JP4064951B2 - 強誘電体半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
本発明は、強誘電体半導体記憶装置(以下、強誘電体メモリと記す)に係り、特にデータ読み出し回路に関する。
強誘電体メモリの一例として、1個の電荷転送ゲート用MOSトランジスタと1個の強誘電体キャパシタとを直列接続してなる1トランジスタ・1キャパシタ構成の強誘電体セルのアレイを有するものがある。また、強誘電体メモリにおいて、メモリセルからデータを読み出すためのデータ読み出し回路には、種々の方式がある。また、周知のように、強誘電体キャパシタは、電圧・電荷保持の関係が履歴特性を有している。履歴特性にインプリント(焼きつき)現象が発生する場合があり、その場合には強誘電体メモリセルからビット線に読み出されたデータ“1”/“0”の信号量が変化する(非特許文献1参照)。
一方、従来の強誘電体メモリにおけるデータ読み出し回路として、強誘電体メモリセルからビット線に読み出した電荷を転送用のPMOSトランジスタおよび結合キャパシタを通してセンスアンプに転送する電荷転送方式が知られている。
この電荷転送方式のデータ読み出し回路は、強誘電体キャパシタのインプリント現象による信号量変化は少ない。特に、理想的な平行四辺形の履歴特性を有する強誘電体キャパシタの場合にはインプリント現象による信号量変化は殆んど発生しない。
しかし、この電荷転送方式のデータ読み出し回路は、電荷転送用のPMOSトランジスタのゲート電位として負の電圧を生成する必要があり、また、プロセス的にも負の電圧に対応した構造をとらなければならないので、回路構成やプロセスが煩雑になる。
しかも、メモリセルからビット線に読み出されたデータに対して、該ビット線に接続されているセンスアンプの出力データが反転しているので、該センスアンプの出力データを前記メモリセルへ書き戻して再書き込みを行うための回路接続および制御が複雑になる。
他方、従来の強誘電体メモリとして、複数の強誘電体メモリセルが接続されたサブビット線がカレントミラー回路を介してビット線に接続される二重ビット線方式(特許文献1参照)が知られている。このような強誘電体メモリにおけるデータ読み出し回路として、第1のサブビット線と第1のビット線に対応して第1のカレントミラー回路の一対の電流入力ノードが接続され、第2のサブビット線と第2のビット線に対応して第2のカレントミラー回路の一対の電流入力ノードが接続され、第1のビット線の電位と第2のビット線の電位がセンスアンプの一対の入力ノードに供給される方式が知られている。
しかし、上記二重ビット線方式のデータ読み出し回路は、やはり、メモリセルからビット線に読み出されたデータに対して、該ビット線に接続されているセンスアンプの出力データが反転しているので、該センスアンプの出力データを前記メモリセルに対して再書き込みを行うための回路接続および制御が複雑になる。
特開2002−32984号公報
S.Kawashima, T.Endo, A.Yamamoto, K.Nakabayashi, M.Nakazawa, K.Morita, and M.Aoki,"Bitline GND sensing technique for low-voltage operation FeRAM", IEEE Journal of Solid-State Circuits, Volume: 37 Issue: 5, May 2002, pp. 592 -598.
本発明は、強誘電体メモリセルのインプリント現象に対して安定なデータ読み出しを行うことができ、強誘電体メモリセルへのデータの書き戻しを単純な回路で実現し得る強誘電体半導体記憶装置を提供する。
本発明の強誘電体半導体記憶装置は、強誘電体メモリセルのアレイと、前記アレイにおける同一列の複数の強誘電体メモリセルの各一端に共通に接続された第1のビット線と、前記アレイにおける同一行の複数の強誘電体メモリセルのトランジスタのゲートに共通に接続されたワード線と、前記アレイにおける同一列の複数の強誘電体メモリセルの各他端に共通に接続されたセルプレート線と、前記第1のビット線と対をなす第2のビット線と、前記第2のビット線に所定のタイミングで参照用電位を供給する参照用電位供給源と、前記一対をなす第1のビット線および第2のビット線に接続されたデータ読み出し回路とを具備し、前記データ読み出し回路は、前記一対のビット線に一対のセンスノードが接続され、一対のビット線の電位を比較・増幅する1個のセンスアンプと、前記一対のビット線に一対の電流入力ノードまたは一対の電流出力ノードが接続され、一方のビット線側に流れる電流を他方のビット線側にミラーリングさせる機能を有するカレントミラー回路とを有することを特徴とする。
本発明の強誘電体半導体記憶装置によれば、強誘電体メモリセルのインプリント現象に対して安定なデータ読み出しを行うことができ、強誘電体メモリセルへのデータの書き戻しを単純な回路で実現することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
<第1の実施形態>
図1は、第1の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一例の原理的な回路図を示す。図1は、強誘電体メモリにおける1個の電荷転送ゲート用MOSトランジスタTRと1個の強誘電体キャパシタCFとを直列接続してなる1トランジスタ・1キャパシタ構成の強誘電体メモリセル(強誘電体セル)のアレイにおける一対のビット線BL、/BLを取り出して示している。一方のビット線BLには、複数の強誘電体セル(1個のみ図示)の各一端、つまりセルトランジスタの各ドレインが接続されており、接地電位(GND)ノードとの間にビット線容量CBLが存在する。メモリにセルアレイにおける同一列の複数の強誘電体セルの各他端、つまり強誘電体キャパシタCFの一端は1本のセルプレート線PLに共通に接続されており、同一行の複数のセルトランジスタのゲートは1本のワード線WLに共通に接続されている。
図1は、第1の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一例の原理的な回路図を示す。図1は、強誘電体メモリにおける1個の電荷転送ゲート用MOSトランジスタTRと1個の強誘電体キャパシタCFとを直列接続してなる1トランジスタ・1キャパシタ構成の強誘電体メモリセル(強誘電体セル)のアレイにおける一対のビット線BL、/BLを取り出して示している。一方のビット線BLには、複数の強誘電体セル(1個のみ図示)の各一端、つまりセルトランジスタの各ドレインが接続されており、接地電位(GND)ノードとの間にビット線容量CBLが存在する。メモリにセルアレイにおける同一列の複数の強誘電体セルの各他端、つまり強誘電体キャパシタCFの一端は1本のセルプレート線PLに共通に接続されており、同一行の複数のセルトランジスタのゲートは1本のワード線WLに共通に接続されている。
他方のビット線/BLには、GNDノードとの間にビット線容量CBLが存在し、所定のタイミングで参照用電位を供給する参照用電位供給源REFが接続されている。この参照用電位供給源REFは、参照用メモリセルとして例えば1個のダミー用のセルの一端、つまりダミーセルトランジスタDTRのドレインが接続され、ダミー用の強誘電体セルの他端、つまりダミーキャパシタCDの一端はダミーセルプレート線DPLに接続されている。そして、ダミーセルトランジスタDTRのゲートにはダミーワード線DWLが接続されている。
ビット線対BL、/BLには、データ読み出し回路10が接続されている。データ読み出し回路10は、ビット線対BL、/BLに一対のセンスノードが接続され、一対のビット線の電位を比較・増幅する1個のセンスアンプ(SA)11と、ビット線対BL、/BLに一対の電流入力ノードまたは一対の電流出力ノードが接続され、一方のビット線側に流れる電流を他方のビット線側にミラーリングさせる機能を有するカレントミラー回路12とを有する。
カレントミラー回路12は、例えば図1中に示すように、一方のビット線BLにドレイン・ゲートが接続され、ソースがGNDノードに接続された第1のNMOSトランジスタTN1と、他方のビット線/BLにドレインが接続され、ゲートが前記第1のNMOSトランジスタTN1のゲート、つまり一方のビット線BLに接続され、ソースがGNDノードに接続された第2のNMOSトランジスタTN2とを有する。
データ読み出し回路10は、一方のビット線対BLに接続されているメモリセルから読み出した信号に依存するビット線電位と、他方のビット線/BLに接続されているダミーメモリセルから読み出した信号に依存するビット線電位とを、センスアンプ11で比較し、増幅する。カレントミラー回路12の基本的な動作は、ビット線BLから流出した電荷と同量の電荷を参照ビット線側/BLからも流出させる、つまり、ビット線BL側から流出する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングさせることである。なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、カレントミラー回路12の動作をオフ状態に制御することが望ましい。
次に、上記構成のデータ読み出し回路の動作を詳細に説明する。図2は、図1のデータ読み出し回路の動作例における主な信号のタイミング波形図を示す。
ここでは、BLをデータ読み出し用の読み出しビット線、/BLを参照用の参照ビット線として使用する場合を想定して動作例を説明する。
まず、ワード線WLを“H”にしてメモリセルを選択することにより、このメモリセルの強誘電体キャパシタCFをビット線BLに接続する。同時に、ダミーワード線DWLを“H”にしてダミーメモリセルを選択することにより、このダミーメモリセルの強誘電体キャパシタCDを参照ビット線/BLに接続する。
この状態でセルプレート線PLの電位およびダミーセルプレート線DPLの電位を上げると、選択されたメモリセルの強誘電体キャパシタCFの容量とビット線容量CBLとの比に応じてビット線電位が上昇し、選択されたダミーメモリセルの強誘電体キャパシタCDの容量と参照ビット線容量CBLとの比に応じて参照ビット線電位が上昇する。
この時、ビット線電位がトランジスタTN1の電圧閾値Vthを越えると、ビット線BLからトランジスタTN1を通してGNDに電流が流れる。この電流は、ビット線電位が低下してトランジスタTN1の閾値電圧VthになるまでトランジスタTN1に流れ続ける。この場合、カレントミラー回路12を構成しているトランジスタTN1とTN2とは同じ特性を有するので、トランジスタTN1に流れた電流と同量の電流がトランジスタTN2を流れる。つまり、ビット線BLから流出した電荷と同量の電荷が参照ビット線側/BLからも流出する。
図3は、図1のデータ読み出し回路10において選択されたメモリセルの強誘電体キャパシタの電圧・電荷保持特性とメモリセルからビット線に読み出されたデータ“1”/“0”の電荷量の関係の一例を示す。
選択されたメモリセルの強誘電体キャパシタCFの両端間にはVINT-Vth(VINTはセルプレート線PLの電位が0Vから上昇した電位、VthはトランジスタTN1の電圧閾値)の電圧が印加されるので、強誘電体キャパシタCFからデータ“1”または“0”に対応して電荷Q1またはQ0がビット線BLに流入する。この電荷のうち、ビット線BLに蓄えられる電荷QoffsetはCBL×Vthであり、残りの電荷(Q1outまたはQ0out)がトランジスタTN1を通してGNDに流出することになる。この時、ダミーキャパシタCDの容量およびダミーセルプレート線DPLの電位を適切な値に設計しておくことにより、データ“0”の読み出し時にはビット線電位<参照ビット線電位、データ“1”の読み出し時には、ビット線電位>参照ビット線電位とすることができる。
上記したように一方のビット線対BLに接続されているメモリセルから読み出した信号に依存するビット線電位と、他方のビット線/BLに接続されているダミーメモリセルから読み出した信号に依存するビット線電位とを、センスアンプ11で比較し、増幅する。そして、ワード線WLが“H”の期間内に、選択されているメモリセルの強誘電体キャパシタCFに対して、センスアンプ11の増幅出力がビット線BLを介して転送されることにより、データの書き戻しが行われる。
上記した第1の実施形態に係るデータ読み出し回路10によれば、強誘電体メモリセルのインプリント現象に対して安定にデータ読み出しを行うことができ、強誘電体メモリセルへのデータの書き戻しを単純な回路で実現できる。
<第2の実施形態>
図4は、第2の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路10との接続関係の一具体例を示す。図4中に示すカレントミラー回路22は、一方のビット線BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第1のNMOSトランジスタTN1と、他方のビット線/BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、前記第1のNMOSトランジスタTN1とゲート相互が接続された第2のNMOSトランジスタTN2と、一方のビット線BLと第1のNMOSトランジスタTN1のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続された第3のNMOSトランジスタTN3と、他方のビット線/BLと第2のNMOSトランジスタTN2のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続された第4のNMOSトランジスタTN4と、第1のNMOSトランジスタTN1および第2のNMOSトランジスタTN2のゲート相互接続ノードとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第5のNMOSトランジスタTN5とからなる。上記第3のNMOSトランジスタTN3のゲートには第1の制御信号Aが印加され、前記第4のNMOSトランジスタTN4のゲートには第2の制御信号Bが印加され、前記第5のNMOSトランジスタTN5のゲートには第3の制御信号Cが印加される。
図4は、第2の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路10との接続関係の一具体例を示す。図4中に示すカレントミラー回路22は、一方のビット線BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第1のNMOSトランジスタTN1と、他方のビット線/BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、前記第1のNMOSトランジスタTN1とゲート相互が接続された第2のNMOSトランジスタTN2と、一方のビット線BLと第1のNMOSトランジスタTN1のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続された第3のNMOSトランジスタTN3と、他方のビット線/BLと第2のNMOSトランジスタTN2のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続された第4のNMOSトランジスタTN4と、第1のNMOSトランジスタTN1および第2のNMOSトランジスタTN2のゲート相互接続ノードとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第5のNMOSトランジスタTN5とからなる。上記第3のNMOSトランジスタTN3のゲートには第1の制御信号Aが印加され、前記第4のNMOSトランジスタTN4のゲートには第2の制御信号Bが印加され、前記第5のNMOSトランジスタTN5のゲートには第3の制御信号Cが印加される。
図2は、図4に示したデータ読み出し回路10の一動作例における主な信号のタイミング波形図を示す。図4に示したデータ読み出し回路は、一方のビット線対BLに接続されているメモリセルから読み出した信号に依存する上記ビット線BLの電位と、他方のビット線/BLに接続されているダミーメモリセルから読み出した信号に依存する上記ビット線/BLの電位とを、センスアンプ11で比較し、増幅する。
この際、BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合は、トランジスタTN3をオン、トランジスタTN4およびTN5をオフとすることにより、図1中に示したカレントミラー回路12と同等の構成になり、図2に示した前述した動作例と同様に、読み出しビット線BL側から流出する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合は、トランジスタTN4をオン、トランジスタTN3およびTN5をオフとすることにより、参照ビット線/BL側から流出する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、トランジスタTN5をオン、トランジスタTN3およびTN4をオフにすることにより、トランジスタTN1およびTN2をオフとし、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとGNDとを切り離しておく。
また、前記ワード線WLが“H”の期間内に、選択されているメモリセルの強誘電体キャパシタに対して、センスアンプ11の増幅出力がビット線BLを介して転送されることにより、データの書き戻しが行われる。
<第2の実施形態の変形例>
図5は、図1に示したデータ読み出し回路10の変形例を示す。図5中に示すカレントミラー回路32は、図4中に示したカレントミラー回路22と比べて、トランジスタTN1およびTN2をオフにするための構成が異なる。即ち、ビット線BL、/BLとトランジスタTN1およびTN2の各ドレインとの間に対応してトランジスタTN5およびTN6のドレイン・ソース間が接続され、このトランジスタTN5およびTN6の各ゲートに制御信号Cが共通に印加される。
図5は、図1に示したデータ読み出し回路10の変形例を示す。図5中に示すカレントミラー回路32は、図4中に示したカレントミラー回路22と比べて、トランジスタTN1およびTN2をオフにするための構成が異なる。即ち、ビット線BL、/BLとトランジスタTN1およびTN2の各ドレインとの間に対応してトランジスタTN5およびTN6のドレイン・ソース間が接続され、このトランジスタTN5およびTN6の各ゲートに制御信号Cが共通に印加される。
図5に示したデータ読み出し回路10において、BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合には、トランジスタTN3、TN5およびTN6をそれぞれオン、トランジスタTN4をオフとすることにより、読み出しビット線BL側から流出する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合は、トランジスタTN4、TN5およびTN6をそれぞれオン、トランジスタTN3をオフとすることにより、参照ビット線/BL側から流出する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、トランジスタTN5およびTN6をオフにすることにより、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとGNDとを切り離しておく。
<第3の実施形態>
図6は、第3の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一具体例を示す。図6に示すデータ読み出し回路10は、図1に示したデータ読み出し回路と比べて、読み出しビット線BL側から流出する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する第1のカレントミラー回路71と、参照ビット線/BL側から流出する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する第2のカレントミラー回路72とが接続されている点が異なる。
図6は、第3の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一具体例を示す。図6に示すデータ読み出し回路10は、図1に示したデータ読み出し回路と比べて、読み出しビット線BL側から流出する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する第1のカレントミラー回路71と、参照ビット線/BL側から流出する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する第2のカレントミラー回路72とが接続されている点が異なる。
即ち、第1のカレントミラー回路71は、一方のビット線BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続されたNMOSトランジスタTN1と、他方のビット線/BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、前記NMOSトランジスタTN1とゲート相互が接続されたNMOSトランジスタTN2と、一方のビット線BLとNMOSトランジスタTN1のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに制御信号Aが印加されるNMOSトランジスタTN5と、NMOSトランジスタTN1およびTN2のゲート相互接続ノードとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続されたNMOSトランジスタTN7とからなる。そして、上記第1のカレントミラー回路71の動作の可否を制御するために、NMOSトランジスタTN7のゲートに制御信号/Aが印加される。
これに対して、第2のカレントミラー回路72は、他方のビット線/BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続されたNMOSトランジスタTN4と、一方のビット線BLとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、前記NMOSトランジスタTN4とゲート相互が接続されたNMOSトランジスタTN3と、他方のビット線/BLとNMOSトランジスタTN4のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに制御信号Bが印加されるNMOSトランジスタTN6と、NMOSトランジスタTN3およびTN4のゲート相互接続ノードとGNDノードとの間にドレイン・ソース間が接続されたNMOSトランジスタTN8とからなる。そして、上記第2のカレントミラー回路72の動作の可否を制御するために、NMOSトランジスタTN8のゲートに制御信号/Bが印加される。
図6に示したデータ読み出し回路10は、2つの制御信号A、Bによって2つのカレントミラー回路71、72のうちの一方を動作させる。つまり、図4を参照して前述したデータ読み出し回路10の動作と実質的に同様に動作させることができる。
BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合には、制御信号Aを“H”、制御信号Bを“L”とし、トランジスタTN5およびTN8をそれぞれオン、トランジスタTN6およびTN7をそれぞれオフにすることにより、第1のカレントミラー回路71のみが動作し、読み出しビット線BL側から流出する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングする。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合は、制御信号Aを“L”、制御信号Bを“H”とし、トランジスタTN5およびTN8をそれぞれオフ、トランジスタTN6およびTN7をそれぞれオンにすることにより、第2のカレントミラー回路72のみが動作し、参照ビット線/BL側から流出する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングする。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、制御信号A、B共に“L”にしてトランジスタTN5およびTN6をそれぞれオフにし、トランジスタTN7およびTN8をそれぞれオンにすることにより、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとGNDとを切り離しておく。
第3の実施形態は、第2の実施形態と同じ考え方に基づいた読み出し方式であるが、カレントミラー回路71、72の一対のトランジスタTN1およびTN2、並びにTN3およびTN4のサイズに差をつけることでゲインを持たせることができる。
例えば、トランジスタTN2のゲート幅をトランジスタTN1のゲート幅のn倍、トランジスタTN3のゲート幅をトランジスタTN4のゲート幅のn倍としておけば、データ読み出し時に参照ビット線から流出する電荷量はビット線から流出する電荷量のn倍に増幅される。よって、ダミーキャパシタ容量CDやダミーセルプレート線DPLの電位の設定マージンを広くとることができる。
<第3の実施形態の変形例>
図7は、図6に示したデータ読み出し回路10の変形例を示す。図7中に示す第1のカレントミラー回路81は、図6中に示した第1のカレントミラー回路71と比べて、トランジスタTN1およびTN2をオフにするための構成が異なる。即ち、トランジスタTN1のドレイン・ゲート相互が直接に接続され、トランジスタTN1およびTN2の各ドレインと読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとの間に対応してトランジスタTN5およびTN6のドレイン・ソース間が接続され、このトランジスタTN5およびTN6の各ゲートに制御信号Aが共通に印加される。
図7は、図6に示したデータ読み出し回路10の変形例を示す。図7中に示す第1のカレントミラー回路81は、図6中に示した第1のカレントミラー回路71と比べて、トランジスタTN1およびTN2をオフにするための構成が異なる。即ち、トランジスタTN1のドレイン・ゲート相互が直接に接続され、トランジスタTN1およびTN2の各ドレインと読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとの間に対応してトランジスタTN5およびTN6のドレイン・ソース間が接続され、このトランジスタTN5およびTN6の各ゲートに制御信号Aが共通に印加される。
また、図7中に示す第2のカレントミラー回路82は、図6中に示した第2のカレントミラー回路72と比べて、トランジスタTN3およびTN4をオフにするための構成が異なる。即ち、トランジスタTN4のドレイン・ゲート相互が直接に接続され、トランジスタTN3およびTN4の各ドレインと読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとの間に対応してトランジスタTN7およびTN8のドレイン・ソース間が接続され、このトランジスタTN7およびTN8の各ゲートに制御信号Bが共通に印加される。
図7に示したデータ読み出し回路10は、2つの制御信号A、Bによって2つのカレントミラー回路81、82のうちの一方を動作させる、つまり、図6を参照して前述したデータ読み出し回路の動作と実質的に同様に動作させることができる。
BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合には、制御信号Aを“H”、制御信号Bを“L”とし、トランジスタTN5およびTN6をそれぞれオン、トランジスタTN7およびTN8をそれぞれオフにすることにより、第1のカレントミラー回路81のみが動作し、読み出しビット線BL側から流出する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングする。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合は、制御信号Aを“L”、制御信号Bを“H”とし、トランジスタTN5およびTN6をそれぞれオフ、トランジスタTN7およびTN8をそれぞれオンにすることにより、第2のカレントミラー回路82のみが動作し、参照ビット線/BL側から流出する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングする。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、制御信号A、B共に“L”にしてトランジスタTTN5、TN6、TN7およびTN8をそれぞれオフにすることにより、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとGNDとを切り離しておく。
<第4の実施形態>
図8は、第4の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一具体例を示す。第4の実施形態は、第2の実施形態と同じ考え方に基づいた読み出し方式であるが、ビット線対BL、/BLを“H”にプリチャージしておき、読み出し開始時にはセルプレート線PLおよびダミーセルプレート線DPLをGND電位のままとするものである。それに伴い、カレントミラー回路はPMOSトランジスタを用いて構成される。
図8は、第4の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一具体例を示す。第4の実施形態は、第2の実施形態と同じ考え方に基づいた読み出し方式であるが、ビット線対BL、/BLを“H”にプリチャージしておき、読み出し開始時にはセルプレート線PLおよびダミーセルプレート線DPLをGND電位のままとするものである。それに伴い、カレントミラー回路はPMOSトランジスタを用いて構成される。
図8に示すデータ読み出し回路10は、図4中に示したデータ読み出し回路と比べて、カレントミラー回路の構成、つまりトランジスタの導電タイプ、接続先電位ノードが異なる。
即ち、図8中に示すカレントミラー回路42は、一方のビット線BLと電源電位(VCC)ノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第1のPMOSトランジスタTP1と、他方のビット線/BLとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、前記第1のPMOSトランジスタTP1とはゲート相互が接続された第2のPMOSトランジスタTP2と、一方のビット線BLと第1のPMOSトランジスタTP1のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続された第3のPMOSトランジスタTP3と、他方のビット線/BLと第2のPMOSトランジスタTP2のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続された第4のPMOSトランジスタTP4と、第1のPMOSトランジスタTP1および第2のPMOSトランジスタTP2のゲート相互接続ノードとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第5のPMOSトランジスタTP5とからなる。第3のPMOSトランジスタTP3のゲートには第1の制御信号Aが印加され、第4のPMOSトランジスタTP4のゲートには第2の制御信号Bが印加され、第5のPMOSトランジスタTP5のゲートには第3の制御信号Cが印加される。
図9は、図8に示したデータ読み出し回路10の動作例における主な信号のタイミング波形図を示す。次に、図9を参照しながら図8に示したデータ読み出し回路の動作を概略的に説明する。一方のビット線対BLに接続されているメモリセルから読み出した信号に依存する上記ビット線BLの電位と、他方のビット線/BLに接続されているダミーメモリセルから読み出した信号に依存する上記ビット線/BLの電位とを、センスアンプ11で比較し、増幅する。
ここで、カレントミラー回路42の動作を概略的に説明する。ビット線対BL、/BLを“H”にプリチャージしておき、読み出し開始時にはセルプレート線PLおよびダミーセルプレート線DPLをGND電位のままとする。
いま、BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合には、トランジスタTP3をオン、トランジスタTP4およびTP5をそれぞれオフとすることにより、読み出しビット線BL側に流入する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合には、トランジスタTP4をオン、トランジスタTP3およびTP5をそれぞれオフとすることにより、参照ビット線/BL側に流入する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、トランジスタTP5をオン、トランジスタTP3およびTP4をそれぞれオフにすることにより、トランジスタTP1およびTP2をオフそれぞれとし、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとVCCとを切り離しておく。
また、選択されているメモリセルの強誘電体キャパシタCFに対してデータの書き戻しを行うためには、前記ワード線WLおよびダミーワード線DWLが“H”の期間内でセンスアンプ11の増幅出力が確定した後にセルプレート線PLを“H”にする。
<第4の実施形態の変形例>
図10は、図8に示したデータ読み出し回路10の変形例を示す。図10中に示すカレントミラー回路52は、図8中に示したカレントミラー回路42と比べて、トランジスタTP1およびTP2をオフにするための構成が異なる。即ち、ビット線BL、/BLとトランジスタTP1およびTP2の各ドレインとの間に対応してPMOSトランジスタTP5およびTP6のドレイン・ソース間が接続され、このトランジスタTP5およびTP6の各ゲートに制御信号Cが共通に印加される。
図10は、図8に示したデータ読み出し回路10の変形例を示す。図10中に示すカレントミラー回路52は、図8中に示したカレントミラー回路42と比べて、トランジスタTP1およびTP2をオフにするための構成が異なる。即ち、ビット線BL、/BLとトランジスタTP1およびTP2の各ドレインとの間に対応してPMOSトランジスタTP5およびTP6のドレイン・ソース間が接続され、このトランジスタTP5およびTP6の各ゲートに制御信号Cが共通に印加される。
図10に示したデータ読み出し回路10において、BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合には、トランジスタTP3、TP5およびTP6をそれぞれオン、トランジスタTP4をオフとすることにより、読み出しビット線BL側に流入する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合は、トランジスタTP4、TP5およびTP6をそれぞれオン、トランジスタTP3をオフとすることにより、参照ビット線/BL側に流入する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、トランジスタTP5およびTP6をそれぞれオフにすることにより、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとVCCとを切り離しておく。
<第5の実施形態>
図11は、第5の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一具体例を示す。図11に示すデータ読み出し回路10は、図8に示したデータ読み出し回路と比べて、読み出しビット線BL側に流入する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する第1のカレントミラー回路121と、参照ビット線/BL側に流入する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する第2のカレントミラー回路122とが接続されている点が異なる。
図11は、第5の実施形態に係る強誘電体メモリにおけるビット線対とデータ読み出し回路との接続関係の一具体例を示す。図11に示すデータ読み出し回路10は、図8に示したデータ読み出し回路と比べて、読み出しビット線BL側に流入する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングするように動作する第1のカレントミラー回路121と、参照ビット線/BL側に流入する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングするように動作する第2のカレントミラー回路122とが接続されている点が異なる。
即ち、第1のカレントミラー回路121は、一方のビット線BLとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続されたPMOSトランジスタTP1と、他方のビット線/BLとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、前記PMOSトランジスタTP1とゲート相互が接続されたPMOSトランジスタTP2と、一方のビット線BLとPMOSトランジスタTP1のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに制御信号Aが印加されるPMOSトランジスタTP5と、PMOSトランジスタTP1およびTP2のゲート相互接続ノードとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに前記制御信号Aの反転信号/Aが印加されるPMOSトランジスタTP7とからなる。
これに対して、第2のカレントミラー回路122は、他方のビット線/BLとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続されたPMOSトランジスタTP4と、一方のビット線BLとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、前記PMOSトランジスタTP4とゲート相互が接続されたPMOSトランジスタTP3と、他方のビット線/BLとPMOSトランジスタTP4のゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに制御信号Bが印加されるPMOSトランジスタTP6と、PMOSトランジスタTP3およびTP4のゲート相互接続ノードとVCCノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに前記制御信号Bの反転信号/Bが印加されるPMOSトランジスタTP8とからなる。
図11に示したデータ読み出し回路10は、2つの制御信号A、Bによって2つのカレントミラー回路121、122のうちの一方を動作させることが可能である。
即ち、BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合には、制御信号Aを“L”、制御信号Bを“H”とし、トランジスタTP5およびTP8をそれぞれオン、トランジスタTP6およびTP7をそれぞれオフにすることにより、第1のカレントミラー回路121のみが動作し、読み出しビット線BL側に流入する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングする。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合は、制御信号Aを“H”、制御信号Bを“L”とし、トランジスタTP5およびTP8をそれぞれオフ、トランジスタTP6およびTP7をそれぞれオンにすることにより、第2のカレントミラー回路122のみが動作し、参照ビット線/BL側に流入する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングする。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、制御信号A、B共に“H”にしてトランジスタTP5およびTP6をそれぞれオフにし、トランジスタTP7およびTP8をそれぞれオンにすることにより、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとVCCとを切り離しておく。
第5の実施形態は、第4の実施形態と同じ考え方に基づいた読み出し方式であるが、カレントミラー回路121、122の一対のトランジスタTP1およびTP2、並びにTP3およびTP4のサイズに差をつけることでゲインを持たせることができる。例えば、トランジスタTP2のゲート幅をトランジスタTP1のゲート幅のn倍、トランジスタTP3のゲート幅をトランジスタTP4のゲート幅のn倍としておけば、データ読み出し時に参照ビット線に流入する電荷量はビット線に流入する電荷量のn倍に増幅される。よって、ダミーキャパシタ容量CDの設定マージンを広くとることができる。
<第5の実施形態の変形例>
図12は、図11に示したデータ読み出し回路の変形例を示す。図12中に示す第1のカレントミラー回路131は、図11中に示した第1のカレントミラー回路121と比べて、トランジスタTP1およびTP2をオフにするための構成が異なる。即ち、トランジスタTP1のドレイン・ゲート相互が接続され、トランジスタTP1およびTP2の各ドレインと読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとの間に対応してトランジスタTP5およびTP6のソース・ドレイン間が接続され、このトランジスタTP5およびTP6の各ゲートに制御信号Aが共通に印加される。
図12は、図11に示したデータ読み出し回路の変形例を示す。図12中に示す第1のカレントミラー回路131は、図11中に示した第1のカレントミラー回路121と比べて、トランジスタTP1およびTP2をオフにするための構成が異なる。即ち、トランジスタTP1のドレイン・ゲート相互が接続され、トランジスタTP1およびTP2の各ドレインと読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとの間に対応してトランジスタTP5およびTP6のソース・ドレイン間が接続され、このトランジスタTP5およびTP6の各ゲートに制御信号Aが共通に印加される。
また、図12中に示す第2のカレントミラー回路132は、図11中に示した第2のカレントミラー回路122と比べて、トランジスタTP3およびTP4をオフにするための構成が異なる。即ち、トランジスタTP4のドレイン・ゲート相互が接続され、トランジスタTP3およびTP4の各ドレインと読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとの間に対応してトランジスタTP7およびTP8のソース・ドレイン間が接続され、このトランジスタTP7およびTP8の各ゲートに制御信号Bが共通に印加される。
図12に示したデータ読み出し回路10は、2つの制御信号A、Bによって2つのカレントミラー回路131、132のうちの一方を動作させることができる。
BLを読み出しビット線、/BLを参照ビット線として使用する場合には、制御信号Aを“L”、制御信号Bを“H”とし、トランジスタTP5およびTP6をそれぞれオン、トランジスタTP7およびTP8をそれぞれオフにすることにより、第1のカレントミラー回路131のみが動作し、読み出しビット線BL側に流入する電流を参照ビット線/BL側にミラーリングする。
上記動作とは逆に、/BLを読み出しビット線、BLを参照ビット線として使用する場合は、制御信号Aを“H”、制御信号Bを“L”とし、トランジスタTP5およびTP6をそれぞれオフ、トランジスタTP7およびTP8をそれぞれオンにすることにより、第2のカレントミラー回路132のみが動作し、参照ビット線/BL側に流入する電流を読み出しビット線BL側にミラーリングする。
なお、センスアンプ11の作動時および待機時には、制御信号A、B共に“H”にしてトランジスタTP5、TP6、TP7およびTP8をそれぞれオフにすることにより、読み出しビット線BLおよび参照ビット線/BLとVCCとを切り離しておく。
なお、上記実施形態は、汎用の強誘電体メモリを示したが、本発明は強誘電体メモリセルのアレイを有する半導体集積回路に一般的に適用することができる。
TR…セルトランジスタ、DTR …ダミーセルトランジスタ、CF…強誘電体キャパシタ、CD…ダミーキャパシタ、BL…第1のビット線、/BL…第2のビット線、PL…セルプレート線、WL…ワード線、DPL…ダミーセルプレート線、DWL…ダミーワード線、REF…参照用電位供給源、10…データ読み出し回路、11…センスアンプ、12、22、32、42、52、71、72、81、82、121、122、131、132…カレントミラー回路。
Claims (6)
- 強誘電体メモリセルのアレイと、
前記アレイにおける同一列の複数の強誘電体メモリセルの各一端に共通に接続された第1のビット線と、
前記アレイにおける同一行の複数の強誘電体メモリセルのトランジスタのゲートに共通に接続されたワード線と、
前記アレイにおける同一列の複数の強誘電体メモリセルの各他端に共通に接続されたセルプレート線と、
前記第1のビット線と対をなす第2のビット線と、
前記第2のビット線に所定のタイミングで参照用電位を供給する参照用電位供給源と、
前記対をなす第1のビット線および第2のビット線に接続されたデータ読み出し回路とを具備し、
前記データ読み出し回路は、前記一対のビット線に一対のセンスノードが接続され、一対のビット線の電位を比較・増幅する1個のセンスアンプと、前記一対のビット線に一対の電流入力ノードまたは一対の電流出力ノードが接続され、一方のビット線側に流れる電流を他方のビット線側にミラーリングさせる機能を有するカレントミラー回路とを有することを特徴とする強誘電体半導体記憶装置。 - 前記カレントミラー回路は、同一導電型の複数のMOSトランジスタが用いられてなり、前記第1のビット線と所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第1のMOSトランジスタと、前記第2のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートが前記第1のMOSトランジスタT1のゲートに接続された第2のMOSトランジスタと、前記第1のビット線と前記第1のMOSトランジスタのゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第1の制御信号が印加される第3のMOSトランジスタと、前記第2のビット線と前記第2のMOSトランジスタのゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第2の制御信号が印加される第4のMOSトランジスタと、前記第1のMOSトランジスタおよび前記第2のMOSトランジスタのゲート相互接続ノードと前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第3の制御信号が印加される第5のMOSトランジスタとからなることを特徴とする請求項1記載の強誘電体半導体記憶装置。
- 前記カレントミラー回路は、同一導電型の複数のMOSトランジスタが用いられてなり、前記第1のビット線と所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が挿入された第1のMOSトランジスタと、前記第2のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が挿入され、ゲートが前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続された第2のMOSトランジスタと、前記第1のMOSトランジスタのドレインとゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第1の制御信号が印加される第3のMOSトランジスタと、前記第2のMOSトランジスタのドレインとゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第2の制御信号が印加される第4のMOSトランジスタと、前記第1のビット線と前記第1のMOSトランジスタのドレインとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第3の制御信号が印加される第5のMOSトランジスタと、前記第2のビット線と前記第2のMOSトランジスタのドレインとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに前記第3の制御信号が印加される第6のMOSトランジスタとからなることを特徴とする請求項1記載の強誘電体半導体記憶装置。
- 前記カレントミラー回路は、同一導電型の複数のMOSトランジスタが用いられてなり、前記第1のビット線側に流れる電流を前記第2のビット線側にミラーリングする第1のカレントミラー回路と、
前記第2のビット線側に流れる電流を前記第1のビット線側にミラーリングする第2のカレントミラー回路とを有し、
前記メモリセルからデータを前記第1のビット線に読み出す時には、前記2つのカレントミラー回路のうちの一方を制御信号によって選択的に動作させることを特徴とする請求項1記載の強誘電体半導体記憶装置。 - 前記第1のカレントミラー回路は、前記第1のビット線と所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第1のMOSトランジスタと、前記第2のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートが前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続された第2のMOSトランジスタと、前記第1のビット線と前記第1のMOSトランジスタのゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第1の制御信号が印加される第3のMOSトランジスタと、前記第1のMOSトランジスタおよび前記第2のMOSトランジスタのゲート相互接続ノードと接地ノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに前記第1の制御信号の反転信号が印加される第4のMOSトランジスタとからなり、
前記第2のカレントミラー回路は、前記第2のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続された第5のMOSトランジスタと、前記第1のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートが前記第5のMOSトランジスタのゲートに接続された第6のMOSトランジスタと、前記第2のビット線と前記第5のMOSトランジスタのゲートとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに第2の制御信号が印加される第7のMOSトランジスタと、前記第5のMOSトランジスタおよび前記第6のMOSトランジスタのゲート相互接続ノードと前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートに前記第2の制御信号の反転信号が印加される第8のMOSトランジスタとからなる
ことを特徴とする請求項4記載の強誘電体半導体記憶装置。 - 前記第1のカレントミラー回路は、前記第1のビット線と所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が挿入され、ドレイン・ゲート相互が接続された第1のMOSトランジスタと、前記第2のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が挿入され、ゲートが前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続された第2のMOSトランジスタと、前記第1のMOSトランジスタおよび前記第2のMOSトランジスタの各ドレインと前記第1のビット線および前記第2のビット線との間に対応してドレイン・ソース間が接続され、各ゲートに第1の制御信号が共通に印加される第3のMOSトランジスタおよび第4のMOSトランジスタとからなり、
前記第2のカレントミラー回路は、前記第2のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が挿入され、ドレイン・ゲート相互が接続された第5のMOSトランジスタと、前記第1のビット線と前記所定の電位ノードとの間にドレイン・ソース間が挿入され、ゲートが前記第5のMOSトランジスタのゲートに接続された第6のMOSトランジスタと、前記第5のMOSトランジスタおよび前記第6のMOSトランジスタの各ドレインと前記第2のビット線および前記第1のビット線との間に対応してドレイン・ソース間が接続され、各ゲートに第2の制御信号が共通に印加される第7のMOSトランジスタおよび第8のMOSトランジスタとからなる
ことを特徴とする請求項4記載の強誘電体半導体記憶装置。
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