JP3979606B2 - 渦電流探傷用プローブとそのプローブを用いた渦電流探傷装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本願発明は、渦電流探傷用プローブとそのプローブを用いた渦電流探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図7と図8を参照して従来の渦電流探傷装置に使用されているプローブを説明する。なお両図に共通の部分は、同じ符号を使用している。
図7において、図7(a)は、パンケーキ型プローブの、図7(b)は、クロスポイント型プローブの、図7(c)は、Θ型プローブの斜視図である。
図7(a)のパンケーキ型プローブは、パンケーキ状のコイル5を用いた自己誘導型プローブで、コイル5は、励磁コイルと検出コイルを兼ねており、金属板等の検査体T上に上置して、コイル5に励磁電流を流すと、検査体Tに渦電流が発生し、その渦電流によりコイル5に起電力を発生する。コイル5の直下の検査体Tにキズがあるときは、渦電流は、そのキズの部分で変化するため、コイル5の起電力にも変化が生じる。渦電流探傷装置は、その起電力の変化を検知してキズを評価している。
【0003】
コイル5には、検査体Tにキズがないときにも定常的に発生する渦電流による起電力とキズによる渦電流の変化に起因する起電力、いわゆるキズ信号とが同時に発生する。一方コイル5と検査体Tとの相対距離(以下リフトオフと呼ぶ)が変化すると、定常的に発生する渦電流が変化して、いわゆるリフトオフ雑音を発生するため、キズの評価精度が低下する。
キズの探傷には、プローブを検査体Tに沿って移動しなければならないため、リフトオフの変化は避けがたく、特に長いキズの場合には、リフトオフの変化をなくすことは困難である。
【0004】
図7(b)のクロスポイント型プローブは、励磁コイル61と検出コイル62とを直交させてある。ここで図8(a)を参照してクロスポイント型プローブについて説明する。
図8(a)は、キズが検出コイルと交差する角度を示し、検出コイルと平行するキズFを0度とし、45度、90度、135度のキズFを示してある。
クロスポイント型プローブは、リフトオフ雑音は小さいが、検査体Tのキズ(例えばスリット状キズF)の方向により、キズ信号を発生しない場合がある。即ちキズFが検出コイル62と45度又は135度の方向にある場合には、キズ信号を発生しない。したがってクロスポイント型プローブを用いた渦電流探傷装置は、キズFが検出コイル62に対して45度又は135度の方向にある場合には、キズを検知できない。即ちクロスポイント型プローブには、検知できない方向のキズがある。
【0005】
図7(c)のΘ型プローブは、パンケーキ状の励磁コイル71の内側に、縦置き型の矩形状の検出コイル72を配置してある。ここで図8(b),(c)を参照してΘ型プローブを説明する。
図8(b)は、キズFが検出コイル72と直交する方向にある場合を、図8(c)は、キズFが検出コイル72と平行する方向にある場合を示す。
Θ型プローブは、リフトオフ雑音が小さく、全ての方向のキズを検知できるが、検出コイル72がキズの真上にあるときキズ信号を発生しない。例えば、図8(b)の場合、検出コイル72がキズFの両側P1,P2にあるときはキズ信号を発生するが、キズFの真上(キズFの長手方向の中点)P0にあるときは、キズ信号を発生しない。また図8(c)の場合、検出コイル72がキズFの両側P1,P2にあるときはキズ信号を発生するが、キズFの真上P0にあるときは、キズ信号を発生しない。即ちΘ型プローブは、キズの真上から外れた位置で検出信号を発生する。そのためプローブを走査してキズの位置を検知する場合、感覚的にキズの位置を錯覚し易い。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
本願発明は、これらの問題点に鑑み、リフトオフ雑音が小さく、全方向のキズを検出でき、かつキズの真上でキズ信号の振幅が最大になるプローブと、そのプローブを用いた渦電流探傷装置の提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本願の発明は、その目的を達成するため、請求項1に記載の渦電流探傷用プローブは、コイル面が検査面に平行な励磁コイルの内側に、巻線の方向が逆でコイル面が検査面に垂直な一対の検出コイルを対向させて配置し、両検出コイルは、検査体のキズが両検出コイルの間に位置するとき両検出コイルの出力を同極性で重畳するように接続してあることを特徴とする。
請求項2に記載の渦電流探傷用プローブは、コイル面が検査面に平行な励磁コイルの内側に、巻線の方向が同じでコイル面が検査面に垂直な一対の検出コイルを対向させて配置し、両検出コイルは、一方の検出コイルの出力の極性を反転して、検査体のキズが両検出コイルの間に位置するとき両検出コイルの出力を同極性で重畳するように接続してあることを特徴とする。
請求項3に記載の渦電流探傷用プローブは、請求項1又は請求項2に記載の渦電流探傷用プローブにおいて、検出コイルは、三角形であることを特徴とする。
請求項4に記載の渦電流探傷装置は、請求項1に記載の渦電流探傷用プローブ、その渦電流探傷用プローブのキズ信号を検出するキズ信号検出器、そのキズ信号検出器のキズ信号を表示するキズ信号評価器とを備えていることを特徴とする。
請求項5に記載の渦電流探傷装置は、請求項2に記載の渦電流探傷用プローブ、その渦電流探傷用プローブのキズ信号を検出するキズ信号検出器、そのキズ信号検出器のキズ信号を表示するキズ信号評価器とを備えていることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】
図1〜図6を参照して、本願発明の実施の形態を説明する。なお各図に共通の部分は、同じ符号を使用している。
【0009】
図1は、本願発明の実施の形態に係るプローブの構成を示す。
図1(a)は、プローブの平面図、図1(b)は、図1(a)のY1−Y1部分の断面図、図1(c)は、図1(a)のY2−Y2部分の断面図である。
図1において、Tは、金属板等の検査体、11は、コイル面が検査体Tの検査面に平行な(コイル軸が垂直な)パンケーキ状の励磁コイル、121,122は、コイル面が検査面に垂直な(コイル軸が平行な)、いわゆる縦置き型の矩形状の検出コイルである。検出コイル121,122は、励磁コイル11の内側に、励磁コイル11の軸方向と平行する方向に対向させて配置してある。検出コイル121,122は、コイルの巻線方向が逆で、両コイルの出力が重畳されるように接続してある。即ち検出コイル121の巻き終わりと検出コイル122の巻き始めとを接続するか、或いは検出コイル121の巻き始めと検出コイル122の巻き終わりとを接続して、一対の検出コイルの出力を取り出すように接続する。
【0010】
図2は、図1のプローブが発生する渦電流を説明する図で、図2(a)は、検査体Tにキズがない場合、図2(b)は、キズが検出コイルと平行している場合、図2(c)は、キズが検出コイルと直交している場合の渦電流の分布を示す。
図2において、Fは、検査体Tのキズ、Iは、励磁コイル11の励磁電流により定常的に発生する渦電流、i1,i2は、キズFに起因して発生する渦電流である。
【0011】
図2(a)のように検査体Tにキズがない場合、検査体Tには渦電流Iのみが発生する。検出コイル121,122は、渦電流Iの内側に位置するから、検出コイル121,122には、渦電流Iによる起電力は発生しない。
【0012】
図2(b)の場合、検査体Tには、キズFの両側(上下)に、キズFに起因する逆方向の渦電流(細い矢印の電流)が発生する。検出コイル121,122は、キズFと平行しているから、検出コイル121,122には、キズFに沿って流れる渦電流i1,i2により起電力が発生し、いわゆるキズ信号が発生する。渦電流i1,i2は、逆方向に流れるが、検出コイル121,122の巻線の方向も逆であるから、検出コイル121,122には、同極性のキズ信号が発生し、その両キズ信号は重畳される。したがってキズFが検出コイル121,122と平行している場合には、一対の検出コイル121,122が、図2(b)の位置にあるとき、即ちキズFが検出コイル121,122の間に位置するとき、最大振幅のキズ信号を発生する。この場合、一対の検出コイル121,122は、キズFの真上に位置するから、図1のプローブが最大振幅のキズ信号を発生する位置とキズFの位置とは一致する。
【0013】
図2(c)の場合、検出コイル121,122は、キズFの長手方向の中点の両側に位置するから、検出コイル121,122には、キズFに起因して発生する渦電流i1,i2により起電力が発生し、キズ信号が発生する。渦電流i1,i2の方向は逆であるが、図2(b)の場合と同様に、検出コイル121,122には、同極性のキズ信号が発生して重畳される。したがってキズFが検出コイル121,122と直交している場合には、一対の検出コイル121,122が、図2(c)の位置にあるとき、即ちキズFの中点が検出コイル121,122の間に位置するとき、最大振幅のキズ信号を発生する。この場合、一対の検出コイル121,122は、キズFの中点の真上に位置するから、図1のプローブが最大振幅のキズ信号を発生する位置とキズFの中点の位置とは一致する。
【0014】
図3は、キズが検出コイルと平行している場合に、プローブをキズと直交する方向に走査したときのキズ信号の振幅波形を示す。図3は、図1のプローブの振幅波形と比較するため、従来のΘ型プローブ、クロスポイント型プローブについても示してある。
図3において、横軸は、検出コイルの走査距離を表し、0の位置は、検出コイルがキズの真上にある位置に相当する。縦軸は、キズ信号の正規化した振幅を表している。またイは、図1のプローブの振幅波形、ロは、Θ型プローブの振幅波形、ハは、クロスポイント型プローブの振幅波形である。
【0015】
まずイの振幅波形は、検出コイルが0の位置にあるとき、即ち検出コイルがキズの真上にあるとき振幅が最大になるのに対して、ロの振幅波形は、検出コイルが0の位置にあるとき0になる。またハの振幅波形は、検出コイルが0の位置にあるとき振幅が最大になる。
【0016】
図4は、プローブのキズ信号とリフトオフ雑音を示す。図4(a)は、図1のプローブに関し、図4(b)は、従来のパンケーキ型プローブに関する。
図4において、横軸は、励磁電流と同相の成分を、縦軸は、励磁電流と90度進相成分を表している。またDは、キズの深さ(金属板の厚みに対する%)を、Lは、リフトオフを示す。
図4(a)と図4(b)とを比較すると、図4(a)のリフトオフ雑音は小さいが、図4(b)のリフトオフ雑音は大きい。即ち図4(a)のS/Nは、2.8であるのに対して、図4(b)のS/Nは、0.4である。したがって図1のプローブのリフトオフ雑音は、従来のパンケーキ型プローブに比べて非常に小さいことが分かる。
【0017】
図5は、プローブをキズと0度、45度、90度の方向に走査したときのキズ信号パターンを示し、図5(a)は、図1のプローブに関し、図5(b)は、従来のクロスポイント型プローブに関する。
図5において、横軸は、励磁電流と同相の成分を、縦軸は、励磁電流と90度進相成分を表している。またイは、プローブの走査方向が0度、ロは、45度、ハは、90度の場合のキズ信号パターンである。
【0018】
図5(a)の場合には、イ、ロ、ハのいずれのときも、キズ信号が発生している。即ち図1のプローブは、全方向のキズに対してキズ信号を発生する。一方図5(b)の場合には、ロのときキズ信号が発生しない。即ち従来のクロスポイント型プローブは、キズがプローブの検出コイルと45度の方向にあるときには、キズ信号を発生しない。
【0019】
ここで、本実施の形態は、励磁コイル11に外径7mm、巻線断面1×1mm2のものを、検出コイル121,122に縦5mm,横2mm、巻線断面1×1mm2のものを用い、両コイルを1mm離して対向させたものを用い、また検査体Tは、160×160×1.5mm3の黄銅平板を用い、その黄銅平板に長さ15mm、幅0.5mmのキズFを形成して、キズFの評価を行った。なお励磁信号の周波数は、20kHzに設定した。
【0020】
図6は、本発明の実施の形態に係る渦電流探傷装置のブロック図である。
渦電流探傷装置は、金属板等の検査体Tに上置するプローブ22、そのプローブ22に励磁電流を供給する励磁電流供給器21、プローブ22に発生するキズ信号を検出するキズ信号検出器23、及びキズ信号検出器23のキズ信号に基づいてキズの位置等を評価するキズ評価器24から成る。
【0021】
プローブ22は、図1のプローブから成り、検出コイル121,122には、検査体Tのキズに起因して発生する渦電流により、夫々キズ信号が発生する。キズ信号検出器23は、一対の検出コイル121,122の重畳されたキズ信号を検出してキズ評価器24に供給し、キズ評価器24は、キズ信号を表示する。キズ評価器24に表示されるキズ信号の最大振幅から、キズの真上の位置を検知できる。
【0022】
前記実施の形態は、励磁コイルとしてパンケーキ状コイルについて説明したが、矩形状コイルであってもよい。また検出コイルは、矩形状コイルに限らず三角形のコイルであってもよい。検出コイルが三角形の場合には、検出コイルが励磁コイルに対して傾斜しても、励磁電流により定常的に発生する渦電流により誘起する励磁磁界の影響を受け難いため、プローブの組立てが容易になる。
前記実施の形態は、一対の検出コイルとして、巻線の方向が逆のものについて説明したが、巻線方向が同じものを用い、一方の検出コイルのキズ信号の極性を反転して両検出コイルのキズ信号を重畳してもよい。キズ信号の極性の反転は、一対の検出コイルの一方の検出コイルの巻き終わりと他方の検出コイルの巻き終わりとを接続して行うか、或いは一方の検出コイルの出力に極性反転回路を接続して行う。
【0023】
【発明の効果】
本願発明のプローブは、1個の励磁コイル内に、一対の検出コイルを所定の間隔をおいて配置し、両検出コイルの巻線方向を逆にして、両検出コイルのキズ信号を重畳するか、又は両検出コイルの巻線方向を同じにし、一方の検出コイルのキズ信号の極性を反転して、両検出コイルのキズ信号を重畳することにより、キズの真上で最大振幅のキズ信号を発生することができる。したがって本願発明のプローブは、キズの真上とキズ信号の最大振幅を発生する位置とが一致するから、感覚的にキズの位置を錯覚して誤認することがない。
本願発明のプローブは、リフトオフ雑音が小さく、かつ全ての方向のキズを検出できる。
【0024】
このように本願発明のプローブは、従来のパンケーキ型プローブ、クロスポイント型プローブ、Θ型プローブの欠点を全て解決することができる。
本願発明の渦電流探傷装置は、本願発明のプローブを用いることにより、1種類のプローブを装着するのみで全方向のキズを高精度で、確実に検知することができるから、渦電流探傷装置が簡単になり、かつ探傷作業が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明の実施の形態に係るプローブの平面図と断面図である。
【図2】図1のプローブの渦電流を示す図である。
【図3】図1のプローブと従来のプローブのキズ信号の振幅波形を示す図である。
【図4】図1のプローブと従来のプローブのキズ信号とリフトオフ雑音を示す図である。
【図5】図1のプローブと従来のプローブのキズの方向に対する信号パターンを示す図である。
【図6】本願発明の実施の形態に係る渦電流探傷装置のブロック図である。
【図7】従来のプローブの斜視図である。
【図8】従来のプローブの特性を説明するためのキズの傾斜角、キズと検出コイルとの位置関係を示す図である。
【符号の説明】
11 励磁コイル
121,122 検出コイル
21 励磁電流供給器
22 プローブ
23 キズ信号検出器
24 キズ評価器
D キズの深さ
L リフトオフ
F キズ
I,i1,i2 渦電流
T 検査体
Claims (5)
- コイル面が検査面に平行な励磁コイルの内側に、巻線の方向が逆でコイル面が検査面に垂直な一対の検出コイルを対向させて配置し、両検出コイルは、検査体のキズが両検出コイルの間に位置するとき両検出コイルの出力を同極性で重畳するように接続してあることを特徴とする渦電流探傷用プローブ。
- コイル面が検査面に平行な励磁コイルの内側に、巻線の方向が同じでコイル面が検査面に垂直な一対の検出コイルを対向させて配置し、両検出コイルは、一方の検出コイルの出力の極性を反転して、検査体のキズが両検出コイルの間に位置するとき両検出コイルの出力を同極性で重畳するように接続してあることを特徴とする渦電流探傷用プローブ。
- 請求項1又は請求項2に記載の渦電流探傷用プローブにおいて、検出コイルは、三角形であることを特徴とする渦電流探傷用プローブ。
- 請求項1に記載の渦電流探傷用プローブ、その渦電流探傷用プローブのキズ信号を検出するキズ信号検出器、そのキズ信号検出器のキズ信号を表示するキズ信号評価器とを備えていることを特徴とする渦電流探傷装置。
- 請求項2に記載の渦電流探傷用プローブ、その渦電流探傷用プローブのキズ信号を検出するキズ信号検出器、そのキズ信号検出器のキズ信号を表示するキズ信号評価器とを備えていることを特徴とする渦電流探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002040906A JP3979606B2 (ja) | 2002-02-19 | 2002-02-19 | 渦電流探傷用プローブとそのプローブを用いた渦電流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002040906A JP3979606B2 (ja) | 2002-02-19 | 2002-02-19 | 渦電流探傷用プローブとそのプローブを用いた渦電流探傷装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003240762A JP2003240762A (ja) | 2003-08-27 |
JP3979606B2 true JP3979606B2 (ja) | 2007-09-19 |
Family
ID=27781453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002040906A Expired - Fee Related JP3979606B2 (ja) | 2002-02-19 | 2002-02-19 | 渦電流探傷用プローブとそのプローブを用いた渦電流探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3979606B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6888347B2 (en) * | 2003-09-12 | 2005-05-03 | General Electric Company | Omnidirectional eddy current probes, array probes, and inspection systems |
JP4982075B2 (ja) * | 2005-11-26 | 2012-07-25 | マークテック株式会社 | 渦電流探傷プローブ |
JP4917899B2 (ja) * | 2006-03-03 | 2012-04-18 | 株式会社日立製作所 | 渦電流探傷センサ及び渦電流探傷方法 |
JP5204938B2 (ja) * | 2008-04-25 | 2013-06-05 | マークテック株式会社 | 渦電流探傷プローブ |
JP6334267B2 (ja) * | 2014-05-30 | 2018-05-30 | 株式会社東芝 | 渦電流探傷装置及び方法 |
JP6885464B2 (ja) | 2017-05-26 | 2021-06-16 | 株式会社Ihi | 三次元積層造形物製造装置、三次元積層造形物製造方法及び探傷器 |
-
2002
- 2002-02-19 JP JP2002040906A patent/JP3979606B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003240762A (ja) | 2003-08-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050216 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20050216 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070109 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070301 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070403 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070522 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070619 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070623 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100706 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100706 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110706 Year of fee payment: 4 |
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