JP3581610B2 - ラッチ回路 - Google Patents

ラッチ回路 Download PDF

Info

Publication number
JP3581610B2
JP3581610B2 JP30253799A JP30253799A JP3581610B2 JP 3581610 B2 JP3581610 B2 JP 3581610B2 JP 30253799 A JP30253799 A JP 30253799A JP 30253799 A JP30253799 A JP 30253799A JP 3581610 B2 JP3581610 B2 JP 3581610B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
mis transistor
signal
channel mis
detection state
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP30253799A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001127594A (ja
Inventor
雅記 宮城
Original Assignee
セイコーインスツルメンツ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by セイコーインスツルメンツ株式会社 filed Critical セイコーインスツルメンツ株式会社
Priority to JP30253799A priority Critical patent/JP3581610B2/ja
Priority to US09/638,197 priority patent/US6566928B1/en
Publication of JP2001127594A publication Critical patent/JP2001127594A/ja
Priority to US10/339,069 priority patent/US6744295B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3581610B2 publication Critical patent/JP3581610B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • H03K3/0375Bistable circuits provided with means for increasing reliability; for protection; for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied; for storing the actual state when the supply voltage fails

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、信号の検出回路とその検出状態を電源が遮断されるまでは確実に保持する回路と電源の再投入時に検出状態を確実に解除する回路とで構成されるラッチ回路にに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、信号の検出状態を保持するラッチ回路は一般的にRSラッチ回路を使用した場合、図10に示すような回路構成をしていた。
以下、図に基づいて回路の説明を行う。
まず、信号検出回路2により特定の端子の電圧や電源電圧の異常や温度の異常を検出する。検出出力SSETXは“L”アクティブで2入力NAND及び3入力NANDで構成されるRSラッチ1のSX端子に接続され、電圧や温度の異常を検出するとRSラッチ1の出力となる3入力NANDの出力Sceが“L”となる。この時RSラッチ1のリセット入力に入っている信号SRSTX1及びSRSTX2は“H”となっている。RSラッチの出力は他の回路やシステムのイネーブル信号となっており、例えば特定の端子の短絡や異常加熱等を検出するとそれらの回路やシステムは停止する。
【0003】
停止したシステムを再び動作させるには外部からのリセット信号SRSTX2をRSラッチに入力するか、電源の再投入によりパワーオンリセット回路3の出力信号であるSRSTX1によりRSラッチをリセットすることで対応する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
一般的にパワーオンリセット回路は電源の投入時の状態によってきちんとリセット信号を発生できない場合があるため、従来のラッチ回路ではパワーオンリセット回路が動作しない場合でも、回路のリセットが可能なように外部からリセット信号を入力できるようにしている場合が多い。
【0005】
例えば図11に示すようなパワーオンリセット回路の場合、コンデンサ5の容量結合により電源投入時にノードAが電源電位近くまで立ち上がり、その後抵抗6により電荷が引き抜かれ徐々にノードAの電位は下がって行き次段のインバータ7の反転電圧以下になったところで、出力信号SRSTXが“H”となり、リセット信号が解除される。
【0006】
このような回路の場合、電源電圧が抵抗6でコンデンサ5の電荷を引き抜く時間よりもゆっくりと立ち上がってしまうと、リセット信号を発生することができない。
しかしながら、このような外部からのリセット入力を有する構成にすると外部からの端子やまたはリセット命令を認識するための回路が増えるばかりでなく、信号のノイズなどにより意図しないラッチの解除が起きてしまう可能性もありシステムの信頼性を落としてしまうことがあった。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項1にかかるラッチ回路は、信号の検出手段と信号検出状態を保持する手段と信号検出状態を解除する手段を有し、前記信号検出状態を保持する手段は信号の検出手段より発せられた検出出力を入力されると検出出力が入力されなくなっても電源を遮断するまで検出状態を保持しつづけ、前記信号検出状態を解除するする手段は電源の投入時にのみ解除信号を発生し、前記信号検出状態を保持する手段は一度信号検出状態を保持すると電源を遮断し再び投入した場合にのみ、非検出状態にリセットすることを特徴とする。
【0008】
この請求項1記載の発明によれば外部より信号や命令を入れてリセットすることができないためノイズなどに不用意にリセットされることがない。
また、請求項2にかかるラッチ回路では、前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間は、前記信号検出状態を保持する手段の出力信号が入力されている回路を停止させることを特徴とする。
【0009】
この請求項2に記載の発明によれば、一度異常を検出してラッチがかかれば電源を再投入するまで確実に回路やシステムが停止しているため、意図しないラッチのリセットなどで回路やシステムが動作と停止を繰り返してしまうような不安定な状態に陥ることを避けることができる。
また、請求項3にかかるラッチ回路では、 前記信号検出状態を解除する手段は、電源電圧の検出手段と解除信号の発生時間を決定する手段と波形を整形する手段を有することで、電源が投入されてから一定の時間または一定の電源電圧に到達するまでは解除信号を出し続けるような動作をするパワーオンリセット回路であることを特徴とする。
【0010】
この請求項3に記載の発明によれば、ラッチ回路が具備するRSラッチが確実にリセットがかかるためのリセット信号のパルス幅と電源電圧のいずれも最適化ができる。すなわち、たとえ電源電圧がゆっくりと立ち上がったとしても、電源電圧がラッチ回路がきちんと動作する電圧に上昇するまでリセット信号を出しつづけることができるし、電源電圧が急峻に立ち上がったとしても、ラッチ回路をリセットするために十分な信号のパルス幅を確保できるため、外部からのリセット信号を入力する手段を有さなくても電源の再投入のみで確実にリセットをかけることが可能となる。
【0011】
また請求項4にかかるラッチ回路では、前記パワーオンリセット回路が具備する電源電圧の検出手段は、デプレッション型NチャネルMISトランジスタとエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタにより構成され、前記デプレッション型NチャネルMISトランジスタのゲートとソースは共に接地電位に接続され、ドレインは前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタのドレインと共通に接続され電源電圧検出手段の出力端子となり、前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタのソースは電源電位に接続され、ゲートはパワーオンリセット回路の出力が帰還接続され、パワーオンリセット回路が検出状態を解除する信号を発生している間のみ前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタがターンオンするように制御されることを特徴とする。
【0012】
この請求項4記載のラッチ回路によれば、電源電圧検出回路は電源電圧がエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタのしきい値電圧以上に上昇してから始めて出力が接地電位から上昇する。さらに、パワーオンリセット回路が電力を消費するのはリセット信号を出している時にエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタとデプレッション型NチャネルMISトランジスタに流れる貫通電流のみで、リセット信号が必要な時間もしくは電源電圧まで上昇したあと、エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタはターンオフするため、回路はスタティックな状態となり電源投入時以外は非常に低消費電力である。
【0013】
また請求項5にかかるラッチ回路では、前記パワーオンリセット回路が具備する電源電圧の検出手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値が前記信号検出状態を保持する手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値及びNチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも高いことを特徴とする。
【0014】
この請求項5記載のラッチ回路によれば検出状態を保持するRSラッチ回路が安定して動作をする電源電圧まで電源電圧検出回路が接地電位を出力しつづけるため、発生したリセット信号で確実にラッチをリセットすることが可能となる。また請求項6にかかるラッチ回路では、前記パワーオンリセット回路が具備する解除信号の発生時間を決定する手段は、片方の端子を電源電位に接続された第一のコンデンサと第一のコンデンサのもう一方の端子とドレインが接続されたデプレッション型NチャネルMISトランジスタと前記デプレッション型NチャネルMISトランジスタのゲート及びソースと共通にドレインが接続されている第一のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタと第一のコンデンサとデプレッション型NチャネルMISトランジスタのドレインとの接続点が入力となっているインバータ回路と前記インバータ回路の出力端子と接地電位の間に接続された第二のコンデンサと前記インバータ出力端子がゲートに接続されドレインが前記インバータ回路の入力に接続されソースが接地電位に接続された第二のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタで構成され、前記第一のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタのゲートは前記電圧検出手段の出力端子に接続され、前記インバータ回路の出力が解除信号の発生時間を決定する手段の出力となっていることを特徴とする。
【0015】
この請求項6記載のラッチ回路によれば、請求項3及び4記載の電源電圧検出手段の出力が第一のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタのゲートに接続されオン・オフが制御されるため、電源電圧検出手段の出力が第一のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタのしきい値電圧よりも高くなるまで、第一のコンデンサとデプレッション型NチャネルMISトランジスタの接続点はほぼ電源電位を保つこととなり、パワーオンリセット回路は、リセット信号を出しつづける。さらに、第一のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタがターンオンした後は、第一のコンデンサに蓄積された電荷を定電流素子としてはたらくデプレッション型NチャネルMISトランジスタにより、引き抜くことで、徐々にコンデンサの片端の電位は下がって行き、次段のインバータの反転電圧以下に下がるまで、リセット信号は出力される。
【0016】
また請求項7にかかるラッチ回路では、 前記解除信号の発生時間を決定する手段が具備するインバータ回路はエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタとエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタで構成され、前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値が前記信号検出状態を保持する手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値及びNチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも高いことを特徴とする。
【0017】
請求項7記載のラッチ回路によれば、回路動作が不安定な極低電圧の状態でインバータを構成するPチャネル及びNチャネルMISトランジスタは、Nチャネル型MISトランジスタの方が常に先にターンオンしやすく、インバータの出力は“L”を出しやすくなるため、より確実に電源投入時にリセット信号を出すことが可能になる。
【0018】
また請求項8にかかるラッチ回路では、 前記解除信号の発生時間を決定する手段が具備するインバータ回路はエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタとエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタで構成され、前記エンハンスメント型NチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値が前記信号検出状態を保持する手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値及びNチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも低いことを特徴とする。
【0019】
請求項8記載のラッチ回路によれば、回路動作が不安定な極低電圧の状態でインバータを構成するPチャネル及びNチャネルMISトランジスタは、Nチャネル型MISトランジスタの方が常に先にターンオンしやすく、インバータの出力は“L”を出しやすくなるため、より確実に電源投入時にリセット信号を出すことが可能になる。
【0020】
また請求項9にかかるラッチ回路では、前記信号の検出手段において検出する信号が電源電圧が特定の電圧以下であることを検出することを特徴とする。
請求項9記載のラッチ回路によれば、回路が安定して動作する電源電圧範囲外の場合に確実に動作を止めることができシステムの暴走などが防げる。
また請求項10にかかるラッチ回路では、前記信号の検出手段において検出する信号が電源電圧が特定の電圧以上であることを検出することを特徴とする。
【0021】
請求項10記載のラッチ回路によれば、回路が安定して動作する電源電圧範囲外の場合に確実に動作を止めることができシステムの暴走などが防げる。
また請求項11にかかるラッチ回路では、前記信号の検出手段において検出する信号が特定の端子が特定の電圧以下であることを検出することを特徴とする。
請求項11記載のラッチ回路によれば、例えばレギュレータ回路の出力などが短絡しても確実にシステムを停止することができ、破壊や暴走を防ぐことができる。
【0022】
また請求項12にかかるラッチ回路では、前記信号の検出手段において検出する信号が特定の端子が特定の電圧以上であることを検出することを特徴とする。請求項12記載のラッチ回路によれば、例えば特定の入力端子に過大な電圧などが印加しても確実にシステムを停止することができ、破壊や暴走を防ぐことができる。
【0023】
また請求項13にかかるラッチ回路では、前記信号の検出手段において検出する信号が周囲温度もしくは回路が構成されている半導体基板の温度が特定の温度以上であることを検出することを特徴とする。
請求項13記載のラッチ回路によれば、周囲温度や半導体基板の温度が必要以上に上昇した場合にも確実にシステムを停止することができ、破壊や暴走を防ぐことができる。
【0024】
また請求項14にかかるラッチ回路では、前記信号の検出手段において検出する信号が周囲温度もしくは回路が構成されている半導体基板の温度が特定の温度以下であることを検出することを特徴とする。
請求項14記載のラッチ回路によれば、周囲温度や半導体基板の温度が必要以上に下がったりした場合にも確実にシステムを停止することができ、一般にMIS型集積回路では低温時にノイズを発生しやすくなったりノイズに敏感になったりするため、誤動作を防ぐことができる。
【0025】
また請求項15にかかるラッチ回路では、前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路が電圧検出回路であることを特徴とする。
請求項15記載のラッチ回路によれば、被検出信号の電圧が電圧検出回路の検出電圧付近で発振するような場合でも確実にシステムを停止できる。
また請求項16にかかるラッチ回路では、前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路が温度検出回路であることを特徴とする。
【0026】
請求項16記載のラッチ回路によれば、周囲や半導体基板の温度が検出温度付近で揺れ動いている場合でも確実にシステムを停止することができる。
また請求項17にかかるラッチ回路では、前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路がシリーズ型電圧レギュレータ回路であることを特徴とする。
【0027】
請求項17記載のラッチ回路によれば、例えばシリーズ型レギュレータ回路の出力が短絡した場合に、短絡状態を検出して確実にシステムを停止することが可能となるため、破壊や暴走が防げる。
また請求項18にかかるラッチ回路では、前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路がスイッチング型電圧レギュレータ回路であることを特徴とする。
【0028】
請求項18記載のラッチ回路によれば、例えばスイッチング型レギュレータ回路の出力が短絡した場合に、短絡状態を検出して確実にシステムを停止することが可能となるため、破壊や暴走が防げる。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明にかかるラッチ回路の実施の形態1〜9について詳述する。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【0030】
RSラッチ101は2入力NAND2つで構成され、セット入力とリセット入力がおのおの1つづつしかない。
セット入力には、信号検出回路102の出力である信号SSETXが入力されていて、SSETXが“L”となることでRSラッチ101が検出状態を保持する。信号検出回路101は例えばある特定の電圧や電流または温度などを検出して出力を変化させる。
【0031】
RSラッチ101が検出状態となると、出力信号SCEは“L”となりSCE信号で動作が制御される被制御回路104が動作停止状態になる。
RSラッチ101が検出状態を解除し、動作を停止した被制御回路104が再び動作状態になるためには、パワーオンリセット回路103の出力信号SRSTXが“L”を出力してRSラッチ101をセット状態からリセット状態に移行しなくてはならない。
【0032】
パワーオンリセット回路103は電源投入時のみに“L”パルス出力を出すために、図1に示すラッチ回路は電源の投入時にのみ保持された信号検出状態を解除する。
以上説明した実施の形態1に示すような構成とすることで、ノイズなどによる意図しないラッチの解除で、不用意に停止状態の被制御回路が動き出すことはなく、安全性が向上する。
(実施の形態2)
図2は本発明の実施の形態2によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【0033】
基本的な構成や動作は実施の形態1と同様であるが、RSラッチ101の出力SCEで信号検出回路102の動作も制御する構成としたものである。すなわち、なんらかの信号を検出してRSラッチ101が検出状態を保持すると、被制御回路104同様に信号検出回路102も動作を停止するものである。
信号検出回路102は動作中は、電流を消費しつづけるため上記のような構成にすることで、実施の形態2に示すラッチ回路が検出状態を保持している間の消費電流を下げることが可能となる。
(実施の形態3)
図3は本発明の実施の形態1及び2によるラッチ回路に使用しているパワーオンリセット回路の詳細な回路図である。
【0034】
本回路は、エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ111とデプレッション型NチャネルMISトランジスタ112で構成される電源電圧検出部と、コンデンサ113及び119とデプレッション型NチャネルMISトランジスタ114とエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタ115及び116とエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタとエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタで構成されるリセット信号発生時間決定部と、2つのインバータ120で構成される波形整形部からなる。
【0035】
電源電圧検出部は、電源投入時初期はエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ111のゲートが“L”となっているためゲート・ソース間の電圧がしきい値電圧を超える、すなわち電源電圧がエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ111のしきい値電圧を超えたときにB点の電位が上昇し始める。また、エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ111のゲートはパワーオンリセット回路の出力が帰還接続されているため、リセットパルスが出力し終わるとエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ111はターンオフして電源電圧検出部は電流を消費しなくなる。
【0036】
リセット信号発生時間決定部は、電源投入時にはコンデンサ113の容量結合で点Aが電源電圧レベルに引き上げられる。このとき、電源電圧が前記電源電圧検出部の出力が“L”レベルから上昇する前はエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタ115がターンオフしているため、点Aの電荷をグランド側へ引き抜く経路がないため、点Aはほぼ完全に電源電圧レベルまで追従して上昇する。そのご、点Bの電位が上昇しはじめると、定電流素子として働くデプレッション型NチャネルMISトランジスタ114により、一定の電流値で点Aの電荷を引き抜き、点Aの電位がエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ117とエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタ118で構成されインバータ回路の反転電圧以下となったところで、点Cの電位が“L”から“H”に切り替わり、エンハンスメント型NチャネルMISトランジスタでいっきに点Aの電荷を引き抜くことでより確実にリセットパルスの発生終了を行う。
【0037】
このとき、発生するリセットパルスの時間はコンデンサ113の容量値とデプレッション型NチャネルMISトランジスタで決まる定電流値で決定される。
また、コンデンサ119は点Cの電位を電源投入時にグランド側へ引っ張る効果があるため、安定してリセット信号を発生する効果がある。
本回路では、電源電圧が非常にゆっくりと上昇する場合には、電源電圧検出部で決まる検出電圧に電源電位が上昇するまでリセット信号を発生しつづけ、また電源電圧が早く立ちあがる場合にはリセット信号発生時間決定部で決まる被リセット回路がリセット動作を行うのに十分な時間だけリセット信号を発生するため、あらゆる状況でも確実にリセット信号を発生しパワーオンリセット回路に接続される回路をリセットすることが可能になる。
(実施の形態4)
図4は本発明の実施の形態1及び2によるラッチ回路に使用しているパワーオンリセット回路の詳細な回路図である。
【0038】
本回路では、エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ121及び122に実施の形態3と比較して敷居値電圧の絶対値が高いトランジスタを使用している。
まず、エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ121をインバータ120やRSラッチ111を構成しているトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも高くすることで、電源電圧がインバータ120やRSラッチ111が正常に動作する電圧まで上昇するまでリセット信号を出しつづけることが可能となるため、より確実にリセット信号が入力されている回路をリセットすることが可能になる。
【0039】
さらに、エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ122をエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタ118及びインバータ120やRSラッチ111を構成しているトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも高くすることで、電源投入時の回路動作が不安定な状態で、エンハンスメント型NチャネルMISトランジスタ118がエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ122より早くターンオンして点Cの電位をグランドに引っ張りやすくなるため、より確実にリセット信号を発生することが可能になる。また、エンハンスメント型NチャネルMISトランジスタ118のしきい値電圧の絶対値がインバータ120やRSラッチ111を構成しているトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも低くても同様の効果は得られる。
(実施の形態5)
図5は本発明の実施の形態5のラッチ回路のブロック図である。
【0040】
本ブロック図では、実施の形態2における回路にワンショットパルス回路123と2入力NAND124と遅延回路125を加えたものである。
RSラッチ101は通常セット入力とリセット入力が同時に入力されると出力が不定の状態になってしまうため、2入力NAND124によりリセット信号が優先的にRSラッチ101に入力されるようになっている。
【0041】
また、同様の対策として、ワンショットパルス回路123により信号検出回路が出力を“L”から“H”または“H”から“L”のいずれか一方の変化のみを検出して、その変化時にRSラッチをセットするために必要な時間だけセットパルスを発生するようにしたものである。
遅延回路125はイネーブル信号であるSCE信号が早すぎる帰還で信号検出回路102が検出途中の中途半端な状態で動作を停止するのを防ぐ効果がある。
【0042】
このような構成とすることで、異常が起きたときに安全確実にシステムを停止することができ、また電源を再投入することで再び動作を確実に再開することが可能となる。
(実施の形態6)
図6は本発明の実施の形態6のラッチ回路のブロック図である。
【0043】
本ブロック図では、実施の形態5に更に遅延回路126を加えている。
この遅延回路126は例えば信号検出回路が電源電圧が低いことを検出する場合、電源投入時に検出出力を発生してしまうため、正常な状態で電源が投入された場合に電源が正常値に立ち上がるまでの時間は信号検出回路の出力SDETをマスクする機能を有しているため、電源投入時に正常な動作を行えるのにシステムが停止してしまうのを防ぐ効果がある。また、信号検出回路が電源電圧検出回路以外であっても、電源投入時初期の不安定な出力状態でラッチがかかりシステムが停止するのを防ぐ効果がある。
【0044】
このような構成とすることで、異常が起きたときに安全確実にシステムを停止することができ、また電源を再投入することで再び動作を確実に再開することが可能となる。
(実施の形態7)
図7は本発明の実施の形態7のラッチ回路のブロック図である。
【0045】
本ブロック図では実施の形態6の信号検出回路が電圧検出回路となっている例である。
検出する電圧は電源電圧である場合もあるし、特定の端子やノードの電圧である場合もある。また、検出電圧より高いことを検出したり低いことを検出したりその両方を検出してシステムを停止する場合もある。
【0046】
このような構成とすることで、異常が起きたときに安全確実にシステムを停止することができ、また電源を再投入することで再び動作を確実に再開することが可能となる。
(実施の形態8)
図8は本発明の実施の形態8のラッチ回路のブロック図である。
【0047】
本ブロック図では実施の形態6の信号検出回路が温度検出回路128となっている例である。
検出する温度は、周囲の雰囲気温度であったり、本回路が搭載されている半導体集積回路自体の接合温度であったりする。また、検出温度より高いことを検出したり低いことを検出したりその両方を検出してシステムを停止する場合もある。
【0048】
このような構成とすることで、異常が起きたときに安全確実にシステムを停止することができ、また電源を再投入することで再び動作を確実に再開することが可能となる。
(実施の形態9)
図9は本発明の実施の形態9のラッチ回路のブロック図である。
【0049】
本ブロック図では実施の形態7の被制御回路が出力電圧レギュレート回路129となっている例である。
出力電圧レギュレート回路129の出力VOUTを電圧検出回路127でモニターしていて、例えば出力電圧レギュレート回路129の出力VOUTが短絡したことを検出して動作を停止する構成である。
【0050】
このような構成とすることで、異常が起きたときに安全確実にシステムを停止することができ、また電源を再投入することで再び動作を確実に再開することが可能となる。
【0051】
【発明の効果】
この発明は、以上説明したように、電源の再投入だけで確実に停止したシステムを初期状態にリセットすることができ、かつ電源の遮断を行うまで停止したシステムが不用意にリセットがかかることがないため、安全かつ確実な回路やシステムの動作を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の実施の形態2によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図3】本発明の実施の形態3となる、図1及び図2に示すパワーオンリセット回路の第1の回路例を示す回路図である。
【図4】本発明の実施の形態4となる、図1及び図2に示すパワーオンリセット回路の第2の回路例を示す回路図である。
【図5】本発明の実施の形態5によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図6】本発明の実施の形態6によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図7】本発明の実施の形態7によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図8】本発明の実施の形態8によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図9】本発明の実施の形態9によるラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図10】従来のラッチ回路の構成を示すブロック図である。
【図11】従来のラッチ回路に使用しているパワーオンリセット回路の¥を示す回路図である。
【符号の説明】
101 RSラッチ
102 信号検出回路
103 パワーオンリセット回路
104 被制御回路
111,117 エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ
112,114 デプレッション型NチャネルMISトランジスタ
113,119 コンデンサ
115,116,118 エンハンスメント型NチャネルMISトランジスタ
120 インバータ回路
121,122 しきい値電圧の高いエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタ
123 ワンショットパルス回路
124 NAND回路
125,126 遅延回路
127 電圧検出回路
128 温度検出回路
129 出力電圧レギュレート回路
1 従来のラッチ回路のRSラッチ
2 信号検出回路
3 従来のパワーオンリセット回路
4 被検出回路
5 コンデンサ
6 抵抗
SETX RSラッチのセット信号
RSTX RSラッチのリセット信号
RSTE1 RSラッチのリセット信号1
RSTE2 RSラッチのリセット信号2
CE 被制御回路のコントロール信号
SENS 電圧検出回路のセンス入力
OUT 出力電圧レギュレート回路の出力

Claims (17)

  1. 信号の検出手段と信号検出状態を保持する手段と信号検出状態を解除する手段を有し、前記信号検出状態を保持する手段は信号の検出手段より発せられた検出出力を入力されると検出出力が入力されなくなっても電源を遮断するまで検出状態を保持しつづけ、前記信号検出状態を解除する手段は電源の投入時にのみ解除信号を発生し、前記信号検出状態を保持する手段は一度信号検出状態を保持すると電源を遮断し再び投入した場合にのみ、非検出状態にリセットするラッチ回路において、
    前記信号検出状態を解除する手段は、電源電圧の検出手段と解除信号の発生時間を決定する手段と波形を整形する手段を有することで、電源が投入されてから一定の時間または一定の電源電圧に到達するまでは解除信号を出し続けるような動作をするパワーオンリセット回路であることを特徴とするラッチ回路。
  2. 前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間は、前記信号検出状態を保持する手段の出力信号が入力されている回路を停止させることを特徴とする請求項1記載のラッチ回路。
  3. 前記パワーオンリセット回路が具備する電源電圧の検出手段は、デプレッション型NチャネルMISトランジスタとエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタにより構成され、前記デプレッション型NチャネルMISトランジスタのゲートとソースは共に接地電位に接続され、ドレインは前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタのドレインと共通に接続され電源電圧検出手段の出力端子となり、前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタのソースは電源電位に接続され、ゲートはパワーオンリセット回路の出力が帰還接続され、パワーオンリセット回路が検出状態を解除する信号を発生している間のみ前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタがターンオンするように制御されることを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  4. 前記パワーオンリセット回路が具備する電源電圧の検出手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値が前記信号検出状態を保持する手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値及びNチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも高いことを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  5. 前記パワーオンリセット回路が具備する解除信号の発生時間を決定する手段は、片方の端子を電源電位に接続された第一のコンデンサと第一のコンデンサのもう一方の端子とドレインが接続されたデプレッション型NチャネルMISトランジスタと前記デプレッション型NチャネルMISトランジスタのゲート及びソースと共通にドレインが接続されている第一のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタと第一のコンデンサとデプレッション型NチャネルMISトランジスタのドレインとの接続点が入力となっているインバータ回路と前記インバータ回路の出力端子と接地電位の間に接続された第二のコンデンサと前記インバータ出力端子がゲートに接続されドレインが前記インバータ回路の入力に接続されソースが接地電位に接続された第二のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタで構成され、前記第一のエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタのゲートは前記電圧検出手段の出力端子に接続され、前記インバータ回路の出力が解除信号の発生時間を決定する手段の出力となっていることを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  6. 前記解除信号の発生時間を決定する手段が具備するインバータ回路はエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタとエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタで構成され、前記エンハンスメント型PチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値が前記信号検出状態を保持する手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値及びNチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも高いことを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  7. 前記解除信号の発生時間を決定する手段が具備するインバータ回路はエンハンスメント型PチャネルMISトランジスタとエンハンスメント型NチャネルMISトランジスタで構成され、前記エンハンスメント型NチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値が前記信号検出状態を保持する手段を構成するPチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値及びNチャネルMISトランジスタのしきい値電圧の絶対値よりも低いことを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  8. 前記信号の検出手段において電源電圧が特定の電圧以下であることを検出することを特徴とする請求項1記載のラッチ回路。
  9. 前記信号の検出手段において電源電圧が特定の電圧以上であることを検出することを特徴とする請求項1記載のラッチ回路。
  10. 前記信号の検出手段において特定の端子が特定の電圧以下であることを検出することを特徴とする請求項1記載のラッチ回路。
  11. 前記信号の検出手段において特定の端子が特定の電圧以上であることを検出することを特徴とする請求項1記載のラッチ回路。
  12. 前記信号の検出手段において周囲温度もしくは回路が構成されている半導体基板の温度が特定の温度以上であることを検出することを特徴とする請求項1記載のラッチ回路。
  13. 前記信号の検出手段において周囲温度もしくは回路が構成されている半導体基板の温度が特定の温度以下であることを検出することを特徴とする請求項1記載のラッチ回路。
  14. 前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路が電圧検出回路であることを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  15. 前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路が温度検出回路であることを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  16. 前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路がシリーズ型電圧レギュレータ回路であることを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
  17. 前記信号検出状態を保持する手段が検出状態を保持している間に停止させられる回路がスイッチング型電圧レギュレータ回路であることを特徴とする請求項記載のラッチ回路。
JP30253799A 1999-10-25 1999-10-25 ラッチ回路 Expired - Fee Related JP3581610B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30253799A JP3581610B2 (ja) 1999-10-25 1999-10-25 ラッチ回路
US09/638,197 US6566928B1 (en) 1999-10-25 2000-08-11 Latch circuit
US10/339,069 US6744295B2 (en) 1999-10-25 2003-01-09 Latch circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30253799A JP3581610B2 (ja) 1999-10-25 1999-10-25 ラッチ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001127594A JP2001127594A (ja) 2001-05-11
JP3581610B2 true JP3581610B2 (ja) 2004-10-27

Family

ID=17910174

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30253799A Expired - Fee Related JP3581610B2 (ja) 1999-10-25 1999-10-25 ラッチ回路

Country Status (2)

Country Link
US (2) US6566928B1 (ja)
JP (1) JP3581610B2 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020120843A1 (en) * 2001-02-21 2002-08-29 Goodman Steven Dale Method and system for preventing reset of a cryptographic subsystem when entering or recovering from a powered-off sleep state
JP3806011B2 (ja) * 2001-10-05 2006-08-09 セイコーインスツル株式会社 電圧検出回路
US7231533B2 (en) * 2003-12-23 2007-06-12 Microchip Technology Incorporated Wake-up reset circuit draws no current when a control signal indicates sleep mode for a digital device
US7348814B2 (en) * 2004-08-24 2008-03-25 Macronix International Co., Ltd. Power-on reset circuit
JP2006112906A (ja) * 2004-10-14 2006-04-27 Sanyo Electric Co Ltd 電圧検出回路
US7564263B2 (en) * 2005-04-21 2009-07-21 Supertex, Inc. High-speed logic signal level shifter
US20070001721A1 (en) * 2005-07-01 2007-01-04 Chi-Yang Chen Power-on reset circuit
JP4562674B2 (ja) * 2006-03-23 2010-10-13 川崎マイクロエレクトロニクス株式会社 Esd保護回路
JP2009152735A (ja) * 2007-12-19 2009-07-09 Seiko Instruments Inc パワーオンクリア回路
KR100937948B1 (ko) * 2008-06-04 2010-01-21 주식회사 하이닉스반도체 파워 업 신호 생성회로와 생성 방법
US7786770B1 (en) * 2008-09-30 2010-08-31 Altera Corporation Reducing power consumption by disabling power-on reset circuits after power up
JP5136361B2 (ja) * 2008-10-29 2013-02-06 サンケン電気株式会社 ラッチ回路を有する信号処理装置
JP5283078B2 (ja) * 2009-01-13 2013-09-04 セイコーインスツル株式会社 検出回路及びセンサ装置
JP4636461B2 (ja) 2009-01-13 2011-02-23 セイコーインスツル株式会社 電源電圧監視回路、および該電源電圧監視回路を備える電子回路
KR101047001B1 (ko) * 2009-06-26 2011-07-06 주식회사 하이닉스반도체 구동제어회로 및 내부전압 생성회로
US8299825B2 (en) * 2009-10-30 2012-10-30 Apple Inc. Electronic age detection circuit
JP5584527B2 (ja) * 2010-06-21 2014-09-03 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電圧検出システム及びその制御方法
JP6352042B2 (ja) * 2013-06-28 2018-07-04 エイブリック株式会社 遅延回路、発振回路及び半導体装置
US9492144B1 (en) * 2015-12-02 2016-11-15 Butterfly Network, Inc. Multi-level pulser and related apparatus and methods

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0954620A (ja) * 1995-08-18 1997-02-25 Mitsubishi Electric Corp 電源監視回路
KR0177774B1 (ko) * 1995-08-23 1999-04-15 김광호 반도체 메모리 장치의 초기화 회로
JP3031293B2 (ja) * 1997-06-02 2000-04-10 日本電気株式会社 パワーオンリセット回路
CA2245113C (en) * 1998-08-14 2001-05-01 Ibm Canada Limited-Ibm Canada Limitee Zero power power-on reset bootstrapping method and apparatus for ultra low-power integrated circuit packaging

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001127594A (ja) 2001-05-11
US6744295B2 (en) 2004-06-01
US20030107422A1 (en) 2003-06-12
US6566928B1 (en) 2003-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3581610B2 (ja) ラッチ回路
US10090833B2 (en) Low power reset circuit
US5172012A (en) Power-on clearing circuit in semiconductor IC
JP3606814B2 (ja) 電源検出回路
CN109841607B (zh) 具有控制钳位超时行为的电路的用于静电放电(esd)保护的电源钳位
US5030845A (en) Power-up pulse generator circuit
US6346834B1 (en) Power on reset circuit
US20050035796A1 (en) Power-on reset circuit, semiconductor integrated circuit device including the same and method for generating a power-on reset signal
KR960010113B1 (ko) 전원투입 검출회로
US5917255A (en) Power-on-reset circuit having reduced size charging capacitor
EP0388918B1 (en) Semiconductor integrated circuit having a substrate potential detecting circuit
US6281723B1 (en) Device and method for power-on/power-off checking of an integrated circuit
US6882203B2 (en) Latch circuit for holding detection state of a signal
US6157227A (en) Device for neutralization in an integrated circuit
JP6512079B2 (ja) 負荷駆動回路
US9473114B1 (en) Power-on-reset detector
US5203867A (en) Method for generating power-up pulse
US20220231529A1 (en) CHARGE AND DISCHARGE CONTROL CIRCUIT FOR CONTROLLING CHARGE AND DISCHARGE OF SECONDARY BATTERY CONNECTED BETWEEN POSITIVE AND NEGATIVE ELECTRODE POWER SUPPLY TERMINALS (as amended)
KR100715601B1 (ko) 파워온 리셋 회로
JP5703657B2 (ja) 電圧検出器及び電圧検出方法
JP4007250B2 (ja) パワーオンリセット回路装置
KR20020002542A (ko) 파워 온 리셋 회로
JP2010153974A (ja) コンパレータ及び検出回路
KR100468658B1 (ko) 전원제어회로
JP6943709B2 (ja) 電源供給装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040301

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20040302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040427

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040628

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040720

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040723

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730

Year of fee payment: 6

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20091108

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730

Year of fee payment: 6

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120730

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130730

Year of fee payment: 9

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees