JP2005091330A - 色調不良検査装置および方法,ならびに薄汚れ検査装置および方法 - Google Patents
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Abstract
【構成】 画線部領域および非画線部領域を含む検査対象領域が,カメラ10によって撮像される。カメラ10によって基準画像データ11と被検査画像データ12とが得られる。基準画像データ11に基づいて,画素ごとの色調に応じた色調しきい値画像が作成される(符号13)。基準画像データと被検査画像データとから画素ごとの色の距離が算出され,画素ごとの色の距離と,画素ごとの色調しきい値が比較される(符号16)。
【選択図】 図2
Description
11 基準画像データ・メモリ
12 被検査画像データ・メモリ
13 色調しきい値取出機能
14 色調しきい値画像メモリ
15 薄汚れしきい値メモリ
16 色調不良検出処理機能
17 薄汚れ検出処理機能
W 印刷物
Sa 検査対象領域
G 画線部
H 非画線部
Claims (6)
- 基準画像を表す基準画像データを記憶する第1のメモリ,
被検査画像を表す被検査画像データを記憶する第2のメモリ,
上記第1のメモリに記憶された基準画像データと第2のメモリに記憶された被検査画像データとに基づいて,画素ごとの色調変動量を算出する色調変動量算出手段,および
上記色調変動量算出手段によって算出された画素ごとの色調変動量と,上記基準画像データの画素ごとの色調に応じた色調しきい値とを,対応する画素ごとに比較する比較手段,
を備えた色調不良検査装置。 - 上記基準画像および被検査画像は画線部領域と非画線部領域を含み,
上記比較手段は,画線部領域に対応する領域に含まれる画素に対して比較を行う,請求項1に記載の色調不良検査装置。 - 基準画像を表す基準画像データを記憶する第1のメモリ,
被検査画像を表す被検査画像データを記憶する第2のメモリ,
上記第1のメモリに記憶された基準画像データと第2のメモリに記憶された被検査画像データとに基づいて,画素ごとの薄汚れ量を算出する薄汚れ量算出手段,および
上記薄汚れ量算出手段によって算出された画素ごとの薄汚れ量と,あらかじめ設定される薄汚れしきい値とを比較する比較手段,
を備えた薄汚れ検査装置。 - 上記基準画像および被検査画像は,画線部領域および非画線部領域を含み,
上記比較手段は,上記非画線部領域に対応する領域に含まれる画素に対して行う,請求項3に記載の薄汚れ検査装置。 - 基準画像を表す基準画像データを記憶する第1のメモリに記憶された基準画像データと,被検査画像を表す被検査画像データを記憶する第2のメモリに記憶された被検査画像データとに基づいて,画素ごとの色調変動量を算出し,
算出した画素ごとの色調変動量と,上記基準画像データの画素ごとの色調に応じた色調しきい値とを,対応する画素ごとに比較する,
色調不良検査方法。 - 基準画像を表す基準画像データを記憶する第1のメモリに記憶された基準画像データと,被検査画像を表す被検査画像データを記憶する第2のメモリに記憶された被検査画像データとに基づいて,画素ごとの薄汚れ量を算出し,
算出した画素ごとの薄汚れ量と,あらかじめ設定される薄汚れしきい値とを比較する,薄汚れ検査方法。
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2003
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