JP2005099483A

JP2005099483A - ストロボユニットの検査方法及び装置

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Publication number: JP2005099483A
Application number: JP2003333694A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Ota; 博之太田
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 2003-09-25
Filing date: 2003-09-25
Publication date: 2005-04-14

Abstract

【課題】使用済みのレンズ付きフイルムユニットから取り出したストロボユニットを再使用するための検査を効率良く行う。
【解決手段】ストロボユニットには電解コンデンサが設けられている。このコンデンサは、長期に充電が行われないと電解液が劣化するが、充電を繰り返し行うことで修復が可能である。ストロボ検査工程では、メインコンデンサに充電を行い、メインコンデンサの両端子間の電圧が所定時間内に予め決めた電圧に達するか否かで電解液の修復が必要か否かを検査し、必要がない場合には、ストロボ発光検査を行った後に検査工程から検査パレットを排出し、未検査の検査パレットを新たに取り込む。修復が必要である場合には、他の検査工程で行っているストロボ発光検査と並行して定電圧を印加して充電を行い、他の検査工程に新たに供給される未検査の検査パレットに対して検査が開始されると並行して再び検査を行う。
【選択図】図１３

Description

本発明は、使用済みのレンズ付きフイルムユニットから取り出したストロボユニットが再使用可能かどうかを検査するストロボユニットの検査方法及び装置に関するものである。

従来、レンズ付きフイルムユニット（以下、「フイルムユニット」と称す。）は、使用後に回収し、回収したものを分解して部品を取り出し、再使用できるものはそのまま用い、また使用できないものは原材料としての利用が図られている。そして、再使用可能な部品点数をできるだけ増やすための工夫も行われ、例えばフイルムユニットに内蔵のストロボ装置についてもメインコンデンサ（電解コンデンサ）、回路要素、及び閃光放電管を１枚のプリント基板上に取り付けてストロボユニットとしてまとめておき、ユニットごとに再使用できるようにしている。

ところで、部品を再使用する場合には、その性能を検査しておくことが不可欠である。ストロボユニットの場合には、単なる外観検査の他に、電気特性，例えば回路の動作や閃光放電管の発光が確実なものであるか否かを確認するために１０項目以上の検査が必要であり、各項目を個々に行うと、検査工程が増えて広い設置スペースが必要なる。また、ストロボユニットの電気特性を測定する際には、メインコンデンサの充放電を数回繰り返すが、この充電に時間がかかるため、他の検査工程との検査時間が釣り合わないなどの問題があった。

そこで、これらの問題を解決するためのストロボユニットの検査装置が提案されている（特許文献１）。この装置の発明では、電気検査工程に、充電スイッチ、メインコンデンサ、シンクロスイッチ、及び電源電池の接続端子にそれぞれ接触するスイッチング用プローブ、測定用プローブ、及び給電用プローブをストロボ基板に所定端子に接続して、メインコンデンサに充電を行う。

メインコンデンサへの充電の際には、メインコンデンサの両端子に耐電圧以下の直流高電圧を直接印加し、かつこの電圧印加中にメインコンデンサの両端子間の電圧を監視することにより、任意に設定した所定電圧で直流高電圧によるメインコンデンサの充電を終了するようにしている。これにより、充電時間を短縮することができる。

また、メインコンデンサの充電と同時に電圧、電流、及び抵抗の測定を行って、充電時間、シンクロスイッチの接触抵抗、及びリーク電流等を検査している。さらに、充電が完了した後に点灯又は点滅する充電完了ランプの発光の有無を光センサを用いて確認している。

そして、メインコンデンサに充電完了してからシンクロスイッチをオンさせてストロボ発光部からストロボ光を発光させるとともに、そのストロボ光を光センサで受光し、ストロボ光量が規定レベルに達しているか否かを判定している。

このような電気検査工程は、１個のストロボユニットを検査する工程を複数ライン上に並べ、このラインを並列に２つ並べて、多量のストロボユニットを一度にストックして検査している。

特開平７−２２５１４９号公報

ところで、回収したフイルムユニットでは、メインコンデンサへの充電が長期的に行われていない。このため、メインコンデンサの陽薄膜の酸化皮膜が電解液と反応して電圧が低下し漏れ電流が増加する傾向がある。これは、一定時間ごとに充電動作を行うことでコンデンサの電極の自己修復作用を利用して漏れ電流が低下するのを回復することができる。しかし、上記装置では、特許文献１に記載の図１２に示されている「初期充電後のメインコンデンサ電圧の測定」を行う工程において、所定時間内に所定電圧で充電してメインコンデンサの電圧が予め決めた設定範囲内に達しないものを不合格（ＮＧ）としている。この工程では、漏れ電流が低下しているか否かを検査しており、電気的に修復すれば回復して再使用できるものまでＮＧとしているので、リサイクル効率が低下していた。

また、前記工程において、ＮＧ品に対して繰り返し充電する修復動作を行ってから再び検査を行うことも考えられる。しかし、前述した公報に記載の装置では、複数の検査ステーションのうちの一カ所でも修復に時間がかかると、他の検査ステーションの全部が待ちとなるため、作業効率が悪いという欠点があった。

本発明の目的は、上述のような背景に鑑みてなされたもので、ストロボユニットのコンデンサに対して電気的な修復を行うようにしてリサイクル効率を向上するように工夫したストロボユニットの検査装置を提供することにある。また、前記修復を行うために長い時間がかかっても、他の工程のタクトに支障をきたさないように工夫したストロボユニットの検査装置を提供することにある。

上記目的を達成するために、本発明では、使用済みのレンズ付きフイルムユニットから再使用するために取り出したストロボユニット内のメインコンデンサの両端子に電圧を印加して充電を行うとともに、その電圧印加中に前記メインコンデンサの両端子間の電圧を測定し、測定電圧が前記電圧印加した時点から第１所定時間内に予め決めた電圧に達するか否かで合否を判断するストロボユニットの検査方法において、前記検査の結果が不合格と判断されたストロボユニットに対しては、前記メインコンデンサの両端子に電圧を前記第１所定時間よりも長い第２時間だけ印加して充電を行うとともに、その充電完了後に放電し、その後に再び検査するようにしたものである。

第２の充電及び放電を行う工程を、第１の充電及びメインコンデンサの劣化検査を行う工程と同じ工程で行うようにしてもよいし、異なる工程で別々に行うようにしてもよい。同じ工程で行う場合には、検査ラインの一部に配した検査工程で行うとともに、放電完了後に、そのストロボユニットを再び検査工程の上流側に投入して再検査を行うように構成すればよい。検査ラインを循環式に構成すると、一々戻さなくても循環させればよいから簡便である。異なる工程で行う場合には、検査の結果が不合格と判断されたストロボユニットを検査ラインのうちの第１の充電及びメインコンデンサの劣化検査を行う検査工程とは異なる他の工程に搬送してここで第２の充電及び放電を行うとともに、その放電完了後に、そのストロボユニットを再び検査工程で再検査を行うように構成するのが望ましい。この場合も検査ラインを循環式にすると簡便である。なお、第１及び第２の充電としては、予め決められた所定電圧を印加する定電圧充電としてもよいし、耐電圧以下の直流高電圧を印加して高速充電を行っても良い。また、第２の充電の時間としては、予め決めた時間、例えば検査ラインのうちの他の工程の作業時間（タクト）に合わせて設定するのが好適である。

検査工程（ステーション）を複数設ける場合には、検査の結果が不合格と判断されたストロボユニットに対しては、前記メインコンデンサの両端子に電圧を前記所定時間よりも長い時間だけ印加して充電を行うとともに、その充電完了後に放電する修復作業によって、他の検査工程のタクトに支障をきたさないように、他の検査工程での検査作業中に修復作業を行い、他の検査工程に供給される新たな検査パレットに対する検査と並行して、先に不合格となったストロボユニットを保持する検査パレットに対して同じ検査工程で再び検査を行うようにすればよい。

このような検査工程を考慮すると、前記検査パレットを搬送方向に沿って一列に並んだ状態になるように前記検査ステーションと同じ数だけ取り込む取り込み口をもつ取り込み手段と；前記取り込み口に取り込んだ複数の検査パレットを前記搬送方向に対して直交する方向に同時に押し込むプッシャー手段と；前記検査ステーションと同じピッチで並設された複数のストック口を持っており、前記各検査ステーションで検査作業を行っている間に、前記プッシャー手段で押し込まれる検査パレットを前記各ストック口にストックするストック手段と；前記検査ステーションで合格したストロボユニットを保持する検査パレットが検査ステーションから取り出される複数の取り出し口を持つ取り出し手段と；前記検査ステーションと同じ数だけ設けられており、検査ステーションにある検査済みの検査パレットを前記取り出し口に取り出すとともに、前記ストック口にある未検査の検査パレットを空の検査ステーションに供給するチャンジャー手段と；全部の検査ステーションでの検査が完了した後に、合格したストロボユニットを保持する合格検査パレットが在る検査ステーションに対応するチェンジャー手段を作動させ、また、修復動作を行っているストロボユニットを保持する修復検査パレットが存在する検査ステーションに対応したチャージャー手段を非作動として、修復検査パレットを検査ステーションにそのまま残して、他の合格検査パレットを前記取り出し口に取り出すとともに、前記ストック口にストックされている検査パレットのうちの前記合格検査パレットを取り出した空の検査ステーションに未検査の検査パレットを前記空の検査ステーションに供給するように各チェンジャー手段の作動を個別に制御して全ての検査ステーションに検査パレットを取り込んで検査させ、その検査中に、前記取り込み口のうちの未検査の検査パレットを検査ステーションに供給した空のストック口に対応する取り込み口にのみに新たな検査パレットを供給する配列となるように前記取り込み手段の取り込み動作を制御する制御手段とを備えるのが、作業効率の面で好適である。

本発明によれば、ストロボユニットに設けられたメインコンデンサに充電を行っている間に、メインコンデンサの両端子間の電圧を測定し、前記測定した電圧が前記電圧を印加してから第１所定時間内に予め決めた電圧に達するか否かでメインコンデンサの電極が劣化しているか否かを判断し、劣化と判断したときに、メインコンデンサの両端子に電圧を前記第１所定時間よりも長い第２所定時間だけ印加して充電を行った後に放電する修復動作を行うとともに、その後に再び検査するようにしたから、メインコンデンサの電極の修復が簡便に行え、よってストロボユニットのリサイクル効率が向上する。

また、検査工程（検査ステーション）を複数設けた発明では、メインコンデンサの電極の修復を必要としない合格のストロボユニットに対して行う次ぎのストロボ発光検査と並行して、不合格のストロボユニットに対しての修復動作を行い、合格のストロボユニットを保持する検査パレットが検査工程から取り出され、次の未検査のストロボユニットを保持する検査パレットが供給されてその検査パレットに対して新たに行う検査と並行して、前回不合格のストロボユニットを保持する検査パレットに対して再び検査を行うようにしたから、他の工程のタクトに支障をきたすようなことがなく、検査と並行して効率よく修復動作を行うことができる。

フイルムユニット２は、図１に示すように、撮影機構等を備えたユニット本体３と、これを収納する外ケース４とから構成されており、この外ケース４に入れたままで写真撮影が行われる。この外ケース４からは、撮影レンズ５、ファインダー対物窓６、レリーズボタン７、撮影枚数表示板８、巻き上げノブ９、ストロボ発光部１０、及びストロボ充電スイッチ１１が露呈している。

図２において、ユニット本体３は、パトローネ付き写真フイルム１２が装填される本体部１３、この本体部１３の背面に被着され、本体部１３との間で写真フイルムを光密に収納する後カバー１４、本体部１３の前に被着される前カバー１５、本体部１３と前カバー１５との間に配置される露光ユニット１６、ストロボユニット１７とから構成されている。露光ユニット１６には、カウンター機構、シャッター機構、フイルム巻止め機構、及び撮影レンズ５等が内蔵され、これらは一体化されている。撮影レンズ５は、露光ユニット１６に組み込まれている。

本体部１３には、パトローネが装填されるパトローネ室２０と、パトローネから引き出された未露光の写真フイルムをロール状に収納するフイルム収納室２１とが設けられている。こられの底は開口となっており、後カバー１４に設けたプルトップ式の底蓋２２，２３によって塞がれる。フイルム収納室２１の底蓋２３は、写真フイルム装填の際にパトローネから未露光の写真フイルムをロール状に巻き取る治具等を挿入するためのものであり、またパトローネ室２０の底蓋２２は、撮影終了後に撮影済みフイルムを収納したパトローネを取り出すときの蓋となる。

パトローネ室２０と未露光フイルム収納室２１との間には、露光開口２４が成形されており、この前面に露光ユニット１６が爪結合によって着脱自在に取り付けられる。露光ユニット１６の右横、すなわち未露光フイルム収納室２１の前面には、ストロボユニット１７が爪結合によって着脱自在に取り付けられる。

ストロボユニット１７は、図３に示すように、ストロボ基板２５とこれに形成されたスルーホールに半田付けされる電気部品とから構成されている。電気部品は、充電開始用接点２６，２７が形成された銅箔パターン等が印刷されており、プロテクター、リフレクター、トリガ電極板、及び放電管からなるストロボ発光部１０、シンクロスイッチ３３、電源電池３４（図２参照）が取り付けられる電極板３５，３６、メインコンデンサ３７、ネオン管やＬＥＤである充電表示ランプ３８等の部品で構成されている。また銅箔パターンの上には、製造時期と再使用回数及びその時期とを表示するための表示部３９が設けられている。

ストロボ充電スイッチ１１とストロボ基板２５との間には受け板２９が挟装される。受け板２９は、ストロボ基板２５の上に位置決めされる。ストロボ充電スイッチ１１は、受け板２９により変位がガイドされる。充電開始用接点２６，２７は、ストロボ充電スイッチ１１の変位に応動して、その背面に設けた短絡板４０の接触によりＯＮする。充電表示ランプ３８は、メインコンデンサ３７への充電が完了した際に点滅又は点灯し、外ケース４に設けた開口４ａを通して外部に充電完了を表示する。また、シンクロスイッチ３３は、露光ユニット１６に設けたシャッタ羽根が固定の絞り開口を全開する際に一方の接片３３ａを押圧し、この接片３３ａが他方の接片３３ｂに接触することによりＯＮする。

図４に示すように、ストロボユニット１７の回路４１は、充電開始用接点２６，２７がＯＮされると、昇圧回路４２により電極板３５，３６にセットされた電源電池３４の電圧が昇圧され、この高電圧出力がトリガ用コンデンサ４４及びメインコンデンサ３７を充電するようになっている。トリガ用コンデンサ４４には、トリガ用トランス４５が接続され、その一次巻線４５ａにはシンクロスイッチ３３の接片３３ａが、二次巻線４５ｂには放電管３１の放電を開始させるためのトリガ電極板３０がそれぞれ接続されている。なお、符号３８は、充電完了表示用のネオン管である。また、この図４は、検査時のストロボユニット１７の回路の状態を示しており、電極板３５，３６には電源電池３４の代わりに、１．６Ｖの定電圧電源４３が接続されるとともに、メインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂには直流高電圧供給装置１８が直接に接続される。この直流高電圧供給装置１８については後述する。

放電管３１は、両端子がメインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂに接続され、メインコンデンサ３７に蓄えられた電荷によって放電する。プロテクター２８は前面が外ケース４から露呈されており、被写体に向けて配光する。リフレクター２９は、放電管３１から放電された光をプロテクター２８に向けて反射させる。

工場では、現像所から回収したフイルムユニット２を供給コンベヤに移載し、ここで、外ケース４を取り外した後、移載装置によりフイルムユニット２の分解ライン６５（図５参照）に搬送する。この分解ライン６５は、自動化となっており、インデックス回転テーブルにフイルムユニット２を順次移載して分解してゆく。

インデックス回転テーブルには、所定間隔ごとに複数の分解パレットが固定されており、この分解パレットにフイルムユニット２が１個ずつ一定の姿勢で保持される。保持されたフイルムユニット２は、各ステーションで自動的に分解される。これにより、巻き上げノブ９、前カバー１５、レンズ５、短絡板４０、ストロボユニット１７、露光ユニット１６、電池３４、及び後カバー１４が結合している本体部１３とに分解される。

巻き上げノブ９、前カバー１５及び本体部１３は、同じプラスチック材料であるからそのままの状態で樹脂再生工程に送られ、ペレット化される。これとは異なったプラスチック材料である撮影レンズ５は、別の樹脂再生工程に送られる。また、短絡板４０は金属再生工程に送られる。さらに、露光ユニット１６は、機能検査を行った後にフイルムユニットの組立ライン７０（図５参照）に送られる。なお、電源電池３４は、専門の電池回収業者に引き渡される。

取り出されたストロボユニット１７は、表示部３９から製造時期と再使用回数及びその時期とが自動的に読み取られ、耐用年数を経過していないものが検査ラインに投入される。この検査ライン１０２は、図５に示すように、ストロボユニット１７を一定の姿勢で保持させた検査パレット５０を複数の検査工程に順に供給して、ストロボユニット１７の形状、電気特性、外観、及び動作等を検査し、この検査結果の情報に応じてストロボユニット１７を合格、準不合格、不合格の３種類に仕分ける。

検査ライン１０２は、ストロボユニット供給工程５１、履歴データ転送工程５２、エアークリーニング工程５３、プロテクタークリーニング工程５４、電気検査工程５６、外観検査工程５５、履歴マーキング工程５７、合格品払出し工程５８、準不合格品払出し工程５９、及び不合格品払出し工程６０とから構成されている。

このうち電気検査工程５６は、１２個の検査ステーションからなる。各検査ステーション５６ａ〜５６ｌには、それぞれ１台ずつ電気検査機が設けられている。電気検査工程５６は、１２個の検査パレットを同時に取り込んで、１２個のストロボユニット１７を同時に検査する。これらの電気検査工程５６の前後には、取り込み装置６２及び取り出し装置６３が設置されており、また、取り込み装置６２の前後、及び取り出し装置６３の後には、複数の検査パレットを待機するためのストック装置６４、１４０，１４１がそれぞれ設置されている。

検査パレット５０には、図６及び図７に示すように、ストロボユニット１７を一定の姿勢に保持する２つの押さえ爪６６，６７が設けられている。ストロボユニット１７は、検査パレット５０によりプロテクター２８が上方に、且つストロボ基板２５に対してプロテクター２８とは逆側に設けられたメインコンデンサ３７が下方に向いた一定の姿勢で保持される。また、この押さえ爪６６，６７によってストロボユニット１７が保持されたときに、ストロボユニット１７は、２つの位置決めピン６８，６９により精度良く位置決めされる。押さえ爪６６，６７は、軸７１，７２を中心に回動自在となっており、バネ７３，７４によりストロボユニット１７を保持する方向に向けて付勢されている。供給及び払出し工程５１，５８，５９，６０には、押さえ爪６６，６７をバネ７３，７４の付勢に抗して回転させる押圧機構が設けられている。この押圧機構の作動により検査パレット５０とストロボユニット１７との着脱が行われる。

検査パレット５０には、情報管理手段として光通信機能を備えたＩＤ（Identification）ユニット７５が設けられている。このＩＤユニット７５は、前面に配置された投光窓７５ａ、受光窓７５ｂを介して、検査パレット５０にセットされたストロボユニット１７の履歴データや検査データ等を記憶するとともに、これらのデータを制御手段としてのコンピュータ（図５参照) ７６に転送する。

図８に示すように、ＩＤユニット７５は、前記投光窓７５ａ、受光窓７５ｂを介してコンピュータ７６（図５参照）等とデータの送受信を行う赤外線投受光部７７、通信Ｉ／Ｆ７８、ＣＰＵ７９、メモリ８０からなる。このメモリ８０は検査項目毎にアドレスが決めてあり、このアドレスに検査結果が寸法、面積等のデータで書き込まれる。また、このアドレスには検査済みか否かのデータも書き込まれる。また、各検査機、コンピュータ７６、及び後述する集積部等には、ＩＤユニット７５とデータの送受信を行うＩＤユニット８１が接続されている。このＩＤユニット８１は、赤外線投受光部８２、通信Ｉ／Ｆ８３、ＣＰＵ８４、入出力Ｉ／Ｆ（ＲＳ２３２Ｃ，デジタルＩ／Ｏ）８５から構成される。

電気検査装置６１は、図９に示すように、遮光カバー８６、スイッチング用及び給電用に用いられる８本のプローブ、ネオン管発光検知部（図示なし）、制御部８８、アクチュエータ８９、ストロボ光測定部９０、定電圧電源４３、及び直流高電圧供給装置１８から構成されており、プローブ８７、ネオン管発光検知部、アクチュエータ８９は遮光カバー８６の内部に固定されている。遮光カバー８６は、ストロボ発光量を測定するときに、他のストロボユニット１７のストロボ発光部から発光されるストロボ光が浸入しないようにするためのものである。この遮光カバー８６は、検査パレット５０の在席を検知すると、図示していないシリンダー等の移動機構によって検査パレット５０から退避した退避位置と検査パレット５０に近寄った接近位置との間で移動する。この移動は、検査パレット５０に対して垂直方向となっている。

プローブ８７のうちの給電用プローブは、後端がケーブルを介して直流高電圧供給装置１８、定電圧電源４３、及び制御部８８に接続されており、また遮光カバー８６が接近位置のときに先端がストロボ基板２５の上の所定の接点に接触する。このプローブが接触する端子は、電池用（＋，−）電極板３５，３６である。

ストロボユニット１７を保持した検査パレット５０が電気検査工程に搬送されると、図示していないベース部が接近位置に移動する。このベース部の移動により、プローブ８７を構成するスイッチング用プローブ、測定用プローブ、シンクロ接点用プローブ、及び、給電用プローブが、充電開始用接点２６，２７、メインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂ、シンクロスイッチ３３の両電極、及び電源電池３４用の電極板３５，３６にそれぞれ接触し、また、詳しくは後述するアクチュエータ及び光センサはシンクロスイッチ３３、充電開始用接点２６，２７、ストロボ発光部１０、及びストロボ充電完了表示用の充電表示ランプ３８の各々の近傍に位置決めされる。そして、制御部８８は、スイッチング用プローブ、測定用プローブ、及び給電用プローブを介してメインコンデンサ３７に充電を行い、アクチュエータの作動によりシンクロスイッチ３３をオンさせてストロボ発光部１０を発光させるとともに、光センサで受光したストロボ発光部１０からの光量が規定レベルに達しているか否か、また充電時間が規定時間内か否か、シンクロスイッチ３３の接触抵抗が規定値以下か否か、ストロボ充電完了表示用の充電表示ランプ３８の点滅又は点灯が正常か否か等のストロボ発光検査によって合否を判定する。

ストロボ光測定部９０は、遮光カバー８６に設けた開口８６ａの上に固定されており、開口８６ａ、拡散板９１、及びＮＤフィルター９２を順に通って入射したストロボ光をフォト・ダイオード９３で受光し、フォト・ダイオード９３で得られた信号を制御部８８に送る。

直流高電圧供給装置１８は、図４で説明したように、給電用のプローブを介してメインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂに直接にメインコンデンサ３７の耐電圧以下、例えばＤＣ３５０Ｖの直流高電圧を印加するもので、直流高電圧電源１９、スイッチ３２、電流制限用の抵抗４６、逆流防止用のダイオード４７、電圧検出部４８、及びスイッチ駆動部４９からなる。電圧検出部４８は測定用のプローブを介してメインコンデンサ３７の端子電圧を常時測定しており、端子電圧が予め設定した所定の電圧、例えば２７０Ｖになったときに、スイッチ駆動部４９を介してスイッチ３２をＯＦＦにし、メインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂに対する直流高電圧充電を停止する（図１０に示す実線参照）。なお、スイッチ駆動部４９は、フイルムユニット２に組み込むときに改めて検査する必要がないように、製品と同じストロボ充電スイッチ１１を用いて行っている。

充電表示ランプ発光検知部１３４は、図１１に示すように、例えばライトガイド（樹脂製プリズム）１３５と受光センサ１３６とで構成されている。従来の検知部は、受光センサを直接に充電表示ランプ３８の近傍に移動させる構成にしていたため、受光センサの光軸を充電表示ランプ３８に対して精度良く位置決めしないと、光量値の変動が起こり、判定し難かった。しかも、充電表示ランプ３８は、トリガ用コンデンサ４４やトリガ用トランス４５の近傍に配されているため、受光センサがこれら電子部品４４，４５から発生する高電圧の影響を受けて故障することがあった。

そこで、ライトガイド１３５の一端１３５ａに受光センサ１３６を取り付け、ライトガイド１３５の他端１３５ｂを、充電表示ランプ３８から放たれる光を集光する向きの斜面に形成し、他端１３５ｂを充電表示ランプ３８に近づける位置と離れる位置との間で移動するように構成している。なお、ライトガイド１３５の代わりに、光ファイバーなどの非導電性の導光部品を用いても良い。

ストロボユニット１７の検査が開始され、メインコンデンサ３７が充電状態になると充電表示ランプ３８が点滅又は点灯する。この光は、ライトガイド１３５を通って受光センサ１３６の受光面１３６ａに導かれる。受光センサ１３６で充電完了表示の光を検出すると、その検出に応じて検知信号を制御部８８に送る。

アクチュエータ８９は、図１２に示すように、ソレノイド９５、連結板９６、バネ９７、固定ガイド棒９８、及び叩き棒９９とから構成されており、遮光カバー８６が接近位置のときにシンクロスイッチ３３の近傍に位置決めされる。ソレノイド９５は、制御部８８の制御により駆動される。このソレノイド９５がＯＮすると、プランジャー９５ａに連結された連結板９６が軸１０１を中心として反時計方向に回転する。叩き棒９９は、固定ガイド棒９８にしたがってシンクロスイッチ３３の接片３３ａを叩く叩き位置とこれから退避する退避位置との間で移動自在となっており、バネ９７により退避位置へ向けて付勢されている。そして、叩き棒９９は、連結板９６の反時計方向への回転により叩き位置に向けて移動しシンクロスイッチ３３をＯＮする。

制御部８８は、各プローブ８７を通して各接点間の抵抗、リーク、電圧や電流等の測定やアクチュエータ８９の制御等を、予め定められたシーケンスに基づいて実行する。そして、各検査項目毎に得られた測定データを階級化処理し、所定の閾値により合格，準不合格，不合格の判定を行った後、この各測定データ及び各判定データをＩＤユニット８１を介して検査パレット５０のＩＤユニット７５に転送すると同時に、コンピュータ７６に伝送する。なお、検査の迅速化のため、１項目でも不合格の判定が出たストロボユニット１７は、その時点で以降の全ての検査は中止されるが、例えば検査開始後間もない段階の１００Ｖ以下の低圧領域での充電で、充電は実施できるが電圧の上昇速度が遅い場合には、メインコンデンサ３７の劣化を修復するために充電を継続する。また、合格及び準不合格の判定の場合には、検査は継続され、その都度検査データはＩＤユニット７５に記憶されるとともにコンピュータ７６に伝送される。

次に、ストロボユニット１７の検査ラインの作用を説明する。ストロボユニット供給工程５１では、フイルムユニット分解ライン６５から供給されたストロボユニット１７を各検査パレット５０に保持させるとともに、ＩＤユニット７５の全データをリセットする。このリセットに際しては、そのままで判定されたときには判定結果が必ず不合格となるデータ、例えば“Ｆ”を書き込む。これは、通信異常や作業ミスによって測定データや判定データがＩＤユニット７５に書き込まれなかったときに、データ不明のものを間違って合格品として集積されることを防止するためのものである。また、搬送先のデータ・検査条件のデータでも“Ｆ”を使用しないようにすることによりデータ異常が検出できるので、例えば再度検査を実行させたり、途中排出させたりという処理を行うことができる。

履歴データ転送工程５２では、まず表示部３９からマーキングされている生産年月日、生産工場、製品タイプ、使用回数、リユース許可年月日が読み取られ、これらのデータとともに、検査条件、集荷地区、分解装置等の工程経路の実績等のデータが履歴データとしてＩＤユニット７５に転送される。この表示部３９の読み取りは、例えば履歴データ転送工程５２に設けられた専用のコンピュータに接続された読み取りセンサによって行われ、この履歴データはＩＤユニット８１を介してＩＤユニット７５に転送される。

エアークリーニング工程５３では、ストロボユニット１７に向けてエアーを吹き付け、ストロボユニット１７に付着したゴミを吹き飛ばす。プロテクタークリーニング工程５４は、帯状のクリーニングテープが巻き付けられたクリーニングヘッドと、洗浄液を上方からプロテクター２８に向けて噴射する洗浄液噴射装置とが設けられており、洗浄液噴射装置から洗浄液が噴射された後に、検査パレット５０がクリーニングヘッドの下部まで移動した後に、クリーニングヘッドがプロテクター２８の表面を押圧する位置まで移動し、クリーニングテープを左右方向に数回往復運動してプロテクター２８の表面をクリーニングする。

プロテクタークリーニング工程５４を通過したストロボユニット１７は、ストック装置６４、取り込み装置６２，ストック装置１４０に順に送られて検査工程５６に供給され、ここで複数の検査パレット５０が同時に検査される。各検査工程５６には電気検査装置６１が設けられている。検査パレット５０は、位置決めストッパーで位置決めされれると、光電センサで在席が検知される。この在席検知後に、遮光カバー８６が下降して接近位置の状態となる。このとき各プローブ８７、アクチュエータ８９、及び充電表示ランプ発光検知部１３４が各々の近傍に位置決めされる。

電気検査装置６１による電気特性の測定は、図１３に示すシーケンスに従って行われる。先ず、メインコンデンサ３７の放電を行う。この放電中には、メインコンデンサ３７の電圧を測定しており、この電圧が、例えば２Ｖ以下となったら、この時点から１００ｍｓの時間経過後に終了とする。放電開始後から所定時間経過後にメインコンデンサ３７の電圧が２Ｖ以下にならない場合には、不合格であるからこの判定データをＩＤユニット７５に転送するとともに、コンピュータ７６に伝送した後、以降の検査を中止する。

合格したストロボユニット１７に対して、アクチュエータ８９を駆動させ、シンクロスイッチ３３の接触抵抗を測定する。測定は１０ｍｓの時間毎に５０回迄行う。判定は測定値が、例えば２Ω以上であったら不合格とする。５０回とも不合格の場合には、アクチュエータ８９の駆動を停止し、再度やり直す。やり直し回数は、設定値に応じて変更し、１回でも不合格がなければ次の検査に進む。

次に、電極板３５，３６の端子間のリーク電流を測定する。試験電圧は１．６Ｖで行い、判定は、例えば１μＡ以上をＮＧとする。次に、図１０の実線で示すように、第１の所定時間、例えば５００ｍｓ時間だけ電池電圧に相当する電圧１．６Ｖで充電（以下、「定電圧充電」と称す）を行い、この時のメインコンデンサ３７の電圧を測定する。この測定値が３０Ｖ以下を不合格とする。

しかし、予め決めた所定電圧の範囲、例えば２０Ｖ以上３０Ｖ未満の範囲で充電が可能であるが、電圧の上昇速度が遅いために合格にならない場合には、電解コンデンサであるメインコンデンサ３７の電極が劣化していると判断し、検査を中止してメインコンデンサ３７の修復をするために定電圧充電を継続する修復動作を行う。修復動作は、定電圧充電を前記第１の所定時間よりも長い第２の所定時間だけ行った後に放電を実施することで完了する。放電を完了するまでの時間は、合格したストロボユニット１７に対してストロボ発光検査が完了する時間に合わせてある。こうすることで他の工程の作業時間（タクト）に支障をきたすことはない。修復動作を実施したストロボユニット１７は、同じ検査工程で再度最初から検査を実施する。なお、図１０に点線で示したメインコンデンサ３７の電圧が修復動作時の電圧である。

続いて、直流高電圧供給装置１８のスイッチ３２をＯＮにしてメインコンデンサ３７の端子３７ａ，３７ｂに直接に、耐電圧以下の直流高電圧、例えば３５０Ｖの直流高電圧を印加して高速充電を行う。そして、充電表示ランプ３８が発光した時のメインコンデンサ３７の電圧を測定する。

この後、電圧検出部４８がメインコンデンサ３７の端子電圧を監視し、端子電圧が所定の設定電圧、例えば２７０Ｖに達することを検出することに応答してスイッチ駆動部４９がスイッチ３２をＯＦＦにする。これによって、直流高電圧供給装置１８による直流高電圧の印加が停止され、その後は定電圧充電のみが継続される。そして、この定電圧充電中に充電表示ランプ３８の点滅が持続されるかを検査する。時間は発光検知より、例えば２秒間行う。次に、放電を１００ｍｓの時間だけ行い、このときのメインコンデンサ３７の電圧が、例えば２３０Ｖ以上であれば不合格とする。そして、またスイッチ３２をＯＮにして高速充電を行い、充電開始からメインコンデンサ３７の電圧が規定電圧，例えば２２０Ｖに達した時点までの時間を測定する。判定は、例えば８秒以上である場合を不合格とする。

その後、１０ｍｓの時間だけアクチュエータ８９を駆動させ、シンクロスイッチ３３をＯＮする。このとき、制御部８８は、ストロボ光測定部９０から得られる信号を監視し、光量が規定レベルに達しているか否かを判定する。更に、ストロボ発光後のメインコンデンサ３７の電圧を測定し、この電圧が、例えば７０Ｖ以上であれば不合格とする。その後、定電圧充電を開始し、規定時間内に充電表示ランプ３８が発光するか否かを検査する。判定は、定電圧充電を開始してから充電表示ランプ発光検知部１３４から検知信号が得られるまでの時間が、例えば８秒以上かかる場合には不合格とする。そして、充電表示ランプ３８が発光した時点のメインコンデンサ３７の電圧を測定する。判定は、例えば２８０〜３１０Ｖ以外の場合には不合格とする。更に、そのまま低電圧充電を継続し、充電を開始してから規定時間、例えば１０秒以内でメインコンデンサ３７の電圧が規定電圧、例えば３１０Ｖに達するか否かを判定する。また、この間で充電表示ランプ３８の点滅回数を計数する。この判定は、例えば１秒間に１７カウント以上を不合格とする。

次に、アクチュエータ８４を駆動させ、シンクロスイッチ３３をＯＮする。これによりストロボ発光が行われ、発光後のメインコンデンサ３７の電圧が規定電圧、例えば７０Ｖ以上であれば不合格とする。最後にメインコンデンサ３７の放電を所定時間、例えば２秒間行い、放電後のメインコンデンサ３７の電圧が規定電圧、例えば５Ｖ以上であれば不合格とする。なお、電気検査中にメインコンデンサ３７の電圧が、例えば３５０Ｖを越えるとただちに不合格と判定し、検査を中止する。

検査が終了すると、検査パレット５０は検査ステーション５６ａ〜５６ｌから１２個同時に取り出しステーションに送られ、そして、次の検査対象を載せた検査パレット５０が検査ステーション５６ａ〜５６ｌに供給されて各々位置決めされる。ここで、複数の検査パレット５０を電気検査工程５６に同時に取り込んで電気検査を行った後に次の外観検査工程５５に排出するまでの流れを説明する。

図５で説明したように、検査パレット５０は、略横長矩形条の検査ライン１０２に無限循環で搬送される。ストック装置６４，１４０，１４１、取り込み装置６２、取り出し装置６３、電気検査工程５６は、検査ライン１０２のコーナー部に設置されている。

図１４に示すように、検査パレット５０（クロスハッチング部）は、搬送方向に送られてストック装置６４に搬送方向に沿ってストックされる。ストック装置は、検査パレット５０を１個ずつ取り込み装置６２に送る。取り込み装置６２には、搬送方向に沿って検査パレット５０を取り込む取り込み口６２ａ〜６２ｌが検査ステーション５６ａ〜５６ｌと同じ数だけ搬送方向に沿って設けられている。取り込み口６２ａ〜６２ｌは、検査ステーション５６ａ〜５６ｌと同じピッチで、且つ検査ステーション５６ａ〜５６ｌと平行に並んでいる。検査パレット５０は、図１５に示すように、取り込み口６２ａ〜６２ｌのうちの搬送方向の上流側の取り込み口６２ａから下流側（奥）の取り込み口６２ｌに向けて１個ずつ供給され、下流側の取り込み口６２ｌから取り込み口６２ａ〜６２ｌに１個ずつ取り込まれる。

取り込み装置６２と電気検査工程５６との間には、ストック装置１４０が配されている。ストック装置１４０も、１２個のストック口１４０ａ〜１４０ｌを持ち、ストック口１４０ａ〜１４０ｌは、検査ステーション５６ａ〜５６ｌと同じピッチで、且つ検査ステーション５６ａ〜５６ｌと平行に並んでいる。取り込み口６２ａ〜６２ｌの全部に検査パレット５０を取り込むと、これに応答して制御部１４４がプッシャー機構１４２を作動させ、図１６に示すように、各ストック口１４０ａ〜１４０ｌに各取り込み口６２ａ〜６２ｌにある検査パレット５０を同時にシフトする。

各ストック口１４０ａ〜１４０ｌから各検査ステーション５６ａ〜５６ｌには、図１７に示すように、チェンジャー機構１４６が個別に設けられている。各チェンジャー機構１４６は、ストック口１４０ａ〜１４０ｌにある検査パレット５０を個別に検査ステーション５６ａ〜５６ｌに送ると同時に、検査ステーション５６ａ〜５６ｌにある検査済みの検査パレット５０を取り出し装置６３の取り出し口６３ａ〜６３ｌに個別に送り出す。なお、修復動作中の検査パレット５０がある場合には、その検査ステーション５６ａ〜５６ｌに対応するチェンジャー機構１４６が作動しない。これら制御は制御部１４４によって行われる。

図１８に示すように、各検査ステーション５６ａ〜５６ｌで検査パレット５０に対して電気検査が行われている時には、次回の検査パレット５０がストック口１４０ａ〜１４０ｌに待機している。電気検査が終了すると、制御部１４４が各チェンジャー機構１４６ａ〜１４６ｌを作動させ、図１９に示すように、各チェンジャー機構１４６ａ〜１４６ｌが検査ステーション５６ａ〜５６ｌにある各検査パレット５０を取り出し口６３ａ〜６３ｌに送ると同時に、ストック口１４０ａ〜１４０ｌにある検査パレット５０を検査ステーション５６ａ〜５６ｌに送り出す。そして、取り出し口６３ａ〜６３ｌに送られた電気検査済みの検査パレット５０は、図２０に示すように、搬送方向とは逆のリターン方向に向けて１個ずつ送られてストック装置１４１に貯められると同時に、新たな検査パレット５０がストック装置６４から取り込み装置６２に送られる。ストック装置１４１は、電気検査済みの検査パレット５０を順次に履歴マーキング工程５７に送り出す。

次に、電気検査中に修復動作が行われた場合について説明する。例えば図２１に示すように、検査ステーション５６ａ〜５６ｌのうちの検査ステーション５６ｅ，５６ｈにある検査パレット５０のストロボユニット１７に対して修復動作中である場合、修復動作中の検査ステーション５６ｅ，５６ｈ以外の通常動作中の検査ステーション５６ａ〜５６ｄ，５６ｆ，５６ｇ，５６ｉ〜５６ｌにある検査パレット５０に対して電気検査が終了後した時点又は終了する前に、修復動作中の検査ステーション５６ｅ，５６ｈにある電気検査装置６１の制御部８８から修復動作中である旨の修復動作信号が制御部１４４に個別に送られる。制御部１４４は、修復動作信号を受け取ることで、どの検査ステーション５６ａ〜５６ｌで修復動作が行われているか否かを特定する。そして、通常動作中の検査ステーション５６ａ〜５６ｄ，５６ｆ，５６ｇ，５６ｉ〜５６ｌにある検査パレット５０で電気検査が終了すると、通常動作中の検査ステーション５６ａ〜５６ｄ，５６ｆ，５６ｇ，５６ｉ〜５６ｌに応じたチェンジャー機構１４６ａ〜１４６ｄ，１４６ｆ，１４６ｇ，１４０ｉ〜１４０ｌのみを動作させる。

これにより、図２２に示すように、修復動作中の検査ステーション５６ｅ，５６ｈにある検査パレット５０はそのままで、通常動作中の検査ステーション５６ａ〜５６ｄ，５６ｆ，５６ｇ，５６ｉ〜５６ｌにある検査パレット５０のみが取り出し装置６３に送られ、また、空いた検査ステーション５６ａ〜５６ｄ，５６ｆ，５６ｇ，５６ｉ〜５６ｌに新たな検査パレット５０が供給される。このとき、ストック装置１４０のストック口１４０ｈ，１４０ｅには、新たな検査パレット５０が残った状態となっている。

取り込み装置６２のプッシャー機構１４２は、複数の検査パレット５０をいっぺんにストック装置１４０に供給する。よって、検査パレット５０を取り込み装置６２に全部取り込むと、ストック口１４０ｅ，１４０ｈで検査パレット５０同士がぶつかる。そこで、検査パレット５０をストック装置６４から取り込み装置６２に１個ずつ取り込むときに、制御部１４４は、図２３に示すように、ストック装置１４０のストック口１４０ａ〜１４０ｌのうちの検査パレット５０が在るストック口１４０ｅ，１４０ｈに対応する取り込み口６２ｅ，６２ｈが空きとなる配列となるように、検査パレット５０をストック装置６４から順次取り込む。このような配列は、供給側コンベヤ上にある検査パレット５０を同時に１ピッチ分送る取り込み装置６２に設けたコンベヤを、取り込み口６２ａ〜６２ｌのピッチ分だけ１回空送りさせるように制御することで行える。

取り込み後には、取り込み装置６２には、図２３に示すように、ストック装置１４０での検査パレット５０の空きに対応した配列で検査パレット５０が取り込まれる。その後、制御部１４４がプッシャー機構１４２を作動させ、プッシャー機構１４２が取り込み装置６２にある検査パレット５０をストック装置１４０に送り込む。これにより、図２４に示すように、ストック装置１４０には、ストック口１４０ａ〜１４０ｌに、前回の残りの検査パレット５０に加えて新たな検査パレット５０が供給され、次回に検査する数の検査パレット５０がストックされる。

修復動作を行った検査ステーション５６ｅ，５６ｈにある検査パレット５０に対しては、１回目の電気検査途中でＮＧになっているから、通常動作中の検査ステーション５６ａ〜５６ｄ，５６ｆ，５６ｇ，５６ｉ〜５６ｌにある検査パレット５０に対しての電気検査が完了するまでに修復動作が完了し、新たに取り込んだ検査パレット５０とともに２回目の電気検査が行われる。ここで、前回修復動作を行った検査ステーション５６ｅ，５６ｈにある検査パレット５０は、これらに保持されたストロボユニット１７に対して電気検査が合格となった場合、チャンジャー機構１４６により取り出し装置６３に送り出される。以後、前述したように新たな検査パレット５０が検査ステーション５６ａ〜５６ｌに送られ、次回の電気検査が通常どおりに行える。

電気検査工程５６での測定データ及び判定データは、各検査パレット５０のＩＤユニット７５に記憶されるとともに、コンピュータ７６に伝送される。そして、コンピュータ７６に接続されたＣＲＴの画面に表示されているメニュー項目から、「不良発生項目別累計」もしくは「測定データ」を選択すると、図２５及び図２６に示すように、「不良発生項目別累計」や「測定データ」がＣＲＴ画面にオンライン表示される。「不良発生項目別累計」は、検査ステップ毎に発生した不良品の数を生産管理時間又は作業者のリセット操作時から累計するもので、各時点の不良発生率も分かるようになっている。なお、図２５及び図２６において、チャンネルが８個あるのは、電気検査工程５６が８ライン迄対応できるように構成されていることを示している。そして、図２５及び図２６に示されているＣＲＴ画面の表示でチャンネル３，５がＮＧで他がＯＫとなっているのは、直前の検査においてチャンネル３，５はＮＧであり、チャンネル１，２，４，６，７，８はＯＫであることを示している。

コンピュータ７６に伝送された各判定データは、各ストロボユニット１７毎に集積され、全検査項目の判定データが揃った時点で各ストロボユニット１７が総合判定される。この結果、各ストロボユニット１７は、例えば「合格品」，「準不合格品」，「不合格品」の３種類に分けられる。「合格品」は全検査項目の判定データが合格で、そのまま再使用可能なものである。「準不合格品」は１項目でも準不合格の判定データを含むもので、修理すれば再使用可能なものである。「不合格品」は前述したように１項目でも不合格の判定が出て以降の全検査が中止されたもので、再使用が不可能であるから、集積後廃棄される。

また、全検査項目の測定データ及び判定データが揃うと、オフラインでの測定データ一覧及び度数分布グラフの表示を行うことができる。測定データ一覧は、例えば、シンクロスイッチの接触抵抗値，リーク電流値，ストロボ発光の光量，充電時間（４点），ネオン管の発光電圧，ネオン管の点滅回数，充電電圧の計１０項目の測定データを測定の時系列に一覧表示したり、例えば、図２７に示すように、各検査ステップでの判定結果を時系列に一覧表示するものである。

測定データの度数分布グラフは、例えば、シンクロスイッチの接触抵抗値，リーク電流値，ストロボ発光の光量，充電時間（４点），ネオン管の発光電圧，ネオン管の点滅回数，充電電圧の計１０項目について、メーカー，ロット毎に収集した測定データをそれぞれ度数分布グラフに表示し、市場評価等の解析に利用するものである。例えば、図２８に示すグラフは、シンクロスイッチの接触抵抗値についての度数分布グラフをＣＲＴ画面に表示したものである。

電気検査工程５６を通過したストロボユニット１７は、ストック装置１４１に送られ、ここから１個ずつ外観検査工程５５に向けて搬送される。外観検査工程５５は、各電気部品の姿勢検査、プロテクター２８の表面の傷、及び汚れ等の検査、リフレクター２９の内面汚れ検査、シンクロスイッチ３３の曲がり検査、充電表示ランプ３８及びメインコンデンサ３７の曲がり検査、及び電極板３５，３６の曲がり検査を行う。そして、これらの測定データ及び判定データは、各検査機からＩＤユニット７５に転送されるとともに、ＩＤユニット８１を介してオンラインでコンピュータ７６に伝送される。

外観検査工程５５を通過したストロボユニット１７は、履歴マーキング工程５７に向けて搬送される。この履歴マーキング工程５７では、「合格品」のストロボユニット１７の表示部３９にマーキングを施し、再使用回数の履歴を記録する。そして、コンピュータ７６からＩＤユニット８１を介して、各検査パレット５０のＩＤユニット７５に総合判定データが転送される。履歴マーキング工程５７を経たストロボユニット１７は、合格品払出し工程５８に搬送される。

合格品払出し工程５８では、検査パレット５０のＩＤユニット７５から総合判定データを読み取ることにより、合格品のストロボユニット１７のみが払い出される。払い出されたストロボユニット１７は、合格品集積部１２１に所定量となるまで集積され、その後フイルムユニット２の組立ライン７０にそのまま供給される。

合格品払出し工程５８を経て残ったストロボユニット１７は、準不合格品払出し工程５９に搬送される。ここでは、準不合格品のストロボユニット１７のみが払い出され、準不合格品集積部１２２に搬送される。そして、ストロボユニット１７は検査パレット５０からトレイに移される。このトレイの各々にもＩＤユニット７５が設置されており、検査パレット５０のＩＤユニット７５に記憶されていた全てのデータが各トレイのＩＤユニット７５に転送される。

準不合格品集積部１２２のトレイに集積されたストロボユニット１７は、ＩＤユニット７５のデータに従って不具合のある部品毎に仕分けされ、自動詰め替え機によって再集積部１２３に再集積される。このときの仕分け方法としては、例えば各検査項目毎の仕分けも可能であるが、この場合には例えば８０００項目以上となって実際的でない。そこで、同一部品毎に仕分けると、例えば５〜２０項目となって適度な項目数となるとともに、部品毎であるから修理の実施に際して都合がよい。そして、再集積部１２３に再集積されストロボユニット１７は、修理工程１２４に送られ、不良部品の手直しが行われる。手直しされたストロボユニット１７は、ストロボユニット供給工程５１に戻され、再検査された後、合格品と判定された場合には、合格品払出し工程５８、合格品集積部１２１を経てフイルムユニットの組立ライン７０に供給される。

準不合格品払出し工程５９を経て更に残ったストロボユニット１７は、不合格品払出し工程６０に搬送される。ここで、不合格品のストロボユニット１７が払い出され、不合格品集積部１２５に集積された後、部品交換修理工程で修理される。

以上説明した実施例では、電気検査工程を１２個の検査ステーションで構成しているが、１２個に限ることなく、例えば１個だけでもよい。この場合、メインコンデンサ３４の劣化検査のための充電及び検査と、修復のための充電及び放電とを同じ工程で行い、放電完了後に再び検査工程に循環させるようにするのが好適である。また、メインコンデンサ３４の劣化検査のための充電及び検査と、修復のための充電及び放電とを同じ工程で行う代わりに、別々の工程で行っても良い。この場合も修復工程でメインコンデンサの劣化を修復した後に、検査ラインを循環させて再び検査を行うように構成するのが好適である。さらに、メインコンデンサの劣化検査のための充電を高速充電で、また修復のための充電を定電圧充電としているが、これらに限らず、メインコンデンサの劣化検査のための充電を定電圧充電で、また修復のための充電を高速充電としてもよい。

また、上記実施形態では、各検査項目毎の判定は各検査機で行い、この判定データをオンラインでコンピュータに伝送するようにしたが、個々の測定データはＩＤユニットに記憶しておき、全ての検査が終了した後、コンピュータがＩＤユニットから全検査項目の測定データを読み出して各検査項目毎の判定及び総合判定を行うようにしてもよい。この場合には、判定の閾値も１ヶ所で管理することができる。

また、前記再集積の作業は、自動詰め替え機によって行ったが、人手によって行ってもよい。また、不具合の発生頻度が少ない部品は、複数の部品を同一のトレイに集積するのがよい。また、上記実施例では、各トレイ毎にＩＤユニットを設置したが、例えばトレイに識別番号を付け、各トレイの集積位置に対応して不具合部品データとトレイの識別番号を印字した紙を修理品のストロボユニットの各々に添付してもよい。また、修理品のストロボユニットは、修理部門毎に１つのトレイに集積するようにしてもよい。

また、ＩＤユニットに、例えばＬＥＤや液晶表示板等の表示手段を設け、目視によって総合判定等のデータを確認できるようにしてもよい。また、修理の方法は、検査ライン内で行っても、外部で行ってもよく、また治具等を用いて復元するものと、新しい部品と交換するものとがある。また、ＩＤユニットの通信機能として、光通信を採用したが、この他に、マイクロ波通信、磁気通信等を用いることができ、通信距離、コスト等の点から使い分けることができる。なお、本発明は、リサイクル品だけでなく、新規作成のストロボユニットの検査にも用いることができる。

捨てられたカメラに内蔵のストロボ装置を取り出して再使用するときにも本発明を採用することができる。

レンズ付きフイルムユニットの外観を示す斜視図である。ユニット本体の分解斜視図である。ストロボユニットの分解斜視図である。ストロボユニット及び直流高電圧供給装置の回路図である。ストロボユニットの検査ラインの概略を示す説明図である。検査パレットを示す斜視図である。検査パレットにストロボユニットを固定した状態の背面図である。ＩＤユニットの構造を概略的に示す説明図である。ストロボユニットの検査装置の概略を示す説明図である。メインコンデンサの端子電圧の変移を示すグラフである。充電完了表示用のネオン管の発光を検知する検知部の概略を示す斜視図である。シンクロスイッチをオンするアクチュエータの概略を示す斜視図である。電気検査装置のシーケンスを示すフローチャートである。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査パレットを取り込み装置に取り込んでいる状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査パレットを取り込み装置に全て取り込んだ状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査パレットを取り込み装置からストック装置に取り込んだ状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査パレットをストック装置から検査ステーションに取り込んだ状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査ステーションで検査パレットを電気検査中に、ストック装置に新たな検査パレットをストックした状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査ステーションで検査済みの検査パレットを取り出し装置に送り、未検査の検査パレットをストック装置から取り込んだ状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査済みの検査パレットを取り出し装置から最終のストック装置に送っている状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、検査ステーションのうちの２個のステーションにある検査パレットに対して修復動作が行われている状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、修復動作中の検査ステーションにある検査パレットをそのままにして他の検査ステーションに未検査の検査パレットを供給した状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、ストック装置のうちの検査パレットが無い空きのストック口の配列と同じに取り込み装置に新たな検査パレットを取り込む状態を示している。電気検査工程に複数の検査パレットを送り込む動作を説明する説明図であり、空きのストック口に新たな検査パレットを供給した状態を示している。不良発生項目別累計表の表示例を示す説明図である。オンラインでの測定データの表示例を示す説明図である。オフラインでの測定データ一覧表の表示例を示す説明図である。測定データ度数分布グラフの表示例を示す説明図である。

符号の説明

２レンズ付きフイルムユニット
１７ストロボユニット
１８直流高電圧供給装置
４３定電圧電源
５０検査パレット
５６電気検査工程
６１電気検査装置
６２取り込み装置
６３取り出し装置
６４，１４０，１４１ストック装置
１４２プッシャー機構
１４６チャンジャー機構

Claims

使用済みのレンズ付きフイルムユニットから再使用するためにストロボユニットを取り出し、このストロボユニット内のメインコンデンサの両端子に電圧を印加して第１の充電を行うとともに、その第１の充電中に前記メインコンデンサの両端子間の電圧を測定し、測定電圧が前記電圧印加した時点から第１所定時間内に予め決めた電圧に達するか否かでメインコンデンサの劣化検査の合否を判断するストロボユニットの検査方法において、
前記検査の結果が不合格と判断されたストロボユニットに対しては、前記メインコンデンサの両端子に電圧を前記第１所定時間よりも長い第２所定時間印加して第２の充電を行うとともに、その充電完了後に放電し、その後に再び検査するようにしたことを特徴とするストロボユニットの検査方法。
前記第１の充電及びメインコンデンサの劣化検査を、循環式の検査ラインの一部に配した検査工程で行い、前記検査の結果が不合格と判断されたストロボユニットを前記検査工程とは異なり、その検査工程よりも検査ラインの搬送方向の下流側の他の工程に搬送してここで前記第２の充電及び放電を行うとともに、その放電完了後に、そのストロボユニットを循環させて再び検査工程で再検査を行うようにしたことを特徴とする請求項１記載のストロボユニットの検査方法。
前記第１の充電及びメインコンデンサの劣化検査と、前記第２の充電及び放電とを、循環式の検査ラインの一部に配した検査工程で行い、その放電完了後に、そのストロボユニットを循環させて再び前記検査工程で再検査を行うようにしたことを特徴とする請求項１記載のストロボユニットの検査方法。
使用済みのレンズ付きフイルムユニットから再使用するためにストロボユニットを取り出し、このストロボユニット内のメインコンデンサの両端子に電圧を印加して充電を行うとともに、その電圧印加中に前記メインコンデンサの両端子間の電圧を測定し、測定電圧が前記電圧印加した時点から所定時間内に予め決めた電圧に達するか否かで合否を判断するメインコンデンサの電極の劣化検査と、その検査結果により合格したものだけに対して行うストロボ発光検査とを行って次の工程にストロボユニットを送り出すとともに、送り出した後に未検査のストロボユニットを新たに供給して再び前記劣化検査を行う検査工程を複数備えており、前記各検査工程で前記劣化検査を並行して行うようにしたストロボユニットの検査方法において、
前記検査工程のうちの劣化検査で不合格と判断されたストロボユニットが存在する検査工程では、劣化検査で合格したストロボユニットに対してストロボ発光検査を行っている他の検査工程と並行して、前記メインコンデンサの両端子に電圧を印加して充電を行うとともに、その充電完了後で、かつ他の検査工程でのストロボ発光検査が完了すると同時、又はその直前に、前記メインコンデンサに蓄えた電荷を放電し、その後、他の検査工程に供給される未検査のストロボユニットと並行して再び前記劣化検査を行うようにしたことを特徴とするストロボユニットの検査方法。
使用済みのレンズ付きフイルムユニットから再使用するためにストロボユニットを取り出し、このストロボユニットを検査パレットで一定の姿勢に保持し、その検査パレットに保持した状態のストロボユニットに設けたメインコンデンサの両端子に電圧を印加して充電を行うとともに、その電圧印加中に前記メインコンデンサの両端子間の電圧を測定し、測定電圧が前記電圧印加した時点から所定時間内に予め決めた電圧に達するか否かでメインコンデンサの電極の修復が必要か否かを検査する検査作業を行って、検査の結果修復が必要な場合に、再び電圧を印加して充電を行った後に放電する修復動作を行い、その後に、再び前記検査を行う一連の作業を、前記検査パレットの搬送方向に所定ピッチで並設された複数の検査ステーションで並行して行うようにしたストロボユニットの検査装置であって、
前記検査パレットを、搬送方向に沿って一列に並んだ状態になるように、前記検査ステーションと同じ数だけ取り込む取り込み口をもつ取り込み手段と、
前記取り込み口に取り込んだ複数の検査パレットを前記搬送方向に対して直交する方向にシフトするプッシャー手段と、
前記検査ステーションと同じ数のストック口を持っており、前記各検査ステーションで検査作業を行っている間に、前記プッシャー手段でシフトされる検査パレットを前記各ストック口にストックするストック手段と、
前記検査ステーションで修復が必要なしと判断された合格のストロボユニットを保持する合格検査パレットが検査ステーションから排出される取り出し口を前記検査ステーションと同じ数だけ有した取り出し手段と、
前記検査ステーションと同じ数だけ設けられており、検査ステーションにある検査済みの検査パレットを前記取り出し口に排出するとともに、前記ストック口にある未検査の検査パレットを空きの検査ステーションに供給するチャンジャー手段と、
全部の検査ステーションでの検査作業が完了した後に、合格検査パレットが在る検査ステーションに対応するチェンジャー手段を作動させ、かつ、修復動作を行っているストロボユニットを保持する修復検査パレットが存在する検査ステーションに対応したチャージャー手段を非作動とすることで、修復検査パレットを検査ステーションにそのまま残して、他の合格検査パレットを前記取り出し口に排出するとともに、前記ストック口にストックされている検査パレットのうちの前記合格検査パレットを取り出した空の検査ステーションに、未検査の検査パレットを供給するように各チェンジャー手段の作動を個別に制御して全ての検査ステーションに検査パレットを取り込んで並行に検査させ、その検査中に、前記取り込み口のうちの未検査の検査パレットを検査ステーションに供給した空のストック口に対応する取り込み口のみに新たな検査パレットが供給される配列となるように、前記取り込み手段の取り込み動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とするストロボユニットの検査装置。