JP7300155B2 - 固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法 - Google Patents
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固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶する良品画像記憶部と、
前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、
前記不良品画像記憶部に記憶された前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、
前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置を提供するものである。
固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶するとともに、前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する画像記憶工程と、
前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算するとともに、前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する演算工程と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法を提供するものである。
例1においては、固形製剤外観検査における教示装置であって、 良品画像を記憶する良品画像記憶部と、 不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、 前記不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、 前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、 前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。
Claims (4)
- 固形製剤外観検査における教示装置であって、
固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶する良品画像記憶部と、
前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、
前記不良品画像記憶部に記憶された前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、
前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置。 - 前記不良個所演算部は、前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された異物付着、欠け、文字にじみ、及び文字飛びについての不良個所の大きさを演算することを特徴とする請求項1記載の固形製剤外観検査における教示装置。
- 前記不良判断閾値設定部は、不良カテゴリー毎における複数の前記不良個所における大きさのうち最小の大きさと、複数の前記不良候補における大きさのうち最大の大きさとから前記不良カテゴリー毎の前記不良判断閾値を設定することを特徴とする請求項1に記載の固形製剤外観検査における教示装置。
- 固形製剤外観検査における教示方法であって、
固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶するとともに、前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する画像記憶工程と、
前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算するとともに、前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する演算工程と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法。
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