JP3938886B2 - 渦電流探傷プローブと渦電流探傷装置 - Google Patents
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【発明の属する技術分野】
本願発明は、渦電流探傷プローブと渦電流探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図7と図8を参照して従来の渦電流探傷プローブを説明する。なお両図に共通の部分は、同じ符号を使用している。
図7(a)は、パンケーキ状の励磁コイルEと縦置き型の検出コイルDからなる渦電流探傷プローブの斜視図である。
渦電流探傷プローブは、励磁コイルEのコイル面を検査体T側に向けて、所定の間隔をおいて検査体Tに上置し、励磁コイルEに励磁電流を流すと、検査体Tには、図7(b)のように渦電流I1が発生する。その際、検査体TにきずFがあると、そのきずFの両側に逆方向に流れる電流I2が発生する。
【0003】
ここで検出コイルDが、図7(b)のようにきずFの長手方向に並行する位置にあるとき、即ち検出コイルDがきずFに対して角度0度の位置にあるとき、検出コイルDには、電流I2によって電圧が誘起し、いわゆるきず信号が発生する。図7(b)に対し、図7(c)のように検出コイルDがきずFと直交する位置にある場合には、検出コイルDに誘起するきず信号は、小さく、かつ複雑な信号パターンになる。
【0004】
図8は、検出コイルDが、きずFに対して0度(平行)または90度(直交)の位置にあるとき、渦電流探傷プローブをきずFと直交する方向に移動したときのきず信号パターンを示す。図8において、横軸は、励磁電流と同相のきず信号成分を、縦軸は、位相が90度異なるきず信号成分を示す。検出コイルDがきずFに対して0度のときは、高い感度できず信号を検出できるが、検出コイルDがきずFに対して90度のときは、きず信号は、小さくなり、複雑な信号パターンになることが分かる。
【0005】
図7(a)の渦電流探傷プローブは、前記のようにきずFに対する角度の影響を受けるため、図9のように2個の検出コイルDa,Dbが交差するように配置して、きずFに対する角度の影響を改善した交差型検出コイルを備えた渦電流探傷プローブが提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
図9の交差型検出コイルは、2個の検出コイルが交差するように配置するため、各検出コイルの巻線が重なり合い、製造が難しくなる。
本願発明は、この点に鑑み、巻線の重なりのない、全方向探傷が可能な交差型検出コイルを備えた渦電流探傷プローブ、およびその渦電流探傷プローブを用いた渦電流探傷装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本願の発明は、その目的を達成するため、請求項1に記載の渦電流探傷プローブは、励磁コイルと複数の検出コイル部からなり、複数の検出コイル部は交差するように配置し、各検出コイル部はその検出コイル部を構成する複数のコイルからなり、各検出コイル部の複数のコイルは出力を重畳するように接続してあり、複数の検出コイル部の全部又は一部は、検出コイル部を構成するコイルを励磁コイルの外側にも配置してあることを特徴とする。
請求項2に記載の渦電流探傷プローブは、請求項1に記載の渦電流探傷プローブにおいて、複数の検出コイル部の一部は、検出コイル部を構成するコイルを励磁コイルの内側に配置してないことを特徴とする。
請求項3に記載の渦電流探傷プローブは、請求項1又は請求項2に記載の渦電流探傷プローブにおいて、前記検出コイル部を構成する複数のコイルは多角形のコイルであることを特徴とする。
請求項4に記載の渦電流探傷装置は、請求項1、請求項2又は請求項3に記載の渦電流探傷プローブと、その渦電流探傷プローブの各検出コイル部の出力を検出コイル部毎に検出するきず信号検出手段と、そのきず信号検出手段が検出したきず信号に基づいてきず信号を評価するきず信号評価手段とを備えていることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】
図1〜図6を参照して、本願発明の実施の形態に係る交差型検出コイルを備えた渦電流探傷プローブを説明する。なお各図に共通の部分は、同じ符号を使用している。
【0009】
図1は、本願発明の第1実施形態に係る渦電流探傷プローブの構成を示す。
図1(a)は、渦電流探傷プローブの平面図、図1(b)は、図1(a)のX1−X1部分の矢印方向の断面図である。
図1において、Eは、パンケーキ状の励磁コイル、D1,D2は、矩形状の縦置き型の検出コイル部、C11とC12、C21とC22は、検出コイル部D1,D2を構成するコイルである。
【0010】
検出コイル部D1は、2個のコイルC11,C12からなり、両コイルの出力を重畳するように接続して1個の検出コイル部を構成している。同様に検出コイル部D2は、2個のコイルC21,C22により1個の検出コイル部を構成している。
検出コイル部D1、D2は、直交するように配置して交差型検出コイル部を構成している。
検出コイル部D1、D2は、従来のように各検出コイル部を1個のコイルで構成せずに、2個のコイルで構成するから、両検出コイル部の巻線は、重なり合う部分がない。したがって製造が容易になる。
【0011】
図2は、本願発明の第2実施形態に係る渦電流探傷プローブの構成を示す。
図2(a)は、渦電流探傷プローブの平面図、図2(b)は、図2(a)のX2−X2部分の矢印方向の断面図である。
図2の直交する検出コイル部D3,D4は、夫々4個のコイルC31〜C34、C41〜C44からなる。コイルC31,C34,C41,C44は、励磁コイルEの外側に配置してあるから、励磁コイルEの外側のきずに沿って流れる渦電流も検出できる。したがってきず信号の検出感度が一層高くなり、かつ広い範囲を探傷することができる。
【0012】
図3は、本願発明の第3実施形態および第4実施形態に係る渦電流探傷プローブの構成を示す平面図である。
図3(a)は、4個の検出コイル部D5〜D8が交差するように配置した例で、各検出コイル部は、励磁コイルEの内側と外側に配置した4個のコイルからなる。
図3(a)の場合、4個の検出コイル部D5〜D8は45度毎に交差しているから、きずに対する方向性は、2個の検出コイル部が直交するように配置した場合よりもさらに小さくなり、かつ一度にほぼ全方向のきず探傷が可能になる。
【0013】
図3(b)は、図3(a)と同様に4個の検出コイル部D9〜D12を交差させて配置してあるが、各検出コイル部を構成するコイルの配置が図3(a)と異なる。
図3(b)の場合、検出コイル部D9,D10には、励磁コイルEの内側にのみコイルを配置し、検出コイル部D11,D12には、励磁コイルEの外側にのみ配置してある。
【0014】
図3(a)の場合、励磁コイルEの内側に8個のコイルを配置しているが、励磁コイルEの内径が小さいときは、スペース的にその配置が難しくなる。その場合には、コイルを図3(b)のように配置することにより、実質的に図3(a)と同様の効果を奏することができる。
【0015】
ここで図4〜図6により図1の渦電流探傷プローブの諸特性について説明する。
諸特性の測定は、外径19mm、巻線断面3×4mmの励磁コイルEと長さ8mm、高さ5.5mmの検出コイル部D1,D2からなる渦電流探傷プローブを用い、厚さ1.5mmの160×160mmの黄銅板に、長さ15mm、幅0.5mm、深さが厚みに対して20%,40%,60%,80%のスリットを形成した検査体について行った。励磁コイルEには、20kHzの励磁電流を流した。
【0016】
図4は、検出コイル部に対するきずの角度が0度と90度の場合のきず信号パターンを示す。きず角度0度は、検出コイル部D1がきずと平行のときの検出コイル部D1のきず信号のパターンを、きず角度90度は、検出コイル部D1がきずと直交するときの検出コイル部D2のきず信号のパターンを示す。図1の渦電流探傷プローブは、きず角度が0度ときも、90度のときも、ほぼ同じきず信号パターンが得られる。
図1の渦電流探傷プローブは、検出コイル部D1,D2のいずれか一方がきずと直交すとき、他方はきずと平行になるため、きずの角度の影響を受けることなく、きずを検出することができる。
【0017】
図5は、渦電流探傷プローブのリフトオフ雑音(渦電流探傷プローブと検査体の距離の変化に起因する雑音)ときず信号を示す。きず信号は、きずの深さ0%,20%,40%,60%,80%について示してある。リフトオフ雑音は、きず信号に対して非常に小さく、S/Nが高くなる。即ち図1の渦電流探傷プローブは、リフトオフ雑の影響をほとんど受けることはない。
【0018】
図6は、検査体の表側のきずについて、きずの深さに対するきず信号パターンを示す。きず信号パターンは、きずの深さに対応して異なっている。即ち図1の渦電流探傷プローブは、きずの深さに対応したきず信号を発生するから、きずの深さを評価することができる。
【0019】
以上図4、図5、図6の特性から、検出コイル部D1,D2は、夫々2個のコイルC11,C12とC21,C22に分けて構成しても、夫々を1個のコイルで構成した場合と同様の効果が得られることが分かる。
【0020】
交差させる検出コイル部の個数、および各検出コイル部を構成するコイルの個数は、前記実施の形態に限らず、他の形態が可能である。
【0021】
前記実施の形態の励磁コイルは、パンケーキ状のコイルについて説明したが、矩形状等四角形のコイルであってもよい。また検出コイル部は、矩形状等四角形のコイルに限らず三角形等多角形のものであってもよい。検出コイル部が三角形の場合には、検出コイル部が励磁コイルに対して垂直でなく、傾斜していても、励磁電流により定常的に発生する渦電流の影響を受け難い。そのため、渦電流探傷プローブの組立ての際、励磁コイルに対する検出コイル部の垂直性が緩和され、渦電流探傷プローブの組立てが容易になる。
【0022】
前記各実施の形態は、渦電流探傷プローブについて説明したが、その渦電流探傷プローブを用いて渦電流探傷装置を構成し、検査体のきずの評価を行うことができる。即ち渦電流探傷プローブの各検出コイル部の出力は、きず信号検出手段へ供給され、各検出コイル部のきず信号が検出される。検出されたきず信号は、きず信号評価手段へ供給される。きず信号評価手段は、その検出された各検出コイル部のきず信号に基づいて、きずの方向、深さ、長さ等を評価して、表示或いは記録する。
【0023】
【発明の効果】
本願発明の渦電流探傷プローブは、交差する検出コイル部の夫々を複数のコイルによって構成するから、検出コイル部の交差部分の巻線の重なりがなくなり、製造が容易になる。また本願発明の渦電流探傷プローブは、検出コイル部の交差部分に巻線の重なりがないから、交差する検出コイル部の個数は2個に限らず、任意個数設けることができる。検出コイル部の個数を増やすことにより、きず角度の影響を受けない全方向型のきず探傷が可能になる。
【0024】
本願発明の渦電流探傷プローブは、各検出コイル部を構成するコイルを、励磁コイルの外側にも配置できるから、きずの探傷範囲が広くなり、検出感度を高めることができる。また本願発明の渦電流探傷プローブは、リフトオフ雑音が小さく、S/Nが高くなる。
【0025】
本願発明の渦電流探傷装置は、本願発明の渦電流探傷プローブを用いることにより、各検出コイル部のきず信号に基づいて、検査体のきずの方向、深さ、長さ等を的確に評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明の第1実施の形態に係る渦電流探傷プローブの平面図と断面図である。
【図2】本願発明の第2実施の形態に係る渦電流探傷プローブの平面図と断面図である。
【図3】本願発明の第3、第4実施の形態に係る渦電流探傷プローブの平面図である。
【図4】図1の渦電流探傷プローブの検出コイル部に対するきず角度が異なる場合のきず信号パターンを示す図である。
【図5】図1の渦電流探傷プローブのリフト雑音ときず信号を示す図である。
【図6】図1の渦電流探傷プローブのきずの深さが異なる場合のきず信号パターンを示す図である。
【図7】従来の渦電流探傷プローブの斜視図、その渦電流探傷プローブによって発生する渦電流の概要を示す図である。
【図8】従来の渦電流探傷プローブの検出コイルに対するきず角度が異なる場合のきず信号パターンを示す図である。
【図9】従来の渦電流探傷プローブの交差型検出コイルの斜視図である。
【符号の説明】
C11,C12,C21,C22,C31〜C34、C41〜C44 検出コイルを構成するコイル
D1〜D12 検出コイル部
E 励磁コイル
F きず
T 検査体
Claims (4)
- 励磁コイルと複数の検出コイル部からなり、複数の検出コイル部は交差するように配置し、各検出コイル部はその検出コイル部を構成する複数のコイルからなり、各検出コイル部の複数のコイルは出力を重畳するように接続してあり、複数の検出コイル部の全部又は一部は、検出コイル部を構成するコイルを励磁コイルの外側にも配置してあることを特徴とする渦電流探傷プローブ。
- 請求項1に記載の渦電流探傷プローブにおいて、複数の検出コイル部の一部は、検出コイル部を構成するコイルを励磁コイルの内側に配置してないことを特徴とする渦電流探傷プローブ。
- 請求項1又は請求項2に記載の渦電流探傷プローブにおいて、前記検出コイル部を構成する複数のコイルは多角形のコイルであることを特徴とする渦電流探傷プローブ。
- 請求項1、請求項2又は請求項3に記載の渦電流探傷プローブと、その渦電流探傷プローブの各検出コイル部の出力を検出コイル部毎に検出するきず信号検出手段と、そのきず信号検出手段が検出したきず信号に基づいてきず信号を評価するきず信号評価手段とを備えていることを特徴とする渦電流探傷装置。
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