JP4002680B2

JP4002680B2 - 測距装置付きカメラ

Info

Publication number: JP4002680B2
Application number: JP20043098A
Authority: JP
Inventors: 修野中
Original assignee: Olympus Corp
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1998-07-15
Filing date: 1998-07-15
Publication date: 2007-11-07
Anticipated expiration: 2018-07-15
Also published as: JP2000028902A; US6222996B1

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被写体の距離情報を測定するための各種機能を備え、それらを選択的に利用する測距装置付きカメラに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、カメラの測距装置では、一般にカメラ側から被写体に投射した基準信号光を利用する「アクティブタイプＡＦ方式」と、被写体の輝度分布情報を利用する「パッシブタイプＡＦ方式」の二方式が汎用されている。
【０００３】
前者は、暗い環境下の被写体や輝度分布のないローコントラストの被写体に対しても測距可能であるが、反射光が到達しないような遠距離の被写体については測距精度が低い。これに対して、後者は、遠距離、近距離のいずれでも安定した測距が可能であるが、逆に暗い環境下の被写体やローコントラストの被写体は原理的に測距不可能となる。従って、これら両方式を採用すれば、各々が苦手な被写体に対して、高精度の測距が可能になるとされていた。
【０００４】
しかしながら、上記両方式を採用する場合、コスト面やスペース上の関係で問題が生じるため、現実に実施されることは少なかった。
かかる状況下において、例えば特公平５−２２８４３号公報では、これら２つの方式を効率よく、且つ小さなスペースに並存させた「投光式距離計における光電変換装置」に関する技術が開示されている。即ち、この光電変換装置では、光を電荷に変換するセンサアレイを有し、更に当該電荷の蓄積用としてコンデンサを２列配設し、測距用光の投光時及び非投光時の蓄積電荷差に従って、アクティブＡＦ的な信号光抽出を行っている。更に、センサアレイの各蓄積電荷の配列から、パッシブＡＦ的な像検出を行っている。
【０００５】
さらに、特開平７−１６７６４６号公報では、アクティブ方式の測距部と、パッシブ方式の測距部とを備え、外界輝度が、高輝度レベルか、低輝度レベルかを判別し、その結果に基づいて、低輝度の場合はアクティブ方式の測距部、高輝度の場合にはパッシブ方式の測距部の測距結果を採用する「測距装置」に関する技術が開示されている。
【０００６】
また、特開平７−１６７６４７号公報では、アクティブ方式の測距部と、パッシブ方式の測距部とを備え、アクティブ方式の測距部により１回測距を行わせ、この測距値が所定値よりも近いときはアクティブ方式の測距部の測距値を採用し、遠いときはパッシブ方式の測距部の測距値を採用する「カメラの測距装置」に関する技術が開示されている。
【０００７】
さらに、特開平９−３２５２６２号公報では、測距用光のみによる反射信号光の光量を検出し、当該光量と所定光量との比率が所定値よりも大きいときには薄暗い状況下にあると判断し、アクティブ方式を採用することで、コントラストの低い対象物や、暗い状況下においても高精度の測距を実現する「測距装置」に関する技術が開示されている。
【０００８】
一方、本出願人による特願平８−１４１７５３号公報では、パッシブ用センタアレイのＩＣチップの受光面のデッドスペースにアクティブＡＦセンサが配置された測距装置に関する技術が開示されている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特公平５−２２８４３号公報等により開示された技術では、上記機能をワンチップ内に組み込むことはできるものの、２つの電荷蓄積手段を配置することを要し、その構成が複雑になり、集積回路の規模が大型化してコスト高となる等、種々の問題があった。
【００１０】
一方、本出願人が先に特願平８−１４１７５３号公報により開示した測距装置では、アクティブ用センサが大きくなると、ＩＣのチップ上のレイアウトが困難になるといった問題が生じていた。
【００１１】
また、このように２つの方式のピント合せ装置を有するカメラでは、最終的にいずれの方式の測距結果をピント合せに採用するべきかといった問題が生じるほか、この２つの方式を使ってそれを判定しているうちに、シャッタチャンスを逃してしまうといった所謂レリーズタイムラグの問題を生じていた。
【００１２】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、アクティブ方式、パッシブ方式の２方式での測距機能を併有し、より広い範囲の状態の被写体に対して良好な測距を可能としシャッタチャンスを逃すといった問題を解消し、更に小型化且つ高速化を実現することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の第１の態様では、被写体に対し、測距用光を投光する投光手段と、上記被写体からの上記測距用光の反射信号を受光する受光手段とを有し、上記被写体の合焦用信号を形成する第１信号形成手段と、上記被写体の輝度分布状態をモニタする像信号検出部を有し、上記被写体の合焦用信号を形成する第２信号形成手段と、撮影者が撮影開始操作部材を操作したことを検出する撮影開始検出手段と、上記撮影開始操作部材の操作前に上記第１信号形成手段又は上記第２信号形成手段のいずれかを作動させ、得られる信号に基づいて、被写体の状況を検出する被写体状況検出手段と、上記撮影開始検出手段により上記撮影開始操作部材の操作が検出されると、上記被写体状況検出手段による検出結果に基づいて、上記被写体の合焦用信号を得るために上記第１信号形成手段と上記第２信号形成手段とのいずれを使用するかを選択制御する選択制御手段と、を具備し、上記選択制御手段は、上記被写体状況検出手段により上記像信号のコントラストが所定値より小さいと検出された場合は上記第１信号形成手段を選択し、コントラストが所定値以上と検出された場合は上記第２信号形成手段を選択するとともに、第２信号形成手段が選択された場合は、上記撮影開始操作部材の操作前に上記像信号検出手段を作動させて得られた信号に基づいて上記第２信号形成手段が上記合焦用信号を形成することを特徴とする測距装置付きカメラが提供される。
【００１４】
第２の態様では、画面内の複数のポイントを測距するために複数の発光手段を有し、上記画面内の被写体に上記発光手段から測距用光を投射して、その反射光を受光して利用する第１測距手段と、上記画面内の被写体の像信号パターンを利用する第２測距手段と、撮影開始操作部材を操作開始したことを検出する撮影開始検出手段と、上記撮影開始操作部材の操作に先立って、上記第２測距手段を作動させて、像信号を判定する判定手段と、上記撮影開始操作部材の操作検出後で、上記第１測距手段の作動時に、上記判定手段の出力結果に基づいて、上記複数のポイントのうちいずれを測距するか選択を行う制御手段と、を具備し、上記制御手段は、上記判定手段により上記複数のポイントのうち上記像信号のコントラストが所定値より小さいと判定されたポイントを選択して上記第１測距手段により測距動作を実行させるとともに、上記判定手段により上記複数のポイントのうち上記像信号のコントラストが所定値以上と判定されたポイントを選択して上記第２測距手段により測距動作を実行させ、上記第１測距手段の検出結果と上記第２測距手段の検出結果とに基づき最も近い距離に相当する検出結果を選択することを特徴とする測距装置付きカメラが提供される。
【００１７】
上記第１及び第２の態様によれば、以下の作用が奏される。
即ち、本発明の第１の態様では、第１信号形成手段において、投光手段により被写体に対して測距用光が投光され、受光手段により上記被写体からの上記測距用光の反射信号が受光され、上記被写体の合焦用信号が形成される。そして、第２信号形成手段において、像信号検出部により上記被写体の輝度分布状態がモニタされ、上記被写体の合焦用信号が形成される。さらに、撮影開始検出手段により撮影者が撮影開始操作部材を操作したことが検出され、被写体状況検出手段により上記撮影開始操作部材の操作前に上記第１信号形成手段又は上記第２信号形成手段のいずれかが作動され、得られる信号に基づいて、被写体の状況が検出され、選択制御手段により、上記撮影開始検出手段により上記撮影開始操作部材の操作が検出されると、上記被写体状況検出手段による検出結果に基づいて、上記被写体の合焦用信号を得るために上記第１信号形成手段と上記第２信号形成手段とのいずれを使用するかが選択制御される。上記被写体状況検出手段により上記像信号のコントラストが所定値より小さいと検出された場合は、上記選択制御手段により上記第１信号形成手段が選択される。また、コントラストが所定値以上と検出された場合は、上記選択制御手段により上記第２信号形成手段が選択されるとともに、第２信号形成手段が選択された場合は、上記撮影開始操作部材の操作前に上記像信号検出手段が作動されて得られた信号に基づいて、上記第２信号形成手段により上記合焦用信号が形成される。
【００１８】
第２の態様では、複数の発光手段により、画面内の複数のポイントが測距され、上記発光手段により上記画面内の被写体に測距用光が投射される。該反射光は第１測距手段により受光されて利用され、上記画面内の被写体の像信号パターンは第２測距手段により利用される。さらに、撮影開始検出手段により撮影開始操作部材が操作開始したことが検出され、上記撮影開始操作部材の操作に先立って、上記第２測距手段が作動されて、像信号が判定手段により判定される。上記撮影開始操作部材の操作検出後で、上記第１測距手段の作動時に、上記判定手段の出力結果に基づいて、上記複数のポイントのうちいずれを測距するかの選択が制御手段により行われる。上記判定手段により上記複数のポイントのうち上記像信号のコントラストが所定値より小さいと判定されたポイントが、上記制御手段により選択されて上記第１測距手段により測距動作が実行されるとともに、上記判定手段により上記複数のポイントのうち上記像信号のコントラストが所定値以上と判定されたポイントが選択されて上記第２測距手段により測距動作が実行され、上記第１測距手段の検出結果と上記第２測距手段の検出結果とに基づき最も近い距離に相当する検出結果が選択される。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
先ず図１は本発明の測距装置付きカメラの概念図である。
図１に示されるように、この発明の測距装置付きカメラは、少なくとも第１信号形成部１と第２信号形成部２、選択制御部３、レリーズ検出部４、被写体状況検出部５とを有し、これらが図示の如く接続され構成されている。
【００２２】
上記第１信号形成部１は、不図示の投光部と受光部とを有しており、投光部より測距用光を投光し、被写体からの上記測距用光の反射信号を受光部で受光し、上記被写体の合焦用信号を形成する。上記第２信号形成部２は、不図示の像信号検出部を有しており、該像信号検出部により被写体を定常的に照射する光による輝度分布状態をモニタし、被写体の合焦用信号を形成する。上記レリーズ検出部４は、撮影者が不図示のレリーズ操作部材を操作したことを検出する。
【００２３】
上記被写体状況検出部５は、上記レリーズ操作部材の操作前に上記第１信号形成部１又は上記第２信号形成部２のいずれかを作動させ、得られる信号に基づいて、被写体の状況を検出する。上記選択制御部３は、上記レリーズ検出部４により上記レリーズ操作部材の操作が検出されると、上記被写体状況検出部５による検出結果に基づいて、上記被写体の合焦用信号を得るために、上記第１信号形成部１と上記第２信号形成部２とのいずれを使用するかを選択制御する。
【００２４】
このように、本発明の測距装置付きカメラでは、パッシブ方式、アクティブ方式といった２つの合焦方式の選択を、レリーズ操作部材たるレリーズスイッチが押下される前に決定しておき、レリーズＯＮ時には、既に一方の方式に決定しているように制御して、レリーズタイムラグを解消した。
【００２５】
これにより、本発明によれば、いずれの方式を選択するかの処理時間を気にすることなく、十分な判断の末に選択した方式にてピント合せを行うことができるので、より高精度のピント合せが期待できることとなる。
【００２６】
図２は本発明の第１の実施の形態に係る測距装置付きカメラの構成図である。
これは、撮像素子を用いて撮影を行うデジタルカメラへの適用例である。
この図２に於いて、被写体２６の像は、撮影レンズ１１によりＣＣＤ等の撮像素子１２に結像され、レリーズスイッチ１５のＯＮのタイミングに同期して、上記撮像素子１２からの画像信号は後段のメモリ１３に記憶される。
【００２７】
ワンチップマイクロコンピュータ等により構成されたＣＰＵ１４は、上記メモリ１３に記憶された画像信号を、記録媒体１７に所定のフォーマットで圧縮した後に記録するほか、ピント制御部１８をはじめとする各部の制御を司る。
【００２８】
アクティブ方式のＡＦ部２５は、上記ＣＰＵ１４からの出力を受けるドライバ回路１９、このドライバ回路１９に接続された赤外発光ダイオード２０、この赤外発光ダイオード２０の前面に配置された投光レンズ２１、被写体からの反射光を結像する受光レンズ２２、光位置検出部（以下、ＰＳＤと称する）２３、集積回路（以下、ＡＦＩＣと称する）２４を有している。
【００２９】
上記ＣＰＵ１４は、所定のタイミングで上記ドライバ回路１９を制御して、赤外発光ダイオード２０より投光を行う。この投光による被写体２６からの反射光は、受光レンズ２２を介してＰＳＤ２３に結像される。このＰＳＤ２３は、入射信号光の位置に依存した電流信号を出力する。ＡＦＩＣ２４は、この電流信号を増幅し、アナログ演算を実行し、被写体距離に応じた信号に変換し、ＣＰＵ１４に出力する。ＣＰＵ１４は、このＡＦＩＣ２４からの信号に基づいて、合焦位置を決定することとなる。
【００３０】
上記受光レンズ２１と投光レンズ２２の各レンズ間距離は一定であるため、被写体２６からの反射信号光は、被写体距離に応じて、ＰＳＤ２３上の入射位置を変える。つまり、被写体２６が近距離なら投光系から離れた方に、遠距離なら投光系に近い方に反射光は入射する。この三角測距の方式によって、被写体距離を決定するのが、上記アクティブ方式のＡＦ部２５の働きである。
【００３１】
このようなブロックで構成されたカメラシステムの全ての構成要素に常に通電がされていると、直ぐに電池が消耗してしまう。そこで、一般的には、パワースイッチ１６が設けられており、カメラを使用する時のみ各部に適宜、電源が入るように構成されている。
【００３２】
一般の電子カメラでは、合焦方式として、撮像素子１２で得られた画像信号のコントラストが最大になるように、撮影レンズ１１を移動させながらコントラスト判定して、ＣＰＵ１４が最適の合焦位置を決めているが、被写体が低コントラストであったり、暗い環境下の被写体であると、十分な精度が得られない。かかる点に鑑みて、この実施の形態では、アクティブ方式のＡＦ部２５を併用した構成としている。従って、上記被写体に対しても正しい測距を実現する。
【００３３】
暗い環境下の被写体やコントラストの低い被写体に対しては、アクティブ方式の測距結果に基づいてピント制御をすれば、高精度で測距できる対象が広がることになる。しかし、これらの両方式は、同時に作動させるのは困難であり、順次、両方式を用いたピント位置決定をしていると、レリーズタイムラグが長くなるといった問題が生じてしまう。アクティブ方式のＡＦは遠い被写体や、黒い被写体に不適であるので、かかる被写体にはコントラスト方式を採用したい。
【００３４】
以下、図３のタイミングチャートを参照して、上記アクティブ方式及びパッシブ方式の選択制御のシーケンスを説明する。
図３に示されるように、パワースイッチ１６がＯＮされると、まず、アクティブ方式のＡＦを一定間隔で作動させ、レリーズスイッチ１５を撮影者が押下したタイミングで、予め大まか距離情報がＣＰＵ１４によって判断されているようにする。このようにして得られた情報によって、レリーズスイッチ１５が押下されると、コントラスト方式とアクティブ方式のいずれの方式によって合焦をするべきかを、ＣＰＵ１４が判断し、レリーズ前の測距結果が遠い距離を示す時にはコントラスト方式のピント合せを行うようにする。また、近距離を示すなら、アクティブ方式のＡＦが良好な精度を示すので再度アクティブ方式のＡＦを実行し、ピント合せを行うようにすればよい。
【００３５】
上記レリーズ前の測距として、この実施の形態において、アクティブ方式のＡＦを採用したのは、アクティブ方式の方がコントラスト方式よりも高速で測距可能だからである。つまり、コントラスト方式は、前述のように、レンズを動かせながら随時得られた像のコントラストを判断していくので、レンズを動かすための電力を無用に消費してしまい、省エネルギー化という観点からも先ずアクティブＡＦを採用した方が有利であるからである。
【００３６】
以上説明したように、第１の実施の形態では、予め得られた測距結果から、いずれの方式が好適であるかをＣＰＵ１４が判断しており、レリーズ操作と共に、選択された一の方式によりピント制御を行うので、時間的なロスがなく、シャッタタイミングを逃さない測距装置付きカメラを提供することができる。
【００３７】
尚、第１の実施の形態では、撮影系に撮像素子を使用したディジタルカメラへの適用を想定していたが、その他の所謂「撮像カメラ」の合焦にも本発明は応用可能であることは勿論である。
【００３８】
この撮像カメラは、撮像素子を撮影系に有していないので、測距専用の光学系と、像検出素子とを搭載して、パッシブ方式のＡＦにてピント合せを行うことがある。また、赤外線を投射するアクティブＡＦを採用するカメラも多い。また、これらを併用し、アクティブＡＦ用の受光素子を上記パッシブＡＦ用の像検出素子によって兼用したものもある。
【００３９】
以下に説明する第２の実施の形態に係る測距装置付きカメラは、このような構成の撮像カメラへの適用を想定したものである。
図４は、本発明の第２の実施の形態を示す測距装置付きカメラの概要を示す主要ブロック構成図である。
【００４０】
本実施の形態の測距装置は、主に、測距装置の全体の制御を司る制御手段であるＣＰＵ４０と、測距光を取り込み、測距距離を行う測距部３６と、投光手段としてのＬＥＤ用ドライバ３８及び発光ダイオード（ＬＥＤ）３８ａと、検出回路としてのＡＦ（オートフォーカス）ＩＣ３７とで構成されており、第１の測距モードであるパッシブＡＦモードでの測距と、第２の測距モードであるアクティブＡＦモードでの測距とが実行可能な装置である。
【００４１】
本実施の形態の測距装置において、パッシブＡＦモードでの測距を行う場合は、上記測距部３６に内蔵されたパッシブＡＦ（オートフォーカス）用のセンサアレイ３２ａ，３２ｂを利用する。そして、被写体４９から光をこのセンサアレイ３２ａ，３２ｂで取り込み、センサアレイの個々受光素子であるセンサセルの出力がスイッチ回路３３を介して取り込まれる。
【００４２】
そして、積分手段である積分回路を内蔵するＡ／Ｄ変換回路３４でＡ／Ｄ変換して、センサアレイ３２ａ，３２ｂ上の像ずれ量が演算回路３５にて演算される。その像ずれ量に基づいて被写体距離の演算が行われる。
【００４３】
一方、アクティブＡＦモードで測距を行う場合は、投光手段であるＬＥＤ３８ａを発光させ、被写体４９に向けてパルス状の信号光を投射し、その反射光を上記センサアレイの一方のセンサアレイ３２ｂで取り込む。そして、センサアレイの個々のセンサセルの出力ラインを測距部３６に内蔵されるスイッチ回路３３により積分回路側から切り放し、さらに、その出力を束ねた出力としてＡＦＩＣ３７に入力する。そのときの被写体の像の情報に基づいて、三角測距方式により被写体距離が求められる。なお、上記各モードで求められた被写体距離情報に基づいて、図示しない合焦駆動制御装置によりフォーカシングレンズが被写体合焦位置に繰り出されることになる。以下、詳細に本測距装置について説明する。
【００４４】
図４に示すように本測距装置においては、２つの受光レンズ３１ａ，３１ｂは、視差である基線長Ｂ1 だけ離して配置され、その焦点距離ｆの位置に２つのセンサアレイ３２ａ，３２ｂが配置されている。
【００４５】
パッシブＡＦモードの場合は、この視差による被写体４９のセンサアレイ３２ａ，３２ｂ上の輝度パターン像ずれ量に基づいて被写体距離Ｚを求める。すなわち、上記受光レンズ３１ａ，３１ｂを入射した被写体光は、センサアレイ３２ａ，３２ｂに入射し、その出力は、スイッチ回路３３を介して各センサセル単位でＡ／Ｄ変換回路３４に取り込まれ、積分処理後、Ａ／Ｄ変換される。そのデジタル情報に基づいて被写体距離が演算される。
【００４６】
一方、アクティブＡＦモードの場合は、ドライバ３８を介して、投光手段である発光ダイオード（ＬＥＤ）３８ａをパルス状に発光させ、投光レンズ３９で集光し、被写体４９に投射する。被写体４９から反射したＬＥＤ３８ａの反射光は、一方の受光レンズ３１ｂを介して、センサアレイ３２ｂに入射する。この時、センサアレイ３２ｂは、スイッチ回路３３によってその個々のセンサセルの出力を束ねた形で検出回路としてのアクティブＡＦＩＣ３７に入力される。即ち、後述するように、センサアレイ３２ｂの出力は、スイッチ回路３３でアレイの中央部分で２分割し、束ねられた状態で出力される。
【００４７】
上記ＡＦＩＣ３７は、定常光除去回路３７ａと信号処理回路３７ｂから成っており、公知の定常光除去回路３７ａの働きによって、センサアレイ３２ｂに定常的に入射している信号光以外の光、すなわち、背景光にもとづく光電流は、除去され、信号光に基づくパルス状の光電流成分のみが信号処理回路３７ｂにて処理される。上述のように、本実施の形態の装置ではスイッチ回路３３によって切り換え、センサアレイの各出力信号を個々に扱うこと、また、個々の出力を加算した形でまとめて扱うことができる。
【００４８】
なお、上記アクティブＡＦモードに切り換えられたとき、センサアレイ３２ａ側の出力ラインは、ＡＦＩＣ３７側へ接続されることはなく、上述のようにパッシブＡＦモードでのみ機能するものとする。
【００４９】
次に、図４を用いて、前述のパッシブＡＦモードでの測距装置の輝度パターンの相対位置差算出の方法について、より詳しく説明する。
両受光レンズ３１ａ，３１ｂの位置間隔の基線長Ｂ1 により、センサアレイ３２ａ，３２ｂ上に入射する光分布の相対位置差ｘは、被写体距離Ｚに依存して変化する。
【００５０】
即ち、各受光レンズの焦点距離をｆとすると、被写体距離Ｚは、
Ｚ＝Ｂ1 ・ｆ／ｘ …（１）
として求められる。
【００５１】
センサアレイ３２ａ，３２ｂの各センサは、光の入射量にしたがった電流信号を出力する。これらの出力をスイッチ回路３３を介して、上記電流信号を積分する積分手段である積分回路を含むＡ／Ｄ変換回路３４によりディジタル信号に変換すれば、像ずれ量演算回路３５による相関演算によって上記ｘが検出できる。この結果をワンチップマイコン等からなる演算制御手段であるＣＰＵ４０に入力し、上式を演算することにより、被写体距離Ｚが求められる。これがパッシブ式での三角測距方式の基本原理であり、上記の構成がパッシブ式三角測距装置の一般的な構成である。
【００５２】
なお、上記ずれ量演算機能は、一般的に後述のように二つのプロセスからなるが、これらはこのＣＰＵ４０に内蔵してもよい。例えば、カメラのピント合わせを行う時、カメラの動作を司る上記ＣＰＵ４０により、カメラの撮影用ピント合わせ用レンズをモーター等のアクチュエータを介して制御すれば、ＡＦ（自動焦点）機能付きカメラが提供できる。
【００５３】
上記ずれ量ｘを求めるずれ量演算処理において、まず、センサアレイ上の像ずれ量演算は、センサピッチの単位、すなわち、センサセルのピッチでどれだけずれているかを調べる相関演算のステップと、さらに、補間することによりそれより細かい分解能でのずれ量を算出する補間演算ステップとを必要とする。
【００５４】
まず、上記相関演算の方法について説明する。
図５（ａ）および（ｂ）は、センサアレイ３２ａおよび３２ｂ上に入射した光の輝度パターンとセンサアレイを構成するセンサセルの各出力を示す図である。
【００５５】
右側センサであるセンサアレイ３２ａが受光素子ユニットである各センサセルａ1 からａ6 で構成されるとして、その添え字の1 から6 は、受光レンズ３２ａ光軸基準でのセンサセルａｉの絶対位置を示すものとする。また、左側センサであるセンサアレイ３２ｂについても各センサセルｂ1 からｂ6 で構成されるとして、添え字の1 から6 は、受光レンズ３２ａ光軸基準でのセンサセルｂｉの絶対位置を示すものとする。また、各センサセルのピッチはＰｓとする。
【００５６】
そこで、センサアレイ３２ａ上に図５（ａ）のような輝度パターンＰＴａで光が入射した場合、センサアレイ３２ａの各センサセルａ1 〜ａ6 の出力の大きさＲ1 〜Ｒ6 は、図５（ａ）中、棒グラフで示したような分布となる。もし、センサアレイ３２ｂ上にも同様の輝度パターンＰＴｂの光が入射し、各センサセルｂ1 〜ｂ6 のセンサ出力Ｌ1 〜Ｌ6 の出力パターンが上記センサ出力Ｒ1 からＲ6 の出力パターンに対してずれがなく、一致すれば、上記ずれ量ｘの値は０となるので、被写体距離Ｚは、無限遠ということになる。
【００５７】
また、被写体が有限距離にある場合、図５（ａ）に示したセンサセル出力Ｒ1 からＲ6 の出力に対して、図５（ｂ）に示すようにセンサセルの数ｓだけシフトした類似のパターンのセンサセルｂ1+s ，ｂ2+s ，…，ｂ6+s の出力Ｌ1+s ，Ｌ2+s ，…，Ｌ6+s が得られる。従って、このシフトセンサセル数ｓの値から上記ずれ量ｘを求めることができる。
【００５８】
上記シフトセンサセル数ｓの値を求めるには、あるセンサセルの出力Ｒから対応するセンサセルの出力Ｌの出力を引き算し、その絶対値を各センサセルごとに加算した差の加算値ＦＦを用いればよい。まず、左右のセンサセル対応位置のセンサセル出力Ｒ（ｉ）とＬ（ｉ）を引き算し、絶対値をとって、ある幅でｉを変化させて行き、これらを加算して差の加算値ＦＦ（ｉ）を求める。
【００５９】
すなわち、
ＦＦ（ｉ）＝Σ｜Ｒ（ｉ）−Ｌ（ｉ）｜
を求める。
【００６０】
次に、右左センサセルの出力ＲｉまたはＬｉの一方を１セルだけずらし、先に差をとった隣のセンサセルと同様に出力差をとると次のような式で差の加算値ＦＦ（ｉ＋１）が表現できる。
【００６１】
すなわち、
ＦＦ（ｉ＋１）＝Σ｜Ｒ（ｉ＋１）−Ｌ（ｉ）｜
となる。
【００６２】
このように順次、ずらし量Ｓｆを変更しながら求めたＦＦの値の変化をある被写体の対する例として示すと、図６のようにずらし量Ｓｆに対して変化する線図となる。上記図６の場合は、出力ＲとＬの差を加えた差の加算値ＦＦ値が最小値Ｆmin となるずらし量Ｓｆのところでの右左のセンサアレイ３２ａ，３２ｂの出力が最もよく対応がとれていると考えられるため、このときのずらし量Ｓｆが前記センサセルシフト量ｓとなる。
【００６３】
上記センサセルシフト量ｓを加味して両センサアレイ３２ａ，３２ｂの出力分布を図示すると、図５（ａ）に示すようなシフトなし状態のセンサアレイ３２ａ側の添え字の付き各センサセルａｉの出力Ｒの輝度パターンに対して、前記図５（ｂ）におけるセンサアレイ３２ｂ側のシフト量ｓだけずれた添え字の付き各センサセルｂi+s の出力Ｌの輝度パターンが得られる。
【００６４】
そこで、上記センサセルシフト量ｓに基づき、より細かい分解能のずれ量ｘを求めるには補間演算を行う必要がある。すなわち、実際の二つのセンサアレイ３２ａ，３２ｂ上の像のずれ量は、センサセルのピッチにぴったりと合致した状態でずれるわけではない。より精度の高い測距を行うためには、センサビルのピッチより細かい精度で像ずれ量を検出しなければならない。このプロセスを補間演算と呼んでいるが、これを図７の各センサアレイの出力線図を用いて、次に説明する。
【００６５】
図７の出力ＲとＬは、各々図４のセンサアレイ３２ａ，３２ｂの一部のセンサセルに対する出力を表していて、すでに上述の相関演算が終了し、上記シフト量ｓだけシフトさせた比較しやすい状態にならべて図示してある。したがって、図７中の出力Ｌ0 からＬ4 は、厳密にはシフトした位置の出力Ｌs からＬs+4 と記述するべきだが、繁雑になるので上記シフト量ｓは省略して示している。
【００６６】
図７に示すように左センサアレイ３２ｂの出力Ｌに示されるように、上記シフト量ｓだけシフトした後でも右センサアレイ３２ａの出力Ｒ基準として、セルピッチ内でまだ位置ｘだけずれた光が入射しているとする。この時、例えば、出力Ｌ１のセンサセルｂ1 には出力Ｒ0 とＲ1 のセンサセルａ0 とａ1 に入射する光が混じり合って入射し、同様に各ＬｉのセンサセルｂｉにもＲ基準で位置ｘだけずれた光が順次入射するため、各出力Ｌｉは、次の式（２）に示すように表現される。
【００６７】
すなわち、

となる。
【００６８】
また、前記最小値Ｆmin と、最小値Ｆmin を与えるセンサセル位置から上記シフト量をプラス方向とマイナス方向にセンサセル１つ分にずらしたときの差の加算値ＦＦの値Ｆ-1、Ｆ+1とを各Ｒn ，Ｌn の出力値により表現すると式（３）のようになる。
【００６９】
すなわち、

となる。
【００７０】
さらに、式（２）を用いて式（３）を展開すると、次の式（４）が求められる。すなわち、

となる。
【００７１】
但し、｜Ｒ1 −Ｒ0 ｜は、およそ｜Ｒ4 −Ｒ3 ｜と等しいとする。
上記式（４）において、｛｜Ｒ0 −Ｒ1 ｜＋｜Ｒ1 −Ｒ2 ｜＋｜Ｒ2 −Ｒ3 ｜｝の値を（ΣΔＲ）と置いて表現すると、
Ｆmin ＝ｘ・（ΣΔＲ）
Ｆ-1 ＝（１−ｘ）・（ΣΔＲ）
Ｆ+1 ＝（１＋ｘ）・（ΣΔＲ）
となる。
【００７２】
したがって、各Ｆ値とずれ量ｘとの関係を示す式（５）として、

が求められる。
【００７３】
式（５）のように（ΣΔＲ）の値に依存せず、上記Ｆmin ，Ｆ-1，Ｆ+1の値から先のずれ量ｘが求められる。これが補間演算であり、図４の演算回路３５にて行われるが、ワンチップマイコン等の演算制御手段であるＣＰＵ４０にて所定のプログラムに従って行ってもよい。
【００７４】
次に、本測距装置におけるもう一方のアクティブＡＦモードでの測距動作についてより詳しく説明する。
本実施の形態の測距装置でのアクティブＡＦモードでの測距動作の説明に先立って、従来のアクティブＡＦ測距動作について説明する。
【００７５】
図８は、アクティブＡＦ測距原理を示す図であるが、本実施の形態の測距装置の構成に対してセンサアレイ３２ｂに代えて２分割センサ２Ｂを使用するものとして説明する。すなわち、ＬＥＤ３８ａは、投光レンズ３９を介して被写体４９に向けて測距用光をパルス的に投射する。
【００７６】
被写体４９から反射した測距用光の反射信号光は、受光レンズ３１ｂを介して、その出力が２分割センサ３２Ｂに入射するが、定常的にセンサに入射している背景の光に対し、上記信号光はパルス的光であるので、ＡＦＩＣ３７では周波数の差やタイミングを用いてこれを分解する。
【００７７】
図９は、上記２分割センサ３２Ｂ上に結像したｂの幅を持つ反射信号光スポットＳｐの様子を示す図である。被写体距離Ｚとし、投受光レンズ間の距離Ｂ2 とし、受光レンズの焦点距離ｆとすると、上記スポットＳｐの中心は、次の関係を満たす位置ｘp に入射する。
【００７８】
すなわち、
ｘp ＝Ｂ2 ・ｆ／Ｚ …（６）
となる。
【００７９】
また、基準点Ｋから距離ｘp の位置を中心とする幅ｂの光スポットＳｐが入射し、２分割センサ３２Ｂが、その入射したスポットＳｐの面積に従った光電流を出力する時、２つの光電流ｉpa, ｉpbは、

の関係が成立する。ここで、ａは、２分割されたセンサアレイ３２ａ上の基準Ｋからの分割ポイントＣp までの距離である。ｉｐは、総信号光電流であり、光電流ｉpaとｉpbとを加算すると上記光電流ｉｐとなる。
【００８０】
従って、この２つの光電流信号をＡＦＩＣ３７の処理回路でｉpa／（ｉpa＋ｉpb）の値を計算すると、（ｘp ＋ｂ／２−ａ）／ｂという形で、位置ｘp に依存した信号が得られる。上記値ａ，ｂ等は定数であるので、この信号を用い、ＣＰＵ４０にて式（６）より被写体距離Ｚが求められる。
【００８１】
さて、本実施の形態の測距装置にてアクティブＡＦモードにおける測距を行う場合、上述のセンサアレイ３２ｂを上記従来の測距装置の２分割センサ３２Ｂとして適用する。なお、本実施の形態の装置では、センサアレイ３２ｂとその出力を切り換えるスイッチ回路３３以外の構成としては、図８に示した従来の構成と同様である。すなわち、投光手段としての被写体４９に向けて測距用光をパルス的に投射するＬＥＤ３８ａおよび投光レンズ３９を用い、さらに、被写体４９の反射信号光を取り込む受光レンズ３１ｂ、および、上記反射信号光をパルス信号光として分離し、測距演算を行うＡＦＩＣ３７等で構成される。
【００８２】
本測距装置において、図１０のセンサアレイ接続回路図に示すように、センサアレイ３２ｂの各セルの出力は、２分割ポイントＣp で２分割され、スイッチ回路３により束ねられて光電流ｉpa，ｉpbとしてＡＦＩＣ３７に出力される。このように構成することによって、２分割センサ３２Ｂを用いた従来例と比較して、センサアレイのセルピッチが十分細かければ、図１０のように２分割されたセンサの各センサセルを束ねて用いても同様の効果が得られる。
【００８３】
つまり、アクティブＡＦモード時において、センサアレイ３２ｂの出力をスイッチ回路３３で束ねてあたかも２分割センサ３２Ｂのように２つの光電流が出力できるようにすれば同様の信号処理によって、図９に示すように基準位置Ｋからスポット中心迄の距離ｘp に依存した式（７）による信号を得ることができ、式（６）により被写体距離Ｚが求められる。
【００８４】
本測距装置によると、上述のようにスイッチ回路３３の切り換えによりパッシブＡＦモードでの測距にも用いられるセンサアレイ３２ｂの出力を、アクティブＡＦモードでは、図１０のように束ねた状態に切り換え、光電流ｉpa，ｉpbを出力できるようにする。このようにスイッチの切り換えによって同一のセンサアレイを用いて、パッシブＡＦモードおよびアクティブＡＦモードでの測距が可能となる。
【００８５】
ここで、図１１の回路図、および、図１２のアンプ出力波形線図を用いて、上記実施の形態の測距装置におけるパッシブＡＦモード時のセンサアレイの各センサセルの出力をＡ／Ｄ変換する方法の一例を説明する。なお、上記図１１は、図４に示すセンサアレイ３２ｂを構成する１受光素子であるセンサセル３２ｂｉと、該センサセル３２ｂｉの出力を切り換えるスイッチ回路３３および積分回路を含むＡ／Ｄ変換回路３４の詳細を示す回路図である。
【００８６】
なお、次の説明は左側のセンサアレイ３２ｂの出力のＡ／Ｄ変換動作に関するものであり、他方の右側のセンサアレイ３２ａについても同様のＡ／Ｄ変換動作が行われる。但し、この右側のセンサアレイ３２ａにはアクティブＡＦモード時に切り換えられる後述の切り換えスイッチＳＷ1 と端子４４は設けられていないものとする。
【００８７】
上記センサアレイ３２の受光センサセル３２ｂｉは、入射した光の強さに応じた光電流を出力する。ＣＰＵ４０に内蔵されるスイッチ（ＳＷ）制御回路４０ａによりスイッチ回路３３の切り換えスイッチＳＷ1 をオフ、切り換えスイッチＳＷ2 をオンとすると、第１の基準電圧Ｖref1を基準電圧とする積分アンプ４１と積分コンデンサ４２の作用により、積分されて光電流が電圧に交換される。その出力は、コンパレータ４３に入力され、第２の基準電圧Ｖref2と比較される。尚、上記積分開始に先だって、スイッチ制御回路４０ａにより切り換えＳＷ3 をオンさせ、その後、切り換えスイッチＳＷ3 をオフすると、図１３のように積分アンプ４１の出力が、まず、基準電圧Ｖref1に固定される。その後、上述したように光電流の大きさ、つまり、光の強さに依存して積分電圧が変化する。コンパレーター４３では上記積分電圧が基準電圧Ｖref2に達するまでの到達時間ＴINT を判定する。入射した光が大きいと、到達時間ＴINT は小さくなり、入射した光が小さいと、積分が遅くなり、到達時間ＴINT は大きくなる。
【００８８】
このように各センサセル３２ｂｉについて、基準電圧Ｖref2に達するまでの到達時間ＴINT を求めることにより、各センサセル３２ｂｉに入射した光の強さがディジタル的に求められ、被写体像の状態を示す信号が得られる。なお、上記積分コンデンサ４２の容量を別途スイッチにより切り換えることによって、積分のスピードを制御してより広い範囲の光に対応して感度を切り換えることも可能である。
【００８９】
一方、アクティブＡＦモードで測距を行う場合は、切り換えスイッチＳＷ2 をオフとし、ＳＷ1 をオンとする。この切り換え状態で端子４４より光電流が出力される。上記端子４４は、前記図１０の回路図に示すように束ねられ、先に説明した機能を持つＡＦＩＣ３７に接続されており、測距用光のＬＥＤ投射時の反射信号光を検出することが可能となる。
【００９０】
以下、図面を参照して、第２の実施の形態によるアクティブ方式とパッシブ方式の切り換えと、その効果を説明する。
図１３は、上記２つの方式のＡＦ機能を有するカメラがピント合せするときの一般的な制御シーケンスである。
【００９１】
即ち、レリーズスイッチが押下されたことを検出するまでは（ステップＳ１）、ファインダ内やカメラドラムに設けられたモードや撮影コマ数を表示するためのサブルーチンを繰り返し（ステップＳ２）、レリーズ後に、露出用の測光（ステップＳ３）、ＡＦシーケンス（ステップＳ４〜Ｓ１０）を実行し、ピント合せ（ステップＳ１１）、シャッタ制御（露出制御）（ステップＳ１２）を、それらの結果に従って行う。
【００９２】
前述したようなアクティブ方式、パッシブ方式といった２つのＡＦ方式の良さを引き出すために、ステップＳ４にて、先ずアクティブ方式のＡＦを行い、得られた反射光位置信号から距離を算出し（ステップＳ５）、その結果から、パッシブ方式のＡＦを行うか否かの判断を行っている（ステップＳ６）。そして、アクティブ方式のＡＦの結果が適正ならば、その結果でピント合せを行い、不適当ならばパッシブＡＦの積分動作に移行し（ステップＳ７）、画像信号を用いて距離算出し、ピント制御を行う。
【００９３】
このシーケンスでは、上記ステップＳ６を「Ｙ」に分岐し、アクティブ方式、パッシブ方式のＡＦを双方実行すると、非常に時間がかかることが判る。
これに対して、図１４は、第２の実施の形態の制御シーケンスである。
【００９４】
このシーケンスでは、レリーズが押下される前に、表示だけではなく、以下の測距シーケンスを行う点に特徴がある。
即ち、被写体の明るさや像の特徴等から、積分の制御を、そのセンサを用いて、どれぐらいの時間で行うかを決定し（ステップＳ２３）、積分制御を行う（ステップＳ２４）。レリーズボタンが押される前は、撮影者が正しく構図を決定していない可能性が高いので、このレリーズ前測距は、リアルタイムで高速に行う必要がある。そこで、リミッタを設定しておき、十分な積分ができていなくとも、所定時間が経過すれば積分を終了して、次のステップに進むようにしている（ステップＳ２５，Ｓ２６）。このようにして得られた画像信号を、ＣＰＵ４０は常にモニタしている（ステップＳ２７）。そして、図１３のステップＳ２と同様に、表示ステップを実行する（ステップＳ２８）。
【００９５】
こうしてレリーズボタンが押下されると（ステップＳ２１）、既に測距済みである場合には（ステップＳ２２）、得られた画像信号にコントラストがあるか否かを検出し（ステップＳ２９）、コントラストがある場合には、先に得られた像信号によって被写体距離を算出してピント合せを行い（ステップＳ３０，Ｓ３３）、露出制御を行う（ステップＳ３４）。
【００９６】
ここで、レリーズ前には、リアルタイムで画像信号をモニタしたいので、処理時間を極力短くするために、距離算出はレリーズ後のタイミングで作っている点に特徴がある。この場合、レリーズ後、全く測距動作を行っていないので、タイムラグのないレリーズのないレリーズができることとなる。
【００９７】
一方、コントラストがない時は（ステップＳ２９）、パッシブＡＦによる測距は不適当なので、アクティブＡＦ、演算を実行し（ステップＳ３１，Ｓ３２）、ピント合せを行い、露出制御を行う（ステップＳ３３，Ｓ３４）。
【００９８】
以上説明したように、第２の実施の形態によれば、アクティブＡＦとパッシブＡＦの良い所を採用した、苦手被写体のない高精度ＡＦを実現できるので、タイムラグの少ない測距装置付きカメラを提供することができる。
【００９９】
以下、この第２の実施の形態の応用例を説明する。
一般に、図１７に示されるように、画面内中央に被写体がない場合、画面内の段数のポイントを測距して、ピント合せ距離を決定する所謂マルチＡＦの技術が知られている。しかしながら、背景が夜景だったりすると、パッシブの像検出では背景の光でのみ積分が制御され、人物の像が得られない。従って、人物は所謂ピンボケになってしまう。
【０１００】
かかる点に鑑みて、この応用例では、図１５に示されるように、像信号にコントラストのないポイントを見つけ、当該ポイントに対して、アクティブＡＦを実行して、ローコントラスト部分をも測距可能とした。この例では、同図に示されるように、ＣＰＵ５７により駆動制御される選択ドライバ５２に複数の投光素子５１が接続されており、この投光素子５１の投光する光の光軸上に投光レンズ５０が設けられている。そして、反射光を結像すべく受光レンズ５３，５４が設けられており、その後方にセンサアレイ５５が設けられている。このセンサアレイ５５の出力はＡ／Ｄ部５６を介してＣＰＵ５７の入力に接続されている。以上のように、投光素子５１は図示の如く複数必要であり、検出されたローコントラストポイントに合せて選択され、発光することとなる。
【０１０１】
さらに、図１６に示されるように、ローコントラストポイントは、予め本発明の特徴たるレリーズ前測距によってパッシブのセンサで検出されている。パッシブセンサで得られた像のうち、ローコンポイントをＣＰＵ５２が検出し（ステップＳ５１乃至Ｓ５４）、その部分に対しレリーズ後投光を行い、アクティブＡＦの原理で、そのポイントの測距を行う（ステップＳ５６）。こうして、ローコントラスト部分はアクティブＡＦ、コントラストの高い所はパッシブＡＦを行い、各々、得意とする被写体に対し測距ができ、正確なマルチＡＦができる（ステップＳ５７）。こうして得られた結果から、例えば最も近い距離を選択し、ピント合わせを行い、露出制御を行えば（ステップＳ５８乃至Ｓ６０）、図１７に示されるようなシーンでも正しく人物にピントを合せることができる。
【０１０２】
以上説明したように、本発明によれば、夜景のように、主要被写体のコントラストが低いシーンでも、アクティブＡＦの利点を生かして、正しくピント合せが可能となる。コントラストの高い被写体は、逆にアクティブＡＦがにが手とするものなので、無駄なく最も効果の高い測距方式を選んで、高速でピント合せを可能とする。
【０１０３】
尚、本発明の上記実施の形態には以下の発明も含まれる。
（１）被写体に対し、信号光を投射する投光手段と、
上記被写体からの上記信号光の反射信号光を受光する受光手段を有し、上記被写体の測距に用いる信号を形成する第１信号手段と、
上記被写体の像信号を検出する像信号検出手段を有し、上記被写体の測距に用いる信号を形成する第２信号手段と、
撮影者が撮影に際して、撮影開始操作部材を撮影開始操作したことを検出する撮影開始検出手段と、
上記カメラの電源投入を検出する電源投入検出手段と、
上記電源投入検出手段による電源投入後において、上記撮影開始検出手段による上記撮影開始操作部材の操作検出前に、上記第１信号手段又は上記第２信号手段のいずれかを作動させて信号を得て、該信号に基づいて、上記撮影開始検出手段による上記撮影開始操作部材の操作検出後のタイミングにて、上記第１信号手段と上記第２信号手段のいずれを作動させるかの優先度を決定する制御手段と、を具備することを特徴とする測距裁置付きカメラ。
（２）上記（１）において、上記第２信号手段は、撮影光学系により結像された被写体像を撮像する撮像手段を有している。
（３）上記（２）において、上記撮影開始検出手段による上記撮影開始操作部材の操作検出前には、上記第１信号手段を作動させる。
（４）上記（１）において、上記第１信号手段の上記受光手段と上記第２信号手段の像信号検出手段とは、共通の受光素子列で構成されていている。
（５）上記（４）において、上記撮影開始検出手段による上記撮影開始操作部材の操作検出前には、上記第２信号手段を作動させる。
（６）上記（１）において、上記撮影開始検出手段による上記撮影開始操作部材の操作検出前に上記第２信号手段が作動した場合には、上記撮影開始操作部材の操作検出前に、上記被写体の測距演算は行なわず、上記像信号検出手段により像信号を検出するまでの動作を行うようにし、上記撮影開始検出手段による上記撮影開始操作部材の操作検出後に測距演算を行なうようにする。
（７）画面内の複数のポイントを測距するために複数の発光手段を有し、上調画面内の被写体に上記発光手段から測距用光を投射して、その反射光を受光して利用する第１測距手段と、
上記画面内の被写体の像信号パターンを利用する第２測距手段と、
撮影開始操作部材を撮影開始操作したことを検出する撮影開始検出手段と、
上記撮影開始操作部材の撮影開始操作に先立って、上記第２測距手段を作動させて、像信号を判定する判定手段と、
上記撮影開始操作部材の操作検出後で、上記第１測距手段の作動時に、上記判定手段の出力結果に応じて、上記複数の発光手段のうちいずれを作動させるか選択を行なう制御手段と、
を具術することを特徴とする測距装置付きカメラ。
【０１０４】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、ピント合わせ用に方式の異なる２つの測距機能を併用して、より広い範囲の被写体状態に対して良好な測距を可能とすると共に迅速な応答の測距装置付きカメラを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の測距装置付きカメラの概念図である。
【図２】第１の実施の形態に係る測距装置付きカメラの構成図である。
【図３】アクティブ方式及びパッシブ方式の選択制御のシーケンスを説明するためのタイミングチャートである。
【図４】第２の実施の形態を示す測距装置の概要を示す主要ブロック構成図である。
【図５】センサアレイ３２ａ，３２ｂ上に入射した光の輝度パターンとセンサアレイを構成するセンサセルの各出力を示す図である。
【図６】ずらし量Ｓｆに対して変化するＦＦの値を示す線図である。
【図７】各センサアレイの出力線図である。
【図８】アクティブＡＦ測距原理を示す図である。
【図９】２分割センサ３２Ｂ上に結像したｂの幅を持つ反射信号光スポットＳｐの様子を示す図である。
【図１０】センサアレイ接続回路図である。
【図１１】パッシブＡＦモード時のセンサアレイの各センサセルの出力をＡ／Ｄ変換する方法を実現する回路図である。
【図１２】パッシブＡＦモード時のセンサアレイの各センサセルの出力をＡ／Ｄ変換する方法を実現するアンプ出力波形線図である。
【図１３】２つの方式のＡＦ機能を有するカメラがピント合せするときの一般的な制御シーケンスである。
【図１４】第２の実施の形態の測距装置付きカメラの制御シーケンスである。
【図１５】第２の実施の形態の測距装置付きカメラの応用例の構成を示す図である。
【図１６】第２の実施の形態の測距装置付きカメラの応用例の動作を示す図である。
【図１７】画面内中央に被写体がないシーンを示す図である。
【符号の説明】
１第１信号形成部
２第２信号形成部
３選択制御部
４レリーズ検出部
５被写体状況検出部

Claims

被写体に対し、測距用光を投光する投光手段と、上記被写体からの上記測距用光の反射信号を受光する受光手段とを有し、上記被写体の合焦用信号を形成する第１信号形成手段と、
上記被写体の輝度分布状態をモニタする像信号検出部を有し、上記被写体の合焦用信号を形成する第２信号形成手段と、
撮影者が撮影開始操作部材を操作したことを検出する撮影開始検出手段と、
上記撮影開始操作部材の操作前に上記第１信号形成手段又は上記第２信号形成手段のいずれかを作動させ、得られる信号に基づいて、被写体の状況を検出する被写体状況検出手段と、
上記撮影開始検出手段により上記撮影開始操作部材の操作が検出されると、上記被写体状況検出手段による検出結果に基づいて、上記被写体の合焦用信号を得るために上記第１信号形成手段と上記第２信号形成手段とのいずれを使用するかを選択制御する選択制御手段と、を具備し、
上記選択制御手段は、上記被写体状況検出手段により上記像信号のコントラストが所定値より小さいと検出された場合は上記第１信号形成手段を選択し、コントラストが所定値以上と検出された場合は上記第２信号形成手段を選択するとともに、第２信号形成手段が選択された場合は、上記撮影開始操作部材の操作前に上記像信号検出手段を作動させて得られた信号に基づいて上記第２信号形成手段が上記合焦用信号を形成することを特徴とする測距装置付きカメラ。
画面内の複数のポイントを測距するために複数の発光手段を有し、上記画面内の被写体に上記発光手段から測距用光を投射して、その反射光を受光して利用する第１測距手段と、
上記画面内の被写体の像信号パターンを利用する第２測距手段と、
撮影開始操作部材を操作開始したことを検出する撮影開始検出手段と、
上記撮影開始操作部材の操作に先立って、上記第２測距手段を作動させて、像信号を判定する判定手段と、
上記撮影開始操作部材の操作検出後で、上記第１測距手段の作動時に、上記判定手段の出力結果に基づいて、上記複数のポイントのうちいずれを測距するか選択を行う制御手段と、を具備し、
上記制御手段は、上記判定手段により上記複数のポイントのうち上記像信号のコントラストが所定値より小さいと判定されたポイントを選択して上記第１測距手段により測距動作を実行させるとともに、上記判定手段により上記複数のポイントのうち上記像信号のコントラストが所定値以上と判定されたポイントを選択して上記第２測距手段により測距動作を実行させ、上記第１測距手段の検出結果と上記第２測距手段の検出結果とに基づき最も近い距離に相当する検出結果を選択することを特徴とする測距装置付きカメラ。