JP3954031B2 - 水質センサを浄化するためのワイパ/ブラシ装置 - Google Patents

水質センサを浄化するためのワイパ/ブラシ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3954031B2
JP3954031B2 JP2003576935A JP2003576935A JP3954031B2 JP 3954031 B2 JP3954031 B2 JP 3954031B2 JP 2003576935 A JP2003576935 A JP 2003576935A JP 2003576935 A JP2003576935 A JP 2003576935A JP 3954031 B2 JP3954031 B2 JP 3954031B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
brush
wiper element
wiper
shaft
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003576935A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006508327A (ja
Inventor
リゾッテ,マイク
ホフマン,クリス
レクレター,ダニエル
マクドナルド,ジョン
Original Assignee
ワイエスアイ インコーポレーテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ワイエスアイ インコーポレーテッド filed Critical ワイエスアイ インコーポレーテッド
Publication of JP2006508327A publication Critical patent/JP2006508327A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3954031B2 publication Critical patent/JP3954031B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/18Water
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/53Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N21/8507Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0006Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means to keep optical surfaces clean, e.g. by preventing or removing dirt, stains, contamination, condensation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • G01N2021/152Scraping; Brushing; Moving band

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)

Description

本発明は、水質を測定するために用いられているセンサ装置やゾンデに関する。
ゾンデは幾つかの異なる水質プローブ、あるいは濁度、pH、溶存酸素、導電率、温度、塩度、および他の可能な水質測定のためのセンサを含むセンサを備えることができる。これら測定は、一般的に光学的および/または電気的手段を利用することでなされている。光路あるいは電気的接触がゴミあるいは菌類や藻の成長物で汚染された場合、正確な測定値が得られない虞がある。
これらゾンデが、光学窓を含むセンサを備え、その光学窓を通じて測定値が反射、蛍光、あるいは他の光反応や感光反応の関数として得られることは、当業者には知られている。しかしながら、長期間の配置を伴う測定では、植物と動物による広範囲の汚損がセンサに蓄積するため、センサの正確な測定が阻害される。このため、汚損は、現状のセンサの使用を、メンテナンスや手での清掃が必要となるわずか前の短期間に限定している。さらに、浸食性の汚損環境では、センサ上へのゴミあるいは菌類や藻の成長物の堆積のために、使用の短期化の虞がある。現状のセンサは、ひどい汚損環境において長期間にわたって正確な測定値が得られるように適当に装備されていない。
したがって、効果的に使用することができるとともに、長期間の配置下および浸食性汚損環境下で正確な測定値を得ることができるセンサ装置を提供することが望まれている。
この発明は、長期間の配置下および浸食性汚損環境下で水質に関する多数のパラメータを計測するための正確な測定値を得ることに有用なセンサ用浄化装置に向けられている。
センサ用浄化装置は、センサとワイパ素子とブラシとを有するゾンデを備え、ブラシがワイパ素子から延在している。ブラシは、ゾンデ内の他のセンサを掃き掃除するために使用されるとともに、これにより、正確な測定を阻害するゴミおよび成長物の堆積を防止する。一般的に、ゾンデは、効果的な測定値を得るのに十分な清潔状態にセンサを保持するために充分な周波数でブラシ/ワイパのアームを回転するようにプログラムされている。
一実施形態では、ワイパ素子とブラシは、共通の軸を中心に回転する。本発明のより特別な実施形態によれば、ワイパ素子およびブラシは共通のアーム上で運ばれ、このアームは、モータ駆動シャフトを中心に回転するとともに、このモータ駆動シャフトから放射状に延在している。本発明のさらに好適な開示では、ワイパ素子上のワイパ媒体は、海綿状ゴム製パッドから形成され、ブラシは、模造リス毛である。
本発明の他の開示は、濁度センサとpHセンサとを含むゾンデであり、濁度センサは、ワイパ素子とブラシとを運ぶ回転可能シャフトを含んでいる。ブラシは、濁度センサの外径を超えて延在し、pHセンサからゴミと成長物をふき取り除去するようにして回転する。本発明の他の開示では、ゾンデは、上記と同じように構成された濁度センサと酸素センサとを含んでいる。
本発明の自己ふき取り態様により、長期間の配置での使用は理想的である。加えて、実質的にメンテナンスフリーとなる。前記ふき取られるセンサは、現場巡視の増大あるいはメンテナンスコストなしに、配置時間を劇的に増加させる。その結果、水質テストの実行において、長時間の配置下とひどい汚損環境下で、本発明の使用を通じて時間およびお金を節約することができる。
図1は、本発明に係るゾンデの一例である。このゾンデは、現在、YSIモデル6600EDSゾンデとしてワイエスアイインコーポレッドから市販されている。このゾンデ8は、後方散乱の関数として濁度を測定する濁度センサ10と、ポーラログラフ電流の関数として溶存酸素を測定する溶存酸素センサ12と、参照電極の電位との相対的な電気ポテンシャル(電圧)の関数としてpHを測定するpH/ORP(ORP:酸化還元電位)センサ14と、温度/導電率センサ16と、クロロフィルあるいはロマディン(rhomadine)センサであるセンサ18とを含んでいる。図2に示すような本発明によれば、ワイパ素子20は、海綿状ゴム製ワイパパッドのようなワイパ媒体26に周囲が巻かれた中央アーム22を含んでいる。濁度センサ10の直径より大きく延在するアーム22の部分は、ブラシ24を保持している。このブラシは24、ゾンデ内の他のセンサを掃き掃除するとともにゴミと成長物の堆積を防止するのに充分な長さの毛を含んでいる。
本発明のより好ましい形態によれば、ブラシ毛は、含水と乾燥の処理後に柔軟性が保持されている微細材料から形成されている。特に好ましい材料は、フェルトンブラシ社(所在地:ニューハンプシャー,ロンドンデリー)から市販されている模造リス毛である。しかしながら、当業者は、ヤギの毛のような他の毛もまた有用であると認識している。
広範囲の汚損の結果は、長期間の配置下および/または浸食性汚損環境下において、拭かれないセンサに蓄積するかもしれない。長期間の配置は、本発明を使用して行われ、センサ用浄化装置は80日間配置されて使用された。センサ用浄化装置の結果として、矛盾しない測定値を80日間通して得ることができた。
本発明の一実施形態に係るセンサ用浄化装置の図である。 本発明の一実施形態に係るセンサ用浄化装置のワイパ素子/ブラシの組立体の図である。

Claims (18)

  1. 第1センサと、この第1センサに隣接している第2センサと、ブラシとを備え、
    前記第1センサは、光学窓とワイパ素子とを含み、
    前記ワイパ素子は、前記第1センサから延在しているシャフトを中心に回転することにより前記窓からゴミを取り除き、
    前記ブラシは、隣接している前記第2センサに接触するとともに前記第2センサに堆積しているゴミを取り除くように、前記第1センサの周囲を超えて前記ワイパ素子から延在していることを特徴とするゾンデ。
  2. 前記第1センサは濁度センサであり、前記第2センサは、pHセンサ、酸素センサ、酸化還元電位センサ、クロロフィルセンサ、ロマディンセンサ、および温度/導電率センサから選択されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  3. 前記第1センサは、前記ワイパ素子と前記ブラシを運ぶ回転可能なシャフトを含むことを特徴とする請求項1に記載の装置。
  4. 前記ブラシは、ブラシ毛を備えていることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  5. 前記ブラシは、模造リス毛から形成されていることを特徴とする請求項4に記載の装置。
  6. 前記ワイパ素子は、ワイパ媒体を備えていることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  7. 前記ワイパ媒体は、海綿状ゴム製パッドから形成されていることを特徴とする請求項6に記載の装置。
  8. 前記ワイパ素子および前記ブラシは、共通の軸を中心に回転することを特徴とする請求項1に記載の装置。
  9. 前記ワイパ素子および前記ブラシは、共通のアーム上で運ばれ、前記アームは、シャフトを中心に回転するとともに、前記シャフトから放射状に延在していることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  10. 第1センサと、この第1センサに隣接している多数のセンサと、ブラシとを備え、
    前記第1センサは、光学窓とワイパ素子とを含み、
    前記ワイパ素子は、前記第1センサから延在しているシャフトを中心に回転することにより前記窓からゴミを取り除き、
    前記ブラシは、前記隣接している多数のセンサに接触するとともに前記多数のセンサに堆積しているゴミを取り除くように、前記第1センサの周囲を超えて前記ワイパ素子から延在していることを特徴とするゾンデ。
  11. 前記第1センサは濁度センサであり、前記多数のセンサは、pHセンサ、酸素センサ、酸化還元電位センサ、クロロフィルセンサ、ロマディンセンサ、および温度/導電率センサから選択されることを特徴とする請求項10に記載の装置。
  12. 前記第1センサは、前記ワイパ素子と前記ブラシを運ぶ回転可能なシャフトを含むことを特徴とする請求項10に記載の装置。
  13. 前記ブラシは、ブラシ毛を備えていることを特徴とする請求項10に記載の装置。
  14. 前記ブラシは、模造リス毛から形成されていることを特徴とする請求項13に記載の装置。
  15. 前記ワイパ素子は、ワイパ媒体を備えていることを特徴とする請求項10に記載の装置。
  16. 前記ワイパ媒体は、海綿状ゴム製パッドから形成されていることを特徴とする請求項15に記載の装置。
  17. 前記ワイパ素子および前記ブラシは、共通の軸を中心に回転することを特徴とする請求項10に記載の装置。
  18. 前記ワイパ素子および前記ブラシは、共通のアーム上で運ばれ、前記アームは、シャフトを中心に回転するとともに、前記シャフトから放射状に延在していることを特徴とする請求項10に記載の装置。
JP2003576935A 2002-03-15 2003-03-13 水質センサを浄化するためのワイパ/ブラシ装置 Expired - Lifetime JP3954031B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US36495102P 2002-03-15 2002-03-15
PCT/US2003/007543 WO2003078975A2 (en) 2002-03-15 2003-03-13 Wiper and brush device for cleaning water quality sensors

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006508327A JP2006508327A (ja) 2006-03-09
JP3954031B2 true JP3954031B2 (ja) 2007-08-08

Family

ID=28041991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003576935A Expired - Lifetime JP3954031B2 (ja) 2002-03-15 2003-03-13 水質センサを浄化するためのワイパ/ブラシ装置

Country Status (10)

Country Link
US (1) US6779383B2 (ja)
EP (1) EP1488211A2 (ja)
JP (1) JP3954031B2 (ja)
KR (1) KR20050002859A (ja)
CN (1) CN1643364B (ja)
AU (1) AU2003220193A1 (ja)
BR (1) BR0308437A (ja)
MX (1) MXPA04009013A (ja)
WO (1) WO2003078975A2 (ja)
ZA (1) ZA200471111B (ja)

Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050236014A1 (en) * 2004-04-22 2005-10-27 Hach Company System and method for a sonde sensor cleaning system
US7579947B2 (en) * 2005-10-19 2009-08-25 Rosemount Inc. Industrial process sensor with sensor coating detection
GB0522015D0 (en) * 2005-10-28 2005-12-07 Intellitect Water Ltd Improvements in or relating to sensing apparatus
US20070154353A1 (en) * 2006-01-03 2007-07-05 Hach Company Sensor element having an anti-fouling material in a smooth surface
GB0600721D0 (en) * 2006-01-13 2006-02-22 Intellitect Water Ltd Mounting and sealing system for sensors
ATE504822T1 (de) * 2006-02-06 2011-04-15 Hach Lange Gmbh Abwasser-tauchsonde
DE102007014844B3 (de) * 2007-03-28 2008-06-05 Glatt Systemtechnik Gmbh Verfahren zur Überwachung der optischen Durchlässigkeit eines Beobachtungsfensters und Einrichtung zur Reinigung eines Beobachtungsfensters
JP4831001B2 (ja) * 2007-07-20 2011-12-07 岩崎電気株式会社 紫外線殺菌装置
JP4484087B2 (ja) * 2008-03-05 2010-06-16 日本電気株式会社 指紋認証機クリーニング装置、及び方法
WO2009114807A1 (en) * 2008-03-13 2009-09-17 Mettler-Toledo Autochem, Inc. Window scraper for an optical instrument
EP2443446A1 (en) * 2009-06-17 2012-04-25 YSI Incorporated Wipeable conductivity probe and method of making same
DE102009055237A1 (de) * 2009-12-23 2011-06-30 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH, 81739 Wäschetrockner mit einem Sensor und einer Säuberungseinrichtung für diesen
US8429952B1 (en) 2010-02-02 2013-04-30 Campbell Scientific, Inc. Sensor with antifouling control
US8555482B2 (en) 2010-05-05 2013-10-15 Ysi Incorporated Process of assembling a probe
US8664938B2 (en) 2010-05-05 2014-03-04 Ysi Incorporated Replaceable probe head
US9170132B2 (en) 2010-05-05 2015-10-27 Ysi Incorporated Replaceable probe head having an operational amplifier
US8488122B2 (en) 2010-05-05 2013-07-16 Ysi Incorporated Turbidity sensors and probes
EP2678663B1 (en) 2011-02-23 2020-11-18 YSI Incorporated Turbidity sensors and probes
DE102011078617A1 (de) * 2011-07-04 2013-01-10 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Vorrichtung und Verfahren zur Reinigung von Ab- und Anlagerungen an einer Endplatte eines Sensorkörpers
KR20130086496A (ko) * 2012-01-25 2013-08-02 한국전자통신연구원 센서 데이터를 사용한 수질 센서 장애 제어 장치 및 방법
US9702736B2 (en) 2012-04-04 2017-07-11 Ysi Incorporated Housing and method of making same
KR101396390B1 (ko) 2012-11-30 2014-05-20 주식회사 동양기술개발 다목적 수질오염도 측정장치
CN103008276B (zh) * 2012-12-17 2016-10-19 中国水产科学研究院黑龙江水产研究所 池塘水质监测传感器自动清洗装置及清洗、提供水样方法
CN104111313A (zh) * 2013-04-16 2014-10-22 苏州禹陵环保技术有限公司 水质传感器
US10190980B2 (en) 2013-06-03 2019-01-29 Blue-I Water Technologies Ltd. System and method for simultaneous measurement of turbidity, color and chlorine content of a sample of a liquid
US9884348B2 (en) * 2013-06-30 2018-02-06 Xerox Corporation Cleaning systems devices and processes
CN103743880B (zh) * 2014-01-11 2015-09-16 中农宸熙(福建)物联科技有限公司 水体环境指标远程监控系统
CN103878131B (zh) * 2014-03-14 2016-08-17 苏州益品德环境科技有限公司 一种水质传感器搅动清洁器
CN109946346B (zh) 2014-11-10 2021-12-10 音-斯图公司 可清洁电导率传感器以及在液体中进行电导率测量的方法
CA2967329C (en) 2014-11-10 2022-11-22 In-Situ, Inc. Submersible multi-parameter sonde having a high sensor form factor sensor
WO2016077322A1 (en) 2014-11-10 2016-05-19 In-Situ, Inc. Integrated user interface for status and control of a submersible multi-parameter sonde
USD755655S1 (en) 2015-01-06 2016-05-10 In-Situ, Inc. Multi-parameter sonde and portions thereof, including sensor, sensor guard and brush thereof
USD803081S1 (en) 2015-01-06 2017-11-21 In-Situ, Inc. Multi-parameter sonde having a guard with multiple paired passages
CN105057241B (zh) * 2015-08-11 2017-07-21 中国水产科学研究院淡水渔业研究中心 一种用于溶解氧传感器的自动清洗装置
US10365097B2 (en) 2015-12-22 2019-07-30 In-Situ, Inc. Sonde having orientation compensation for improved depth determination
CN105618400B (zh) * 2016-03-02 2017-09-19 福建渔家傲养殖科技有限公司 传感器水下测头间歇式自动清洗装置
CN105618399B (zh) * 2016-03-02 2017-09-19 福建渔家傲养殖科技有限公司 传感器水下测头浮力驱动式清洗装置
CN106000932B (zh) * 2016-07-04 2018-12-18 河北科瑞达仪器科技股份有限公司 一种在线传感器自清洗装置
CN106040624B (zh) * 2016-07-15 2018-07-06 中国水产科学研究院淡水渔业研究中心 一种侧挂式溶解氧传感器自动清洗装置
GB201614497D0 (en) * 2016-08-25 2016-10-12 Rs Hydro Ltd Water quality sensing
CN106770105A (zh) * 2016-12-07 2017-05-31 山东省科学院海洋仪器仪表研究所 一种海水叶绿素a含量的检测装置及其光学装配底座
US10442402B2 (en) * 2017-02-27 2019-10-15 Ford Global Technologies, Llc Sensor and cleaning apparatus
CN106824841B (zh) * 2017-03-10 2022-12-06 福建渔家傲养殖科技有限公司 一种嵌套式水下传感器的清洁装置及其清洁方法
CN106799373B (zh) * 2017-03-10 2022-12-06 福建渔家傲养殖科技有限公司 一种用于水下传感器的清洁装置及其清洁方法
CN107185868B (zh) * 2017-06-23 2019-05-31 中国船舶科学研究中心(中国船舶重工集团公司第七0二研究所) 柱形水下探测器球形罩清洁防护装置
CN108844895A (zh) * 2018-06-15 2018-11-20 合肥恒翔电子科技有限公司 激光甲烷传感器
CN109115968B (zh) * 2018-06-25 2020-10-20 无锡太湖学院 基于物联网的智能环境监测装置
WO2020112852A1 (en) * 2018-11-29 2020-06-04 Board Of Regents, The University Of Texas System Devices, systems and methods for cleaning of elongated instrument surface
CN109900877A (zh) * 2019-03-18 2019-06-18 浙江水利水电学院 水质检测无线传感与显示节点
CN110018285B (zh) * 2019-04-17 2021-01-15 福建师范大学福清分校 一种海水检测系统
CN110361514B (zh) * 2019-08-06 2021-08-13 浙江中实检测技术有限公司 一种水质氨氮在线监测仪
US11013399B1 (en) * 2020-01-27 2021-05-25 Board Of Regents, The University Of Texas System Wiper assembly for imaging element cleaning apparatus
KR102183652B1 (ko) 2020-06-01 2020-11-27 에이티티(주) 다항목 수질 측정기의 센서 세정장치
CN111638193A (zh) * 2020-06-06 2020-09-08 郑州大学 一种排水管网智能检测系统
CN111766361B (zh) * 2020-07-23 2021-08-27 核工业华东二六三工程勘察院 一种环保检测专用的污水水质检验仪
CN112170307A (zh) * 2020-09-05 2021-01-05 夏国强 一种污水处理用水质仪的自动清洗装置
CN112881322A (zh) * 2021-01-18 2021-06-01 清华大学 一种浸没式紫外可见吸收光谱传感器及其使用方法
CN113770073B (zh) * 2021-09-18 2022-09-06 南京农业大学 一种应用于水产养殖的多参数传感器自动清洗维护装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3844661A (en) * 1973-02-14 1974-10-29 Gen Atomic Co Self-cleaning optical cell for a fluid analysis system
US4562735A (en) * 1982-10-08 1986-01-07 Gunther Krippner Installation for monitoring parameters of an object
JPS60128333A (ja) * 1983-12-16 1985-07-09 Hitachi Ltd 水質濃度計
DE3576585D1 (de) 1984-07-18 1990-04-19 Nec Corp Geraet zur fingerabdruckeingabe, das mit einem reiniger fuer die fingerauflageflaeche ausgeruestet ist.
US4896047A (en) * 1988-04-11 1990-01-23 Westinghouse Electric Corp. Method and apparatus of periodically obtaining accurate opacity monitor readings of an exhaust gas stream
GB8914960D0 (en) * 1989-06-29 1989-08-23 Cencit Europ Inspection apparatus for tubular members
DE69012837T2 (de) 1989-07-10 1995-02-23 Fladda Gerdt H Messgerät.
US5185531A (en) * 1991-09-26 1993-02-09 Wedgewood Technology, Inc. Window cleaner for inline optical sensors
JP2645946B2 (ja) * 1991-12-04 1997-08-25 九州日立マクセル株式会社 光ピックアップ用のレンズクリーナ
JPH07243964A (ja) * 1994-03-07 1995-09-19 Doriko Kk 水質測定装置及び水質測定方法、並びに排水処理方法
GB2295232B (en) 1994-11-15 1999-05-05 Boghos Awanes Manook Continuous multi-parameter monitoring of liquids with a novel sensor cleaning and calibration system
JP3194084B2 (ja) * 1997-06-26 2001-07-30 水道機工株式会社 水質計
US6121053A (en) * 1997-12-10 2000-09-19 Brookhaven Science Associates Multiple protocol fluorometer and method
JPH11287751A (ja) * 1998-04-01 1999-10-19 Shinko Electric Co Ltd 水質測定装置
US6218662B1 (en) * 1998-04-23 2001-04-17 Western Atlas International, Inc. Downhole carbon dioxide gas analyzer
US6111249A (en) * 1998-07-17 2000-08-29 Hydrolab Corporation Submergible optical sensor housing with protective shutter and methods of operation and manufacture
US6938506B2 (en) * 2002-02-06 2005-09-06 In-Situ, Inc. Sensor head apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
US6779383B2 (en) 2004-08-24
WO2003078975A2 (en) 2003-09-25
JP2006508327A (ja) 2006-03-09
ZA200471111B (en) 2006-05-31
WO2003078975A3 (en) 2003-12-11
MXPA04009013A (es) 2004-11-26
KR20050002859A (ko) 2005-01-10
CN1643364B (zh) 2010-05-12
CN1643364A (zh) 2005-07-20
AU2003220193A1 (en) 2003-09-29
US20030233723A1 (en) 2003-12-25
EP1488211A2 (en) 2004-12-22
BR0308437A (pt) 2006-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3954031B2 (ja) 水質センサを浄化するためのワイパ/ブラシ装置
KR101464501B1 (ko) 수질측정센서의 세정장치
US20130052335A1 (en) Method and apparatus for applying a coating to a cable
JP2006194659A (ja) 洗浄機構を備えた水質観測装置
KR101883396B1 (ko) 수질 측정 센서 장치
CA2386220C (en) Optical radiation sensor system with cleaning device
JP7492624B1 (ja) 水中測定機器
JP2872483B2 (ja) 碍子汚損検出装置
JP4183139B2 (ja) 畜舎用清掃装置
CN104939499B (zh) 一种智能型易清洁的刷子及刷毛的清理方法
DK303787D0 (da) Renseapparat til rensning af olieforurenet kystvand og kyststraekninger
JP2006038507A (ja) 電気伝導度センサ
CA2563854A1 (en) A system and method for a sonde sensor cleaning system
JP3877201B2 (ja) 電極の清掃装置
CN204764065U (zh) 一种易清洁的刷子
JP2009202343A (ja) 黒板消去装置及び自動消去機能を備える黒板
ATE268121T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur reinigung von muschelschalen
CN108745987A (zh) 一种传感器间歇式自动刷洗装置
JP4319795B2 (ja) 電位検出装置
JP2917550B2 (ja) 電極の自動洗浄機構
JPH1157630A (ja) 自己洗浄ブラシおよび洗浄装置
JP2004144662A (ja) 酸化還元電流測定装置及び酸化還元電流測定方法
JP3055194B2 (ja) 碍子の絶縁判定方法
JP2005321558A (ja) 画像形成装置およびプロセスカートリッジ
CN108593746A (zh) 一种可自灭菌清洗的传感器头

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070406

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070425

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3954031

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130511

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140511

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term