JP2015102670A - 焦点検出装置及び撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】適切な焦点検出ができる焦点検出装置及び撮像装置を提供する。
【解決手段】焦点検出装置は、複数の焦点検出領域を有する焦点検出用センサと、複数の焦点検出領域で生成された電気信号を対応するメモリ領域に蓄積するメモリと、複数の焦点検出領域における電荷の蓄積時間及びゲインを制御するセンサ制御手段と、複数の焦点検出領域で生成された電気信号をメモリ領域に蓄積させる第1蓄積制御手段と、所定の焦点検出領域で生成された電気信号をメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる第2蓄積制御手段と、複数の焦点検出領域における蓄積時間と1フレーム期間とから算出される残り蓄積時間に基づき、追加蓄積又は再蓄積すべき焦点検出領域を特定し、当該焦点検出領域で検出された電荷を第2蓄積制御手段によりメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる蓄積実行制御手段と、1フレーム期間毎にメモリ領域に蓄積された電気信号を出力する出力手段と、を備える。
【選択図】図1
【解決手段】焦点検出装置は、複数の焦点検出領域を有する焦点検出用センサと、複数の焦点検出領域で生成された電気信号を対応するメモリ領域に蓄積するメモリと、複数の焦点検出領域における電荷の蓄積時間及びゲインを制御するセンサ制御手段と、複数の焦点検出領域で生成された電気信号をメモリ領域に蓄積させる第1蓄積制御手段と、所定の焦点検出領域で生成された電気信号をメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる第2蓄積制御手段と、複数の焦点検出領域における蓄積時間と1フレーム期間とから算出される残り蓄積時間に基づき、追加蓄積又は再蓄積すべき焦点検出領域を特定し、当該焦点検出領域で検出された電荷を第2蓄積制御手段によりメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる蓄積実行制御手段と、1フレーム期間毎にメモリ領域に蓄積された電気信号を出力する出力手段と、を備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、焦点検出装置及び撮像装置に関する。
従来、夜景状況下で点光源等がある場合において、有害光による影響を除去するため、ラインセンサの蓄積時間を延長、又は補助光を照射しながら再度蓄積する焦点検出装置が提案されている(特許文献1参照)。
特許文献1に記載された焦点検出装置では、1対のラインセンサが複数の焦点検出領域毎に配置されているため、点光源等が存在していない焦点検出領域の蓄積時間を延長することにより、焦点検出に及ぼす有害光の影響を小さくすることができる。
これに対し、1対のラインセンサ上に複数の焦点検出領域を設定し、これらの焦点検出領域の各々を測距領域とした焦点検出装置がある。この焦点検出装置では、複数の焦点検出領域での蓄積制御がラインセンサ毎に共通に行われる。これによれば、点光源等が存在していない焦点検出領域について、個別に蓄積時間を延長する等の制御を行うことはできない。そのため、点光源等の有害光による影響を抑制して、適切な焦点検出を行うことが難くなる。
本発明の目的は、適切な焦点検出を行うことができる焦点検出装置及び撮像装置を提供することにある。
本発明は、以下のような解決手段により前記課題を解決する。
請求項1に記載の発明は、撮像領域に複数の焦点検出領域を含む焦点検出範囲が複数列配置され、各列の前記焦点検出範囲に含まれる前記複数の焦点検出領域において、受光量に応じた電気信号を生成する焦点検出用センサと、前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、当該複数の焦点検出領域毎に割り当てられたメモリ領域に蓄積するメモリと、前記複数の焦点検出領域で生成される電気信号の蓄積時間及びゲインを制御するセンサ制御手段と、前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積させる第1蓄積制御手段と、前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号のうち、所定の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる第2蓄積制御手段と、各列の前記複数の焦点検出領域に設定された蓄積時間と1フレーム期間とから算出される残り蓄積時間に基づいて、追加蓄積又は再蓄積すべき前記焦点検出領域を特定し、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる蓄積実行制御手段と、1フレーム期間毎に、前記メモリの前記メモリ領域に蓄積された電気信号を信号データとして出力する出力手段と、を備えることを特徴とする焦点検出装置である。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、電荷が飽和している前記焦点検出領域が存在する場合には、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に再蓄積させることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、信号値が所定値を下回る前記焦点検出領域が存在する場合には、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積させることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、信号値が飽和している前記焦点検出領域及び信号値が所定値を下回る前記焦点検出領域が共に存在する場合には、該当する焦点検出領域の数に基づいて、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させることを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、前記メモリの前記メモリ領域に蓄積された電気信号に対して、追加蓄積を実行する条件を満たす前記焦点検出範囲が存在する場合には、前記第1蓄積制御手段により前記焦点検出範囲に含まれる前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積させる初回蓄積を実行させた後、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積された電気信号に対して、追加蓄積を実行させることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の焦点検出装置において、前記センサ制御手段は、前記第1蓄積制御手段による初回蓄積のゲインに対して、前記第2蓄積制御手段による追加蓄積のゲインを異ならせることを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、請求項1から6のいずれか1項に記載の焦点検出装置を備える撮像装置である。
なお、上記構成は、適宜改良してもよく、また、少なくとも一部を他の構成物に代替してもよい。
請求項1に記載の発明は、撮像領域に複数の焦点検出領域を含む焦点検出範囲が複数列配置され、各列の前記焦点検出範囲に含まれる前記複数の焦点検出領域において、受光量に応じた電気信号を生成する焦点検出用センサと、前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、当該複数の焦点検出領域毎に割り当てられたメモリ領域に蓄積するメモリと、前記複数の焦点検出領域で生成される電気信号の蓄積時間及びゲインを制御するセンサ制御手段と、前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積させる第1蓄積制御手段と、前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号のうち、所定の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる第2蓄積制御手段と、各列の前記複数の焦点検出領域に設定された蓄積時間と1フレーム期間とから算出される残り蓄積時間に基づいて、追加蓄積又は再蓄積すべき前記焦点検出領域を特定し、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる蓄積実行制御手段と、1フレーム期間毎に、前記メモリの前記メモリ領域に蓄積された電気信号を信号データとして出力する出力手段と、を備えることを特徴とする焦点検出装置である。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、電荷が飽和している前記焦点検出領域が存在する場合には、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に再蓄積させることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、信号値が所定値を下回る前記焦点検出領域が存在する場合には、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積させることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、信号値が飽和している前記焦点検出領域及び信号値が所定値を下回る前記焦点検出領域が共に存在する場合には、該当する焦点検出領域の数に基づいて、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させることを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の焦点検出装置において、前記蓄積実行制御手段は、前記メモリの前記メモリ領域に蓄積された電気信号に対して、追加蓄積を実行する条件を満たす前記焦点検出範囲が存在する場合には、前記第1蓄積制御手段により前記焦点検出範囲に含まれる前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積させる初回蓄積を実行させた後、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積された電気信号に対して、追加蓄積を実行させることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の焦点検出装置において、前記センサ制御手段は、前記第1蓄積制御手段による初回蓄積のゲインに対して、前記第2蓄積制御手段による追加蓄積のゲインを異ならせることを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、請求項1から6のいずれか1項に記載の焦点検出装置を備える撮像装置である。
なお、上記構成は、適宜改良してもよく、また、少なくとも一部を他の構成物に代替してもよい。
本発明によれば、適切な焦点検出を行うことができる焦点検出装置及び撮像装置を提供することができる。
以下、図面を参照して、本発明に係る焦点検出装置及び撮像装置の実施形態について説明する。ここでは、本発明に係る焦点検出装置を、撮像装置としてのカメラ1に適用した実施形態について説明する。
まず、本実施形態のカメラ1について説明する。図1は、本実施形態におけるカメラ1の概略構成図である。
図1に示すように、カメラ1は、カメラ本体10と、このカメラ本体10に着脱可能に構成された撮像レンズ20と、を備える。本実施形態のカメラ1は、いわゆるデジタル一眼レフカメラである。
カメラ本体10は、撮像素子11と、クイックリターンミラー12Aと、サブミラー12Bと、ファインダー光学系13と、測光部14と、位相差AF検出部15と、操作部材16と、制御装置30と、を備える。
撮像素子11は、被写体光から変換された電荷を、電荷信号として出力するCCD(電荷結合素子)により構成される。撮像素子11には、赤(R)、緑(G)及び青(B)の各色に対応する画素が所定の配列パターンで配置されている。撮像素子11は、撮像レンズ20の結像光学系による結像面の画像情報を撮像し、各画素に対応する色情報や輝度情報に応じた画像信号として制御装置30に出力する。
クイックリターンミラー12Aは、カメラ1内において、2つの異なる位置に移動可能に構成された反射部材である。すなわち、クイックリターンミラー12Aは、撮像レンズ20の結像光学系から撮像素子11に至る光路中に介在する作用位置(図1参照)と、光路中に介在しない退避位置との間を移動可能に構成されている。クイックリターンミラー12Aは、作用位置において、入射光束をファインダー光学系13(ファインダースクリーン13A)へ反射する。クイックリターンミラー12Aの一部には、入射光束の一部を透過する半透過領域が形成されている。
サブミラー12Bは、クイックリターンミラー12Aの背面側に設けられた反射部材である。サブミラー12Bは、作用位置に移動したクイックリターンミラー12Aにおいて、クイックリターンミラー12Aの半透過領域を透過した入射光束を、位相差AF検出部15に向けて反射させる。
ファインダー光学系13は、ファインダースクリーン13Aと、ペンタプリズム13Bと、接眼レンズ13Cと、を備える。
ファインダースクリーン13Aは、撮像素子11と光学的に等価な位置に設けられている。ファインダースクリーン13Aには、クイックリターンミラー12Aにより導かれた入射光束が結像する。ペンタプリズム13B及び接眼レンズ13Cは、ファインダースクリーン13A上に結像した被写体像を、撮影者が正立像として視認可能とするための光学系である。
測光部14は、測光用レンズ14Aと、測光センサ14Bと、を備える。測光用レンズ14Aは、ペンタプリズム13Bを介したファインダースクリーン13Aに結像した被写体像を測光センサ14Bに導く。測光センサ14Bは、撮像素子11と同様に、赤(R)、緑(G)及び青(B)の各色に対応する画素が所定の配列パターンで配置され、レンズ光学系により結像される結像面の画像情報を撮像する。
そして測光センサ14Bは、各画素に対応する色情報や輝度情報に応じた測光信号を制御装置30へ出力する。制御装置30は、測光センサ14Bからの測光信号に基づいて結像面の明るさを検出し、露出を決定する。
操作部材16は、カメラ1の操作を行うための図示しない各種スイッチ類により構成される。例えば、操作部材16には、カメラ1の動作モードを選択するためのモード選択スイッチ、AFエリア(後述)を選択するためのエリア選択スイッチ、焦点調節(AF)の開始及び撮影を指示するためのレリーズボタン等が含まれる。
位相差AF検出部15の構成を、図2〜図4を参照しながら説明する。
図2は、位相差AF検出部15の機能的な構成を示すブロック図である。位相差AF検出部15は、図2に示すように、焦点検出用センサ151と、アンプ回路152と、A/D変換部153と、メモリ154と、を備える。
図2は、位相差AF検出部15の機能的な構成を示すブロック図である。位相差AF検出部15は、図2に示すように、焦点検出用センサ151と、アンプ回路152と、A/D変換部153と、メモリ154と、を備える。
焦点検出用センサ151は、受光量に応じた電気信号を生成するラインセンサS(後述)を備える。ラインセンサSには、クイックリターンミラー12Aの半透過領域を透過し、サブミラー12Bで反射した入射光束が入射する(図1参照)。
アンプ回路152は、焦点検出用センサ151のラインセンサSで生成された電気信号を、予め設定されたゲインにより増幅する。
A/D変換部153は、アンプ回路152で増幅されたアナログ量の電気信号を、デジタル信号に変換する。
メモリ154は、ラインセンサSで生成され、A/D変換部153でデジタル信号に変換された電気信号を、複数の焦点検出領域毎に割り当てられたメモリ領域(不図示)に蓄積する。メモリ領域には、電気信号がデジタルデータとして蓄積される。
焦点検出用センサ151の構成について説明する。
図3は、焦点検出用センサ151における位相差AF検出領域100の構成を示す概念図である。図3に示すように、位相差AF検出領域100には、撮像領域101の所定位置に、焦点検出領域としてのAFエリア(測距領域)102が複数設けられている。本実施形態では、縦方向に配置された5つのAFエリア102により、1列の焦点検出範囲(列)が構成されている。この焦点検出範囲は、7列配置されており、合計で35点のAFエリア102が配置されている。以下、図3に示すAFエリア102を、適宜に「AFエリア」ともいう。
図3は、焦点検出用センサ151における位相差AF検出領域100の構成を示す概念図である。図3に示すように、位相差AF検出領域100には、撮像領域101の所定位置に、焦点検出領域としてのAFエリア(測距領域)102が複数設けられている。本実施形態では、縦方向に配置された5つのAFエリア102により、1列の焦点検出範囲(列)が構成されている。この焦点検出範囲は、7列配置されており、合計で35点のAFエリア102が配置されている。以下、図3に示すAFエリア102を、適宜に「AFエリア」ともいう。
図4は、各列のAFエリアに対応して配置されたラインセンサS1〜S7(以下、総称して「ラインセンサS」ともいう)を示す概念図である。ラインセンサS1〜S7は、各列の焦点検出範囲に対応する。
図4において、破線で示す各領域A〜Eは、焦点検出領域の縦方向の位置を示すものである。各AFエリア102は、ラインセンサSの番号(1〜7)と領域の符号(A〜E)により表すことができる。例えば、位相差AF検出領域100の中央にあるAFエリア102は、「C1」となる。
ラインセンサSは、複数の光電変換素子を、ライン状に配置した電荷蓄積型の光電変換素子アレイ(例えば、CCDラインセンサ)である。ラインセンサSは、フォトダイオード(不図示)において、後述する一対の被写体像の受光量に比例した電荷を、設定された蓄積時間に亘って蓄積し、その電荷量に応じた電気信号を出力する。ラインセンサSは、各AFエリアと対応する領域に、1つの光電変換素子が配置されている。撮像レンズ20(図1参照)の異なる領域を通過して2つに分けられた(一対の)光束は、絞りマスク(不図示)により2つに分けられた後、一対の被写体像がラインセンサSの対応する領域に再結像される。そして、ラインセンサSは、結像した被写体像の受光量に応じた電気信号を生成する。ラインセンサSで生成された電気信号は、アンプ回路152(図2参照)に送出される。
また、図1において、制御装置30は、CPUやメモリ等(不図示)により構成され、カメラ1の動作を統合的に制御する。また、制御装置30は、測光センサ14Bからの測光信号に基づいて結像面の明るさを検出し、露出を決定する。
また、制御装置30は、焦点調節(AF)に関連する機能部として、図1に示すように、AF−CCD制御部31と、デフォーカス演算部32と、フォーカスエリア位置決定部33と、レンズ駆動量演算部34と、レンズ駆動制御部35と、背景領域・顔領域抽出部36と、を備える。
AF−CCD制御部31は、位相差AF検出部15のラインセンサSにおいて、後述する電荷の蓄積制御を実行すると共に、位相差AF検出部15のメモリ154から信号データを読み出し、デフォーカス演算部32へ出力する。
図5は、AF−CCD制御部31の機能的な構成を示すブロック図である。図5に示すように、AF−CCD制御部31は、センサ制御手段としてのセンサ制御部311と、第1蓄積制御手段としての第1蓄積制御部312と、第2蓄積制御手段としての第2蓄積制御部313と、蓄積実行制御手段としての蓄積実行制御部314と、出力手段としての出力部315と、タイマ(不図示)と、を備える。
センサ制御部311は、位相差AF検出部15において、ラインセンサS1〜S7(焦点検出用センサ151)の各AFエリア(焦点検出領域)における電荷の蓄積時間、及びアンプ回路152のゲインを設定する。また、センサ制御部311は、設定した蓄積時間及びゲインに基づいて、ラインセンサS1〜S7の各AFエリアにおける電荷の蓄積を制御する。
第1蓄積制御部312は、位相差AF検出部15において、複数のAFエリアで生成された電気信号を、メモリ154の対応するメモリ領域に蓄積させる。
第2蓄積制御部313は、位相差AF検出部15において、複数のAFエリアで生成された電気信号のうち、所定のAFエリアで生成された電気信号を、メモリ154の対応するメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる。追加蓄積とは、メモリ領域に蓄積されている前回の電気信号に対して、新たな電気信号を加算することをいう。再蓄積とは、メモリ領域に蓄積されている前回の電気信号に対して、新たな電気信号を上書きすることをいう。
蓄積実行制御部314は、各列の複数のAFエリアに設定された蓄積時間と1フレーム期間とから算出される残り蓄積時間に基づいて、追加蓄積又は再蓄積すべきAFエリアを特定する。そして、蓄積実行制御部314は、特性したAFエリアで生成された電気信号を、第2蓄積制御部313によりメモリ154の対応するメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる。
出力部315は、1フレーム期間毎に、メモリ154のメモリ領域から電気信号を読み出し、信号データとしてデフォーカス演算部32(後述)へ出力する。
なお、AF−CCD制御部31を構成する各部の動作については、図7〜図9を参照しながら更に詳細に説明する。また、図1に示すカメラ1において、位相差AF検出部15及びAF−CCD制御部31は、本実施形態の焦点検出装置を構成する。
デフォーカス演算部32は、AF−CCD制御部31から出力された信号データに基づいて、撮像レンズ20の焦点調節状態(ピントのずれ量)を表すデフォーカス量を算出する。
フォーカスエリア位置決定部33は、デフォーカス演算部32により算出されたデフォーカス量に基づいて、撮像レンズ20を最終的に合焦させるAFエリアを決定する。
レンズ駆動量演算部34は、使用者又はフォーカスエリア位置決定部33により決定されたAFエリアに対応して、デフォーカス演算部32により算出されたデフォーカス量に基づいて、撮像レンズ20が有する焦点調節レンズ(レンズ群L2)の駆動量を演算する。
ここでは、焦点調節レンズ(レンズ群L2)の駆動位置の目標となるレンズ目標位置を演算することにより、レンズ駆動量の演算を行う。レンズ目標位置は、デフォーカス量がほぼ0となる焦点調節レンズ(レンズ群L2)の位置に相当する。
レンズ駆動制御部35は、レンズ駆動量演算部34により演算されたレンズ駆動量、すなわち焦点調節レンズ(レンズ群L2)に対するレンズ目標位置に基づいて、撮像レンズ20のレンズ駆動用モータ22へ駆動制御信号を出力する。この駆動制御信号に応じて、レンズ駆動用モータ22が焦点調節レンズ(レンズ群L2)を駆動して、レンズ目標位置へ移動させることにより、焦点調節が行われる。
背景領域・顔領域抽出部36は、AF−CCD制御部31より出力された信号データに基づいて、撮像領域101から背景領域となる高輝度部を抽出する。また、背景領域・顔領域抽出部36は、AF−CCD制御部31より出力された信号データから、パターンマッチング等の手法により顔領域を抽出する。
撮像レンズ20は、鏡筒21の内部に、結像光学系を構成する複数のレンズ群L1,L2,L3と、レンズ駆動用モータ22と、を備える。レンズ群L2は、光軸OA方向に移動して結像位置を調節可能な焦点調節レンズである。レンズ群L2は、レンズ駆動用モータ22により、光軸OA方向に沿って被写体側又は撮像素子11側に移動可能に構成されている。レンズ駆動用モータ22の駆動は、カメラ本体10側に設けられた制御装置30により制御される。
次に、上記のように構成されたカメラ1において、AF動作を行う場合の処理手順について説明する。図6は、制御装置30において、カメラ1のAF動作を行う場合の処理手順を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、使用者がレリーズボタン(操作部材16)の半押し等の操作を行い、カメラ1に対してAF駆動を指示することにより開始される。
図6に示すステップS101において、AF−CCD制御部31は、後述するAFセンサ制御として、位相差AF検出部15のラインセンサSにおける電荷の蓄積制御を実行する。この蓄積制御により、AF−CCD制御部31からデフォーカス演算部32に信号データが出力される。
ステップS102において、デフォーカス演算部32は、AF−CCD制御部31から出力された信号データに基づいて、相関演算により像ズレ量を求め、デフォーカス量を算出する。
ステップS103において、フォーカスエリア位置決定部33は、AFエリア位置決定のルーチン(不図示)を実行する。
ステップS104において、レンズ駆動量演算部34は、レンズ駆動量演算のルーチン(不図示)を実行する。
ステップS105において、レンズ駆動制御部35は、ステップS104におけるレンズ駆動量演算部34のレンズ駆動量演算の結果に従い、撮像レンズ20のレンズ駆動用モータ22へ駆動制御信号を出力する。
次に、図6のステップS101におけるAFセンサ制御(サブルーチン)について説明する。図7〜図9は、AF−CCD制御部31によるAFセンサ制御の処理手順を示すフローチャートである。図7〜図9に示す処理は、ラインセンサS1〜S7の各々について実行される。ここでは、任意のラインセンサSの処理として説明する。
図7に示すステップS201において、センサ制御部311は、ラインセンサSが起動済みか否かを判定する。このステップS201において、センサ制御部311の判定が「YES」であれば、処理はステップS218へ移行する。また、ステップS201において、センサ制御部311の判定が「NO」であれば、処理はステップS202へ移行する。
ステップS202において、センサ制御部311は、初期化等の起動処理を実行する。
ステップS203において、センサ制御部311は、蓄積(ゲインの制御)を安定化させるための処理として、ラインセンサSの蓄積サイクルを数回実行する。ラインセンサ起動時には、被写体の輝度が明確ではないためである。
ステップS203において、センサ制御部311は、蓄積(ゲインの制御)を安定化させるための処理として、ラインセンサSの蓄積サイクルを数回実行する。ラインセンサ起動時には、被写体の輝度が明確ではないためである。
ステップS204において、センサ制御部311は、所定の蓄積時間及びゲインを設定し、ラインセンサSにおいて通常の蓄積制御を実行する。なお、ステップS204において、センサ制御部311は、蓄積する電荷の出力レベル(電荷のピーク値×ゲイン)が、ラインセンサSにおける飽和レベルの50%〜60%となるように蓄積時間及びゲインを設定する。
図8に示すステップS205において、蓄積実行制御部314は、ステップS204の蓄積制御を行った上で、蓄積が継続して可能か否かを判定する。ここでは、追加蓄積又は再蓄積を行う時間があるか否かにより、蓄積が継続して可能か否かを判定する。このステップS205において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS206へ移行する。また、ステップS205において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS216(図9)へ移行する。
ステップS206(ステップS205:YES)において、蓄積実行制御部314は、ラインセンサSに、オーバーフローの(信号値が飽和している)AFエリア、及び低出力の(信号値が所定値を下回る)AFエリアが存在するか否かを判定する。蓄積実行制御部314は、メモリ154のメモリ領域に記憶された電気信号の信号値に基づいて、ラインセンサSにオーバーフローのAFエリア及び低出力のAFエリアが存在するか否かを判定する。このステップS206において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS207へ移行する。また、ステップS206において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS209へ移行する。以下、上述したオーバーフローのAFエリア及び低出力のAFエリアを、「対象となるAFエリア」ともいう。
ステップS207(ステップS206:YES)において、蓄積実行制御部314は、各列の複数のAFエリアに設定された蓄積時間(ステップ204で設定された蓄積時間)と1フレーム期間とから残り蓄積時間を算出する。そして、蓄積実行制御部314は、対象となるAFエリアに対して、追加蓄積のみ可能か否かを判定する。このステップS207において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS208(図9)へ移行する。ステップS207において、蓄積実行制御部314は、オーバーフローのAFエリアに対して再蓄積を行うには時間が足りないが、低出力のAFエリアに対して追加蓄積を行うのは可能であると判定した場合に「YES」と判定する。また、このステップS207において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS212(図9)へ移行する。
図9に示すステップS208(ステップS207:YES)において、第2蓄積制御部313は、追加蓄積のみ可能と判定した、低出力のAFエリアで生成された電気信号を、メモリ154(位相差AF検出部15)の対応するメモリ領域に追加蓄積させる。
一方、図8に示すステップS209(ステップS206:NO)において、蓄積実行制御部314は、ラインセンサSに、対象となるAFエリアとして低出力のAFエリアのみが存在するか否かを判定する。このステップS209において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS208(図9)へ移行する。また、ステップS209において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS210へ移行する。
ステップS210(ステップS209:NO)において、蓄積実行制御部314は、ラインセンサSに、対象となるAFエリアとしてオーバーフローのAFエリアのみが存在するか否かを判定する。このステップS210において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS211(図9)へ移行する。また、ステップS210において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS216(図9)へ移行する。ステップS210において「NO」の場合は、ラインセンサSのすべてのAFエリアにおいて、適切な蓄積制御が行われていると考えられるため、追加蓄積や再蓄積は実行されない。
図9に示すステップS211(ステップS210:YES)において、第2蓄積制御部313は、オーバーフローのAFエリアで生成された電気信号を、メモリ154(位相差AF検出部15)の対応するメモリ領域に再蓄積させる。
一方、ステップS212(ステップS207:NO)において、蓄積実行制御部314は、対象となるAFエリアに対して、再蓄積のみ可能か否かを判定する。このステップS212において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS213へ移行する。ステップS212において、蓄積実行制御部314は、低出力のAFエリアに対して追加蓄積を行うには時間が足りないが、オーバーフローのAFエリアに対して再蓄積を行うのは可能である場合に「YES」と判定する。また、このステップS212において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS214へ移行する。
ステップS213(ステップS212:YES)において、第2蓄積制御部313は、低出力のAFエリアで生成された電気信号を、メモリ154(位相差AF検出部15)の対応するメモリ領域に再蓄積させる。
一方、ステップ214(ステップS212:NO)において、蓄積実行制御部314は、対象となるAFエリアに対して、追加蓄積及び再蓄積の両方が可能か否かを判定する。このステップS214において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS215へ移行する。また、このステップS214において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS216へ移行する。
ステップS215(ステップS214:YES)において、第2蓄積制御部313は、オーバーフローのAFエリア及び低出力のAFエリアのうち、数の多い方のAFエリアで生成された電気信号を、メモリ154(位相差AF検出部15)の対応するメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる。なお、ステップS215において、第2蓄積制御部313は、オーバーフローのAFエリア及び低出力のAFエリアの数が同じである場合には、追加蓄積又は再蓄積のうち、蓄積時間の短い方の蓄積制御を実行する。
ステップS216において、出力部315は、メモリ154(位相差AF検出部15)の各メモリ領域に蓄積された電気信号を信号データとして読み出し、感度不均一補正等の補正処理を行い、デフォーカス演算部32へ出力する。
ステップS217において、蓄積実行制御部314は、蓄積中心時刻を更新する。蓄積中心時刻とは、蓄積制御(通常蓄積、追加蓄積、再蓄積)の開始時刻と終了時刻との中間に相当する時刻をいう。AF−CCD制御部31では、ラインセンサ起動時にタイマ(不図示)により時間の計測が開始される。蓄積実行制御部314は、タイマにより計測されたその時点での経過時間を、蓄積中心時刻として更新(記録)する。また、蓄積実行制御部314は、蓄積中心時刻を更新した際に、蓄積制御に要した時間も記録する。蓄積中心時刻を記録することにより、各AFエリアにおける蓄積制御の状態等を把握することができる。
ステップS217で蓄積中心時刻を更新した後、本サブルーチンの処理は終了する(ステップS201へリターンする)。
一方、図7に示すステップS218(ステップS201:YES)において、蓄積実行制御部314は、ラインセンサSに、追加蓄積を実行する条件を満たすAFエリアが存在するか否かを判定する。このステップS218では、前回のフレーム期間で蓄積制御したAFエリアのうち、追加蓄積を実行する条件を満たすものがあるか否かを判定する。
追加蓄積を実行する条件を満たすか否かは、例えば、そのAFエリアにおいて、再蓄積を実行する時間があるか否かにより判断することができる。また、追加蓄積を実行する条件を満たすか否かは、ラインセンサSに含まれる複数のAFエリアにおいて、蓄積時間の最大最小差が1ms以上で、且つ最長蓄積時間と最短蓄積時間の比率が2.1(=ピーク値の70%で蓄積制御した際に、どの列のラインセンサSも目標の30%以上で蓄積できる範囲)を超えるか否かにより判断することもできる。この他、ラインセンサ内での輝度差が大きく、1回の蓄積制御では同一ラインセンサ内のすべてのAFエリアに対して適切な蓄積ができないと判断される場合等を、追加蓄積を実行する条件を満たすか否かの判断基準とすることができる。
このステップS218において、蓄積実行制御部314の判定が「YES」であれば、処理はステップS219へ移行する。また、ステップS218において、蓄積実行制御部314の判定が「NO」であれば、処理はステップS204へ移行する。このように、追加蓄積を実行する条件を満たさない場合には、ステップS204において、通常の蓄積制御が実行される。
ステップS219(ステップS218:YES)において、センサ制御部311は、初回蓄積のための蓄積時間及びゲインを設定し、ラインセンサSにおいて初回の蓄積制御を実行する。なお、センサ制御部311は、前回の蓄積制御において、蓄積時間が最短となるAFエリアに基づいて蓄積時間及びゲインを設定する。
ステップS220において、センサ制御部311は、ステップS219における初回蓄積の結果に応じて、追加蓄積のための蓄積時間及びゲインを設定する。そして、第2蓄積制御部313は、設定された蓄積時間及びゲインに基づいて、ラインセンサSにおいて追加蓄積を実行する。
なお、ステップS219において、センサ制御部311により、初回蓄積及び追加蓄積の2回分の蓄積時間及びゲインを前もって設定してもよい。その場合に、ステップS220において、初回蓄積(ステップS219)の結果に応じて、追加蓄積のゲインを異ならせてもよい。
ステップS220で追加蓄積を実行した後、処理はステップS216(図9)へ移行する。
ステップS220で追加蓄積を実行した後、処理はステップS216(図9)へ移行する。
なお、上述した本サブルーチンの処理は、カメラ1のAF駆動が継続している間、1フレーム期間毎に繰り返し実行される。また、本サブルーチンの終了後、AF−CCD制御部31の処理は、図6に示すメインルーチンのステップS102に移行する。
上述した実施形態の焦点検出装置によれば、以下のような効果を奏する。
本実施形態の焦点検出装置では、蓄積制御されたラインセンサの残り蓄積時間に基づいて、追加蓄積又は再蓄積が可能なAFエリアを特定し、当該AFエリアで生成された電気信号を、メモリ154の対応するメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積する。これによれば、ラインセンサのより多くのAFエリアにおいて、オーバーフローや低出力とならない適切な出力レベルの信号データを得ることができる。従って、本実施形態の焦点検出装置によれば、点光源等の有害光による影響を抑制して、適切な焦点検出を行うことができる。
本実施形態の焦点検出装置では、蓄積制御されたラインセンサの残り蓄積時間に基づいて、追加蓄積又は再蓄積が可能なAFエリアを特定し、当該AFエリアで生成された電気信号を、メモリ154の対応するメモリ領域に追加蓄積又は再蓄積する。これによれば、ラインセンサのより多くのAFエリアにおいて、オーバーフローや低出力とならない適切な出力レベルの信号データを得ることができる。従って、本実施形態の焦点検出装置によれば、点光源等の有害光による影響を抑制して、適切な焦点検出を行うことができる。
また、本実施形態の焦点検出装置では、オーバーフローのAFエリア及び低出力のAFエリアが共に存在する場合には、これらAFエリアの数に基づいて、追加蓄積又は再蓄積を実行する。これによれば、本実施形態の焦点検出装置では、オーバーフロー又は低出力のうち、焦点検出に及ぼす影響が大きいと考えられる出力レベルに適した蓄積制御が行われる。そのため、本実施形態の焦点検出装置によれば、オーバーフロー又は低出力の影響のより少ない、適切な出力レベルの信号データを得ることができる。
また、本実施形態の焦点検出装置では、オーバーフローのAFエリア及び低出力のAFエリアが共に存在し、且つこれらAFエリアの数が同じである場合には、追加蓄積又は再蓄積のうち、蓄積時間の短い方の蓄積制御を実行する。そのため、本実施形態の焦点検出装置では、残り蓄積時間において、より確実に追加蓄積又は再蓄積を実行することができる。
また、本実施形態の焦点検出装置では、前回のフレーム期間で蓄積制御したラインセンサのうち、追加蓄積を実行する条件を満たすものが存在する場合には、当該ラインセンサに対して、初回蓄積及び追加蓄積を連続して実行する。そのため、本実施形態の焦点検出装置では、エリアセンサ内で輝度差が大きい場合でも、連続する2回の蓄積制御により、輝度の低いAFエリアにおいて確実に電荷を蓄積することができる。そのため、本実施形態の焦点検出装置では、より多くのAFエリアにおいて、オーバーフロー及び低出力の影響が少ない、より適切な出力レベルの信号データを得ることができる。
また、本実施形態の焦点検出装置では、初回蓄積及び追加蓄積を連続して実行する際に、初回蓄積のゲインに対して追加蓄積のゲインを異ならせることもできる。例えば、初回蓄積の時間が長くなった場合には、追加蓄積の蓄積時間を短くしてゲインを大きくすることができる。また、ノイズの影響を抑えるために、追加蓄積において、ゲインを小さくして蓄積時間を長くすることができる。これによれば、初回蓄積に続く追加蓄積において、より精度の高い蓄積制御を行うことができる。
[変形形態]
以上説明した実施形態に限定されることなく、本発明は以下に示すような変形や変更が可能であり、それらも本発明の範囲内である。
以上説明した実施形態に限定されることなく、本発明は以下に示すような変形や変更が可能であり、それらも本発明の範囲内である。
例えば、本実施形態では、焦点検出用センサ151のラインセンサを、CCDにより構成した例について説明した。これに限らず、焦点検出用センサ151のラインセンサを、CMOSにより構成してもよい。具体的には、各列における読み出しラインにメモリを接続し、そのメモリにおいて、A/D変換した電気信号を加算するようにしてもよい。なお、CMOSでは、フォトダイオードにおいて、被写体像の受光量に比例した電荷が、設定された蓄積時間に亘って蓄積され、その電荷量に相当する電気信号が出力される。また、各AFエリアに対応するCMOS内部にメモリを設け、このメモリにおいて、電気信号をデジタル量として加算するようにしてもよい。
上記実施形態及び変形形態は適宜に組み合わせて用いることができるが、実施形態の構成は図示と説明により明らかであるため、詳細な説明を省略する。更に、本発明は以上説明した実施形態により限定されることはない。
1:カメラ、10:カメラ本体、11:撮像素子、15:位相差AF検出部、20:撮像レンズ、30:制御装置、31:AF−CCD制御部、32:デフォーカス演算部、33:フォーカスエリア位置決定部、34:レンズ駆動量演算部、35:レンズ駆動制御部、36:背景領域・顔領域抽出部、151:焦点検出用センサ、152:A/D変換部、153:メモリ、311:センサ制御部、312:第1蓄積制御部313:第2蓄積制御部、314:蓄積実行制御部、315:出力部
Claims (7)
- 撮像領域に複数の焦点検出領域を含む焦点検出範囲が複数列配置され、各列の前記焦点検出範囲に含まれる前記複数の焦点検出領域において、受光量に応じた電気信号を生成する焦点検出用センサと、
前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、当該複数の焦点検出領域毎に割り当てられたメモリ領域に蓄積するメモリと、
前記複数の焦点検出領域で生成される電気信号の蓄積時間及びゲインを制御するセンサ制御手段と、
前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積させる第1蓄積制御手段と、
前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号のうち、所定の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる第2蓄積制御手段と、
各列の前記複数の焦点検出領域に設定された蓄積時間と1フレーム期間とから算出される残り蓄積時間に基づいて、追加蓄積又は再蓄積すべき前記焦点検出領域を特定し、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させる蓄積実行制御手段と、
1フレーム期間毎に、前記メモリの前記メモリ領域に蓄積された電気信号を信号データとして出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1に記載の焦点検出装置において、
前記蓄積実行制御手段は、電荷が飽和している前記焦点検出領域が存在する場合には、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に再蓄積させることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1に記載の焦点検出装置において、
前記蓄積実行制御手段は、信号値が所定値を下回る前記焦点検出領域が存在する場合には、当該焦点検出領域で生成された電気信号を、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積させることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1に記載の焦点検出装置において、
前記蓄積実行制御手段は、信号値が飽和している前記焦点検出領域及び信号値が所定値を下回る前記焦点検出領域が共に存在する場合には、該当する焦点検出領域の数に基づいて、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に追加蓄積又は再蓄積させることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の焦点検出装置において、
前記蓄積実行制御手段は、前記メモリの前記メモリ領域に蓄積された電気信号に対して、追加蓄積を実行する条件を満たす前記焦点検出範囲が存在する場合には、前記第1蓄積制御手段により前記焦点検出範囲に含まれる前記複数の焦点検出領域で生成された電気信号を、前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積させる初回蓄積を実行させた後、前記第2蓄積制御手段により前記メモリの対応する前記メモリ領域に蓄積された電気信号に対して、追加蓄積を実行させることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項5に記載の焦点検出装置において、
前記センサ制御手段は、前記第1蓄積制御手段による初回蓄積のゲインに対して、前記第2蓄積制御手段による追加蓄積のゲインを異ならせることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1から6のいずれか1項に記載の焦点検出装置を備える撮像装置。
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JP2013242968A JP2015102670A (ja) | 2013-11-25 | 2013-11-25 | 焦点検出装置及び撮像装置 |
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-
2013
- 2013-11-25 JP JP2013242968A patent/JP2015102670A/ja active Pending
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