JP3474649B2

JP3474649B2 - ストロボユニットの検査装置及びストロボユニットの検査システム並びにストロボユニットの検査方法

Info

Publication number: JP3474649B2
Application number: JP25533094A
Authority: JP
Inventors: 房雄市川; 亮森; 博之太田
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1993-12-14
Filing date: 1994-10-20
Publication date: 2003-12-08
Anticipated expiration: 2018-12-08
Also published as: JPH07225149A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ストロボユニットの検
査装置及び検査システム並びに検査方法に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】従来、特公平２−３２６１５号公報等に
レンズ付きフイルムユニット（以下、「フイルムユニッ
ト」と称す。）が提案されており、これには国際標準規
格ＩＳＯの１００７−１９７９年で規定された１３５タ
イプのパトローネ付き写真フイルムが工場で予め装填さ
れている。また、ストロボユニットを内蔵したフイルム
ユニットは、パトローネ付き写真フイルムを装填した本
体部と、この本体部の前面に被着される前カバーと、本
体部の背面に被着される後カバーとから構成され、本体
部にはシャッター機構、レンズ、ストロボユニット等が
組み込まれている。このようなフイルムユニットは、パ
トローネ付きフイルムのネガフイルムの全てのコマの撮
影が終了すると、そのまま現像所に提出される。現像所
では、露光済の写真フイルムを収納したパトローネを取
出し、現行の現像処理システムを使用して現像及び焼付
等の処理を行い、ユーザーにはプリント写真とフイルム
ネガとが返却される。

【０００３】環境保全や産業廃棄物削減のために、工業
製品のリサイクルが行われている。フイルムユニットに
おいても、使用後に工場で回収されたものについては、
分解した後、再使用できるものもはそのまま用い、また
使用できないものは原材料としての利用が図られてい
る。そして、再使用可能な部品点数をできるだけ増やす
ための工夫も行われ、例えば特開平５−１９４１９号公
報のものでは、カウンター機構とシャッター機構とを露
光ユニットとしてまとめ、さらにストロボ装置について
も回路要素及び閃光放電管を１枚のプリント基板上に取
り付けてストロボユニットとしてまとめておき、これら
をユニットごとに再使用できるようにしている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、部品を再使
用する場合には、その性能を検査しておくことが不可欠
である。しかしながら、上記の露光ユニットやストロボ
ユニットのように、他部品をまとめてユニット化したも
のは、その検査が非常に煩雑になる。特にストロボユニ
ットの場合には、単なる外観検査の他に、電気特性，例
えば回路の動作や閃光放電管の発光が確実なものである
か否かを確認するために１０項目以上の検査が必要であ
り、こうした検査を一個一個人手で行っていたのでは、
検査時間が非常に長くなってしまい、リサイクルコスト
を低減することができない。また、従来の測定データは
検査工程内でストロボユニットが再使用が可能か否かの
判定に使用されるだけで、例えば市場におけるストロボ
ユニットの不良発生状況を把握する等のために有効活用
されていなかった。また、ストロボユニットの電気特性
を測定する際には、メインコンデンサの充放電を数回繰
り返すが、この充電に時間がかかるため、全体の検査時
間が短縮できないという問題があった。

【０００５】本発明の目的は、上述のような背景に鑑み
てなされたもので、再使用可能かどうかの検査を効率良
く行うストロボユニットの検査装置及び検査システム並
びに検査方法を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項１記載のストロボユニットの検査装置は、スト
ロボユニットを一定の姿勢で保持し、検査位置に移動し
てきたときに停止されるパレットと、検査位置で停止し
たパレットが保持するストロボユニットに近寄った接近
位置と離れた退避位置との間で可動なベース部と、この
ベース部に保持され、ベース部が接近位置に移動するこ
とによって前記充電スイッチ、メインコンデンサ、シン
クロスイッチ、及び電源電池の接続端子にそれぞれ接触
するスイッチング用プローブ、測定用プローブ、及び給
電用プローブと、前記ベース部に組み込まれ、ベース部
が接近位置に移動することによって前記シンクロスイッ
チ及びストロボ発光部の各々の近傍に位置決めされるア
クチュエータ及び光センサと、前記スイッチング用プロ
ーブ、測定用プローブ、及び給電用プローブにより前記
メインコンデンサへの充電を行い、前記アクチュエータ
の作動によりシンクロスイッチをオンさせてストロボ発
光部を発光させるとともに、前記光センサで受光したス
トロボ発光部からの光量が規定レベルに達しているか否
かを判定する制御手段とを備えたものである。

【０００７】請求項２記載のストロボユニットの検査装
置は、メインコンデンサの充電と同時に電圧、電流、及
び抵抗の測定を行い、前記光量レベルの他に充電時間、
シンクロスイッチの接触抵抗、リーク電流等を検査し、
前記シンクロスイッチの接触抵抗の検査は、前記接触抵
抗を連続的に複数回測定することにより行うようにした
ものである。さらに、請求項３記載のストロボユニット
の検査装置は、前記メインコンデンサの充電が完了した
際に点灯、又は点滅するネオン管の発光が正常に行える
か否かを判定するようにしたものである。

【０００８】請求項４記載のストロボユニットの検査シ
ステムは、電気部品及び発光部からなるストロボユニッ
トを一定の姿勢で保持し、所定の検査ラインを循環移動
する検査パレットと、この検査パレットに設けられ、各
種データの記憶機能及び通信機能を有する情報管理手段
と、検査ラインに配置され、ストロボユニットを構成す
る電気部品及び発光部の外観，姿勢，電気特性等を検査
し、この検査データを情報管理手段に記憶させる複数の
測定装置と、前記検査データに基づいて各ストロボユニ
ットを複数のグループに仕分ける判定制御手段とからな
るものである。

【０００９】請求項５記載のストロボユニットの検査方
法は、昇圧用トランス，メインコンデンサを備えたスト
ロボユニットの電気特性を測定するストロボユニットの
検査方法において、外部から一定の低電圧を昇圧用トラ
ンスの一次巻線側に印加してメインコンデンサへの充電
を開始してから所定時間が経過した初期充電後のメイン
コンデンサの電圧を測定し、この測定値が予め決められ
た所定値以下の場合は検査を中止し、前記測定値が所定
値より大きい場合は、前記低電圧による充電に加えてメ
インコンデンサの耐電圧以下の直流高電圧をメインコン
デンサの両端子に直接に印加して高速充電し、メインコ
ンデンサの電圧がストロボ発光可能な所定の設定電圧に
達した後、前記直流高電圧の印加を停止するものであ
る。更に、請求項６記載のストロボユニットの検査方法
は、前記直流高電圧の印加を停止した後、シンクロスイ
ッチをオンにしてストロボ光量が規定レベルに達してい
るか否かを測定するものである。

【００１０】

【作用】ストロボユニットを保持したパレットが検査位
置に停止すると、ベース部が接近位置に移動する。この
ベース部の移動により、スイッチング用プローブ、測定
用プローブ、及び給電用プローブは充電スイッチ及び電
源電池の接続端子にそれぞれ接触し、また、アクチュエ
ータ及び光センサはシンクロスイッチ及びストロボ発光
部の各々の近傍に位置決めされる。そして、制御部は、
スイッチング用プローブ、測定用プローブ、及び給電用
プローブを介してメインコンデンサに充電を行い、アク
チュエータの作動によりシンクロスイッチをオンさせて
ストロボ発光部を発光させるとともに、光センサで受光
したストロボ発光部からの光量が規定レベルに達してい
るか否か、また充電時間が規定時間内か否か、シンクロ
スイッチの接触抵抗が規定値以下か否か、ネオン管が正
常か否か等を判定する。

【００１１】図２に示すように、フイルムユニット２
は、撮影機構等を備えたユニット本体３と、これを収納
する外ケース４とから構成されており、この外ケース４
に入れたままで写真撮影が行われる。外ケース４は、フ
イルムユニット２の外観を奇麗にするためのものであ
り、外面に印刷を施した紙箱又はプラスチックシート等
が用いられる。この外ケース４には、レンズ５、ファイ
ンダー窓６、レリーズボタン７、撮影枚数表示板８、巻
き上げノブ９、及びストロボ発光部１０を露出させるた
めの穴が設けられ、またストロボ撮影時には、外ケース
４の切込み部１１を押圧しながら撮影を行う。

【００１２】図３において、ユニット本体３は、パトロ
ーネ付き写真フイルムが装填される本体部１３、この本
体部１３の背面に被着され、本体部１３との間で写真フ
イルムを光密に収納する後カバー１４、本体部１３の前
に被着される前カバー１５、本体部１３と前カバー１５
との間に配置される露光ユニット１６、ストロボユニッ
ト１７とから構成されている。露光ユニット１６には、
カウンター機構、シャッター機構、フイルム巻止め機
構、及びレンズ５等が内蔵され、これらは一体化されて
いる。レンズ５は、前カバー１５と露光ユニット１６の
絞り開口１６ａとの間に挟装される。

【００１３】本体部１３には、パトローネが装填される
パトローネ室２０と、パトローネから引き出された未露
光の写真フイルムをロール状に収納するフイルム収納室
２１とが設けられている。こられの底は開口となってお
り、後カバー１４に設けたプルトップ式の底蓋２２，２
３によって塞がれる。フイルム収納室２１の底蓋２３
は、写真フイルム装填の際にパトローネから未露光の写
真フイルムをロール状に巻き取る治具等を挿入するため
のものであり、またパトローネ室２０の底蓋２２は、撮
影終了後撮影済みフイルムを収納したパトローネを取り
出すときの蓋となる。

【００１４】パトローネ室２０と未露光フイルム収納室
２１との間には、露光開口２４が成形されており、この
前面に露光ユニット１６が爪結合によって着脱自在に取
り付けられる。露光ユニット１６の右横、すなわち未露
光フイルム収納室２１の前面には、ストロボユニット１
７が爪結合によって着脱自在に取り付けられる。

【００１５】ストロボユニット１７は、図４に示すよう
に、プリント基板２５とこれに形成されたスルーホール
に半田付けされる電気部品とから構成されている。プリ
ント基板２５には、充電開始用接点２６，２７が形成さ
れた銅箔パターン等が印刷されている。電気部品はプロ
テクター２８、リフレクター２９、トリガー接片３０、
及び放電管３１からなるストロボ発光部１０の他に、シ
ンクロスイッチ３３、電池３４用の電極板３５，３６、
メインコンデンサ３７、ネオン管３８等からなり、これ
らの接続端子はプリント基板２５の外部に露呈されてい
る。また銅箔パターンの上には、製造時期と再使用回数
及びその時期とを表示するための表示部３９が設けられ
ている。

【００１６】切込み部１１の内側には、前カバー１５に
一体に成形されたスイッチ部１５ａが位置する。充電開
始用接点２６，２７は、スイッチ部１５ａの変位に応動
して、その背面に設けた短絡板４０の接触によりＯＮす
る。ネオン管３８は、メインコンデンサ３７への充電が
完了した際に点滅し、前カバー１５の上面に設けた開口
１５ｂ及び外ケース４に設けた開口１２を通して確認す
ることができる。また、シンクロスイッチ３３は、露光
ユニット１６に設けたシャッタ羽根が絞り開口１６ａを
全開する際に一方の接片３３ａを押圧し、この接片３３
ａが他方の接片３３ｂに接触することによりＯＮする。

【００１７】図５に示すように、ストロボユニット１７
の回路４１は、充電開始用接点２６，２７がＯＮされる
と、昇圧回路４２により電極板３５，３６にセットされ
た電源の電圧が昇圧され、この高電圧出力がトリガ用コ
ンデンサ４４及びメインコンデンサ３７を充電するよう
になっている。トリガ用コンデンサ４４には、トリガ用
トランス４５が接続され、その一次巻線４５ａにはシン
クロスイッチ３３の接片３３ａが、二次巻線４５ｂには
放電管３１の放電を開始させるためのトリガ電極板３０
がそれぞれ接続されている。なお、符号３８は、充電完
了表示用のネオン管である。また、この図５は、検査時
の接続状態を示しており、電極板３５，３６には電池３
４の代わりに１．６Ｖの定電圧電源４３が接続されてい
るとともに、メインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７
ｂには直流高電圧供給装置１８が直接に接続されてい
る。この直流高電圧供給装置１８については、詳しく後
述する。

【００１８】放電管３１は、両端子がメインコンデンサ
３７の端子３７ａ，３７ｂに接続され、メインコンデン
サ３７に蓄えられた電荷によって放電する。プロテクタ
ー２８は前面が外ケース４から露呈されており、被写体
に向けて配光する。リフレクター２９は、放電管３１か
ら放電された光をプロテクター２８に向けて反射させ
る。

【００１９】

【実施例】工場では、現像所から回収したフイルムユニ
ット２を供給コンベヤに移載し、ここで、外ケース４を
取り外した後、移載装置によりフイルムユニットの分解
ライン６５（図６参照）に搬送する。この分解ライン６
５は、自動化となっており、インデックス回転テーブル
にフイルムユニット２を順次移載して分解してゆく。

【００２０】インデックス回転テーブルには、所定間隔
ごとに複数の分解パレットが固定されており、この分解
パレットにフイルムユニット２が１個ずつ一定の姿勢で
保持される。保持されたフイルムユニット２は、各ステ
ーションで自動的に分解される。これにより、巻き上げ
ノブ９、前カバー１５、レンズ５、短絡板４０、ストロ
ボユニット１７、露光ユニット１６、電池３４、及び後
カバー１４が結合している本体部１３とに分解される。

【００２１】巻き上げノブ９、前カバー１５及び本体部
１３は、同じプラスチック材料であるからそのままの状
態で樹脂再生工程に送られ、ペレット化される。これと
は異なったプラスチック材料であるレンズ５は、別の樹
脂再生工程に送られる。また、短絡板４０は金属再生工
程に送られる。さらに、露光ユニット１６は、機能検査
を行った後にフイルムユニットの組立ライン７０（図６
参照）に送られる。なお、電池３４は、専門の電池回収
業者に引き渡される。

【００２２】取り出されたストロボユニット１７は、表
示部３９から製造時期と再使用回数及びその時期とが自
動的に読み取られ、耐用年数を経過していないものが検
査ラインに投入される。この検査ラインは、図６に示す
ように、無限循環方式の自動化ラインとなっており、ス
トロボユニット１７を各検査パレット５０に一定の姿勢
で保持させた後、各検査パレット５０を複数の検査工程
に循環させて、ストロボユニット１７の形状、電気特
性、外観、及び動作等を検査し、この検査結果の情報に
応じてストロボユニット１７を合格，準不合格，不合格
の３種類に仕分ける。

【００２３】検査ラインは、ストロボユニット供給工程
５１、履歴データ転送工程５２、エアークリーニング工
程５３、プロテクタークリーニング工程５４、外観検査
工程５５、電気検査工程５６、履歴マーキング工程５
７、合格品払出し工程５８、準不合格品払出し工程５
９、及び不合格品払出し工程６０とから構成されてい
る。このうち電気検査工程５６は、例えばラインが２本
設けられ、各ラインには電気検査装置６１が６台づつ設
けられている。すなわち、各ラインでは６個の検査パレ
ット５０を同時に取り込んで、６個のストロボユニット
１７を同時に検査するから、これら２ラインを同時に稼
働させると、合計で１２個のストロボユニット１７を同
時に検査できる。各ラインには、それぞれチャンネルナ
ンバーが付されており、オンラインでチャンネルナンバ
ーを選択することにより希望のラインを選択して稼働さ
せることができる。これらの電気検査工程５６の前後に
は、分岐装置６２及び合流装置６３が設置されており、
また分岐装置６２の後、且つ合流装置６３の前には複数
の検査パレット５０を待機させるためのストック装置６
４が設置されている。

【００２４】検査パレット５０には、図７及び図８に示
すように、ストロボユニット１７をこれのプロテクター
２８が上方に、且つメインコンデンサー３７が下方に向
いた姿勢で保持する２つの押さえ爪６６，６７が設けら
れている。また、この押さえ爪６６，６７によってスト
ロボユニット１７が保持されたとき、ストロボユニット
１７は、２つの位置決めピン６８，６９により精度良く
位置決めされる。押さえ爪６６，６７は、軸７１，７２
を中心に回動自在となっており、バネ７３，７４により
ストロボユニット１７を保持する方向に向けて付勢され
ている。供給及び払出し工程５１，５８，５９，６０に
は、押さえ爪６６，６７をバネ７３，７４の付勢に抗し
て回転させる押圧機構が設けられている。この押圧機構
の作動により検査パレット５０とストロボユニット１７
との着脱が行われる。

【００２５】検査パレット５０には、情報管理手段とし
て光通信機能を備えたＩＤ（Identification）ユニット
７５が設けられている。このＩＤユニット７５は、前面
に配置された投光窓７５ａ、受光窓７５ａを介して、検
査パレット５０にセットされたストロボユニット１７の
履歴データや検査データ等を記憶するとともに、これら
のデータを制御手段としてのコンピュータ７６に転送す
る。

【００２６】図９に示すように、ＩＤユニット７５は、
前記投光窓７５ａ、受光窓７５ａを介してコンピュータ
７６等とデータの送受信を行う赤外線投受光部７７、通
信Ｉ／Ｆ７８、ＣＰＵ７９、メモリ８０からなる。この
メモリ８０は検査項目毎にアドレスが決めてあり、この
アドレスに検査結果が寸法，面積等のデータで書き込ま
れる。また、このアドレスには検査済みか否かのデータ
も書き込まれる。また、各検査機、コンピュータ７６、
及び後述する集積部等には、ＩＤユニット７５とデータ
の送受信を行うＩＤユニット８１が接続されている。こ
のＩＤユニット８１は、赤外線投受光部８２、通信Ｉ／
Ｆ８３、ＣＰＵ８４、入出力Ｉ／Ｆ（ＲＳ２３２Ｃ，デ
ジタルＩ／Ｏ）８５から構成される。

【００２７】電気検査装置６１は、図１に示すように、
遮光カバー８６、スイッチング用及び給電用に用いられ
る８本のプローブ、ネオン管発光検知部（図示なし）、
制御部８８、アクチュエータ８９、ストロボ光測定部９
０、定電圧電源４３、及び直流高電圧供給装置１８から
構成されており、プローブ８７、ネオン管発光検知部、
アクチュエータ８９は遮光カバー８６の内部に固定され
ている。遮光カバー８６は、ストロボ発光量を測定する
ときに、他のストロボユニット１７から発光されるスト
ロボ光が浸入しないようにするためのものである。この
遮光カバー８６は、検査パレット５０の在席を検知する
と、図示していないシリンダー等の移動機構によって検
査パレット５０から退避した退避位置と検査パレット５
０に近寄った接近位置との間で移動する。この移動は、
検査パレット５０の搬送方向に対して直交する方向とな
る。

【００２８】プローブ８７の各々は、後端がケーブルを
介して直流高電圧供給装置１８、定電圧電源４３、及び
制御部８８に接続されており、また遮光カバー８６が接
近位置のときに先端がプリント基板２５の上の所定の接
点に接触する。プローブ８７が接触する端子は、メイン
コンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂ、シンクロスイッ
チ３３の両電極、充電開始用接点２６，２７、及び電池
用（＋，−）電極３５，３６である。

【００２９】直流高電圧供給装置１８は、図５に示すよ
うに、給電用のプローブ８７を介してメインコンデンサ
３７の端子３７ａ，３７ｂに直接にメインコンデンサ３
７の耐電圧以下，例えばＤＣ３５０Ｖの直流高電圧を印
加するもので、直流高電圧電源１９、スイッチ３２、電
流制限用の抵抗４６、逆流防止用のダイオード４７、電
圧検出部４８、及びスイッチ駆動部４９からなる。電圧
検出部４８はプローブ８７を介してメインコンデンサ３
７の端子電圧を常時測定しており、これが設定した所定
の電圧，例えば２７０Ｖになったときに、スイッチ駆動
部４９を介してスイッチ３２をＯＦＦにし、メインコン
デンサ３７の端子３７ａ，３７ｂに対する直流高電圧充
電を停止する（図１０の実線参照）。

【００３０】抵抗４６の抵抗値は、充電時間及び、直流
高電圧電源１９の電源電圧と直流高電圧供給装置１８の
回路構成とストロボユニット１７の回路４１の電流容量
から決定される。例えば、前記直流高電圧の電圧を３０
０Ｖ、前記電流容量を１Ａ、メインコンデンサ３７の静
電容量を１００μＦ、充電完了電圧を２７０Ｖとする
と、電流制限抵抗の値は３００Ωかつ充電時間は抵抗と
メインコンデンサの回路の過渡現象により約６９ｍｓｅ
ｃとなる。そして、メインコンデンサ３７の端子電圧が
２７０Ｖになった後、直流高電圧の印加を終了して１．
６Ｖの定電圧電源４３のみによって充電を継続すると、
メインコンデンサ３７の端子電圧が３００Ｖになるまで
約２秒かかる。したがって、メインコンデンサ３７の端
子電圧が０Ｖから３００Ｖに達するまで約２．０６９秒
で充電でき、１．６Ｖの定電圧電源４３のみによる充電
時間が約７．５秒かかる（図１０の破線参照）のに比べ
て充電時間の大幅な短縮が達成できる。

【００３１】ネオン管発光検知部は、例えば受光センサ
等が用いられ、遮光カバー８６が接近位置のときにネオ
ン管３８の近傍に位置決めされ、受光センサでネオン管
３８の発光を検出すると、これに応じた検知信号を制御
部８８に送る。ストロボ光測定部９０は、遮光カバー８
６に設けた開口８６ａの上に固定されており、開口８６
ａ、拡散板９１、及びＮＤフィルター９２を通って入射
したストロボ光をフォト・ダイオード９３で受光し、フ
ォト・ダイオード９３で得られた信号を制御部８８に送
る。

【００３２】アクチュエータ８９は、図１１に示すよう
に、ソレノイド９５、連結板９６、バネ９７、固定ガイ
ド棒９８、及び叩き棒９９とから構成されており、遮光
カバー８６が接近位置のときにシンクロスイッチ３３の
近傍に位置決めされる。ソレノイド９５は、制御部８８
の制御により駆動される。このソレノイド９５がＯＮす
ると、プランジャー９５ａに連結された連結板９６が軸
１０１を中心として反時計方向に回転する。叩き棒９９
は、固定ガイド棒９８にしたがってシンクロスイッチ３
３の接片３３ａを叩く叩き位置とこれから退避する退避
位置との間で移動自在となっており、バネ９７により退
避位置へ向けて付勢されている。そして、叩き棒９９
は、連結板９６の反時計方向への回転により叩き位置に
向けて移動しシンクロスイッチ３３をＯＮする。

【００３３】制御部８８は、各プローブ８７を通して各
接点間の抵抗、リーク、電圧や電流等の測定やアクチュ
エータ８９の制御等を、予め定められたシーケンスに基
づいて実行する。そして、各検査項目毎に得られた測定
データを階級化処理し、所定の閾値により合格，準不合
格，不合格の判定を行った後、この各測定データ及び各
判定データをＩＤユニット８１を介して検査パレット５
０のＩＤユニット７５に転送すると同時に、コンピュー
タ７６に伝送する。なお、検査の迅速化のため、１項目
でも不合格の判定が出たストロボユニット１７は、その
時点で以降の全ての検査は中止される。また、合格及び
準不合格の判定の場合には、検査は継続され、その都度
検査データはＩＤユニット７５に記憶されるとともにコ
ンピュータ７６に伝送される。

【００３４】電気検査装置６１だけでなく、他の検査機
もＩＤユニット７５への転送前に、各測定データに対し
て下記の数式１による階級化処理を施す。この階級化処
理を簡単に説明する。

【００３５】

【数１】Ｌ_n＝ＩＮＴ（Ａ_n×Ｘ_n＋Ｂ_n）Ｌ_n：階級値Ａ_n：ゲイン値Ｘ_n：測定値の生データＢ_n：バイアス値ＩＮＴ：実数の整数化処理（少数部の切捨て・切上げ・
四捨五入等）

【００３６】ゲイン値Ａ_nは、主に面積データを扱う場
合に用いられ、通常は「１」より大きな値であるが、本
実施例のように寸法データのみを扱う場合には主に
「１」とする。また、バイアス値Ｂ_nは、主に寸法デー
タを扱う場合に用いられ、本実施例では例えば２０とす
る。例えば、測定値の生データが３．４５６ｍｍのとき
には、ＩＮＴを四捨五入とすると、階級値Ｌ_nは数式１
により次のようになる。Ｌ_n＝ＩＮＴ（１×３．４５６＋２０）＝ＩＮＴ（２３．４５６）＝２３この階級化処理によって、転送する各測定データが圧縮
され、転送時間が短縮されるとともに、閾値による測定
データの判定が容易になる。

【００３７】次に、ストロボユニット１７の検査ライン
の作用を説明する。ストロボユニット供給工程５１で
は、フイルムユニット分解ライン６５から供給されたス
トロボユニット１７を各検査パレット５０に保持させる
とともに、ＩＤユニット７５の全データをリセットす
る。このリセットに際しては、そのままで判定されたと
きには判定結果が必ず不合格となるデータ，例えば
“Ｆ”を書き込む。これは、通信異常や作業ミスによっ
て測定データや判定データがＩＤユニット７５に書き込
まれなかったときに、データ不明のものを間違って合格
品として集積されることを防止するためのものである。
また、搬送先のデータ・検査条件のデータでも“Ｆ”を
使用しないようにすることによりデータ異常が検出でき
るので、例えば再度検査を実行させたり、途中排出させ
たりという処理を行うことができる。

【００３８】履歴データ転送工程５２では、まず表示部
３９からマーキングされている生産年月日、生産工場、
製品タイプ、使用回数、リユース許可年月日が読み取ら
れ、これらのデータとともに、検査条件、集荷地区、分
解装置等の工程経路の実績等のデータが履歴データとし
てＩＤユニット７５に転送される。この表示部３９の読
み取りは、例えば履歴データ転送工程５２に設けられた
専用のコンピュータに接続された読み取りセンサによっ
て行われ、この履歴データはＩＤユニット８１を介して
ＩＤユニット７５に転送される。

【００３９】エアークリーニング工程５３では、ストロ
ボユニット１７に向けてエアーを吹き付け、ストロボユ
ニット１７に付着したゴミを吹き飛ばす。プロテクター
クリーニング工程５４は、帯状のクリーニングテープが
巻き付けられたクリーニングヘッドと、洗浄液を上方か
らプロテクター２８に向けて噴射する洗浄液噴射装置と
が設けられており、洗浄液噴射装置から洗浄液が噴射さ
れた後に、検査パレット５０がクリーニングヘッドの下
部まで移動した後に、クリーニングヘッドがプロテクタ
ー２８の表面を押圧する位置まで移動し、クリーニング
テープを左右方向に数回往復運動してプロテクター２８
の表面をクリーニングする。

【００４０】外観検査工程５５は、各電気部品の姿勢検
査、プロテクター２８の表面の傷、及び汚れ等の検査、
リフレクター２９の内面汚れ検査、シンクロスイッチ３
３の曲がり検査、ネオン管３８及びメインコンデンサ３
７の曲がり検査、及び電池用接片３５，３６の曲がり検
査を行う。そして、これらの測定データ及び判定データ
は、各検査機からＩＤユニット７５に転送されるととも
に、ＩＤユニット８１を介してオンラインでコンピュー
タ７６に伝送される。

【００４１】外観検査を通過したストロボユニット１７
は、分岐装置６２を通ってストック装置６４で検査パレ
ット５０が６個たまった時点で電気検査装置６１に６個
同時に搬送される。搬送された検査パレット５０は、位
置決めストッパーで位置決めされ検査位置で停止する。
停止した検査パレット５０は、光電センサで在席が検知
される。この在席検知後に、遮光カバー８６が下降して
接近位置の状態となる。このとき各プローブ８７、アク
チュエータ８９、及びネオン管発光検知部が各々の近傍
に位置決めされる。

【００４２】電気検査装置６１による電気特性の測定
は、図１２に示すシーケンスに従って行われる。先ず、
メインコンデンサ３７の放電を行う。この放電中には、
メインコンデンサ３７の電圧を測定しており、この電圧
が、例えば２Ｖ以下となったら、この時点から１００ｍ
ｓ後に終了とする。放電開始後から所定時間経過後にメ
インコンデンサ３７の電圧が２Ｖ以下にならない場合に
は、不合格であるからこの判定データをＩＤユニット７
５に転送するとともに、コンピュータ７６に伝送した
後、以降の検査を中止する。

【００４３】合格したストロボユニット１７に対して、
アクチュエータ８９を駆動させ、シンクロスイッチ３３
の接触抵抗を測定する。測定は１０ｍｓ毎に５０回迄行
う。判定は測定値が、例えば２Ω以上であったら不合格
とする。５０回とも不合格の場合には、アクチュエータ
８９の駆動を停止し、再度やり直す。やり直し回数は、
設定値に応じて変更し、１回でも不合格がなければ次の
検査に進む。

【００４４】次に、電池用接片３５，３６の端子間のリ
ーク電流を測定する。試験電圧は１．６Ｖで行い、判定
は、例えば１μＡ以上をＮＧとする。次に、図１０の実
線で示すように、所定時間、例えば５００ｍｓだけ１．
６Ｖで充電を行い、この時のメインコンデンサ３７の電
圧を測定する。この測定値が３０Ｖ以下を不合格とす
る。続いて、直流高電圧供給装置１８のスイッチ３２を
ＯＮにしてメインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂ
に直接に３５０Ｖの直流高電圧を印加し、高速充電を行
う。そして、ネオン管３８の発光した時のメインコンデ
ンサ３７の電圧を測定する。

【００４５】この後、メインコンデンサ３７の端子電圧
が所定の設定電圧，例えば２７０Ｖに達すると、これが
電圧検出部４８によって検出され、スイッチ駆動部４９
によってスイッチ３２がＯＦＦにされる。これによっ
て、直流高電圧供給装置１８による直流高電圧の印加が
停止され、１．６Ｖの定電圧電源４３のみによる充電が
継続される。そして、この１．６Ｖでの充電中にネオン
管３８の点滅が持続されるかを検査する。時間は発光検
知より、例えば２ｓ間行う。次に、放電を１００ｍｓ行
い、このときのメインコンデンサ３７の電圧が、例えば
２３０Ｖ以上であれば不合格とする。そして、またスイ
ッチ３２をＯＮにして高速充電を行い、充電開始からメ
インコンデンサ３７の電圧が規定電圧，例えば２２０Ｖ
に達した時点までの時間を測定する。判定は、例えば８
ｓ以上であれば不合格とする。

【００４６】その後、１０ｍｓだけアクチュエータ８９
を駆動させ、シンクロスイッチ３３をＯＮする。このと
き、制御部８８は、ストロボ光測定部９０から得られる
信号を監視し、光量が規定レベルに達しているか否かを
判定する。更に、ストロボ発光後のメインコンデンサ３
７の電圧を測定し、この電圧が、例えば７０Ｖ以上であ
れば不合格とする。その後、定電圧電源４３のみによる
充電を開始し、規定時間内にネオン管３８が発光するか
を検査する。判定は、ネオン管発光検知部から得られる
信号が、例えば８ｓ以上である場合には不合格とする。
そして、ネオン管３８が発光した時点のメインコンデン
サ３７の電圧を測定する。判定は、例えば２８０〜３１
０Ｖ以外の場合には不合格とする。更に、そのまま充電
を継続し、充電を開始してから規定時間、例えば１０ｓ
以内でメインコンデンサ３７の電圧が規定電圧，例えば
３１０Ｖに達するか否かを判定する。また、この間でネ
オン管３８の点滅回数を計数する。この判定は、例えば
１秒間に１７カウント以上を不合格とする。

【００４７】次に、アクチュエータ８４を駆動させ、シ
ンクロスイッチ３３をＯＮする。これによりストロボ発
光が行われ、発光後のメインコンデンサ３７の電圧が規
定電圧，例えば７０Ｖ以上であれば不合格とする。最後
にメインコンデンサ３７の放電を規定時間、例えば２ｓ
行い、放電後のメインコンデンサ３７の電圧が規定電
圧，例えば５Ｖ以上であれば不合格とする。なお、電気
検査中にメインコンデンサ３７の電圧が、例えば３５０
Ｖを越えると、ただちに不合格と判定し、検査を中止す
る。

【００４８】電気検査工程５６での測定データ及び判定
データは、各検査パレット５０のＩＤユニット７５に記
憶されるとともに、コンピュータ７６に伝送される。そ
して、コンピュータ７６に接続されたＣＲＴの画面に表
示されているメニュー項目から、「不良発生項目別累
計」もしくは「測定データ」を選択すると、図１３及び
図１４に示すように、「不良発生項目別累計」や「測定
データ」がＣＲＴ画面にオンライン表示される。「不良
発生項目別累計」は、検査ステップ毎に発生した不良品
の数を生産管理時間又は作業者のリセット操作時から累
計するもので、各時点の不良発生率も分かるようになっ
ている。なお、図１３及び図１４において、チャンネル
が８個あるのは、電気検査工程５６が８ライン迄対応で
きるように構成されていることを示している。そして、
図１３及び図１４に示されているＣＲＴ画面の表示でチ
ャンネル３，５がＮＧで他がＯＫとなっているのは、直
前の検査においてチャンネル３，５はＮＧであり、チャ
ンネル１，２，４，６，７，８はＯＫであることを示し
ている。

【００４９】コンピュータ７６に伝送された各判定デー
タは、各ストロボユニット１７毎に集積され、全検査項
目の判定データが揃った時点で各ストロボユニット１７
が総合判定される。この結果、各ストロボユニット１７
は、例えば「合格品」，「準不合格品」，「不合格品」
の３種類に分けられる。「合格品」は全検査項目の判定
データが合格で、そのまま再使用可能なものである。
「準不合格品」は１項目でも準不合格の判定データを含
むもので、修理すれば再使用可能なものである。「不合
格品」は前述したように１項目でも不合格の判定が出て
以降の全検査が中止されたもので、再使用が不可能であ
るから、集積後廃棄される。

【００５０】また、全検査項目の測定データ及び判定デ
ータが揃うと、オフラインでの測定データ一覧及び度数
分布グラフの表示を行うことができる。測定データ一覧
は、例えば、シンクロスイッチの接触抵抗値，リーク電
流値，ストロボ発光の光量，充電時間（４点），ネオン
管の発光電圧，ネオン管の点滅回数，充電電圧の計１０
項目の測定データを測定の時系列に一覧表示したり、例
えば、図１５に示すように、各検査ステップでの判定結
果を時系列に一覧表示するものである。

【００５１】測定データの度数分布グラフは、例えば、
シンクロスイッチの接触抵抗値，リーク電流値，ストロ
ボ発光の光量，充電時間（４点），ネオン管の発光電
圧，ネオン管の点滅回数，充電電圧の計１０項目につい
て、メーカー，ロット毎に収集した測定データをそれぞ
れ度数分布グラフに表示し、市場評価等の解析に利用す
るものである。例えば、図１６に示すグラフは、シンク
ロスイッチの接触抵抗値についての度数分布グラフをＣ
ＲＴ画面に表示したものである。

【００５２】電気検査工程５６を通過したストロボユニ
ット１７は、ストック装置６４に送られ、合流装置６３
を通って履歴マーキング工程５７に向けて搬送される。
この履歴マーキング工程５７では、「合格品」のストロ
ボユニット１７の表示部３９にマーキングを施し、再使
用回数の履歴を記録する。そして、コンピュータ７６か
らＩＤユニット８１を介して、各検査パレット５０のＩ
Ｄユニット７５に総合判定データが転送される。履歴マ
ーキング工程５７を経たストロボユニット１７は、合格
品払出し工程５８に搬送される。

【００５３】合格品払出し工程５８では、検査パレット
５０のＩＤユニット７２から総合判定データを読み取る
ことにより、合格品のストロボユニット１７のみが払い
出される。払い出されたストロボユニット１７は、合格
品集積部１２１に所定量となるまで集積され、その後フ
イルムユニット２の組立ライン４７にそのまま供給され
る。

【００５４】合格品払出し工程５８を経て残ったストロ
ボユニット１７は、準不合格品払出し工程５９に搬送さ
れる。ここでは、準不合格品のストロボユニット１７の
みが払い出され、準不合格品集積部１２２に搬送され
る。そして、ストロボユニット１７は検査パレット５０
からトレイに移される。このトレイの各々にもＩＤユニ
ット７５が設置されており、検査パレット５０のＩＤユ
ニット７５に記憶されていた全てのデータが各トレイの
ＩＤユニット７５に転送される。

【００５５】準不合格品集積部１２２のトレイに集積さ
れたストロボユニット１７は、ＩＤユニット７５のデー
タに従って不具合のある部品毎に仕分けされ、自動詰め
替え機によって再集積部１２３に再集積される。このと
きの仕分け方法としては、例えば各検査項目毎の仕分け
も可能であるが、この場合には例えば８０００項目以上
となって実際的でない。そこで、同一部品毎に仕分ける
と、例えば５〜２０項目となって適度な項目数となると
ともに、部品毎であるから修理の実施に際して都合がよ
い。そして、再集積部１２３に再集積されストロボユニ
ット１７は、修理工程１２４に送られ、不良部品の手直
しが行われる。手直しされたストロボユニット１７は、
ストロボユニット供給工程５１に戻され、再検査された
後、合格品と判定された場合には、合格品払出し工程５
８，合格品集積部１２１を経てフイルムユニットの組立
ライン７０に供給される。

【００５６】準不合格品払出し工程５９を経て更に残っ
たストロボユニット１７は、不合格品払出し工程６０に
搬送される。ここで、不合格品のストロボユニット１７
が払い出され、不合格品集積部１２５に所定量になるま
で集積された後、廃棄される。

【００５７】なお、ＩＤユニット７５の代わりに、図１
７に示すような不良表示部１３０を設けてもよい。この
不良表示部１３０には、４つの突出片１３０ａ〜１３０
ｄが出入り自在に設けられている。これらの４つの突出
片１３０ａ〜１３０ｄの突出長さを電気的に読み取るこ
とにより、払出し工程５８〜６０での仕分けが自動的に
行えるとともに、不合格品の不良内容を４種類まで識別
できる。

【００５８】以上説明した実施例では、各検査項目毎の
判定は各検査機で行い、この判定データをオンラインで
コンピュータに伝送するようにしたが、個々の測定デー
タはＩＤユニットに記憶しておき、全ての検査が終了し
た後、コンピュータがＩＤユニットから全検査項目の測
定データを読み出して各検査項目毎の判定及び総合判定
を行うようにしてもよい。この場合には、判定の閾値も
１ヶ所で管理することができる。

【００５９】また、前記再集積の作業は、自動詰め替え
機によって行ったが、人手によって行ってもよい。ま
た、不具合の発生頻度が少ない部品は、複数の部品を同
一のトレイに集積するのがよい。また、上記実施例で
は、各トレイ毎にＩＤユニットを設置したが、例えばト
レイに識別番号を付け、各トレイの集積位置に対応して
不具合部品データとトレイの識別番号を印字した紙を修
理品のストロボユニットの各々に添付してもよい。ま
た、修理品のストロボユニットは、修理部門毎に１つの
トレイに集積するようにしてもよい。

【００６０】また、ＩＤユニットに、例えばＬＥＤや液
晶表示板等の表示手段を設け、目視によって総合判定等
のデータを確認できるようにしてもよい。また、修理の
方法は、検査ライン内で行っても、外部で行ってもよ
く、また治具等を用いて復元するものと、新しい部品と
交換するものとがある。また、ＩＤユニットの通信機能
として、光通信を採用したが、この他に、マイクロ波通
信、磁気通信等を用いることができ、通信距離、コスト
等の点から使い分けることができる。なお、本発明は、
リサイクル品だけでなく、新規作成のストロボユニット
の検査にも用いることができる。

【００６１】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の検
査装置によれば、ストロボユニットを一定の姿勢で保持
し、検査位置に移動してきたときに停止されるパレット
を用いたから、位置決めが容易になる。しかも、スイッ
チング用プローブ、測定用プローブ、及び給電用プロー
ブとアクチュエータ及び光センサとをベース部に設け、
このベース部を検査位置で停止したパレットが保持する
ストロボユニットに向かって接近した接近位置と離れた
退避位置との間で可動とし、ベース部が接近位置に移動
することによってスイッチング用プローブ、測定用プロ
ーブ、及び給電用プローブが充電スイッチ、メインコン
デンサ、シンクロスイッチ、及び電源電池の接続端子に
それぞれ接触し、またアクチュエータ及び光センサがシ
ンクロスイッチ及びストロボ発光部の各々の近傍に位置
決めされるから、短時間で効率良くコネクト作業が行え
る。

【００６２】そして、制御部が、前記スイッチング用プ
ローブ、測定用プローブ、及び給電用プローブによりメ
インコンデンサに充電を行い、前記アクチュエータを制
御してシンクロスイッチをオンさせることによりストロ
ボ発光部を発光させ、前記光センサで受光したストロボ
発光部からの光量が規定レベルに達しているか否か、ま
た、別の発明に記載したように充電時間が規定時間内か
否か、シンクロスイッチの接触抵抗が規定値以下か否
か、リーク電流が規定値以下か否か、及びネオン管が正
常か否か等を判定するから、ストロボユニットを安定し
た品質で再使用することができる。

【００６３】また、本発明の検査システムによれば、検
査パレットに情報管理手段を設け、これに各種のデータ
を記憶させるとともに、判定制御手段が検査項目毎の判
定データに基づいて総合判定，仕分けを行うようにした
ので、各種データを一括管理できるとともに、オンライ
ンで各測定データを表示したり、オフラインで度数分布
グラフを作成してストロボユニットの市場評価を行う
等、データの有効活用を容易に達成できる。また、本発
明の検査方法によれば、外部から一定の低電圧を昇圧用
トランスの一次巻線側に印加して所定時間メインコンデ
ンサの初期充電を行い、この初期充電後のメインコンデ
ンサの電圧を測定し、この測定値が予め決められた所定
値以下の場合は検査を中止するので、検査の初期段階で
ストロボユニットが不良か否かの判断ができ、以降の検
査を省略できる。したがって、検査時間の短縮化に寄与
できる。また、前記測定値が所定値より大きい場合は、
前記低電圧による充電に加え、メインコンデンサの耐電
圧以下の直流高電圧をメインコンデンサの両端子に直接
に印加して高速充電するので、充電時間が短縮でき、ス
トロボユニットの電気特性の検査を高速化できる。ま
た、前記直流高電圧の印加を停止した後、シンクロスイ
ッチをオンにしてストロボ光量が規定レベルに達してい
るか否かを測定するので、ストロボユニットを安定した
品質で再使用することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】ストロボユニットの検査装置の概略を示す説明
図である。

【図２】レンズ付きフイルムユニットの外観を示す斜視
図である。

【図３】ユニット本体の分解斜視図である。

【図４】ストロボユニットの分解斜視図である。

【図５】ストロボユニット及び直流高電圧供給装置の回
路図である。

【図６】ストロボユニットの検査ラインの概略を示す説
明図である。

【図７】検査パレットを示す斜視図である。

【図８】検査パレットにストロボユニットを固定した状
態の背面図である。

【図９】ＩＤユニットの構造を概略的に示す説明図であ
る。

【図１０】メインコンデンサの端子電圧の変移を示すグ
ラフである。

【図１１】アクチュエータの概略を示す斜視図である。

【図１２】電気検査装置のシーケンスを示すフローチャ
ートである。

【図１３】不良発生項目別累計表の表示例を示す説明図
である。

【図１４】オンラインでの測定データの表示例を示す説
明図である。

【図１５】オフラインでの測定データ一覧表の表示例を
示す説明図である。

【図１６】測定データ度数分布グラフの表示例を示す説
明図である。

【図１７】不良表示部を示す説明図である。

【符号の説明】

２レンズ付きフイルムユニット１７ストロボユニット１８直流高電圧供給装置４３定電圧電源５０検査パレット５１ストロボユニット供給工程５２履歴データ転送工程５５外観検査工程５６電気検査工程５７データ転送・履歴マーキング５８合格品払出し工程５９準不合格品払出し工程６０不合格品払出し工程６１電気検査装置６２分岐装置６３合流装置６４ストック装置７５，８１ＩＤユニット７６コンピュータ８６遮光カバー８７プローブ８８制御部８９アクチュエータ９０ストロボ光測定部１２１合格品集積部１２２準不合格品集積部１２３再集積部１２５不合格品集積部１３０不良表示部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開平５−210204（ＪＰ，Ａ) 特開昭61−39495（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01J 1/00 - 1/60 G03B 15/04 - 15/05

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】充電スイッチ、メインコンデンサ、電源
電池の接続端子、シンクロスイッチ、ストロボ発光部が
外部に露呈し、充電スイッチのオンにより前記接続端子
からの給電が行われメインコンデンサの充電完了後、シ
ンクロスイッチをオンさせることによりストロボ発光が
行われるストロボユニットの検査装置において、前記ストロボユニットを一定の姿勢で保持し、検査位置
に移動してきたときに停止されるパレットと、検査位置
で停止したパレットが保持するストロボユニットに近寄
った接近位置と離れた退避位置との間で可動なベース部
と、このベース部に保持され、ベース部が接近位置に移
動することによって前記充電スイッチ、メインコンデン
サ、シンクロスイッチ、及び電源電池の接続端子にそれ
ぞれ接触するスイッチング用プローブ、測定用プロー
ブ、及び給電用プローブと、前記ベース部に組み込ま
れ、ベース部が接近位置に移動することによって前記シ
ンクロスイッチ及びストロボ発光部の各々の近傍に位置
決めされるアクチュエータ及び光センサと、前記スイッ
チング用プローブ、測定用プローブ、及び給電用プロー
ブにより前記メインコンデンサへの充電を行い、前記ア
クチュエータの作動によりシンクロスイッチをオンさせ
てストロボ発光部を発光させるとともに、前記光センサ
で受光したストロボ発光部からの光量が規定レベルに達
しているか否かを判定する制御手段とからなることを特
徴とするストロボユニットの検査装置。
【請求項２】前記メインコンデンサの充電と同時に電
圧、電流、及び抵抗の測定を行い、前記光量レベルの他
に充電時間、シンクロスイッチの接触抵抗、リーク電流
等を検査し、前記シンクロスイッチの接触抵抗の検査
は、前記接触抵抗を連続的に複数回測定することにより
行うことを特徴とする請求項１記載のストロボユニット
の検査装置。
【請求項３】前記メインコンデンサの充電が完了した
際に点灯、又は点滅するネオン管の発光検査を行うこと
を特徴する請求項２記載のストロボユニットの検査装
置。
【請求項４】電気部品及び発光部からなるストロボユ
ニットを一定の姿勢で保持し、所定の検査ラインを循環
移動する検査パレットと、この検査パレットに設けら
れ、各種データの記憶機能及び通信機能を有する情報管
理手段と、前記検査ラインに配置され、ストロボユニッ
トを構成する電気部品及び発光部の外観，姿勢，電気特
性等を検査し、この検査データを情報管理手段に記憶さ
せる複数の測定装置と、前記検査データに基づいて各ス
トロボユニットを複数のグループに仕分ける判定制御手
段とからなることを特徴とするストロボユニットの検査
システム。
【請求項５】昇圧用トランス，メインコンデンサを備
えたストロボユニットの電気特性を測定するストロボユ
ニットの検査方法において、外部から一定の低電圧を昇圧用トランスの一次巻線側に
印加してメインコンデンサへの充電を開始してから所定
時間が経過した初期充電後のメインコンデンサの電圧を
測定し、この測定値が予め決められた所定値以下の場合
は検査を中止し、前記測定値が所定値より大きい場合
は、前記低電圧による充電に加えてメインコンデンサの
耐電圧以下の直流高電圧をメインコンデンサの両端子に
直接に印加して高速充電し、メインコンデンサの電圧が
ストロボ発光可能な所定の設定電圧に達した後、前記直
流高電圧の印加を停止することを特徴とするストロボユ
ニットの検査方法。
【請求項６】前記直流高電圧の印加を停止した後、シ
ンクロスイッチをオンにしてストロボ光量が規定レベル
に達しているか否かを測定することを特徴とする請求項
５記載のストロボユニットの検査方法。