JP2001349875A - 渦流探傷用プローブ - Google Patents
渦流探傷用プローブInfo
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- JP2001349875A JP2001349875A JP2000173765A JP2000173765A JP2001349875A JP 2001349875 A JP2001349875 A JP 2001349875A JP 2000173765 A JP2000173765 A JP 2000173765A JP 2000173765 A JP2000173765 A JP 2000173765A JP 2001349875 A JP2001349875 A JP 2001349875A
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- coil
- probe
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 鉄桁の部材端溶接部のように狭小な箇所の亀
裂を検出できる。 【解決手段】 自己比較方式の渦流探傷用プローブ10
は、検査面Sに略平行に延びる磁芯14と、この磁芯1
4の一端から略中央まで巻装された第1コイル15と、
この磁芯14の略中央から他端まで巻装された第2コイ
ル16とを備えている。この渦流探傷用プローブ10で
は、検査面Sに欠陥が生じているか否かを判断する場
合、磁芯14と検査面Sとが略平行になるような姿勢を
保ちながら、検査面Sと略平行に走査していく。このと
き、走査範囲に欠陥が存在しなければ、コイルインピー
ダンスは変化しないが、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在
すれば、コイルインピーダンスが変化する。したがっ
て、コイルインピーダンスの変化の有無を調べることに
より、走査範囲に亀裂等の欠陥が生じているか否かの判
断が可能となる。
裂を検出できる。 【解決手段】 自己比較方式の渦流探傷用プローブ10
は、検査面Sに略平行に延びる磁芯14と、この磁芯1
4の一端から略中央まで巻装された第1コイル15と、
この磁芯14の略中央から他端まで巻装された第2コイ
ル16とを備えている。この渦流探傷用プローブ10で
は、検査面Sに欠陥が生じているか否かを判断する場
合、磁芯14と検査面Sとが略平行になるような姿勢を
保ちながら、検査面Sと略平行に走査していく。このと
き、走査範囲に欠陥が存在しなければ、コイルインピー
ダンスは変化しないが、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在
すれば、コイルインピーダンスが変化する。したがっ
て、コイルインピーダンスの変化の有無を調べることに
より、走査範囲に亀裂等の欠陥が生じているか否かの判
断が可能となる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、探傷器本体に接続
して使用される渦流探傷用プローブに関する。
して使用される渦流探傷用プローブに関する。
【0002】
【従来の技術】鉄道や道路には鉄製の橋(鉄桁)が数多
くあり、適切な維持管理のため精度の高い検査技術が要
求されている。鉄桁では、一般に溶接部が弱点箇所とな
っており、疲労現象によって発生する亀裂を早期に発見
して対処していくために、溶接部に対しては特に入念な
検査を行っている。
くあり、適切な維持管理のため精度の高い検査技術が要
求されている。鉄桁では、一般に溶接部が弱点箇所とな
っており、疲労現象によって発生する亀裂を早期に発見
して対処していくために、溶接部に対しては特に入念な
検査を行っている。
【0003】ところで、鉄桁にはサビを防止するためペ
イント塗装が施されている。このペイント塗装の表面の
うち形状変化点である溶接部には、ペイントが乾燥収縮
することによりしばしば塗膜割れが発生する。そのた
め、検査時において、塗膜が割れている箇所につき、単
なる塗膜割れなのか鉄桁の亀裂なのかの判断が困難な場
合が多々あり、塗膜表面を目視だけでは不確定なため、
いちいち塗膜を剥がして時間と労力のかかる磁粉探傷検
査を行い、溶接部の亀裂の有無の確認を行っている。
イント塗装が施されている。このペイント塗装の表面の
うち形状変化点である溶接部には、ペイントが乾燥収縮
することによりしばしば塗膜割れが発生する。そのた
め、検査時において、塗膜が割れている箇所につき、単
なる塗膜割れなのか鉄桁の亀裂なのかの判断が困難な場
合が多々あり、塗膜表面を目視だけでは不確定なため、
いちいち塗膜を剥がして時間と労力のかかる磁粉探傷検
査を行い、溶接部の亀裂の有無の確認を行っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このようにいちいち塗
膜を剥がして亀裂の有無の確認を行う作業は正確性が高
いものの非効率的であることから、単なる塗膜割れなの
か鉄桁の亀裂なのかの判断を簡単かつ正確に行うことの
できる検査方法の開発が望まれている。
膜を剥がして亀裂の有無の確認を行う作業は正確性が高
いものの非効率的であることから、単なる塗膜割れなの
か鉄桁の亀裂なのかの判断を簡単かつ正確に行うことの
できる検査方法の開発が望まれている。
【0005】このような検査方法として、渦流探傷方法
の適用が考えられる。渦流探傷方法は、鋼材等の微細な
表面亀裂を探傷するものであり、亀裂の長さや深さを正
確に検知することはできないが、亀裂の有無に対しては
塗膜の上からでも探傷が可能である。原理は、コイルに
交流電流を流して亀裂付近を走査したときに、渦電流が
その亀裂付近で変化するため、これを利用して亀裂を検
出するものである。
の適用が考えられる。渦流探傷方法は、鋼材等の微細な
表面亀裂を探傷するものであり、亀裂の長さや深さを正
確に検知することはできないが、亀裂の有無に対しては
塗膜の上からでも探傷が可能である。原理は、コイルに
交流電流を流して亀裂付近を走査したときに、渦電流が
その亀裂付近で変化するため、これを利用して亀裂を検
出するものである。
【0006】しかしながら、鉄桁の溶接部とりわけ部材
端溶接部に発生する亀裂を検出するには、渦流探傷用プ
ローブを極力小さくしなければ走査できないが、現状で
はそのようなプローブは存在しなかった。例えば、一般
的な標準比較方式の渦流探傷用プローブ(図7(a)参
照)は、第1コイル101と第2コイル102を検査面
Sに対して垂直に並べるため小型化に適しているといわ
れている。しかし、1つのコイルでインピーダンス変化
を捉えるため、プローブを小型化することにより表面の
肌荒れの信号や部材端溶接部の信号が大きく出力されて
しまい、その結果亀裂の有無による信号の変化が判別し
づらくなるという問題がある。
端溶接部に発生する亀裂を検出するには、渦流探傷用プ
ローブを極力小さくしなければ走査できないが、現状で
はそのようなプローブは存在しなかった。例えば、一般
的な標準比較方式の渦流探傷用プローブ(図7(a)参
照)は、第1コイル101と第2コイル102を検査面
Sに対して垂直に並べるため小型化に適しているといわ
れている。しかし、1つのコイルでインピーダンス変化
を捉えるため、プローブを小型化することにより表面の
肌荒れの信号や部材端溶接部の信号が大きく出力されて
しまい、その結果亀裂の有無による信号の変化が判別し
づらくなるという問題がある。
【0007】一方、一般的な自己比較方式の渦流探傷用
プローブ(図7(b)参照)は、第1コイル201と第
2コイル202の両方を含んだ構成のブリッジ回路を用
いるため、標準比較方式よりも亀裂の検出力という点で
優れている。しかし、両コイル201,202が検査面
Sに対して垂直に並べられ、磁束が磁芯203,204
に沿って上下方向に流れるため、部材端のように形状が
急激に変化するような箇所で追従できるようにプローブ
を小さくしていくと、亀裂と表面の肌荒れ等との出力信
号比(SN比)が悪くなり、所要の性能を得ることが困
難になるという問題がある。
プローブ(図7(b)参照)は、第1コイル201と第
2コイル202の両方を含んだ構成のブリッジ回路を用
いるため、標準比較方式よりも亀裂の検出力という点で
優れている。しかし、両コイル201,202が検査面
Sに対して垂直に並べられ、磁束が磁芯203,204
に沿って上下方向に流れるため、部材端のように形状が
急激に変化するような箇所で追従できるようにプローブ
を小さくしていくと、亀裂と表面の肌荒れ等との出力信
号比(SN比)が悪くなり、所要の性能を得ることが困
難になるという問題がある。
【0008】本発明はこのような問題を解消することを
課題とするものであり、鉄桁の部材端溶接部のように狭
小な箇所の亀裂を検出可能な渦流探傷用プローブを提供
することを目的とする。
課題とするものであり、鉄桁の部材端溶接部のように狭
小な箇所の亀裂を検出可能な渦流探傷用プローブを提供
することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】上記課題
を解決するため、本発明は、自己比較方式の渦流探傷用
プローブであって、検査面に略平行に延びる磁芯と、こ
の磁芯の一端から略中央まで巻装された第1コイルと、
この磁芯の略中央から他端まで巻装された第2コイルと
を備えたことを特徴とする。
を解決するため、本発明は、自己比較方式の渦流探傷用
プローブであって、検査面に略平行に延びる磁芯と、こ
の磁芯の一端から略中央まで巻装された第1コイルと、
この磁芯の略中央から他端まで巻装された第2コイルと
を備えたことを特徴とする。
【0010】本発明の渦流探傷用プローブでは、検査面
に亀裂等の欠陥が生じているか否かを判断する場合、磁
芯と検査面とが略平行になるような姿勢を保ちながら、
検査面と略平行に走査していく。すると、検査面には渦
電流が発生するが、この渦電流は検査面の表面凹凸の影
響(ノイズ)を受けながら走査方向に移動していく。こ
のとき、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在しなければ、コ
イルインピーダンスは変化しないが、走査範囲に亀裂等
の欠陥が存在すれば、コイルインピーダンスが変化す
る。したがって、コイルインピーダンスの変化の有無を
調べることにより、走査範囲に亀裂等の欠陥が生じてい
るか否かの判断が可能となる。例えば、第1コイル及び
第2コイルを含んでブリッジ回路を構成し、このブリッ
ジ回路の出力によって上記判断が可能となる。
に亀裂等の欠陥が生じているか否かを判断する場合、磁
芯と検査面とが略平行になるような姿勢を保ちながら、
検査面と略平行に走査していく。すると、検査面には渦
電流が発生するが、この渦電流は検査面の表面凹凸の影
響(ノイズ)を受けながら走査方向に移動していく。こ
のとき、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在しなければ、コ
イルインピーダンスは変化しないが、走査範囲に亀裂等
の欠陥が存在すれば、コイルインピーダンスが変化す
る。したがって、コイルインピーダンスの変化の有無を
調べることにより、走査範囲に亀裂等の欠陥が生じてい
るか否かの判断が可能となる。例えば、第1コイル及び
第2コイルを含んでブリッジ回路を構成し、このブリッ
ジ回路の出力によって上記判断が可能となる。
【0011】本発明の渦流探傷用プローブによれば、自
己比較方式において、従来のように磁芯を検査面に略垂
直にするのではなく略平行にすることで磁芯の長さを比
較的長くとると共に第1コイルと第2コイルを同じ磁芯
に巻くことにより、SN比が大きく改善され、小型化し
ても所要の性能が得られ、鉄桁の部材端溶接部のように
狭小な箇所の亀裂を検出可能になる。特に複数の部材端
部を交差させて溶接した部材端溶接部の亀裂の有無を検
査するのに適している。
己比較方式において、従来のように磁芯を検査面に略垂
直にするのではなく略平行にすることで磁芯の長さを比
較的長くとると共に第1コイルと第2コイルを同じ磁芯
に巻くことにより、SN比が大きく改善され、小型化し
ても所要の性能が得られ、鉄桁の部材端溶接部のように
狭小な箇所の亀裂を検出可能になる。特に複数の部材端
部を交差させて溶接した部材端溶接部の亀裂の有無を検
査するのに適している。
【0012】本発明の渦流探傷用プローブは、検査面に
略平行に延びるセンサガイドと、このセンサガイドの先
端に設けられたコアとを備え、このコアに前出の磁芯、
第1コイル、第2コイルを内蔵する構成が好ましい。こ
の場合、オペレータは、ある程度の長さを持ったセンサ
ガイドを手で掴みながら、その先端に設けられたコアを
検査面と略平行に走査することができるため、狭小な箇
所であってもコアを走査させやすい。
略平行に延びるセンサガイドと、このセンサガイドの先
端に設けられたコアとを備え、このコアに前出の磁芯、
第1コイル、第2コイルを内蔵する構成が好ましい。こ
の場合、オペレータは、ある程度の長さを持ったセンサ
ガイドを手で掴みながら、その先端に設けられたコアを
検査面と略平行に走査することができるため、狭小な箇
所であってもコアを走査させやすい。
【0013】このとき、コアは検査面に略平行な方向の
長さが10mm以下、特に4〜7mmであることが鉄桁
の部材端溶接部の傷を探すうえで好ましい。コアの長さ
がこの程度であっても、本発明の構成を採用すればS/
N比等、所要の性能が良好に得られる。
長さが10mm以下、特に4〜7mmであることが鉄桁
の部材端溶接部の傷を探すうえで好ましい。コアの長さ
がこの程度であっても、本発明の構成を採用すればS/
N比等、所要の性能が良好に得られる。
【0014】また、センサガイドの後端には、渦流探傷
器本体に接続するためのコネクタが設けられていること
が好ましい。この場合、渦流探傷用プローブの交換作業
が簡便になる。すなわち、検査を何度も繰り返し行う
と、渦流探傷用プローブのコアが擦れて交換する必要が
あるが、その場合にはコネクタを切り離して新たな渦流
探傷用プローブを接続すればよい。
器本体に接続するためのコネクタが設けられていること
が好ましい。この場合、渦流探傷用プローブの交換作業
が簡便になる。すなわち、検査を何度も繰り返し行う
と、渦流探傷用プローブのコアが擦れて交換する必要が
あるが、その場合にはコネクタを切り離して新たな渦流
探傷用プローブを接続すればよい。
【0015】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の好適な実施形態
を図面に基づいて説明する。図1は渦流探傷器の全体構
成を表す説明図、図2は渦流探傷用プローブの説明図で
あり、(a)は正面図、(b)は右側面図である。図3
は渦流探傷用プローブのコイルを表す説明図である。図
4は探傷器本体の回路ブロックを表す説明図である。
を図面に基づいて説明する。図1は渦流探傷器の全体構
成を表す説明図、図2は渦流探傷用プローブの説明図で
あり、(a)は正面図、(b)は右側面図である。図3
は渦流探傷用プローブのコイルを表す説明図である。図
4は探傷器本体の回路ブロックを表す説明図である。
【0016】本実施形態の渦流探傷器1は、図1に示す
ように、渦流探傷用プローブ10とケーブル20と探傷
器本体30を備えている。渦流探傷用プローブ10は、
自己誘導自己比較方式のものであり、検査面S(図3参
照)と略平行な走査方向に沿って長く延びるセンサガイ
ド11と、このセンサガイド11の先端に設けられたコ
ア12と、センサガイド11の後端に設けられたプロー
ブ側コネクタ13を備えている。本実施形態では、セン
サガイド11及びコア12は走査方向に沿った長さL
1,L2(図2参照)がそれぞれ50mm、5.5mm
である。
ように、渦流探傷用プローブ10とケーブル20と探傷
器本体30を備えている。渦流探傷用プローブ10は、
自己誘導自己比較方式のものであり、検査面S(図3参
照)と略平行な走査方向に沿って長く延びるセンサガイ
ド11と、このセンサガイド11の先端に設けられたコ
ア12と、センサガイド11の後端に設けられたプロー
ブ側コネクタ13を備えている。本実施形態では、セン
サガイド11及びコア12は走査方向に沿った長さL
1,L2(図2参照)がそれぞれ50mm、5.5mm
である。
【0017】コア12は、図3に示すように、その内部
に、走査方向に沿って延びる磁芯14と、この磁芯14
の一端から略中央まで巻装された第1コイル15と、磁
芯14の略中央から他端まで巻装された第2コイル16
を備えている。つまり、第1コイル15と第2コイル1
6は同じ磁芯14に巻装されている。また、第1コイル
15の巻始め部分と第2コイル16の巻始め部分は点P
にて電気的に接続されている。
に、走査方向に沿って延びる磁芯14と、この磁芯14
の一端から略中央まで巻装された第1コイル15と、磁
芯14の略中央から他端まで巻装された第2コイル16
を備えている。つまり、第1コイル15と第2コイル1
6は同じ磁芯14に巻装されている。また、第1コイル
15の巻始め部分と第2コイル16の巻始め部分は点P
にて電気的に接続されている。
【0018】ケーブル20は、図1に示すように、一端
にプローブ側コネクタ13に着脱自在に接続される第1
コネクタ21と、他端に探傷器本体30に設けられた本
体側コネクタ33に着脱自在に接続される第2コネクタ
22とを備えている。つまり、ケーブル20は渦流探傷
用プローブ10と探傷器本体30とを電気的に接続する
役割を果たしている。
にプローブ側コネクタ13に着脱自在に接続される第1
コネクタ21と、他端に探傷器本体30に設けられた本
体側コネクタ33に着脱自在に接続される第2コネクタ
22とを備えている。つまり、ケーブル20は渦流探傷
用プローブ10と探傷器本体30とを電気的に接続する
役割を果たしている。
【0019】探傷器本体30は、図1に示すように、探
傷波形などを表示する液晶表示部31と、各種設定を行
うためのキー入力部32と、ケーブル20に接続するた
めの本体側コネクタ33を備えている。また、この探傷
器本体30は、図4に示すように、発振回路34、励磁
回路35、ブリッジ回路36、検波回路37、DC化回
路38、増幅回路39、位相回路40からなる回路ブロ
ックを内蔵している。なお、探傷器本体30の代表例と
して、ユニ電子工業株式会社のUSP−3000があ
る。
傷波形などを表示する液晶表示部31と、各種設定を行
うためのキー入力部32と、ケーブル20に接続するた
めの本体側コネクタ33を備えている。また、この探傷
器本体30は、図4に示すように、発振回路34、励磁
回路35、ブリッジ回路36、検波回路37、DC化回
路38、増幅回路39、位相回路40からなる回路ブロ
ックを内蔵している。なお、探傷器本体30の代表例と
して、ユニ電子工業株式会社のUSP−3000があ
る。
【0020】ここで、発振回路34は、所定の周波数信
号を励磁回路35及び検波回路37に出力する回路であ
り、励磁回路35は、発振回路34から入力された周波
数信号を第1コイル15及び第2コイル16に印加して
励磁する回路である。ブリッジ回路36は、第1コイル
15及び第2コイル16を含んで構成され、渦流探傷用
プローブ10で検査面Sを走査中に亀裂等の欠陥により
ブリッジのバランスが乱れたときそのコイルインピーダ
ンスの変化に応じた電圧を出力する回路である。検波回
路37は、発振回路34から入力された周波数信号を基
準信号としてブリッジ回路36から入力された信号を同
期検波する回路である。DC化回路38は、検波回路3
7を経た信号をDC電圧に変換して残留している電圧を
増幅回路39に出力する回路であり、増幅回路39は、
DC化回路38から入力された電圧を増幅して判別可能
な信号として位相回路40に出力する回路であり、位相
回路40は、これらの信号の中から欠陥に係わる信号を
ノイズ信号と位相差を付けて判別しやすくして出力する
回路である。この位相回路40からの出力は液晶表示部
31にXY座標系で表示される。
号を励磁回路35及び検波回路37に出力する回路であ
り、励磁回路35は、発振回路34から入力された周波
数信号を第1コイル15及び第2コイル16に印加して
励磁する回路である。ブリッジ回路36は、第1コイル
15及び第2コイル16を含んで構成され、渦流探傷用
プローブ10で検査面Sを走査中に亀裂等の欠陥により
ブリッジのバランスが乱れたときそのコイルインピーダ
ンスの変化に応じた電圧を出力する回路である。検波回
路37は、発振回路34から入力された周波数信号を基
準信号としてブリッジ回路36から入力された信号を同
期検波する回路である。DC化回路38は、検波回路3
7を経た信号をDC電圧に変換して残留している電圧を
増幅回路39に出力する回路であり、増幅回路39は、
DC化回路38から入力された電圧を増幅して判別可能
な信号として位相回路40に出力する回路であり、位相
回路40は、これらの信号の中から欠陥に係わる信号を
ノイズ信号と位相差を付けて判別しやすくして出力する
回路である。この位相回路40からの出力は液晶表示部
31にXY座標系で表示される。
【0021】次に、本実施形態の渦流探傷器1を用いて
検査面に亀裂等の欠陥があるか否かの診断を行う場合に
ついて説明する。まず、ケーブル20の第1コネクタ2
1と渦流探傷用プローブ10のプローブ側コネクタ13
とを接続すると共に、ケーブル20の第2コネクタ22
と探傷器本体30の本体側コネクタ33とを接続し、渦
流探傷器1の図示しない電源スイッチをオンにして図示
しない電池パックから電源を供給する。
検査面に亀裂等の欠陥があるか否かの診断を行う場合に
ついて説明する。まず、ケーブル20の第1コネクタ2
1と渦流探傷用プローブ10のプローブ側コネクタ13
とを接続すると共に、ケーブル20の第2コネクタ22
と探傷器本体30の本体側コネクタ33とを接続し、渦
流探傷器1の図示しない電源スイッチをオンにして図示
しない電池パックから電源を供給する。
【0022】続いて、テストピースTを用いて各種設定
を行う。ここでテストピースTとは、図5に示すよう
に、検査面と同じ材料の板材41の上面中央に別の板材
42を略垂直に立てて溶接したものであり、溶接部43
の一部に人工傷44を付けたものである。
を行う。ここでテストピースTとは、図5に示すよう
に、検査面と同じ材料の板材41の上面中央に別の板材
42を略垂直に立てて溶接したものであり、溶接部43
の一部に人工傷44を付けたものである。
【0023】各種設定は以下のようにして行う。すなわ
ち、探傷器本体30のキー入力部32を適宜操作するこ
とにより、検査材料に応じた周波数に設定したり、液晶
表示部31のXY座標系に表れる出力レンジを適当な大
きさに設定したり、リフトオフ信号(コア12とテスト
ピースTとのギャップによる信号)をX軸と平行になる
ように位相を設定したり、テストピースTを用いたとき
の出力信号レベルが規定レベルになるように増幅器ゲイ
ンを設定したりする。
ち、探傷器本体30のキー入力部32を適宜操作するこ
とにより、検査材料に応じた周波数に設定したり、液晶
表示部31のXY座標系に表れる出力レンジを適当な大
きさに設定したり、リフトオフ信号(コア12とテスト
ピースTとのギャップによる信号)をX軸と平行になる
ように位相を設定したり、テストピースTを用いたとき
の出力信号レベルが規定レベルになるように増幅器ゲイ
ンを設定したりする。
【0024】各種設定の終了後、テストピースTの溶接
部43を検査面Sに見立てて、渦流探傷用プローブ10
を走査する。ここで、渦流探傷用プローブ10を走査す
る際、磁芯14と検査面Sとが略平行になるような姿勢
を保ちながら、検査面Sと略平行に走査していく。する
と、検査面Sには渦電流が発生するが、この渦電流は検
査面Sの表面凹凸の影響(ノイズ)を受けながら走査方
向に移動していく。
部43を検査面Sに見立てて、渦流探傷用プローブ10
を走査する。ここで、渦流探傷用プローブ10を走査す
る際、磁芯14と検査面Sとが略平行になるような姿勢
を保ちながら、検査面Sと略平行に走査していく。する
と、検査面Sには渦電流が発生するが、この渦電流は検
査面Sの表面凹凸の影響(ノイズ)を受けながら走査方
向に移動していく。
【0025】このとき、溶接部43のうち人工傷44の
ない位置では、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在しないた
め、コイルインピーダンスは変化しない。このため、図
5(a)に示すように液晶表示部31にノイズ波形がX
軸と略一致して表れる。一方、溶接部43のうち人工傷
44のある位置では、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在す
るため、コイルインピーダンスが変化する。このため、
図5(b)に示すように液晶表示部31に傷波形がX軸
に対して斜めに表れる。なお、走査結果に応じて各種設
定の修正を行う。
ない位置では、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在しないた
め、コイルインピーダンスは変化しない。このため、図
5(a)に示すように液晶表示部31にノイズ波形がX
軸と略一致して表れる。一方、溶接部43のうち人工傷
44のある位置では、走査範囲に亀裂等の欠陥が存在す
るため、コイルインピーダンスが変化する。このため、
図5(b)に示すように液晶表示部31に傷波形がX軸
に対して斜めに表れる。なお、走査結果に応じて各種設
定の修正を行う。
【0026】その後、実際の検査面(例えば図6に示す
鉄桁50の枕木受け取付溶接部51や補剛材廻し溶接部
52など)に亀裂等の欠陥があるか否かの診断を行う。
そして、走査した結果、液晶表示部31に図5(a)に
示す波形が表示された場合には走査範囲に亀裂等の欠陥
が生じていないと判断し、液晶表示部31に図5(b)
に示す波形が表示された場合には走査範囲に亀裂等の欠
陥が生じていると判断する。これにより、目視しただけ
では単なる塗膜割れなのか鉄桁の亀裂なのかの判断がつ
かない場合であっても、そのいずれであるかを簡単かつ
正確に判断できる。
鉄桁50の枕木受け取付溶接部51や補剛材廻し溶接部
52など)に亀裂等の欠陥があるか否かの診断を行う。
そして、走査した結果、液晶表示部31に図5(a)に
示す波形が表示された場合には走査範囲に亀裂等の欠陥
が生じていないと判断し、液晶表示部31に図5(b)
に示す波形が表示された場合には走査範囲に亀裂等の欠
陥が生じていると判断する。これにより、目視しただけ
では単なる塗膜割れなのか鉄桁の亀裂なのかの判断がつ
かない場合であっても、そのいずれであるかを簡単かつ
正確に判断できる。
【0027】以上詳述した本実施形態によれば、次の効
果が得られる。 渦流探傷用プローブ10では、自己比較方式におい
て、磁芯14を検査面Sに略垂直にするのではなく略平
行にすることで磁芯14の長さを比較的長くとると共に
第1コイル15と第2コイル16を同じ磁芯14に巻く
ことにより、SN比が大きく改善され、小型化しても所
要の性能が得られ、鉄桁の部材端溶接部のように狭小な
箇所の亀裂を検出可能になる。
果が得られる。 渦流探傷用プローブ10では、自己比較方式におい
て、磁芯14を検査面Sに略垂直にするのではなく略平
行にすることで磁芯14の長さを比較的長くとると共に
第1コイル15と第2コイル16を同じ磁芯14に巻く
ことにより、SN比が大きく改善され、小型化しても所
要の性能が得られ、鉄桁の部材端溶接部のように狭小な
箇所の亀裂を検出可能になる。
【0028】渦流探傷用プローブ10は、図6に示す
鉄道用鉄桁50の枕木受け取付溶接部51や補剛材廻し
溶接部52のように、特に複数の部材端部を交差させて
溶接した部材端溶接部の亀裂の有無を検査するのに適し
ている。 オペレータは、渦流探傷用プローブ10を操作する
際、ある程度の長さを持ったセンサガイド11を手で掴
みながら、その先端に設けられたコア12を検査面Sと
略平行に走査すればよいため、狭小な箇所であってもコ
ア12を走査させやすい。
鉄道用鉄桁50の枕木受け取付溶接部51や補剛材廻し
溶接部52のように、特に複数の部材端部を交差させて
溶接した部材端溶接部の亀裂の有無を検査するのに適し
ている。 オペレータは、渦流探傷用プローブ10を操作する
際、ある程度の長さを持ったセンサガイド11を手で掴
みながら、その先端に設けられたコア12を検査面Sと
略平行に走査すればよいため、狭小な箇所であってもコ
ア12を走査させやすい。
【0029】コア12は検査面Sに略平行な方向の長
さL2が5.5mmなので、鉄桁の部材端溶接部の傷を
探すうえで好ましい。また、コア12の長さがこの程度
であっても、本実施形態の構成を採用すればS/N比
等、所要の性能が良好に得られる。
さL2が5.5mmなので、鉄桁の部材端溶接部の傷を
探すうえで好ましい。また、コア12の長さがこの程度
であっても、本実施形態の構成を採用すればS/N比
等、所要の性能が良好に得られる。
【0030】渦流探傷用プローブ10の後端には、探
傷器本体30に接続するためのプローブ側コネクタ13
が設けられている。具体的には、このプローブ側コネク
タ13は、探傷器本体30に接続されたケーブル20に
接続される。検査を何度も繰り返し行うと、渦流探傷用
プローブ10のコア12が擦れて交換する必要がある
が、その場合にはプローブ側コネクタ13とケーブル2
0の第1コネクタ21とを切り離して新たな渦流探傷用
プローブを接続すればよいため、交換作業が簡単であ
る。
傷器本体30に接続するためのプローブ側コネクタ13
が設けられている。具体的には、このプローブ側コネク
タ13は、探傷器本体30に接続されたケーブル20に
接続される。検査を何度も繰り返し行うと、渦流探傷用
プローブ10のコア12が擦れて交換する必要がある
が、その場合にはプローブ側コネクタ13とケーブル2
0の第1コネクタ21とを切り離して新たな渦流探傷用
プローブを接続すればよいため、交換作業が簡単であ
る。
【0031】尚、本発明の実施の形態は、上記実施形態
に何ら限定されるものではなく、本発明の技術的範囲に
属する限り種々の形態を採り得ることはいうまでもな
い。
に何ら限定されるものではなく、本発明の技術的範囲に
属する限り種々の形態を採り得ることはいうまでもな
い。
【図1】 本実施形態の渦流探傷器の全体構成を表す説
明図である。
明図である。
【図2】 本実施形態の渦流探傷用プローブの説明図で
あり、(a)は正面図、(b)は右側面図である。
あり、(a)は正面図、(b)は右側面図である。
【図3】 本実施形態の渦流探傷用プローブのコイルを
表す説明図である。
表す説明図である。
【図4】 本実施形態の探傷器本体の回路ブロックを表
す説明図である。
す説明図である。
【図5】 本実施形態の液晶表示部の説明図であり、
(a)は走査範囲に傷のない場合の波形パターン、
(b)は捜査範囲に傷のある場合の波形パターンであ
る。
(a)は走査範囲に傷のない場合の波形パターン、
(b)は捜査範囲に傷のある場合の波形パターンであ
る。
【図6】 鉄道用鉄桁の溶接部を表す説明図である。
【図7】 従来の渦流探傷用プローブのコイルを表す説
明図であり、(a)は標準比較方式、(b)は自己比較
方式である。
明図であり、(a)は標準比較方式、(b)は自己比較
方式である。
1・・・渦流探傷器、10・・・渦流探傷用プローブ、
11・・・センサガイド、12・・・コア、13・・・
プローブ側コネクタ、14・・・磁芯、15・・・第1
コイル、16・・・第2コイル、20・・・ケーブル、
21・・・第1コネクタ、22・・・第2コネクタ、3
0・・・探傷器本体、31・・・液晶表示部、32・・
・キー入力部、33・・・本体側コネクタ、34・・・
発振回路、35・・・励磁回路、36・・・ブリッジ回
路、37・・・検波回路、38・・・DC化回路、39
・・・増幅回路、40・・・位相回路、50・・・鉄道
用鉄桁、51・・・枕木受け取付溶接部、52・・・補
剛材廻し溶接部、S・・・検査面、T・・・テストピー
ス。
11・・・センサガイド、12・・・コア、13・・・
プローブ側コネクタ、14・・・磁芯、15・・・第1
コイル、16・・・第2コイル、20・・・ケーブル、
21・・・第1コネクタ、22・・・第2コネクタ、3
0・・・探傷器本体、31・・・液晶表示部、32・・
・キー入力部、33・・・本体側コネクタ、34・・・
発振回路、35・・・励磁回路、36・・・ブリッジ回
路、37・・・検波回路、38・・・DC化回路、39
・・・増幅回路、40・・・位相回路、50・・・鉄道
用鉄桁、51・・・枕木受け取付溶接部、52・・・補
剛材廻し溶接部、S・・・検査面、T・・・テストピー
ス。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鍛冶 秀樹 愛知県名古屋市中村区名駅一丁目1番4号 東海旅客鉄道株式会社内 (72)発明者 久保 義行 愛知県名古屋市中村区名駅一丁目1番4号 東海旅客鉄道株式会社内 (72)発明者 河野 譲 大阪府大阪市福島区鷺洲2丁目12番17号 株式会社日本工業試験所内 (72)発明者 藤巻 清和 大阪府大阪市福島区鷺洲2丁目12番17号 株式会社日本工業試験所内 Fターム(参考) 2G053 AA11 AB21 BA02 BA30 BC14 CA03 CA17 CA18 CB05 DA01
Claims (5)
- 【請求項1】 自己比較方式の渦流探傷用プローブであ
って、 検査面に沿って略平行に延びる磁芯と前記磁芯の一端か
ら略中央まで巻装された第1コイルと、 前記磁芯の略中央から他端まで巻装された第2コイルと
を備えたことを特徴とする渦流探傷用プローブ。 - 【請求項2】 検査面に沿って略平行に延びるセンサガ
イドと、 前記センサガイドの先端に設けられたコアと、 前記コア内にて検査面に沿って略平行に延びる磁芯と、 前記磁芯の一端から略中央まで巻装された第1コイル
と、 前記磁芯の略中央から他端まで巻装された第2コイルと
を備えたことを特徴とする渦流探傷用プローブ。 - 【請求項3】 前記コアは検査面に略平行な方向の長さ
が10mm以下であることを特徴とする請求項2記載の
渦流探傷用プローブ。 - 【請求項4】 前記センサガイドの後端には、渦流探傷
器本体に接続するためのコネクタが設けられている請求
項2又は3記載の渦流探傷用プローブ。 - 【請求項5】 複数の部材端部を交差させて溶接した部
材端溶接部の亀裂の有無を検査するために用いる請求項
1〜4のいずれかに記載の渦流探傷用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000173765A JP2001349875A (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 渦流探傷用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000173765A JP2001349875A (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 渦流探傷用プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001349875A true JP2001349875A (ja) | 2001-12-21 |
Family
ID=18675933
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000173765A Pending JP2001349875A (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 渦流探傷用プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001349875A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006194666A (ja) * | 2005-01-12 | 2006-07-27 | Olympus Corp | 多極型プローブおよびこれを含む探傷装置 |
WO2009044778A1 (ja) * | 2007-10-02 | 2009-04-09 | Kaisei Engineer Co., Ltd. | 溶接部欠陥検出方法及び装置 |
JP2010133835A (ja) * | 2008-12-04 | 2010-06-17 | Hanshin Expressway Co Ltd | 橋梁床版の亀裂検出方法 |
JP2011516887A (ja) * | 2008-04-14 | 2011-05-26 | ジーイー・インスペクション・テクノロジーズ,エルピー | 非破壊試験構成要素の着脱式即時切り離しシステム |
JP2017058325A (ja) * | 2015-09-18 | 2017-03-23 | 株式会社Ihi検査計測 | 渦流探傷装置とその使用方法 |
JP2017173144A (ja) * | 2016-03-24 | 2017-09-28 | 三菱日立パワーシステムズ株式会社 | 渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置 |
CN110261470A (zh) * | 2019-04-30 | 2019-09-20 | 中国铁道科学研究院集团有限公司金属及化学研究所 | 多工位钢轨涡流检测设备 |
CN112345631A (zh) * | 2020-11-20 | 2021-02-09 | 西安热工研究院有限公司 | 重型燃机透平叶片TBCs层间裂纹涡流检测探头及制作方法 |
JP7434194B2 (ja) | 2021-01-21 | 2024-02-20 | 株式会社Ihi検査計測 | 渦電流探傷プローブと渦電流探傷方法 |
-
2000
- 2000-06-09 JP JP2000173765A patent/JP2001349875A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070529 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090424 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090512 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091006 |