JPS60128333A - 水質濃度計 - Google Patents
水質濃度計Info
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- JPS60128333A JPS60128333A JP23625783A JP23625783A JPS60128333A JP S60128333 A JPS60128333 A JP S60128333A JP 23625783 A JP23625783 A JP 23625783A JP 23625783 A JP23625783 A JP 23625783A JP S60128333 A JPS60128333 A JP S60128333A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
- G01N21/8507—Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は試料水の水質を測定する水質濃度計に係り；、
特に下水処理場の流入水や曝気槽の汚濁物質の安定した
測定を行うのに好適な水質濃度計に関する。
特に下水処理場の流入水や曝気槽の汚濁物質の安定した
測定を行うのに好適な水質濃度計に関する。
一般に、試料水の汚濁物質濃度は光学的手法で測定され
ることが多い。例えば、試料水に光を通し、透過した光
Ｕｔ電気信号に変換増幅の後・リニアライザで濃度に比
例した電気信号として測定する方法である。しかし・光
学的手法を用いたものは測定セルが汚れて測定誤差を生
じる問題がある０そ仁で・第１図および萬ｚ図に示すよ
うにワイパ付ピストンを上下させて測定セルを洗浄しな
がら測定するものがある◎ 第１図において、検出器筒１内には１円筒状の測定セル
２が配置され・先端に？イパ３を備えたピストン４がそ
の内側を駆動部５によって上下運動をしている＠そして
、前記測定セル２の外側には・光源ラング６と光検知器
７が対向して設けられており・前記ピストン４の上下運
動で吸引された試料水８の汚濁物質濃度をその透過光量
によりて測定する。ここで、前記ピストン４が対向して
いる前記光源ランプ６と光検知器７の位置を通過。
ることが多い。例えば、試料水に光を通し、透過した光
Ｕｔ電気信号に変換増幅の後・リニアライザで濃度に比
例した電気信号として測定する方法である。しかし・光
学的手法を用いたものは測定セルが汚れて測定誤差を生
じる問題がある０そ仁で・第１図および萬ｚ図に示すよ
うにワイパ付ピストンを上下させて測定セルを洗浄しな
がら測定するものがある◎ 第１図において、検出器筒１内には１円筒状の測定セル
２が配置され・先端に？イパ３を備えたピストン４がそ
の内側を駆動部５によって上下運動をしている＠そして
、前記測定セル２の外側には・光源ラング６と光検知器
７が対向して設けられており・前記ピストン４の上下運
動で吸引された試料水８の汚濁物質濃度をその透過光量
によりて測定する。ここで、前記ピストン４が対向して
いる前記光源ランプ６と光検知器７の位置を通過。
遮光する位置（第゛１図の点線で示した位置）になった
時には測定が出来なくなる。このため、前記ピストン４
の位置を位置検出器９で検出し、前記ピストン４が前記
光源ランプ６と光検知器７の位置を通過する直前に、光
検知器７の出力信号は増幅器１０で増幅された後リニア
ライザ１１で濃度に比例した信号に処理され、ホールド
回路１２でホールドされるように切換器１３で切替え・
前記ピストン４が再びｊ方へ動き、前記試料水８を測定
出来るようになるまで前記ホールド１路１２でホールド
された信号を出力信号１４として伝送するように構成さ
れている。なお・１５は前記光源ランプのランプ電源、
１６．１７はＯリングである。
時には測定が出来なくなる。このため、前記ピストン４
の位置を位置検出器９で検出し、前記ピストン４が前記
光源ランプ６と光検知器７の位置を通過する直前に、光
検知器７の出力信号は増幅器１０で増幅された後リニア
ライザ１１で濃度に比例した信号に処理され、ホールド
回路１２でホールドされるように切換器１３で切替え・
前記ピストン４が再びｊ方へ動き、前記試料水８を測定
出来るようになるまで前記ホールド１路１２でホールド
された信号を出力信号１４として伝送するように構成さ
れている。なお・１５は前記光源ランプのランプ電源、
１６．１７はＯリングである。
第２図は第１図の測定状態と信号ホールド状態ｇの関連
をワイパ付ピストンの動きで示したもので・ここでは動
作に直接関係しない構成要素は省略しである。同図（ａ
）はワイパ３が最上部にある状態を示し・光検知器７の
信号はホールドされず・リニアライザ１１′ｔ−通ると
そのまま出力信号として伝送される。同図Φ）はワイパ
３が光源ランプ６と光検知器７との間を通過する直前の
状態を示し。
をワイパ付ピストンの動きで示したもので・ここでは動
作に直接関係しない構成要素は省略しである。同図（ａ
）はワイパ３が最上部にある状態を示し・光検知器７の
信号はホールドされず・リニアライザ１１′ｔ−通ると
そのまま出力信号として伝送される。同図Φ）はワイパ
３が光源ランプ６と光検知器７との間を通過する直前の
状態を示し。
光検知器７の信号はホールド回路１２でホールドされる
。同図（Ｃ）はワイパ３が最下位にある状態を示し・同
図（ｄ）はワイパ３が遮光終了直後の状態を示し、中）
〜（ｄ）の間は←）の状態でホールドされた信号が出力
信号となる。そして（ｄ）で示す状態から再び（ａ）の
状態、更ＫＯ））の状態になるが、この間は光検知器７
の信号はホールドされず、リニアライザｉ１を通るとそ
のまま出力信号として伝送される。
。同図（Ｃ）はワイパ３が最下位にある状態を示し・同
図（ｄ）はワイパ３が遮光終了直後の状態を示し、中）
〜（ｄ）の間は←）の状態でホールドされた信号が出力
信号となる。そして（ｄ）で示す状態から再び（ａ）の
状態、更ＫＯ））の状態になるが、この間は光検知器７
の信号はホールドされず、リニアライザｉ１を通るとそ
のまま出力信号として伝送される。
以上のよう、に、ワイパ３で測定セル内側を１測定毎（
通常１０〜１５秒）Ｋ洗浄しているので・測定セルの汚
れ対策としては大きな効果がある。
通常１０〜１５秒）Ｋ洗浄しているので・測定セルの汚
れ対策としては大きな効果がある。
しかし・光源ランプ６の光量や光検知器７の感度が周囲
条件で変化したり′、ワイパ３と接する測定セル内部に
多少の傷がつき・測定誤差が生じるという欠点がある。
条件で変化したり′、ワイパ３と接する測定セル内部に
多少の傷がつき・測定誤差が生じるという欠点がある。
本興明の目的は、上述した従来技術の欠点を除去し、常
に安定した測定を行うことができる水質濃度計を提供す
ることにある。
に安定した測定を行うことができる水質濃度計を提供す
ることにある。
本発明は、前述の測定誤差が濃度計のゼロ点変動として
現われることを実験により確認し、このゼロ点変動を解
消する手段として、ピストンの上下運動１往復毎に自動
ゼロ点校正を行うようにしたものである。
現われることを実験により確認し、このゼロ点変動を解
消する手段として、ピストンの上下運動１往復毎に自動
ゼロ点校正を行うようにしたものである。
以下、実施例上参照して本発明を説明する。
、第３図は本発明の一実施例を示す図であって・第１図
と共通する構成要素は同一符号で示し・その説明は省略
する。第３図において、ワイパ３は校正棒１８とシール
部１９を介してピストン４に連結されている。そして、
前記校正棒１８は光源ランプ６の光を全て透過する部材
・例えば透明なガラスや透明なプラスチック材料によっ
て構成されている。更に、測定セル２（通常１透明ガラ
ス）と空気、空気と校正棒１８の媒質の違いによる反射
を防ぐため、前記校正棒１８の周囲には清浄水２０が満
たされ・該清浄水２０の漏洩を前記シール部１９によっ
て防止じている。一方２電気系では、ピストン４の位置
を２つの位置検出器９及び２１で検出し、増幅器１０で
電気信号に変換増幅された光検知器７の信号をリニアラ
イザ１１から直接、出力信号１４として伝送するか、ホ
ールド回路１２を経てホールド信号を出力信号１４とし
て伝送するか・更にホールド信号を出力信号１４として
いる間に、前記増幅器１０の信号を切替器２２で切替え
、信号比較器２３と比較してランプ電源１５の電圧を自
動Ｉｌｌ！ｖ、即ち零点校正をするかを制御している。
と共通する構成要素は同一符号で示し・その説明は省略
する。第３図において、ワイパ３は校正棒１８とシール
部１９を介してピストン４に連結されている。そして、
前記校正棒１８は光源ランプ６の光を全て透過する部材
・例えば透明なガラスや透明なプラスチック材料によっ
て構成されている。更に、測定セル２（通常１透明ガラ
ス）と空気、空気と校正棒１８の媒質の違いによる反射
を防ぐため、前記校正棒１８の周囲には清浄水２０が満
たされ・該清浄水２０の漏洩を前記シール部１９によっ
て防止じている。一方２電気系では、ピストン４の位置
を２つの位置検出器９及び２１で検出し、増幅器１０で
電気信号に変換増幅された光検知器７の信号をリニアラ
イザ１１から直接、出力信号１４として伝送するか、ホ
ールド回路１２を経てホールド信号を出力信号１４とし
て伝送するか・更にホールド信号を出力信号１４として
いる間に、前記増幅器１０の信号を切替器２２で切替え
、信号比較器２３と比較してランプ電源１５の電圧を自
動Ｉｌｌ！ｖ、即ち零点校正をするかを制御している。
次に、前記ピストン４の動きと前記出力信号１４との関
連を第４図を参照して更に詳細に説明する。なお・第４
図ではピストンの動作に直接関係しない構成要素は省略
しである。同図（ａ）はワイパ３が最上部にある測定状
態を示し、光検知器７の信号はリニアライザ１１から直
接、出力信号１４として伝送される。同図（ｂ）はワイ
パ３が光源ランプ６の光を遮光する直前の状態を示し、
位置検出器９がこの状態を検出し、切換器１３でリニ。
連を第４図を参照して更に詳細に説明する。なお・第４
図ではピストンの動作に直接関係しない構成要素は省略
しである。同図（ａ）はワイパ３が最上部にある測定状
態を示し、光検知器７の信号はリニアライザ１１から直
接、出力信号１４として伝送される。同図（ｂ）はワイ
パ３が光源ランプ６の光を遮光する直前の状態を示し、
位置検出器９がこの状態を検出し、切換器１３でリニ。
アライブ１１の信号をホールド回路１２でホールドする
。同図（Ｃ）はワイパ３が光源ランプ６を遮光する状態
を過ぎ・校正棒１８に光が当り始めた状態を示し・位置
検出器２１がこの状態を検出して切換器２２で増幅器１
０の信号を信号比較器２３へ入力し、前記増幅器１０の
信号が一定の信号レベルになるようにランプ電源１５の
電圧を自動調節する。即ち、この時の光検知器７の信号
はゼロ液を測定している時と同等であるので、自動ゼロ
校正が行われることになる。この場合、出力信号１４と
しては、ホールド回路１２でホールドされている信号が
伝送される。そして、ワイパ３が最下部にある状態（ｄ
）から再びワイパ３が光源ランプ６の光を遮光する直前
の状態（ｅ） ｔで前述の自動ゼロ校正（出力信号１４
はホールド回路１２でホールドされている信号）がなさ
れ・＜ｅ＞の状態で・増幅器１０の信号が信号比較器２
３側からりニアライザ１１へ切替えられて自動ゼロ校正
終了となる。
。同図（Ｃ）はワイパ３が光源ランプ６を遮光する状態
を過ぎ・校正棒１８に光が当り始めた状態を示し・位置
検出器２１がこの状態を検出して切換器２２で増幅器１
０の信号を信号比較器２３へ入力し、前記増幅器１０の
信号が一定の信号レベルになるようにランプ電源１５の
電圧を自動調節する。即ち、この時の光検知器７の信号
はゼロ液を測定している時と同等であるので、自動ゼロ
校正が行われることになる。この場合、出力信号１４と
しては、ホールド回路１２でホールドされている信号が
伝送される。そして、ワイパ３が最下部にある状態（ｄ
）から再びワイパ３が光源ランプ６の光を遮光する直前
の状態（ｅ） ｔで前述の自動ゼロ校正（出力信号１４
はホールド回路１２でホールドされている信号）がなさ
れ・＜ｅ＞の状態で・増幅器１０の信号が信号比較器２
３側からりニアライザ１１へ切替えられて自動ゼロ校正
終了となる。
次いで、（ｆ）の状態は試料水、８ｔ−測定可能になっ
た直後の状態を示し１位置検出器９がこの状態！検出し
、切替器１３でリニアライザ１１の信号が出力信号１４
として伝送される。
た直後の状態を示し１位置検出器９がこの状態！検出し
、切替器１３でリニアライザ１１の信号が出力信号１４
として伝送される。
要約して言えば、（ｆ＞ ７（ａ）−〇）は測定状態で
あり、出力信号１４は測定瞬時値である。セしてｅ）〜
（ｆ）の状態ではΦ）の状態での測定値をホールド回路
１２でホールドした信号が出力信号１４となる。
あり、出力信号１４は測定瞬時値である。セしてｅ）〜
（ｆ）の状態ではΦ）の状態での測定値をホールド回路
１２でホールドした信号が出力信号１４となる。
一方、出力信号１４とは別に、 （Ｃ） −（ｄ） −
（ｅ）の状態では・自動ゼロ点校正が行われている。
（ｅ）の状態では・自動ゼロ点校正が行われている。
第５図、第６図、第７因は実測例を示すグラフであって
、第５図は試料水の濃度変化を示し、この中で２４は実
際の濃度値、２５は従来の水質濃度計の指示誤差を表示
したものである。そして、第６図の２５′は従来の水質
濃度計の実測値であり、ゼロ点変動が補正されていない
ため、試料水の実際の濃度値２４との誤畔が大きくなっ
ている。
、第５図は試料水の濃度変化を示し、この中で２４は実
際の濃度値、２５は従来の水質濃度計の指示誤差を表示
したものである。そして、第６図の２５′は従来の水質
濃度計の実測値であり、ゼロ点変動が補正されていない
ため、試料水の実際の濃度値２４との誤畔が大きくなっ
ている。
第７図の２６は本発明の水質−変針の実測値で・自動ゼ
ロ点校正の効果が現われ、試料水の実際の濃、変位２４
との誤差が殆んど見られない。
ロ点校正の効果が現われ、試料水の実際の濃、変位２４
との誤差が殆んど見られない。
以上の説明から明らかなように本発明によれば。
試料水の吸引吐出を行うピストンの上下運動１往復毎に
自動ゼロ点校正を行うように構成したため。
自動ゼロ点校正を行うように構成したため。
常に安定した水質濃度の測定が可能となる効果がある。
第１図は従来の水質濃度計の構成を金す図、第２図は第
１図に示した水質濃度計の豐作説明図、第３図は本発明
の７実施例を示す構成図、第４図は第３図の実施例の動
作説明図２第５図は試料水の濃度変化を説明するための
測定記録図、第６図は従来の水質濃度計の指示値を説明
する測定記録図、第７図は本発明による水質濃度計の指
示値を説明する測定記録図である。 １・・・検出器筒・２・・・測定セル・３・・・ワイパ
、４・・・ピストン、６・・・光源ランプ、７・・・光
検知器、８・・・試料水・９・・・位置検出器、１０・
・・増幅器、１１・・・す、ニアライザ・１２・・・ホ
ールド回路、１３・・・切替器、１４・・・出力信号、
１５・・・ランプ電源、１８・・・校正棒、１９・・・
シール部・２０・・・清浄水、２１・・・位置検出器、
２２・・・切替器、２３・・・信号比較器。 代理人 弁理士 高橋明夫 第 ｌ 目 第 ２ 目 （α）（ｂ） 第 ３ 目 第 ４ 目 （σ） （ｅ） （ｆ） ′
１図に示した水質濃度計の豐作説明図、第３図は本発明
の７実施例を示す構成図、第４図は第３図の実施例の動
作説明図２第５図は試料水の濃度変化を説明するための
測定記録図、第６図は従来の水質濃度計の指示値を説明
する測定記録図、第７図は本発明による水質濃度計の指
示値を説明する測定記録図である。 １・・・検出器筒・２・・・測定セル・３・・・ワイパ
、４・・・ピストン、６・・・光源ランプ、７・・・光
検知器、８・・・試料水・９・・・位置検出器、１０・
・・増幅器、１１・・・す、ニアライザ・１２・・・ホ
ールド回路、１３・・・切替器、１４・・・出力信号、
１５・・・ランプ電源、１８・・・校正棒、１９・・・
シール部・２０・・・清浄水、２１・・・位置検出器、
２２・・・切替器、２３・・・信号比較器。 代理人 弁理士 高橋明夫 第 ｌ 目 第 ２ 目 （α）（ｂ） 第 ３ 目 第 ４ 目 （σ） （ｅ） （ｆ） ′
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光源ランプ及び光検知器を外側に備えた測定セル内
を上下に動くワイパ付ピストンで試料水を吸引吐出しな
がら水質濃度を測定する水質濃度計において、前記ワイ
パを光が透過可能な校正棒とシール部を介して前記ピス
トン悼連結したことを特徴とする水質濃度計・ ２ 前記校正棒が透明なガラス棒であることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の水質濃度計。 ３、前記校正棒が透明なプラスチック棒であることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の水質濃度計。 ４、前記校正棒の周囲は清浄水で満たされていることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の水質濃度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23625783A JPS60128333A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 水質濃度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23625783A JPS60128333A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 水質濃度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60128333A true JPS60128333A (ja) | 1985-07-09 |
Family
ID=16998098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23625783A Pending JPS60128333A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 水質濃度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60128333A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61288914A (ja) * | 1985-06-14 | 1986-12-19 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 表面被覆エンドミル |
| JPH0412250A (ja) * | 1990-04-28 | 1992-01-16 | Tsurumi Seiki:Kk | 水のｃｏｄ測定装置 |
| WO2003078975A3 (en) * | 2002-03-15 | 2003-12-11 | Ysi Inc | Wiper and brush device for cleaning water quality sensors |
| CN101871882A (zh) * | 2009-04-22 | 2010-10-27 | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 | 用于检查液体的方法和设备 |
| WO2012045162A1 (en) | 2010-10-07 | 2012-04-12 | Honeywell Asca Inc. | In-situ sensor for automated measurements of gas content in liquid and related system and method |
| JP2019184464A (ja) * | 2018-04-12 | 2019-10-24 | Ｊｆｅアドバンテック株式会社 | 試料水中含有物の吸光度を算出する方法及び吸光度算出装置 |
-
1983
- 1983-12-16 JP JP23625783A patent/JPS60128333A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61288914A (ja) * | 1985-06-14 | 1986-12-19 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 表面被覆エンドミル |
| JPH0343011B2 (ja) * | 1985-06-14 | 1991-07-01 | Sumitomo Electric Industries | |
| JPH0412250A (ja) * | 1990-04-28 | 1992-01-16 | Tsurumi Seiki:Kk | 水のｃｏｄ測定装置 |
| WO2003078975A3 (en) * | 2002-03-15 | 2003-12-11 | Ysi Inc | Wiper and brush device for cleaning water quality sensors |
| CN101871882A (zh) * | 2009-04-22 | 2010-10-27 | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 | 用于检查液体的方法和设备 |
| WO2010121909A1 (en) * | 2009-04-22 | 2010-10-28 | Endress+Hauser Conducta Gesellschaft Für Mess- Und Regeltechnik Mbh+Co. Kg | Method and apparatus for optical examination of liquids |
| WO2012045162A1 (en) | 2010-10-07 | 2012-04-12 | Honeywell Asca Inc. | In-situ sensor for automated measurements of gas content in liquid and related system and method |
| EP2625501A4 (en) * | 2010-10-07 | 2017-03-08 | Honeywell International Inc. | In-situ sensor for automated measurements of gas content in liquid and related system and method |
| JP2019184464A (ja) * | 2018-04-12 | 2019-10-24 | Ｊｆｅアドバンテック株式会社 | 試料水中含有物の吸光度を算出する方法及び吸光度算出装置 |
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