JP3871485B2 - 試験システム - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、試験機能を備えた感知器(例えば火災感知器)が知られている。図２８はこの種の感知器２−１〜２−ｎが伝送路３に接続され、また、各感知器２−１〜２−ｎを試験するための試験器６０が設けられたシステムの構成例を示す図である。この種の感知器２−１〜２−ｎを試験する場合、従来では、試験器６０から感知器に所定の試験コマンド(例えば、試験開始命令)を送出し、感知器は、この試験コマンドによって自己の感知器の試験を行ない、その試験結果を試験器６０に返送するようになっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、試験器６０から感知器に所定の試験コマンド(例えば、試験開始命令)を送出し、感知器は、この試験コマンドによって自己の感知器の試験を行ない、その試験結果を試験器６０に返送する上述した従来の方法では、感知器の試験に時間を要する場合、試験器６０は、この感知器の試験が終了するまで長時間待ち続けなければならず、試験器６０において試験に相当の時間を要するという問題があった。
【０００４】
本発明は、感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムを提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明は、感知器を試験する機能を備えた試験器を有する試験システムであって、
前記試験器は、試験機能を備えていない感知器に対しては、試験器の試験機能を用いて試験を行ない、試験機能を備えている感知器に対しては、該感知器が試験を行った試験結果を該感知器から取得するようになっており、
試験機能を備えている感知器は、試験器からの自己の感知器の試験を行わせる指令なしで自己の感知器の試験を行なう試験実行手段と、試験実行手段による試験結果が格納される試験結果記憶手段と、試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を返送させるコマンドの受信により該試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を送出する試験結果出力手段とを備えていることを特徴としている。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。図１を参照すると、この試験システムは、伝送路３に感知器(例えば火災感知器)２−１〜２−ｎ(ｎ≧１)が接続されており、また、伝送路３には、試験器１が接続されている。
【００２４】
図２は図１の試験システムの第１の具体例を示す図である。図２を参照すると、この試験システムでは、受信機１１からの伝送路３に感知器２−１〜２−ｎが接続されている。ここで、感知器２−１〜２−ｎは通信機能を有するオンオフ型感知器であり、受信機１１からの伝送路３は、Ｌ，Ｃ線路となっている。すなわち、この試験システムは、Ｐ型システムであって、このＬ，Ｃ線路に通信機能を有する感知器２−１〜２−ｎが接続されており、また、受信機１１自体に図１の試験器１として機能が備わったものとなっている。
【００２５】
なお、図２の例では、Ｌ，Ｃ線路の終端には、終端器１８が接続されている。また、図２の例では、受信機１１には、電源手段１６が設けられており、電源手段１６からの電源(電圧)がＬ，Ｃ線路に供給されるようになっている。
【００２６】
図２の例では、受信機１１が、監視制御システム(例えば防災システム)における受信機としての機能(感知器２−１〜２−ｎの作動状態を監視し、感知器２−１〜２−ｎから火災などの異常を検知したときに警報等を出力する機能)を備えているとともに、試験器１としての機能を有するものとなっている。
【００２７】
また、図３は図１の試験システムの第２の具体例を示す図である。図３を参照すると、この試験システムでは、受信機１１から延びる伝送路３に感知器２−１〜２−ｎが接続されている図２のようなシステムにおいて、受信機１１と感知器２−１〜２−ｎとの間に、感知器と通信を行なうことの可能な試験器１を受信機１１と並列に接続したものとなっている。なお、図３の試験システムにおいて、試験器１には、電源手段１７が設けられていても良い。
【００２８】
なお、図２，図３の各システム構成例において、感知器２−１〜２−ｎの全てが受信機１１あるいは試験器１との通信機能を有している必要はなく、一部のものは、受信機１１あるいは試験器１との通信機能を有していなくとも良い。すなわち、伝送機能(通信機能)をもつ感知器と伝送機能(通信機能)をもたない感知器を同一の伝送路に混在させることができる。
【００２９】
なお、以下では、説明の便宜上、各感知器２−１〜２−ｎは、全て同一の構造のものであって、受信機１１あるいは試験器１との通信機能を有しているものとする。
【００３０】
ところで、前述のように、試験器６０から感知器２−１〜２−ｎに所定の試験コマンド(例えば、試験開始命令)を送出し、感知器２−１〜２−ｎは、この試験コマンドによって自己の感知器の試験を行ない、その試験結果を試験器６０に返送する従来の方法では、感知器の試験に時間を要する場合、試験器は、感知器の試験が終了するまで長時間待ち続けなければならないという問題があった。
【００３１】
このような問題を解決するため、本発明では、試験器１，感知器２−１〜２−ｎを、図４，図７のような構成のものにしている。すなわち、図４は本発明に係る試験器１の構成例を示す図であり、また、図７は本発明に係る感知器の構成例を示す図である。
【００３２】
図４を参照すると、この試験器１は、試験を開始させる試験開始手段(例えば試験キー)１００と、試験開始手段１００の単一操作で、複数の感知器２−１〜２−ｎに対して試験を行なわせるための試験手段１０１と、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を個々に表示する試験結果表示手段１０２とを有している。
【００３３】
より具体的に、試験手段１０１は、第１の実施形態として、試験開始手段１００によって１つの操作がなされたときに(例えば、試験キーが１回操作されたときに)、各感知器２−１〜２−ｎに対して共通の試験コマンドを伝送路３に送出することで、各感知器２−１〜２−ｎに対して、まとめて(同時に)、試験を行なわせ、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を順次に受信することができる。
【００３４】
あるいは、試験手段１０１は、第２の実施形態として、試験開始手段１００によって１つの操作がなされたときに(例えば、試験キーが１回操作されたときに)、各感知器２−１〜２−ｎに対して、試験コマンドを各感知器２−１〜２−ｎのアドレスごとに順次に伝送路３に送出することで(各感知器２−１〜２−ｎに対して、各感知器２−１〜２−ｎのアドレス(後述のようなアドレス検索パルス)と組み合せた形で試験コマンドを順次に伝送路３に送出することで)、各感知器２−１〜２−ｎに対して、連続して(順次に)、試験を行なわせ、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を順次に受信することができる。
【００３５】
また、図５，図６には、試験結果表示手段１０２の例が示されている。なお、図５は試験結果表示手段１０２がＬＣＤ(液晶ディスプレイ)によって構成されている場合、また、図６は試験結果表示手段１０２がＬＥＤ(発光ダイオード)によって構成されている場合の例をそれぞれ示す図であり、図５，図６の例では、感知器２−１〜２−ｎの個数ｎは“２０”となっている。
【００３６】
また、図７を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、自己の感知器２−１の試験を試験器１などからの指令なしに、常時あるいは一定周期で試験を行なう試験実行手段１３と、試験実行手段１３による試験結果が格納される試験結果記憶手段１４と、所定の伝送路３から通信により送られるコマンドを受信するコマンド受信手段１２と、コマンド受信手段１２によって試験器１から試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)が受信されたときに、試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験器１に返送する試験結果出力手段１５とを備えている。
【００３７】
換言すれば、本発明では、感知器２−１〜２−ｎは、試験器１の指令なしで試験実行手段１３において試験を行なう機能を備え、その試験結果を試験結果記憶手段１４に格納し、試験器１からの試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)を受信したときに試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果を試験器１に返送するようになっている。
【００３８】
なお、図７の感知器において、試験実行手段１３は、例えば、試験項目ごとの試験を実行可能に構成されている。なお、試験項目としては、この感知器の出力値を監視する出力値監視試験(この感知器が正常に動作しているか否かを調べる試験)、また、この感知器が感度補償機能(感知器の汚れなどによる信号値のドリフト分を補償する機能)を有している場合にはこの感度補償機能を監視する感度補償機能監視試験(感度補償機能が正常に動作しているか否かを調べる試験)、また、疑似入力応答試験などの、各種の項目を設けることができ、試験実行手段１３は、これらの試験項目のうちの少なくとも１つを実行するようになっている。
【００３９】
図８は感知器，例えば２−１の具体例を示す図である。図８の感知器２−１は、煙濃度などの物理量を検出して電気信号(アナログ信号)に変換する物理量検出部２１と、該物理量検出部２１から出力されるアナログ信号を所定の周期でサンプルしてデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部２２と、この感知器のアドレスが設定されるアドレス部２３と、異常(例えば火災)判断などの感知器全体の制御を行なうＣＰＵ２４と、ＣＰＵ２４の制御プログラムなどが格納されるＲＯＭ２５と、各種のワークエリアなどとして使用されるＲＡＭ２６と、感知器固有の個別データなどが格納される不揮発性メモリ２７と、物理量検出部２１で検出されたＡ／Ｄ変換部２２でデジタル信号に変換された物理量の検出結果(Ａ／Ｄ変換部２２からの出力レベル)が、例えば所定の作動閾値レベル(例えば火災レベル)を越えてＣＰＵ２４で火災などの異常と判断されたときに、作動状態(オン状態)を表わす信号を伝送路３に出力する状態出力部２８と、例えば受信機１１あるいは試験器１との間で伝送路３を介した伝送を行なう伝送部(通信インタフェース部)２９とを備えている。
【００４０】
換言すれば、図８の例の感知器２−１は、所謂センサアドレス用感知器(その検出出力信号からすれば、オンオフ型感知器に属する)として構成されている。そして、図８の構成において、ＣＰＵ２４によって図７の試験実行手段１３，試験結果出力手段１５の機能を実現することができる。なお、感知器２−１の試験実行手段１３が試験を実行する周期は、ＣＰＵ２４のクロックあるいはタイマ手段(図示せず)などを用いて設定され、具体的には、１日ごとなど任意の周期の設定が可能である。
【００４１】
また、伝送部２９を図７のコマンド受信手段１２，試験結果出力手段１５として機能させることができる。すなわち、この場合、伝送部２９は、所定のコマンド(例えば試験コマンド)を受信可能に構成され、また、試験結果を伝送路３に送出する機能を有しているとする。
【００４２】
また、図８の構成において、ＲＡＭ２６あるいは不揮発性メモリ２７を図７の試験結果記憶手段１４として機能させることができる。また、試験結果記憶手段１４に記憶される試験結果は、正常／故障の判別のみの試験結果、特定の項目の試験結果、あるいは、全ての項目についての試験結果など、試験結果記憶手段１４のメモリ容量などにあわせて任意のものとすることが可能である。
【００４３】
また、図７，図８のような感知器が図２，図３の監視制御システム(例えば防災システム)に用いられる場合、受信機１１には、アドレッサブルなｐ型受信機が用いられる。
【００４４】
この場合、受信機１１は、監視レベルを例えば伝送路３のＬ，Ｃ間の電位が２４Ｖのところに設定し、また、感知器の作動レベル(オンレベル)を例えばＬ，Ｃ間の電位が５Ｖのところに設定し、また、短絡レベルを例えばＬ，Ｃ間の電位が０Ｖのところに設定することができる。
【００４５】
このようなシステム構成に対応させて、図８の感知器の状態出力部２８は、この感知器の作動状態(オン状態)を表わす信号として、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位をオンレベル５Ｖにするようになっている。
【００４６】
また、受信機１１は、感知器２−１〜２−ｎのうち少なくとも１つの感知器が作動して(オンになって)、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位がオンレベル５Ｖになったことを検知すると、アドレス検索パルスを感知器の短絡レベル(０Ｖ)とオンレベル(５Ｖ)の電位を利用して作成し、伝送路３を介して各感知器２−１〜２−ｎに送出するようになっている。
【００４７】
図８の感知器の伝送部２９は、受信機１１からのこのようなアドレス検索パルスを伝送路３，すなわちＬ，Ｃ線路を介して受信するように構成されており、伝送部２９でアドレス検索パルスを受信するとき、この感知器のＣＰＵ２４は、これまでに受信したアドレス検索パルスの個数を計数(カウント)し、この計数値(カウント値)がこの感知器のアドレス部２３に設定されているアドレスと一致するか否かを判断し、一致したときに、自己の感知器の状態(オン状態あるいはオフ状態)を伝送部２９に与え、これにより、伝送部２９は、例えば、自己の感知器の状態がオン状態のときにのみ、その旨の信号を伝送路３，すなわちＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に通知するようになっている。具体的に、伝送部２９は、アドレスが一致したときに、自己の感知器の状態がオン状態である旨の信号として、例えば伝送路３のＬ，Ｃ間の電位を所定期間、０Ｖに保持して(所定期間、短絡(ショート)状態に保持して)受信機１１に伝送するようになっている。これにより、受信機１１は、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位が所定期間、０Ｖに保持された状態になったかを監視し、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位が所定期間、０Ｖに保持された状態になったときに、このときまでに送出したアドレス検索パルスの個数に相当するアドレスをもつ感知器が作動状態(オン状態)にあると特定することができる。
【００４８】
また、受信機１１あるいは試験器１が上述の第２の実施形態のようにアドレスを順次に指定して試験を行なうときには、試験器１からのアドレス検索パルスの個数の計数値(カウント値)がこの感知器のアドレス部２３に設定されているアドレスと一致し、さらに、試験器１から試験に関するコマンド(試験コマンド)が送られたときに、この感知器は、試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験結果出力手段１５によって試験器１に返送するようになっている。
【００４９】
次に、このような構成の試験システムの処理動作について説明する。なお、以下では、説明の便宜上、図１(図２，図３)のシステムにおいて、各感知器２−１〜２−ｎは、全て図７(図８)の構造のもの(アドレスを有するオンオフ型感知器)となっているとし、また、受信機１１には、アドレッサブルなｐ型受信機が用いられるものとする。
【００５０】
図９，図１０は本発明の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。なお、図９は試験器１における処理動作を示すフローチャートであって、図９の例では、試験器１の試験手段１０１は、各感知器２−１〜２−ｎに対して、連続して(順次に)、試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)を送出するようになっている。また、図１０は感知器，例えば２−１の処理動作を示すフローチャートである。
【００５１】
図９を参照すると、試験器１の試験手段１０１は、試験開始手段(例えば試験キー)１００が操作されると（ステップＳ１）、感知器のアドレスＮを“１”に初期設定する（ステップＳ２）。次いで、アドレスＮと試験コマンドとを組み合せて出力し、アドレスＮの感知器から試験結果を返送させる（ステップＳ３）。いまの場合、アドレスＮは“１”であるので、このアドレス“１”に対応する感知器２−１に試験コマンドを与え、この試験コマンドが感知器２−１のコマンド受信手段１２で受信されると、感知器２−１の試験結果出力手段１５は、この感知器２−１の試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験器１に返送する。これにより、試験器１の試験手段１０１は、感知器２−１からの試験結果を受信し、試験結果表示手段１０２に感知器２−１からの試験結果を表示する（ステップＳ４）。
【００５２】
次いで、アドレスＮを“１”だけ歩進し（ステップＳ５）、アドレスＮをもつ感知器が存在するか否かを判断し（ステップＳ６）、存在する場合には、ステップＳ３に戻る。いまの場合、ステップＳ５でアドレスＮは“２”となり、ステップＳ６において、このアドレス“２”に対応する感知器２−２が存在するので、ステップＳ３に戻り、この感知器２−２に試験コマンドを与え、この感知器２−２から試験結果を返送させる。
【００５３】
このようにして、アドレスＮを“１”から“ｎ”まで順次に歩進させて、アドレス“１”〜“ｎ”に対応する感知器２−１〜２−ｎから試験結果を順次に返送させ、試験結果表示手段１０２に感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を表示する。そして、ステップＳ６において、アドレスＮが“ｎ＋１”となり、このアドレス“ｎ＋１”をもつ感知器が存在しなくなったときに、試験を終了する。
【００５４】
また、図１０を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、通常は、火災などの異常を監視しており（ステップＴ１）、所定の時間周期(一定周期)で、自己の感知器２−１の試験を行なう（ステップＴ２乃至Ｔ４）。すなわち、ステップＴ２では、試験実行時期となったか否かを判断し、試験実行時期となったときには、ステップＴ３において、この感知器２−１は自己の試験を実行し、ステップＴ４では、その試験結果を試験結果記憶手段１４に記憶する。
【００５５】
一方、ステップＴ２において、試験実行時期となっていないときには、前述したように、試験器１からの試験コマンドを受信したかを判断し（ステップＴ５）、試験器１からの試験コマンドを受信したときには、試験結果出力手段１５は、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果を試験器１に返送する（ステップＴ６）。
【００５６】
このように、本発明では、感知器，例えば２−１は、自己の感知器２−１の試験を試験器１などからの指令なしに、常時あるいは一定周期で試験を行なって、その試験結果を試験結果記憶手段１４に格納し、試験器１から試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)を受信したときに、試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験器１に返送するようにしているので、感知器２−１の試験に時間を要する場合にも、試験器１は、感知器２−１の試験が終了するまで長時間待ち続ける必要がなく、試験器１における試験に要する時間を短縮することができる。すなわち、本発明では、感知器自体の試験に時間がかかる場合でも、感知器は試験コマンドを受信した時には、予め記憶された試験結果を試験器１に返送するだけなので、試験器１においては試験に要する時間は少なくて済む(すなわち、短縮できる)。
【００５７】
また、上述の例では、試験器１において、最初に１回、試験キーを操作するだけで、全ての感知器２−１〜２−ｎの試験結果を得ることができ(図９の例では、試験結果を連続して(順次に)得ることができ)、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果が図５あるいは図６の試験結果表示手段１０２に自動的に表示されるので、複数の感知器２−１〜２−ｎの個々の感知器をその都度指定せずとも、全ての感知器２−１〜２−ｎの試験を自動的に行なうことができる。これにより、試験器１における試験に要する時間をより一層短縮することができる。
【００５８】
特に、感知器の試験結果記憶手段１４に記憶される試験結果が、正常／故障の判別のみ、の試験結果である場合には、より迅速な試験が可能となり、感知器に異常(故障など)がある場合にはその時点(リアルタイム)での異常原因を調査することが可能となる。
【００５９】
なお、上述の例では、試験器１において、最初に１回、試験キーを操作するだけで、全ての感知器２−１〜２−ｎの試験結果を得ることができるようになっており、この場合には、上述のように試験器１における試験に要する時間をより一層短縮することができるという利点があるが、試験器１については、従来と同様に、複数の感知器２−１〜２−ｎのうちの単一の感知器をその都度指定するようになっていても良い。
【００６０】
また、上述の例では、感知器，例えば２−１は、ＣＰＵ２４によって常時あるいは一定周期で試験を行なうようになっているとしたが、感知器２−１に試験端子を設け、この試験端子から試験開始信号を入力させて、感知器２−１に試験を実行させても良い。
【００６１】
図１１は試験端子を備えた感知器の構成例を示す図である。図１１を参照すると、この感知器２−１は、図７の構成において、さらに、試験を行なわせるための試験開始信号(例えばトリガ信号)を入力可能な試験開始信号入力手段としての試験端子１９が設けられたものとなっており、この場合、試験実行手段１３は、試験開始信号入力手段としての試験端子１９に試験開始信号(トリガ信号)が入力されたときに、この感知器の試験処理を実行するようになっている。
【００６２】
ここで、試験開始信号入力手段としての試験端子１９は、例えば、一対の端子１９ａ，１９ｂによって構成され、例えば、一対の端子１９ａ，１９ｂ間をスイッチ等を設けて短絡(ショート)したり、一対の端子１９ａ，１９ｂ間に例えば所定の電圧を印加することなどによって、試験開始信号(トリガ信号)を入力可能となっている。
【００６３】
図１２は図１１の感知器２−１の具体例を示す図である。図１２の例では、この感知器２−１は、図８の感知器２−１において、さらに、試験開始信号入力手段としての試験端子１９(１９ａ，１９ｂ)と、試験結果を出力(表示)するための表示灯や表示器などの出力部３０とが設けられたものとなっている。
【００６４】
なお、上述の例では、試験開始信号入力手段が試験端子１９(１９ａ，１９ｂ)によって構成されているものとしたが、試験開始信号入力手段としては、試験開始信号を入力可能なものであれば、上記一対の端子１９ａ，１９ｂの構成に限らず、任意の構成のもの、例えば、任意の端子，任意のスイッチなどを用いることができる。
【００６５】
また、図７（図８）あるいは図１１（図１２）の感知器２−１の構成例において、感知器２−１自体に、試験結果を表示する試験結果表示手段が設けられていても良い。
【００６６】
図１３は、例えば図７の構成例において、試験結果を表示する試験結果表示手段５１がさらに設けられている感知器２−１の一例を示す図である。また、図１４は、図１３の感知器２−１の具体例を示す図であり、図１４の例では、図８の感知器２−１において、表示灯６０がさらに設けられている。
【００６７】
また、図１５は感知器２−１が図１３（図１４）の構成となっているときの感知器２−１における試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【００６８】
図１５を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、通常は、火災などの異常を監視しており（ステップＴ１）、所定の時間周期(一定周期)で、自己の感知器２−１の試験を行なう（ステップＴ２乃至Ｔ４）。すなわち、ステップＴ２では、試験実行時期となったか否かを判断し、試験実行時期となったときには、ステップＴ３において、この感知器２−１は自己の試験を実行し、ステップＴ４では、その試験結果を試験結果記憶手段１４に記憶する。
【００６９】
一方、ステップＴ２において、試験実行時期となっていないときには、前述したように、試験器１からの試験コマンドを受信したかを判断し（ステップＴ５）、試験器１からの試験コマンドを受信したときには、試験結果出力手段１５は、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果を試験器１に返送する（ステップＴ６）。それとともに、この感知器２−１は、この感知器２−１に設けられている試験結果表示手段５１（表示灯６０）に、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果に基づく表示を行なう（ステップＴ７）。
【００７０】
具体的に、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させる。なお、表示灯６０の点灯は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０を連続駆動さることでなされ、また、表示灯６０の点滅は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０をパルス（断続）駆動させることでなされる。そして、表示灯６０の点灯／点滅動作を停止させるには、受信機１１からの復旧操作による。
【００７１】
このように、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させることにより、例えば保守点検者は、この感知器２−１の表示灯６０の状態を見るだけで、この感知器２−１が正常か正常でない（故障）かを直ちに把握することができる（試験結果が正常でないとき（故障のとき）は感知器の表示灯６０が点滅するので、正常でない感知器（故障感知器）を容易に確認することができる）。
【００７２】
すなわち、具体的に、例えば図２のようにＰ型システムに接続されている感知器２−１〜２−ｎの遠隔試験を前述のように行なった場合、Ｌ，Ｃ線路に正常でない感知器（故障感知器）が存在することがわかったとき、感知器２−１〜２−ｎのどの感知器が正常でないか（故障しているか）を、各感知器２−１〜２−ｎの表示灯の状態を見ることで（点滅している表示灯の感知器がどれかを見ることで）、直ちに把握することができる。
【００７３】
このように、図１３，図１４の構成例では、感知器の試験結果が正常の場合には、この感知器の表示灯６０が点灯すると同時に、正常である旨の試験結果がＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送され、また、感知器の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、この感知器の表示灯６０が点滅すると同時に、正常でない旨（故障である旨）の試験結果がＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送される。より具体的に、正常である旨の試験結果は、例えば火災信号としてＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送され、この場合、受信機１１が発報する。これに対し、正常でない旨（故障である旨）の試験結果は、パルスとしてＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送され、このパルスにより受信機１１は感知器が正常でない旨（故障である旨）の表示を行なう。
【００７４】
図１３，図１４は、図７，図８の変形例として構成されているが、図７，図８を図１３，図１４に変形したと全く同様に、図１１，図１２を変形することもできる。
【００７５】
また、図１３，図１４の構成例では、感知器の試験結果に基づいて試験結果表示手段５１（表示灯６０）の表示を行なうとともに、感知器の試験結果を受信機１１に返送したが、感知器の試験結果に基づいて試験結果表示手段５１（表示灯６０）の表示を行なうだけの機能を感知器にもたせることもできる。
【００７６】
図１７，図１８は図１３，図１４（図７，図８）の変形例をそれぞれ示す図であり、図１７，図１８の例では、図１３，図１４において試験結果出力手段１５，状態出力部２８が設けられていない。すなわち、図１７，図１８の例では、感知器の試験結果を表示するための試験結果表示手段５１（表示灯６０）だけが設けられた構成となっており、試験結果を受信機１１に返送する機能は有していない。
【００７７】
図１９は感知器２−１が図１７（図１８）の構成となっているときの感知器２−１における試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【００７８】
図１９を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、通常は、火災などの異常を監視しており（ステップＴ１）、所定の時間周期(一定周期)で、自己の感知器２−１の試験を行なう（ステップＴ２乃至Ｔ４）。すなわち、ステップＴ２では、試験実行時期となったか否かを判断し、試験実行時期となったときには、ステップＴ３において、この感知器２−１は自己の試験を実行し、ステップＴ４では、その試験結果を試験結果記憶手段１４に記憶する。
【００７９】
一方、ステップＴ２において、試験実行時期となっていないときには、前述したように、試験器１からの試験コマンドを受信したかを判断し（ステップＴ５）、試験器１からの試験コマンドを受信したときには、この感知器２−１は、この感知器２−１に設けられている試験結果表示手段５１（表示灯６０）に、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果に基づく表示を行なう（ステップＴ７）。
【００８０】
具体的に、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示したように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示したように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させる。なお、表示灯６０の点灯は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０を連続駆動させることでなされ、また、表示灯６０の点滅は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０をパルス（断続）駆動させることでなされる。そして、表示灯６０の点灯／点滅動作を停止させるには、受信機１１からの復旧操作による。
【００８１】
このように、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させることにより、例えば保守点検者は、この感知器２−１の表示灯６０の状態を見るだけで、この感知器２−１が正常か正常でない（故障）かを直ちに把握することができる（試験結果が正常でないとき（故障のとき）は感知器の表示灯６０が点滅するので、正常でない感知器（故障感知器）を容易に確認することができる）。
【００８２】
すなわち、具体的に、例えば図２のようにＰ型システムに接続されている感知器２−１〜２−ｎの遠隔試験を前述のように行なった場合、Ｌ，Ｃ線路に正常でない感知器（故障感知器）が存在することがわかったとき、感知器２−１〜２−ｎのどの感知器が正常でないか（故障しているか）を、各感知器２−１〜２−ｎの表示灯の状態を見ることで（点滅している表示灯の感知器がどれかを見ることで）、直ちに把握することができる。
【００８３】
なお、図１７，図１８は、図７，図８の変形例として構成されているが、図７，図８を図１７，図１８に変形したと全く同様に、図１１，図１２を変形することもできる。
【００８４】
上述の各例では、感知器２−１〜２−ｎが図８，図１２，図１４，図１８のようなセンサアドレス用感知器として構成されているとして説明したが、感知器としては、図８の例では、少なくとも、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果出力手段１５と、さらに図１２の例では試験開始信号入力手段(例えば試験端子)１９とを備えたものであれば良く、また、図１４の例では、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果出力手段１５と、試験結果表示手段５１とを備えたものであれば良く、また、図１８の例では、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果表示手段５１とを備えたものであれば良く、任意の型式の感知器(例えば、アナログ型感知器，通常のオンオフ型感知器)にも適用することができる。また、図８，図１２，図１４，図１８の構成例において、アドレス部２３，不揮発性メモリ２７などは、必ずしも設けられていなくとも良い。
【００８５】
また、本発明の試験方法は、感知器のみならず、任意の中継器にも適用することができる。すなわち、中継器に感知器が接続される場合、この中継器に、少なくとも、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果出力手段１５および／または試験結果表示手段５１と、さらには試験開始信号入力手段(例えば試験端子)１９とをもたせ、この中継器並びにこの中継器に接続されている感知器の試験を行なうこともできる。
【００８６】
また、上述の各例では、監視制御システムが例えば防災システムであるとし、この場合、感知器が例えば火災感知器であるとしたが、本発明は、防災システムに限定されず、防犯システムなどの任意のシステムにも適用できる。また、この場合、火災感知器に限定されず、防犯感知器などの任意の感知器にも本発明を適用できる。
【００８７】
また、図１(図２，図３)の試験システムの構成例において、感知器２−１〜２−ｎおよび／または試験器１に、感知器２−１〜２−ｎの汚れ量を検知する機能をもたせることもできる。図２０は、図１のシステム構成において、汚れ量を検知する機能を有する感知器の構成例を示す図である。なお、図２０では、説明の便宜上、１つの感知器２−１だけが示されている。図２０を参照すると、感知器を試験する試験システムにおいて、感知器，例えば２−１は、感知器２−１の汚れ量を検出する汚れ検出手段４１と、試験器からの指令によって汚れ検出手段４１で検出した汚れ量を試験器１に返送する返送手段４２とを有し、試験器１は、感知器２−１の返送手段４２から汚れ量を受信したときには、該汚れ量の表示を行なうようになっている。
【００８８】
従来のオンオフ型感知器では、感知器が汚れてもそれを検出する手段がなく、感度試験を行なわなければ汚れの有無を検出することはできなかったが、図２０の構成では、試験器１を用いて汚れ量を表示することができるので、感知器の感度試験などを行なわなくても感知器が正常に作動するかを確認することができる。
【００８９】
図２１は図２０の感知器の具体例を示す図であり、図２１では、感知器，例えば２−１には、感度を補償する感度補償手段４３が設けられており、汚れ検出手段４１は、感度補償手段４３における感度の補償量を汚れ量として検出するようになっている。ここで、感度補償機能を有する感知器としては、例えば特開平１０−２５５１７６号に示されているものを用いることができる。
【００９０】
図２２は感度補償機能を有するオンオフ型感知器の一例を示す図である。図２２を参照すると、このオンオフ型の感知器，例えば２−１には、煙濃度などの所定の物理量を検出する物理量検出手段３１と、物理量検出手段３１からの出力レベルＯＵＴ1を所定の周期(サンプル周期Ｔ)でサンプルするサンプル手段３３と、物理量検出手段３１からの出力レベルＯＴ1(ＯＵＴ1)に対する補償用データＲ1の初期値(例えば、出力レベルのドリフト成分と同じ値)Ｄ1が設定される初期値設定手段３４と、感度補償値Ｅ1を保持する感度補償値保持手段３５と、初期値設定手段３４に設定されている補償用データＲ1の初期値Ｄ1に感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1を加算した値が補償用データＲ1として設定(更新設定)される補償用データ設定手段３６と、サンプル手段３３による出力レベルＯＴ1のサンプル回数ＳＰを計数するサンプル回数計数手段４０と、サンプル手段３３によってサンプルした出力レベルＯＴ1と補償用データ設定手段３６に設定されている補償用データＲ1との大小を比較し、その比較結果に応じて計数値ＣＮＴが増減する補償用計数手段(補償用カウンタ)３７と、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達したときに、その時点での補償用計数手段３７の計数値ＣＮＴに応じて感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1を変更する感度補償値変更手段３８と、サンプル手段３３によってサンプルした出力レベルＯＴ1を補償用データ設定手段３６に設定されている補償用データＲ1によって補償する補償手段３９と、補償手段３９からの補償されたレベルＯ1を所定の作動閾値レベル(例えば火災報レベル)ＡＬと比較して火災やガス漏れなどの異常の判断を行なう判断手段７０と、判断手段７０による判断の結果を出力する判断結果出力手段７１とが設けられている。
【００９１】
このような感度補償機能を備えた感知器，例えば２−１の具体例としては、これを前述した図８の構成と同様の構成のものにすることができる。すなわち、所謂センサアドレス用感知器(その検出出力信号からすれば、オンオフ型感知器に属する)として構成することができる。
【００９２】
図８のような感知器に感度補償機能をもたせる場合、図２２の物理量検出手段３１，サンプル手段３３は、図８の物理量検出部２１，Ａ／Ｄ変換部２２にそれぞれ対応し、また、図２２のサンプル回数計数手段４０，補償用計数手段３７，感度補償値変更手段３８，補償手段３９は、図８のＣＰＵ２４によって実現され、また、図２２の初期値設定手段３４，感度補償値保持手段３５，補償用データ設定手段３６は、図８のＲＡＭ２６および／または不揮発性メモリ２７によって実現される。
【００９３】
図２２(図８)のように、オンオフ型の感知器に感度補償機能をもたせる場合、感知器のＣＰＵ２４は、Ａ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1を、図２３(ａ)乃至(ｄ)，図２４，図２５(ａ)に示すようにして、感知器自体で感度を補償することができる。
【００９４】
すなわち、図２３(ａ)乃至(ｄ)は感度補償値の変更処理の一例を示す図である。また、図２４(ａ)，(ｂ)には、図２３(ａ)，(ｂ)の一部を時間軸の方向に拡大した状態が示されている。図２３(ａ)，図２４(ａ)は火災等が発生していない正常な環境状態の下でのある１つのアナログ式感知器，例えば２−１(例えば、光電式煙感知器)のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1(サンプルされた出力レベル(サンプル周期＝Ｔ))の変動の一例を示す図であり、図２３(ａ)，図２４(ａ)の例では、このアナログ式感知器(光電式煙感知器)２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルは、初期状態においてドリフト成分Ｄ1を有しており、その後、感知器の汚れ等によって時間とともに増加する傾向にある。すなわち、図２３(ａ)の例は、数ヶ月や１年などのように相当長期間にわたる感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルの経年変化曲線となっている。また、図２３(ａ)乃至(ｄ)はノイズなどの一時的な要因が出力レベルＯＴ1に含まれていない場合のものである。また、図２３(ａ)には、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達したときの状態も示されている。なお、この場合の所定回数ＳＰ0としては、出力レベルの変化が数ヶ月や１年といった長期間にわたるものを想定しているので、これに見合った回数(相対的に大きな回数)(ＳＰ0＝ＳＰ1)のものが用いられる。
【００９５】
感知器２−１が図２２のような構成となっている場合、図２３(ａ)，図２４(ａ)に示すようなアナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1に対して、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴ，感度補償値Ｅ1，補償用データＲ1は、それぞれ、図２３(ｂ)(図２４(ｂ))，図２３(ｃ)，図２３(ｄ)に示すように更新される。
【００９６】
すなわち、補償用データＲ1は、図２３(ｄ)に示すように、当初、ドリフト成分と同じ値Ｄ1に初期設定され、その後、感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1の汚れ等による変化に応じて、図２３(ｂ)，図２４(ｂ)のように補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴが変化する。そして、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達すると、感度補償値変更手段３８は、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴが所定回数ＳＰ0の例えば５０％を越えたかを判断し、計数値ＣＮＴが所定回数ＳＰ0の５０％を越えると、感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1は、図２３(ｃ)に示すように、計数値ＣＮＴの絶対値が所定回数ＳＰ0の５０％を越えたときの計数値ＣＮＴの符号(図２３(ｂ)の例では正)に応じた方向に更新(変更)される。すなわち、図２３(ｃ)の例では、感度補償値Ｅ1は、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴの絶対値が所定の閾値ＴＨ1を越える都度、“１”ずつ増加する(更新される)。そして、補償用データＲ1は、図２３(ｄ)に示すように、上記のように更新される感度補償値Ｅ1に従って更新される。
【００９７】
なお、図２３(ａ)には、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1とともに、この出力レベルＯＴ1に対する補償用データＲ1(図２３(ｄ))に示されている補償用データＲ1)も比較のために示されている。図２３(ａ)において、出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1を差し引いたレベル(値)は、時間が経過してもほぼ“０”に近い値となり、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルから、ドリフト成分Ｄ1とともに、汚れ等による経時変化，経年変化を補償(除去)したものとなっていることがわかる。従って、補償手段３９で出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1を差し引いたレベル(値)Ｏ1を算出し、この補償されたレベルＯ1を用いて、火災やガス漏れなどの異常の判断を行なうことで、感知器の汚れ等によって出力レベルが変動する場合にも、これらの影響を低減して、異常の判断を正確に行なうことが可能となる。
【００９８】
また、図２５(ａ)乃至(ｄ)は感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルに、数ヶ月や１年などの長期の期間にわたって一時的なノイズＮＳによる影響が含まれている場合の感度補償処理動作を示す図である。この場合、図２５(ｂ)に示すように、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴ’には、その最適な計数値ＣＮＴ(出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれていない場合の図２３(ｂ)に示すような計数値ＣＮＴ)に対し、一時的なノイズＮＳの影響によるずれが生ずるが、図２２の感知器の構成では、感度補償値変更手段３８は、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達したときに、そのときの補償用計数手段３７の計数値ＣＮＴ’の絶対値がサンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数の所定回数ＳＰ0の５０％を越えた場合に感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1’を変更するので、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴの絶対値がサンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数の所定回数ＳＰ0の５０％を越えたか否かの判断において、ＣＮＴ’のＣＮＴからのずれの影響は非常に少なくなり(すなわち、出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれているとしても、計数値ＣＮＴ’へのその累積的な影響は非常に少なくなり)、感度補償値Ｅ1’は、図２５(ｃ)に示すように、その最適な感度補償値Ｅ1(出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれていない場合の図２３(ｃ)に示すような感度補償値Ｅ1)とほぼ同じになる。これにより、補償用データＲ1’も図２５(ｄ)に示すように、最適な補償用データＲ1(図２３(ｄ)に示すような補償用データＲ1)とほぼ同じものとなり、出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれる場合にも、その累積的な影響を著しく低減できる。
【００９９】
なお、図２５(ａ)には、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1とともに、この出力レベルＯＴ1に対する補償用データＲ1’(図２５(ｄ)に示されている補償用データＲ1’)も示されている。図２５(ａ)において、出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1’を差し引いたレベル(値)は、図２３(ａ)において、出力レベルから補償用データＲ1を差し引いたレベル(値)とほぼ同じものとなり、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1から、ドリフト成分Ｄ1とともに、汚れ等による経時変化，経年変化を補償(除去)しただけのものとなり、一時的なノイズＮＳの影響はほとんど含んでいないことがわかる。従って、出力レベルＯＴ1にノイズなどの一時的な要因が含まれる場合にも、出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1’を差し引いたレベル(値)を用いて、火災やガス漏れなどの異常の判断を正確に行なうことが可能となる。
【０１００】
このように、図２２の例によれば、感度を補償するための補償用データＲ1が数ヶ月や１年などの長期的な一時的要因によって最適な値から変化してしまうという事態を有効に防止することができ、長期的な一時的要因がある場合にも、火災やガス漏れなどの異常の判断を正確に行なうことができる。すなわち、感度補償値Ｅ1の変更の要否を、一定期間(サンプル回数)に区切って判断しているため、長期的な一時的要因により出力レベルが変動しても、その影響を著しく低減でき、最適な感度補償値を維持することができる。
【０１０１】
これにより、感度を補償するための補償用データが例えば長期的な要因によって最適な値から変化してしまうという事態を有効に防止することができる。
【０１０２】
なお、この場合も、補償用計数手段３７の計数値ＣＮＴのサンプル回数(一定回数)ＳＰ0に対する割合(比)が例えば５０％を越えることを条件として、感度補償値Ｅ1を変更することができるが、この比は、５０％に限定されず、必要に応じて、任意の比のものを用いることができる。
【０１０３】
そして、このオンオフ型の感知器では、このようにして感度補償された出力レベルＯを、例えばＲＡＭ２６や不揮発性メモリ２７内に設定された作動閾値レベル(例えば火災報レベル)ＡＬと比較して、火災判断処理等を行なうことができる。具体的に、この感知器は、感度補償がなされた出力レベル(例えば煙濃度)ＯをＲＡＭ２６や不揮発性メモリ２７内に設定されている作動閾値レベルＡＬと比較し、感度補償がなされた出力レベルＯが作動閾値レベルＡＬを越えたときに火災などの異常として判断することができる。
【０１０４】
このように、感知器が感度補償機能を有している場合、すなわち、感知器が図２１の構成となっている場合、汚れ検出手段４１は、感度の補償量，上述の例ではＲ1を汚れ量として検出することができる。
【０１０５】
また、上述の例では、オンオフ型の感知器がセンサアドレス用感知器として構成されているとして説明したが、感度補償機能を有するものであれば、任意の型式のオンオフ型感知器に適用することができる。また、このような感度補償機能，汚れ検出機能だけに着目するとき、図８の構成例の感知器において、アドレス部２３などは、必ずしも設けられていなくとも良い。
【０１０６】
また、上述の例では、オンオフ型感知器に感度補償機能，汚れ検出機能をもたせるとしたが、上記のような感度補償機能，汚れ検出機能は、例えば中継器などにもたせることもできる。
【０１０７】
また、図２６は図２０の感知器の他の具体例を示す図である。図２６の感知器は、煙検出部４４を有する煙感知器であって、該感知器には、該感知器の製造時における煙検出部４４からの出力値を記憶する記憶手段４５が設けられており、汚れ検出手段４１は、記憶手段４５に記憶されている出力値と煙検出部４４からの最新の出力値とを比較することで汚れ量を検出するようになっている。
【０１０８】
また、上述の例(図２０，図２１，図２６)では、感知器内に汚れ検出手段４１を設けたが、汚れ検出を試験器１において行なうこともできる。すなわち、感知器を試験する図１のような試験システムにおいて、感知器２−１〜２−ｎは、試験器１との間で通信を行なう機能を有し、感知器２−１〜２−ｎは、該感知器２−１〜２−ｎの汚れ検出に必要な情報を試験器１に送り、試験器１は、感知器２−１〜２−ｎから送られた汚れ検出に必要な情報に基づいて汚れ検出を行ない、検出した汚れ量を表示するように構成することもできる。
【０１０９】
なお、図２０，図２１，図２６のシステムにおいて、試験器１における汚れ量の表示方法としては、感知器が煙感知器ならば煙濃度換算にして表示するのが容易であるが、この場合、直感的な判断が行ないにくい。そこで、煙濃度の増加分(＝汚れ量)に対する経過日数(月数)から、汚れ補償限界までの日数を算出し、その日数を表示する方法(例えば、「感知器清掃時期まであと約６ヶ月」などの方法)を用いると、具体的な清掃時期(交換時期)の把握が可能である。この場合、感知器にカレンダー機能を付加して算出する方法や、感知器の製造時の煙検出部の出力値とともにその記憶した日時を記憶し、試験器に汚れ量を取り込む際にその日時も同時に取り込み、試験器内の日時情報から算出する方法などが考えられる。
【０１１０】
図２７はこの算出方法の簡単な一例である。図２７では、２４ヶ月経過時において煙濃度は４％／ｍとなっている。煙濃度と経過日時の関係が１次関数的なものとして推移すると仮定すると、３０ヶ月の時点でこの煙感知器は汚れ補償限界に達する。そこで、この場合、試験器１では、例えば「清掃時期まで後６ヶ月」旨の表示を行なうことができる。また、この表示を、図５や図６で示された試験器の表示部で行なうことも可能である。例えば、清掃時期までの月数を○印の個数で表示したり、清掃が必要な場合には×印を表示する方法で行なうことができる。
【０１１１】
上述の各例では、監視制御システムが例えば防災システムであるとしたが、本発明は、防災システムに限定されず、防犯システムなどの任意のシステムにも適用できる。また、この場合、受信機や感知器は火災監視用のものに限定されず、防犯監視用などの任意の受信機や感知器にも本発明を適用できる。
【０１１２】
【発明の効果】
以上に説明したように、請求項１記載の発明によれば、感知器を試験する機能を備えた試験器を有する試験システムであって、前記試験器は、試験機能を備えていない感知器に対しては、試験器の試験機能を用いて試験を行ない、試験機能を備えている感知器に対しては、該感知器が試験を行った試験結果を該感知器から取得するようになっており、試験機能を備えている感知器は、試験器からの自己の感知器の試験を行わせる指令なしで自己の感知器の試験を行なう試験実行手段と、試験実行手段による試験結果が格納される試験結果記憶手段と、試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を返送させるコマンドの受信により該試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を送出する試験結果出力手段とを備えているので、感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。
【図２】図１の試験システムの第１の具体例を示す図である。
【図３】図１の試験システムの第２の具体例を示す図である。
【図４】本発明に係る試験器の構成例を示す図である。
【図５】試験結果表示手段の例を示す図である。
【図６】試験結果表示手段の例を示す図である。
【図７】本発明に係る感知器の構成例を示す図である。
【図８】本発明に係る感知器の具体例を示す図である。
【図９】本発明の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１１】試験端子を備えた感知器の構成例を示す図である。
【図１２】試験端子を備えた感知器の具体例を示す図である。
【図１３】試験結果表示手段が設けられている感知器の構成例を示す図である。
【図１４】図１３の感知器の具体例を示す図である。
【図１５】図１３，図１４の感知器の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１６】表示灯の点灯，点滅を説明するための図である。
【図１７】試験結果表示手段が設けられている感知器の他の構成例を示す図である。
【図１８】図１７の感知器の具体例を示す図である。
【図１９】図１７，図１８の感知器の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図２０】図１のシステム構成において、汚れ量を検知する機能を有する感知器および試験器の構成例を示す図である。
【図２１】図２０の感知器の具体例を示す図である。
【図２２】感度補償機能を有するオンオフ型感知器の一例を示す図である。
【図２３】感度補償値の変更処理の一例を示す図である。
【図２４】図２３(ａ)，(ｂ)の一部を時間軸の方向に拡大した状態を示す図である。
【図２５】感知器からの出力レベルに、一時的なノイズによる影響が含まれている場合の感度補償処理動作を示す図である。
【図２６】図２０の感知器の他の具体例を示す図である。
【図２７】試験器における汚れ量の表示方法の一例を説明するための図である。
【図２８】従来の試験システムの構成を示す図である。
【符号の説明】
１ 試験器
１１ 受信機
２−１〜２−ｎ 感知器
３ 伝送路
１２ コマンド受信手段
１３ 試験実行手段
１４ 試験結果記憶手段
１５ 試験結果出力手段
１９ 試験端子
３３ サンプル手段
３４ 初期値設定手段
３５ 感度補償値保持手段
３６ 補償用データ設定手段
３７ 補償用計数手段
３８ 感度補償値変更手段
３９ 補償手段
４０ サンプル回数計数手段
７０ 判断手段
７１ 判断結果出力手段
３１ 物理量検出手段
２１ 物理量検出部
２２ Ａ／Ｄ変換部
２３ アドレス部
２４ ＣＰＵ
２５ ＲＯＭ
２６ ＲＡＭ
２７ 不揮発性メモリ
２８ 状態出力部
２９ 伝送部
４１ 汚れ検出手段
４２ 返送手段
４３ 感度補償手段
４４ 煙検出部
４５ 記憶手段
５１ 試験結果表示手段
６０ 表示灯
１００ 試験開始手段
１０１ 試験手段
１０２ 試験結果表示手段
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、試験機能を備えた感知器(例えば火災感知器)が知られている。図２８はこの種の感知器２−１〜２−ｎが伝送路３に接続され、また、各感知器２−１〜２−ｎを試験するための試験器６０が設けられたシステムの構成例を示す図である。この種の感知器２−１〜２−ｎを試験する場合、従来では、試験器６０から感知器に所定の試験コマンド(例えば、試験開始命令)を送出し、感知器は、この試験コマンドによって自己の感知器の試験を行ない、その試験結果を試験器６０に返送するようになっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、試験器６０から感知器に所定の試験コマンド(例えば、試験開始命令)を送出し、感知器は、この試験コマンドによって自己の感知器の試験を行ない、その試験結果を試験器６０に返送する上述した従来の方法では、感知器の試験に時間を要する場合、試験器６０は、この感知器の試験が終了するまで長時間待ち続けなければならず、試験器６０において試験に相当の時間を要するという問題があった。
【０００４】
本発明は、感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムを提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明は、感知器を試験する機能を備えた試験器を有する試験システムであって、
前記試験器は、試験機能を備えていない感知器に対しては、試験器の試験機能を用いて試験を行ない、試験機能を備えている感知器に対しては、該感知器が試験を行った試験結果を該感知器から取得するようになっており、
試験機能を備えている感知器は、試験器からの自己の感知器の試験を行わせる指令なしで自己の感知器の試験を行なう試験実行手段と、試験実行手段による試験結果が格納される試験結果記憶手段と、試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を返送させるコマンドの受信により該試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を送出する試験結果出力手段とを備えていることを特徴としている。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。図１を参照すると、この試験システムは、伝送路３に感知器(例えば火災感知器)２−１〜２−ｎ(ｎ≧１)が接続されており、また、伝送路３には、試験器１が接続されている。
【００２４】
図２は図１の試験システムの第１の具体例を示す図である。図２を参照すると、この試験システムでは、受信機１１からの伝送路３に感知器２−１〜２−ｎが接続されている。ここで、感知器２−１〜２−ｎは通信機能を有するオンオフ型感知器であり、受信機１１からの伝送路３は、Ｌ，Ｃ線路となっている。すなわち、この試験システムは、Ｐ型システムであって、このＬ，Ｃ線路に通信機能を有する感知器２−１〜２−ｎが接続されており、また、受信機１１自体に図１の試験器１として機能が備わったものとなっている。
【００２５】
なお、図２の例では、Ｌ，Ｃ線路の終端には、終端器１８が接続されている。また、図２の例では、受信機１１には、電源手段１６が設けられており、電源手段１６からの電源(電圧)がＬ，Ｃ線路に供給されるようになっている。
【００２６】
図２の例では、受信機１１が、監視制御システム(例えば防災システム)における受信機としての機能(感知器２−１〜２−ｎの作動状態を監視し、感知器２−１〜２−ｎから火災などの異常を検知したときに警報等を出力する機能)を備えているとともに、試験器１としての機能を有するものとなっている。
【００２７】
また、図３は図１の試験システムの第２の具体例を示す図である。図３を参照すると、この試験システムでは、受信機１１から延びる伝送路３に感知器２−１〜２−ｎが接続されている図２のようなシステムにおいて、受信機１１と感知器２−１〜２−ｎとの間に、感知器と通信を行なうことの可能な試験器１を受信機１１と並列に接続したものとなっている。なお、図３の試験システムにおいて、試験器１には、電源手段１７が設けられていても良い。
【００２８】
なお、図２，図３の各システム構成例において、感知器２−１〜２−ｎの全てが受信機１１あるいは試験器１との通信機能を有している必要はなく、一部のものは、受信機１１あるいは試験器１との通信機能を有していなくとも良い。すなわち、伝送機能(通信機能)をもつ感知器と伝送機能(通信機能)をもたない感知器を同一の伝送路に混在させることができる。
【００２９】
なお、以下では、説明の便宜上、各感知器２−１〜２−ｎは、全て同一の構造のものであって、受信機１１あるいは試験器１との通信機能を有しているものとする。
【００３０】
ところで、前述のように、試験器６０から感知器２−１〜２−ｎに所定の試験コマンド(例えば、試験開始命令)を送出し、感知器２−１〜２−ｎは、この試験コマンドによって自己の感知器の試験を行ない、その試験結果を試験器６０に返送する従来の方法では、感知器の試験に時間を要する場合、試験器は、感知器の試験が終了するまで長時間待ち続けなければならないという問題があった。
【００３１】
このような問題を解決するため、本発明では、試験器１，感知器２−１〜２−ｎを、図４，図７のような構成のものにしている。すなわち、図４は本発明に係る試験器１の構成例を示す図であり、また、図７は本発明に係る感知器の構成例を示す図である。
【００３２】
図４を参照すると、この試験器１は、試験を開始させる試験開始手段(例えば試験キー)１００と、試験開始手段１００の単一操作で、複数の感知器２−１〜２−ｎに対して試験を行なわせるための試験手段１０１と、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を個々に表示する試験結果表示手段１０２とを有している。
【００３３】
より具体的に、試験手段１０１は、第１の実施形態として、試験開始手段１００によって１つの操作がなされたときに(例えば、試験キーが１回操作されたときに)、各感知器２−１〜２−ｎに対して共通の試験コマンドを伝送路３に送出することで、各感知器２−１〜２−ｎに対して、まとめて(同時に)、試験を行なわせ、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を順次に受信することができる。
【００３４】
あるいは、試験手段１０１は、第２の実施形態として、試験開始手段１００によって１つの操作がなされたときに(例えば、試験キーが１回操作されたときに)、各感知器２−１〜２−ｎに対して、試験コマンドを各感知器２−１〜２−ｎのアドレスごとに順次に伝送路３に送出することで(各感知器２−１〜２−ｎに対して、各感知器２−１〜２−ｎのアドレス(後述のようなアドレス検索パルス)と組み合せた形で試験コマンドを順次に伝送路３に送出することで)、各感知器２−１〜２−ｎに対して、連続して(順次に)、試験を行なわせ、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を順次に受信することができる。
【００３５】
また、図５，図６には、試験結果表示手段１０２の例が示されている。なお、図５は試験結果表示手段１０２がＬＣＤ(液晶ディスプレイ)によって構成されている場合、また、図６は試験結果表示手段１０２がＬＥＤ(発光ダイオード)によって構成されている場合の例をそれぞれ示す図であり、図５，図６の例では、感知器２−１〜２−ｎの個数ｎは“２０”となっている。
【００３６】
また、図７を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、自己の感知器２−１の試験を試験器１などからの指令なしに、常時あるいは一定周期で試験を行なう試験実行手段１３と、試験実行手段１３による試験結果が格納される試験結果記憶手段１４と、所定の伝送路３から通信により送られるコマンドを受信するコマンド受信手段１２と、コマンド受信手段１２によって試験器１から試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)が受信されたときに、試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験器１に返送する試験結果出力手段１５とを備えている。
【００３７】
換言すれば、本発明では、感知器２−１〜２−ｎは、試験器１の指令なしで試験実行手段１３において試験を行なう機能を備え、その試験結果を試験結果記憶手段１４に格納し、試験器１からの試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)を受信したときに試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果を試験器１に返送するようになっている。
【００３８】
なお、図７の感知器において、試験実行手段１３は、例えば、試験項目ごとの試験を実行可能に構成されている。なお、試験項目としては、この感知器の出力値を監視する出力値監視試験(この感知器が正常に動作しているか否かを調べる試験)、また、この感知器が感度補償機能(感知器の汚れなどによる信号値のドリフト分を補償する機能)を有している場合にはこの感度補償機能を監視する感度補償機能監視試験(感度補償機能が正常に動作しているか否かを調べる試験)、また、疑似入力応答試験などの、各種の項目を設けることができ、試験実行手段１３は、これらの試験項目のうちの少なくとも１つを実行するようになっている。
【００３９】
図８は感知器，例えば２−１の具体例を示す図である。図８の感知器２−１は、煙濃度などの物理量を検出して電気信号(アナログ信号)に変換する物理量検出部２１と、該物理量検出部２１から出力されるアナログ信号を所定の周期でサンプルしてデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部２２と、この感知器のアドレスが設定されるアドレス部２３と、異常(例えば火災)判断などの感知器全体の制御を行なうＣＰＵ２４と、ＣＰＵ２４の制御プログラムなどが格納されるＲＯＭ２５と、各種のワークエリアなどとして使用されるＲＡＭ２６と、感知器固有の個別データなどが格納される不揮発性メモリ２７と、物理量検出部２１で検出されたＡ／Ｄ変換部２２でデジタル信号に変換された物理量の検出結果(Ａ／Ｄ変換部２２からの出力レベル)が、例えば所定の作動閾値レベル(例えば火災レベル)を越えてＣＰＵ２４で火災などの異常と判断されたときに、作動状態(オン状態)を表わす信号を伝送路３に出力する状態出力部２８と、例えば受信機１１あるいは試験器１との間で伝送路３を介した伝送を行なう伝送部(通信インタフェース部)２９とを備えている。
【００４０】
換言すれば、図８の例の感知器２−１は、所謂センサアドレス用感知器(その検出出力信号からすれば、オンオフ型感知器に属する)として構成されている。そして、図８の構成において、ＣＰＵ２４によって図７の試験実行手段１３，試験結果出力手段１５の機能を実現することができる。なお、感知器２−１の試験実行手段１３が試験を実行する周期は、ＣＰＵ２４のクロックあるいはタイマ手段(図示せず)などを用いて設定され、具体的には、１日ごとなど任意の周期の設定が可能である。
【００４１】
また、伝送部２９を図７のコマンド受信手段１２，試験結果出力手段１５として機能させることができる。すなわち、この場合、伝送部２９は、所定のコマンド(例えば試験コマンド)を受信可能に構成され、また、試験結果を伝送路３に送出する機能を有しているとする。
【００４２】
また、図８の構成において、ＲＡＭ２６あるいは不揮発性メモリ２７を図７の試験結果記憶手段１４として機能させることができる。また、試験結果記憶手段１４に記憶される試験結果は、正常／故障の判別のみの試験結果、特定の項目の試験結果、あるいは、全ての項目についての試験結果など、試験結果記憶手段１４のメモリ容量などにあわせて任意のものとすることが可能である。
【００４３】
また、図７，図８のような感知器が図２，図３の監視制御システム(例えば防災システム)に用いられる場合、受信機１１には、アドレッサブルなｐ型受信機が用いられる。
【００４４】
この場合、受信機１１は、監視レベルを例えば伝送路３のＬ，Ｃ間の電位が２４Ｖのところに設定し、また、感知器の作動レベル(オンレベル)を例えばＬ，Ｃ間の電位が５Ｖのところに設定し、また、短絡レベルを例えばＬ，Ｃ間の電位が０Ｖのところに設定することができる。
【００４５】
このようなシステム構成に対応させて、図８の感知器の状態出力部２８は、この感知器の作動状態(オン状態)を表わす信号として、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位をオンレベル５Ｖにするようになっている。
【００４６】
また、受信機１１は、感知器２−１〜２−ｎのうち少なくとも１つの感知器が作動して(オンになって)、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位がオンレベル５Ｖになったことを検知すると、アドレス検索パルスを感知器の短絡レベル(０Ｖ)とオンレベル(５Ｖ)の電位を利用して作成し、伝送路３を介して各感知器２−１〜２−ｎに送出するようになっている。
【００４７】
図８の感知器の伝送部２９は、受信機１１からのこのようなアドレス検索パルスを伝送路３，すなわちＬ，Ｃ線路を介して受信するように構成されており、伝送部２９でアドレス検索パルスを受信するとき、この感知器のＣＰＵ２４は、これまでに受信したアドレス検索パルスの個数を計数(カウント)し、この計数値(カウント値)がこの感知器のアドレス部２３に設定されているアドレスと一致するか否かを判断し、一致したときに、自己の感知器の状態(オン状態あるいはオフ状態)を伝送部２９に与え、これにより、伝送部２９は、例えば、自己の感知器の状態がオン状態のときにのみ、その旨の信号を伝送路３，すなわちＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に通知するようになっている。具体的に、伝送部２９は、アドレスが一致したときに、自己の感知器の状態がオン状態である旨の信号として、例えば伝送路３のＬ，Ｃ間の電位を所定期間、０Ｖに保持して(所定期間、短絡(ショート)状態に保持して)受信機１１に伝送するようになっている。これにより、受信機１１は、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位が所定期間、０Ｖに保持された状態になったかを監視し、伝送路３のＬ，Ｃ間の電位が所定期間、０Ｖに保持された状態になったときに、このときまでに送出したアドレス検索パルスの個数に相当するアドレスをもつ感知器が作動状態(オン状態)にあると特定することができる。
【００４８】
また、受信機１１あるいは試験器１が上述の第２の実施形態のようにアドレスを順次に指定して試験を行なうときには、試験器１からのアドレス検索パルスの個数の計数値(カウント値)がこの感知器のアドレス部２３に設定されているアドレスと一致し、さらに、試験器１から試験に関するコマンド(試験コマンド)が送られたときに、この感知器は、試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験結果出力手段１５によって試験器１に返送するようになっている。
【００４９】
次に、このような構成の試験システムの処理動作について説明する。なお、以下では、説明の便宜上、図１(図２，図３)のシステムにおいて、各感知器２−１〜２−ｎは、全て図７(図８)の構造のもの(アドレスを有するオンオフ型感知器)となっているとし、また、受信機１１には、アドレッサブルなｐ型受信機が用いられるものとする。
【００５０】
図９，図１０は本発明の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。なお、図９は試験器１における処理動作を示すフローチャートであって、図９の例では、試験器１の試験手段１０１は、各感知器２−１〜２−ｎに対して、連続して(順次に)、試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)を送出するようになっている。また、図１０は感知器，例えば２−１の処理動作を示すフローチャートである。
【００５１】
図９を参照すると、試験器１の試験手段１０１は、試験開始手段(例えば試験キー)１００が操作されると（ステップＳ１）、感知器のアドレスＮを“１”に初期設定する（ステップＳ２）。次いで、アドレスＮと試験コマンドとを組み合せて出力し、アドレスＮの感知器から試験結果を返送させる（ステップＳ３）。いまの場合、アドレスＮは“１”であるので、このアドレス“１”に対応する感知器２−１に試験コマンドを与え、この試験コマンドが感知器２−１のコマンド受信手段１２で受信されると、感知器２−１の試験結果出力手段１５は、この感知器２−１の試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験器１に返送する。これにより、試験器１の試験手段１０１は、感知器２−１からの試験結果を受信し、試験結果表示手段１０２に感知器２−１からの試験結果を表示する（ステップＳ４）。
【００５２】
次いで、アドレスＮを“１”だけ歩進し（ステップＳ５）、アドレスＮをもつ感知器が存在するか否かを判断し（ステップＳ６）、存在する場合には、ステップＳ３に戻る。いまの場合、ステップＳ５でアドレスＮは“２”となり、ステップＳ６において、このアドレス“２”に対応する感知器２−２が存在するので、ステップＳ３に戻り、この感知器２−２に試験コマンドを与え、この感知器２−２から試験結果を返送させる。
【００５３】
このようにして、アドレスＮを“１”から“ｎ”まで順次に歩進させて、アドレス“１”〜“ｎ”に対応する感知器２−１〜２−ｎから試験結果を順次に返送させ、試験結果表示手段１０２に感知器２−１〜２−ｎからの試験結果を表示する。そして、ステップＳ６において、アドレスＮが“ｎ＋１”となり、このアドレス“ｎ＋１”をもつ感知器が存在しなくなったときに、試験を終了する。
【００５４】
また、図１０を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、通常は、火災などの異常を監視しており（ステップＴ１）、所定の時間周期(一定周期)で、自己の感知器２−１の試験を行なう（ステップＴ２乃至Ｔ４）。すなわち、ステップＴ２では、試験実行時期となったか否かを判断し、試験実行時期となったときには、ステップＴ３において、この感知器２−１は自己の試験を実行し、ステップＴ４では、その試験結果を試験結果記憶手段１４に記憶する。
【００５５】
一方、ステップＴ２において、試験実行時期となっていないときには、前述したように、試験器１からの試験コマンドを受信したかを判断し（ステップＴ５）、試験器１からの試験コマンドを受信したときには、試験結果出力手段１５は、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果を試験器１に返送する（ステップＴ６）。
【００５６】
このように、本発明では、感知器，例えば２−１は、自己の感知器２−１の試験を試験器１などからの指令なしに、常時あるいは一定周期で試験を行なって、その試験結果を試験結果記憶手段１４に格納し、試験器１から試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)を受信したときに、試験結果記憶手段１４に格納されている試験結果を試験器１に返送するようにしているので、感知器２−１の試験に時間を要する場合にも、試験器１は、感知器２−１の試験が終了するまで長時間待ち続ける必要がなく、試験器１における試験に要する時間を短縮することができる。すなわち、本発明では、感知器自体の試験に時間がかかる場合でも、感知器は試験コマンドを受信した時には、予め記憶された試験結果を試験器１に返送するだけなので、試験器１においては試験に要する時間は少なくて済む(すなわち、短縮できる)。
【００５７】
また、上述の例では、試験器１において、最初に１回、試験キーを操作するだけで、全ての感知器２−１〜２−ｎの試験結果を得ることができ(図９の例では、試験結果を連続して(順次に)得ることができ)、各感知器２−１〜２−ｎからの試験結果が図５あるいは図６の試験結果表示手段１０２に自動的に表示されるので、複数の感知器２−１〜２−ｎの個々の感知器をその都度指定せずとも、全ての感知器２−１〜２−ｎの試験を自動的に行なうことができる。これにより、試験器１における試験に要する時間をより一層短縮することができる。
【００５８】
特に、感知器の試験結果記憶手段１４に記憶される試験結果が、正常／故障の判別のみ、の試験結果である場合には、より迅速な試験が可能となり、感知器に異常(故障など)がある場合にはその時点(リアルタイム)での異常原因を調査することが可能となる。
【００５９】
なお、上述の例では、試験器１において、最初に１回、試験キーを操作するだけで、全ての感知器２−１〜２−ｎの試験結果を得ることができるようになっており、この場合には、上述のように試験器１における試験に要する時間をより一層短縮することができるという利点があるが、試験器１については、従来と同様に、複数の感知器２−１〜２−ｎのうちの単一の感知器をその都度指定するようになっていても良い。
【００６０】
また、上述の例では、感知器，例えば２−１は、ＣＰＵ２４によって常時あるいは一定周期で試験を行なうようになっているとしたが、感知器２−１に試験端子を設け、この試験端子から試験開始信号を入力させて、感知器２−１に試験を実行させても良い。
【００６１】
図１１は試験端子を備えた感知器の構成例を示す図である。図１１を参照すると、この感知器２−１は、図７の構成において、さらに、試験を行なわせるための試験開始信号(例えばトリガ信号)を入力可能な試験開始信号入力手段としての試験端子１９が設けられたものとなっており、この場合、試験実行手段１３は、試験開始信号入力手段としての試験端子１９に試験開始信号(トリガ信号)が入力されたときに、この感知器の試験処理を実行するようになっている。
【００６２】
ここで、試験開始信号入力手段としての試験端子１９は、例えば、一対の端子１９ａ，１９ｂによって構成され、例えば、一対の端子１９ａ，１９ｂ間をスイッチ等を設けて短絡(ショート)したり、一対の端子１９ａ，１９ｂ間に例えば所定の電圧を印加することなどによって、試験開始信号(トリガ信号)を入力可能となっている。
【００６３】
図１２は図１１の感知器２−１の具体例を示す図である。図１２の例では、この感知器２−１は、図８の感知器２−１において、さらに、試験開始信号入力手段としての試験端子１９(１９ａ，１９ｂ)と、試験結果を出力(表示)するための表示灯や表示器などの出力部３０とが設けられたものとなっている。
【００６４】
なお、上述の例では、試験開始信号入力手段が試験端子１９(１９ａ，１９ｂ)によって構成されているものとしたが、試験開始信号入力手段としては、試験開始信号を入力可能なものであれば、上記一対の端子１９ａ，１９ｂの構成に限らず、任意の構成のもの、例えば、任意の端子，任意のスイッチなどを用いることができる。
【００６５】
また、図７（図８）あるいは図１１（図１２）の感知器２−１の構成例において、感知器２−１自体に、試験結果を表示する試験結果表示手段が設けられていても良い。
【００６６】
図１３は、例えば図７の構成例において、試験結果を表示する試験結果表示手段５１がさらに設けられている感知器２−１の一例を示す図である。また、図１４は、図１３の感知器２−１の具体例を示す図であり、図１４の例では、図８の感知器２−１において、表示灯６０がさらに設けられている。
【００６７】
また、図１５は感知器２−１が図１３（図１４）の構成となっているときの感知器２−１における試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【００６８】
図１５を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、通常は、火災などの異常を監視しており（ステップＴ１）、所定の時間周期(一定周期)で、自己の感知器２−１の試験を行なう（ステップＴ２乃至Ｔ４）。すなわち、ステップＴ２では、試験実行時期となったか否かを判断し、試験実行時期となったときには、ステップＴ３において、この感知器２−１は自己の試験を実行し、ステップＴ４では、その試験結果を試験結果記憶手段１４に記憶する。
【００６９】
一方、ステップＴ２において、試験実行時期となっていないときには、前述したように、試験器１からの試験コマンドを受信したかを判断し（ステップＴ５）、試験器１からの試験コマンドを受信したときには、試験結果出力手段１５は、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果を試験器１に返送する（ステップＴ６）。それとともに、この感知器２−１は、この感知器２−１に設けられている試験結果表示手段５１（表示灯６０）に、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果に基づく表示を行なう（ステップＴ７）。
【００７０】
具体的に、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させる。なお、表示灯６０の点灯は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０を連続駆動さることでなされ、また、表示灯６０の点滅は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０をパルス（断続）駆動させることでなされる。そして、表示灯６０の点灯／点滅動作を停止させるには、受信機１１からの復旧操作による。
【００７１】
このように、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させることにより、例えば保守点検者は、この感知器２−１の表示灯６０の状態を見るだけで、この感知器２−１が正常か正常でない（故障）かを直ちに把握することができる（試験結果が正常でないとき（故障のとき）は感知器の表示灯６０が点滅するので、正常でない感知器（故障感知器）を容易に確認することができる）。
【００７２】
すなわち、具体的に、例えば図２のようにＰ型システムに接続されている感知器２−１〜２−ｎの遠隔試験を前述のように行なった場合、Ｌ，Ｃ線路に正常でない感知器（故障感知器）が存在することがわかったとき、感知器２−１〜２−ｎのどの感知器が正常でないか（故障しているか）を、各感知器２−１〜２−ｎの表示灯の状態を見ることで（点滅している表示灯の感知器がどれかを見ることで）、直ちに把握することができる。
【００７３】
このように、図１３，図１４の構成例では、感知器の試験結果が正常の場合には、この感知器の表示灯６０が点灯すると同時に、正常である旨の試験結果がＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送され、また、感知器の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、この感知器の表示灯６０が点滅すると同時に、正常でない旨（故障である旨）の試験結果がＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送される。より具体的に、正常である旨の試験結果は、例えば火災信号としてＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送され、この場合、受信機１１が発報する。これに対し、正常でない旨（故障である旨）の試験結果は、パルスとしてＬ，Ｃ線路を介して受信機１１に返送され、このパルスにより受信機１１は感知器が正常でない旨（故障である旨）の表示を行なう。
【００７４】
図１３，図１４は、図７，図８の変形例として構成されているが、図７，図８を図１３，図１４に変形したと全く同様に、図１１，図１２を変形することもできる。
【００７５】
また、図１３，図１４の構成例では、感知器の試験結果に基づいて試験結果表示手段５１（表示灯６０）の表示を行なうとともに、感知器の試験結果を受信機１１に返送したが、感知器の試験結果に基づいて試験結果表示手段５１（表示灯６０）の表示を行なうだけの機能を感知器にもたせることもできる。
【００７６】
図１７，図１８は図１３，図１４（図７，図８）の変形例をそれぞれ示す図であり、図１７，図１８の例では、図１３，図１４において試験結果出力手段１５，状態出力部２８が設けられていない。すなわち、図１７，図１８の例では、感知器の試験結果を表示するための試験結果表示手段５１（表示灯６０）だけが設けられた構成となっており、試験結果を受信機１１に返送する機能は有していない。
【００７７】
図１９は感知器２−１が図１７（図１８）の構成となっているときの感知器２−１における試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【００７８】
図１９を参照すると、本発明では、感知器，例えば２−１は、通常は、火災などの異常を監視しており（ステップＴ１）、所定の時間周期(一定周期)で、自己の感知器２−１の試験を行なう（ステップＴ２乃至Ｔ４）。すなわち、ステップＴ２では、試験実行時期となったか否かを判断し、試験実行時期となったときには、ステップＴ３において、この感知器２−１は自己の試験を実行し、ステップＴ４では、その試験結果を試験結果記憶手段１４に記憶する。
【００７９】
一方、ステップＴ２において、試験実行時期となっていないときには、前述したように、試験器１からの試験コマンドを受信したかを判断し（ステップＴ５）、試験器１からの試験コマンドを受信したときには、この感知器２−１は、この感知器２−１に設けられている試験結果表示手段５１（表示灯６０）に、試験結果記憶手段１４に記憶されている試験結果に基づく表示を行なう（ステップＴ７）。
【００８０】
具体的に、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示したように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示したように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させる。なお、表示灯６０の点灯は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０を連続駆動させることでなされ、また、表示灯６０の点滅は、例えばＣＰＵ２４により表示灯６０をパルス（断続）駆動させることでなされる。そして、表示灯６０の点灯／点滅動作を停止させるには、受信機１１からの復旧操作による。
【００８１】
このように、この感知器２−１の試験結果が正常の場合には、図１６（ａ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点灯させる一方、この感知器２−１の試験結果が正常でない場合（故障の場合）には、図１６（ｂ）に示すように、この感知器２−１の表示灯６０を点滅させることにより、例えば保守点検者は、この感知器２−１の表示灯６０の状態を見るだけで、この感知器２−１が正常か正常でない（故障）かを直ちに把握することができる（試験結果が正常でないとき（故障のとき）は感知器の表示灯６０が点滅するので、正常でない感知器（故障感知器）を容易に確認することができる）。
【００８２】
すなわち、具体的に、例えば図２のようにＰ型システムに接続されている感知器２−１〜２−ｎの遠隔試験を前述のように行なった場合、Ｌ，Ｃ線路に正常でない感知器（故障感知器）が存在することがわかったとき、感知器２−１〜２−ｎのどの感知器が正常でないか（故障しているか）を、各感知器２−１〜２−ｎの表示灯の状態を見ることで（点滅している表示灯の感知器がどれかを見ることで）、直ちに把握することができる。
【００８３】
なお、図１７，図１８は、図７，図８の変形例として構成されているが、図７，図８を図１７，図１８に変形したと全く同様に、図１１，図１２を変形することもできる。
【００８４】
上述の各例では、感知器２−１〜２−ｎが図８，図１２，図１４，図１８のようなセンサアドレス用感知器として構成されているとして説明したが、感知器としては、図８の例では、少なくとも、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果出力手段１５と、さらに図１２の例では試験開始信号入力手段(例えば試験端子)１９とを備えたものであれば良く、また、図１４の例では、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果出力手段１５と、試験結果表示手段５１とを備えたものであれば良く、また、図１８の例では、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果表示手段５１とを備えたものであれば良く、任意の型式の感知器(例えば、アナログ型感知器，通常のオンオフ型感知器)にも適用することができる。また、図８，図１２，図１４，図１８の構成例において、アドレス部２３，不揮発性メモリ２７などは、必ずしも設けられていなくとも良い。
【００８５】
また、本発明の試験方法は、感知器のみならず、任意の中継器にも適用することができる。すなわち、中継器に感知器が接続される場合、この中継器に、少なくとも、コマンド受信手段１２と、試験実行手段１３と、試験結果記憶手段１４と、試験結果出力手段１５および／または試験結果表示手段５１と、さらには試験開始信号入力手段(例えば試験端子)１９とをもたせ、この中継器並びにこの中継器に接続されている感知器の試験を行なうこともできる。
【００８６】
また、上述の各例では、監視制御システムが例えば防災システムであるとし、この場合、感知器が例えば火災感知器であるとしたが、本発明は、防災システムに限定されず、防犯システムなどの任意のシステムにも適用できる。また、この場合、火災感知器に限定されず、防犯感知器などの任意の感知器にも本発明を適用できる。
【００８７】
また、図１(図２，図３)の試験システムの構成例において、感知器２−１〜２−ｎおよび／または試験器１に、感知器２−１〜２−ｎの汚れ量を検知する機能をもたせることもできる。図２０は、図１のシステム構成において、汚れ量を検知する機能を有する感知器の構成例を示す図である。なお、図２０では、説明の便宜上、１つの感知器２−１だけが示されている。図２０を参照すると、感知器を試験する試験システムにおいて、感知器，例えば２−１は、感知器２−１の汚れ量を検出する汚れ検出手段４１と、試験器からの指令によって汚れ検出手段４１で検出した汚れ量を試験器１に返送する返送手段４２とを有し、試験器１は、感知器２−１の返送手段４２から汚れ量を受信したときには、該汚れ量の表示を行なうようになっている。
【００８８】
従来のオンオフ型感知器では、感知器が汚れてもそれを検出する手段がなく、感度試験を行なわなければ汚れの有無を検出することはできなかったが、図２０の構成では、試験器１を用いて汚れ量を表示することができるので、感知器の感度試験などを行なわなくても感知器が正常に作動するかを確認することができる。
【００８９】
図２１は図２０の感知器の具体例を示す図であり、図２１では、感知器，例えば２−１には、感度を補償する感度補償手段４３が設けられており、汚れ検出手段４１は、感度補償手段４３における感度の補償量を汚れ量として検出するようになっている。ここで、感度補償機能を有する感知器としては、例えば特開平１０−２５５１７６号に示されているものを用いることができる。
【００９０】
図２２は感度補償機能を有するオンオフ型感知器の一例を示す図である。図２２を参照すると、このオンオフ型の感知器，例えば２−１には、煙濃度などの所定の物理量を検出する物理量検出手段３１と、物理量検出手段３１からの出力レベルＯＵＴ1を所定の周期(サンプル周期Ｔ)でサンプルするサンプル手段３３と、物理量検出手段３１からの出力レベルＯＴ1(ＯＵＴ1)に対する補償用データＲ1の初期値(例えば、出力レベルのドリフト成分と同じ値)Ｄ1が設定される初期値設定手段３４と、感度補償値Ｅ1を保持する感度補償値保持手段３５と、初期値設定手段３４に設定されている補償用データＲ1の初期値Ｄ1に感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1を加算した値が補償用データＲ1として設定(更新設定)される補償用データ設定手段３６と、サンプル手段３３による出力レベルＯＴ1のサンプル回数ＳＰを計数するサンプル回数計数手段４０と、サンプル手段３３によってサンプルした出力レベルＯＴ1と補償用データ設定手段３６に設定されている補償用データＲ1との大小を比較し、その比較結果に応じて計数値ＣＮＴが増減する補償用計数手段(補償用カウンタ)３７と、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達したときに、その時点での補償用計数手段３７の計数値ＣＮＴに応じて感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1を変更する感度補償値変更手段３８と、サンプル手段３３によってサンプルした出力レベルＯＴ1を補償用データ設定手段３６に設定されている補償用データＲ1によって補償する補償手段３９と、補償手段３９からの補償されたレベルＯ1を所定の作動閾値レベル(例えば火災報レベル)ＡＬと比較して火災やガス漏れなどの異常の判断を行なう判断手段７０と、判断手段７０による判断の結果を出力する判断結果出力手段７１とが設けられている。
【００９１】
このような感度補償機能を備えた感知器，例えば２−１の具体例としては、これを前述した図８の構成と同様の構成のものにすることができる。すなわち、所謂センサアドレス用感知器(その検出出力信号からすれば、オンオフ型感知器に属する)として構成することができる。
【００９２】
図８のような感知器に感度補償機能をもたせる場合、図２２の物理量検出手段３１，サンプル手段３３は、図８の物理量検出部２１，Ａ／Ｄ変換部２２にそれぞれ対応し、また、図２２のサンプル回数計数手段４０，補償用計数手段３７，感度補償値変更手段３８，補償手段３９は、図８のＣＰＵ２４によって実現され、また、図２２の初期値設定手段３４，感度補償値保持手段３５，補償用データ設定手段３６は、図８のＲＡＭ２６および／または不揮発性メモリ２７によって実現される。
【００９３】
図２２(図８)のように、オンオフ型の感知器に感度補償機能をもたせる場合、感知器のＣＰＵ２４は、Ａ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1を、図２３(ａ)乃至(ｄ)，図２４，図２５(ａ)に示すようにして、感知器自体で感度を補償することができる。
【００９４】
すなわち、図２３(ａ)乃至(ｄ)は感度補償値の変更処理の一例を示す図である。また、図２４(ａ)，(ｂ)には、図２３(ａ)，(ｂ)の一部を時間軸の方向に拡大した状態が示されている。図２３(ａ)，図２４(ａ)は火災等が発生していない正常な環境状態の下でのある１つのアナログ式感知器，例えば２−１(例えば、光電式煙感知器)のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1(サンプルされた出力レベル(サンプル周期＝Ｔ))の変動の一例を示す図であり、図２３(ａ)，図２４(ａ)の例では、このアナログ式感知器(光電式煙感知器)２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルは、初期状態においてドリフト成分Ｄ1を有しており、その後、感知器の汚れ等によって時間とともに増加する傾向にある。すなわち、図２３(ａ)の例は、数ヶ月や１年などのように相当長期間にわたる感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルの経年変化曲線となっている。また、図２３(ａ)乃至(ｄ)はノイズなどの一時的な要因が出力レベルＯＴ1に含まれていない場合のものである。また、図２３(ａ)には、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達したときの状態も示されている。なお、この場合の所定回数ＳＰ0としては、出力レベルの変化が数ヶ月や１年といった長期間にわたるものを想定しているので、これに見合った回数(相対的に大きな回数)(ＳＰ0＝ＳＰ1)のものが用いられる。
【００９５】
感知器２−１が図２２のような構成となっている場合、図２３(ａ)，図２４(ａ)に示すようなアナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1に対して、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴ，感度補償値Ｅ1，補償用データＲ1は、それぞれ、図２３(ｂ)(図２４(ｂ))，図２３(ｃ)，図２３(ｄ)に示すように更新される。
【００９６】
すなわち、補償用データＲ1は、図２３(ｄ)に示すように、当初、ドリフト成分と同じ値Ｄ1に初期設定され、その後、感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1の汚れ等による変化に応じて、図２３(ｂ)，図２４(ｂ)のように補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴが変化する。そして、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達すると、感度補償値変更手段３８は、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴが所定回数ＳＰ0の例えば５０％を越えたかを判断し、計数値ＣＮＴが所定回数ＳＰ0の５０％を越えると、感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1は、図２３(ｃ)に示すように、計数値ＣＮＴの絶対値が所定回数ＳＰ0の５０％を越えたときの計数値ＣＮＴの符号(図２３(ｂ)の例では正)に応じた方向に更新(変更)される。すなわち、図２３(ｃ)の例では、感度補償値Ｅ1は、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴの絶対値が所定の閾値ＴＨ1を越える都度、“１”ずつ増加する(更新される)。そして、補償用データＲ1は、図２３(ｄ)に示すように、上記のように更新される感度補償値Ｅ1に従って更新される。
【００９７】
なお、図２３(ａ)には、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1とともに、この出力レベルＯＴ1に対する補償用データＲ1(図２３(ｄ))に示されている補償用データＲ1)も比較のために示されている。図２３(ａ)において、出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1を差し引いたレベル(値)は、時間が経過してもほぼ“０”に近い値となり、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルから、ドリフト成分Ｄ1とともに、汚れ等による経時変化，経年変化を補償(除去)したものとなっていることがわかる。従って、補償手段３９で出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1を差し引いたレベル(値)Ｏ1を算出し、この補償されたレベルＯ1を用いて、火災やガス漏れなどの異常の判断を行なうことで、感知器の汚れ等によって出力レベルが変動する場合にも、これらの影響を低減して、異常の判断を正確に行なうことが可能となる。
【００９８】
また、図２５(ａ)乃至(ｄ)は感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルに、数ヶ月や１年などの長期の期間にわたって一時的なノイズＮＳによる影響が含まれている場合の感度補償処理動作を示す図である。この場合、図２５(ｂ)に示すように、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴ’には、その最適な計数値ＣＮＴ(出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれていない場合の図２３(ｂ)に示すような計数値ＣＮＴ)に対し、一時的なノイズＮＳの影響によるずれが生ずるが、図２２の感知器の構成では、感度補償値変更手段３８は、サンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数ＳＰが所定回数ＳＰ0に達したときに、そのときの補償用計数手段３７の計数値ＣＮＴ’の絶対値がサンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数の所定回数ＳＰ0の５０％を越えた場合に感度補償値保持手段３５に保持されている感度補償値Ｅ1’を変更するので、補償用カウンタ３７の計数値ＣＮＴの絶対値がサンプル回数計数手段４０で計数されたサンプル回数の所定回数ＳＰ0の５０％を越えたか否かの判断において、ＣＮＴ’のＣＮＴからのずれの影響は非常に少なくなり(すなわち、出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれているとしても、計数値ＣＮＴ’へのその累積的な影響は非常に少なくなり)、感度補償値Ｅ1’は、図２５(ｃ)に示すように、その最適な感度補償値Ｅ1(出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれていない場合の図２３(ｃ)に示すような感度補償値Ｅ1)とほぼ同じになる。これにより、補償用データＲ1’も図２５(ｄ)に示すように、最適な補償用データＲ1(図２３(ｄ)に示すような補償用データＲ1)とほぼ同じものとなり、出力レベルに一時的なノイズＮＳが含まれる場合にも、その累積的な影響を著しく低減できる。
【００９９】
なお、図２５(ａ)には、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1とともに、この出力レベルＯＴ1に対する補償用データＲ1’(図２５(ｄ)に示されている補償用データＲ1’)も示されている。図２５(ａ)において、出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1’を差し引いたレベル(値)は、図２３(ａ)において、出力レベルから補償用データＲ1を差し引いたレベル(値)とほぼ同じものとなり、アナログ式感知器２−１のＡ／Ｄ変換部２２でサンプルされた出力レベルＯＴ1から、ドリフト成分Ｄ1とともに、汚れ等による経時変化，経年変化を補償(除去)しただけのものとなり、一時的なノイズＮＳの影響はほとんど含んでいないことがわかる。従って、出力レベルＯＴ1にノイズなどの一時的な要因が含まれる場合にも、出力レベルＯＴ1から補償用データＲ1’を差し引いたレベル(値)を用いて、火災やガス漏れなどの異常の判断を正確に行なうことが可能となる。
【０１００】
このように、図２２の例によれば、感度を補償するための補償用データＲ1が数ヶ月や１年などの長期的な一時的要因によって最適な値から変化してしまうという事態を有効に防止することができ、長期的な一時的要因がある場合にも、火災やガス漏れなどの異常の判断を正確に行なうことができる。すなわち、感度補償値Ｅ1の変更の要否を、一定期間(サンプル回数)に区切って判断しているため、長期的な一時的要因により出力レベルが変動しても、その影響を著しく低減でき、最適な感度補償値を維持することができる。
【０１０１】
これにより、感度を補償するための補償用データが例えば長期的な要因によって最適な値から変化してしまうという事態を有効に防止することができる。
【０１０２】
なお、この場合も、補償用計数手段３７の計数値ＣＮＴのサンプル回数(一定回数)ＳＰ0に対する割合(比)が例えば５０％を越えることを条件として、感度補償値Ｅ1を変更することができるが、この比は、５０％に限定されず、必要に応じて、任意の比のものを用いることができる。
【０１０３】
そして、このオンオフ型の感知器では、このようにして感度補償された出力レベルＯを、例えばＲＡＭ２６や不揮発性メモリ２７内に設定された作動閾値レベル(例えば火災報レベル)ＡＬと比較して、火災判断処理等を行なうことができる。具体的に、この感知器は、感度補償がなされた出力レベル(例えば煙濃度)ＯをＲＡＭ２６や不揮発性メモリ２７内に設定されている作動閾値レベルＡＬと比較し、感度補償がなされた出力レベルＯが作動閾値レベルＡＬを越えたときに火災などの異常として判断することができる。
【０１０４】
このように、感知器が感度補償機能を有している場合、すなわち、感知器が図２１の構成となっている場合、汚れ検出手段４１は、感度の補償量，上述の例ではＲ1を汚れ量として検出することができる。
【０１０５】
また、上述の例では、オンオフ型の感知器がセンサアドレス用感知器として構成されているとして説明したが、感度補償機能を有するものであれば、任意の型式のオンオフ型感知器に適用することができる。また、このような感度補償機能，汚れ検出機能だけに着目するとき、図８の構成例の感知器において、アドレス部２３などは、必ずしも設けられていなくとも良い。
【０１０６】
また、上述の例では、オンオフ型感知器に感度補償機能，汚れ検出機能をもたせるとしたが、上記のような感度補償機能，汚れ検出機能は、例えば中継器などにもたせることもできる。
【０１０７】
また、図２６は図２０の感知器の他の具体例を示す図である。図２６の感知器は、煙検出部４４を有する煙感知器であって、該感知器には、該感知器の製造時における煙検出部４４からの出力値を記憶する記憶手段４５が設けられており、汚れ検出手段４１は、記憶手段４５に記憶されている出力値と煙検出部４４からの最新の出力値とを比較することで汚れ量を検出するようになっている。
【０１０８】
また、上述の例(図２０，図２１，図２６)では、感知器内に汚れ検出手段４１を設けたが、汚れ検出を試験器１において行なうこともできる。すなわち、感知器を試験する図１のような試験システムにおいて、感知器２−１〜２−ｎは、試験器１との間で通信を行なう機能を有し、感知器２−１〜２−ｎは、該感知器２−１〜２−ｎの汚れ検出に必要な情報を試験器１に送り、試験器１は、感知器２−１〜２−ｎから送られた汚れ検出に必要な情報に基づいて汚れ検出を行ない、検出した汚れ量を表示するように構成することもできる。
【０１０９】
なお、図２０，図２１，図２６のシステムにおいて、試験器１における汚れ量の表示方法としては、感知器が煙感知器ならば煙濃度換算にして表示するのが容易であるが、この場合、直感的な判断が行ないにくい。そこで、煙濃度の増加分(＝汚れ量)に対する経過日数(月数)から、汚れ補償限界までの日数を算出し、その日数を表示する方法(例えば、「感知器清掃時期まであと約６ヶ月」などの方法)を用いると、具体的な清掃時期(交換時期)の把握が可能である。この場合、感知器にカレンダー機能を付加して算出する方法や、感知器の製造時の煙検出部の出力値とともにその記憶した日時を記憶し、試験器に汚れ量を取り込む際にその日時も同時に取り込み、試験器内の日時情報から算出する方法などが考えられる。
【０１１０】
図２７はこの算出方法の簡単な一例である。図２７では、２４ヶ月経過時において煙濃度は４％／ｍとなっている。煙濃度と経過日時の関係が１次関数的なものとして推移すると仮定すると、３０ヶ月の時点でこの煙感知器は汚れ補償限界に達する。そこで、この場合、試験器１では、例えば「清掃時期まで後６ヶ月」旨の表示を行なうことができる。また、この表示を、図５や図６で示された試験器の表示部で行なうことも可能である。例えば、清掃時期までの月数を○印の個数で表示したり、清掃が必要な場合には×印を表示する方法で行なうことができる。
【０１１１】
上述の各例では、監視制御システムが例えば防災システムであるとしたが、本発明は、防災システムに限定されず、防犯システムなどの任意のシステムにも適用できる。また、この場合、受信機や感知器は火災監視用のものに限定されず、防犯監視用などの任意の受信機や感知器にも本発明を適用できる。
【０１１２】
【発明の効果】
以上に説明したように、請求項１記載の発明によれば、感知器を試験する機能を備えた試験器を有する試験システムであって、前記試験器は、試験機能を備えていない感知器に対しては、試験器の試験機能を用いて試験を行ない、試験機能を備えている感知器に対しては、該感知器が試験を行った試験結果を該感知器から取得するようになっており、試験機能を備えている感知器は、試験器からの自己の感知器の試験を行わせる指令なしで自己の感知器の試験を行なう試験実行手段と、試験実行手段による試験結果が格納される試験結果記憶手段と、試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を返送させるコマンドの受信により該試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を送出する試験結果出力手段とを備えているので、感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。
【図２】図１の試験システムの第１の具体例を示す図である。
【図３】図１の試験システムの第２の具体例を示す図である。
【図４】本発明に係る試験器の構成例を示す図である。
【図５】試験結果表示手段の例を示す図である。
【図６】試験結果表示手段の例を示す図である。
【図７】本発明に係る感知器の構成例を示す図である。
【図８】本発明に係る感知器の具体例を示す図である。
【図９】本発明の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１１】試験端子を備えた感知器の構成例を示す図である。
【図１２】試験端子を備えた感知器の具体例を示す図である。
【図１３】試験結果表示手段が設けられている感知器の構成例を示す図である。
【図１４】図１３の感知器の具体例を示す図である。
【図１５】図１３，図１４の感知器の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１６】表示灯の点灯，点滅を説明するための図である。
【図１７】試験結果表示手段が設けられている感知器の他の構成例を示す図である。
【図１８】図１７の感知器の具体例を示す図である。
【図１９】図１７，図１８の感知器の試験処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図２０】図１のシステム構成において、汚れ量を検知する機能を有する感知器および試験器の構成例を示す図である。
【図２１】図２０の感知器の具体例を示す図である。
【図２２】感度補償機能を有するオンオフ型感知器の一例を示す図である。
【図２３】感度補償値の変更処理の一例を示す図である。
【図２４】図２３(ａ)，(ｂ)の一部を時間軸の方向に拡大した状態を示す図である。
【図２５】感知器からの出力レベルに、一時的なノイズによる影響が含まれている場合の感度補償処理動作を示す図である。
【図２６】図２０の感知器の他の具体例を示す図である。
【図２７】試験器における汚れ量の表示方法の一例を説明するための図である。
【図２８】従来の試験システムの構成を示す図である。
【符号の説明】
１ 試験器
１１ 受信機
２−１〜２−ｎ 感知器
３ 伝送路
１２ コマンド受信手段
１３ 試験実行手段
１４ 試験結果記憶手段
１５ 試験結果出力手段
１９ 試験端子
３３ サンプル手段
３４ 初期値設定手段
３５ 感度補償値保持手段
３６ 補償用データ設定手段
３７ 補償用計数手段
３８ 感度補償値変更手段
３９ 補償手段
４０ サンプル回数計数手段
７０ 判断手段
７１ 判断結果出力手段
３１ 物理量検出手段
２１ 物理量検出部
２２ Ａ／Ｄ変換部
２３ アドレス部
２４ ＣＰＵ
２５ ＲＯＭ
２６ ＲＡＭ
２７ 不揮発性メモリ
２８ 状態出力部
２９ 伝送部
４１ 汚れ検出手段
４２ 返送手段
４３ 感度補償手段
４４ 煙検出部
４５ 記憶手段
５１ 試験結果表示手段
６０ 表示灯
１００ 試験開始手段
１０１ 試験手段
１０２ 試験結果表示手段
Claims (1)
- 感知器を試験する機能を備えた試験器を有する試験システムであって、
前記試験器は、試験機能を備えていない感知器に対しては、試験器の試験機能を用いて試験を行ない、試験機能を備えている感知器に対しては、該感知器が試験を行った試験結果を該感知器から取得するようになっており、
試験機能を備えている感知器は、試験器からの自己の感知器の試験を行わせる指令なしで自己の感知器の試験を行なう試験実行手段と、試験実行手段による試験結果が格納される試験結果記憶手段と、試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を返送させるコマンドの受信により該試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を送出する試験結果出力手段とを備えていることをいることを特徴とする試験システム。
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