KR200336598Y1

KR200336598Y1 - 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치

Info

Publication number: KR200336598Y1
Application number: KR20-2003-0029318U
Authority: KR
Inventors: 박성호
Original assignee: 박성호
Priority date: 2003-09-16
Filing date: 2003-09-16
Publication date: 2003-12-18

Abstract

본 고안은 차량용 램프 수밀 및 점등 검사를 통합하여 수행하는 검사 장치를 제공한다. 상기 검사 장치는: 전류를 검출하는 전류센서와, 발광 여부를 감지하는 발광센서와, 압력 차이를 검출하는 압력센서를 포함하여 검출된 값을 출력하는 검출수단과; 상기 검출수단으로부터 입력되는 검출 값을 각각 디지털화하는 아날로그/디지털 변환수단과; 상기 디지털화된 검출 값과 비교되어 상기 램프의 양/불량 여부를 결정하기 위한 기준값을 저장하는 저장수단과; 상기 디지털화되어 입력되는 검출 값을 상기 저장수단으로부터 읽어들인 기준값과 각각 비교하여 상기 램프의 양/불량여부를 결정하는 프로세서 수단; 및 상기 프로세서 수단에 의해 결정된 양/불량여부를 사용자에게 알려주기 위한 출력 수단을 포함하여 구성될 수 있다. 본 고안에 따라, 종래에 각각 별도로 수행되던 차량용 램프의 수밀 검사 및 점등 검사가 하나의 장치로 통합되어, 필요에 따라 자동으로 또는 선택에 의해 검사가 수행됨으로써, 검사 시간이 단축되고 편리해질 뿐만 아니라 저렴한 검사 장비를 사용할 수 있어 생산성이 크게 향상되는 효과가 있다.

Description

차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치{TESTER FOR COMBINED LEAKAGE AND LIGHTING OF A VEHICLE LAMP}

본 고안은 램프의 수밀 상태 및 점등 여부를 통합하여 검사하기 위한 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 필라멘트 전구 또는 발광 다이오드 등의 각종 램프의 제작에서 제작 완료된 램프의 발광 정도 및 저항 또는 전류관계등을 검사할 뿐만 아니라 램프 내부의 공기압을 측정하여 램프의 양/불량을 판정하기 위한 통합된 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사장치에 관한 것이다.

일반적으로, 도 1에 도시되어 있는 바와 같은 예컨대 자동차의 후미등 같은 램프(10)는 그 내부에 수개의 전구가 독립적으로 또는 공통으로 결합될수 있는 하우징에 렌즈가 접착 또는 용착되어 이루어진다. 이러한 램프(10)의 제조 공정을 살펴보면, 도 2에 도시된 바와 같이, 먼저 각 구성부품 예컨대, 하우징, 반사경, 벌브 등을 사출성형, 프레스공정, 단조공정 등을 거쳐 제조하는 단품제조 단계(S1)를 거친다. 그후, 각 구성부품을 부분적으로 조립하여 램프(10)의 형태를 갖추도록 하는 조립단계(S2)를 거치고, 각 부분을 핫멜트, 접착제 도포 또는 용착, 융착 등의 공정에 의해 각 구성부품이 고정되며 램프(10)가 제작된다. 그후, 출하하기(S5) 전에 공기가 누출되는지를 검사하는 수밀검사와, 벌브에 전류가 잘 통하며 적당한 밝기를 가지고 작동하는지를 검사하는 벌브 점등검사와, 기타 누락된 부품이 없는지를 살펴보는 누락검사 등이 행해지는 검사단계(S4)를 거치게 된다. 이러한 검사단계(S4)를 위해 램프(10)의 하우징 후면부에는 벌브에 전압을 공급하며 전류센서와 광전센서 등이 장착되는 다수의 전기출입구(12, 14, 16)가 형성되어 있고, 공기를 주입하거나 빼낼 수 있는 공기출입구(18)가 형성되어 있다. 도 1에는, 이러한 다수의 전기출입구(12, 14, 16)에 센서(21, 23, 25)가 장착되어 있는 모습이 부분적으로 묘사되어 있다.

이러한 검사단계(S4)에서는 램프(10)가 정상적으로 작동하는 지를 최종적으로 검사하려는 것으로서, 특히 점등검사 및 수밀검사를 행하게 된다. 점등검사란, 램프(10)에 정전압을 인가하였을 때 충분한 전류값이 출력되는지 여부와 램프(10)의 각각의 특정 벌브에 정전압을 인가하였을 때 해당 벌브가 발광되는지 여부를 검사하는 것을 의미한다. 수밀검사란 램프(10)의 밀봉상태를 검사하는 것으로서 특히 램프(10) 내부 공기압의 변동 여부를 검사하는 것을 의미한다. 도 3은 종래의 점등검사 순서를 보여주며, 도 4는 종래의 수밀검사 순서를 보여준다.

도 3을 참조하면, 이러한 종래의 램프 점등 검사에 따라, 사용자는 먼저 램프 점등 검사를 위해 검사대상인 램프(10)내에 포함된 전구의 개수만큼의 전류센서를 예컨대 램프(10)의 하우징에 형성된 센서 위치(12, 14, 16)에 각각 연결한다. 그후 검사를 시작하기 전 예비 단계(S11)에서, 사용자는 제어 전원을 공급하는 스위치를 온시키고, 검사를 위한 동작을 위한 운전 스위치를 온시키며, 합격/불합격 판정시 이를 표시하도록 하는 마킹 스위치를 온시킨 다음, 검사시 기준이 되는 값들을 설정한다. 준비가 다 된후, 사용자는 검사 시작을 위해 시작 스위치를 온시킨다(S12). 그러면 1번 전구 즉 벌브에 전압이 인가된다(S13). 전류센서에 의해 검출된 값을 셋팅된 기준값과 비교하여 양/불량 즉 합격/불합격 여부가 판정된다(S14). 합격인 경우, 사용자에게 합격을 알리는 표시등이 점등된다(S16). 그후 사용자는 합격여부를 마킹할 것인지를 판단하고(S20), 이에 따라 마킹하거나(S21) 또는 마킹하지 않고(S22) 해제 버튼을 입력(S23)하여 검사를 마친다. 한편, 불합격으로 판정난 경우(S15)에는 그 측정된 전류값이 기준값의 상한치 또는 하한치를 벗어나는지 여부에 따라 오른쪽 불량 표시등이 점등되거나(S18) 또는 왼쪽의 불량 표시등이 점등된다(S19). 그후, 마킹여부가 선택된 후 마찬가지로 검사가 종료될 수 있다. 한편, 발광된 광의 세기를 검사하는 광센서의 경우에도 전류센서와 유사하게 검사가 동시에 또는 후속적으로 진행된다.

도 4를 참조하면, 이러한 종래의 램프 수밀 검사에 따라, 사용자는 먼저 검사대상 즉 램프(10)에 형성되어 있는 공기주입구(18)에 압력센서를 연결한다. 그후 검사를 시작하기 전 예비 단계(S31)에서, 사용자는 제어 전원을 공급하는 스위치를 온시키고, 검사를 위한 동작을 위한 운전 스위치를 온시키며, 합격/불합격 판정시이를 표시하도록 하는 마킹 스위치를 온시킨후 공기압 가압/진공 장치를 온시킨 다음, 검사시 기준이 되는 값들을 설정한다. 준비가 다 된후, 사용자는 검사 시작을 위해 시작 스위치를 온시킨다(S32). 그러면 가압/진공 장치가 작동하여 설정된 기준값에 따라 가압/진공 동작을 행하여 램프(10) 내부와 연결된 관을 이용하여 공기를 입력하거나 흡입한다(S33). 평형을 위해 설정된 시간동안 평형상태를 유지(S34)한 다음, 검출을 위해 설정된 시간동안 압력값을 측정한다(S35). 그후 합격/불합격에 따른 후속과정(S36-S42)은 도 3을 참조하여 설명한 것과 유사하게 진행된다.

이러한 종래의 램프 점등 또는 수밀 검사장치에 있어, 전류값 및 점등 순서 또는 수밀검사를 위한 공기의 주입 또는 흡입 설정시간, 평형 및 검출에 관련된 설정 시간 등에 관한 정보는 예컨대, 프로그램가능한 논리 제어기(Programmable Logic Controller)와 같은 칩에 입력된다. 그후 검사장치에 의해 합격/불합격 여부가 판정되면, 그 결과는 부저 또는 표시등에 의해 사용자에게 인식되고, 또한 총 합격한 램프 모듈의 개수가 세븐 세그먼트 LED에 의해 디스플레이된다.

그러나 이러한 종래의 램프 검사 장치에 의하면, 합격 불합격 여부의 판정이 정해진 논리 결정값에 대해 정해진 논리결정값을 판단하는 기능만을 가진 프로그램 가능한 논리 제어기에 의해 수행되므로, 검사대상인 램프 사양이 변경되면, 래더 차트(ladder chart)의 변경으로 PLC 의 논리 프로그래밍을 재작성하여야 하고 또한 각 램프 모듈에 따른 새로운 오차 허용범위등 검사에 필요한 설정값을 매번 새로이 설정해주어야 한다는 문제가 있었다. 더 나아가 다수의 제품을 검사하게 되는 경우 수동기기를 작동하면서 발생할 수 있는 작업자의 판단에 따를 오차가 발생할 수 크다는 단점이 존재하였다. 또한, 램프 점등 검사를 위한 장치와 램프 수밀 검사를 위한 장치가 따로 존재하고 있었기 때문에, 각 장비를 별도로 준비하여야 하고 검사를 위한 셋팅도 별도로 하여야 하는 등, 작업이 복잡하고 장비의 가격이 상대적으로 고가라는 단점이 있었다.

따라서, 다양한 램프 사양에 대해 유연하게 기준값을 설정할 수 있으면서, 한번의 셋팅에 의해 램프의 상태를 완전히 검사하여 출고가능한 양품을 분리해낼 수 있으며, 상대적으로 저렴한 검사 장치에 대한 절실한 요구가 있었다.

본 고안의 목적은 상술한 바와 같은 종래의 램프 검사 장치의 문제점을 개선하고 추가적인 장점을 가지는 새로운 램프 검사장치를 제안하려는 것이다.

본 고안의 다른 목적은, 종래에 별도로 셋팅되고 별도로 행해졌던 램프의 점등 검사와 램프의 수밀 검사를 동시/선택적으로 자동으로 수행할 수 있도록 한 통합된 램프 검사장치를 제안하려는 것이다.

본 고안의 또 다른 목적은, 램프의 사양이 변경되더라도 점등 순서나 공기압력값 등 새로운 프로그래밍과 오차범위등 설정값의 재설정이 쉽게 변경가능하거나 미리 저장시킴으로써, 다양한 램프에 대한 검사를 가능하게 한 램프 검사장치를 제안하려는 것이다.

또한 본 고안의 또 다른 목적은, 검사 시간이 단축되고 검사작업이 용이하며 다양한 검사단계를 하나의 통합된 장비를 이용하여 수행할 수 있도록 함으로써, 램프 제조의 생산성이 크게 향상되도록 한 통합된 램프 점등 및 수밀 검사장치를 제공하려는 것이다.

도 1은 검사대상인 차량용 램프를 보여주는 개략도.

도 2는 차량용 램프의 제조 및 검사 공정을 보여주는 흐름도.

도 3은 종래의 차량용 램프에 대한 점등 검사 단계들을 보여주는 순서도.

도 4는 종래의 차량용 램프에 대한 수밀 검사 단계들을 보여주는 순서도.

도 5는 본 고안의 일실시예에 따른 검사장치의 외부적인 구성을 보여주는 개략도.

도 6는 본 고안의 일실시예에 따른 검사장치의 내부적인 구성을 보여주는 블록도.

도 7은 본 고안의 일실시예에 따른 검사장치를 사용하여 검사하는 단계를 전체적으로 보여주는 흐름도.

도 8 내지 도 16은 본 고안의 일실시예에 따른 검사장치를 사용하여 행하는 점등 또는/및 수밀 검사의 각 단계를 각각 자세히 보여주는 흐름도.

<도면 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10: 차량용 램프 20: 점등검사 커넥터

30: 수밀검사 커넥터 100: 검사장치

110: 마이크로제어기 유닛 122: 플레시 메모리

124: RAM 126: ROM

132: 디스플레이 134: 키 데이터입력장치

136: 외부데이터 입력단자 137: 테스트전압 출력단자

138: 외부데이터 출력단자 142: 전류센서데이터 입력단자

144: 광전센서데이터 입력단자 146: 변위센서데이터 입력단자

152: AC/DC 변환기 154: 전압증폭기

156: 전류/전압 변환기 158: 아날로그/디지털 변환기

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은, 차량용 램프 수밀 및 점등 검사 장치를 제공한다. 상기 장치는, 전류를 검출하는 전류센서와, 발광 여부를 감지하는 발광센서와, 압력 차이를 검출하는 압력센서를 포함하여 검출된 값을 출력하는 검출수단과; 상기 검출수단으로부터 입력되는 검출 값을 각각 디지털화하는 아날로그/디지털 변환수단과; 상기 디지털화된 검출 값과 비교되어 상기 램프의 양/불량 여부를 결정하기 위한 기준값을 저장하는 저장수단과; 상기 디지털화되어 입력되는 검출 값을 상기 저장수단으로부터 읽어들인 기준값과 각각 비교하여 상기 램프의 양/불량여부를 결정하는 프로세서 수단; 및 상기 프로세서 수단에 의해 결정된 양/불량여부를 사용자에게 알려주기 위한 출력 수단을 포함하여 구성된다. 이에 따라 램프의 점등 검사 및 수밀 검사가 통합된 장치가 제공될 수 있어, 종래의 따로 수행되었던 검사들이 한번의 셋팅에 의해 자동으로 수행될 수 있다.

본 고안에 따라 상기 프로세서 수단은; 상기 전류센서 및 발광센서로부터의 검출 값과 저장되어 있는 기준값을 각각 비교하여 상기 램프의 양/불량 여부를 결정하는 점등 검사 단계와; 상기 압력센서로부터의 검출 값과 저장되어 있는 다른 기준값을 비교하여 상기 램프의 양/불량 여부를 결정하는 수밀 검사 단계와; 상기 점등 검사 단계 및 상기 수밀 검사 단계를 차례로 수행하는 점등 및 수밀 검사 단계를 각각 수행하며, 여기서, 상기 점등 검사 단계와 상기 수밀 검사 단계와 상기 점등 및 수밀 검사 단계의 수행 여부를 사용자가 선택할 수 있도록 하는 검사 단계선택 수단이 더 포함된다. 이에 따라, 사용자는 본 고안에 따른 검사장치를 이용하여, 점등 검사만을 행하도록 또는 수밀 검사만을 행하도록, 또는 점등 검사와 수밀 검사를 순차적으로 행하도록 선택가능하다.

본 고안에 따라, 상기 출력 수단은 상기 프로세서 수단이 수행하는 각 검사 단계의 세부 사항을 더 출력하며, 상기 저장 수단에 저장된 기준값을 사용자가 설정할 수 있도록 하는 입력 수단이 더 포함된다. 더 나아가 상기 출력 수단은, 양/불량에 따라 서로 다른 음향 또는 색깔을 가지고 발광하는 울리는 부저 또는 표시등과, 상기 검사 단계의 세부 사항을 표시하는 디스플레이 수단을 포함한다. 이에 따라, 사용자는 현재 검사되고 있는 검사대상이 합격인지 불량인지를 잘 알 수 있고, 더 나아가 검사대상의 사양에 따른 새로운 기준값을 쉽게 설정함으로써, 여러 가지 규격의 제품을 하나의 장비로 검사할 수 있다는 장점이 제공된다.

본 고안에 따라, 상기 프로세서 수단에 의해 출력되는 데이터를 외부로 전송하기 위한 외부 출력 단자 및 외부에서 데이터를 입력시키기 위한 입력 단자가 더 포함된다. 이에 따라, 데스크탑 컴퓨터나 노트북 컴퓨터 또는 핸드헬드 컴퓨터를 이용하여 상기 검사장치를 제어하고 필요한 데이터를 입력하며, 검사 과정을 모니터할 수 있는 기능이 제공될 수 있다. 더 나아가 인터넷 또는 사내 인트라넷과 연결시킬 수 있는 기능도 제공될 수 있다.

본 고안에 따라, 상기 기억 수단은 플래시 메모리(Flash Memory)를 포함한다.

본 고안에 따라, 상기 전류 센서는 상기 램프의 벌브에 흐르는 전류를 검출하는 전류계이며, 상기 발광 센서는 상기 램프 내부에서 발생된 광을 전기신호로 변환하는 광전 센서이다. 이러한 광전 센서로서, 예컨대 CdS(황화카드뮴)셀, CdSe셀, CdSSe셀, PbS셀 등과 같이, 광을 수신하면 자체 저항이 변동됨으로써 광을 감지할 수 있는 광전 센서가 사용될 수 있다. 한편 상기 압력 센서는 상기 램프의 내부의 공기 압력과 상기 램프의 내부와 연결되는 미리 정해진 공기 공급 장치의 공기 압력 사이의 차이를 기계적으로 검출하여 이를 전기신호로 변환하는, 예컨대 LVDT(Linear Variable Differential Transformer)와 같은, 변위센서이다.

이하 본 고안에 따른 바람직한 실시예를 첨부도면을 참고로 하여 상세히 설명한다.

도 5는 본 고안의 일 실시예에 따른 차량용 램프의 점등 및 수밀 검사 장치의 외관 구성을 나타내는 개략도이고, 도 6은 검사장치(100) 내부의 시스템 블록도이다.

검사장치(100)는 도 6에 도시된 회로 컴포넌트들을 설치되어 있는 대체로 직육면체 형태를 하며, 검사대상인 램프(10)와 연결하기 위한 커넥터(20, 30)를 구비한다. 램프(10)에는, 이미 앞에서 언급된 바와 같이, 이 커넥터(20, 30)와 연결되는 연결 위치(12, 14, 16, 18)들이 형성되어 있다.

커넥터(20)는 점등 검사를 위해 전원을 공급하며 출력되는 전류값 등을 전달하기 위한 케이블 형태를 하는 점등 검사를 위한 커넥터이다. 램프(10)에 연결되는 단자들(21, 23, 25)을 일단에 구비하며, 검사장치(100)에 연결되는 단자(27)를 타단에 구비한다. 도시되어 있지는 않지만, 커넥터(20)의 각 단자에 시험 전원을 인가하기 위한 시험 전원 인가 장치가 더 연결된다. 시험 전원은 일반적으로 12V 내지 13.5V의 전압을 인가하게 된다. 시험 전원 인가 장치에 의해 전원이 각 단자에 릴레이를 사용하여 순차적으로 전원을 인가하며 이에 의해 램프(10)의 각 단자에 연결된 벌브들이 발광된다.

커넥터(30)는 램프(10)의 수밀 상태를 검사하기 위한 수밀검사 커넥터이다. 커넥터(30)의 일단은 램프(10)의 공기주입구(18)에 연결되는 연결부(32)이다. 이 연결부(32)를 통해 공기를 공급 또는 흡입하도록 공기압을 생성하기 위한 공기압 소스(39)가 커넥터(30)의 타단에 설치되는데, 공기압 소스(39)는 펌프(38)의 가동시 예컨대 약 8 내지 10 Kg/cm²(bar)의 압축공기를 생성한다. 이 압축공기는 1차 감압기(37)에 의해 예컨대 약 4 내지 6 Kg/cm²(bar)의 압력을 가지도록 감압되고, 다시 시험을 위해 사용될 수 있는 약 0.1 내지 0.2 cm²(bar)의 압력으로 감압된다. 이렇게 감압된 공기압은 공압차단밸브(35)에 작동에 의해 램프(10)와 연결/차단될 수 있다. 수밀 검사시, 밸브(35)가 열리면 소스(39)에서 생성된 공기압이 램프(10) 내부의 공기압과 연결되어 평형상태를 유지하게 되는데, 그 과정에서 발생하는 압력차에 의한 변동 상태를 검사하는 압력센서(미도시됨)가 커넥터(30)에 연결되어 검사장치(100)로 연결부(34)를 통해 검출된 값을 전달하게 된다.

이러한 커넥터(20, 30)는 검사장치(100)의 입력단(140)에 연결되며, 검사가 진행되는 동안 검사장치의 LED 또는 LCD로 이루어진 디스플레이부(132)에 데이터가 디스플레이된다. 검사장치(100)의 외부에는 부저나 표시등이 형성되어 있고, 작동을 위한 각종 스위치(135)가 배열되며, 예컨대 데스크탑 또는 노트북 컴퓨터일 수 있는 외부 장치와 연결을 위한 입출력포트(130)가 설치되어 있다.

도 6을 참조하면, 램프의 점등 검사 및 수밀 검사시 측정된 값들은 입력단(140)(도5)을 통해 입력된다. 구체적으로 입력단(140)은, 예컨대 전류계인 전류 센서로부터 전류값이 입력되는 전류 센서 데이터 입력단(142)과, 예컨대 CdS셀인 광전 센서로부터 광신호가 변환된 전압값이 입력되는 광전 센서 데이터 입력단(144)과, 그리고, 예컨대 LVDT 변위센서인 압력 센서로부터 압력차가 변환된 AC 전류가 입력되는 압력 센서 데이터 입력단(146)을 포함한다.

본 고안에 따른 검사장치(100)는 램프의 점등 검사시 램프(10)에서 원하는 만큼의 전류가 출력되는지 여부 및 원하는 위치에 있는 벌브가 발광하는지 여부를 검사한다. 이 경우, 전류 센서 데이터 입력단(142)과 광전 센서 데이터 입력단(144)으로부터 램프의 점등 검사에 따른 검출 전류값 및 전압값이 입력된다. 전류 센서에 의해 측정된 전류값이 입력되면, 이 측정된 전류값은 전류/전압 변환기(156)에 의해 전압값으로 변환되고 이는 다시 아날로그/디지털(A/D) 변환기(158)에 의해 디지털 값으로 변환되어 마이크로 콘트롤러 유닛(Micro Controller Unit: MCU)(110)에 입력된다. 한편, 광 센서에 의해 측정된 전압값이 입력되면, 이 측정된 전압값은 전압 증폭기(154)에 의해 증폭되고, A/D 변환기(158)에 의해 디지털 값으로 변환되어 MCU(110)에 입력된다. MCU(110)는 연산 및 처리기능을 가진 마이크로 프로세서로서, 입력된 측정 전류값 및 전압값을, 메모리(122,124,126)에 저장되어 있는 프로그램에 따라 및/또는 외부데이터 입력단(136)이나 키데이터 입력수단(134)에서 지시되는 바에 따라, 상기 메모리(122, 124, 126)에 저장되어 있는 기준값과 비교하여 램프(10)의 합격/불합격 여부를 판정 즉 양/불량을 판정하며, 그 판정 결과를 디스플레이(132)나 외부 출력단(137, 138)을 통해 출력한다.

또한, 본 고안에 따른 검사 장치(100)는 램프의 수밀 검사시 램프(10) 내부의 압력이 예컨대 평형을 이루는지 여부를 검사한다. 이 경우, 압력 센서 데이터 입력단(146)으로부터 램프의 수밀 검사에 따른 검출 교류 전류값이 입력된다. 압력 센서에 의해 측정된 교류값이 입력되면, 이 측정된 교류값은 교류/직류 변환기(152)에 의해 직류값으로 변환되고, 차례로 전압 증폭기(154)에 의해 증폭된 후, 아날로그/디지털(A/D) 변환기(158)에 의해 디지털 값으로 변환되어 MCU(110)에 입력된다. MCU(110)는 입력된 측정 교류값으로부터 변환된 값을 메모리(122,124,126)에 저장되어 있는 프로그램에 따라 상기 메모리(122, 124, 126)에 저장되어 있는 기준값과 비교하여 램프(10)의 합격/불합격 여부를 판정 즉 양/불량을 판정하며, 그 판정 결과를 디스플레이(132)나 외부 출력단(137, 138)을 통해 출력한다.

출력 장치(132,137,138)는 사용자에게 검사 내용의 모니터링, 합격 여부의 판정, 검사의 진행 상태등을 인지시키기 위한 장치이고, 본 고안의 일 실시예에 따라서 출력 장치는 예를 들면 PC 같은 외부 장치로 램프 검사 신호를 송신하기 위한 외부 출력 단자(136, 138)를 포함한다. 이 단자는 RS-232 직렬 포트가 사용될 수 있으나 이에 한정될 필요는 없다.

입력 장치(134)는 검사를 수행하기 위해 필요한 정보 예를 들면 검사 조건정보의 입력, 사용자 설정값의 입력등을 사용자가 수행하게 하기 위한 장치이며, 일반적으로 다수의 숫자와 설정키등을 포함하는 키패드일 수 있고, 각종 온/오프 스위치가 포함될 수 있다.

메모리(122,124,126)는 각 램프 검사에 필요한 정해진 기준값을 저장하는 공간이고 이는 전원이 제거되더라도 다음 검사에 여전히 사용할 수 있도록 플레시 메모리(Flash Rom)(122)을 사용하는 것이 바람직하다. 이밖에, 검사 과정을 미리 프로그램하여 저장하고 프로그램 동작시 필요한 계산 수행을 위한 있는 ROM(126) 및 RAM(124)을 포함할 수 있다.

MCU(110)는 전류계로부터의 측정 전류값을 플레시 메모리(122)내에서 미리 저장된 기준 전류값과 비교하여 또한 미리결정된 오차 허용 범위내인지 여부를 판단하고, 또한 광전 센서로부터의 측정 전압값을 역시 미리결정된 기준 전압값과 비교하여, 오차 허용범위내에 있지 않거나 일치하지 않을 때에는 '불량'을, 두 조건 모두를 만족시킬 때에는 '양' 으로 판정하는 최종 램프 검사 신호를 발생시킨다. 또한 상기 램프 검사 신호는 양/불량 이외에도 정한 각 램프 단자에서 측정한 전류값 또는 오차 허용 범위를 하한으로 벗어났는지 또는 상한으로 벗어났는지를 나타내는 정보를 포함할 수 있다.

사용자는 검사 조건 등에 필요한 정보 등을 입력 장치(134)를 통해 입력하여 설정할 수 있는데, 이러한 정보는 램프 검사 신호의 표시 형태, 검사 방식을 자동 또는 수동으로 할 것인지의 선택, 검사 조건 설정값들을 포함하고, 여기서 상기 검사 조건 설정값들은 인가 전압의 크기, 전압이 인가되는 시간(인가 시간), 전압이인가되고 나서 다음 전압이 인가되기까지 걸리는 시간(대기 시간), 전류값의 허용 오차 범위, 수밀 검사의 각종 시간 설정값 등을 포함한다.

예컨대 구체적으로 다수의 전구를 가진 램프(10) 모듈에 있어서, 1번 단자에 전압이 인가되면 1번 램프가 발광되고, 2번 단자에 전압이 인가되면 2번 및 4번 램프가, 3번 단자에 전압이 인가되면 3번 램프에만, 4번 단자에 전압이 인가되면 4번 및 5번 램프가 발광되도록 하며, 그후 수밀 검사를 위한 공기압 펌프 작동 및 밸브가 개폐되도록 동작하도록 하는 등의 제어를 순차적으로 구성을 할 수 있다. 이러한 정해진 발광 등의 제어 순서는 메모리에 저장되어 있는 테이블에서 정해지며, 이러한 테이블은 MCU(110)에 의해 판독되어 검사 수행에 이용된다. MCU(110)는 이러한 테이블에 명시된 순서에 따라 측정된 값을 기준값과 비교하게 되고 이중 어느 하나라도 상이하다고 판단하면 '불량' 램프 검사 신호를 출력할 수 있다.

이러한 기준 전류값 및 기준 발광 순서는 특정한 램프 모듈마다 특정되는 값으로서 '채널'이라는 이름으로 입력 장치 및 출력 장치에서 사용자에게 인식가능하다. 즉 사용자는 입력 또는 출력 장치에서 채널의 번호를 선택함으로써 원하는 램프 모듈의 기준 전류값 및 순서 등을 표시 및 선택하여 검사를 수행할 수 있다.

이하에서 도 7 내지 도 16에 도시된 바를 참조하여, 본 고안에 따른 검사장치(100)를 이용하여 램프 점등 검사, 램프 수밀 검사, 램프 점등 및 수밀 검사 과정을 상세히 설명한다.

도 7는 본 고안에 따른 검사단계를 전체적으로 보여주는 개략적인 흐름도이다. 메인 화면(S50)에서, 사용자는 점등검사, 수밀검사, 또는 점등수밀검사를 선택할 수 있다. 수밀검사를 선택하면, 수밀검사 메인 화면(S61)으로 들어간다. 수밀검사 메인 화면(S61)에서는, 도 8을 참조하여 더 설명되는 오차설정 단계(S62)와, 도 9를 참조하여 더 설명되는 시간설정 단계(S63)와, 도 10을 참조하여 더 설명되는 측정방법 설정 단계(S64)에 선택적으로 들어갈 수 있다. 다른 한편, 이러한 단계를 사용자가 선택하지 않고 도 11을 참조하여 더 설명되는 수밀검사 단계(S65)를 직접 선택할 수도 있다. 메인 화면(S50)에서 사용자가 점등검사를 선택하면, 점등검사 메인 화면(S71)으로 들어간다. 이 경우 점등 검사 메인 화면(S71)에서는, 도 12를 참조하여 더 설명되는 오차설정 및 기준치 측정 단계(S72)와, 도 13을 참조하여 더 설명되는 시간 설정 단계(S74)와, 도 14를 참조하여 더 설명되는 측정모드 및 측정방법 설정단계(S75)에 선택적으로 들어갈 수 있다. 다른 한편, 이러한 단계를 사용자가 선택하지 않고 도 15을 참조하여 더 설명되는 점등검사 단계(S76)를 직접 선택할 수도 있다. 사용자가 점등수밀검사를 선택하면, 점등수밀거사 메인 화면(S81)으로 들어간다. 이 경우 점등수밀검사 메인(S81)에서는 도 16을 참조하여 더 설명되는 바와 같이, 점등 검사(S82) 및 수밀 검사(S83)를 각각 순차적으로 수행하든지, 아니면 점등 및 수밀 검사를 동시에 수행(S84)하는 단계를 선택할 수 있다.

도 8 내지 도 11에는 수밀검사 과정이 도시되는데, 도 8 내지 도 10에 도시된 것은 사용자에 의해 수밀검사와 관련된 각종 파라미터를 설정하게 하는 단계이며, 도 11에서 실제 수밀검사 과정이 도시된다.

도 8을 참조하면, 수밀검사 메인 화면(S61)에서 사용자는 오차설정단계(S62)로 진입할 수 있는데, 먼저 오차설정모드로 진입한다(S622). 사용자는 필요에 따라 암호를 입력(S624)한 후, 가압/진공검사 기준값에 대한 상한/하한 허용오차를 입력할 수 있다(S626). 이러한 허용오차는 미리 프로그램되어 디폴트값이 정해져 있을 수 있고, 또는 이전 검사단계에서 설정된 값이 남아있을 수 있다. 이 단계에서는 사용자가 이전 검사단계에서 검사한 램프와는 다른 사양을 가진 램프에 적합하게 허용오차값을 수정할 수 있게 한다. 그후 오차설정 단계를 종료시키면(S628), 다시 수밀검사 메인 화면(S61)으로 돌아간다.

한편, 도 9에 도시된 바와 같이 사용자는 시간 설정 모드로 진입할 수 있다(S632). 여기서는 가압 및 진공 과정에 대하여 각각, 펌프를 작동시켜 램프 내부로 공기를 주입하거나 램프내부로부터 공기를 흡입하는 가압(진공)시간, 일정한 압력으로 유지하여 기다리는 평형시간, 압력센서가 측정하는 동안인 검출시간 등이 설정될 수 있다(S634). 이러한 시간 설정값은 미리 프로그램되어 디폴트값이 정해져 있을 수 있고, 또는 이전 검사단계에서 설정된 값이 남아있을 수 있다. 이 단계에서는 사용자가 이전 검사단계에서 검사한 램프와는 다른 사양을 가진 램프에 적합하게 시간 설정값을 수정할 수 있게 한다. 그후 시간 설정 단계를 종료시키면(S636), 다시 수밀검사 메인 화면(S61)으로 돌아간다.

또한, 도 10에 도시된 바와 같이, 사용자는 측정 방법 설정 모드로 진입할 수 있다(S642). 여기서는 가압 측정 방식 또는 진공 측정 방식을 선택할 수 있다(S644). 가압 측정 방식에 따르면, 압축 공기 펌프를 작동시켜 램프 내부로 공기를 주입하여 압력을 측정하는 방식이다. 진공 측정 방식은 램프 내부로부터 공기를 흡입하여 압력을 측정하는 방식이다. 이러한 측정 방법은 미리 프로그램되어 디폴트값이 정해져 있을 수 있고, 또는 이전 검사단계에서 설정된 값이 남아있을 수 있다. 이 단계에서는 사용자가 이전 검사단계에서 검사한 램프와는 다른 사양을 가진 램프에 적합하게 측정 방법을 수정할 수 있게 한다. 그후 측정 방법 설정 단계를 종료시키면(S646), 다시 수밀검사 메인 화면(S61)으로 돌아간다.

이상의 설정 단계들(도 8 내지 도 10)들은 사용자가 이전에 설정되어 있었던 값들을 수정하여 원하는 설정 값들로 변경 또는 수정할 수 있게 한다는 장점을 제공한다.

사용자는 이러한 설정 단계들을 하나 이상 선택하거나 또는 선택하지 않고 수밀검사 단계(S65)를 직접 선택할 수 있는데, 이 단계는 도 11에 도시된다. 사용자의 예컨대 노트북 컴퓨터의 모니터에 디스플레이된 수평검사 메인 화면(S61)에서, 사용자는 램프 모듈에 따른 기준 채널을 선택(S651)함으로써 수밀 검사를 개시시키면, MCU(110)는 해당 채널에 대응하는 기준값을 예컨대 플레시 메모리(122)로부터 로드한다. 사용자는 측정방법 즉 가압 측정 방법이나 진공 측정 방법 중 어느 하나를 선택(S652)할 수 있다. 한편, 이러한 선택은 사용자에 의해 행해져야만 하는 것은 아니며, 디폴트로 설정된 방식 또는 도 10에서 도시된 설정단계에서 사용자가 이전에 선택하여 설정된 방식이 자동으로 선택될 수 있다. 가압 측정 방법이 선택된 경우, 사용자에 의해 또는 자동으로 시작 키가 입력되면(S653), 가압 설정시간 동안 램프 모듈 내부로 공기가 입력된다(654). 그후 평형 설정시간 동안 평형 상태가 유지되고(S657), 그 다음에 검출 설정시간 동안 압력이 측정된다(S658). 그후 허용오차 값과 측정값이 비교되어 합격/불합격이 판정된다(659). 단계(S652)에서 진공 측정 방법이 선택된 경우에는, 진공 설정시간 동안 램프 모듈 내의 공기를 흡입하는 단계(S664)를 제외하고는 가압 측정 방법의 경우와 유사한 단계들(S663, S667, S668, S669)이 진행되어, 합격/불합격 여부가 판정된다. 합격인 경우 합격 화면이 출력(S660, S672)되고, 불합격인 경우 불합격 화면이 출력(S670)된 후 사용자에 의해 불합격 화면이 클리어(S674)된 후 , 메인 입력 화면(S50)으로 되돌아가 다음 검사에 대비할 수 있다.

도 12 내지 도 15에는 점등검사 과정이 도시되는데, 도 12 내지 도 14에 도시된 것은 사용자에 의해 점등검사와 관련된 각종 파라미터를 설정하게 하는 단계이며, 도 15에서 실제 점등검사 과정이 도시된다.

도 12를 참조하면, 점등검사 메인 화면(S71)에서 사용자는 오차설정 및 기준치 측정 단계(S72)로 진입할 수 있는데, 먼저 오차설정 및 기준치 측정 모드로 진입한다(S721). 점등 검사에 있어 기준치는 미리 정해져 있을 수 있으나, 도시된 바와 같이 마스터 램프 모듈의 시험 검사를 통해 얻어진 측정값을 사용할 수 있다. 마스터 램프 모듈이란 다른 시험을 통해 합격품으로 인정받은 램프 모듈을 말하며 이 램프 모듈의 측정 전류값 또는 측정된 발광 전압값에 사용자가 원하는 오차허용범위를 반영한 값이 기준 전류값 및 발광 기준 전압값이 되어 점등 검사의 기준값으로서 사용될 수 있다. 오차설정 및 측정 모드로 진입하면(S721), 선택적으로 암호입력 화면(S722)이 나타난다. 물론 이러한 암호입력 단계는 존재하지 않을 수도 있으나, 권한이 없는 자에 의한 설정값의 변동을 방지하기 위해 암호입력 단계가존재하는 것이 바람직하다. 그 다음에 기준값 설정에 들어가서 먼저, 해당 램프 모듈에 대응하는 채널을 입력하고(S723), 기준값 측정을 위한 시작 버튼을 누르면(S724), 기준값 설정을 위한 전압이 각 램프(1번 전구,...,8번 전구)에 인가되면서 램프의 전류값 측정 및 이 때 발광하는 램프 번호에 따른 CdS 센서에 의한 전압값의 측정이 수행되어 측정된 값이 기준값으로서 저장된다(S725 내지 S727, S728 내지 S730). 기준값 측정 단계가 완료되면, 사용자는 입력 장치를 통해 상기 측정값에 반영할 오차 허용범위를 입력하면(S731), 기준 전류값의 생성 및 기준 발광 전압값의 생성이 완료된다. 그후 기준 설정 단계를 종료(S732)하면, 점등검사 메인 화면(S71)으로 돌아간다.

한편, 도 13에 도시된 바와 같이 사용자는 시간 설정 모드로 진입할 수 있다(S741). 여기서는 전압 인가 후 램프 측정 시간, 측정 후 대기시간, 불합격시 부저 울림시간, 합격시 합격 화면 표시 시간 등이 설정될 수 있다(S742). 이러한 시간 설정값은 미리 프로그램되어 디폴트값이 정해져 있을 수 있고, 또는 이전 검사단계에서 설정된 값이 남아있을 수 있다. 이 단계에서는 사용자가 이전 검사단계에서 검사한 램프와는 다른 사양을 가진 램프에 적합하게 시간 설정값을 수정할 수 있게 한다. 그후 시간 설정 단계를 종료시키면(S743), 다시 점등검사 메인 화면(S71)으로 돌아간다.

또한, 도 14에 도시된 바와 같이, 사용자는 측정 모드 및 측정 방법 설정 모드로 진입할 수 있다(S751). 여기서는 커넥터를 연결하자마자 다수의 전구에 대해 차례로 검사를 수행하는 자동 검사 모드와 사용자가 측정시작 버튼을 눌러야 하는수동 검사 모드를 선택하며, 전류를 측정할지 또는 전압을 측정할지를 선택할 수 있다(S752). 일반적으로 자동 검사 모드 및 전류 측정 방법이 디폴트로 선택되어 있을 것이다. 그러나 때에 따라서, 특정한 램프에 대하여는 수동으로 세밀하게 검사할 필요성이 있을 수 있고, 전류계가 아니라 전압계를 사용하는 경우에는 전압 측정 방법이 선택될 수 있다. 이러한 측정 모드 및 방법은 미리 프로그램되어 디폴트값이 정해져 있을 수 있고, 또는 이전 검사단계에서 설정된 값이 남아있을 수 있다. 이 단계에서는 사용자가 이전 검사단계에서 검사한 램프와는 다른 사양을 가진 램프에 적합하게 측정 모드 및 방법을 수정할 수 있게 한다. 그후 측정 모드 및 방법 설정 단계를 종료시키면(S753), 다시 점등검사 메인 화면(S71)으로 돌아간다.

이상의 설정 단계들(도 12 내지 도 14)들은 사용자가 이전에 설정되어 있었던 값들을 수정하여 원하는 설정 값들로 변경 또는 수정할 수 있게 한다는 장점을 제공한다.

사용자는 이러한 설정 단계들을 하나 이상 선택하거나 또는 선택하지 않고 점등검사 단계(S76)를 직접 선택할 수 있는데, 이 단계는 도 15에 도시된다. 사용자의 예컨대 노트북 컴퓨터의 모니터에 디스플레이된 점등검사 메인 화면(S71)에서, 사용자가 마스터 램프 모듈의 시험 측정 단계에서 정해진 기준 채널을 선택(S761)하면, MCU(110)는 해당 채널에 대응하는 기준 전류값 및 기준 발광 전압값을 예컨대 플레시 메모리(122)로부터 로드한다. 이후 사용자가 측정 모드(수동 및 자동)을 선택하면(S762) 선택한 측정 모드에 따라, 각 전구(벌브)에 대하여 차례로 측정이 시작되고 반복된다(S763 내지 S766, S773 내지 S776). 이 때 예컨대릴레이를 이용하여 해당 램프 모듈의 각 벌브 단자에 전압이 순서대로 인가되면서 각 단자상의 전류(측정 전류값)가 측정되고 발광되는 램프의 위치가 검출되어 측정 전류값 및 측정 발광 전압값을 발생시키고 이것은 A/D변환기(158)을 거쳐 MCU(110)으로 전달된다. 전달된 측정값들은 기준값과 비교되어 양/불량여부가 판정된다. 불합격시(S768,S778)는 사용자에 의한 clear 키 입력으로써 불합격여부가 사용자에게 인지되었음을 한번 더 확인시키는 단계(S769)를 추가적으로 가질 수 있다. 합격된 경우(S767, S777)에는 일정시간후 자동으로 점등검사 메인 화면(S71)으로 돌아갈 수 있다.

이상에서는 램프의 수밀검사와 램프의 점등검사가 별도로 이루어질 수 있음을 설명하였으나, 본 고안에 따른 검사장치(100)에 의하면, 수밀검사와 점등검사가 순차적으로 또는 동시에 이루어질 수 있다. 도 16에는 점등검사(S82) 후 수밀검사(S84)가 이루어지는 예가 도시되는데, 사용자는 자동 또는 수동 검사 모드를 선택(S812)할 수 있는 단계가 부여된다. 자동 모드인 경우, 커넥터(20, 30)을 검사대상인 램프(10)에 장착하자마자 측정이 시작되어 합격여부가 가려질 수 있고, 수동 모드인 경우에는 사용자가 필요에 따라 시작 버튼을 누를 수 있는 시간적인 여유를 가질 수 있다는 장점이 있다.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 고안에 따른 차량용 램프의 점등 및 수밀 검사 장치(100)에 따라, 차량용 램프와 같이 다수의 점등 벌브를 구비하며 내부가 밀봉되어 있는 램프를 완성하여 출하하기 전 점등 및 수밀 검사를 하나의 장비를 이용하여 통합적으로 수행할 수 있다. 따라서, 검사 단계가 용이해지고 검사시간이단축되며 저렴한 장비에 의해 여러 가지 검사를 통합적으로 수행할 수 있으므로, 생산성이 현저하게 향상되는 장점을 제공한다.

이상에서는, 도면에 도시된 구체적인 실시예를 참조하여 본 고안을 설명하였다. 도시된 실시예는 본 고안의 특징을 구체적으로 나타낸 예시에 불과하며, 본 고안의 기술범위를 제한하는 것이 아님을 지적해둔다. 첨부된 특허청구범위에 기재된 범위내에서, 당업자라면 본 고안의 여러 특징들을 변형하고 수정하며 조합한 다른 실시예들을 쉽게 생각해낼 수 있다. 따라서, 본 고안의 사상은 설명된 구체적인 실시예에 의해서가 아니라, 특허청구범위에 기재된 바에 따라 해석되어야 할 것임을 지적해둔다.

상술한 바와 같은 본 고안에 따른 차량용 램프의 점등 및 수밀 검사장치에 의하면, 종래에 별도로 셋팅되고 별도로 행해졌던 램프의 점등 검사와 램프의 수밀 검사를 동시/선택적으로 자동으로 수행할 수 있도록 한 통합된 검사가 가능하다는 효과가 있다. 더욱이, 램프의 사양이 변경되더라도 점등 순서나 공기압력값 등 새로운 프로그래밍과 오차범위등 설정값의 재설정이 쉽게 변경가능하거나 미리 저장시킴으로써, 다양한 램프에 대한 검사가 가능하다. 또한 검사 시간이 단축되고 검사작업이 용이하며 다양한 검사단계를 하나의 통합된 장비를 이용하여 수행할 수 있도록 함으로써, 램프 제조의 생산성이 크게 향상되는 등의 현저한 효과를 가진다.

Claims

차량용 램프 수밀 및 점등 검사 장치로서,

전류를 검출하는 전류센서와, 발광 여부를 감지하는 발광센서와, 압력 차이를 검출하는 압력센서를 포함하여 검출된 값을 출력하는 검출수단과;

상기 검출수단으로부터 입력되는 검출 값을 각각 디지털화하는 아날로그/디지털 변환수단과;

상기 디지털화된 검출 값과 비교되어 상기 램프의 양/불량 여부를 결정하기 위한 기준값을 저장하는 저장수단과;

상기 디지털화되어 입력되는 검출 값을 상기 저장수단으로부터 읽어들인 기준값과 각각 비교하여 상기 램프의 양/불량여부를 결정하는 프로세서 수단; 및

상기 프로세서 수단에 의해 결정된 양/불량여부를 사용자에게 알려주기 위한 출력 수단을

포함하는 것을 특징으로 하는, 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치.
제 1 항에 있어서, 상기 프로세서 수단은;

상기 전류센서 및 발광센서로부터의 검출 값과 저장되어 있는 기준값을 각각 비교하여 상기 램프의 양/불량 여부를 결정하는 점등 검사 단계와;

상기 압력센서로부터의 검출 값과 저장되어 있는 다른 기준값을 비교하여 상기 램프의 양/불량 여부를 결정하는 수밀 검사 단계와;

상기 점등 검사 단계 및 상기 수밀 검사 단계를 차례로 수행하는 점등 및 수밀 검사 단계를

각각 수행하며,

여기서, 상기 점등 검사 단계와 상기 수밀 검사 단계와 상기 점등 및 수밀 검사 단계의 수행 여부를 사용자가 선택할 수 있도록 하는 검사 단계 선택 수단이 더 포함되는 것을 특징으로 하는, 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 출력 수단은 상기 프로세서 수단이 수행하는 각 검사 단계의 세부 사항을 더 출력하며, 상기 저장 수단에 저장된 기준값을 사용자가 설정할 수 있도록 하는 입력 수단이 더 포함되는 것을 특징으로 하는, 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치.
제 3 항에 있어서, 상기 출력 수단은, 양/불량에 따라 서로 다른 음향 또는 색깔을 가지고 발광하는 울리는 부저 또는 표시등과, 상기 검사 단계의 세부 사항을 표시하는 디스플레이 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치.
제 1 항에 있어서, 상기 프로세서 수단에 의해 출력되는 데이터를 외부로 전송하기 위한 외부 출력 단자 및 외부에서 데이터를 입력시키기 위한 입력 단자가 더 포함되는 것을 특징으로 하는, 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치.
제 1 항에 있어서, 상기 압력 센서는 상기 램프의 내부의 공기 압력과 상기 램프의 내부와 연결되는 미리 정해진 공기 공급 장치의 공기 압력 사이의 차이를 기계적으로 검출하여 이를 전기신호로 변환하는 변위센서인 것을 특징으로 하는, 차량용 램프의 수밀 및 점등 검사 장치.