製造方法 |
| JP4954549B2 (ja) * | 2005-12-29 | 2012-06-20 | ローム株式会社 | 半導体発光素子およびその製法 |
| US7737455B2 (en) | 2006-05-19 | 2010-06-15 | Bridgelux, Inc. | Electrode structures for LEDs with increased active area |
| US7573074B2 (en) | 2006-05-19 | 2009-08-11 | Bridgelux, Inc. | LED electrode |
| JP2008034822A (ja) | 2006-06-28 | 2008-02-14 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
| CN102779918B (zh) | 2007-02-01 | 2015-09-02 | 日亚化学工业株式会社 | 半导体发光元件 |
| DE102007022947B4 (de) | 2007-04-26 | 2022-05-05 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Optoelektronischer Halbleiterkörper und Verfahren zur Herstellung eines solchen |
| EP2159852A4 (en) | 2007-06-15 | 2012-09-26 | Rohm Co Ltd | SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DEVICE |
| KR100843426B1 (ko) * | 2007-07-23 | 2008-07-03 | 삼성전기주식회사 | 반도체 발광소자 |
| JP2009200178A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Hitachi Cable Ltd | 半導体発光素子 |
| JP5334601B2 (ja) * | 2009-01-21 | 2013-11-06 | 株式会社東芝 | 半導体発光ダイオード素子及び半導体発光装置 |
| JP5608340B2 (ja) * | 2009-05-19 | 2014-10-15 | パナソニック株式会社 | 半導体発光素子 |
| US20100327300A1 (en) | 2009-06-25 | 2010-12-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Contact for a semiconductor light emitting device |
| KR20120042500A (ko) * | 2010-10-25 | 2012-05-03 | 삼성엘이디 주식회사 | 반도체 발광 소자 및 그 제조방법 |
| JP5050109B2 (ja) | 2011-03-14 | 2012-10-17 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子 |
| JP6077201B2 (ja) * | 2011-08-11 | 2017-02-08 | 昭和電工株式会社 | 発光ダイオードおよびその製造方法 |
| JP5304855B2 (ja) * | 2011-08-12 | 2013-10-02 | 三菱化学株式会社 | GaN系発光ダイオードおよびそれを用いた発光装置 |
| DE102012102114B4 (de) * | 2012-03-13 | 2021-09-16 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Strahlungsemittierendes Halbleiterbauteil, Beleuchtungsvorrichtung und Anzeigevorrichtung |
| JP5319820B2 (ja) * | 2012-04-27 | 2013-10-16 | 株式会社東芝 | 半導体発光ダイオード素子及び半導体発光装置 |
| JP5740350B2 (ja) * | 2012-05-31 | 2015-06-24 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子 |
| CN103682004B (zh) * | 2012-09-07 | 2017-06-06 | 晶能光电(江西)有限公司 | 一种改善出光率的发光二极管倒装芯片及其制备方法 |
| JP2014096539A (ja) * | 2012-11-12 | 2014-05-22 | Tokuyama Corp | 紫外発光素子、および発光構造体 |
| JP5581427B2 (ja) * | 2013-07-10 | 2014-08-27 | 株式会社東芝 | 半導体発光ダイオード素子及び半導体発光装置 |
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