JP4084257B2 - プリント基板検査装置 - Google Patents
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Description
まず、検査対象となるプリント基板2bを検査するに際して必要となる第一の基準画素数S1・第二の基準画素数S2を生成する場合、基準プリント基板2aをプリント基板検査装置1にセットし、その基準プリント基板2aの表面に光りを照射してその表面に設けられた画像を取得する(ステップT1)。この取得された画像を前処理手段によってA/D変換し(ステップT2)、その変換された画像情報を画像メモリ5に書き込む。そして、256階調のグレースケールにて輝度150から250までの輝度の各画素数を計数し、図2(a)に示すようなヒストグラムを生成する(ステップT3)。次いで、この生成されたヒストグラムから基準平均輝度Ave0を求めて記憶手段7に記憶し(ステップT4)、また、これと同時に、あらかじめ入力手段8によって入力設定された第一の輝度P1および第二の輝度P2に対して、その第一の輝度P1・第二の輝度P2の画素数を計数し、第一の輝度P1の画素数に輝度150からP1までの輝度数を乗じた画素数S1、および、第二の輝度P2の画素数に輝度P2から250までの輝度数を乗じた画素数S2を演算する(ステップT5)。そして、この画素数S1を第一の基準画素数として記憶手段7に記憶させるとともに、画素数S2を第二の基準画素数として記憶手段7に記憶させる(ステップT6)。そして、その後、その基準プリント基板2aを取り外して、検査対象となるプリント基板2bの検査を行えるようにする。
検査対象となるプリント基板2bの形成状態を検査する場合も、同様にして、まず、そのプリント基板2bをプリント基板検査装置1にセットし、そのプリント基板2bの表面に光を照射してその表面画像を取得する(ステップT10)。そして、この取得された画像を前処理手段によってA/D変換し(ステップT11)、その情報を画像メモリ5に書き込む。そして、256階調のグレースケールにて輝度150から250までの輝度に対する各画素数を計数し、図2(b)(c)の太い実線に示すようなヒストグラムを生成し(ステップT12)、この生成されたヒストグラムから平均輝度Ave1を算出する(ステップT13)。次いで、この算出された平均輝度Ave1と前記基準プリント基板2aの基準平均輝度Ave0との差δを計算し、ステップT12で生成されたヒストグラムの各輝度をこのδ分だけシフトさせ、それぞれの平均輝度Ave0、Ave1を一致させるようにする(ステップT14)。そして、この修正されたヒストグラムに基づき、あらかじめ設定された第一の輝度P1および第二の輝度P2に基づいて、その第一の輝度P1よりも暗い輝度の各画素数S1'を計数するとともに、第二の輝度P2よりも明るい輝度の各画素数S2'を計数する(ステップT15)。そして、この計数した画素数S1'・S2'と基準プリント基板2aのS1・S2を比較し(ステップT16)、検査対象となるプリント基板2bに対する画素数S1'が基準プリント基板2aに対する画素数S1よりも大きい場合は(ステップT16:Yes)、そのプリント基板2bは不良品であると判定し、その旨を出力する(ステップT17)。また、検査対象となるプリント基板2bに対する画素数S2'が基準プリント基板2aに対する画素数S2よりも大きい場合も同様に(ステップT16:Yes)、そのプリント基板2bを不良品と判定し、その旨を出力する(ステップT17)。すなわち、第一の基準画素数S1よりもS1'の方が大きい場合は、研磨によるスリ傷以上にパッドに欠損を生じている可能性が高いため、これを不良品と判定する。また、第二の基準画素数S2よりもS2'の方が大きい場合、パッドに突起が存在している可能性が高いため、これを不良品と判定する。一方、ステップT16で、S1'≦S1、かつ、S2'≦S2であれば、そのプリント基板2bは良品であると判定し、その旨を出力する(ステップT18)。
2a、2b・・・プリント基板(2a:基準プリント基板、2b:検査対象となるプリント基板)
3・・・撮像部
6・・・第一の計数手段
7・・・記憶手段
9・・・平均値算出手段
10・・・修正手段
11・・・第二の計数手段
12・・・判別手段
P1・・・第一の輝度
P2・・・第二の輝度
S1・・・第一の基準画素
S2・・・第二の基準画素
Ave0・・・基準プリント基板の基準平均輝度
Ave1・・・検査対象となるプリント基板の平均輝度
Claims (1)
- プリント基板に形成されたパッドを撮像する撮像手段と、
この撮像手段によって撮像されたパッドの画像について輝度毎の画素数を計数する第一の計数手段と、
あらかじめ暗い側と明るい側に設定された第一の輝度および第二の輝度に対し、第一の輝度よりも一定の輝度幅内で暗い側の第一の基準画素数、および、前記第二の輝度よりも一定の輝度幅内で明るい側であって前記第一の基準画素数よりも画素数の少ない第二の基準画素数を記憶する記憶手段と、
前記第一の計数手段によって計数された輝度毎の画素数のうち、前記第一の輝度よりも一定の輝度幅内で暗い側の画素数を計数するとともに、前記第二の輝度よりも一定の輝度幅内で明るい側の画素数を計数する第二の計数手段と、
この第二の計数手段によって計数された第一の輝度よりも暗い輝度の画素数が前記第一の基準画素数よりも多い場合、または、前記第二の計数手段によって計数された第二の輝度よりも明るい輝度の画素数が前記第二の基準画素数よりも多い場合に、プリント基板に形成されたパッドの形成状態を不良と判定する判定手段と、を設けたことを特徴とするプリント基板検査装置。
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JP2003274445A JP4084257B2 (ja) | 2003-07-15 | 2003-07-15 | プリント基板検査装置 |
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