JP6039729B2 - 焦点検出装置 - Google Patents

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本発明は、デジタルカメラ等の撮像装置における焦点検出技術に関するものである。
従来、カメラの自動焦点検出方式としては、位相差検出方式というものが一般的に良く知られている。位相差検出方式では、撮影レンズの異なる射出瞳領域を通過した被写体からの光束を、AFセンサの一対のラインセンサ上に結像させる。そして、一対のラインセンサで光電変換して得られた一対の被写体像の相対位置を演算することで(以下位相差演算という)、撮影レンズのデフォーカス量を検出する。
例えば、特許文献1には、従来技術によるオートフォーカス用固体撮像装置が開示されている。図13は特許文献1に記載のオートフォーカス用固体撮像装置を示す回路ブロック図である。AGC回路1103はAF回路1101からの最大値信号に基づいて蓄積時間制御を行い、ゲイン可変型信号増幅回路1106は最大値信号と最小値信号との差信号に基づいてゲイン制御を行う。また、信号増幅回路1106は最小値信号を基準として信号出力を行う。蓄積時間制御とゲイン制御により、センサのダイナミックレンジ向上を実現している。
特開2003−222786号公報
しかしながら、上述の特許文献1に開示された技術では、オートフォーカス用固体撮像装置の出力端子前段で信号増幅回路によるゲイン制御を行っており、信号増幅回路前のSN比が悪い場合にそれを改善することはできない。
センサの感度が低く、被写体が超低輝度の場合、精度の高い位相差演算を行うには蓄積時間を長くする必要がある。このとき、暗電流によるノイズや回路で発生するノイズが、蓄積信号に対して無視できないほど大きくなり、良好なSN比が得られない。一方、センサの感度が高く、被写体が超高輝度の場合、センサは光ショットノイズの影響を強く受け、良好なSN比が得られない。AFセンサ回路はノイズも含めた蓄積信号を信号増幅回路で増幅するため、ノイズも一緒に増幅されることになり、その出力はSN比の悪いものとなってしまう。
本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、自動焦点検出装置に用いられるAFセンサにおいて、より幅広い輝度範囲で良好なSN比が得られるようにすることである。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係わる焦点検出装置は、被写体像を結像させるための撮影レンズの異なる瞳領域を通過した光をそれぞれ受光する一対のセンサを、複数対配置して構成された焦点検出センサと、前記複数対のセンサに対して、感度を設定する感度設定手段と、前記センサの信号の信頼性を判定し、その判定結果に基づいて前記複数対のセンサの内のどのセンサの信号を用いて焦点検出演算を行うかを選択する選択手段と、前記選択手段により選択されたセンサの信号を用いて焦点検出演算を行う演算手段と、複数回の焦点検出動作を連続して行う場合に、1回目の焦点検出動作においては、前記選択手段により選択されたセンサの信号を用いて前記演算手段が焦点検出演算を行い、2回目以降の焦点検出動作においては、前回の焦点検出動作結果に基づいて、前記感度設定手段が前記センサにより光電変換された電荷を蓄積する容量を切り替えることにより前記センサの感度を切り替え、感度を切り替えた後に前記センサの画素のリセット動作を行って信号の蓄積を行うように制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、自動焦点検出装置に用いられるAFセンサにおいて、より幅広い輝度範囲で良好なSN比を得ることが可能となる。
本発明の第1の実施形態に係わるカメラの構成図。 第1の実施形態のカメラにおける光学系の構成図。 第1の実施形態の焦点検出装置の光学構成図。 第1の実施形態におけるラインセンサの配置と測距点を示す図。 第1の実施形態のAFセンサの構成を示す図。 第1の実施形態におけるPB信号と蓄積時間の制御方法を説明する図。 第1の実施形態におけるラインセンサを構成する画素の回路図。 第1の実施形態における焦点検出動作のフローチャート。 被写体の輝度とSN比との関係を示した図。 信頼性判定を説明するための図。 像一致度を説明するための図。 第2の実施形態における焦点検出動作のフローチャート。 従来のオートフォーカス用固体撮像装置の回路ブロック図。
以下に、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係わる撮像装置としてのデジタルカメラの構成を示すブロック図である。カメラ用マイクロコンピュータ(以下CPUと記載する)100には、カメラの各種操作用のスイッチ群214を検知するための信号入力回路204、撮像センサ(撮像素子)206、AEセンサ207が接続されている。また、シャッタマグネット218a,218bを制御するためのシャッタ制御回路208、AFセンサ101も接続されている。また、撮影レンズ300(図2参照)とはレンズ通信回路205を介して信号215の伝送がなされ、焦点位置や絞りの制御を行う。カメラの動作はスイッチ群214の設定で決定される。
AFセンサ101は、ラインセンサを備えており、CPU100によりAFセンサ101を制御することで、ラインセンサで得られた被写体のコントラスト分布から、デフォーカス量を検出し、撮影レンズ300(図2参照)の焦点位置を制御する。
CPU100はAEセンサ207を制御することで、被写体の輝度を検出し、不図示の撮影レンズの絞り値やシャッタスピードを決定する。そして、レンズ通信回路205を介して絞り値を制御し、またシャッタ制御回路208を介してマグネット218a,218bの通電時間を調節することでシャッタスピードを制御し、さらに撮像センサ206を制御することで撮影動作を行う。
CPU100内には、カメラ動作を制御するためのプログラムを格納したROM、変数を記憶するためのRAM、種々のパラメータを記憶するためのEEPROM(電気的消去、書き込み可能メモリ)などの記憶回路209が内蔵されている。
次に、図2を参照して、カメラの光学構成について説明する。撮影レンズ300を介して入射した被写体からの光束の大部分はクイックリターンミラー305で上方に反射され、ファインダスクリーン303上に被写体像として結像される。カメラのユーザーはこの像をペンタプリズム301、接眼レンズ302を介して観察することができる。撮影光束の一部はクイックリターンミラー305を透過し、後方のサブミラー306で下方へ曲げられて、視野マスク307、フィールドレンズ311、絞り308、二次結像レンズ309を経てAFセンサ(焦点検出センサ)101上に結像される。この像を光電変換して得られる像信号を処理することで、撮影レンズ300の焦点状態を検出することができる。撮影に際しては、クイックリターンミラー305が跳ね上がり、全光束は撮像センサ206上に結像され、被写体像の露光が行われる。
本実施形態における焦点検出装置(図2において、視野マスク307から二次結像レンズ309までの光学系およびAFセンサ101から構成される)での焦点検出方式は周知の位相差検出方式である。そして、画面内の異なる複数の領域の焦点状態を検出することが可能である。
焦点検出に関わる光学系の詳細な構成を、図3に示す。撮影レンズ300を通過した被写体からの光束は、サブミラー306(図2参照)で反射され、撮像面と共役な面上にある視野マスク307の近傍に一旦結像する。図3では、サブミラー306で反射され、折り返された光路を展開して示している。視野マスク307は画面内の焦点検出領域(以下、測距点とも記す)以外の余分な光を遮光するための部材である。
フィールドレンズ311は、絞り308の各開口部を撮影レンズ300の射出瞳付近に結像する作用を有している。絞り308の後方には二次結像レンズ309が配置されており、一対2つのレンズから構成され、それぞれのレンズは絞り308の各開口部に対応している。視野マスク307、フィールドレンズ311、絞り308、二次結像レンズ309を通過した各光束は、AFセンサ101上のラインセンサに結像する。また、AFセンサ101内のラインセンサは撮影画面内の異なる被写体からの光束も結像できるように構成されている。
ここで、AFセンサ101上のラインセンサと撮影画面内の測距点との関係について、図4(a)〜図4(c)を参照しながら説明する。
図4(a)は、AFセンサ101のラインセンサの配置を示す図である。ラインセンサ102−1a、102−2aは、ラインセンサ102−1a,102−2aが相対的に互いに位置がずれるように並行に隣接して配されている(千鳥配列されている)。また、ラインセンサ102−1b、102−2bは、同様にラインセンサ102−1b,102−2bが相対的に互いに位置がずれるように並行に隣接して配されている(千鳥配列されている)。ラインセンサ102−1aと102−1b、ラインセンサ102−2aと102−2bは、それぞれ二次結像レンズ309により対の関係になっており、ラインセンサ102−1、102−2を構成する。ラインセンサ102−1、102−2は、撮影レンズ300の異なる瞳領域を通過した光を受光する一対のラインセンサであり、これらの一対のラインセンサから出力される2つの画像の位相差を検出することにより、デフォーカス量が検出される。同様に、ラインセンサ102−3と102−4、ラインセンサ102−5と102−6も千鳥配列されている。すなわち、ラインセンサの長手方向に互いにずれた2対のラインセンサが複数対配置されている。
図4(b)には、ラインセンサ102−1aとラインセンサ102−2aの配置の例が示されている。ここでは、説明を分かりやすくするために、それぞれ5個の画素から構成されるものとしている。ラインセンサ102−1aはフォトダイオード(受光部)60−U1〜60−U5から構成され、ラインセンサ102−2aはフォトダイオード(受光部)60−L1〜60−L5から構成される。フォトダイオード60−U1〜60−U5、フォトダイオード60−L1〜60−L5は同一の画素ピッチで配されている。なお、後述するように、画素はフォトダイオードの他に、スイッチ、容量、増幅回路を含んでいる。しかし、図4(b)ではスイッチ、容量、増幅回路は省略されており、フォトダイオードと素子分離領域61のみを示している。スイッチ、容量、増幅回路は遮光層62に設けられ、それぞれフォトダイオード形成領域に隣接して形成されている。
図4(c)は、ファインダ内に表示される測距点の配置と、AFセンサ101上のラインセンサによるAF視野を示す図である。測距点1にラインセンサ102−1とラインセンサ102−2を、測距点2にラインセンサ102−3とラインセンサ102−4を、測距点3にラインセンサ102−5とラインセンサ102−6をそれぞれ配置している。1点の測距点に、互いに近接した2組のラインセンサを配置し、画素ピッチを等価的に半分にする(千鳥配置する)ことで、高周波の被写体に対する測距精度を向上させることができる。
AFセンサ101の詳細な回路構成を、図5のブロック図を参照して説明する。二次結像レンズ309により結像された被写体像は、ラインセンサ102a、102bで光電変換され、電荷として蓄積される。蓄積された電荷は、増幅回路により電圧として出力される。また、ラインセンサ102a、102bは、ライン毎に感度切り替え回路103を持っている。ライン選択回路104は、ラインセンサ102a、102bの複数のラインのうち1ラインを選択する。そして、ラインセンサの蓄積信号を後述するPBコントラスト検出回路へと送信する機能を持っている。
PBコントラスト検出回路105は、ライン選択回路104により選択されたラインの画素信号で最も大きな信号(以下、Peak信号と記す)と、最も小さな信号(以下、Bottom信号と記す)を検出する。そして、Peak信号とBottom信号の差分信号(以下、PB信号と記す)を蓄積停止判定回路106へ出力する。
図6は、PBコントラスト検出回路105からの出力信号であるPB信号の信号量と蓄積時間の関係を示した図である。蓄積時間0が蓄積開始タイミングであり、時間が経過するほどPB信号は増加していく。蓄積停止判定回路106は、PB信号と蓄積停止レベルとを比較判定する。PB信号が蓄積停止レベルよりも大きくなった時点で、ライン選択回路104で選択されたラインの画素の蓄積を停止するために、ラインセンサ102a,102bへ蓄積停止信号を出力する。さらに、CPU100へ蓄積終了信号と蓄積終了したライン情報を出力する。また、PB信号が所定の時間内に目標値に達しなかった場合は、強制的に蓄積を停止するために、ラインセンサ102a,102bへ蓄積停止信号を出力する。
ラインセンサ102a,102bで蓄積された画素信号は、CPU100によりシフトレジスタ107を駆動することで、1画素ずつの画素信号として出力回路108へ出力される。出力回路108では、画素信号からコントラスト成分を取り出し、増幅するなどの処理を行い、CPU100のA/D変換器(不図示)へ出力する。
ラインセンサを構成する画素の具体的な回路図を図7(a)に示す。図7(a)において、ラインセンサはセンサ画素回路部とノイズ除去回路部で構成される。センサ画素回路部はフォトダイオードPD、容量CL、CPD、CS、電流源1、電流源2、MOSトランジスタM1,M2,M3,M4,M5、スイッチSWRES、SWSENS、SWCHで構成される。ノイズ除去回路部は容量CCLAMP、増幅回路AMP1、スイッチSWPTS1、SWPTS2、SWPTN1、SWPTN2、SWCLAMP、SWPHnで構成される。電圧VRESはリセット電位であり、電圧VCLAMPはクランプ電位である。出力VOUTはライン選択回路104に接続されている。容量CPDは、フォトダイオード、MOSトランジスタ、スイッチ、配線等で生ずる寄生容量である。スイッチSWRES、SWSENS、SWCH、SWPTS1、SWPTS2、SWPTN1、SWPTN2、SWCLAMP、SWPHnはそれぞれ信号φRES、φSENS、φCH、φPTS1、φPTS2、φPTN1、φPTN2、φCLAMP、φPHnでそれぞれオン/オフ制御される。
上記回路の動作について図7(b)のタイミングチャートを用いて説明する。まずφSENSにより感度を設定する。φSENSがロウレベルの時、SWSENSはオフとなりトランジスタM1には容量CPDのみが接続されセンサは高感度に設定される。φSENSがハイレベルの時、SWSENSはオンとなりトランジスタM1には容量CPD、CLが接続されセンサは低感度に設定される。以降では低感度に設定した場合の動作を説明する。
スイッチSWRES、SWCH、SWPTN1、SWPTN2、SWCLAMPをオンして、容量CL、CS、CCLAMPをリセットする。その後(画素リセット後)、スイッチSWRES、SWPTN2、SWPTN1を順次オフする。このとき、センサ画素回路部のオフセット電圧をVOS1、増幅回路AMP1のオフセット電圧をVOS2、スイッチSWSENSをオフすることによって生じるノイズ電圧をVN1とする。すると、容量CCLAMPには、
VCP=(VRES+VOS1+VOS2+VN1)−VCLAMP
に相当する電荷が充電されノイズが記憶される。さらにSWPTS1をオンして容量CCLAMPと増幅回路AMP1を接続し、その後、SWCLAMPをオフしてノイズ記憶動作を終了する。
次にスイッチSWPTS2、SWPHnをオンして信号蓄積を開始する。蓄積信号をSとすると、センサ画素回路部の出力VSENSは下記式で表わされる。
VSENS=VRES+VOS1+VN1+S
さらに、増幅回路AMP1の入力VINは、前述した容量CCLAMPに記憶されたノイズ電圧が引かれ、下記式であらわされる。
VIN=VSENS−VCP=S−VOS2+VCLAMP
したがって、センサ出力VOUTは下記式で表わされる。
VOUT=VIN+VOS2=S+VCLAMP
以上の様にノイズ除去回路部により信号出力時に蓄積信号からノイズを除去し、精度の高いPBコントラスト検出が可能となる。
蓄積終了時にはスイッチSWCHをオフし、容量CSに電荷を保持する。
信号読み出し時は、ライン選択回路104により読み出しされるラインセンサが選択され、シフトレジスタ107からの信号により、SWPHnが順次オンしていき信号が出力回路に出力される。このとき、信号蓄積時と同様に、ノイズ除去回路部によりノイズが除去された蓄積信号が得られる。
図7(c)に輝度一定としたときの、蓄積時間と出力電圧の関係を示す。蓄積時間0が蓄積開始タイミングであり、時間が経過するほど出力電圧は増加していく。高感度に設定されたランセンサの出力電圧の傾きは、低感度に設定されたラインセンサの出力電圧の傾きに対して大きくなる。
以上のように構成された焦点検出装置の動作を、図8のフローチャートに基づいて詳細に説明する。スイッチ群214の操作により焦点検出の開始信号を受信したら、CPU100からAFセンサ101を制御することで焦点検出動作を開始する。ステップS700では、スイッチ群214の操作により焦点検出を行う測距点の選択を行う。ここでは、例えば図4(c)に示す測距点1を選択する。
ステップS701では、CPU100からAFセンサ101を制御することで、感度切り替え回路103によりラインセンサの感度を設定する。ここでは、ラインセンサ102−1を高感度に設定し、ラインセンサ102−2を低感度に設定する。
次のステップS702では、CPU100によりAFセンサ101を制御し、ラインセンサ102−1、ラインセンサ102−2による信号蓄積動作を開始する。そして、次のステップS703にて、蓄積停止判定動作を行う。CPU100はAFセンサ101から出力される蓄積停止信号の検出を行う。そして、蓄積停止信号が検出されるまでステップS703の動作を繰り返し、蓄積停止信号が検出された場合は、ステップS704の信号読み出し動作へ進む。ステップS704では、画素信号の読み出し動作を行う。
信頼性判定工程としてのステップS705、ステップS706、ステップS707では、被写体のコントラストと輝度情報から画素信号の信頼性判定を行い、その判定結果に基づいて、ラインセンサを切り替える。ここで、画素信号の信頼性判定について説明する。図9に被写体の輝度とAFセンサ出力のSN比との関係を示す。
図9(a)は被写体のコントラストが、所定の値Cthより高い場合の図である。被写体の輝度が高い場合、PB信号が一定になるように蓄積制御されるので、SN比は一定の値となる。この輝度範囲では、光ショットノイズが支配的となる。低感度に設定されたラインセンサは、高感度に設定されたラインセンサよりも画素部のダイナミックレンジが大きいので、SN比が一定となる輝度が高く、さらに光ショットノイズの影響も小さい。このため、高感度に設定されたラインセンサよりも高輝度でのSN比が大きい。ここで、ラインセンサのSN比が、低感度センサ>高感度センサになる輝度をL1とする。
被写体の輝度が低い場合、ラインセンサのPB信号量は所定の蓄積時間内では蓄積停止レベルに至らず、蓄積は強制的に停止される。蓄積が強制的に停止される輝度以下では、AFセンサ出力のSN比は急激に劣化する。これは、信号量が少なくなるのに対し、暗電流によるノイズ、回路で発生するノイズなどが変わらないためである。高感度に設定されたラインセンサは、蓄積が強制停止となる輝度が低く、低感度に設定されたラインセンサよりも低輝度でのSN比は大きい。ここで、ラインセンサのSN比が、高感度センサ>低感度センサとなる輝度をL2とする。
被写体の輝度がL1とL2の中間である場合、低感度に設定されたラインセンサと、高感度に設定されたラインセンサのSN比は同程度であり、輝度が高くなるにつれて向上する。
図9(b)は被写体のコントラストが、所定の値Cth以下の場合の図である。被写体のコントラストが低い場合、ラインセンサからの信号は被写体のコントラスト成分であるため振幅が小さい。このため、高輝度時の光ショットノイズや、低輝度時の暗電流や回路に起因するノイズなどの影響を強く受けやすく、SN比が全体的に悪くなる。また、高輝度時のラインセンサのSN比が、低輝度センサ>高輝度センサになる輝度をL3とすると、L1>L3となる。一方、低輝度時のラインセンサのSN比が、高感度センサ>低感度センサになる輝度をL4とすると、L2<L4となる。
図10に被写体のコントラストと輝度、ラインセンサの感度、焦点検出演算精度の関係を示す。被写体のコントラストが低い場合、各種ノイズの影響が大きくなり、それぞれの感度設定で信頼性の高い焦点検出演算のできる輝度範囲が狭くなる。
ステップS705では、CPU100は読みだされた信号を基に、被写体のコントラストが所定のしきい値より大きいか判定する。ここでしきい値はCthである。被写体のコントラストがCthより大きい場合、ステップS706で被写体の輝度を判定する。被写体の輝度は読みだされた信号と蓄積時間によって計算される。または、AEセンサ207の測定結果を用いてもよい。ステップS706で輝度がL1より高い場合、ステップS708に進み、低感度に設定されたラインセンサ102−2の信号で焦点検出演算を行う。輝度がL2より低い場合、ステップS709に進み、高感度に設定されたラインセンサ102−1の信号で焦点検出演算を行う。輝度がL1以下、L2以上であった場合、ステップS710に進み、ラインセンサ102−1とラインセンサ102−2の信号を加算した値で焦点検出演算を行う。
ステップS705で被写体のコントラストがCth以下と判定された場合、ステップS707で被写体の輝度を判定する。ステップS707で輝度がL3より高い場合、ステップS711に進み、低感度に設定されたラインセンサ102−2の信号で焦点検出演算を行う。輝度がL4より低い場合、ステップS712に進み、高感度に設定されたラインセンサ102−1の信号で焦点検出演算を行う。輝度がL3以下、L4以上であった場合、ステップS713に進み、ラインセンサ102−1とラインセンサ102−2を加算した値で焦点検出演算を行う。
ステップS714では、ステップS708〜ステップS713で算出したデフォーカス量に基づいて、CPU100は、レンズ通信回路205を介して撮影レンズ300のフォーカスレンズの駆動制御を行い、一連の焦点検出動作を終了する。
本実施形態では、被写体のコントラストを判定するしきい値を1個としたが、複数個としてもよい。この場合、それぞれのしきい値について、その後の輝度判定を行う。また、輝度は蓄積時間から計算して求めてもよい。あるいは、被写体のコントラストを判定するしきい値は、演算式により決定され、可変としてもよい。また、ラインセンサ対のそれぞれのセンサの出力信号の像一致度(信号一致度)から信頼性判定をしてもよい。図11(a)の波形はラインセンサ対の像一致度が大きく信頼性が高い。図11(b)の波形はノイズの影響等でラインセンサ対の像一致度が小さく信頼性が低い。
以上のように、本実施形態では、千鳥配列された2組のラインセンサを異なる感度に設定して焦点検出を行うことにより、一回の焦点検出動作で、幅広い輝度範囲の被写体に対して、適切な感度に設定されたランセンサで焦点検出することができる。また、2組のラインセンサの信号が、両方とも信頼性が高い輝度範囲では、信号を加算して、より精度の高い焦点検出を行うことができる。
(第2の実施形態)
以下、図12を参照して、本発明の第2の実施形態における焦点検出装置の動作について説明する。図12は、連射撮影時など、複数回連続して焦点検出動作を行う場合の2回目以降のフローチャートである。1回目の焦点検出動作は図8に示された第1の実施形態の動作と同じである。
ここでは、1回目の焦点検出動作において、測距点1が選択され、ラインセンサ102−1を高感度に設定し、ラインセンサ102−2を低感度に設定するものとする。
次に2回目の焦点検出動作について説明する。ステップS800では、前回の焦点検出動作において、低感度に設定されたラインセンサの信号を用いて焦点検出演算を行ったか判定する。前回の焦点検出動作において、低感度に設定されたラインセンサ102−2の信号のみを用いて焦点検出演算を行っている場合は、ステップS801へ進み、ラインセンサ102−1とラインセンサ102−2をともに低感度に設定する。前回の焦点検出動作において、高感度に設定されたラインセンサ102−1の信号と低感度に設定されたラインセンサ102−2の信号を加算して焦点検出演算を行っている場合も同様に、ステップS801へ進む。そして、ラインセンサ102−1とラインセンサ102−2をともに低感度に設定する。低感度に設定することにより、光ショットノイズの影響を抑えながら、より多くの電荷を蓄積できる。前回の焦点検出動作において、高感度に設定されたラインセンサ102−1の信号のみを用いて焦点検出演算を行っている場合は、ステップS802へ進み、ラインセンサ102−1とラインセンサ102−2をともに高感度に設定する。
ステップS803では、CPU100によりAFセンサ101を制御し、ラインセンサ102−1、ラインセンサ102−2による信号蓄積動作を開始する。そして、次のステップS804にて、蓄積停止判定動作を行う。CPU100はAFセンサ101から出力される蓄積停止信号の検出を行う。そして、蓄積停止信号が検出されるまでステップS804の動作を繰り返し、蓄積停止信号が検出された場合は、ステップS805の信号読み出し動作へ進む。
ステップS805では、画素信号の読み出し動作を行う。ステップS806ではラインセンサ102−1とラインセンサ102−2とを加算した値で焦点検出演算を行う。この際、第1の実施形態と同様に、信号の信頼性判定を行い、演算に使用するラインセンサを切り替える。ステップS807では、ステップS806で算出したデフォーカス量に基づいて、CPU100は、レンズ通信回路205を介して撮影レンズ300のフォーカスレンズの駆動制御を行い、一連の焦点検出動作を終了する。3回目以降の焦点検出動作は、2回目の焦点検出動作と同様に、図12に従って行われる。
以上のように、本実施形態では、一回目の焦点検出動作では、千鳥配列された2組のラインセンサを異なる感度に設定して焦点検出を行う。そして、2回目以降は、2組のラインセンサの双方の感度を被写体に対して適切な感度に設定し、信号を加算して焦点検出を行うことで、より精度の高い焦点検出を行うことができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
100:カメラ用マイクロコンピュータ、101:AFセンサ、204:信号入力回路、205:レンズ通信回路、206:撮像センサ、207:AEセンサ、208:シャッタ制御回路

Claims (9)

  1. 被写体像を結像させるための撮影レンズの異なる瞳領域を通過した光をそれぞれ受光する一対のセンサを、複数対配置して構成された焦点検出センサと、
    前記複数対のセンサに対して、感度を設定する感度設定手段と、
    前記センサの信号の信頼性を判定し、その判定結果に基づいて前記複数対のセンサの内のどのセンサの信号を用いて焦点検出演算を行うかを選択する選択手段と、
    前記選択手段により選択されたセンサの信号を用いて焦点検出演算を行う演算手段と、
    複数回の焦点検出動作を連続して行う場合に、1回目の焦点検出動作においては、前記選択手段により選択されたセンサの信号を用いて前記演算手段が焦点検出演算を行い、2回目以降の焦点検出動作においては、前回の焦点検出動作結果に基づいて、前記感度設定手段が前記センサにより光電変換された電荷を蓄積する容量を切り替えることにより前記センサの感度を切り替え、感度を切り替えた後に前記センサの画素のリセット動作を行って信号の蓄積を行うように制御する制御手段と、
    を備えることを特徴とする焦点検出装置。
  2. 前記選択手段は、前記センサの信号の信頼性を、輝度、コントラスト、センサ対の信号一致度、蓄積時間の少なくとも1つの情報から判定し、その判定結果に基づいて、前記複数対のセンサの内のどのセンサの信号を用いて焦点検出演算を行うかを選択することを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。
  3. 前記感度設定手段は、1回目の焦点検出動作では、前記複数対のセンサをそれぞれ異なる感度に設定し、2回目以降の焦点検出動作では、前記複数対のセンサの感度を同じ感度に設定することを特徴とする請求項1または2に記載の焦点検出装置。
  4. 前記複数対のセンサの内の互いに隣接する2対のセンサは、該センサの長手方向に互いにずらして配置されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の焦点検出装置。
  5. 前記センサは、前記センサに生じるノイズを除去するノイズ除去手段を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の焦点検出装置。
  6. 前記ノイズ除去手段は、画素リセット後に発生するノイズを記憶し、信号出力時に信号からノイズを除去して信号を出力することを特徴とする請求項5に記載の焦点検出装置。
  7. 前記感度設定手段により高感度に設定されたセンサは、光電変換による電荷の蓄積が停止となる輝度が低感度に設定されたセンサよりも低いことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の焦点検出装置。
  8. 前記感度設定手段により高感度に設定されたセンサは、低感度に設定されたセンサよりも電荷を蓄積する容量が小さいことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の焦点検出装置。
  9. 前記2回目以降の焦点検出動作では、前回の焦点検出動作において焦点検出演算を行った対のセンサの感度に合わせた感度に設定することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の焦点検出装置。
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