JP3977311B2 - 照明装置及び当該照明装置を有する露光装置 - Google Patents

照明装置及び当該照明装置を有する露光装置 Download PDF

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Description

本発明は、一般には、照明装置に係り、特に、半導体素子、液晶表示素子、撮像素子(CCD等)又は薄膜磁気ヘッド等を製造するためのリソグラフィー工程に使用される露光装置において、パターンが描画されたレチクル(マスク)を照明する照明装置に関する。
フォトリソグラフィー(焼き付け)技術を用いてLSIや超LSIなどの微細な半導体素子を製造する際に、レチクルに描画された回路パターンを投影光学系によってウェハ等に投影して回路パターンを転写する縮小投影露光装置が従来から使用されている。近年の半導体素子の実装密度の向上に伴い、パターンの更なる微細化が要求され、露光装置に対しても解像度の向上(微細化への対応)が望まれている。
露光装置の解像度を向上するために、投影光学系の開口数(NA)と照明光学系のNAを最適化することが一般的に行われている。具体的には、投影光学系のNAと照明光学系のNAとの比に相当するコヒーレンスファクターσ値を調整することによって、所定の回路パターンに対する解像度とコントラストとにおいて、最適なバランスが得られるような照明光学系が用いられている。かかる照明光学系は、典型的に、σ値を連続的に変更可能なσ連続可変光学系を有する(例えば、特許文献1参照。)。
特開2002−217085号公報
図20は、σ可変光学系1000の単純化された光路図である。σ可変光学系1000は、断面形状が六角形の柱状ガラスHCDの射出側から順に、開口絞り1010と、平行平板1020と、凸レンズ1110及び1120を有する第1レンズ群1100と、凹レンズ1210を有する第2レンズ群1200と、凸レンズ1310及び1320を有する第3レンズ群1300と、凹レンズ1410と凸レンズ1420を有する第4レンズ群1400とを有する。
σ可変光学系1000は、第2レンズ群1200の凹レンズ1210を光軸に沿って矢印A方向に移動させると共に、第3レンズ群1300の凸レンズ1310及び1320を一体として光軸に沿って矢印B方向に移動させることにより、照射範囲(照明領域)Lの大きさ、即ち、σ値を連続的に変更することができる。図20(a)に照射範囲Lが最も小さい最小σ状態を、図20(c)に照射範囲Lが最も大きい最大σ状態を、図20(c)に照射範囲Lが最小σ状態と最大σ状態との間の中間状態を示している。
一方、図20に示すような構成のσ可変光学系1000では、光源からの照射光の集光位置である2次光源位置TLPから射出する光は、移動群である第2レンズ群1200と第3レンズ群1300との間に再集光位置ACPを有する。更に、再集光位置ACPは、図20(c)に示す最大σ状態において第2レンズ群1200又は第3レンズ群1300のレンズに最も近づくことになる。
再集光位置は、光エネルギー密度が高くなり、レンズを構成する光学材料の内部透過率の劣化やレンズ表面に施した反射防止膜の劣化の原因となる。つまり、再集光位置がレンズに近いとレンズがダメージを受けて照明光学系の照度劣化を招き、露光装置のスループットの低下を生じてしまう。
従って、図20の照明光学系は、上述したように、再集光位置が移動群の間に存在するため、レンズへのダメージを考慮すると、σ可変光学系の高倍率側、即ち、大σ側の変倍域を広げられないという制約を内在しており、回路パターンによっては最適なσ値を得ることができず、所望の解像度を達成することができない場合がある。
そこで、本発明は、照度劣化によるスループットの低下を防止すると共に、変倍域を広げて高品位な露光を提供する照明装置及び当該照明装置を有する露光装置を提供することを例示的目的とする。
発明の一側面としての照明光学系は、光源からの光を集光させて集光点を形成し、被照面を照明する照明光学系において、前記光源側より順に、前記照明光学系の光路内に切り替えて挿入される第1の切替光学系および第2の切替光学系と、前記照明光学系の光軸方向に移動可能であり、前記光軸に沿って移動することにより2次光源を形成する手段の入射面の照射領域を変更する移動光学系とを有し前記第2の切替光学系のパワーは、前記第1の切替光学系のパワーよりも大きく、前記第1の切替光学系前記光路内に挿入されているときは、前記集光点が前記移動光学系の前記被照射面側に形成され、前記第2の切替光学系が前記光路内に挿入されているときは、前記集光点が前記移動光学系の前記光源側に形成されることを特徴とする。
本発明の別の側面としての照明光学系は、光源からの光で被照明面を照明する照明光学系において、前記光を前記被照明面へ導くと共に、所定面での照射領域を可変とする第1の光学系と、該第1の光学系の光路内に挿脱可能な第2の光学系とを有し、前記第2の光学系を前記光路内に配置した場合の、前記照射領域が可変である範囲と、前記第2の光学系を前記光路内に配置しなかった場合の、前記照射領域が可変である範囲とは異なることを特徴とする。
本発明の更に別の側面としての照明光学系は、光源からの光で被照明面を照明する照明光学系において、光軸に沿って移動可能な移動群を持ち、前記光を前記被照明面へ導く第1の光学系と、前記第1の光学系の光路内に挿脱可能な第2の光学系とを有し、前記第2の光学系を前記光路内に配置することで、前記光源からの光が集光する位置と前記移動群との距離を長くすることが可能であることを特徴とする。
本発明の更に別の側面としての照明光学系は、光源からの光で被照明面を照明する照明光学系において、光軸に沿って移動可能な移動群を持ち、前記光を前記被照明面へ導く第1の光学系と、前記第1の光学系の光路内に挿脱可能な第2の光学系とを有し、前記第2の光学系を前記光路内に配置することで、前記光源からの光が集光する位置を、前記移動群を跨いで移動させることが可能であることを特徴とする。
本発明の更に別の側面としての照明光学系は、光源からの光で被照明面を照明する照明光学系において、光軸に沿って移動可能な第1の光学素子と、光路内に挿脱可能な第2の光学素子とを有し、前記第2の光学素子を前記光路内に配置することで、前記光源からの光が集光する位置と前記第1の光学素子との距離を長くすることが可能であることを特徴とする。
本発明の更に別の側面としての照明光学系は、光源からの光で被照明面を照明する照明光学系において、光軸に沿って移動可能な第1の光学素子と、光路内に挿脱可能な第2の光学素子とを有し、前記第2の光学素子を前記光路内に配置することで、前記光源からの光が集光する位置を前記第1の光学素子を跨いで移動させることが可能であることを特徴とする。
本発明の更に別の側面としての露光装置は、レチクルを照明する上述の照明光学系と、前記レチクルのパターンを被処理体に投影する投影光学系とを有することを特徴とする。
本発明の更に別の側面としての露光装置は、光源からの光でレチクルを照明する照明光学系と、前記レチクルのパターンを前記被処理体に投影する開口数0.8以上の投影光学系とを備え、前記照明光学系は、前記投影光学系の開口数と前記照明光学系の開口数との比であるコヒーレンスファクターσ値を0.2以上1.0以下の間で可変とするσ可変光学系を有することを特徴とする。
本発明の更に別の側面としてのデバイス製造方法は、上述の露光装置を用いて被処理体を露光するステップと、露光された前記被処理体に所定のプロセスを行うステップとを有することを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の特徴は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施例によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、照度劣化によるスループットの低下を防止すると共に、変倍域を広げて高品位な露光を提供する照明装置及び当該照明装置を有する露光装置を提供することができる。
照度劣化によるスループットの低下を防止すると共に、変倍域を広げて高品位な露光を提供する照明装置及び当該照明装置を有する露光装置を提供するために、本発明の照明光学系が有するσ可変光学系には、σ可変光学系の射出側において、照射範囲を変える変倍作用と、バックフォーカス位置の不動性と、射出光のテレセントリック性の3つの条件が要求される。かかる3つの条件を満足させようとすれば、一般に、少なくとも3つの移動群を必要とする。
しかし、後述する第2の光学系を導入することにより、2つの移動群で、後述する第1の光学系のバックフォーカス位置の不動性と射出光のテレセントリック性に関して、実質的に問題のない範囲に収め、再集光位置をレンズ内(及びレンズ近傍)に存在させることなく、より変倍域が広いσ可変光学系を実現することができる。これにより、3つの移動群の構成に比べて、大口径レンズの使用枚数を低減することができると共に全長を短くすることが可能となり、装置の大型化やコストアップを抑えることができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の一側面としての照明光学系について説明する。なお、各図において、同一の部材には同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。図1は、本発明の一側面としての照明光学系100の単純化された光路図である。また、照明光学系100は、照明装置又は露光装置の一部である。
照明光学系100は、図1に示すように、ビーム整形光学系101と、リレー光学系102と、第1の複数光源形成手段103と、σ可変光学系200と、第2の複数光源形成手段104と、照射光学系105と、マスキングブレード106と、結像光学系107とを有する。
図1には図示しない光源からの光は、ビーム整形光学系101を介して所定のビーム形状に整形された後、リレー光学系102により第1の複数光源形成手段103に入射する。第1の複数光源形成手段103は、本実施形態では、六角形の断面形状を有する柱状ガラスであるが、他の断面形状を有する柱状ガラスを含む。柱状ガラスは、ガラス内面による多重反射により複数の光源像を形成している。
第1の複数光源形成手段103からの光束は、σ可変光学系200により、第2の複数光源形成手段104の入射面に集光される。第2の複数光源手段104は、本実施形態では、ハエの目レンズであるが、オプティカルロッド、オプティカルファイバー、2対のシリンドリカルレンズアレイからなるオプティカルインテグレーター、その他のインテグレーター等の2次光源形成手段を含む。
第2の複数光源形成手段104で形成された2次光源は、照射光学系105により、マスキングブレード106に照射される。マスキングブレード106からの照射光は、結像光学系107により、後述するレチクルの回路パターン面を照射する。被照明面は、レチクルと同一又は共役の面に配置される。
ここで、本発明の特徴的なσ可変光学系200について説明する。図2は、図1に示すσ可変光学系200の単純化された光路図である。図2を参照するに、本実施形態のσ可変光学系200は、第1の複数光源形成手段103と第2の複数光源形成手段104との間に、σ値を連続的に可変させることができる第1の光学系210を配置させる例であり、第1の複数光源形成手段103の射出面と第2の複数光源形成手段104の入射面とが、略結像関係にある。従って、第1の複数光源形成手段103の入射側に存在する2次光源位置TLPを光源とする照明光が第1の光学系210に入射した後に再度集光する再集光位置ACPに配慮を必要とする。
本実施形態におけるσ値の可変のための第1の光学系210は、第1の複数光源形成手段103の射出側から順に、開口絞り211と、照射領域の照度分布の状態を変えるために光路中に出し入れ(挿脱)可能な平行平板212と、正のパワーを有する第1の固定群213と、負のパワーを有する第1の移動群214と、正のパワーを有する第2の移動群215と、正のパワーを有する第2の固定群216とを有する。第1の固定群213は、凸レンズ213a及び213bを有し、第1の移動群214は、凹レンズ214aを有し、第2の移動群215は、凸レンズ215a及び215bを有し、第2の固定群216は、凹レンズ216aと、凸レンズ216bとを有する。
小σ側から大σ側へ照射領域を広げる際には、第1の移動群214を第2の複数光源形成手段104の存在する方向(被照射面側)へ、光軸OPに沿って移動させて変倍作用をもたせると共に、第2の移動群215を第1の複数光源形成手段103の存在する方向(光源側)へ、光軸OPに沿って移動させることにより、第1の複数光源形成手段103の射出端を光源とする射出光が第1の光学系210により第2の複数光源形成手段104側に集光する際に、σ可変光学系のバックフォーカス位置を実質的に一定に維持させている。
また、第2の固定群216のように、入射光側より凹レンズ216aと凸レンズ216bとで構成されるアフォーカル光学系を配置させることにより、第2の複数光源手段104への入射主光線の光軸OPに対する平行度、即ち、テレセントリック性を実質的に維持させることができる。
なお、第2の複数光源形成手段104への照射光の均一性を維持させるために、歪曲収差の抑制、特に、大σ側の変倍範囲における歪曲収差の変動量の抑制のためには、第2の固定群216を構成する入射側に負のパワーを有するレンズ群において、射出側の面の湾曲よりも入射側の面の湾曲が強く、且つ、入射側に凹面を向けた凹レンズ216aが存在することが好ましい。
第1の光学系210における照射範囲Lが最も大きい最大σ状態を図2(a)に示している。かかる最大σ状態では、負のパワーを有する第1の移動群214と、正のパワーを有する第2の移動群215との間に、2次光源位置TLPからの照射光が再度集光し、光エネルギー密度の最も高い再集光位置ACPを形成している。
そこで、図2(b)に示すように、凸レンズ222と、凹レンズ224とを有し、全体として正のパワーを有する第2の光学系220を、第1の光学系210の入射側に存在する平行平板212と入れ替える。なお、平行平板212と第2の光学系220との入れ替え(照明光学系の光路上に配置する平行平板212と第2の光学系220との切り換え)は、後述する配置手段400によって行われる。
第2の光学系220を光路中に挿入することにより、図2(b)に示すように、再集光位置ACPは、第1の移動群214を飛び越えて、第1の固定群213と第1の移動群214との間の空間BS1に移動させることができる。これにより、第2の複数光源形成手段104の入射面(所定面)における照射領域Lを第1の光学系210のみの場合(第2の光学系220を光路中に挿入しなかった場合)よりも拡大させる、即ち、変倍率を拡大させることが可能になるという効果がある。
更に、第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系(即ち、図2(b)に示すσ可変光学系200)において、2つの移動群(第1の移動群214及び第2の移動群215)を更に大σ側に移動させることが可能になり、σ可変範囲を、より大きく広げることができる。
なお、再集光位置ACPを第1の複数光源形成手段103の存在する方向に移動させるためには、第1の複数光源形成手段103の存在する側に凸レンズ222を配置させて、マージナル光線を低くした後に凹レンズ224を配置させて、主光線の射出方向を戻す構成にすることが好ましい。これにより、第2の光学系220を配置する空間が狭くても、第2の光学系220から再集光位置ACPまでの距離を容易に短くすることができる。
表1に、本実施形態の第1の光学系210の主要諸元を示す。同表において、P1、P2及びP3は、図3に示すように、照射範囲Lが最も小さい最小σ状態のσ可変光学系200、照射範囲Lが最小σ状態と最大σ状態との間の中間σ状態のσ可変光学系200及び照射範囲Lが最も大きい最大σ状態のσ可変光学系200を示し、F1は第1の光学系210の各状態P1乃至P3における焦点距離、f1は第1の光学系210の第1の固定群213の焦点距離、f2は第1の光学系210の第1の移動群214の焦点距離、f3は第1の光学系210の第2の移動群215の焦点距離をそれぞれ示す。ここで、図3は、図2に示すσ可変光学系200の最小σ状態、中間σ状態及び最大σ状態を示す光路図である。
また、表1に示す主要諸元表において、d7は第1の固定群213と第1の移動群214との光軸OP上の可変間隔、d9は第1の移動群214と第2の移動群215との光軸OP上の可変間隔、d13は第2の移動群215と第2の固定群216との光軸OP上の可変間隔を示している。
更に、S1は、直径φ10mmの開口絞り211に入射した平行光束が第1の光学系210を経た後、第1の光学系210の最終面から67mmの位置に設けた評価面における光束径を示す。
H1、H2及びH3は、各状態P1乃至P3において、2次光源位置TLPからの射出光が集光する再集光位置ACPを示し、第1の複数光源形成手段103の長さを450mm、2次光源位置TLPから第1の複数光源形成手段103の入射端までの距離を15mmとした際の、凹レンズ214aの射出側の面である第9面からの距離を示している。
rは各面の曲率半径(単位:mm)、dは各面間隔(単位:mm)、nは入射光(波長0.248μm)に対する媒質の屈折率をそれぞれ示している。kは、図2に示す第1の光学系210のレンズ番号に一致する。
図4は、図3に示す第1の光学系210の最小σ状態P1における収差図を示す。より詳細には、図4(a)は第1の光学系210の最小σ状態P1におけるメリジオナル方向の横収差図、図4(b)はサジタル方向の横収差図、図4(c)は歪曲収差図である。図5は、図3に示す第1の光学系210の最大σ状態P3における収差図を示す。より詳細には、図5(a)は第1の光学系210の最大σ状態P3におけるメリジオナル方向の横収差図、図5(b)はサジタル方向の横収差図、図5(c)は歪曲収差図である。図4及び図5を参照するに、実質的に許容範囲内の横収差に抑えながら、歪曲収差を良好に補正している。
次に、図3に示す第1の光学系210において、平行平板212の代わりに第2の光学系220を配置した場合(第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系)の光路図を図6に示す。また、表2に第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系の主要諸元を示す。
表2において、P1、P2及びP3は、図6に示すように、照射範囲Lが最も小さい最小σ状態のσ可変光学系200(第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系)、照射範囲Lが最小σ状態と最大σ状態との間の中間σ状態のσ可変光学系200及び照射範囲Lが最も大きい最大σ状態のσ可変光学系200を示し、F2は第2の光学系220の焦点距離、F12は第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系の各状態P1乃至P3における焦点距離、f1は第1の光学系210の第1の固定群213の焦点距離、f2は第1の光学系210の第1の移動群214の焦点距離、f3は第1の光学系210の第2の移動群215の焦点距離をそれぞれ示す。
また、表2に示す主要諸元表において、d9は第1の固定群213と第1の移動群214との光軸OP上の可変間隔、d11は第1の移動群214と第2の移動群215との光軸OP上の可変間隔、d15は第2の移動群215と第2の固定群216との光軸OP上の可変間隔を示している。
更に、S2は、直径φ10mmの開口絞り211に入射した平行光束が、第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系を経た後、合成光学系の最終面から67mmの位置に設けた評価面における光束径を示す。S2/S1として照射範囲の拡大率を示しているように、照射範囲の拡大率の平均は、1.17倍となる。
H1、H2及びH3は、各状態P1乃至P3において、2次光源位置TLPからの射出光が集光する再集光位置ACPを示し、第1の複数光源形成手段103の長さを450mm、2次光源位置TLPから第1の複数光源形成手段103の入射端までの距離を15mmとした際の、凸レンズ213bの射出側の面である第11面からの距離を示している。第2の光学系220を入射側に配置することにより、再集光位置ACPを第1の移動群214を飛び越えて、第1の固定群213と第1の移動群214との間の空間に位置させている。従って、2つの移動群(第1の移動群214及び第2の移動群215)は更に近づけることができ、移動群の移動量を増やして変倍率を上げることができる。
rは各面の曲率半径(単位:mm)、dは各面間隔(単位:mm)、nは入射光(波長0.248μm)に対する媒質の屈折率をそれぞれ示している。kは、図6に示す第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系のレンズ番号に一致する。
図7は、図6に示す第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系の最小σ状態P1における収差図を示す。より詳細には、図7(a)は合成光学系の最小σ状態P1におけるメリジオナル方向の横収差図、図7(b)はサジタル方向の横収差図、図7(c)は歪曲収差図である。図8は、図6に示す第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系の最大σ状態P3における収差図を示す。より詳細には、図8(a)は第1の光学系210と第2の光学系220との合成光学系の最大σ状態P3におけるメリジオナル方向の横収差図、図8(b)はサジタル方向の横収差図、図8(c)は歪曲収差図である。図7及び図8を参照するに、実質的に許容範囲内の横収差に抑えながら、歪曲収差を良好に補正している。
本実施形態のσ可変光学系200では、最も簡易な変倍光学系である移動群が2つの第1の光学系210を用いながら、入射側に第2の光学系220を配置することにより、射出光の照射領域の可変範囲を拡大させることができる。更に、再集光位置を光学部材内に存在させることなく、且つ、σ可変光学系200からの射出光のテレセントリック性を実質的に問題のない範囲に維持しながら、横収差を実質的に許容範囲内に抑え、歪曲収差を良好に補正することができる。
次に、図9を参照して、σ可変光学系200の変形例であるσ可変光学系300について説明する。図9は、図2に示すσ可変光学系200の変形例であるσ可変光学系300の単純化された光路図である。
図9を参照するに、本実施形態のσ可変光学系300は、第1の複数光源形成手段301と第2の複数光源形成手段104との間に、σ値を連続的に可変させることができる第1の光学系310を配置させる例であり、第1の複数光源形成手段301と第2の複数光源形成手段104は、略フーリエ変換の関係にある。第1の複数光源手段301は、本実施形態では、ハエの目レンズであるが、その他の公知の2次光源形成手段を含む。従って、第1の複数光源形成手段301の直後に存在する集光光を光源とする照明光が、第1の光学系310に入射した後に再度集光する再集光位置ACPに配慮を必要とする場合の例である。
σ可変光学系300のσ値の可変のための第1の光学系310は、第1の複数光源形成手段301の射出側から順に、開口絞り311と、正のパワーを有する第1の固定群313と、正のパワーを有する第2の固定群314と、負のパワーを有する第1の移動群315と、正のパワーを有する第2の移動群316と、正のパワーを有する第3の固定群317とを有する。
第1の固定群313は、凸レンズ313a及び313bを有し、第2の固定群314は、凸レンズ314a及び314bを有し、第1の移動群315は、凹レンズ315aを有し、第2の移動群316は、凸レンズ316a及び316bを有し、第3の固定群317は、凹レンズ317a及び凸レンズ317bを有する。
小σ側から大σ側へ照射領域を広げる際には、第1の移動群315を第2の複数光源手段104の存在する方向へ、光軸OPに沿って移動させて変倍作用をもたせると共に、第2の移動群316を第1の複数光源形成手段301の存在する方向へ、光軸OPに沿って移動させることにより、第1の複数光源形成手段301の射出端に存在する開口絞り311に入射する平行光束が、第1の光学系310により第2の複数光源形成手段104側に集光する際に、バックフォーカス位置を実質的に問題のない範囲に維持させている。
また、第3の固定群317のように、入射光側より凹レンズ317aと凸レンズ317bとで構成させるアフォーカル光学系を配置させることにより、第2の複数光源形成手段104への入射主光線のテレセントリック性を実質的に問題のない範囲に維持させることができる。
なお、第2の複数光源形成手段104への照明光の均一性を維持させるために、歪曲収差の抑制、特に、大σ側の変倍領域における歪曲収差の変動量の抑制のためには、第3の固定群317を構成する入射側に負のパワーを有するレンズ群において、射出側の面の湾曲よりも入射側の面の湾曲が強く、且つ、入射側に凹面を向けた凹レンズ317aが存在することが好ましい。
第1の光学系310における照射範囲Lが最も大きい最大σ状態を図9(b)に示している。かかる最大σ状態では、負のパワーを有する第1の移動群315と正のパワーを有する第2の移動群316との間に、第1の複数光源形成手段301の直後に存在する集光光を光源とする照射光が再度集光し、光エネルギー密度の最も高い再集光位置ACPを形成する。
そこで、図9(b)に示すように、凹レンズ322と、凸レンズ324とを有し、全体として正のパワーを有する第2の光学系320を、第1の光学系210における第1の固定群313と第2の固定群314との間に配置する。なお、第2の光学系320の光路中への配置は、後述する配置手段400によって行われる。
第2の光学系320により、図9(b)に示すように、再集光位置ACPは、第1の移動群315を飛び越えて、第2の固定群314と第1の移動群315との間の空間BS2に移動させることができる。これにより、第2の複数光源形成手段104への照射領域Lを第1の光学系310のみの場合よりも拡大させる、即ち、変倍率を拡大させる効果がある。
更に、第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系(即ち、図9(b)に示すσ可変光学系300)において、2つの移動群(第1の移動群315及び第2の移動群316)を更に大σ側に移動させることが可能になり、σ可変範囲を、より大きく広げることができる。
なお、再集光位置ACPを第1の複数光源手段301の存在する方向に移動させるためには、第1の複数光源手段301の存在する側に凹レンズ322を配置させて、マージナル光線を高くした後に凸レンズ324を配置させる構成が好ましい。これにより、凸レンズ324による屈折効果が強まり、第2の光学系320を配置する空間が狭くても、凸レンズ324に比較的緩いパワーをもたせながら、第2の光学系320から再集光位置ACPまでの距離を容易に短くすることができる。
表3に、本実施形態の第1の光学系310の主要諸元を示す。同表において、P1、P2及びP3は、図10に示すように、照射範囲Lが最も小さい最小σ状態のσ可変光学系300、照射範囲Lが最小σ状態と最大σ状態との間の中間σ状態のσ可変光学系300及び照射範囲Lが最も大きい最大σ状態のσ可変光学系300を示し、F1は第1の光学系310の各状態P1乃至P3における焦点距離、f1は第1の光学系310の第1の固定群313の焦点距離、f2は第1の光学系310の第2の固定群314の焦点距離、f3は第1の光学系310の第1の移動群315の焦点距離、f4は第1の光学系310の第2の移動群316の焦点距離をそれぞれ示す。ここで、図10は、図9に示すσ可変光学系300の最小σ状態、中間σ状態及び最大σ状態を示す光路図である。
また、表3に示す主要諸元表において、d9は第2の固定群314と第1の移動群315との光軸OP上の可変間隔、d11は第1の移動群315と第2の移動群316との光軸OP上の可変間隔、d15は第2の移動群316と第3の固定群317との光軸OP上の可変間隔を示している。
更に、S1は、開口数(NA)0.1の発散光束が開口絞り311より射出して、第1の光学系310を経た後、第1の光学系310の最終面から69.5mmの位置に設けた評価面における光束径を示す。
H1、H2及びH3は、各状態P1乃至P3において、第1の複数光源形成手段301の直後の集光光を光源とする照明光が、第1の光学系310に入射してから再度集光する再集光位置ACPを示し、凹レンズ315aの射出側の面である第11面からの距離を示している。
rは各面の曲率半径(単位:mm)、dは各面間隔(単位:mm)、nは入射光(波長0.248μm)に対する媒質の屈折率をそれぞれ示している。kは、図9に示す第1の光学系310のレンズ番号に一致する。
図11は、図10に示す第1の光学系310の最小σ状態P1における収差図を示す。より詳細には、図11(a)は第1の光学系310の最小σ状態P1におけるメリジオナル方向の横収差図、図11(b)はサジタル方向の横収差図、図11(c)は歪曲収差図である。図12は、図10に示す第1の光学系310の最大σ状態P3における収差図を示す。より詳細には、図12(a)は第1の光学系310の最大σ状態P3におけるメリジオナル方向の横収差図、図12(b)はサジタル方向の横収差図、図12(c)は歪曲収差図である。図11及び図12を参照するに、実質的に許容範囲内の横収差に抑えながら、歪曲収差を良好に補正している。
次に、図10に示す第1の光学系310において、第1の固定群313と第2の固定群314との間の光路中に第2の光学系320を配置した場合(第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系)の光路図を図13に示す。また、表4に第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系の主要諸元を示す。
表4において、P1、P2及びP3は、図13に示すように、照射範囲Lが最も小さい最小σ状態のσ可変光学系300(第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系)、照射範囲Lが最小σ状態と最大σ状態との間の中間σ状態のσ可変光学系300及び照射範囲Lが最も大きい最大σ状態のσ可変光学系300を示し、F2は第2の光学系320の焦点距離、F12は第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系の各状態P1乃至P3における焦点距離、f1は第1の光学系310の第1の固定群313の焦点距離、f2は第1の光学系310の第2の固定群314の焦点距離、f3は第1の光学系310の第1の移動群315の焦点距離、f4は第1の光学系310の第2の移動群316の焦点距離をそれぞれ示す。
また、表4に示す主要諸元表において、d13は第2の固定群314と第1の移動群315との光軸OP上の可変間隔、d15は第1の移動群315と第2の移動群316との光軸OP上の可変間隔、d19は第2の移動群316と第3の固定群317との光軸OP上の可変間隔を示している。
更に、S2は、開口数(NA)0.1の発散光束が開口絞り311より射出して、第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系を経た後、合成光学系の最終面から69.5mmの位置に設けた評価面における光束径を示す。S2/S1として照射範囲の拡大率を示しているように、照射範囲の拡大率の平均は、1.82倍となる。
H1、H2及びH3は、各状態P1乃至P3において、第1の複数光源形成手段301の直後の集光光を光源とする照明光が、第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系に入射してから再度集光する再集光位置ACPを示し、凸レンズ314bの射出側の面である第13面からの距離を示している。第2の光学系320を配置することにより、再集光位置ACPを第1の移動群315を飛び越えて、各状態P1乃至P3において、第2の固定群314と第1の移動群315との間の空間に位置させている。従って、2つの移動群(第1の移動群315及び第2の移動群316)は更に近づけることができ、移動群の移動量を増やして変倍率を上げることができる。
rは各面の曲率半径(単位:mm)、dは各面間隔(単位:mm)、nは入射光(波長0.248μm)に対する媒質の屈折率をそれぞれ示している。kは、図13に示す第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系のレンズ番号に一致する。
図14は、図13に示す第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系の最小σ状態P1における収差図を示す。より詳細には、図14(a)は合成光学系の最小σ状態P1におけるメリジオナル方向の横収差図、図14(b)はサジタル方向の横収差図、図14(c)は歪曲収差図である。図15は、図13に示す第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系の最大σ状態P3における収差図を示す。より詳細には、図15(a)は第1の光学系310と第2の光学系320との合成光学系の最大σ状態P3におけるメリジオナル方向の横収差図、図15(b)はサジタル方向の横収差図、図15(c)は歪曲収差図である。図14及び図15を参照するに、実質的に許容範囲内の横収差に抑えながら、歪曲収差を良好に補正している。
本実施形態のσ可変光学系300では、最も簡易な変倍光学系である移動群が2つの第1の光学系310を用いながら、第2の光学系320を配置することにより、射出光の照射領域を拡大させることができる。更に、再集光位置を光学部材内に存在させることなく、且つ、σ可変光学系300からの射出光のテレセントリック性を実質的に問題のない範囲に維持しながら、横収差を実質的に許容範囲内に抑え、歪曲収差を良好に補正することができる。
以上では、第1の光学系210及び310を拡大系の変倍光学系として説明してきたため、第2の光学系220及び320を配置することで、再集光位置は入射側に移動したが、第1の光学系210及び310を縮小系の変倍光学系として構成した場合には、再集光位置は射出側に移動する。また、第1の光学系を3つの移動群で構成した場合にも本発明を適用することができる。例えば、第1の光学系を第1群乃至第4群の4群構成とし、第2群と第3群との間に再集光位置がある場合において、第2の光学系を配置した結果を図16に示す。ここで、図16は、4群で構成された第1の光学系において、第2の光学系を配置することで移動する再集光位置を模式的に示す図である。
図16を参照するに、第1群及び第4群を固定群、第2群及び第3群を移動群とした場合、第2群が凹、第3群が凸であれば、第2の光学系を配置することにより、再集光位置は第1群と第2群との間に移動し、第2群が凸、第3群が凹であれば、第2の光学系を配置することにより、再集光位置は第2群と第3群との間に移動する。また、第2群及び第4群を固定群、第1群及び第3群を移動群とした場合、第2群が凹、第3群が凸であれば、第2の光学系を配置することにより、再集光位置は第1群と第2群との間に移動し、第2群が凸、第3群が凹であれば、第2の光学系を配置することにより、再集光位置は第2群と第3群との間に移動する。なお、第4群を固定群、第1群、第2群及び第3群を移動群とした場合、第2群が凹、第3群が凸であれば、第2の光学系を配置することにより、再集光位置は第1群と第2群との間に移動し、第2群が凸、第3群が凹であれば、第2の光学系を配置することにより、再集光位置は第2群と第3群との間に移動する。
配置手段400は、第2の光学系220又は320を第1の光学系210又は310の光路中に配置する。配置手段400は、例えば、ターレット上に平行平板212及び第2の光学系220を配置し、かかるターレットを回転させることにより第2の光学系220の配置を行う。また、配置手段400は、ターレット上に照射光を通過させる通過孔と第2の光学系320を配置し、かかるターレットを回転させることにより行う。配置手段400は、照射範囲に応じて、第2の光学系220又は320の配置及び非配置を制御する機能も有する。
これまで説明してきたように、本発明の照明光学系によれば、再集光位置(即ち、光エネルギー密度が高くなる位置)を避けた空間に光学部材を配置させることができ、レンズの材料として使用する光学部材の内部透過率の劣化や、レンズ表面に施した反射防止膜の劣化を未然に防止することができる。その結果、照明光学系の照度劣化によるスループットの低下を防止することができる。
また、照明光学系におけるσ可変光学系の高倍率化の際に、再集光位置による制約を取り除くことが可能となり、簡易な変倍光学系でありながら、より変倍率の広いσ可変光学系を構成することができる。これにより、より照射範囲(幅の広い照明状態)を実現することができ、半導体素子の製造工程において、より多様な回路パターンを形成することができる照明装置及び露光装置を提供することができる。例えば、投影光学系の開口数が0.8以上であっても、本発明の照明光学系が有するσ可変光学系によって、投影光学系の開口数と照明光学系の開口数との比であるコヒーレンスファクターσ値を0.2以上1.0以下の間に設定可能な露光装置を実現することができる。
以下、図17を参照して、本発明が適用可能な例示的な露光装置について説明する。ここで、図17は、本発明の一側面としての露光装置900の単純化された光路図である。露光装置900は、回路パターンが形成されたレチクル又はマスク920を照明する照明装置910と、照明された回路パターンをプレート940に投影する投影光学系930とを有する。
露光装置900は、例えば、ステップ・アンド・リピート方式やステップ・アンド・スキャン方式でレチクル920に形成された回路パターンをプレート940に露光する投影露光装置である。かかる露光装置は、サブミクロンやクオーターミクロン以下のリソグラフィー工程に好適であり、以下、本実施形態では、ステップ・アンド・スキャン方式の露光装置(「スキャナー」とも呼ばれる)を例に説明する。
照明装置910は、転写用の回路パターンが形成されたレチクル920を照明し、光源部と、照明光学系とを有し、ここに、図1に示す照明光学系100、その他の部材を適用することができる。
光源部は、例えば、光源912としてレーザーを使用する。光源912は、波長約193nmのArFエキシマレーザー、波長約248nmのKrFエキシマレーザー、波長約153nmのFレーザーなどを使用することができるが、レーザーの種類は限定されない。
照明光学系は、レチクル920を照明する光学系であり、本実施形態では、上述した照明光学系100の構成の通り、ビーム整形光学系101と、リレー光学系102と、第1の複数光源形成手段103と、σ可変光学系200又は300と、第2の複数光源形成手段104と、照射光学系105と、マスキングブレード106と、結像光学系107とを有する。
レチクル920には、転写されるべき回路パターン(又は像)が形成され、図示しないレチクルステージに支持及び駆動される。レチクル920から発せられた回折光は、投影光学系930を通り、プレート940上に縮小投影される。プレート940は、ウェハや液晶基板などの被処理体であり、レジストが塗布されている。レチクル920とプレート940とは、共役の関係にある。露光装置900は、スキャナーであるため、レチクル920とプレート940とを走査することによりレチクル920のパターンをプレート940上に転写する。なお、ステップ・アンド・リピート方式の露光装置(「ステッパー」とも呼ばれる)の場合には、レチクル920とプレート940を静止させた状態で露光が行われる。
投影光学系930は、複数のレンズ素子のみからなる光学系、複数のレンズ素子と少なくとも一枚の凹面鏡とを有する光学系(カタディオプトリック光学系)、複数のレンズ素子と少なくとも一枚のキノフォームなどの回折光学素子とを有する光学系、全ミラー型の光学系等を使用することができる。色収差の補正が必要な場合には、互いに分散値(アッベ値)の異なるガラス材からなる複数のレンズ素子を使用したり、回折光学素子をレンズ素子と逆方向の分散が生じるように構成したりする。
露光において、光源912から発せられた光束は、照明光学系によりレチクル920を、例えば、ケーラー照明する。レチクル920を通過してレチクルパターンを反映する光は、投影光学系930によりプレート940に結像される。その際、本発明の照明光学系100が適用された照明光学系により、レチクルパターンによって最適なσ値を得ることできる。これにより、所望の解像度を達成し、高品位な露光をプレート940に施すことができる。また、照明光学系内において、集光点に起因するレンズの内部透過率の劣化やレンズ表面に施した反射防止膜の劣化を防止しているので照度劣化を防止することができ、高いスループットで経済性よくデバイス(半導体素子、LCD素子、撮像素子(CCDなど)、薄膜磁気ヘッドなど)を提供することができる。
次に、図18及び図19を参照して、上述の露光装置900を利用したデバイス製造方法を説明する。図18は、デバイス(ICやLSIなどの半導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するためのフローチャートである。ここでは、半導体チップの製造を例に説明する。ステップ1(回路設計)では、デバイスの回路設計を行う。ステップ2(マスク製作)では、設計した回路パターンを形成したマスクを製作する。ステップ3(ウェハ製造)では、シリコンなどの材料を用いてウェハを製造する。ステップ4(ウェハプロセス)は、前工程と呼ばれ、マスクとウェハを用いてリソグラフィー技術によってウェハ上に実際の回路を形成する。ステップ5(組み立て)は、後工程と呼ばれ、ステップ4によって作成されたウェハを用いて半導体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ステップ6(検査)では、ステップ5で作成された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テストなどの検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、それが出荷(ステップ7)される。
図19は、ステップ4のウェハプロセスの詳細なフローチャートである。ステップ11(酸化)では、ウェハの表面を酸化させる。ステップ12(CVD)では、ウェハの表面に絶縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)では、ウェハ上に電極を蒸着などによって形成する。ステップ14(イオン打ち込み)では、ウェハにイオンを打ち込む。ステップ15(レジスト処理)では、ウェハに感光剤を塗布する。ステップ16(露光)では、露光装置900によってマスクの回路パターンをウェハに露光する。ステップ17(現像)では、露光したウェハを現像する。ステップ18(エッチング)では、現像したレジスト像以外の部分を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)では、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行うことによってウェハ上に多重に回路パターンが形成される。本実施形態のデバイス製造方法によれば、照明光学系100によって所望のσ値を得ることができ、高品位な(即ち、所望の線幅の)デバイスを製造することができる。このように、露光装置900を使用するデバイス製造方法、並びに結果物としてのデバイスも本発明の一側面として機能するものである。
以上、本発明の好ましい実施例を説明したが、本発明はこれらに限定されずその要旨の範囲内で様々な変形や変更が可能である。
本発明の一側面としての照明光学系の単純化された光路図である。 図1に示すσ可変光学系の単純化された光路図である。 図2に示すσ可変光学系の最小σ状態、中間σ状態及び最大σ状態を示す光路図である。 図3に示す第1の光学系の最小σ状態における収差図である。 図3に示す第1の光学系の最大σ状態における収差図である。 図3に示す第1の光学系において、平行平板の代わりに第2の光学系を配置した場合の光路図である。 図6に示す第1の光学系と第2の光学系との合成光学系の最小σ状態における収差図である。 図6に示す第1の光学系と第2の光学系との合成光学系の最大σ状態における収差図である。 図2に示すσ可変光学系の変形例であるσ可変光学系の単純化された光路図である。 図9に示すσ可変光学系の最小σ状態、中間σ状態及び最大σ状態を示す光路図である。 図10に示す第1の光学系の最小σ状態における収差図である。 図10に示す第1の光学系の最大σ状態における収差図である。 図10に示す第1の光学系において、第1の固定群と第2の固定群との間の光路中に第2の光学系を配置した場合の光路図である。 図13に示す第1の光学系と第2の光学系との合成光学系の最小σ状態における収差図である。 図13に示す第1の光学系と第2の光学系との合成光学系の最大σ状態における収差図である。 4群で構成された第1の光学系において、第2の光学系を配置することで移動する再集光位置を模式的に示す図である。 本発明の一側面としての露光装置の単純化された光路図である。 デバイス(ICやLSIなどの半導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するためのフローチャートである。 図18に示すステップ4のウェハプロセスの詳細なフローチャートである。 σ可変光学系の単純化された光路図である。
符号の説明
100 照明光学系
103 第1の複数光源形成手段
104 第2の複数光源形成手段
200 σ可変光学系
210 第1の光学系
211 開口絞り
212 平行平板
213 第1の固定群
213a及び213b 凸レンズ
214 第1の移動群
214a 凹レンズ
215 第2の移動群
215a及び215b 凸レンズ
216 第2の固定群
216a 凹レンズ
216b 凸レンズ
220 第2の光学系
222 凸レンズ
224 凹レンズ
300 σ可変光学系
301 第1の複数光源形成手段
310 第1の光学系
311 開口絞り
313 第1の固定群
313a及び313b 凸レンズ
314 第2の固定群
314a及び314b 凸レンズ
315 第1の移動群
315a 凹レンズ
316 第2の移動群
316a及び316b 凸レンズ
317 第3の固定群
317a 凹レンズ
317b 凸レンズ
320 第2の光学系
322 凹レンズ
324 凸レンズ
400 配置手段
900 露光装置
TLP 2次光源位置
ACP 再集光位置
OP 光軸

Claims (16)

  1. 光源からの光を集光させて集光点を形成し、被照面を照明する照明光学系において、前記光源側より順に、
    前記照明光学系の光路内に切り替えて挿入される第1の切替光学系および第2の切替光学系と、
    前記照明光学系の光軸方向に移動可能であり、前記光軸に沿って移動することにより2次光源を形成する手段の入射面上の照射領域を変更する移動光学系とを有し
    前記第2の切替光学系のパワーは、前記第1の切替光学系のパワーよりも大きく、
    前記第1の切替光学系前記光路内に挿入されているときは、前記集光点が前記移動光学系の前記被照射面側に形成され、前記第2の切替光学系が前記光路内に挿入されているときは、前記集光点が前記移動光学系の前記光源側に形成されることを特徴とする照明光学系。
  2. 前記第1の切替光学系はパワーがゼロであり、
    前記第2の切替光学系は、正のパワーを有することを特徴とする請求項1記載の照明光学系。
  3. 前記第1の切替光学系は平行平板を有し、
    前記第2の切替光学系は前記光源側より順に凸レンズ、凹レンズを有することを特徴とする請求項1に記載の照明光学系。
  4. 前記移動光学系は、前記光軸に沿って前記被照射面側に移動することにより前記照射領域を大きくし、前記光軸に沿って前記光源側に移動することにより前記照射領域を小さくすることを特徴とする請求項1に記載の照明光学系。
  5. 前記光源側より順に、
    前記第1の切替光学系および前記第2の切替光学系と、
    正のパワーを有する第1の固定光学系と、
    前記移動光学系としての第1の移動光学系と、
    正のパワーを有し、前記照明光学系の前記光軸方向に移動可能な第2の移動光学系と、
    正のパワーを有する第2の固定光学系とを有し、
    前記第1の切替光学系はパワーがゼロであり、前記第2の切替光学系は正のパワーを有し、前記第1の移動光学系は負のパワーを有することを特徴とする請求項1に記載の照明光学系。
  6. 前記集光点は、前記第1の切替光学系が前記光路内に挿入されているときは前記第1の移動光学系と前記第2の移動光学系との間に、前記第2の切替光学系が前記光路内に挿入されているときは前記第2の固定光学系と前記第1の移動光学系との間に形成されることを特徴とする請求項5に記載の照明光学系。
  7. 前記第の固定光学系は、前記光源側より順に、凸レンズ、凹レンズを有し、
    前記凹レンズは、前記光源側の面の曲率が、前記被照面側の面の曲率よりも大き、前記光源側の面が凹面であることを特徴とする請求項5に記載の照明光学系。
  8. 光源からの光を集光させて集光点を形成し、被照射面を照明する照明光学系において、前記光源側より順に、
    前記照明光学系の光路に対して挿脱可能な挿脱可能光学系と、
    前記照明光学系の光軸方向に移動可能であり、前記光軸に沿って移動することによって2次光源を形成する手段の入射面上の照射領域を変更する移動光学系とを有し、
    前記挿脱可能光学系は正のパワーを有し、
    前記挿脱可能光学系が前記光路から退避しているときは、前記集光点が前記移動光学系の前記被照射面側に形成され、前記挿脱可能光学系が前記光路内に挿入されているときは、前記集光点が前記移動光学系の前記光源側に形成されることを特徴とする照明光学系。
  9. 前記挿脱可能光学系は前記光源側より順に、凹レンズ、凸レンズを有することを特徴とする請求項8に記載の照明光学系。
  10. 前記移動光学系は、前記光軸に沿って前記被照射面側に移動することにより前記照射領域を大きくし、前記光軸に沿って前記光源側に移動することにより前記照射領域を小さくすることを特徴とする請求項8に記載の照明光学系。
  11. 前記光源側より順に、
    正のパワーを有する第1の固定光学系と、
    前記挿脱可能光学系と、
    正のパワーを有する第2の固定光学系と、
    前記移動光学系としての第1の移動光学系と、
    正のパワーを有し、前記照明光学系の前記光軸方向に移動可能な第2の移動光学系と、
    正のパワーを有する第3の固定光学系とを有し、
    前記挿脱可能光学系は正のパワーを有し、前記第1の移動光学系は負のパワーを有することを特徴とする請求項8に記載の照明光学系。
  12. 前記集光点は、前記挿脱可能光学系が前記光路より退避しているときは前記第1の移動光学系と前記第2の移動光学系との間に、前記挿脱可能光学系が前記光路内に挿入されているときは前記第2の固定光学系と前記第1の移動光学系との間に形成されることを特徴とする請求項11に記載の照明光学系。
  13. 前記第3の固定光学系は前記光源側より順に、凹レンズ、凸レンズとを有し、
    前記凹レンズは、前記光源側の面の曲率が前記被照射面側の面の曲率よりも大きく、前記光源側の面が凹面であることを特徴とする請求項11に記載の照明光学系。
  14. 前記第2の移動光学系は、前記第1の移動光学系が前記光軸に沿って前記光源側に移動する際に前記光軸に沿って前記被照射面側に移動し、前記第1の移動光学系が前記光軸に沿って前記被照射面側に移動する際に前記光軸に沿って前記光源側に移動することを特徴とする請求項5または11に記載の照明光学系。
  15. レチクルを照明する請求項1乃至14のうちいずれか一項記載の照明光学系と、
    前記レチクルのパターンを被処理体に投影する投影光学系とを有することを特徴とする露光装置。
  16. 請求項15に記載の露光装置を用いて被処理体を露光するステップと、
    露光された前記被処理体を現像するステップとを有することを特徴とするデバイス製造方法。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI545352B (zh) * 2006-02-17 2016-08-11 卡爾蔡司Smt有限公司 用於微影投射曝光設備之照明系統
KR100830833B1 (ko) * 2006-08-14 2008-05-20 인태환 온도, 습도 및 영상 취득 시스템
US7706078B2 (en) * 2006-09-14 2010-04-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser light irradiation apparatus and laser light irradiation method
JP5268428B2 (ja) * 2008-05-28 2013-08-21 キヤノン株式会社 照明光学系及び画像投射装置
EP2657881B1 (de) * 2012-04-27 2014-06-11 Sick Ag Beleuchtungsvorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Beleuchtungsbereichs
FR2996015B1 (fr) * 2012-09-25 2014-09-12 Sagem Defense Securite Illuminateur de dispositif de photolithographie permettant la diffraction controlee

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5878115A (ja) * 1981-11-04 1983-05-11 Nippon Kogaku Kk <Nikon> テレセントリツク照明用補助コンデンサ−レンズ
JPH04369209A (ja) * 1991-06-17 1992-12-22 Nikon Corp 露光用照明装置
JP3278896B2 (ja) * 1992-03-31 2002-04-30 キヤノン株式会社 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
JP3316937B2 (ja) * 1992-11-24 2002-08-19 株式会社ニコン 照明光学装置、露光装置、及び該露光装置を用いた転写方法
JP3491212B2 (ja) * 1995-06-23 2004-01-26 株式会社ニコン 露光装置、照明光学装置、照明光学系の設計方法及び露光方法
JP3005203B2 (ja) * 1997-03-24 2000-01-31 キヤノン株式会社 照明装置、露光装置及びデバイス製造方法
JPH11260708A (ja) * 1998-03-10 1999-09-24 Nikon Corp 投影露光装置及び該装置を用いる半導体デバイス製造方法
JP2001338861A (ja) * 2000-05-26 2001-12-07 Nikon Corp 照明光学装置並びに露光装置及び方法
JP2002055279A (ja) 2000-08-09 2002-02-20 Nikon Corp ズーム光学系および該ズーム光学系を備えた露光装置および露光方法
JP4659223B2 (ja) 2001-01-15 2011-03-30 キヤノン株式会社 照明装置及びこれに用いる投影露光装置並びにデバイスの製造方法
JP2002323653A (ja) * 2001-02-23 2002-11-08 Nikon Corp 投影光学系,投影露光装置および投影露光方法
JP3958122B2 (ja) 2001-05-11 2007-08-15 キヤノン株式会社 照明装置、およびそれを用いた露光装置、デバイス製造方法
US6868223B2 (en) * 2001-05-11 2005-03-15 Canon Kabushiki Kaisha Illumination apparatus, exposure apparatus using the same and device fabrication method
JP2003017896A (ja) 2001-06-28 2003-01-17 Mitsumi Electric Co Ltd 小型チップマウンター
DE10144246A1 (de) * 2001-09-05 2003-03-20 Zeiss Carl Zoom-System für eine Beleuchtungseinrichtung
JP2003178952A (ja) * 2001-12-12 2003-06-27 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置および露光方法
JP3826047B2 (ja) * 2002-02-13 2006-09-27 キヤノン株式会社 露光装置、露光方法、及びそれを用いたデバイス製造方法
DE10229249A1 (de) * 2002-03-01 2003-09-04 Zeiss Carl Semiconductor Mfg Refraktives Projektionsobjektiv mit einer Taille
JP4474121B2 (ja) * 2003-06-06 2010-06-02 キヤノン株式会社 露光装置
JP2005106897A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Canon Inc 照明装置およびそれを用いた投影露光装置

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