KR200318683Y1 - 램프 점등 검사 장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 각종 램프 모듈의 램프 점등 여부를 검사하기 위한 램프 점등 검사장치에 관한 것으로서, 램프 모듈의 각 램프에 흐르는 전류를 검출하는 전류 검출 수단(210); 상기 램프가 발광하는지 여부를 감지하는 발광 여부 검출 수단(220); 상기 전류 검출 수단으로부터 출력된 전류값 및 상기 발광 여부 검출 수단으로부터 출력된 발광 신호를 디지털 값으로 변환하는 아날로그/디지털 변환수단(250); 상기 아날로그/디지털 변환된 전류값 및 발광 신호를 미리결정된 기준값과 비교하여 상기 램프의 양/불량여부를 결정하는 램프 검사 신호(231)를 생성하는 처리 및 연산 수단(260); 상기 기준값을 저장하는 제 1 기억 수단(280); 상기 디지털 변환값들을 저장하는 제 2 기억 수단(290); 상기 처리 및 연산 수단으로 사용자 설정값(241)을 입력하는 입력 수단(240); 및 상기 처리 및 연산 수단으로부터의 램프 검사 신호를 사용자에게 출력하는 출력 수단(230)을 포함하고, 상기 기준값은 미리결정된 허용범위를 가지는 기준 전류값(281) 및 특정 단자에 전압이 인가될 때 발광되는 램프의 번호를 표시하는 기준 발광 순서값(282)을 포함하고, 상기 기준 전류값 및 기준 발광 순서값은 해당 램프 모듈의 마스터 램프 모듈의 전류값 측정 및 발광 순서값 측정에 의해 결정되는 것을 특징으로 한다.

Description

램프 점등 검사 장치{LAMP TESTER}

본 고안은 각종 램프 모듈의 램프 점등 여부를 검사하기 위한 램프 점등 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 필라멘트 전구 또는 발광 다이오드 등의 각종 램프의 제작에서 제작 완료된 램프의 발광 정도 및 저항 또는 전류관계등을 검사하여 불량 램프를 색출하기 위한 램프 검사장치에 관한 것이다.

자동차의 후미등 같은 램프 모듈은 그 내부에 수개의 램프가 독립적으로 또는 그 일부는 공통으로 조합되어 있다. 이러한 램프가 정상적으로 작동하는 지를 검사하기 위하여, 램프에 정전압을 인가하였을 때 먼저 충분한 밝기 즉 충분한 전류값이 출력되는 지 여부와 특정 램프에 정전압을 인가하였을 때 특정 램프가 발광되는지 여부를 검사하는 것이 검사작업의 기본이 된다.

도 1a 및 1b 는 종래의 램프 점등 검사 장치의 전면 및 작동 원리를 나타내는 도면이다.

이러한 램프 점등 검사 장치에 따르면, 램프 점등 검사 장치(100) 내부에 각 램프 모듈내에 포함된 램프의 개수만큼의 전류계(110)가 위치하고 각 램프 모듈의램프 단자에 해당 전류계가 모두 배선된다. 검사시 기준이 되는 램프 전류값은 전류계(110)내에 위치한 기준값 설정 상한치 및 하한치 조절 버튼(111) 에 의해 미리 설정된다. 또한 각 램프 모듈의 램프에 해당하는 위치에 광 센서(120)가 위치하고 이러한 센서의 동작에 의해 정전압 인가기(170)에 의해 정해진 순서에서 특정 전압 인가에 대해 발광하는 램프의 위치가 파악된다. 이러한 전류값 및 점등 순서에 관한 정보는 프로그램가능한 논리 제어기(Programmable Logic Controller)(160)에 입력되어 전류값이 기준값의 허용범위내에 위치하는지 또는 정해진 입력에 대해 정해진 램프 발광이 이루어지는지에 대한 정보가 결정되어 합격/불합격 여부가 부저(140) 또는 표시등(130)에 의해 사용자에게 인식되고, 또한 총 합격한 램프 모듈의 개수가 세븐 세그먼트 LED(150)에 의해 표현된다.

그러나 이러한 종래의 램프 검사 장치에 의하면, 합격 불합격 여부의 판정이 정해진 논리 결정값에 대해 정해진 논리결정값을 판단하는 기능만을 가진 프로그램 가능한 논리 제어기에 의해 수행되므로, 검사대상인 램프 모듈이 변경되면, 래더 차트(ladder chart)의 변경으로 PLC 의 논리 프로그래밍을 재작성하여야 하고 또한 각 램프 모듈에 따른 새로운 오차 허용범위등 검사에 필요한 설정값을 매번 새로이 설정해주어야 한다.

또한 다수의 제품을 검사하게 되는 경우 수동기기를 작동하면서 발생할 수 있는 작업자의 판단에 따를 오차가 발생할 수 크다는 단점이 존재한다.

따라서, 본 고안은 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위해 고안된 것으로서,램프 모듈이 변경되더라도 점등 순서등 새로운 프로그래밍과 오차범위등 설정값의 재 설정을 불필요하게 할 뿐 아니라, 기준값이나 검사에 사용되는 여러 값들을 저장하고 모니터링함으로서 검사시간의 단축 및 효율성을 가진 새로운 램프 검사 장치를 제공할 것이 요구된다.

도 1a 및 1b 는 종래의 램프 점등 검사 장치의 전면 및 작동 원리를 나타내는 도면이다.

도 2 는 본 고안의 일 실시예에 따른 램프 점등 검사 장치의 구성을 나타내는 도면이다.

도 3a 및 3b 는 본 고안에 따른 램프 점등 검사 장치에서 램프 검사 신호를 발생시키기 위해 비교되는 기준 전류값 및 기준 발광 순서값을 나타낸다.

도 4 는 램프 모듈의 기준 전류값 및 기준 발광 순서값을 미리 결정하기 위한 과정을 나타내는 시간흐름도이다.

도 5 는 본 고안에 따른 램프 점등 검사 장치의 램프 모듈을 검사하는 방법을 나타내는 시간 흐름도이다.

도 6 은 본 고안의 일 실시예에 따른 램프 점등 검사 장치의 전면 및 후면을 나타내는 도면이다.

<도면 주요 부분에 대한 부호의 설명>

210: 전류 검출 수단 211: 측정 전류값

215: 전류/전압 변환수단 220: 발광 여부 검출 수단

230: 출력 수단 240: 입력 수단

250: A/D 변환 수단 260: 처리 및 연산 수단

270: 정전압 인가 장치 280: 제 1 기억 수단

281: 기준 전류값 282: 기준 발광 순서값

290: 제 2 기억 수단

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은, 램프 모듈의 각 램프에 흐르는 전류를 검출하는 전류 검출 수단(210); 상기 램프가 발광하는지 여부를 감지하는 발광 여부 검출 수단(220); 상기 전류 검출 수단으로부터 출력된 전류값 및 상기 발광 여부 검출 수단으로부터 출력된 발광 신호를 디지털 값으로 변환하는 아날로그/디지털 변환수단(250); 상기 아날로그/디지털 변환된 전류값 및 발광 신호를 미리결정된 기준값과 비교하여 상기 램프의 양/불량여부를 결정하는 램프 검사 신호(231)를 생성하는 처리 및 연산 수단(260); 상기 기준값을 저장하는 제 1 기억 수단(280); 상기 디지털 변환값들을 저장하는 제 2 기억 수단(290); 상기 처리 및 연산 수단으로 사용자 설정값(241)을 입력하는 입력 수단(240); 및 상기 처리 및 연산 수단으로부터의 램프 검사 신호를 사용자에게 출력하는 출력 수단(230)을 포함하고, 상기 기준값은 미리결정된 허용범위를 가지는 기준 전류값(281) 및 특정 단자에 전압이 인가될 때 발광되는 램프의 번호를 표시하는 기준 발광 순서값(282)을 포함하고, 상기 기준 전류값 및 기준 발광 순서값은 해당 램프 모듈의 마스터 램프 모듈의 전류값 측정 및 발광 순서값 측정에 의해 결정되는 것을 특징으로 한다.

또한 본 고안은, 전류 검출 수단과 아날로그/디지털 변환수단 사이에 전류 검출 수단에 의해 검출된 전류값을 전압값으로 변환하기 위한 전류/전압 변환 수단(215)를 더 포함하고, 발광 여부 검출 수단(220)과 아날로그/디지털 변환수단 사이에 상기 발광 여부 검출 수단으로부터 출력된 신호를 아날로그/디지털 변환에 적합하도록 증폭하는 증폭 수단(225)을 더 포함한다.

또한 본 고안은, 상기 사용자 설정값(241)은 램프 검사 신호의 표시 형태, 검사 방식의 선택 및 검사 조건 설정값을 포함하고, 상기 검사 조건 설정값은 인가 전압의 크기, 전압이 인가되는 시간, 및 전류값의 오차 범위를 포함하는 것을 특징으로 한다.

이하 본 고안에 따른 바람직한 실시예를 첨부도면을 참고로 하여 상세히 설명한다.

우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 동일한 부호를 사용하였다. 또한 본 고안을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 고안의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.

도 2 는 본 고안의 일 실시예에 따른 램프 점등 검사 장치의 구성을 나타내는 도면이다.

시험 전원 인가 장치(270)는 램프 모듈의 각 단자에 시험 전원을 인가하기 위한 것이며 높은 값일수록 엄격한 검사 판정 기준을 가지게 되며 일반적으로 12V내지 13.5V 이다. 시험 전원 인가 장치(270)는 램프 모듈의 각 단자에 릴레이를 사용하여 순차적으로 전원을 인가하며 이에 의해 램프 모듈의 각 단자에 연결된 램프 들이 발광된다.

램프의 점등 검사는 원하는 만큼의 전류가 출력되는지 여부와 원하는 위치에서 램프가 발광하는지 여부를 검사하는 것으로 이루어진다. 전류 검출 수단(210)은 전자를 검증하기 위한 수단이고 발광 검출 수단(220)은 후자를 검출하기 위한 수단이다. 전류 검출 수단(210)에 의해 측정된 전류값은 전류/전압 변환수단(215)에 의해 전압값으로 변환되고 이는 다시 A/D 변환수단(250)에 의해 디지털 값으로 변환되어 마이크로 콘트롤러 유닛(Micro Controller Unit: MCU)(260)에 입력된다. MCU(260) 는 연산 및 처리기능을 가진 마이크로 프로세서로서 연산 및 처리작업을 위해 메모리(290)와 연동한다.

출력 장치(230)는 사용자에게 검사 내용의 모니터링, 합격 여부의 판정, 검사의 진행 상태등을 인지시키기 위한 장치이고, 본 고안의 일 실시예에 따라서 출력 장치(230)는 예를 들면 PC 같은 외부 장치로 램프 검사 신호를 송신하기 위한 외부 출력 단자를 포함한다. 이 단자는 RS-232 직렬 포트가 사용되는 것이 일반적이다.

입력 장치는 검사를 수행하기 위해 필요한 정보 예를 들면 검사 조건 정보의 입력, 사용자 설정값의 입력등을 사용자가 수행하게 하기 위한 장치이며, 일반적으로 다수의 숫자와 설정키등을 포함하는 키패드이다.

메모리(280)는 각 램프 모듈마다 정해진 기준값을 저장하는 공간이고 이는전원이 제거되더라도 다음 검사에 여전히 사용할 수 있도록 플레시 메모리(Flash Rom)을 사용한다. 본 고안의 특징에 따라, 램프 모듈에 따른 기준값은 마스터 램프 모듈의 시험 측정으로 정해지며 이러한 값은 상기 플레시 메모리(280)에 저장된다.

MCU(260) 는 전류계(210)로부터의 측정 전류값(211)을 플레시 메모리(280)내에서 미리 저장된 기준 전류값(281)과 비교하여 또한 미리결정된 오차 허용 범위내인지 여부를 판단하고, 또한 발광 검출 수단(220)으로부터의 측정 발광 순서값(221)을 역시 미리결정된 기준발광 순서값(282)과 비교하여, 상기 전류값(211)이 오차 허용범위내에 있지 않거나 상기 측정된 발광 순서값(221)이 기준 발광 순서값과 일치하지 않을 때에는 '불량'을, 두 조건 모두를 만족시킬 때에는 '양' 으로 판정하는 최종 램프 검사 신호(231)를 발생시킨다. 또한 상기 램프 검사 신호는 양/불량 이외에도 정한 각 램프 단자에서 측정한 전류값 또는 오차 허용 범위를 하한으로 벗어났는지 또는 상한으로 벗어났는지를 나타내는 정보를 포함할 수 있다.

사용자 설정값(241)은 검사 조건등에 필요한 정보등을 사용자가 입력 장치(240)를 통해 입력하는 값으로서, 램프 검사 신호의 표시 형태, 검사 방식을 자동 또는 수동으로 할 것인지의 선택, 검사 조건 설정값들을 포함하고, 여기서 상기 검사 조건 설정값들은 인가 전압의 크기, 전압이 인가되는 시간(인가 시간), 전압이 인가되고 나서 다음 전압이 인가되기 까지 걸리는 시간(대기 시간), 전류값의 허용 오차 범위등을 포함한다.

도 3a 및 3b 는 본 고안에 따른 램프 점등 검사 장치에서 램프 검사 신호를발생시키기 위해 비교되는 기준 전류값 및 기준 발광 순서값을 나타낸다.

도 3a 는 예시적인 특정 램프 모듈에 따른 기준 발광 순서값을 나타낸다. 세로 방향의 수들은 램프 모듈의 각 단자번호를 나타내며 가로방향의 수들은 램프 번호를 나타낸다. 이러한 테이블로부터 이 램프 모듈은 1단자에 전압이 인가되면 1번 램프가 발광되고, 2번 단자에 전압이 인가되면 2번 및 4번 램프가, 3번 단자에 전압이 인가되면 3번 램프에만, 4번 단자에 전압이 인가되면 4번 및 5번 램프가 발광되는 구성을 가지고 있다. 따라서 이러한 기준 발광 순서값을 가지는 테이블을 기준으로 MCU(260)는 측정된 램프 발광 순서값을 비교하게 되고 이중 어느 하나라도 상이하다고 판단하면 '불량' 램프 검사 신호를 출력한다.

상기 측정 발광 순서값(211)은 발광 여부를 나타낼 뿐 발광 정도를 판단하지는 않는다. 따라서 발광 정도는 각 단자에의 전압 인가시 측정된 전류값을 기준으로 판단하며, 이는 미리 결정된 기준 전류값(281)과 비교된다. 기준 전류값(281)은 사용자 설정값에 의해 미리 입력된 값에 역시 미리 입력된 오차 허용 범위를 반영한 값이다. 이러한 기준 전류값(281)은 플레시 메모리(280)내에 저장되어 다음 검사에 다시 사용될 수 있게 한다. 도 3b 는 상기 램프 모듈의 기준 전류값을 도시하는 도면이다.

이러한 기준 전류값 및 기준 발광 순서값은 램프 모듈마다 특정되는 값으로서 '채널'이라는 이름으로 입력 장치 및 출력 장치에서 사용자에게 인식가능하다. 즉 사용자는 입력 또는 출력 장치에서 채널의 번호를 선택함으로써 원하는 램프 모듈의 기준 전류값 및 기준 발광 순서값을 표시 및 선택하여 검사를 수행할 수 있다.

도 4 는 램프 모듈의 기준 전류값 및 기준 발광 순서값을 미리 결정하기 위한 과정을 나타내는 시간흐름도이다.

본 고안은 상기 MCU(260)이 비교의 기준값으로 삼는 기준 전류값(281) 내지 기준 발광 순서값(282)이 마스터 램프 모듈의 시험 운전을 통해 자동적으로 얻어지는 것을 특징으로 한다.

마스터 램프 모듈이란 다른 시험을 통해 합격품으로 인정받은 램프 모듈을 말하며 이 램프 모듈의 측정 전류값 및 측정 발광 순서값에 사용자가 원하는 오차허용범위를 반영한 값이 기준 전류값(281) 내지 기준 발광 순서값(282)이 되어 검사의 기준이 된다.

먼저 입력 장치(240)를 통해 오차설정 및 측정 모드로 들어갈 것을 선택하면(단계 410), 해당 램프 모듈을 위한 기준값 설정 모드로 들어가는데, 이 때 해당 램프 모듈에 해당하는 채널 번호를 선택하여 입력하고(단계 430), 기준값 측정을 위한 시작 버튼을 누르면(단계 440) 기준값 설정을 위한 전압이 각 램프에 인가되면서 전류값 측정 및 이 때 발광하는 램프 번호의 측정 즉 발광 순서값의 측정이 수행된다(단계 450 내지 460). 이러한 전류값 및 발광 순서값은 도 3a 및 3b 에 나타난 형태로 플레시 메로리(280)에 해당 채널의 기준값으로 저장된다(단계470).

기준값 측정 단계가 완료되면, 사용자는 입력 장치(240)의 버튼을 통해 상기 측정값에 반영할 오차 허용범위 직접 입력하고(단계 480), 이는 전류 측정값에 반영되어 기준 전류값의 생성 및 기준 발광 순서값의 생성이 완료된다(단계 490).

기존의 램프 검사 장치는 이러한 기준 전류값 및 기준 발광 순서값이 저장되지 않아 재검사시 새로 설정해야하는 번거로움이 있으나 본 고안에 따른 램프 검사 장치는 이러한 기준값들을 데이터베이스화하여 계속 재사용할 수 있다는 이점을 지닌다. 또한 본 고안의 일 실시에에 따라 출력 장치(230)에 RS-232 포트를 추가적으로 구비할 수 있으며 이를 통해 외부 장치 예를 들면 PC 에 상기 기준전류값 및 기준 발광 순서값 또는 이에 따른 램프 검사 신호 및 이를 조합한 여러 가지 데이터의 전송 및 저장이 가능하다.

도 5 는 본 고안에 따른 램프 점등 검사 장치의 램프 모듈을 검사하는 방법을 나타내는 시간 흐름도이다.

입력 장치(240)의 화면에서 사용자가 마스터 램프 모듈의 시험 측정 단계에서 정해진 채널 번호를 선택하면, MCU(260)는 해당 채널번호에 해당하는 기준 전류값(281) 및 기준 발광 순서값(282)을 플레시 메모리(280)로부터 로드하고(단계 510), 이후 사용자가 측정 방법(수동 및 자동)을 선택하면(단계 520) 선택한 측정 방법에 따라 측정이 시작된다(단계 530 내지 540). 릴레이를 이용하여 해당 램프 모듈의 각 단자에 전압이 순서대로 인가되면서 각 단자상의 전류(측정 전류값)가 측정되고 발광되는 램프의 위치가 검출되어 측정 전류값(211) 및 측정 발광 순서값(221)을 발생시키고 이것은 AD변환기(250)을 거쳐 MCU(260)으로 전달된다(단계 540). 전달된 값들은 단계 510 에서 로드된 해당 채널의 기준 전류값(281) 및 기준 발광 순서값(282)과 비교되어 양/불량여부를 나타내는 램프 검사 신호(231)를출력 장치(230)에 전달한다(단계 560 및 570). 불합격 시에는 사용자에 의한 clear 키 입력으로써 불합격여부가 사용자에게 인지되었음을 한번 더 확인시키는 단계를 추가적으로 가질 수도 있다(단계580). 다음으로 램프 모듈의 제 1 번 단자에 대해 수행된 단계 530 내지 단계 580 은 제 2 번 단자 및 그 다음의 단자들에 대해 반복된다.

램프 검사 신호(231)는 다양한 형태가 가능하다. 예를 들면 출력 장치(230)가 LCD 화면인 경우는 양/불량 여부 화면에 표시하거나 또는 이때 기준 전류값 이하인지 이상인지 또는 점등 위치 오류인지를 표시할 수도 있다. 또한 출력 장치(230)가 부저 또는 알람등인 경우는 상기 램프 검사 신호는 불량일 경우 상기 부저 또는 알람등을 구동시키는 전기 신호일 수도 있다. 이러한 시각적 또는 청각적 알람으로 사용자는 불합격 여부를 더욱 쉽게 인식할 수 있기 때문이다. 또한 카운터(counter)를 이용해 총 합격한 램프 모듈의 수를 디스플레이 할 수도 있다.

도 6 은 본 고안의 일 실시예에 따른 램프 점등 검사 장치의 전면 및 후면을 나타내는 도면이다. 이 실시예에서 입력 장치(240)는 키패드(620), 출력 장치(230)는 합격/불합격 표시 램프(630), 부저(640) 및 LCD 화면(610)이며, 이 화면에서는 예시적인 화면에서 사용자에게 검사 내용을 표시하기 위한 기본적인 정보 즉 램프 모듈의 채널 번호, 인가 전압, 및 합격 수량등을 표시하고 있다.

또한 전류 검출 수단으로부터의 측정 전류값을 수신하기 위한 커넥터 (651) 및 발광 검출 수단으로부터의 측정 발광 순서값을 수신하기 위한 커넥터 (652) 및 외부 리모콘, 외부 표시등, 외부 부저 같은 기타 외부 장치와 연결되어 외부 장치로의 입출력 신호를 송수신하기 위한 커넥터(653)를 포함하는 세 개의 커넥터가 장치 후면에 배치되어 있다.

이 밖에 장치 구동을 위한 스위치(660), 퓨즈(670) 및 AC 전원 플러그(680)이 후면에 설치되어 있다.

전술한 바와 같이 본 고안에 따른 램프 점등 검사 장치에 의하면, 다양한 램프 모듈에 대해 용이하게 설정을 변경할 수 있고 검사의 속도 및 정확도를 향상시킬 수 있다는 효과를 가진다.

Claims (9)

1. 램프 점등 검사 장치로서,

   램프 모듈의 각 램프에 흐르는 전류를 검출하는 전류 검출 수단(210);

   상기 램프가 발광하는지 여부를 감지하는 발광 여부 검출 수단(220);

   상기 전류 검출 수단으로부터 출력된 전류값 및 상기 발광 여부 검출 수단으로부터 출력된 발광 신호를 디지털 값으로 변환하는 아날로그/디지털 변환수단(250);

   상기 아날로그/디지털 변환된 전류값 및 발광 신호를 미리결정된 기준값과 비교하여 상기 램프의 양/불량여부를 결정하는 램프 검사 신호(231)를 생성하는 처리 및 연산 수단(260);

   상기 기준값을 저장하는 제 1 기억 수단(280);

   상기 디지털 변환값들을 저장하는 제 2 기억 수단(290);

   상기 처리 및 연산 수단으로 사용자 설정값(241)을 입력하는 입력 수단(240); 및

   상기 처리 및 연산 수단으로부터의 램프 검사 신호를 사용자에게 출력하는 출력 수단(230)을 포함하고,

   상기 기준값은 미리결정된 허용범위를 가지는 기준 전류값(281) 및 특정 단자에 전압이 인가될 때 발광되는 램프의 번호를 표시하는 기준 발광 순서값(282)을 포함하고, 상기 기준 전류값 및 기준 발광 순서값은 해당 램프 모듈의 마스터 램프모듈의 전류값 측정 및 발광 순서값 측정에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는, 램프 점등 검사 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 전류 검출 수단과 상기 아날로그/디지털 변환수단 사이에 전류 검출 수단에 의해 검출된 전류값을 전압값으로 변환하기 위한 전류/전압 변환 수단(215)를 더 포함하고, 발광 여부 검출 수단(220)과 아날로그/디지털 변환수단 사이에 상기 발광 여부 검출 수단으로부터 출력된 신호를 아날로그/디지털 변환에 적합하도록 증폭하는 증폭 수단(225)을 더 포함하는, 램프 점등 검사 장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 사용자 설정값(241)은 램프 검사 신호의 표시 형태, 검사 방식의 선택 및 검사 조건 설정값을 포함하고, 상기 검사 조건 설정값은 인가 전압의 크기, 전압이 인가되는 시간, 및 전류값의 오차 범위를 포함하는, 램프 점등 검사 장치.
4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 발광 여부 검출 수단(220)은 칸델라 센서(Candela Sensor)인 것을 특징으로 하는, 램프 점등 검사 장치.
5. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 처리 및 연산 수단(260)은 마이크로 콘트롤러 유닛(Micro Controller Unit) 인 것을 특징으로 하는, 램프 점등 검사 장치.
6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제 1 기억 수단(280)은 플래시 메모리(Flash Memory) 인 것을 특징으로 하는, 램프 점등 검사 장치.
7. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 출력 수단(230)은 LCD 패널, 외부 작업 표시등 및 알람 부저를 포함하는, 램프 점등 검사 장치.
8. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 출력 수단(230)은 외부 출력 단자를 포함하고, 상기 외부 출력 단자에 의해 상기 램프 검사 신호가 외부 장치에 전송되는 것을 특징으로 하는, 램프 점등 검사 장치.
9. 제 8 항에 있어서, 상기 외부 출력 단자는 RS-232 포트이고, 상기 외부 장치는 개인용 컴퓨터인, 램프 점등 검사 장치.