JP3734133B2 - 光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置及び調整方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、光記録媒体の記録面の光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するチルトサーボ制御装置、光ビームを光記録媒体の記録面に合焦させるフォーカスサーボ制御装置及びフォーカスバイアス量を制御するバイアス制御装置を備えた光記録媒体再生装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ、ＤＶＤ等の光ディスクから記録情報を正確に読み取るためには、光ディスクの記録面に対して垂直に読取ビームを照射する必要がある。しかしながら、光ディスク自体に反りが生じていたり、機構系の誤差が大きいと、光ディスクの記録面に対して垂直に読取ビームを照射することができなくなり、情報読取精度が低下してしまう。
【０００３】
そこで、光ディスクから記録情報の再生を行う記録情報再生装置においては、情報読取手段としてのピックアップと光ディスクとの間に生じている傾き（チルト）を検出し、検出した傾きに応じた分だけピックアップ全体を傾けたり、或いはピックアップによって読み取られた読取信号に対してこの傾きに応じたチルト補正処理を施すことにより、情報読取精度の低下を抑えるチルトサーボ制御装置が備えられている。
【０００４】
また、チルトサーボ制御装置としては、チルト補正を施すために光軸上に挿入された液晶パネルを用いる装置が公知ある（例えば、特開平１１−３５３１号公報）。この装置の場合には、液晶パネルを複数の領域に分割し、ピックアップによる読取信号のレベルが最大になるように液晶パネルの各領域を通過する光線に位相差を与えることが行われる。
【０００５】
一方、光ディスクから記録情報を正確に読み取るためには照射光ビームが光ディスクの記録面に合焦している必要があるので、ピックアップの複数分割の光検出器の各光検出レベルに基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号レベルが減少するように対物レンズの光軸方向の位置を制御するフォーカスサーボ装置が光ディスクプレーヤには備えられている。このフォーカスサーボ制御装置においては、光学系の誤差のために、合焦時にフォーカスエラー信号が基準レベル（例えば、０）とならず、フォーカスエラー信号中のオフセット成分である直流成分を含んでいることが普通である。よって、合焦時にフォーカスエラー信号が基準レベルとなるようにフォーカスエラー信号中のオフセット成分を強制的に０とするフォーカスバイアス調整が行われている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
フォーカスバイアス調整は一般に光ディスクがディスクプレーヤにセットされた直後の初期動作として行われる。ところが、チルトサーボ制御装置によるチルトサーボ制御動作はディスク再生中にも行われるので、チルトサーボ制御動作によってチルト補正が行われた場合には、初期動作として行われたフォーカスバイアス調整はチルト補正が行われる前のピックアップの各光検出器の光検出レベルに基づいている故、結果として真の調整値からずれた適切なものではなかったことになるという問題点があった。このことは、チルトサーボ制御装置としてピックアップによる読取信号のレベルが最大になるようにピックアップの光学系に液晶パネル以外の光学素子を挿入した装置においても同様である。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、ピックアップと光ディスク等の光記録媒体との間にチルトが生じている場合でも適切なフォーカスバイアス調整結果を得ることができる光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置及び調整方法を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明の光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置は、光記録媒体に光ビームを照射し、その光記録媒体からの反射光を分割型の光検出器にて検出する光学系を有する光ピックアップと、光検出器の各出力信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号に応じてピックアップ内の対物レンズを光ビームの光軸方向に移動させるフォーカスサーボ制御手段と、フォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行うフォーカスバイアス調整手段と、光記録媒体の記録面の光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系を調整するチルトサーボ制御手段と、を備えた光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置であって、フォーカスバイアス調整手段によるフォーカスバイアス調整後に、チルトサーボ制御手段により光学系の調整動作がなされた場合には、フォーカスバイアス調整を再度行うようにフォーカスバイアス調整手段を制御する制御手段を備えたことを特徴としている。
【０００９】
また、本発明の光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置は、光記録媒体に光ビームを照射し、その光記録媒体からの反射光を分割型の光検出器にて検出する光学系を有する光ピックアップと、光検出器の各出力信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号に応じてピックアップ内の対物レンズを光ビームの光軸方向に移動させるフォーカスサーボ制御手段と、フォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行うフォーカスバイアス調整手段と、光記録媒体の記録面の光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系を調整するチルトサーボ制御手段と、を備えた光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置であって、フォーカスバイアス調整手段によるフォーカスバイアス調整後に、チルトサーボ制御手段が光学系の調整動作を行った場合に、フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすか否かを判別する判別手段を有し、判別手段がフォーカスバイアス調整の開始条件を満たすと判別したとき、フォーカスバイアス調整を再度行うようにフォーカスバイアス調整手段を制御する制御手段を備えたことを特徴としている。
【００１０】
本発明のフォーカスバイアス調整方法は、光ピックアップ内の分割型の光検出器の各出力信号に基づいたフォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行い、その後、光記録媒体の記録面の光ピックアップからの光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系をチルト調整するフォーカスバイアス調整方法であって、フォーカスバイアス調整後に、光ピックアップの光学系のチルト調整動作を行った場合には、フォーカスバイアス調整を再度行うことを特徴としている。
【００１１】
また、本発明のフォーカスバイアス調整方法は、光ピックアップ内の分割型の光検出器の各出力信号に基づいたフォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行い、その後、光記録媒体の記録面の光ピックアップからの光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系をチルト調整するフォーカスバイアス調整方法であって、フォーカスバイアス調整後に、光ピックアップの光学系のチルト調整動作を行った場合には、フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすか否かを判別し、フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすと判別したときにはフォーカスバイアス調整を再度行うことを特徴としている。
【００１２】
かかる本発明によれば、チルトサーボ制御が実行された後に再度のフォーカスバイアス調整を実行するので、ピックアップと光記録媒体との間にチルトが生じている場合であっても光記録媒体再生時には適切なフォーカスバイアス調整結果を得ることができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ詳細に説明する。
図１は本発明による光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置及び調整方法が適用された光ディスクプレーヤを示している。この光ディスクプレーヤにおいて、ピックアップ１０はレーザ光を光ディスク１２に照射し、光ディスク１２からのその反射光を受光して受光量に応じた信号を発生する。光ディスク１２はモータ１４によって回転駆動される。
【００１４】
ピックアップ１０においては、光ビームの光軸にディスク半径方向の収差補正用の液晶パネル１３が配置され、光学系の波面収差が補正可能にされている。液晶パネル１３は例えば、図２に示すように半径方向において内周側、中間、外周側の３つの領域１３ａ〜１３ｃに分割されている。これら３つの領域１３ａ〜１３ｃは後述のチルトサーボ部２７から出力される個別の駆動電圧により各領域１３ａ〜１３ｃ毎に可変制御される。これにより各領域１３ａ〜１３ｃを通過する光の位相差を個別に変えることができるので、ディスク半径方向に発生するチルトにより生ずるコマ収差等の波面収差の補正が可能となる。
【００１５】
ピックアップ１０は図３に示すように、光検出素子１１ａ〜１１ｄからなる４分割の光検出器１１を備えている。その光検出器１１の各光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号をａ，ｂ，ｃ，ｄとする。光検出素子１１ａ〜１１ｄの受光面の２つの分割線の交差点を中心として対称位置にある２つの光検出素子の出力信号の和信号ａ＋ｃ，ｂ＋ｄが加算器２３，２４において算出される。その加算器２３，２４各々の出力には加算器２５が接続されており、光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号の総和ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄが加算器２５においてＲＦ信号（読取信号）として得られる。
【００１６】
加算器２５の出力には再生処理部２６、チルトサーボ部２７及びフォーカスバイアス調整部３３が接続されている。再生処理部２６ではＲＦ信号に応じて光ディスク１２に記録された情報が再生される。チルトサーボ部２７ではＲＦ信号レベルが最大となるように液晶パネル１３の領域１３ａ〜１３ｃ各々に対応する駆動電圧が駆動回路２８に出力される。駆動回路２８はその各駆動電圧に応じて領域１３ａ〜１３ｃを個別に駆動する。
【００１７】
チルトサーボ部２７は、図４に示すように、ＲＦ振幅レベル検出器５１、Ｌレジスタ５２、Ｈレジスタ５３、コンパレータ５４、アップダウンカウンタ５５、加算器５６、チルト補正ＲＯＭ５７、レジスタ５８ａ〜５８ｃ及びＰＷＭ（パルス幅変調）部５９ａ〜５９ｃからなる。なお、チルトサーボ部２７の構成及び動作については特開平１１−３５３１号公報に既に開示されている。
【００１８】
フォーカスバイアス調整部３３は図３に示すように、バイアス発生回路４８と、ジェネレータ５０と、フォーカス誤差検出回路５１とを備えている。このバイアス発生回路４８、ジェネレータ５０及びフォーカス誤差検出回路５１については後述する。
加算器２３，２４各々の出力には光ディスク１２の記録面に対し照射レーザ光を合焦させるためにピックアップ１０内の対物レンズ（図示せず）を光軸方向に変位駆動させるフォーカスサーボ部２９が接続されている。
【００１９】
フォーカスサーボ部２９は図３に示すように、増幅器４１〜４３、減算器４４、加算器４５，４９、スイッチ４６及びイコライザ４７から構成されている。増幅器４１は加算器２３の出力に接続され、加算器２３の出力信号を増幅して減算器４４の正側の入力に供給する。増幅器４２は加算器２４の出力に接続され、加算器２４の出力信号を増幅して減算器４４の負側の入力に供給する。減算器４４は増幅器４１の出力信号レベルから増幅器４２の出力信号レベルを差し引いてフォーカスエラー信号ＦＥを出力する。減算器４４の出力には加算器４５及びフォーカスバイアス調整部３３のフォーカス誤差検出回路５１が接続されている。加算器４５には上記したバイアス発生回路４８の出力も接続されており、加算器４５によって減算器４４の出力信号にバイアス発生回路４８の出力信号が加算される。
【００２０】
バイアス発生回路４８は減算器４４の出力信号ＦＥ中に含まれるＤＣ（直流）オフセット成分Ｖoffsetを除去するためにバイアス電圧Ｖbiasを加算器４５に供給する。このバイアス電圧Ｖbiasの発生はマイクロコンピュータ３０によって指示される。
加算器４５の出力信号は増幅器４３を介して第１フォーカスエラー信号ＦＥ１として加算器４９に供給される。加算器４９には上記のジェネレータ５０が接続されている。
【００２１】
ジェネレータ５０は第１フォーカスエラー信号ＦＥ１に重畳すべき外乱信号（例えば、周波数１ｋＨｚのサイン波信号）をマイクロコンピュータ３０の指令に応じて発生して加算器４９に出力する。
加算器４９はジェネレータ５０から外乱信号が供給されている時には増幅器４３の出力信号に外乱信号を加算して出力し、外乱信号が供給されていない時には増幅器４３の出力信号をそのまま出力する。加算器４９の出力信号は第２フォーカスエラー信号ＦＥ２としてスイッチ４６を介してイコライザ４７に供給される。スイッチ４６はフォーカスバイアス調整を含むフォーカスサーボ制御中にはマイクロコンピュータ３０によってオンとされるオンオフスイッチである。イコライザ４７は供給された第２フォーカスエラー信号ＦＥ２に位相補償の処理を施し、その位相補償後の第２フォーカスエラー信号ＦＥ２を駆動回路３１に供給する。駆動回路３１はイコライザ４７の出力信号に応じてピックアップ１０内のフォーカスアクチュエータ（図示せず）を駆動することにより上記の対物レンズを光軸方向に変位駆動させる。
【００２２】
フォーカス誤差検出回路５１は加算器２５から出力されるＲＦ信号及び減算器４４から出力されるフォーカスエラー信号ＦＥに基づいて光ビームの焦点位置の情報記録面からの誤差量を検出し、その誤差量に対応する誤差信号ＳＶを出力する。
光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号はトラッキングサーボ部３４に接続されている。トラッキングサーボ部３４はビーム光が光ディスク１２の記録面のトラック中心を照射するように対物レンズをディスク半径方向に変位駆動する制御を行う。よって、トラッキングサーボ部３４は光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号に応じてトラッキングエラー信号を生成し、そのトラッキングエラー信号を減少させるようにトラッキング駆動信号を駆動回路３２に出力する。駆動回路３２はトラッキング駆動信号に応じてピックアップ１０内のトラッキングアクチュエータ（図示せず）を駆動することにより上記の対物レンズをディスク半径方向に変位駆動させる。
【００２３】
上記したフォーカスバイアス調整部３３内のバイアス発生回路４８及びジェネレータ５０の各動作の制御の他、再生処理部２６、チルトサーボ部２７、フォーカスサーボ部２９及びトラッキングサーボ部３４の各動作はマイクロコンピュータ３０によって制御される。
次に、マイクロコンピュータ３０の動作を説明する。
【００２４】
マイクロコンピュータ３０は、図５に示すように、光ディスク１２がプレーヤにセットされたときにセットアップルーチン（ステップＳ１）の処理を一回だけ行い、その後、メインルーチン（ステップＳ２）を繰り返し処理する。
セットアップルーチンの中において、マイクロコンピュータ３０は図６に示すように、フォーカスサーボ部２９によるフォーカスサーボ制御を開始させ（ステップＳ１１）、その後、トラッキングサーボ部３４によるトラッキングサーボ制御を開始させる（ステップＳ１２）。フォーカスサーボ制御開始ではフォーカスサーボ部２９内のスイッチ４６がオン状態にされる。
【００２５】
マイクロコンピュータ３０はフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御が開始された後に、フォーカスバイアス調整を行う（ステップＳ１３）。このフォーカスバイアス調整では、先ず、ジェネレータ５０が作動されて外乱信号がジェネレータ５０から加算器４９に供給される。その後、マイクロコンピュータ３０はフォーカス誤差検出回路５１から出力される誤差信号ＳＶの安定を待ってから、その誤差信号ＳＶを測定する。このとき、誤差信号ＳＶは、光ディスク１２上のサンプル位置における光ビームの焦点位置と光ディスク１２の情報記録面との誤差量に対応する誤差電圧を示す。この誤差電圧を所定回数だけ繰り返しサンプルし、その最大値ＶMAX及び最小値ＶMINを得る。そして、最大値ＶMAX及び最小値ＶMINから平均値＝(ＶMAX＋ＶMIN)／２を算出してその平均値を最終的な誤差電圧Ｖとし、その誤差電圧Ｖを用いてバイアス電圧Ｖbiasの調整量△＝(Ｖ／ａ)×ｇを算出する。ａは光ビームの焦点位置の情報記録面の位置からの誤差量と誤差電圧Ｖとの関係を示す係数である。ｇは合焦ポイントにおけるフォーカスエラー信号ＦＥの感度を示す値である。調整量△を得るとその調整量△をそれまでのバイアス電圧Ｖbiasに加算して新たなレベルのバイアス電圧Ｖbiasを算出する。フォーカスバイアス調整をステップＳ１３で行う場合にはそれまでのバイアス電圧Ｖbiasは初期値である。このように算出されたバイアス電圧Ｖbiasの発生がバイアス発生回路４８に指示される。その指示に応答してバイアス発生回路４８はその算出レベルのバイアス電圧Ｖbiasを加算器４５に供給する。加算器４５は減算器４４の出力信号にバイアス電圧Ｖbiasを加算して増幅器４３に供給する。これにより減算器４４の出力信号ＦＥに含まれるオフセット成分Ｖoffsetが打ち消されるのである。このようにフォーカスバイアス調整が行われると、ジェネレータ５０に対して外乱信号の発生を停止させる。なお、フォーカスバイアス調整の詳細については特開平９−２３７４２４号公報に開示されている。また、ステップＳ１３ではフォーカスバイアス調整が複数回行われる。
【００２６】
メインルーチン中においては、図７に示すように、液晶チルトサーボ制御が実行される（ステップＳ２１）。液晶チルトサーボ制御ではＲＦ信号レベルが最大となるように液晶パネル１３の領域１３ａ〜１３ｃ各々に対応する新たな駆動信号が駆動回路２８に出力される。
図４のチルトサーボ部２７の構成に従ってその制御動作を説明すると、マイクロコンピュータ３０は先ず、そのときのアップダウンカウンタ５５の現在値を加算器５６を介してチルト補正ＲＯＭ５７に供給させ、その値で指定されるチルト補正ＲＯＭ５７のアドレスから領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量を読み出させて対応するレジスタ５８ａ〜５８ｃに保持させる。なお、チルト補正ＲＯＭ５７にはチルト角度の所定角度（例えば、１度）毎の液晶パネル１３の領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量が予め書き込まれている。セットアップルーチン処理後の最初のメインルーチンではアップダウンカウンタ５５の値は初期値であるので、チルト角度の初期角度（例えば、０度）に対応する領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量が読み出される。レジスタ５８ａ〜５８ｃに新たな液晶駆動量が各々保持されると、その液晶駆動量に応じたパルス幅の駆動信号がＰＷＭ部５９ａ〜５９ｃにて各々生成され、駆動回路２８はその各駆動信号レベルに応じて領域１３ａ〜１３ｃに電圧を個別に印加させる。電圧印加の結果、領域１３ａ〜１３ｃの液晶分子の複屈折効果により光路差Δｎ・ｄ（Δｎは屈折率の変化分、ｄは液晶のセル厚）が与えられる。すなわち、液晶を通過する光線の波長をλとすると、その光線に位相差Δｎ・ｄ(２π／λ)を与えることができる。
【００２７】
更に、マイクロコンピュータ３０はこのような位相差を与えることにより得られたＲＦ信号の振幅検出値をＬレジスタ５２に保持させ、アップダウンカウンタ５５の現在値に対して１を加算器５６にて加算させ、その加算器５６の出力値で指定されるチルト補正ＲＯＭ５７のアドレスから領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量を読み出させて対応するレジスタ５８ａ〜５８ｃに保持させる。この新たに保持された液晶駆動量に応じたパルス幅の駆動信号がＰＷＭ部５９ａ〜５９ｃにて各々生成され、駆動回路２８はその各駆動信号レベルに応じて領域１３ａ〜１３ｃに電圧を個別に印加させる。よって、光線に更に位相差を与えることにより得られたＲＦ信号の振幅検出値をマイクロコンピュータ３０はＨレジスタ５３に保持させる。コンパレータ５４ではＬレジスタ５２及びＨレジスタ５３に保持された２つの振幅値の大小比較結果が得られるので、Ｌレジスタ５２の保持振幅値がＨレジスタ５３の保持振幅値より大であれば、アップダウンカウンタ５５の値を１だけ減少させ、Ｈレジスタ５３の保持振幅値がＬレジスタ５２の保持振幅値より大であれば、アップダウンカウンタ５５の値を１だけ増加させる。Ｌレジスタ５２の保持振幅値がＨレジスタ５３の保持振幅値と同一ならば、そのアップダウンカウンタ５５の現在値が維持される。
【００２８】
このようにアップダウンカウンタ５５の値が設定されると、ステップＳ２１の液晶チルトサーボ制御動作は一旦終了する。上記のようにメインルーチンは繰り返し処理されるので、次にメインルーチンが処理されるときに上記の制御動作が再び行われる。マイクロコンピュータ３０はステップＳ２１の実行後、ＲＦ信号レベルの初期値から現在のＲＦ信号レベルの変化幅が第１所定変化幅以上であるか否かを判別する（ステップＳ２２）。初期値はセットアップルーチン処理後の最初のメインルーチン開始時のＲＦ信号レベルである。このステップＳ２２はステップＳ２１の液晶チルトサーボ制御によってＲＦ信号レベルが補正されたことにより、オフセット成分Ｖoffsetの大きさが変化して再度のフォーカスバイアス調整が必要になったか否かの判別である。ＲＦ信号レベルの変化幅が第１所定変化幅より小さいならば、液晶チルトサーボ制御によってオフセット成分Ｖoffsetの大きさが変化してはいないとみなしてステップＳ２３の他の処理に進む。一方、ＲＦ信号レベルの変化幅が第１所定変化幅以上であるならば、液晶チルトサーボ制御によってオフセット成分Ｖoffsetの大きさが変化した可能性があるので、フォーカスバイアス調整を実行する（ステップＳ２４）。このフォーカスバイアス調整ではステップＳ１３のフォーカスバイアス調整と同一の動作が行われ、液晶チルトサーボ制御よるオフセット成分Ｖoffsetの大きさの変化に対する補償が行われる。ステップＳ２４の実行後、ステップＳ２３が実行される。
【００２９】
ステップＳ２３の他の処理では例えば、再生処理部２６のコントロールが行われる。
ピックアップ１０と光ディスク１２との間にチルトが生じている状態でのディスク再生の場合には、チルト角に対する読取エラーレート特性は図８の実線Ａで示すようになるが、セットアップルーチンのステップＳ１１においてオフセット成分Ｖoffsetを打ち消すようにバイアス発生回路４８がバイアス電圧Ｖbiasのレベルを発生するフォーカスバイアス調整をした後、メインルーチンのステップＳ２１で液晶チルトサーボ制御によってチルト補正を行い、更に、ステップＳ２４で再度のフォーカスバイアス調整を行うと、チルト角に対する読取エラーレート特性は図８の実線Ｂで示すように改善され、比較的大なるチルト角に対しても低い読取エラーレートに抑えることができる。一方、再度のフォーカスバイアス調整を行わない場合にはチルト角に対する読取エラーレート特性は図８の破線Ｃで示すようになる。よって、これらの特性から、再度のフォーカスバイアス調整を行うことにより、チルトマージンが大きくなり、再生中に更にチルトが生じたときに読取エラーレートの悪化を防止することができることが分かる。
【００３１】
また、ステップＳ２２の判別に代えて、液晶チルトサーボ制御によるチルト調整値の変化量、例えば、アップダウンカウンタ５５の値の変化量が第２所定幅以上である否かを判別しても良い。
【００３２】
上記した実施例においては、ディスク再生中においてフォーカスバイアス調整が必要であるとステップＳ２２で判別されると、常に、再度のフォーカスバイアス調整が実行されるが、再度のフォーカスバイアス調整は所定回数（例えば、２回）以上は行わないようにしても良い。また、ディスク再生中にはディスクの情報読取位置が内側位置、中間位置及び外側位置の各々にある場合毎に、再度のフォーカスバイアス調整が必要であるか否かの判別をステップＳ２２で行い、必要ならばステップＳ２４にて再度のフォーカスバイアス調整を実行するようにしても良い。
【００３３】
また、上記した実施例においては、ステップＳ２１にて液晶チルトサーボ制御が実行された後、ステップＳ２２で再度のフォーカスバイアス調整が必要であると判別された場合にのみステップＳ２４に進んで再度のフォーカスバイアス調整が実行されるが、図９に示すように液晶チルトサーボ制御が実行された後、直ちにステップＳ２４に進んで再度のフォーカスバイアス調整を実行するようにしても良い。
【００３４】
更に、ステップＳ１３及びＳ２４ではバイアス発生回路４８の出力バイアス電圧Ｖbiasのレベルを設定することによりフォーカスバイアス調整が行われるが、これに代えて増幅器４１，４２の各利得を調整することにより増幅器４３の出力に生じるオフセット成分を除去するフォーカスバランス調整を行っても良い。このフォーカスバランス調整ではバイアス電圧Ｖbiasを減算器４４の出力信号のフォーカスエラー信号ＦＥに加える必要はなく、また減算器４４の出力信号をそのまま増幅器４３に供給することができる。
【００３５】
また、上記した実施例においては、光記録媒体として光ディスクを用いた場合を示したが、光記録媒体としては光ディスクに限らず、光カード等の他の光記録媒体でも良い。
【００３６】
【発明の効果】
以上の如く、本発明によれば、チルトサーボ制御が実行された後に再度のフォーカスバイアス調整を実行するので、ピックアップと光記録媒体との間にチルトが生じている場合であっても光記録媒体再生時には適切なフォーカスバイアス調整結果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置及び調整方法が適用された光ディスクプレーヤを示すブロック図である。
【図２】液晶パネルの各領域を示す図である。
【図３】フォーカスサーボ部を示すブロック図である。
【図４】チルトサーボ部を示すブロック図である。
【図５】マイクロコンピュータの動作を示すフローチャートである。
【図６】セットアップルーチンを示すフローチャートである。
【図７】メインルーチンを示すフローチャートである。
【図８】チルト角とエラーレートの関係を示す図である。
【図９】他の実施例としてメインルーチンを示すフローチャートである。
【発明が属する技術分野】
本発明は、光記録媒体の記録面の光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するチルトサーボ制御装置、光ビームを光記録媒体の記録面に合焦させるフォーカスサーボ制御装置及びフォーカスバイアス量を制御するバイアス制御装置を備えた光記録媒体再生装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ、ＤＶＤ等の光ディスクから記録情報を正確に読み取るためには、光ディスクの記録面に対して垂直に読取ビームを照射する必要がある。しかしながら、光ディスク自体に反りが生じていたり、機構系の誤差が大きいと、光ディスクの記録面に対して垂直に読取ビームを照射することができなくなり、情報読取精度が低下してしまう。
【０００３】
そこで、光ディスクから記録情報の再生を行う記録情報再生装置においては、情報読取手段としてのピックアップと光ディスクとの間に生じている傾き（チルト）を検出し、検出した傾きに応じた分だけピックアップ全体を傾けたり、或いはピックアップによって読み取られた読取信号に対してこの傾きに応じたチルト補正処理を施すことにより、情報読取精度の低下を抑えるチルトサーボ制御装置が備えられている。
【０００４】
また、チルトサーボ制御装置としては、チルト補正を施すために光軸上に挿入された液晶パネルを用いる装置が公知ある（例えば、特開平１１−３５３１号公報）。この装置の場合には、液晶パネルを複数の領域に分割し、ピックアップによる読取信号のレベルが最大になるように液晶パネルの各領域を通過する光線に位相差を与えることが行われる。
【０００５】
一方、光ディスクから記録情報を正確に読み取るためには照射光ビームが光ディスクの記録面に合焦している必要があるので、ピックアップの複数分割の光検出器の各光検出レベルに基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号レベルが減少するように対物レンズの光軸方向の位置を制御するフォーカスサーボ装置が光ディスクプレーヤには備えられている。このフォーカスサーボ制御装置においては、光学系の誤差のために、合焦時にフォーカスエラー信号が基準レベル（例えば、０）とならず、フォーカスエラー信号中のオフセット成分である直流成分を含んでいることが普通である。よって、合焦時にフォーカスエラー信号が基準レベルとなるようにフォーカスエラー信号中のオフセット成分を強制的に０とするフォーカスバイアス調整が行われている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
フォーカスバイアス調整は一般に光ディスクがディスクプレーヤにセットされた直後の初期動作として行われる。ところが、チルトサーボ制御装置によるチルトサーボ制御動作はディスク再生中にも行われるので、チルトサーボ制御動作によってチルト補正が行われた場合には、初期動作として行われたフォーカスバイアス調整はチルト補正が行われる前のピックアップの各光検出器の光検出レベルに基づいている故、結果として真の調整値からずれた適切なものではなかったことになるという問題点があった。このことは、チルトサーボ制御装置としてピックアップによる読取信号のレベルが最大になるようにピックアップの光学系に液晶パネル以外の光学素子を挿入した装置においても同様である。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、ピックアップと光ディスク等の光記録媒体との間にチルトが生じている場合でも適切なフォーカスバイアス調整結果を得ることができる光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置及び調整方法を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明の光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置は、光記録媒体に光ビームを照射し、その光記録媒体からの反射光を分割型の光検出器にて検出する光学系を有する光ピックアップと、光検出器の各出力信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号に応じてピックアップ内の対物レンズを光ビームの光軸方向に移動させるフォーカスサーボ制御手段と、フォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行うフォーカスバイアス調整手段と、光記録媒体の記録面の光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系を調整するチルトサーボ制御手段と、を備えた光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置であって、フォーカスバイアス調整手段によるフォーカスバイアス調整後に、チルトサーボ制御手段により光学系の調整動作がなされた場合には、フォーカスバイアス調整を再度行うようにフォーカスバイアス調整手段を制御する制御手段を備えたことを特徴としている。
【０００９】
また、本発明の光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置は、光記録媒体に光ビームを照射し、その光記録媒体からの反射光を分割型の光検出器にて検出する光学系を有する光ピックアップと、光検出器の各出力信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号に応じてピックアップ内の対物レンズを光ビームの光軸方向に移動させるフォーカスサーボ制御手段と、フォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行うフォーカスバイアス調整手段と、光記録媒体の記録面の光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系を調整するチルトサーボ制御手段と、を備えた光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置であって、フォーカスバイアス調整手段によるフォーカスバイアス調整後に、チルトサーボ制御手段が光学系の調整動作を行った場合に、フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすか否かを判別する判別手段を有し、判別手段がフォーカスバイアス調整の開始条件を満たすと判別したとき、フォーカスバイアス調整を再度行うようにフォーカスバイアス調整手段を制御する制御手段を備えたことを特徴としている。
【００１０】
本発明のフォーカスバイアス調整方法は、光ピックアップ内の分割型の光検出器の各出力信号に基づいたフォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行い、その後、光記録媒体の記録面の光ピックアップからの光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系をチルト調整するフォーカスバイアス調整方法であって、フォーカスバイアス調整後に、光ピックアップの光学系のチルト調整動作を行った場合には、フォーカスバイアス調整を再度行うことを特徴としている。
【００１１】
また、本発明のフォーカスバイアス調整方法は、光ピックアップ内の分割型の光検出器の各出力信号に基づいたフォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行い、その後、光記録媒体の記録面の光ピックアップからの光ビームの照射位置における法線と光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように光学系をチルト調整するフォーカスバイアス調整方法であって、フォーカスバイアス調整後に、光ピックアップの光学系のチルト調整動作を行った場合には、フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすか否かを判別し、フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすと判別したときにはフォーカスバイアス調整を再度行うことを特徴としている。
【００１２】
かかる本発明によれば、チルトサーボ制御が実行された後に再度のフォーカスバイアス調整を実行するので、ピックアップと光記録媒体との間にチルトが生じている場合であっても光記録媒体再生時には適切なフォーカスバイアス調整結果を得ることができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ詳細に説明する。
図１は本発明による光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置及び調整方法が適用された光ディスクプレーヤを示している。この光ディスクプレーヤにおいて、ピックアップ１０はレーザ光を光ディスク１２に照射し、光ディスク１２からのその反射光を受光して受光量に応じた信号を発生する。光ディスク１２はモータ１４によって回転駆動される。
【００１４】
ピックアップ１０においては、光ビームの光軸にディスク半径方向の収差補正用の液晶パネル１３が配置され、光学系の波面収差が補正可能にされている。液晶パネル１３は例えば、図２に示すように半径方向において内周側、中間、外周側の３つの領域１３ａ〜１３ｃに分割されている。これら３つの領域１３ａ〜１３ｃは後述のチルトサーボ部２７から出力される個別の駆動電圧により各領域１３ａ〜１３ｃ毎に可変制御される。これにより各領域１３ａ〜１３ｃを通過する光の位相差を個別に変えることができるので、ディスク半径方向に発生するチルトにより生ずるコマ収差等の波面収差の補正が可能となる。
【００１５】
ピックアップ１０は図３に示すように、光検出素子１１ａ〜１１ｄからなる４分割の光検出器１１を備えている。その光検出器１１の各光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号をａ，ｂ，ｃ，ｄとする。光検出素子１１ａ〜１１ｄの受光面の２つの分割線の交差点を中心として対称位置にある２つの光検出素子の出力信号の和信号ａ＋ｃ，ｂ＋ｄが加算器２３，２４において算出される。その加算器２３，２４各々の出力には加算器２５が接続されており、光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号の総和ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄが加算器２５においてＲＦ信号（読取信号）として得られる。
【００１６】
加算器２５の出力には再生処理部２６、チルトサーボ部２７及びフォーカスバイアス調整部３３が接続されている。再生処理部２６ではＲＦ信号に応じて光ディスク１２に記録された情報が再生される。チルトサーボ部２７ではＲＦ信号レベルが最大となるように液晶パネル１３の領域１３ａ〜１３ｃ各々に対応する駆動電圧が駆動回路２８に出力される。駆動回路２８はその各駆動電圧に応じて領域１３ａ〜１３ｃを個別に駆動する。
【００１７】
チルトサーボ部２７は、図４に示すように、ＲＦ振幅レベル検出器５１、Ｌレジスタ５２、Ｈレジスタ５３、コンパレータ５４、アップダウンカウンタ５５、加算器５６、チルト補正ＲＯＭ５７、レジスタ５８ａ〜５８ｃ及びＰＷＭ（パルス幅変調）部５９ａ〜５９ｃからなる。なお、チルトサーボ部２７の構成及び動作については特開平１１−３５３１号公報に既に開示されている。
【００１８】
フォーカスバイアス調整部３３は図３に示すように、バイアス発生回路４８と、ジェネレータ５０と、フォーカス誤差検出回路５１とを備えている。このバイアス発生回路４８、ジェネレータ５０及びフォーカス誤差検出回路５１については後述する。
加算器２３，２４各々の出力には光ディスク１２の記録面に対し照射レーザ光を合焦させるためにピックアップ１０内の対物レンズ（図示せず）を光軸方向に変位駆動させるフォーカスサーボ部２９が接続されている。
【００１９】
フォーカスサーボ部２９は図３に示すように、増幅器４１〜４３、減算器４４、加算器４５，４９、スイッチ４６及びイコライザ４７から構成されている。増幅器４１は加算器２３の出力に接続され、加算器２３の出力信号を増幅して減算器４４の正側の入力に供給する。増幅器４２は加算器２４の出力に接続され、加算器２４の出力信号を増幅して減算器４４の負側の入力に供給する。減算器４４は増幅器４１の出力信号レベルから増幅器４２の出力信号レベルを差し引いてフォーカスエラー信号ＦＥを出力する。減算器４４の出力には加算器４５及びフォーカスバイアス調整部３３のフォーカス誤差検出回路５１が接続されている。加算器４５には上記したバイアス発生回路４８の出力も接続されており、加算器４５によって減算器４４の出力信号にバイアス発生回路４８の出力信号が加算される。
【００２０】
バイアス発生回路４８は減算器４４の出力信号ＦＥ中に含まれるＤＣ（直流）オフセット成分Ｖoffsetを除去するためにバイアス電圧Ｖbiasを加算器４５に供給する。このバイアス電圧Ｖbiasの発生はマイクロコンピュータ３０によって指示される。
加算器４５の出力信号は増幅器４３を介して第１フォーカスエラー信号ＦＥ１として加算器４９に供給される。加算器４９には上記のジェネレータ５０が接続されている。
【００２１】
ジェネレータ５０は第１フォーカスエラー信号ＦＥ１に重畳すべき外乱信号（例えば、周波数１ｋＨｚのサイン波信号）をマイクロコンピュータ３０の指令に応じて発生して加算器４９に出力する。
加算器４９はジェネレータ５０から外乱信号が供給されている時には増幅器４３の出力信号に外乱信号を加算して出力し、外乱信号が供給されていない時には増幅器４３の出力信号をそのまま出力する。加算器４９の出力信号は第２フォーカスエラー信号ＦＥ２としてスイッチ４６を介してイコライザ４７に供給される。スイッチ４６はフォーカスバイアス調整を含むフォーカスサーボ制御中にはマイクロコンピュータ３０によってオンとされるオンオフスイッチである。イコライザ４７は供給された第２フォーカスエラー信号ＦＥ２に位相補償の処理を施し、その位相補償後の第２フォーカスエラー信号ＦＥ２を駆動回路３１に供給する。駆動回路３１はイコライザ４７の出力信号に応じてピックアップ１０内のフォーカスアクチュエータ（図示せず）を駆動することにより上記の対物レンズを光軸方向に変位駆動させる。
【００２２】
フォーカス誤差検出回路５１は加算器２５から出力されるＲＦ信号及び減算器４４から出力されるフォーカスエラー信号ＦＥに基づいて光ビームの焦点位置の情報記録面からの誤差量を検出し、その誤差量に対応する誤差信号ＳＶを出力する。
光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号はトラッキングサーボ部３４に接続されている。トラッキングサーボ部３４はビーム光が光ディスク１２の記録面のトラック中心を照射するように対物レンズをディスク半径方向に変位駆動する制御を行う。よって、トラッキングサーボ部３４は光検出素子１１ａ〜１１ｄの出力信号に応じてトラッキングエラー信号を生成し、そのトラッキングエラー信号を減少させるようにトラッキング駆動信号を駆動回路３２に出力する。駆動回路３２はトラッキング駆動信号に応じてピックアップ１０内のトラッキングアクチュエータ（図示せず）を駆動することにより上記の対物レンズをディスク半径方向に変位駆動させる。
【００２３】
上記したフォーカスバイアス調整部３３内のバイアス発生回路４８及びジェネレータ５０の各動作の制御の他、再生処理部２６、チルトサーボ部２７、フォーカスサーボ部２９及びトラッキングサーボ部３４の各動作はマイクロコンピュータ３０によって制御される。
次に、マイクロコンピュータ３０の動作を説明する。
【００２４】
マイクロコンピュータ３０は、図５に示すように、光ディスク１２がプレーヤにセットされたときにセットアップルーチン（ステップＳ１）の処理を一回だけ行い、その後、メインルーチン（ステップＳ２）を繰り返し処理する。
セットアップルーチンの中において、マイクロコンピュータ３０は図６に示すように、フォーカスサーボ部２９によるフォーカスサーボ制御を開始させ（ステップＳ１１）、その後、トラッキングサーボ部３４によるトラッキングサーボ制御を開始させる（ステップＳ１２）。フォーカスサーボ制御開始ではフォーカスサーボ部２９内のスイッチ４６がオン状態にされる。
【００２５】
マイクロコンピュータ３０はフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御が開始された後に、フォーカスバイアス調整を行う（ステップＳ１３）。このフォーカスバイアス調整では、先ず、ジェネレータ５０が作動されて外乱信号がジェネレータ５０から加算器４９に供給される。その後、マイクロコンピュータ３０はフォーカス誤差検出回路５１から出力される誤差信号ＳＶの安定を待ってから、その誤差信号ＳＶを測定する。このとき、誤差信号ＳＶは、光ディスク１２上のサンプル位置における光ビームの焦点位置と光ディスク１２の情報記録面との誤差量に対応する誤差電圧を示す。この誤差電圧を所定回数だけ繰り返しサンプルし、その最大値ＶMAX及び最小値ＶMINを得る。そして、最大値ＶMAX及び最小値ＶMINから平均値＝(ＶMAX＋ＶMIN)／２を算出してその平均値を最終的な誤差電圧Ｖとし、その誤差電圧Ｖを用いてバイアス電圧Ｖbiasの調整量△＝(Ｖ／ａ)×ｇを算出する。ａは光ビームの焦点位置の情報記録面の位置からの誤差量と誤差電圧Ｖとの関係を示す係数である。ｇは合焦ポイントにおけるフォーカスエラー信号ＦＥの感度を示す値である。調整量△を得るとその調整量△をそれまでのバイアス電圧Ｖbiasに加算して新たなレベルのバイアス電圧Ｖbiasを算出する。フォーカスバイアス調整をステップＳ１３で行う場合にはそれまでのバイアス電圧Ｖbiasは初期値である。このように算出されたバイアス電圧Ｖbiasの発生がバイアス発生回路４８に指示される。その指示に応答してバイアス発生回路４８はその算出レベルのバイアス電圧Ｖbiasを加算器４５に供給する。加算器４５は減算器４４の出力信号にバイアス電圧Ｖbiasを加算して増幅器４３に供給する。これにより減算器４４の出力信号ＦＥに含まれるオフセット成分Ｖoffsetが打ち消されるのである。このようにフォーカスバイアス調整が行われると、ジェネレータ５０に対して外乱信号の発生を停止させる。なお、フォーカスバイアス調整の詳細については特開平９−２３７４２４号公報に開示されている。また、ステップＳ１３ではフォーカスバイアス調整が複数回行われる。
【００２６】
メインルーチン中においては、図７に示すように、液晶チルトサーボ制御が実行される（ステップＳ２１）。液晶チルトサーボ制御ではＲＦ信号レベルが最大となるように液晶パネル１３の領域１３ａ〜１３ｃ各々に対応する新たな駆動信号が駆動回路２８に出力される。
図４のチルトサーボ部２７の構成に従ってその制御動作を説明すると、マイクロコンピュータ３０は先ず、そのときのアップダウンカウンタ５５の現在値を加算器５６を介してチルト補正ＲＯＭ５７に供給させ、その値で指定されるチルト補正ＲＯＭ５７のアドレスから領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量を読み出させて対応するレジスタ５８ａ〜５８ｃに保持させる。なお、チルト補正ＲＯＭ５７にはチルト角度の所定角度（例えば、１度）毎の液晶パネル１３の領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量が予め書き込まれている。セットアップルーチン処理後の最初のメインルーチンではアップダウンカウンタ５５の値は初期値であるので、チルト角度の初期角度（例えば、０度）に対応する領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量が読み出される。レジスタ５８ａ〜５８ｃに新たな液晶駆動量が各々保持されると、その液晶駆動量に応じたパルス幅の駆動信号がＰＷＭ部５９ａ〜５９ｃにて各々生成され、駆動回路２８はその各駆動信号レベルに応じて領域１３ａ〜１３ｃに電圧を個別に印加させる。電圧印加の結果、領域１３ａ〜１３ｃの液晶分子の複屈折効果により光路差Δｎ・ｄ（Δｎは屈折率の変化分、ｄは液晶のセル厚）が与えられる。すなわち、液晶を通過する光線の波長をλとすると、その光線に位相差Δｎ・ｄ(２π／λ)を与えることができる。
【００２７】
更に、マイクロコンピュータ３０はこのような位相差を与えることにより得られたＲＦ信号の振幅検出値をＬレジスタ５２に保持させ、アップダウンカウンタ５５の現在値に対して１を加算器５６にて加算させ、その加算器５６の出力値で指定されるチルト補正ＲＯＭ５７のアドレスから領域１３ａ〜１３ｃ各々の液晶駆動量を読み出させて対応するレジスタ５８ａ〜５８ｃに保持させる。この新たに保持された液晶駆動量に応じたパルス幅の駆動信号がＰＷＭ部５９ａ〜５９ｃにて各々生成され、駆動回路２８はその各駆動信号レベルに応じて領域１３ａ〜１３ｃに電圧を個別に印加させる。よって、光線に更に位相差を与えることにより得られたＲＦ信号の振幅検出値をマイクロコンピュータ３０はＨレジスタ５３に保持させる。コンパレータ５４ではＬレジスタ５２及びＨレジスタ５３に保持された２つの振幅値の大小比較結果が得られるので、Ｌレジスタ５２の保持振幅値がＨレジスタ５３の保持振幅値より大であれば、アップダウンカウンタ５５の値を１だけ減少させ、Ｈレジスタ５３の保持振幅値がＬレジスタ５２の保持振幅値より大であれば、アップダウンカウンタ５５の値を１だけ増加させる。Ｌレジスタ５２の保持振幅値がＨレジスタ５３の保持振幅値と同一ならば、そのアップダウンカウンタ５５の現在値が維持される。
【００２８】
このようにアップダウンカウンタ５５の値が設定されると、ステップＳ２１の液晶チルトサーボ制御動作は一旦終了する。上記のようにメインルーチンは繰り返し処理されるので、次にメインルーチンが処理されるときに上記の制御動作が再び行われる。マイクロコンピュータ３０はステップＳ２１の実行後、ＲＦ信号レベルの初期値から現在のＲＦ信号レベルの変化幅が第１所定変化幅以上であるか否かを判別する（ステップＳ２２）。初期値はセットアップルーチン処理後の最初のメインルーチン開始時のＲＦ信号レベルである。このステップＳ２２はステップＳ２１の液晶チルトサーボ制御によってＲＦ信号レベルが補正されたことにより、オフセット成分Ｖoffsetの大きさが変化して再度のフォーカスバイアス調整が必要になったか否かの判別である。ＲＦ信号レベルの変化幅が第１所定変化幅より小さいならば、液晶チルトサーボ制御によってオフセット成分Ｖoffsetの大きさが変化してはいないとみなしてステップＳ２３の他の処理に進む。一方、ＲＦ信号レベルの変化幅が第１所定変化幅以上であるならば、液晶チルトサーボ制御によってオフセット成分Ｖoffsetの大きさが変化した可能性があるので、フォーカスバイアス調整を実行する（ステップＳ２４）。このフォーカスバイアス調整ではステップＳ１３のフォーカスバイアス調整と同一の動作が行われ、液晶チルトサーボ制御よるオフセット成分Ｖoffsetの大きさの変化に対する補償が行われる。ステップＳ２４の実行後、ステップＳ２３が実行される。
【００２９】
ステップＳ２３の他の処理では例えば、再生処理部２６のコントロールが行われる。
ピックアップ１０と光ディスク１２との間にチルトが生じている状態でのディスク再生の場合には、チルト角に対する読取エラーレート特性は図８の実線Ａで示すようになるが、セットアップルーチンのステップＳ１１においてオフセット成分Ｖoffsetを打ち消すようにバイアス発生回路４８がバイアス電圧Ｖbiasのレベルを発生するフォーカスバイアス調整をした後、メインルーチンのステップＳ２１で液晶チルトサーボ制御によってチルト補正を行い、更に、ステップＳ２４で再度のフォーカスバイアス調整を行うと、チルト角に対する読取エラーレート特性は図８の実線Ｂで示すように改善され、比較的大なるチルト角に対しても低い読取エラーレートに抑えることができる。一方、再度のフォーカスバイアス調整を行わない場合にはチルト角に対する読取エラーレート特性は図８の破線Ｃで示すようになる。よって、これらの特性から、再度のフォーカスバイアス調整を行うことにより、チルトマージンが大きくなり、再生中に更にチルトが生じたときに読取エラーレートの悪化を防止することができることが分かる。
【００３１】
また、ステップＳ２２の判別に代えて、液晶チルトサーボ制御によるチルト調整値の変化量、例えば、アップダウンカウンタ５５の値の変化量が第２所定幅以上である否かを判別しても良い。
【００３２】
上記した実施例においては、ディスク再生中においてフォーカスバイアス調整が必要であるとステップＳ２２で判別されると、常に、再度のフォーカスバイアス調整が実行されるが、再度のフォーカスバイアス調整は所定回数（例えば、２回）以上は行わないようにしても良い。また、ディスク再生中にはディスクの情報読取位置が内側位置、中間位置及び外側位置の各々にある場合毎に、再度のフォーカスバイアス調整が必要であるか否かの判別をステップＳ２２で行い、必要ならばステップＳ２４にて再度のフォーカスバイアス調整を実行するようにしても良い。
【００３３】
また、上記した実施例においては、ステップＳ２１にて液晶チルトサーボ制御が実行された後、ステップＳ２２で再度のフォーカスバイアス調整が必要であると判別された場合にのみステップＳ２４に進んで再度のフォーカスバイアス調整が実行されるが、図９に示すように液晶チルトサーボ制御が実行された後、直ちにステップＳ２４に進んで再度のフォーカスバイアス調整を実行するようにしても良い。
【００３４】
更に、ステップＳ１３及びＳ２４ではバイアス発生回路４８の出力バイアス電圧Ｖbiasのレベルを設定することによりフォーカスバイアス調整が行われるが、これに代えて増幅器４１，４２の各利得を調整することにより増幅器４３の出力に生じるオフセット成分を除去するフォーカスバランス調整を行っても良い。このフォーカスバランス調整ではバイアス電圧Ｖbiasを減算器４４の出力信号のフォーカスエラー信号ＦＥに加える必要はなく、また減算器４４の出力信号をそのまま増幅器４３に供給することができる。
【００３５】
また、上記した実施例においては、光記録媒体として光ディスクを用いた場合を示したが、光記録媒体としては光ディスクに限らず、光カード等の他の光記録媒体でも良い。
【００３６】
【発明の効果】
以上の如く、本発明によれば、チルトサーボ制御が実行された後に再度のフォーカスバイアス調整を実行するので、ピックアップと光記録媒体との間にチルトが生じている場合であっても光記録媒体再生時には適切なフォーカスバイアス調整結果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置及び調整方法が適用された光ディスクプレーヤを示すブロック図である。
【図２】液晶パネルの各領域を示す図である。
【図３】フォーカスサーボ部を示すブロック図である。
【図４】チルトサーボ部を示すブロック図である。
【図５】マイクロコンピュータの動作を示すフローチャートである。
【図６】セットアップルーチンを示すフローチャートである。
【図７】メインルーチンを示すフローチャートである。
【図８】チルト角とエラーレートの関係を示す図である。
【図９】他の実施例としてメインルーチンを示すフローチャートである。
Claims (6)
- 光記録媒体に光ビームを照射し、その光記録媒体からの反射光を分割型の光検出器にて検出する光学系を有する光ピックアップと、
前記光検出器の各出力信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号に応じて前記ピックアップ内の対物レンズを前記光ビームの光軸方向に移動させるフォーカスサーボ制御手段と、
前記フォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行うフォーカスバイアス調整手段と、
前記光記録媒体の記録面の前記光ビームの照射位置における法線と前記光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために前記光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように前記光学系を調整するチルトサーボ制御手段と、を備えた光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置であって、
前記フォーカスバイアス調整手段による前記フォーカスバイアス調整後に、前記チルトサーボ制御手段により前記光学系の調整動作がなされた場合には、前記フォーカスバイアス調整を再度行うように前記フォーカスバイアス調整手段を制御する制御手段を備えたことを特徴とする光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置。 - 前記チルトサーボ制御手段は、前記光学系に挿入された分割型の液晶パネルを有し、前記光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように前記液晶パネルの各分割領域を個別に駆動することを特徴とする請求項１記載の光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置。
- 光記録媒体に光ビームを照射し、その光記録媒体からの反射光を分割型の光検出器にて検出する光学系を有する光ピックアップと、
前記光検出器の各出力信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号に応じて前記ピックアップ内の対物レンズを前記光ビームの光軸方向に移動させるフォーカスサーボ制御手段と、
前記フォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行うフォーカスバイアス調整手段と、
前記光記録媒体の記録面の前記光ビームの照射位置における法線と前記光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために前記光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように前記光学系を調整するチルトサーボ制御手段と、を備えた光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置であって、
前記フォーカスバイアス調整手段による前記フォーカスバイアス調整後に、前記チルトサーボ制御手段が前記光学系の調整動作を行った場合に、前記フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすか否かを判別する判別手段を有し、
前記判別手段が前記フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすと判別したとき、前記フォーカスバイアス調整を再度行うように前記フォーカスバイアス調整手段を制御する制御手段を備えたことを特徴とする光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置。 - 前記フォーカスバイアス調整の開始条件は、前記チルトサーボ制御手段による前記光学系の調整動作によって前記読取信号のレベルの初期値からの現在のレベルまでの変動幅が第１所定幅以上となった場合であり、前記初期値は前記光記録媒体が前記光記録媒体再生装置にセットされた後、最初の前記チルトサーボ制御手段による前記光学系の調整動作時の前記読取信号のレベルであることを特徴とする請求項３記載の光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置。
- 前記フォーカスバイアス調整の開始条件は、前記チルトサーボ制御手段による前記光学系の調整レベル変動幅が第２所定幅以上となった場合であることを特徴とする請求項３記載の光記録媒体再生装置におけるフォーカスバイアス調整装置。
- 光ピックアップ内の分割型の光検出器の各出力信号に基づいたフォーカスエラー信号中のオフセット成分を除去するためにフォーカスバイアス調整を行い、その後、光記録媒体の記録面の前記光ピックアップからの光ビームの照射位置における法線と前記光ビームの光軸方向とのなすチルト角を補償するために前記光検出器の各出力信号の和信号である読取信号が最大となるように前記光学系をチルト調整するフォーカスバイアス調整方法であって、
前記フォーカスバイアス調整後に、前記光ピックアップの光学系のチルト調整動作を行った場合には、前記フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすか否かを判別し、
前記フォーカスバイアス調整の開始条件を満たすと判別したときには前記フォーカスバイアス調整を再度行うことを特徴とするフォーカスバイアス調整方法。
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