JP3949174B2 - アナログ―ディジタル変換 - Google Patents

Description

技術分野
本発明はアナログ−ディジタル（Ａ／Ｄ）変換装置及びディジタルコードを入力信号と少なくとも１つの基準レベルとのそれぞれの比較に基づいて得る方法に関するものである。本発明は斯種のＡ／Ｄ変換装置を内蔵している信号処理装置にも関するものである。
背景技術
ＵＳ−Ａ４，８３１，３７９（代理人の整理番号ＰＨＡ１，１３７）には従来のＡ／Ｄ変換器が開示されている。この従来のＡ／Ｄ変換器は６４個の入力増幅器のアレイを具えている。ｉを０から６３までの範囲の整数とすると、各増幅器Ａｉはアナログ入力電圧と、これに対応する基準電圧ＶＲｉとの差を増幅して、増幅出力電圧ＶＡｉを発生する。この増幅出力電圧ＶＡ０〜ＶＡ６３が折返しアレイ及び補間回路にて処理されて、相補信号ＶＤ０／ＶＤＮ０---ＶＤ３１／ＶＤＮ３１を発生し、これらの信号から出力回路がディジタル出力コードを取出している。
発明の開示
本発明の目的は従来のものに較べて優れたＡ／Ｄ変換特性を呈するタイプのＡ／Ｄ変換を提供することにある。
請求項１及び７には本発明によるＡ／Ｄ変換装置及び方法をそれぞれ規定してある。請求項８には本発明により信号処理装置を規定してある。本発明を有利に実施するのに随意使用し得る追加の特徴については従属項に規定してある。
本発明は次のような点を考慮したものである。Ａ／Ｄ変換特性は、入力信号と実際に比較される１個以上の基準レベルによって実質上決定される。実際上、入力信号と実際に比較される基準レベルは、偏差がない場合に最適なＡ／Ｄ変換特性が得られることになる公称基準レベルから多かれ、少なかれずれてしまう。この偏差が生じる理由は、Ａ／Ｄ変換を行なう部品が公差、温度依存性等の影響を受けるからである。このようなことは、入力信号と比較される基準レベルを提供する基準レベル部品について言えるだけでなく、ディジタルコードを得るために比較及び追加の動作を行なう変換用の回路部品についても言えることである。
本発明によれば、入力信号と各基準レベルとを少なくとも一回の比較に対して入替えるようにする。変換用の回路部品が理想的なものである場合には、或る所定レベルの入力信号に対して、入替え前と、後に得られるディジタルコードは極性が相違するだけで、大きさは同じとなる。しかし、変換用の回路部品は公差、温度依存性等の影響を受けることからして、入替えの結果、ディジタルコードの大きさが相違することになる。そこで、本発明によれば、ディジタルコードを処理して、出力コードの各極性及び大きさが少なくとも平均でいずれの入替えにもほぼ無関係となるディジタル出力コードを得るようにする。これにより、公差、温度依存性等がＡ／Ｄ変換特性に及ぼす悪影響を十分に低減させることができる。例えば、名目上等間隔とする複数の基準レベルに基づいてＡ／Ｄ変換する従来のものに較べて、本発明によれば、その変換特性をかなり優れた直線性のものとすることができる。
本発明の他の利点は次の通りである。従来のものに較べて、公差、温度依存性等について左程厳格な要件を満たす必要のない回路部品で満足のゆくＡ／Ｄ変換特性を得ることができる。従って、本発明によれば、従来のものに較べてコスト的に安価なもの、例えばＭＯＳトランジスタだけで実現することができる。さらに、Ａ／Ｄ変換を集積回路で行なう場合に、従来のものよりも小形の部品を用いることができる。このように、部品を小形化すればするほど寄生容量が小さくなり、これはＡ／Ｄ変換の高周波特性にとって有利である。さらに、このように回路部品を小形化すれば、Ａ／Ｄ変換回路以外の回路用のスペースを残すことができる。従って、本発明は特に、Ａ／Ｄ変換とディジタル信号処理とを、例えば集積回路形態にて単一の信号処理装置に併合させるのに好適である。
以下、本発明を図面を参照して説明する。
なお、図面を通して同じような要素には同様な参照符号を付して示してある。
発明の実施の形態
図１は本発明の基本原理を示す。変換回路ＣＯＮＶは入力信号ＩＮと少なくとも１個の基準レベルＲＥＦとの各比較に基づいてディジタルコードＤＣを発生する。入力信号ＩＮとそれぞれの基準レベルＲＥＦを少なくとも１回の比較のたびに入替える。このことを図１に逆方向の一対の矢印によって示しており、信号は変換回路のプラス（＋）入力端子＋及びマイナス（−）入力端子−に供給することができる。後処理回路ＰＯＰＲはディジタルコードＤＣを処理して、それぞれの極性及び大きさが、少なくとも平均して、いずれの入替えにもほぼ無関係となるディジタル出力コードＤＯＣを得るようにする。
所望なディジタル出力コードＤＯＣを得ることができる様々な方法がある。このうちの３つの方法を以下図２ａ，図２ｂ，図３ａ，図３ｂ，図３ｃ，図４ａ及び図４ｂにつき説明する。
図２ａは所望なディジタル出力コードＤＯＣを得る第１の方法を示す。ディジタル出力コードＤＯＣ（ｉ）は、入替え前のディジタル出力コードＤＣ（ｉ）＋と、入替え後のディジタル出力コードＤＣ（ｉ）−との差Δの関数として発生される。変換回路ＣＯＮＶの一部を成す回路部品の公差、温度依存性等（以後、変換部品の非理想性と称する）は、ディジタル出力コードＤＣ（ｉ）＋及びＤＣ（ｉ）−にほぼ同程度の影響を及ぼす。図２ａでは、ディジタルコードＤＣ（ｉ）＋及びディジタルコードＤＣ（ｉ）−が、例えば変換部品の非理想性のために＋εの大きさの誤差を呈する。しかし、これらのディジタルコードＤＣ（-i）＋とＤＣ（ｉ）−との差は、この大きさの誤差＋εには無関係であり、従って、各基準レベルＲＥＦに対する入力信号ＩＮに依存するだけである。このように、図２の方法によれば、Ａ／Ｄ変換特性が変換部品の非理想性に実質上感応しないようにすることができる。
図２ｂは図２ａの方法で出力コードＤＯＣを発生する後処理回路の例を示す。この図２ｂの後処理回路は遅延回路ＤＥＬ及び減算回路ＳＵＢを具えている。遅延回路ＤＥＬは変換回路ＣＯＮＶから受信したディジタルコードＤＣ（ｉ）＋を遅延する。減算器ＳＵＢは、それが遅延回路ＤＥＬから受信したコードＤＣ（ｉ）＋からコードＤＣ（ｉ）−を差引くか、又はその逆のことをする。さらに減算器ＳＵＢは、ディジタルコードＤＣ（ｉ）＋とＤＣ（ｉ）−とから得た差Δを随意縮小して、ディジタル出力コードＤＯＣ（ｉ）を得るようにすることができる。
図３ａと図３ｂは共に、所望なディジタル出力コードＤＯＣを得る第２の方法を示す。図３ａは、入力信号ＩＮと各基準レベルＲＥＦとの入替えをランダムな方法で行なう場合に得られる一連のディジタルコードＤＣ（ｉ），ＤＣ（ｉ＋１），---ＤＣ（ｉ＋Ｎ）を示す。この場合には結果的に、ディジタルコードが正の極性を呈する機会が各ディジタルコードに対して５０パーセント（ｐ＝５０％）あり、ディジタルコードが負の極性を呈する機会が５０％（ｐ＝５０％）ある。図３ａでは、正極性のディジタルコードを時間軸ｔの＋側に示してあり、負極性のディジタルコードを−側に示してある。すべてのディジタルコードＤＣ（ｉ），ＤＣ（ｉ＋１）---ＤＣ（ｉ＋Ｎ）は、変換部品の非理想性により或る大きさの誤差＋εを有している。
図３ｂはランダムな方法で行われる入替えによりディジタルコードＤＣ（ｉ），ＤＣ（ｉ＋１），---ＤＣ（ｉ＋Ｎ）を反転したり、非反転とすることによって得られるディジタル出力コードＤＯＣ（ｉ），ＤＯＣ（ｉ＋１），---ＤＯＣ（ｉ＋Ｎ）を示す。この場合には結果として、＋εの大きさの誤差がホワイトノイズに有効に変換される。その理由は、ディジタル出力コードＤＯＣ（ｉ），ＤＯＣ（ｉ＋１），---ＤＯＣ（ｉ＋Ｎ）における或る大きさの誤差の極性がランダムに変化するからである。図３ａ〜図３ｂの方法では、ディジタル出力コードを確立させるのに１つのディジタルコードを必要とするだけであるが、図２ａに示す方法ではディジタル出力コードを確立させるのに２つのディジタルコードを必要とする。従って、図３ａ〜図３ｂの方法によれば、図２ａの方法よりも変換速度を高めることができる。
図３ｃは図３ａ〜図３ｂの方法でディジタル出力コードＤＯＣを得るＡ／Ｄ変換装置の例を示す。この図３ｃのＡ／Ｄ変換装置は、入力信号ＩＮと各基準レベルＲＥＦとをランダムに入替えるために、擬似ランダム発生回路ＰＲＧに結合されるスイッチング回路ＳＷを具えている。後処理回路ＰＯＰＲは可制御インバータＩＮＶを具えている。この可制御インバータＩＮＶも、前記入替えにより得られるディジタルコードＤＣを反転したり、非反転とするために、擬似ランダム発生回路ＰＲＧに結合させる。
図４ａは所望なディジタル出力コードＤＯＣを得る第３の方法を示す。図４ａにおけるディジタルコードＤＣ（０）＋及びＤＣ（０）−は、入力信号と基準レベルとの入替え前と後にそれぞれ得たものである。これら双方のディジタルコードは変換部品の非理想性による或る大きさの誤差＋εを有している。ディジタルコードＤＣ（０）十とＤＣ（０）−との和Σは２εにほぼ等しい。誤差コードｃεを前記和Σから取出し、これを一旦記憶し、且つ後に他のディジタルコードＤＣ（ｉ）を補正するのに用いて、ディジタル出力コードＤＯＣ（ｉ）を得るようにする。従って、図４ａの方法によれば各ディジタル出力コードに対する＋εの大きさの誤差（これは図２ａの方法の場合にもあった）を本質的になくすことができる。さらに、図４ａの方法によれば、図２の方法よりも変換速度を高くすることができる。
図４ｂは図４ａの方法でディジタル出力コードＤＯＣを得る後処理回路ＰＯＰＲの例を示す。これはセレクタＳＥＬと、遅延回路ＤＥＬと、算術回路ＡＬＵと、メモリＭＥＭと、減算回路ＳＵＢとを具えている。図４ｂの後処理回路ＰＯＰＲは較正モードと変換モードで作動することができる。較正モードではセレクタＳＥＬを位置Ｃにして、ディジタルコードＤＣ（０）＋及びＤＣ（０）−を算術回路ＡＬＵに供給すると共に遅延回路ＤＥＬによりディジタルコードＤＣ（０）＋を遅延させる。算術回路ＡＬＵは補正コードｃεを計算し、この補正コードをメモリＭＥＭに記憶させる。変換モードでは、セレクタＳＥＬを位置Ｄにして、ディジタルコードＤＣ（ｉ）を減算器ＳＵＢへ供給する。メモリＭＥＭは誤差コードｃεを減算器ＳＵＢへ供給し、この減算器はディジタルコードＤＣ（ｉ）から誤差コードｃεを差引く。これによりディジタル出力コードＤＯＣ（ｉ）が得られる。
なお、ディジタル出力コードＤＯＣを得る図４の方法については次のようなことに注意すべきである。実際上、図４ａに示したような＋εの大きさの誤差は、特に複数の基準レベルＲＥＦを用いる場合に、入力信号ＩＮの大きさの関数として変化し得る。この場合には、様々な各大きさの入力信号に対する複数の誤差コードｃε（1），ｃε（2），---ｃε（Ｋ）を決定し、後にこれらの誤差コードを記憶するのが有利である。或る所定のディジタルコードを補正するには、複数の誤差コードｃε（1），ｃε（2），---ｃε（Ｋ）のうちから、大きさが最も整合する誤差コードを選択する。随意、２つ以上の誤差コードを選択して、これらの誤差コード間の補間をとることもできる。この場合には、斯くして得た補間誤差コードを用いて、該当するディジタルコードを補正する。このような補間による利点は、十分に正確な補正をするのに比較的少ないメモリ容量で済むことにある。
本発明を有利に実施するためのオプションは、サンプル−ホールド回路を用いて入力信号ＩＮを変換回路ＣＯＮＶに時間−離散法で供給することにある。このオプションの利点を図５を参照して説明する。図５は時間（ｔ）を示す水平軸と大きさ（Ｍ）を示す垂直軸とを有している信号のグラフである。破線は入力信号ＩＮを示し、実線はサンプル−ホールド回路（図示せず）によって得られる入力信号の時間−離散バージョンＩＮｔｄを示している。
図５の入力信号ＩＮが変換回路ＣＯＮＶに供給され、しかも各基準レベルＲＥＦとの入替えが例えば時間ｔ１とｔ２との間にて行われる場合には、この入替えの前と後に得られるディジタルコードの大きさが相違することになる。この大きさの相違は変換部品の非理想性に起因しているだけでなく、入力信号ＩＮそのものの変動にも起因している。このような相違は、後処理回路ＰＲＯＰが変換部品の非理想性による悪影響を相殺し得る程度に低減させることができる。しかし、入力信号の時間−離散バージョンＩＮｔｄを変換回路ＣＯＮＶに供給する場合には、斯様なパーフォーマンスの低減が生じなくなる。
上述したオプションに加えて、本発明を有利に実施する他のオプションは、入力信号の時間−離散バージョンＩＮｔｄのサンプリング速度の２倍で入替えを行なうことである。このオプションを図５に関連付けて図６に示してある。図６の時間軸ｔは図５の時間軸に相当する。サンプリング期間Δｔはｔ１とｔ２との差である。従って、サンプリング速度は１／Δｔである。図６は入替えを＋行と−行によって示しており、これらの行に比較すべきレベル、即ちＩＮｔｄ及びＲＥＦを位置させることができる。Δｔ／２の時間間隔後に、信号は２つの行にて相対的に位置を変え、即ち信号は入替えられる。
本発明を有利に実施する他のオプションは、図１の変換回路ＣＯＮＶに補間回路を設け、この補間回路を、比較を行なう入力段のアレイと、ディジタルコードＤＣを供給するラッチのアレイとの間に結合させることにある。このオプションの利点を図７につき説明する。図７は２つの入力段Ａ（ｉ）及びＡ（ｉ＋１）と、補間回路ＩＮＴと、３つのラッチＬＡ（ｊ），ＬＡ（ｊ＋１）及びＬＡ（ｊ＋２）とを示している。入力段Ａ（ｉ），Ａ（ｉ＋１）は入力信号ＩＮを各基準レベルＲＥＦ（ｉ）及びＲＥＦ（ｉ＋１）と比較し、これに応答してそれぞれの比較信号Ｃ（ｉ）及びＣ（ｉ＋１）を供給する。補間回路ＩＮＴは比較信号Ｃ（ｉ）及びＣ（ｉ＋１）に応答して３つのラッチ入力信号Ｌ（ｊ），Ｌ（ｊ＋１）及びＬ（ｊ＋２）を発生する。
図７の補間回路ＩＮＴがない場合には、３つのラッチ入力信号Ｌ（ｊ），Ｌ（ｊ＋１）及びＬ（ｊ＋２）を供給するために、２つでなく、３つの入力段が必要となる。この場合には、ＲＥＦ（ｉ）とＲＥＦ（ｉ＋１）との間の追加の基準レベルが必要となる。従って、補間回路ＩＮＴを設けることによって基準レベルの間隔をさらに離すことができる。前述したように、入力信号ＩＮと実際に比較される基準レベルは、変換部品の非理想性に一部起因して、公称基準レベルから或る程度ずれる。このずれによる偏差の大きさは、２つの隣接する実際の基準レベルが、これらに対応する公称基準レベルの大きさとは反対の高−低関係にある大きさとなる。この場合のＡ／Ｄ変換特性は単調なものでなくなり、かなりのひずみを生じることになる。
基準レベルの間隔を離間させるにつれて、偏差がさらに大きくなり、Ａ／Ｄ変換特性が単調でなくなる。従って、補間回路を用いることにより、公差、温度依存性等による、変換部品に課せられる要件をゆるめることができる。
図８は上述したオプションの特徴を含んでいる本発明によるＡ／Ｄ変換装置の一例を示す。この図８のＡ／Ｄ変換装置は、次のような主要部品、即ちサンプル−ホールド回路Ｓ＆Ｈと、スイッチング回路ＳＷ（１）---ＳＷ（Ｎ）のアレイと、変換回路ＣＯＮＶと、後処理回路ＰＯＰＲと、クロック回路ＣＬＫとを具えている。変換回路ＣＯＮＶは次のような部品、即ち、増幅器Ａ（１）---Ａ（Ｎ）のアレイと、折返し兼補間回路Ｆ＆Ｉと、ラッチ兼符号化回路Ｌ＆Ｅとを具えている。
図８のサンプル−ホールド回路Ｓ＆Ｈは、入力信号をその時間−離散バージョンＩＮｔｄに変換する。この時間−離散バージョンＩＮｔｄは、ぞれぞれの基準レベルＲＥＦ（１）---ＲＥＦ（Ｎ）と一緒にスイッチング回路ＳＷ（１）---ＳＷ（Ｎ）を経てそれぞれ増幅器Ａ（１）---Ａ（Ｎ）のアレイへと供給される。増幅器Ａ（１）---Ａ（Ｎ）のアレイは入力信号ＩＮの時間−離散バージョンと基準レベルＲＥＦ（１）---ＲＥＦ（Ｎ）との比較をそれぞれ行なう。これらの比較結果が折返し兼補間回路Ｆ＆Ｉにて処理されて、ラッチ入力信号Ｌ（１）---Ｌ（Ｘ）を発生する。ラッチ兼符号化回路Ｌ＆Ｅは、これに供給されるラッチ入力信号Ｌ（１）---Ｌ（Ｘ）からディジタルコードＤＣを取出す。後処理回路ＰＯＰＲはディジタルコードＤＣを処理して、ディジタル出力コードＤＯＣを発生する。これは、例えば図２ｂに示すようにして行なうことができる。クロック回路ＣＬＫはクロック信号Ｆckをスイッチング回路ＳＷ（１）---ＳＷ（Ｎ）のアレイと、後処理回路ＰＯＰＲとに供給する。クロック回路は、さらに、周波数がクロック信号Ｆckのそれぞれ１／２及び２倍のクロック信号Ｆck／２及び２Ｆckもサンプル−ホールド回路Ｓ＆Ｈ及びラッチ兼符号回路Ｌ＆Ｅにそれぞれ供給する。
なお、国際特許出願ＩＢ９６／００８３４、ＩＢ９６／００５３６及びＩＢ９６／００８６９（代理人の整理番号ＰＨＮ１５，４５０，ＰＨＮ１５，８４５及びＰＨＮ１５，９０９）には折返兼補間回路Ｆ＆Ｉに有利に適用し得る技法について記載されている。これらの出願も対応する出願と一緒に参考までにここに含めるものとする。
図９はディジタル信号処理回路ＤＳＰと、図１の基本原理によるＡ／Ｄ変換装置ＡＤＣとを具えている信号処理装置を示す。Ａ／Ｄ変換処理装置ＡＤＣはアナログ入力信号ＡＩＮに応答してディジタル信号ＤＩＮをディジタル信号処理回路ＤＳＰに供給する。ディジタル信号処理回路ＤＳＰはディジタル信号ＤＩＮを処理して所望なディジタル出力信号ＤＯＵＴを得る。
本発明は上述した例のみに限定されるものでなく、特許請求の範囲を逸脱することなく、幾多の変更を加え得ること勿論である。この点について次のようなことが云える。
様々なユニットにおける機能又は機能的な要素を物理的に広げる方法は多数ある。この点に関し、図面は極めて図式的なものであり、これらは本発明の可能な例をそれぞれ示したに過ぎない。さらに、本発明は幾つかの個別要素を具えているハードウェアによって実現したり、少なくとも部分的には適当にプログラムしたコンピュータによって実現したりすることができる。
サンプル−ホールドとは、例えばトラックホールドを含むように広義に解釈されるべきものとする。図８に示したサンプル−ホールド回路Ｓ＆Ｈは、例えば米国特許第５，２９８，８０１（代理人の整理番号ＰＨＮ１３，８３４）に記載されているようにして実現することができる。
括弧内の参照符号は特許請求の範囲を限定するものとして解釈すべきものではない。
【図面の簡単な説明】
図１は本発明の基本原理を概念的な図式形態にて示した図であり、
図２ａはディジタル出力コードを得る第１の方法を概念的な図式形態にて示した図であり、
図２ｂは図２ａの方法でディジタルコードを発生する後処理回路の例を示すブロック図であり、
図３ａ及び図３ｂはディジタル出力コードを得る第２の方法を概念的な図式形態にて示した図であり、
図３ｃは図３ａ〜図３ｂの方法でディジタルコードを発生する後処理回路の例を示すブロック図であり、
図４ａはディジタル出力コードを得る第３の方法を概念的な図式形態にて示した図であり、
図４ｂは図４ａの方法でディジタルコードを供給する後処理回路の例を示すブロック図であり、
図５は本発明を有利に実現するのに随意使用し得るサンプル−ホールド動作を信号の図式形態にて示した図であり、
図６は本発明を有利に実現するのに随意使用し得る入替え方法を概念的な図式形態にて示した図であり、
図７は本発明を有利に実現するのに随意使用し得る変換回路の例を示すブロック図であり、
図８は本発明によるＡ／Ｄ変換装置の例を示すブロック図であり、
図９は本発明によるディジタル信号処理装置のブロック図である。

Claims (8)

1. 入力信号（ＩＮ）と、少なくとも１つの基準レベル（ＲＥＦ）とのそれぞれの比較に基づいてディジタルコード（ＤＣ）を発生する変換回路（ＣＯＮＶ）を有しているＡ／Ｄ変換装置において、
   当該Ａ／Ｄ変換装置が、
   少なくとも１回の比較に対して、前記入力信号（ＩＮ）と、前記それぞれの基準レベルとの入替えをするスイッチング手段（ＳＷ）と、
   前記ディジタルコード（ＤＣ）を処理して、それぞれの極性及び大きさが少なくとも平均して、いずれの入替えにも実質上無関係となるディジタル出力コード（ＤＯＣ）を得る後処理手段（ＰＯＰＲ）とを具え、
   前記後処理手段（ＰＯＰＲ）が、
   入替え前のディジタルコード（ＤＯＣ（０）＋）と、入替え後のディジタルコード（ＤＯＣ（０）−）との和から誤差コード（ｃε）を導出する誤差導出手段（ＤＥＬ，ＡＬＵ）と、
   前記誤差コード（ｃε）を記憶する記憶手段（ＭＥＭ）と、
   他のディジタルコード（ＤＣ（ｉ））を前記誤差コード（ｃε）で補正して、ディジタル出力コード（ＤＯＣ（ｉ））を得る補正手段（ＳＵＢ）とを具えていることを特徴とするＡ／Ｄ変換装置。
2. 前記後処理手段（ＰＯＰＲ）を、前記ディジタル出力コード（ＤＯＣ（ｉ））が入替え前のディジタルコード（ＤＯＣ（ｉ）＋）と、入替え後のディジタルコード（ＤＯＣ（ｉ）−）との差（Δ）の関数として発生されるように構成したことを特徴とする請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置。
3. 前記スイッチング手段（ＳＷ）を前記入替えがランダムな方法で行われるべく構成し、且つ前記後処理手段（ＰＯＰＲ）が前記入替えに従って前記ディジタルコード（ＤＣ）を反転したり、しなかったりするためのインバータ（ＩＮＶ）を具えていることを特徴とする請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置。
4. 前記Ａ／Ｄ変換装置が、前記入力信号（ＩＮ）を前記変換回路（ＣＯＮＶ）に時間−離散法（ＩＮｄｔ）で供給するサンプル−ホールド手段（Ｓ＆Ｈ）を具えていることを特徴とする請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置。
5. 前記スッチング手段（ＳＷ）を前記入替えが前記サンプル−ホールド手段（Ｓ＆Ｈ）のサンプリング速度の２倍の速度で行われるように結合させたことを特徴する請求項４に記載のＡ／Ｄ変換装置。
6. 前記変換回路（ＣＯＮＶ）が、前記比較を行なう入力段（---Ａ（ｉ），Ａ（ｉ＋１）---）のアレイと、ディジタルコード（ＤＣ）を供給するラッチ（---Ｌ（ｊ），Ｌ（ｊ＋１），Ｌ（ｊ＋２）---）のアレイとの間に結合させた補間手段（ＩＮＴ）を具えていることを特徴とする請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置。
7. 入力信号（ＩＮ）と少なくとも１つの基準レベル（ＲＥＦ）との各比較に基いてディジタルコード（ＤＣ）を得るステップを具えているＡ／Ｄ変換方法において、当該方法が、
   前記入力信号と前記各基準レベルとを前記比較を行なう前に入替えるステップ（ＳＷ）と、
   前記ディジタルコード（ＤＣ）を処理して、それぞれの極性及び大きさが平均していずれの入替えにも実質上無関係となるディジタル出力コード（ＤＯＣ）を得るステップ（ＰＯＰＲ）と、
   入替え前のディジタルコード（ＤＯＣ（０）＋）と、入替え後のディジタルコード（ＤＯＣ（０）−）との和から誤差コード（ｃε）を導出するステップと、
   前記誤差コード（ｃε）を記憶するステップと、
   他のディジタルコード（ＤＣ（ｉ））を前記誤差コード（ｃε）で補正して、ディジタル出力コード（ＤＯＣ（ｉ））を得るステップと、
   を含むことを特徴とするＡ／Ｄ変換方法。
8. ディジタル信号処理回路（ＤＳＰ）及び該ディジタル信号処理回路にディジタル信号（ＤＩＮ）を供給するための請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置（ＡＤＣ）を具えている信号処理装置。

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