JP3753739B2 - 高効率太陽電池製造のための電着によるCuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)先駆薄膜の製造方法 - Google Patents

高効率太陽電池製造のための電着によるCuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)先駆薄膜の製造方法 Download PDF

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Description

政府は、ナチョナル リニュアブル エネルギー ラボラトリ(NREL)契約第1326号に従う、本発明の権利を有する。
関連出願
本願は、1995年9月25日出願の仮出願番号60/004269の一部継続出願である。
発明の背景技術
1.発明の分野
本発明は、薄膜半導体装置の製造に関する。特に、本発明は、太陽電池用の銅インジウムガリウムセレニド薄膜の電着に関する。
2.関連分野の説明
銅インジウムジセレニド(CuInSe2)および銅インジウムガリウムジセレニド(CuIn1-xGaxSe2)(一般的には、両者は、Cu(In,Ga)Se2、CIGS或いは単にCISと称する)のカルコパイライト3元薄膜は、近年、半導体装置に対する相当の関心と研究の課題となっている。硫黄は、セレニウムを置換でき、そして、時々置換され、その化合物は、より一般的には、Cu(In,Ga)(Se,S)2とし、すべての可能な組合せを含むこととなる。これらの装置は、その構成元素群に従って、I-III-VI2装置として表すことができる。
これらの装置は、特に、光電性装置或いは太陽電池吸収適用のために関心がある。光電性適用のために、p形CIGS層を、n形のCdS層と組合せて、pnヘテロ接合CdS/CIGS装置を形成する。CIGSの直接エネルギーギャップにより、大きな光学吸収率が得られ、それは、次には、1〜2μmのオーダーの薄層の使用を可能にするものである。CIGS装置の更なる利点は、長い期間の安定性である。
CIGS薄膜の製造のための種々の方法が報告されている。初期の技術のいくつかは、H2Seを含むセレニウム含有ガスの存在下で、基体上に銅とインジウムを加熱するものである。セレニウム含有ガスの存在下の銅及びインジウム薄膜の加熱は、セレン化として既知である。H2Seによるセレン化の欠点は、H2Seガスが非常に毒性があり、大規模製造の環境下でヒトに重大な危険を与えることである。
エベルスパチェー(Eberspacher)等の米国特許第5,045,409号では、マグネトロンスパッタリングにより銅とインジウム薄膜を析出させて、そして、加熱気化によりセレニウム薄膜を析出し、次に、種々のガスの存在下で加熱することが開示されている。CIS薄膜を作製する他の方法は、分子ビームエピタキシ、或いは単一工程或いは多段工程のいずれかにおいての電着および単一結晶および多結晶膜の蒸着を含む。
蒸着技術は、17%もの高い効率を有する太陽電池を得るために使用されてきたが、蒸着処理は高価である。従って、蒸着処理により製造した太陽電池は、一般的に、実験用実験のための装置に限定され、大規模製造に適するものでない。一方、電着技術により作製された薄膜太陽電池は、一般的に非常に安価である。然し乍ら、電着により製造された太陽電池は、一般的に、低効率のものである。例えば、in Solar Cells with Improved Efficiency Based on Electrodeposited Copper Indium Diselenide Thin Films, ADVANCED MATERIALS, Vol.6 No.5(1994), Guillemoles et al.は、電着により製造された太陽電池が、5.6%のオーダーの効率を有することを報告している。
発明の概要
従って、本発明の一般的な目的は、高品質の薄膜Cu(In,Ga)Se2太陽電池を製造するための改良方法を提供することである。
本発明の目的は、また、高い交換効率を有する、低コストで、高品質の薄膜太陽電池を提供することである。
本発明の目的は、また、太陽電池用或いは非太陽電池に適用のCuIn、CuSe、CuInSeおよびCuInGaSe金属薄膜の製造方法を提供することである。
本発明の目的は、また、ガリウム含有金属薄膜太陽電池先駆物の電着方法を提供することである。
本発明の目的に従って、前記のものおよび他の目的及び長所を得るために、ここに具体化され、広く説明されているように、本発明の方法は、CuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)の層を、好適には、交流と組合せて直流を使用して、電着し、そして、次に、付加的銅及びセレニウム或いはインジウム及びセレニウムを蒸着し、最終組成物を化学量論値Cu(In,Ga)Se2に非常に近似するように調整することを含む。この独特の2工程の薄膜析出処理方法により、先駆金属薄膜が、安価な電着法により析出できるようになり、次に、より高価だが、より精密な物理的蒸着技術を使用して調整され、最終薄膜を所望の化学量論値範囲内にできるものである。次に、太陽電池は、例えば、CdSの化学的浴槽析出(CBD)し、次に、ZnOスパッタリングを行い、Bi層の金属接触と、任意の抗反射被膜の添加により、完成され得る。本発明方法により製造された太陽電池は、9.44%の装置効率を示した。
本発明の他の目的、利点および新規な特徴は、以下の説明に一部明らかにされ、一部は、以下の説明および図面を検討することにより、当業者にとって明らかなものとなる。
【図面の簡単な説明】
図1は、本発明により製造されたCIGS光電性装置の断面図である。
図2は、図1に示される電導性酸化亜鉛層28の断面図である。
図3は、本発明の実施例3により製造されたCdS/CuInSe2太陽電池の電流対電圧の性能のプロットである。
図4は、実施例3のCdS/CuInSe2太陽電池のための比較量子効率対波長のプロットである。
好適な具体例の詳細な説明
本発明は、光電性特性を有し、特に太陽電池用に適する高品質で、低コストの薄膜CIGS半導体装置を製造するための本質的に2工程の処理法を有する。第1の工程では、CuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)の先駆薄膜は、モリブデンで被覆されたガラスのような基体上に電着される。この第1の工程は、直流と共に交流を独特に使用すると共に、他の元素と同時にガリウムを電着させるための独特の処理方法と電着浴槽を有する。
第2の工程は、Cu+Se或いはIn+Seのいずれかの物理的蒸着、それ単独か或いはGaと組合せたものである。この第2の工程において、全薄膜の組成物は、注意深く制御され、それにより、得られた薄膜は、化学量論的値Cu(In、Ga)Se2に非常に近いものである。これらの両方の工程は、大きな表面積を有する基体上に為され得る。従って、本発明の方法は、大きな面積の高い効率の太陽電池が経済的に製造されことを可能にする。
図1を参照すると、CdS/CIGS光電性装置10は、例えば、ソーダ石灰シリカガラス或いは非晶質7059ガラスである基体12を有する。基体12は、約1〜2μm厚のモリブデンの裏面接触層14を含む。モリブデンは、回転円筒マグネトロン ターゲット(CMAG)からの直流スパッタリングを用いて、析出できる。Mo層14と析出すべき先駆薄膜の接着性を改良するために、銅の付加的接着層16が、電着により析出され得るものである。Mo層14と任意の銅接着層16が析出された後に、基体は、例えば、プロパノールにより油除去され、窒素流の中で乾燥されるべきである。
金属先駆薄膜18を次に電着により析出せしめる。先駆薄膜は、元素、すなわち、銅、インジウム、ガリウム、セレニウムの1以上を含有する。電着法は、一般的に、蒸着処理法よりも安価な、これらの金属を析出させる方法である。然し乍ら、電着中に、所望のように正確に析出金属の比率を制御することは不可能である。従って、CIGS層が前もって電着により完全に析出されると、低い変換効率となった。本発明において、電着工程は、次の蒸着工程と一緒にされる。これにより、先駆金属が、経済的な電着工程を使用して大量に析出し、最終金属比率を注意深く制御する蒸着工程に続く。この結果、生じた電池は経済的に製造できるが、高効率なものである。金属先駆薄膜18の組成物は、一般的には、CuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)で表される。金属先駆薄膜18は、約1〜3μm厚に析出されるべきであり、厚さは、クーロメトリック測定法により制御されるものである。
直流電圧に加えて交流電圧を用いて、薄膜を電着すると、改良された結果が得られることを見出した。交流電圧は、薄膜の形態を改良する。また、交流電圧は、付加的な核形成センタの生成を可能にすることにより、薄膜の核形成(成長)を改良するものと信じられる。完全な水性メッキ溶液のために、適切な直流電圧範囲は、約1〜5ボルト直流であり、好適な電圧は、約2V直流である。改良された結果が、1〜100KHzの0.2〜5V交流の交流電圧を挿入することにより得られ、好適な価は、10〜30KHzで約0.3〜1.0Vの交流である。約18.1KHzの約0.45V交流の価が、良好な結果をもたらすことが見出された。メッキ溶液は、約1.0〜4.0のpHに、より好適には、約1.4〜2.4になるように調節される。メッキ溶液は、好適には、約10℃〜80℃にされるべきであり、より好適には、約24℃にされるべきである。支持電解質をメッキ浴槽に添加すると、更に、メッキ溶液の導電率を高め、電着速度を更に、高めることが可能になる。NaCl、LiCl或いはNa2SO4のような塩基類が、本発明の特定の具体例での使用に適する支持電解質であることを見出したものである。
完全な水溶液においては、約2〜3ボルトで水分子の電解が始まり、望ましくない程度にまで生じる。得られるO2-及びOH-イオンは、析出金属イオン或いは析出された金属と組合さり、先駆薄膜18の上に、望ましくない酸化金属および水酸化物を形成する。この欠点を克服するために、メッキ溶液中の水を、ジメチルスルフォキシド(DMSO)のような1以上の有機溶媒により部分的に或いは完全に置換できる。電着溶液の有機溶媒含有量を上げると、陰極電位を、酸化金属および水酸化物形成速度の望ましくない増加なしで、高めることができる。高められた陰極電位により、先駆薄膜の析出速度が高められる。更なる長所は、陰極電位が高まると、他の析出金属の析出速度に比例してガリウムの析出速度が高まることである。従って、1以上の有機溶媒を含有する溶液を使用すると、析出されたままの先駆薄膜18のより望ましい化学量論的な値が得られるように、陰極電位を、より広い範囲から選択できることとなる。有機溶媒を用いる場合、好適な陰極電位は、約3〜10V直流で、約1〜100KHzの0.2〜5.0V交流である。約5V直流と約18.1KHzの0.45V交流の値で、良好な結果が得られることが見出される。
所望により、第2の電気メッキ溶液が、蒸着相の前に、電着膜の化学量論的な値を調整するために用いられる。例えば、第1の電着工程により、最適で望ましい値よりもガリウムの少ないCIGS先駆薄膜が作製され得る。ガリウム含有量が蒸着相の間に増加されるが、第2の電着溶液を用いて、ガリウムの特定の量を析出させることは、より安価であり、蒸着工程での精密な化学量論的調節を行う前に、粗い化学量論的調整を行うものである。第2の電着溶液を使用するための他の電位誘導は、ミチェルセン等の米国特許第4,335,266号−太陽電池および他の用途のための組成物傾斜のCIGS薄膜を教示するために引例となる−に示唆されるように、析出薄膜中の組成傾斜を達成するものである。また、電着中に組成物傾斜を得る他の方法は、陰極電位、イオン濃度、pH或いは温度のような処理パラメータを、電着の進行とともに、変えていくものである。
本発明により製造された電着金属先駆薄膜の数種の例が示される。これらの例には、InSe、CuSeおよびCuInSe先駆薄膜がある。これらの先駆薄膜のために、Gaがエネルギーギャップを高めるために添加されるべきである。Gaは別の電着工程で添加できる一方、元素ガリウムを気化することにより蒸着工程で好適に添加される。Gaが他の先駆金属とともに電着でき、単一工程で電着されるCuInGaSe先駆薄膜を作製できるようにする新規な溶液と処理方法についての例が示される。溶液は、銅、インジウム、ガリウムおよびセレニウムの元素の各々のイオンを含有する。これらのイオンは、溶解金属塩の形で供給され得る。
先駆薄膜18が電着された後に、清浄化すべきである。適当な方法は、先駆薄膜18を脱イオン化水ですすぎ、窒素流中で乾燥させるものである。先駆薄膜18を清浄した後に、In+Se或いはCu+Seの付加的層20を単独に或いはガリウムと組合せて、物理的蒸着により析出せしめ、最終薄膜組成物を、約Cu=1〜1.2:(In,Ga)=1〜1.2:Se=2〜2.5の比率に調節し、そして、最も好適には、約1:1:2に調節した。In/Gaの比率を制御することにより、CdSとCIGS層の間のエネルギーギャップを、最適な或いはほとんど最適な値に調節できる。約1.45eVのエネルギーギャップは、地球上の太陽エネルギー変換のために最適であると考えられており、そして、約3:1のIn/Ga比率により達成される。基体(先駆薄膜)温度は、PVD中では、300℃〜600℃にすべきであり、好適には、約550℃にすべきである。
PVDの後に、薄膜を次にアニールすべきである。アニーリングは、薄膜の均質性と品質を改良する。高品質のCIGS薄膜は、変換効率を減少させる薄膜の銅ヌードル、空孔或いはベイカンシイの過剰量を示さないものである。真空中で250℃〜500℃で薄膜をアニーリングし、次に、熱ショックを避けるように、約3℃/分の速度でゆっくりと冷却すると、良好な結果が得られることを見出した。セレニウムは、銅、インジウム或いはガリウムのいずれよりも非常に高い蒸気圧を有するので、セレニウムは、蒸着とアニーリングの高温工程中に薄膜から失われることがある。補償するために、これらの工程間の雰囲気は、セレニウムの中程度の過圧を有する。好適な具体例において、薄膜は、PVD温度からアニーリング温度に冷却する間に、5〜100Å/秒の速度でセレン化される。
CIGS層18と20が析出され、そして、アニールされると、硫化カドミウムを含有するn形の半導体の薄層22を次に析出する。CdS層22は、化学的浴槽析出(CBD)により、約200〜1000Å厚に好適には、析出される。CBD浴槽は、0.08gのCdSO4、2.5gのチオウレア及び200ml水中に溶解させた27.5gのNH4OHから製造できる。析出温度は、約40〜80℃にすべきである。
次に、電導性の広いバンドギャップのn形の半導体物質の層28が、析出される。好適な具体例において、層28は、図2に示すように、2つの酸化亜鉛層24と26を有する。第1の酸化亜鉛層24は、10ミリトール圧力のアルゴンプラズマ中での約0.62ワット/cm2のRFスパッタリングで析出される。約1〜5%のAl2O3ドープの酸化亜鉛よりなる第2の酸化亜鉛層26もまた、10ミリトール圧力のアルゴンプラズマ中での約1.45ワット/cm2のRFスパッタリングを用いて製造される。具体的な具体例においては、第1の層の抵抗率は、50〜200オーム/cm2であり、第2の層の抵抗率は、15〜20オーム/cm2であった。全ZnO層の透過率は、80〜95%であった。
次に、Bi層金属接触30を、eビームシステム或いは他の技術で製造できる。典型的な実施例では、第1の金属接触層は、500〜1000Å厚のNiであった。そして、第2の金属接触層は、1〜3μm厚のAlであった。金属接触30は、一般的に、装置の回収表面を横断する細かいグリッド線中に広がり、適当な電流回収電極(図示せず)に結合されている。得られた装置の効率は、抗−反射被膜32、例えば、電子線によるMgF2の600〜1000Åの層を付加することにより、更に高めることができる。後記の実施例3により製造された装置は、9.44%の変換効率であった。
実施例1
In1〜2Se1〜3の金属先駆薄膜が、約500Å厚のMo或いはMO/Cu層で被覆されたガラス基体上に電着された。先駆薄膜は、200mlの水中に、2.25gのInCl3および0.41gのH2SeO3を溶解含有する電気メッキ溶液を用いて、析出された。溶液のpHは、希釈HCl(10容積%)を用いて、1.4〜2.4に調整した。0.45Vで18.1KHzの周波数の交流電圧と組合せた2〜5V直流電圧をかけることにより、薄膜が析出された。
実施例2
Cu1〜2Se1〜3の金属先駆薄膜が、300mlの水中に、6.21gのCu(NO3)2・6H2Oと1.16gのH2SeO3を溶解含有する電気メッキ溶液を用いて、基体上に電着された。このpHは、希釈HCl(10容積%)を用いて、1.4〜2.4に調整した。0.45Vで18.1KHzの周波数の交流電圧と組合せた2〜5V直流電圧をかけることにより、薄膜が析出された。析出された層は、1〜3μm厚であり、基体に接合された。
実施例3
Cu1〜2In1〜2Se1〜3の金属先駆薄膜が、1050mlの水中に、4.47gのCuCl2、5.67gのInCl3と3.39gのH2SeSO3を溶解含有する電気メッキ溶液を用いて、基体上に電着された。このpHは、希釈HCl(10容積%)を用いて、1.4〜2.4に調整した。0.45Vで18.1KHzの周波数の交流電圧と組合せた2〜5V直流電圧をかけることにより、薄膜が析出された。析出された層は、1〜3μm厚であり、基体に接合された。電着された薄膜は、少しインジウム不足のものであった。インジウムは蒸着により添加され、最終含有量をほぼCuInSe2に調整した。次に、CdS及びZnOを添加し、太陽電池を完成させた。得られた太陽電池を、ASTM E892−87のグローバル(1000Wm-2)標準照射スペクトルに25℃で露光させた。0.4285cm2の面積を有する最終の太陽電池のための、性能パラメータを以下のように測定した。
Figure 0003753739
図3は、装置に関する電流対電圧の関係を表すプロットである。図4は、装置の比較量子効率のプロットである。装置は、ガリウムなしでCuInSeのみ含有する。装置は、抗−反射被膜なしで8.76%の効率を示し、抗反射被膜を添加した後では、9.44%であった。ガリウムを添加することにより、得られた電池の効率は、約14%に改良できたものである。
実施例4
Cu1〜2In1〜2Ga0.01〜1Se1〜3の金属先駆薄膜が、450mlの水中に、1.12gのCu(NO3)2・6H2O、12.0gのInCl3、4.60gのGa(NO3)3・xH2Oと1.80gのH2SeO3を溶解含有する溶液を用いて、電着された。これは、約2.49g/lのCu(NO3)2・6H2O、26.7g/lのInCl3、10.2g/lのGa(NO3)3・xH2O、4.0g/lのH2SeO3および各々約0.0084、0.12、0.28と0.31モルの銅、インジウム、ガリウムおよびセレニウム イオンに等価のものである。pHは、希釈HCl(10容積%)を用いて、1.4〜2.4に調整された。薄膜は、0.45Vで18.1KHzの周波数の交流電圧と組合せた2〜5V直流電圧をかけることにより、析出された。析出された層は、1〜3μm厚であり、基体に接合された。
実施例5
Cu1〜2In1〜2Ga0.01〜1Se1〜3の金属先駆薄膜が、450mlのDMSO中に、1.496gのCu(NO3)・5H2O、14.929gのInCl3、1.523gのH2SeO3と7.192gのGa(NO3)3を溶解含有する溶液を用いて、電着された。薄膜は、25℃で析出され、そして、50℃で、5Vの直流電圧をかけることにより、析出された。
実施例6
Cu1〜2In1〜2Ga0.01〜1Se1〜3の金属先駆薄膜が、400mlのDMSOと50mlの水の混合物中に、1.496gのCu(NO3)・5H2O、14.929gのInCl3、1.523gのH2SeO3と7.192gのGa(NO3)3を溶解含有した溶液を用いて、電着された。薄膜は、25℃で析出され、そして、50℃で、5Vの直流電圧をかけることにより、析出された。
実施例7
Cu1〜2In1〜2Ga0.01〜1Se1〜3の金属先駆薄膜が、400mlのDMSOと50mlの水の混合物中に、1.496gのCu(NO3)・5H2O、14.929gのInCl3、1.523gのH2SeO3、7.192gのGa(NO3)3と10gのNa2SO4と20gのLiClを溶解含有した溶液を用いて、電着された。薄膜は、25℃で析出され、そして、50℃で、5Vの直流電圧をかけることにより、析出された。
上記の本発明は、種々の適用例で伴うもので、例えば、基本発電のために、太陽エネルギーを電気エネルギーに変換するものである。他の用途には、太陽エネルギー計算機、高速道路緊急用電話で使用されるようなバッテリ蓄電器、光電センサ、夜間保全光活性機、写真機および他の目的の光測定機等が含まれる。
本発明は、好適な具体例と図面およびその実施例について、詳細に説明されたが、本発明の他の用途および変更例は、本発明の精神および範囲を逸脱しない範囲で、なされることは、当業者に明らかである。従って、ここに、示される詳細な説明と図面は、本発明の範囲を限定することを意図しないと理解されるべきであり、それは、以下の請求項の記載および法律的に等価なものからのみ解釈されるべきであると理解されるべきである。

Claims (17)

  1. 基体上にCuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)の層を電着せしめ、その電着は、約1〜10Vの直流電圧とその直流電圧に1〜100KHzの挿入間隔で重ね合わせた約0.2〜5.0Vの交流電圧をかけて行い;
    蒸着により、CuxInyGazSen層の上にIn+Se或いはCu+Seのいずれかを十分な量で、堆積せしめ、基体上にCu(In,Ga)Se2の薄膜を生成するもので、該薄膜は、約Cu=1〜1.2(In,Ga)=1〜1.2Se=2〜2.5の化学量論的な割合を有する工程を特徴とする金属含有薄膜の製造方法。
  2. CuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)の前記層は、In1〜2Se1〜3であることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  3. CuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)の前記層は、Cu1〜2Se1〜3であることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  4. CuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)の前記層は、Cu1〜2In1〜2Se1〜3であることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  5. CuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)の前記層は、Cu1〜2In1〜2Ga0.01〜1Se1〜3 あることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  6. 該蒸着は、物理的蒸着であることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  7. 該物理的蒸着は、約550℃の温度で行われることを特徴とする請求項6に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  8. 電着は、水性電着溶液中で行われ、その直流電圧は約1〜5Vであり、そして、交流電圧は、約10〜30KHzで約0.3〜1.0Vであることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  9. 直流電圧が約2Vであり、交流電圧が約10〜30KHzで約0.45Vであることを特徴とする請求項8に記載の金属含有薄膜の製造方法
  10. 直流電圧が約2Vであり、交流電圧が約18.1KHzで約0.45Vであることを特徴とする請求項9に記載の金属含有薄膜の製造方法
  11. 電着溶液が、Cu(NO 3 ) 2 ・6H 2 O約2.49g/l、InCl 3 26.7g/l、Ga(NO 3 ) 3 10.2g/l及びH 2 SeO 3 4.0g/lを含有するものであることを特徴とする請求項8に記載の金属含有薄膜の製法。
  12. 電着溶液が少なくとも1つの有機溶媒を含有することを特徴とする請求項11に記載の金属含有薄膜の製法
  13. その直流電圧が約3〜10Vであり、そして、電着処理は、少なくとも1つの有機溶媒を含有する電着溶液中で行われ、更に、該直流電圧に約1〜100KHzの挿入間隔で重ね合わせた約0.2〜5.0Vの交流電圧で行われることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法
  14. その交流電圧は、約18.1KHzで約0.45Vであることを特徴とする請求項13記載の金属含有薄膜の製造方法。
  15. 電着工程は、電着溶液の導電率を上げ、そして、Cu x In y Ga z Se n 層の付着速度を高めるための少なくとも1つの支持電解質を含有する電着溶液中で行われることを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
  16. 該支持電解質が、NaCl、LiClおよびNa 2 SO 4 よりなる群から選択される少なくとも1つの化合物であることを特徴とする請求項15に記載の金属含有薄膜の製造方法
  17. 更に、化学的浴槽析出法によりCu x In y Ga z Se n 膜上にCdS層を析出し;そして、RFスパッタリングによりCdS層上にZnO層を析出する工程を包含することを特徴とする請求項1に記載の金属含有薄膜の製造方法。
JP51921397A 1995-12-12 1996-12-11 高効率太陽電池製造のための電着によるCuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)先駆薄膜の製造方法 Expired - Fee Related JP3753739B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013522867A (ja) * 2010-03-11 2013-06-13 エレクトリシテ・ドゥ・フランス 光電池の吸収薄膜の作成方法

Families Citing this family (155)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE508676C2 (sv) * 1994-10-21 1998-10-26 Nordic Solar Energy Ab Förfarande för framställning av tunnfilmssolceller
US5918111A (en) * 1995-03-15 1999-06-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and apparatus for manufacturing chalcopyrite semiconductor thin films
US5730852A (en) * 1995-09-25 1998-03-24 Davis, Joseph & Negley Preparation of cuxinygazsen (X=0-2, Y=0-2, Z=0-2, N=0-3) precursor films by electrodeposition for fabricating high efficiency solar cells
WO1998048079A1 (en) * 1997-04-21 1998-10-29 Davis, Joseph & Negley Preparation of copper-indium-gallium-diselenide precursor films by electrodeposition for fabricating high efficiency solar cells
US6258620B1 (en) * 1997-10-15 2001-07-10 University Of South Florida Method of manufacturing CIGS photovoltaic devices
CN1087872C (zh) * 1998-01-16 2002-07-17 中国地质大学(北京) 制备CuInSe2半导体薄膜的溶胶-凝胶-Se化工艺
US6127202A (en) * 1998-07-02 2000-10-03 International Solar Electronic Technology, Inc. Oxide-based method of making compound semiconductor films and making related electronic devices
JP2000091601A (ja) * 1998-09-07 2000-03-31 Honda Motor Co Ltd 太陽電池
JP2000091603A (ja) * 1998-09-07 2000-03-31 Honda Motor Co Ltd 太陽電池
US6323417B1 (en) 1998-09-29 2001-11-27 Lockheed Martin Corporation Method of making I-III-VI semiconductor materials for use in photovoltaic cells
JP3089407B2 (ja) * 1998-10-09 2000-09-18 工業技術院長 太陽電池薄膜の作製方法
US6409907B1 (en) * 1999-02-11 2002-06-25 Lucent Technologies Inc. Electrochemical process for fabricating article exhibiting substantial three-dimensional order and resultant article
WO2001037324A1 (en) 1999-11-16 2001-05-25 Midwest Research Institute A NOVEL PROCESSING APPROACH TOWARDS THE FORMATION OF THIN-FILM Cu(In,Ga)Se¿2?
US7211175B1 (en) 2000-02-29 2007-05-01 Novellus Systems, Inc. Method and apparatus for potential controlled electroplating of fine patterns on semiconductor wafers
US6562204B1 (en) 2000-02-29 2003-05-13 Novellus Systems, Inc. Apparatus for potential controlled electroplating of fine patterns on semiconductor wafers
WO2001078154A2 (en) * 2000-04-10 2001-10-18 Davis, Joseph & Negley Preparation of cigs-based solar cells using a buffered electrodeposition bath
DE20021644U1 (de) * 2000-12-20 2002-05-02 Alanod Al Veredlung Gmbh Solarkollektorelement
FR2820241B1 (fr) 2001-01-31 2003-09-19 Saint Gobain Substrat transparent muni d'une electrode
US20040131792A1 (en) * 2001-03-22 2004-07-08 Bhattacharya Raghu N. Electroless deposition of cu-in-ga-se film
US6537846B2 (en) 2001-03-30 2003-03-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Substrate bonding using a selenidation reaction
US7053294B2 (en) * 2001-07-13 2006-05-30 Midwest Research Institute Thin-film solar cell fabricated on a flexible metallic substrate
US6559372B2 (en) * 2001-09-20 2003-05-06 Heliovolt Corporation Photovoltaic devices and compositions for use therein
EP1476906A2 (en) * 2001-09-20 2004-11-17 Heliovolt Corporation Apparatus for the synthesis of layers, coatings or films
US6881647B2 (en) 2001-09-20 2005-04-19 Heliovolt Corporation Synthesis of layers, coatings or films using templates
US6736986B2 (en) 2001-09-20 2004-05-18 Heliovolt Corporation Chemical synthesis of layers, coatings or films using surfactants
US6500733B1 (en) 2001-09-20 2002-12-31 Heliovolt Corporation Synthesis of layers, coatings or films using precursor layer exerted pressure containment
US6787012B2 (en) 2001-09-20 2004-09-07 Helio Volt Corp Apparatus for the synthesis of layers, coatings or films
US7371467B2 (en) 2002-01-08 2008-05-13 Applied Materials, Inc. Process chamber component having electroplated yttrium containing coating
US20050151131A1 (en) * 2002-06-11 2005-07-14 Wager John F.Iii Polycrystalline thin-film solar cells
AU2003275239A1 (en) * 2002-09-30 2004-04-23 Miasole Manufacturing apparatus and method for large-scale production of thin-film solar cells
US20050072461A1 (en) * 2003-05-27 2005-04-07 Frank Kuchinski Pinhole porosity free insulating films on flexible metallic substrates for thin film applications
KR100495924B1 (ko) * 2003-07-26 2005-06-16 (주)인솔라텍 태양전지 흡수층의 제조 방법
ATE348408T1 (de) * 2003-12-22 2007-01-15 Scheuten Glasgroep Bv Verfahren zur behandlung von pulverkörner
US7604843B1 (en) 2005-03-16 2009-10-20 Nanosolar, Inc. Metallic dispersion
US20060060237A1 (en) * 2004-09-18 2006-03-23 Nanosolar, Inc. Formation of solar cells on foil substrates
US20070163642A1 (en) * 2004-02-19 2007-07-19 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from inter-metallic microflake articles
US7700464B2 (en) * 2004-02-19 2010-04-20 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from nanoflake particles
US8309163B2 (en) * 2004-02-19 2012-11-13 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer by use of chalcogen-containing vapor and inter-metallic material
US20070169809A1 (en) * 2004-02-19 2007-07-26 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer by use of low-melting chalcogenides
US8846141B1 (en) 2004-02-19 2014-09-30 Aeris Capital Sustainable Ip Ltd. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from microflake particles
US20070163639A1 (en) * 2004-02-19 2007-07-19 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from microflake particles
US8372734B2 (en) * 2004-02-19 2013-02-12 Nanosolar, Inc High-throughput printing of semiconductor precursor layer from chalcogenide nanoflake particles
US7663057B2 (en) * 2004-02-19 2010-02-16 Nanosolar, Inc. Solution-based fabrication of photovoltaic cell
US7605328B2 (en) * 2004-02-19 2009-10-20 Nanosolar, Inc. Photovoltaic thin-film cell produced from metallic blend using high-temperature printing
US8623448B2 (en) * 2004-02-19 2014-01-07 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from chalcogenide microflake particles
US7306823B2 (en) 2004-09-18 2007-12-11 Nanosolar, Inc. Coated nanoparticles and quantum dots for solution-based fabrication of photovoltaic cells
US20070163641A1 (en) * 2004-02-19 2007-07-19 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from inter-metallic nanoflake particles
US8329501B1 (en) 2004-02-19 2012-12-11 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from inter-metallic microflake particles
US7736940B2 (en) * 2004-03-15 2010-06-15 Solopower, Inc. Technique and apparatus for depositing layers of semiconductors for solar cell and module fabrication
WO2005089330A2 (en) * 2004-03-15 2005-09-29 Solopower, Inc. Technique and apparatus for depositing thin layers of semiconductors for solar cell fabricaton
US7611573B2 (en) * 2004-04-02 2009-11-03 Alliance For Sustainable Energy, Llc ZnS/Zn(O,OH)S-based buffer layer deposition for solar cells
CH697007A5 (fr) 2004-05-03 2008-03-14 Solaronix Sa Procédé pour produire un composé chalcopyrite en couche mince.
US20090032108A1 (en) * 2007-03-30 2009-02-05 Craig Leidholm Formation of photovoltaic absorber layers on foil substrates
US8541048B1 (en) 2004-09-18 2013-09-24 Nanosolar, Inc. Formation of photovoltaic absorber layers on foil substrates
US7732229B2 (en) * 2004-09-18 2010-06-08 Nanosolar, Inc. Formation of solar cells with conductive barrier layers and foil substrates
US7838868B2 (en) * 2005-01-20 2010-11-23 Nanosolar, Inc. Optoelectronic architecture having compound conducting substrate
US8927315B1 (en) 2005-01-20 2015-01-06 Aeris Capital Sustainable Ip Ltd. High-throughput assembly of series interconnected solar cells
US7582506B2 (en) * 2005-03-15 2009-09-01 Solopower, Inc. Precursor containing copper indium and gallium for selenide (sulfide) compound formation
FR2886460B1 (fr) * 2005-05-25 2007-08-24 Electricite De France Sulfurisation et selenisation de couches de cigs electrodepose par recuit thermique
KR101316479B1 (ko) * 2005-06-24 2013-10-08 레오나르트 쿠르츠 스티프퉁 운트 코. 카게 전극 제조 방법
US20070017568A1 (en) * 2005-07-12 2007-01-25 Howard Berke Methods of transferring photovoltaic cells
WO2007011742A2 (en) * 2005-07-14 2007-01-25 Konarka Technologies, Inc. Cigs photovoltaic cells
KR100850000B1 (ko) * 2005-09-06 2008-08-01 주식회사 엘지화학 태양전지 흡수층의 제조방법
WO2007041650A1 (en) * 2005-10-03 2007-04-12 Davis, Joseph And Negley Single bath electrodeposited cu(in,ga)se2 thin films useful as photovoltaic devices
US20070151862A1 (en) * 2005-10-03 2007-07-05 Dobson Kevin D Post deposition treatments of electrodeposited cuinse2-based thin films
US20070079866A1 (en) * 2005-10-07 2007-04-12 Applied Materials, Inc. System and method for making an improved thin film solar cell interconnect
US20070093006A1 (en) * 2005-10-24 2007-04-26 Basol Bulent M Technique For Preparing Precursor Films And Compound Layers For Thin Film Solar Cell Fabrication And Apparatus Corresponding Thereto
US7713773B2 (en) * 2005-11-02 2010-05-11 Solopower, Inc. Contact layers for thin film solar cells employing group IBIIIAVIA compound absorbers
US7442413B2 (en) * 2005-11-18 2008-10-28 Daystar Technologies, Inc. Methods and apparatus for treating a work piece with a vaporous element
WO2007070880A1 (en) * 2005-12-15 2007-06-21 University Of Delaware Post-deposition treatments of electrodeposited cu(in-ga)se2-based thin films
ES2391255T3 (es) 2005-12-21 2012-11-22 Saint-Gobain Glass France Dispositivo fotovoltaico de película delgada
US7507321B2 (en) * 2006-01-06 2009-03-24 Solopower, Inc. Efficient gallium thin film electroplating methods and chemistries
US7767904B2 (en) 2006-01-12 2010-08-03 Heliovolt Corporation Compositions including controlled segregated phase domain structures
US8084685B2 (en) * 2006-01-12 2011-12-27 Heliovolt Corporation Apparatus for making controlled segregated phase domain structures
US20070160763A1 (en) 2006-01-12 2007-07-12 Stanbery Billy J Methods of making controlled segregated phase domain structures
CN100465351C (zh) * 2006-03-02 2009-03-04 桂林工学院 一种太阳能电池薄膜材料的电化学沉积制备工艺
US20070215197A1 (en) * 2006-03-18 2007-09-20 Benyamin Buller Elongated photovoltaic cells in casings
CN101454486B (zh) * 2006-04-04 2013-03-13 索罗能源公司 用于卷绕处理光电薄膜的组分控制
US20070227633A1 (en) * 2006-04-04 2007-10-04 Basol Bulent M Composition control for roll-to-roll processed photovoltaic films
BRPI0710139A2 (pt) 2006-04-14 2011-08-23 Silica Tech Llc Aparelho para deposição de plasma para fazer células solares, e, método para formar uma camada de células solares
ES2547566T3 (es) * 2006-05-24 2015-10-07 Atotech Deutschland Gmbh Compuesto de recubrimiento metálico y método para la deposición de cobre, zinc y estaño adecuado para la producción de una célula solar de película fina
US20080023059A1 (en) * 2006-07-25 2008-01-31 Basol Bulent M Tandem solar cell structures and methods of manufacturing same
JP5246839B2 (ja) * 2006-08-24 2013-07-24 独立行政法人産業技術総合研究所 半導体薄膜の製造方法、半導体薄膜の製造装置、光電変換素子の製造方法及び光電変換素子
US8334450B2 (en) * 2006-09-04 2012-12-18 Micallef Joseph A Seebeck solar cell
US7892413B2 (en) * 2006-09-27 2011-02-22 Solopower, Inc. Electroplating methods and chemistries for deposition of copper-indium-gallium containing thin films
US8066865B2 (en) * 2008-05-19 2011-11-29 Solopower, Inc. Electroplating methods and chemistries for deposition of group IIIA-group via thin films
US20100139557A1 (en) * 2006-10-13 2010-06-10 Solopower, Inc. Reactor to form solar cell absorbers in roll-to-roll fashion
US20080175993A1 (en) * 2006-10-13 2008-07-24 Jalal Ashjaee Reel-to-reel reaction of a precursor film to form solar cell absorber
US20090183675A1 (en) * 2006-10-13 2009-07-23 Mustafa Pinarbasi Reactor to form solar cell absorbers
US20090050208A1 (en) * 2006-10-19 2009-02-26 Basol Bulent M Method and structures for controlling the group iiia material profile through a group ibiiiavia compound layer
US20080169025A1 (en) * 2006-12-08 2008-07-17 Basol Bulent M Doping techniques for group ibiiiavia compound layers
DE102007003554A1 (de) * 2007-01-24 2008-07-31 Bayer Materialscience Ag Verfahren zur Leistungsverbesserung von Nickelelektroden
US8034317B2 (en) 2007-06-18 2011-10-11 Heliovolt Corporation Assemblies of anisotropic nanoparticles
US20090013292A1 (en) * 2007-07-03 2009-01-08 Mentor Graphics Corporation Context dependent timing analysis and prediction
US20090114274A1 (en) 2007-11-02 2009-05-07 Fritzemeier Leslie G Crystalline thin-film photovoltaic structures
JP4620105B2 (ja) * 2007-11-30 2011-01-26 昭和シェル石油株式会社 Cis系薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法
US20100140098A1 (en) * 2008-05-15 2010-06-10 Solopower, Inc. Selenium containing electrodeposition solution and methods
US20120003786A1 (en) * 2007-12-07 2012-01-05 Serdar Aksu Electroplating methods and chemistries for cigs precursor stacks with conductive selenide bottom layer
US8425753B2 (en) * 2008-05-19 2013-04-23 Solopower, Inc. Electroplating methods and chemistries for deposition of copper-indium-gallium containing thin films
US8409418B2 (en) * 2009-02-06 2013-04-02 Solopower, Inc. Enhanced plating chemistries and methods for preparation of group IBIIIAVIA thin film solar cell absorbers
US8702954B2 (en) * 2007-12-21 2014-04-22 Kansai Paint Co., Ltd. Manufacturing method for surface-treated metallic substrate and surface-treated metallic substrate obtained by said manufacturing method, and metallic substrate treatment method and metallic substrate treated by said method
CN101471394A (zh) * 2007-12-29 2009-07-01 中国科学院上海硅酸盐研究所 铜铟镓硫硒薄膜太阳电池光吸收层的制备方法
US20090235987A1 (en) * 2008-03-24 2009-09-24 Epv Solar, Inc. Chemical Treatments to Enhance Photovoltaic Performance of CIGS
US20090272422A1 (en) * 2008-04-27 2009-11-05 Delin Li Solar Cell Design and Methods of Manufacture
US20090283411A1 (en) * 2008-05-15 2009-11-19 Serdar Aksu Selenium electroplating chemistries and methods
US20100226629A1 (en) * 2008-07-21 2010-09-09 Solopower, Inc. Roll-to-roll processing and tools for thin film solar cell manufacturing
US20100059385A1 (en) * 2008-09-06 2010-03-11 Delin Li Methods for fabricating thin film solar cells
KR101069109B1 (ko) * 2008-10-28 2011-09-30 재단법인대구경북과학기술원 박막 태양 전지 및 이의 제조 방법
CN101740660B (zh) * 2008-11-17 2011-08-17 北京华仁合创太阳能科技有限责任公司 铜铟镓硒太阳能电池、其吸收层薄膜及该薄膜的制备方法、设备
CN101771099B (zh) * 2008-12-30 2011-08-17 中国电子科技集团公司第十八研究所 一种铜铟镓硒半导体薄膜的制备方法
CN101475315B (zh) * 2009-02-03 2011-08-17 泉州创辉光伏太阳能有限公司 黄铜矿类铜铟镓的硒化物或硫化物半导体薄膜材料的制备方法
KR20110111369A (ko) * 2009-02-04 2011-10-11 헬리오볼트 코오퍼레이션 인듐 함유의 투명한 전도성 산화막을 형성하는 방법과 이 방법에 사용되는 금속 타겟 및 상기 투명한 전도성 산화막을 이용하는 광발전 장치
US20100213073A1 (en) * 2009-02-23 2010-08-26 International Business Machines Corporation Bath for electroplating a i-iii-vi compound, use thereof and structures containing same
DE102009013904A1 (de) * 2009-03-19 2010-09-23 Clariant International Limited Solarzellen mit einer Verkapselungsschicht auf Basis von Polysilazan
WO2010110871A2 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Veeco Instruments Inc. Deposition of high vapor pressure materials
TW201042065A (en) * 2009-05-22 2010-12-01 Ind Tech Res Inst Methods for fabricating copper indium gallium diselenide (CIGS) compound thin films
US8247243B2 (en) * 2009-05-22 2012-08-21 Nanosolar, Inc. Solar cell interconnection
EP2435248A2 (en) 2009-05-26 2012-04-04 Purdue Research Foundation Thin films for photovoltaic cells
KR20100130008A (ko) * 2009-06-02 2010-12-10 삼성전자주식회사 태양 전지 구조체
KR20130122693A (ko) * 2009-06-05 2013-11-07 헬리오볼트 코오퍼레이션 비-접촉 압력 용기를 통해 박막 혹은 복합층을 합성하는 프로세스
CA2768616A1 (en) * 2009-08-04 2011-02-10 Precursor Energetics, Inc. Polymeric precursors for caigas aluminum-containing photovoltaics
CA2768615A1 (en) * 2009-08-04 2011-02-10 Precursor Energetics, Inc. Polymeric precursors for cis and cigs photovoltaics
US8067262B2 (en) * 2009-08-04 2011-11-29 Precursor Energetics, Inc. Polymeric precursors for CAIGS silver-containing photovoltaics
CN102473778A (zh) * 2009-08-04 2012-05-23 普瑞凯瑟安质提克斯公司 用于具有受控的化学计量的光伏吸收剂的方法
TW201106488A (en) * 2009-08-11 2011-02-16 Jenn Feng New Energy Co Ltd A non-vacuum coating method for absorption layer of solar cell
EP2475809A4 (en) * 2009-09-08 2016-05-18 Chengdu Ark Eternity Photovoltaic Technology Company Ltd ELECTROCHEMICAL PROCESS FOR PRODUCING COPPER-INDIUM-GALLIUM-DISELENED SOLAR TANKS (CIGS)
US8256621B2 (en) * 2009-09-11 2012-09-04 Pro-Pak Industries, Inc. Load tray and method for unitizing a palletized load
US20110226323A1 (en) * 2009-09-14 2011-09-22 E.I. Du Pont De Nemours And Company Use of thermally stable, flexible inorganic substrate for photovoltaics
WO2011084171A1 (en) * 2009-12-17 2011-07-14 Precursor Energetics, Inc. Molecular precursors for optoelectronics
WO2011075564A1 (en) * 2009-12-18 2011-06-23 Solopower, Inc. Electroplating methods and chemistries for depoisition of copper-indium-gallium containing thin films
CN201635286U (zh) * 2009-12-24 2010-11-17 四会市维力有限公司 搪瓷太阳能建筑墙板
US8021641B2 (en) * 2010-02-04 2011-09-20 Alliance For Sustainable Energy, Llc Methods of making copper selenium precursor compositions with a targeted copper selenide content and precursor compositions and thin films resulting therefrom
KR101114685B1 (ko) 2010-02-08 2012-04-17 영남대학교 산학협력단 연속흐름반응법을 이용한 화합물 태양전지용 CuInS2 박막의 제조방법
TWI411121B (zh) * 2010-03-11 2013-10-01 Ind Tech Res Inst 光吸收層之製造方法及應用其之太陽能電池結構
WO2011146115A1 (en) 2010-05-21 2011-11-24 Heliovolt Corporation Liquid precursor for deposition of copper selenide and method of preparing the same
US8304272B2 (en) 2010-07-02 2012-11-06 International Business Machines Corporation Germanium photodetector
US9142408B2 (en) 2010-08-16 2015-09-22 Alliance For Sustainable Energy, Llc Liquid precursor for deposition of indium selenide and method of preparing the same
US20120055612A1 (en) 2010-09-02 2012-03-08 International Business Machines Corporation Electrodeposition methods of gallium and gallium alloy films and related photovoltaic structures
US8545689B2 (en) 2010-09-02 2013-10-01 International Business Machines Corporation Gallium electrodeposition processes and chemistries
US8828782B2 (en) 2010-09-15 2014-09-09 Precursor Energetics, Inc. Annealing processes for photovoltaics
US8563354B1 (en) 2010-10-05 2013-10-22 University Of South Florida Advanced 2-step, solid source deposition approach to the manufacture of CIGS solar modules
JP2012079997A (ja) * 2010-10-05 2012-04-19 Kobe Steel Ltd 化合物半導体薄膜太陽電池用光吸収層の製造方法、およびIn−Cu合金スパッタリングターゲット
CN103827976A (zh) * 2011-06-17 2014-05-28 普瑞凯瑟安质提克斯公司 用于光电应用的沉积方法
CN102268702A (zh) * 2011-07-07 2011-12-07 中南大学 铜铟镓硒薄膜的光电化学沉积制备法
GB2493020B (en) * 2011-07-21 2014-04-23 Ilika Technologies Ltd Vapour deposition process for the preparation of a chemical compound
GB2493022B (en) 2011-07-21 2014-04-23 Ilika Technologies Ltd Vapour deposition process for the preparation of a phosphate compound
US8466001B1 (en) * 2011-12-20 2013-06-18 Intermolecular, Inc. Low-cost solution approach to deposit selenium and sulfur for Cu(In,Ga)(Se,S)2 formation
US9018032B2 (en) * 2012-04-13 2015-04-28 Tsmc Solar Ltd. CIGS solar cell structure and method for fabricating the same
US9105797B2 (en) 2012-05-31 2015-08-11 Alliance For Sustainable Energy, Llc Liquid precursor inks for deposition of In—Se, Ga—Se and In—Ga—Se
GB201400276D0 (en) 2014-01-08 2014-02-26 Ilika Technologies Ltd Vapour deposition method for fabricating lithium-containing thin film layered structures
GB201400277D0 (en) * 2014-01-08 2014-02-26 Ilika Technologies Ltd Vapour deposition method for preparing crystalline lithium-containing compounds
GB201400274D0 (en) 2014-01-08 2014-02-26 Ilika Technologies Ltd Vapour deposition method for preparing amorphous lithium-containing compounds
US20180254363A1 (en) * 2015-08-31 2018-09-06 The Board Of Regents Of The University Of Oklahoma Semiconductor devices having matrix-embedded nano-structured materials
JP7071934B2 (ja) 2016-06-15 2022-05-19 イリカ テクノロジーズ リミテッド 電解質および電極保護層としてのホウケイ酸リチウムガラス
GB201814039D0 (en) 2018-08-29 2018-10-10 Ilika Tech Ltd Method

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3530053A (en) * 1968-01-11 1970-09-22 Bell Telephone Labor Inc Method of preparing a cadmium sulfide thin film from an aqueous solution
US3978510A (en) * 1974-07-29 1976-08-31 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Heterojunction photovoltaic devices employing i-iii-vi compounds
US4256544A (en) * 1980-04-04 1981-03-17 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method of making metal-chalcogenide photosensitive devices
US4335266A (en) * 1980-12-31 1982-06-15 The Boeing Company Methods for forming thin-film heterojunction solar cells from I-III-VI.sub.2
US4392451A (en) * 1980-12-31 1983-07-12 The Boeing Company Apparatus for forming thin-film heterojunction solar cells employing materials selected from the class of I-III-VI2 chalcopyrite compounds
US4376016A (en) * 1981-11-16 1983-03-08 Tdc Technology Development Corporation Baths for electrodeposition of metal chalconide films
US4581108A (en) * 1984-01-06 1986-04-08 Atlantic Richfield Company Process of forming a compound semiconductive material
US4611091A (en) * 1984-12-06 1986-09-09 Atlantic Richfield Company CuInSe2 thin film solar cell with thin CdS and transparent window layer
US4798660A (en) * 1985-07-16 1989-01-17 Atlantic Richfield Company Method for forming Cu In Se2 films
US5045409A (en) * 1987-11-27 1991-09-03 Atlantic Richfield Company Process for making thin film solar cell
US5221660A (en) * 1987-12-25 1993-06-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Semiconductor substrate having a superconducting thin film
US4915745A (en) * 1988-09-22 1990-04-10 Atlantic Richfield Company Thin film solar cell and method of making
US5112410A (en) * 1989-06-27 1992-05-12 The Boeing Company Cadmium zinc sulfide by solution growth
US5436204A (en) * 1993-04-12 1995-07-25 Midwest Research Institute Recrystallization method to selenization of thin-film Cu(In,Ga)Se2 for semiconductor device applications
US5356839A (en) * 1993-04-12 1994-10-18 Midwest Research Institute Enhanced quality thin film Cu(In,Ga)Se2 for semiconductor device applications by vapor-phase recrystallization
US5441897A (en) * 1993-04-12 1995-08-15 Midwest Research Institute Method of fabricating high-efficiency Cu(In,Ga)(SeS)2 thin films for solar cells
US5730852A (en) * 1995-09-25 1998-03-24 Davis, Joseph & Negley Preparation of cuxinygazsen (X=0-2, Y=0-2, Z=0-2, N=0-3) precursor films by electrodeposition for fabricating high efficiency solar cells

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013522867A (ja) * 2010-03-11 2013-06-13 エレクトリシテ・ドゥ・フランス 光電池の吸収薄膜の作成方法

Also Published As

Publication number Publication date
NO20052210D0 (no) 2005-05-04
KR19990071500A (ko) 1999-09-27
BR9612022A (pt) 1999-06-15
US5730852A (en) 1998-03-24
EP0956600A4 (ja) 1999-11-17
US5871630A (en) 1999-02-16
IL124750A0 (en) 1999-01-26
MX9804620A (es) 1998-10-31
EP0956600A1 (en) 1999-11-17
CN1204419A (zh) 1999-01-06
CA2239786C (en) 2006-03-14
NO20052210L (no) 1998-08-11
AU705545B2 (en) 1999-05-27
EP0956600B1 (en) 2002-05-29
CN1155111C (zh) 2004-06-23
DE69621467D1 (de) 2002-07-04
NO320118B1 (no) 2005-10-31
JP2000501232A (ja) 2000-02-02
WO1997022152A1 (en) 1997-06-19
CA2239786A1 (en) 1997-06-19
NO982699L (no) 1998-08-11
HK1023849A1 (en) 2000-09-22
DE69621467T2 (de) 2002-11-07
US5804054A (en) 1998-09-08
SA98190373B1 (ar) 2006-09-25
AU1284997A (en) 1997-07-03
NO982699D0 (no) 1998-06-11

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JP3753739B2 (ja) 高効率太陽電池製造のための電着によるCuxInyGazSen(x=0〜2,y=0〜2,z=0〜2,n=0〜3)先駆薄膜の製造方法
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