JP3379735B2 - 光線路試験方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光合分岐器、心線選択
装置、光パルス試験装置およびＣＰＵを含む光線路試験
システムを用いて光伝送路の光パルス試験を行う光線路
試験方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】光線路試験システムとしては特願平４−
７９０６号（特開平５−１９６５４３号）に記載されて
いるようなシステムが提供されている。この光線路試験
システムにおける従来の光パルス試験方法を図１、図６
および図７を参照して説明する。

【０００３】図１は光伝送システムおよび光線路試験シ
ステムの構成を示す概略図であり、特に、光パルス試験
装置の接続構成を示している。符号１は局内側伝送装
置、１ａは光源部、１ｂは受光部である。２は局外側伝
送装置、２ａは受光部、２ｂは光源部である。３ａ、３
ｂ、３ｃおよび３ｄは光ファイバ、４は光分岐モジュー
ル、５は試験光ファイバを選択する心線選択装置であ
り、ＣＰＵ（制御処理装置）の制御により光ＳＷのポー
トＡは、光ＳＷのポートｓ、ｔ、ｕ、ｖ、ｗ、ｘ、ｙお
よびｚに接続できる。６は光パルス試験装置（ＯＴＤ
Ｒ）、７はＣＰＵ（制御処理装置）、８はデータベース
であり、９は光フィルタ、１０は光フィルタ型反射器で
ある。

【０００４】図６は従来の光パルス試験方法の処理手順
を示す構成図である。同図において、光ＳＷ動作は、心
線選択装置５において、ＣＰＵ７からの指示で試験光フ
ァイバの選択を行うもので、ａはその処理の単位時間で
ある。ＯＴＤＲ測定条件設定は、ＯＴＤＲ６において、
ＣＰＵ７からの指示で光パルス試験開始時にデータベー
ス８に蓄積されている光ファイバの設備情報から予め抽
出した試験光ファイバの測定条件（例えば、試験波長、
距離レンジ、パルス幅等）の設定を行うもので、ｂはそ
の処理の単位時間である。オートアッテネータは、ＯＴ
ＤＲ６において、ＣＰＵ７からの指示で試験光ファイバ
の後方散乱光が飽和しないように後方散乱光レベルを自
動的に減衰させて測定に適した条件の設定を行うもの
で、ｃはその処理の単位時間である。

【０００５】加算平均化は、ＯＴＤＲ６において、ＣＰ
Ｕ７からの指示で設定した任意の回数の測定データを加
算平均して測定データ中に含まれるノイズ成分を低減す
る処理を行うもので、ｄはその処理の単位時間である。
データ転送は、ＯＴＤＲ６において、ＣＰＵ７からの指
示で測定が終了した測定データのＣＰＵ７への転送を行
うもので、ｅはその処理の単位時間である。波形解析結
果表示は、ＣＰＵ７において、ＯＴＤＲ６から転送たれ
た測定データを自動解析しその結果の表示を行うもの
で、ｆはその処理の単位時間である。

【０００６】図７は従来の光パルス試験方法の処理手順
に関して、特に、光ＳＷ動作およびＯＴＤＲ測定条件設
定の動作の一例を示すフローチャートである。次に、こ
れらの図を用いて従来の光パルス試験方法により光パル
ス試験を実施する例について説明する。

【０００７】図１における光ファイバ３ａの１心を光パ
ルス試験する場合、図７のステップＳＡ１において光パ
ルス試験が開始されると、ＣＰＵ７はデータベース８を
参照し、指定された試験光ファイバ（光ファイバ３ａ）
の心線選択装置収容位置におよびＯＴＤＲ測定条件情報
を抽出する。ステップＳＡ２では、ＣＰＵ７は心線選択
装置５に対して光ＳＷの動作を指示する。

【０００８】ステップＳＡ３では、心線選択装置５は指
定された試験光ファイバ３ａの選択を行い、ＯＴＤＲ６
との接続を開始する。この場合、心線選択装置５は光Ｓ
ＷのポートＡを光ＳＷのポートｓに接続し光路を設定す
る。これにより、ＯＴＤＲ６から送出された光パルスは
心線選択装置５のポートＡ、ポートｓ、光分岐モジュー
ル４を介して試験光ファイバ３ａに挿入される。

【０００９】ステップＳＡ４では、ＣＰＵ７は心線選択
装置５に対して光ＳＷの動作が終了したか否かの確認を
行う。ステップＳＡ４において「Ｙｅｓ」の場合、光Ｓ
Ｗが動作終了と判断しステップＳＡ５に進む。ステップ
ＳＡ４において「Ｎｏ」の場合、光ＳＷが動作中と判断
しステップＳＡ４に戻る。

【００１０】ステップＳＡ５では、ＣＰＵ７は心線選択
装置５に対して光ＳＷの動作がＣＰＵ７の指示どおり正
常に終了したか否かの確認を行う。ステップＳＡ５にお
いて「Ｙｅｓ」の場合、光ＳＷが正常終了状態と判断し
ステップＳＡ６に進む。ステップＳＡ５において「Ｎ
ｏ」の場合、光ＳＷが異常終了状態と判断しステップＳ
Ａ２に戻る。

【００１１】ステップＳＡ６では、ＣＰＵ７はＯＴＤＲ
６に対して試験波長設定を指示する。ステップＳＡ７で
は、ＯＴＤＲ６は試験波長の設定を開始する。ステップ
ＳＡ８では、ＣＰＵ７はＯＴＤＲ６に対して試験波長が
設定指示値か否かの確認を行う。ステップＳＡ８におい
て「Ｙｅｓ」の場合、試験波長が設定値と判断しステッ
プＳＡ９に進む。ステップＳＡ８において「Ｎｏ」の場
合、試験波長が設定値外と判断しステップＳＡ６に戻
る。

【００１２】ステップＳＡ９では、ＣＰＵ７はＯＴＤＲ
６に対して加算平均化回数設定を指示する。ステップＳ
Ａ１０では、ＯＴＤＲ６は加算平均化回数の設定を開始
する。ステップＳＡ１１では、ＣＰＵ７はＯＴＤＲ６に
対して加算平均化回数が設定指示値か否かの確認を行
う。ステップＳＡ１１において「Ｙｅｓ」の場合、加算
平均化回数が設定値と判断しステップＳＡ１２に進む。
ステップＳＡ１１において「Ｎｏ」の場合、加算平均化
回数が設定値外と判断しステップＳＡ９に戻る。

【００１３】ステップＳＡ１２では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対して距離レンジ設定を指示する。ステップＳＡ
１３では、ＯＴＤＲ６は距離レンジの設定を開始する。
ステップＳＡ１４では、ＣＰＵ７はＯＴＤＲ６に対して
距離レンジが設定指示値か否かの確認を行う。ステップ
ＳＡ１４において「Ｙｅｓ」の場合、距離レンジが設定
値と判断しステップＳＡ１５に進む。ステップＳＡ１４
において「Ｎｏ」の場合、距離レンジが設定値外と判断
しステップＳＡ１２に戻る。

【００１４】ステップＳＡ１５では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対してパルス幅設定を指示する。ステップＳＡ１
６では、ＯＴＤＲ６はパルス幅の設定を開始する。ステ
ップＳＡ１７では、ＣＰＵ７はＯＴＤＲ６に対してパル
ス幅が設定指示値か否かの確認を行う。ステップＳＡ１
７において「Ｙｅｓ」の場合、パルス幅が設定値と判断
しステップＳＡ１８に進む。ステップＳＡ１７において
「Ｎｏ」の場合、パルス幅が設定値外と判断しステップ
ＳＡ１５に戻る。

【００１５】ステップＳＡ１８では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対してオートアッテネータ動作を指示する。ステ
ップＳＡ１８以降の動作は図６に示されているように、
ＯＴＤＲ６はオートアッテネータ動作終了後に加算平均
化処理を行い、加算平均化処理終了後にＣＰＵ７に対し
てデータ転送処理を行う。ＣＰＵ７はデータ転送処理終
了後に波形解析および結果表示を行うことにより光パル
ス試験を終了する。ここで、光ファイバ１心当たりの光
パルス試験時間は各処理の単位時間の和（ａ＋ｂ＋ｃ＋
ｄ＋ｅ＋ｆ）で表される。

【００１６】次に、図１における光ファイバ３ａ、３ｂ
および３ｃの３心を連続で光パルス試験する場合につい
て説明する。図７のステップＳＡ１において光パルス試
験が開始されると、ＣＰＵ７はデータベース８を参照
し、指定された試験光ファイバ（光ファイバ３ａ、３ｂ
および３ｃ）の心線選択装置収容位置およびＯＴＤＲ測
定条件情報を抽出する。ステップＳＡ２では、ＣＰＵ７
は心線選択装置５に対して光ＳＷの動作を指示する。ス
テップＳＡ３では、心線選択装置５は指定された試験光
ファイバ（光ファイバ３ａ）の選択を行い、ＯＴＤＲ６
との接続を開始する。

【００１７】この場合、心線選択装置５は光ＳＷのポー
トＡを光ＳＷのポートｓに接続し光路を設定する。これ
により、ＯＴＤＲ６から送出された光パルスは心線選択
装置５のポートＡ、ポートｓ、光分岐モジュール４を介
して試験光ファイバ３ａに挿入される。以降の動作は前
述の光ファイバ３ａの１心を光パルス試験する場合と同
様である。ＣＰＵ７が１心目の試験光ファイバ３ａのデ
ータ転送処理終了後に波形解析および結果表示を行うこ
とにより、１心目の試験光ファイバ３ａの光パルス試験
を終了する。

【００１８】ＣＰＵ７は、１心目の試験光ファイバ３ａ
の光パルス試験を終了すると２心目の試験光ファイバ
（光ファイバ３ｂ）の光パルス試験を開始する。図７の
ステップＳＡ１において２心目の試験光ファイバ３ｂの
光パルス試験が開始されると、ステップＳＡ２では、Ｃ
ＰＵ７は心線選択装置５に対して２心目の試験光ファイ
バ３ｂに対する光ＳＷの動作を指示する。ステップＳＡ
３では、心線選択装置５は指定された２心目の試験光フ
ァイバ３ｂの選択を行い、ＯＴＤＲ６との接続を開始す
る。

【００１９】この場合、心線選択装置５は光ＳＷのポー
トＡを光ＳＷのポートｕに接続し光路を設定する。これ
により、ＯＴＤＲ６から送出された光パルスは心線選択
装置５のポートＡ、ポートｕ、光分岐モジュール４を介
して試験光ファイバ３ｂに挿入される。以降の動作は前
述の１心目の光ファイバ３ａを光パルス試験する場合と
同様である。ＣＰＵ７が２心目の試験光ファイバ３ｂの
データ転送処理終了後に波形解析および結果表示を行う
ことにより、２心目の試験光ファイバ３ｂの光パルス試
験を終了する。

【００２０】ＣＰＵ７は、２心目の試験光ファイバ３ｂ
の光パルス試験を終了すると３心目の試験光ファイバ
（光ファイバ３ｃ）の光パルス試験を開始する。図７の
ステップＳＡ１において３心目の試験光ファイバ３ｃの
光パルス試験が開始されると、ステップＳＡ２では、Ｃ
ＰＵ７は心線選択装置５に対して３心目の試験光ファイ
バ３ｃに対する光ＳＷの動作を指示する。ステップＳＡ
３では、心線選択装置５は指定された３心目の試験光フ
ァイバ３ｃの選択を行い、ＯＴＤＲ６との接続を開始す
る。

【００２１】この場合、心線選択装置５は光ＳＷのポー
トＡを光ＳＷのポートｗに接続し光路を設定する。これ
により、ＯＴＤＲ６から送出された光パルスは心線選択
装置５のポートＡ、ポートｗ、光分岐モジュール４を介
して試験光ファイバ３ｃに挿入される。以降の動作は前
述の１心目の光ファイバ３ａを光パルス試験する場合と
同様である。ＣＰＵ７が３心目の試験光ファイバ３ｃの
データ転送処理終了後に波形解析および結果表示を行
い、３心目の試験光ファイバ３ｃの光パルス試験を終了
することにより、光ファイバ３ａ、３ｂおよび３ｃの３
心の光パルス連続試験を終了する。

【００２２】ここで、光パルス連続試験時間は光ファイ
バ１心当たりの光パルス試験時間（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ
＋ｆ）と試験光ファイバ心数（ｎ）との積で表され、こ
の場合の光パルス連続試験時間は３・（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ
＋ｅ＋ｆ）である。

【００２３】

【発明が解決しようとする課題】以上に述べた従来の光
パルス試験方法において、ＣＰＵは装置（例えば心線選
択装置）に動作を指示した後、その装置が動作終了しな
ければ、他の装置（例えば光パルス試験装置）に対して
動作の指示をしないので、１つの装置が動作状態にある
間は他の装置が動作できなかった。

【００２４】また、光パルス試験の処理手順は、光ＳＷ
動作（単位時間ａ）、ＯＴＤＲ測定条件設定（単位時間
ｂ）、オートアッテネータ（単位時間ｃ）、加算平均化
（単位時間ｄ）、データ転送（単位時間ｅ）、波形解析
結果表示（単位時間ｆ）の順序で実行され、かつ、１つ
の処理が終了しなければ、次の処理を開始しないので、
１つの処理を実行中は他の処理が実行できないという問
題点があった。また、光ファイバ１心当たりの試験時間
は最短でも必ず（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ）が必要時間
となり、その試験時間の短縮が不可能であった。

【００２５】複数の光ファイバに対して連続で光パルス
試験を行う場合、ＣＰＵは１つの試験光ファイバの光パ
ルス試験が終了しなければ次の試験光ファイバの光パル
ス試験を開始しないので、試験所要時間は光ファイバ１
心当たりの試験時間および試験光ファイバ心数に依存し
ていることにより、試験時間の短縮が不可能で、かつ、
試験光ファイバ心数に正比例して試験時間が長くなる問
題点があった。

【００２６】本発明は上述した事情に鑑みてなされたも
ので、光線路試験方法において、特に光パルス試験およ
び光パルス連続試験を行う際に装置の並列動作および試
験の並列処理を図ることにより、効率的な装置の動作制
御および試験処理を実現し、試験時間の短縮および試験
コストの低減ができる光線路試験方法を提供することを
目的としている。

【００２７】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明による光線路試験方法は、光伝送路を構
成する光ファイバの試験を行う単一の光パルス試験装置
（ＯＴＤＲ）と、１×ｎ型のポートを有し、一方の側の
ポートが光パルス試験装置に接続され他方の側の複数個
のポートが試験すべき光ファイバに接続され、選択され
た光ファイバを光パルス試験装置に接続する心線選択装
置と、試験すべき光ファイバについて測定条件の設定を
行うと共に測定データの解析を行う単一のＣＰＵ（制御
処理装置）と、光ファイバの各種試験条件情報を格納し
たデータベースとを具える光線路試験システムを用い、
光伝送路を構成する複数の光ファイバを連続して試験す
る光線路試験方法であって、ＣＰＵの制御のもとで、試
験すべき光ファイバを光パルス試験装置に接続する光ス
イッチ工程と、ＣＰＵの制御のもとで、前記データベー
スに格納されているデータを読み出して光パルス試験装
置に接続した光ファイバについてＯＴＤＲ試験条件を設
定する工程と、設定されたＯＴＤＲ試験条件で光パルス
試験を実行する工程と、前記光パルス試験により得られ
た測定データについて転送処理を実行する工程と、転送
された測定データについて、前記ＣＰＵにより解析処理
を行う工程とを具え、同一の光ファイバについて、前記
光スイッチ工程とＯＴＤＲ試験条件の設定工程とを部分
的に並列して実行し、試験中の光ファイバの転送処理工
程中に次に試験される光ファイバの光スイッチ工程を実
行することを特徴とする。

【００２８】また、複数の光ファイバに対して連続で光
パルス試験を行う場合は、さらに、試験光ファイバの加
算平均終了後にＣＰＵが次試験光ファイバの選択を行う
ために心線選択装置のスイッチ動作指示を行うことによ
り次試験光ファイバの試験を開始する手順と、ＯＴＤＲ
からＣＰＵへ該試験光ファイバの測定データの転送が終
了した後にＣＰＵがＯＴＤＲに対して次試験光ファイバ
の測定条件設定の動作指示を行う手順と、ＣＰＵがＯＴ
ＤＲに対して次試験光ファイバの測定条件設定の動作を
指示した後、ＣＰＵが動作中以外の時間にＯＴＤＲから
転送された試験光ファイバの測定データを解析し、その
結果の表示を行う手順とを具備することを特徴とする。

【００２９】

【作用】本発明によれば、複数の装置に対して同時に動
作指示を行うことにより複数の装置を効率良く、かつ、
並列で動作させることができるので、装置の動作時間が
短縮し、試験時間の短縮が可能になる。また、既に処理
を実行中でも、他の処理を並列で、かつ、効率良く実行
させることができるので、処理時間が短縮し、試験時間
の短縮が可能になる。さらに、複数の光ファイバに対し
て連続で光パルス試験を行う場合、該試験光ファイバの
加算平均化終了後に次試験光ファイバの光パルス試験を
開始することにより、光パルス連続試験時間の短縮が容
易に実現できる。

【００３０】

【実施例】

（第１実施例）図２は本発明の第１実施例の光パルス試
験方法の処理手順を示す構成図であり、同図において、
図１、図６および図７の各部に対応する部分には、同一
符号を付してこれらの説明を省略する。図２において、
符号αは光ＳＷ動作（処理の単位時間ａ）とＯＴＤＲ測
定条件設定（処理の単位時間ｂ）が並列で実行されてい
る重複時間であり、重複時間αの試験時間が短縮され
る。βはデータ転送（処理の単位時間ｅ）と波形解析お
よび結果表示（処理の単位時間ｆ）との和の単位時間で
ある。

【００３１】図３はこの実施例の光パルス試験方法の処
理手順に関して、特に、光ＳＷ動作およびＯＴＤＲ測定
条件設定の動作の一例を示すフローチャートである。次
に、本発明の光パルス試験方法により、光パルス試験を
実施した第１実施例の動作について図１、図２および図
３を用いて説明する。

【００３２】図１における光ファイバ３ａの１心を光パ
ルス試験する場合、図３のステップＳＢ１において光パ
ルス試験が開始されると、ＣＰＵ７はデータベース８を
参照し、指定された試験光ファイバ（光ファイバ３ａ）
の心線選択装置収容位置およびＯＴＤＲ測定条件情報を
抽出する。ステップＳＢ２では、ＣＰＵ７が心線選択装
置５に対して光ＳＷの動作を指示する。

【００３３】ステップＳＢ３では、心線選択装置５は指
定された試験光ファイバ３ａの選択を行い、ＯＴＤＲ６
との接続を開始する。この場合、心線選択装置５は光Ｓ
ＷのポートＡを光ＳＷのポートｓに接続し光路を設定す
る。これにより、ＯＴＤＲ６から送出された光パルスは
心線選択装置５のポートＡ、ポートｓ、光分岐モジュー
ル４を介して試験光ファイバ３ａに挿入される。

【００３４】ステップＳＢ４では、ＣＰＵ７はＯＴＤＲ
６に対して測定条件設定を指示する。ステップＳＢ５で
は、ＯＴＤＲ６は試験波長の設定を開始する。ステップ
ＳＢ６では、ＯＴＤＲ６は加算平均化回数の設定を開始
する。ステップＳＢ７では、ＯＴＤＲ６は距離レンジの
設定を開始する。ステップＳＢ８では、ＯＴＤＲ６はパ
ルス幅の設定を開始する。

【００３５】ステップＳＢ９では、ＣＰＵ７は心線選択
装置５に対して光ＳＷの動作が終了したか否かの確認を
行う。ステップＳＢ９において「Ｙｅｓ」の場合、光Ｓ
Ｗが動作終了と判断しステップＳＢ１０に進む。ステッ
プＳＢ９において「Ｎｏ」の場合、光ＳＷが動作中と判
断しステップＳＢ９に戻る。

【００３６】ステップＳＢ１０では、ＣＰＵ７は心線選
択装置５に対して光ＳＷの動作がＣＰＵ７の指示どおり
正常に終了したか否かの確認を行う。ステップＳＢ１０
において「Ｙｅｓ」の場合、光ＳＷが正常終了状態と判
断しステップＳＢ１２に進む。ステップＳＢ１０におい
て「Ｎｏ」の場合、光ＳＷが異常終了状態と判断しステ
ップＳＢ１１へ進む。ステップＳＢ１１においてＣＰＵ
７は心線選択装置５に対して光ＳＷの再動作を指示す
る。

【００３７】ステップＳＢ１２では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対して試験波長が設定指示値か否かの確認を行
う。ステップＳＢ１２において「Ｙｅｓ」の場合、試験
波長が設定値と判断しステップＳＢ１３に進む。ステッ
プＳＢ１２において「Ｎｏ」の場合、試験波長が設定値
外と判断しステップＳＢ１２に戻る。

【００３８】ステップＳＢ１３では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対して加算平均化回数が設定指示値か否かの確認
を行う。ステップＳＢ１３において「Ｙｅｓ」の場合、
加算平均化回数が設定値と判断しステップＳＢ１４に進
む。ステップＳＢ１３において「Ｎｏ」の場合、加算平
均化回数が設定値外と判断しステップＳＢ１３に戻る。

【００３９】ステップＳＢ１４では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対して距離レンジが設定指示値か否かの確認を行
う。ステップＳＢ１４において「Ｙｅｓ」の場合、距離
レンジが設定値と判断しステップＳＢ１５に進む。ステ
ップＳＢ１４において「Ｎｏ」の場合、距離レンジが設
定値外と判断しステップＳＢ１４に戻る。

【００４０】ステップＳＢ１５では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対してパルス幅が設定指示値か否かの確認を行
う。ステップＳＢ１５において「Ｙｅｓ」の場合、パル
ス幅が設定値と判断しステップＳＢ１６に進む。ステッ
プＳＢ１５において「Ｎｏ」の場合、パルス幅が設定値
外と判断しステップＳＢ１５に戻る。

【００４１】ステップＳＢ１６では、ＣＰＵ７はＯＴＤ
Ｒ６に対してオートアッテネータ動作を指示する。ステ
ップＳＢ１６以降の動作は図２に示されているように、
ＯＴＤＲ６はオートアッテネータ動作終了後に加算平均
化処理を行い、加算平均化処理終了後にＣＰＵ７に対し
てデータ転送処理を開始する。データ転送処理終了後
に、ＣＰＵ７が波形解析および結果表示を行うことによ
り光パルス試験を終了する。

【００４２】ここで、光ファイバ１心当たりの光パルス
試験時間は各処理の単位時間の和（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ
＋ｆ）と、光ＳＷ動作（処理の単位時間ａ）およびＯＴ
ＤＲ測定条件設定（処理の単位時間ｂ）が並列で実行さ
れている重複時間のαの差で表され、この場合の光パル
ス試験時間は（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ）−αである。

【００４３】（第２実施例）次に、本発明の光パルス試
験方法により、複数の光ファイバに対して光パルス試験
を実施した第２実施例の動作について図１、図２および
図３を参照して説明する。図１における光ファイバ３
ａ、３ｂおよび３ｃの３心を連続で光パルス試験する場
合、図３のステップＳＢ１において光パルス試験が開始
されると、ＣＰＵ７はデータベース８を参照し、指定さ
れた試験光ファイバ（光ファイバ３ａ、３ｂおよび３
ｃ）の心線選択装置収容位置およびＯＴＤＲ測定条件情
報を抽出する。ステップＳＢ２では、ＣＰＵ７が心線選
択装置５に対して光ＳＷの動作を指示する。

【００４４】ステップＳＢ３では、心線選択装置５は指
定された試験光ファイバ（光ファイバ３ａ）の選択を行
い、ＯＴＤＲ６との接続を開始する。この場合、心線選
択装置５は光ＳＷのポートＡを光ＳＷのポートｓに接続
し光路を設定する。これにより、ＯＴＤＲ６から送出さ
れた光パルスは、心線選択装置５、ポートＡ、ポート
ｓ、光分岐モジュール４を介して試験光ファイバ３ａに
挿入される。以降の処理動作は第１実施例の光ファイバ
３ａを光パルス試験する場合と同様である。

【００４５】図２において、ＯＴＤＲ６は１心目の試験
光ファイバ３ａのオートアッテネータ動作終了後に１心
目の試験光ファイバ３ａの加算平均化処理を行う。１心
目の試験光ファイバ３ａの加算平均化処理終了後、ＣＰ
Ｕ７が心線選択装置５に対して２心目の試験光ファイバ
（光ファイバ３ｂ）の光ＳＷの動作指示を行うことによ
り、２心目の試験光ファイバ３ｂの光パルス試験を開始
する。ＯＴＤＲ６は、２心目の試験光ファイバ３ｂの光
ＳＷの動作指示後にＣＰＵ７に対して１心目の試験光フ
ァイバ３ａの測定データ転送処理を開始する。

【００４６】図３のステップＳＢ３において、心線選択
装置５は、指定された２心目の試験光ファイバ（光ファ
イバ３ｂ）の選択を行いＯＴＤＲ６との接続を開始す
る。この場合、心線選択装置５は光ＳＷのポートＡを光
ＳＷのポートｕに接続し光路を設定する。これにより、
ＯＴＤＲ６から送出された光パルスは心線選択装置５の
ポートＡ、ポートｕ、光分岐モジュール４を介して試験
光ファイバ３ｂに挿入される。

【００４７】図２において、ＣＰＵ７は、１心目の試験
光ファイバ３ａのデータ転送処理終了後に、ＯＴＤＲ６
に対して２心目の試験光ファイバ３ｂのＯＴＤＲ測定条
件設定を指示する。以降の２心目の試験光ファイバ３ｂ
の処理動作は第２実施例の光ファイバ３ａを光パルス試
験する場合と同様である。ＣＰＵ７は、２心目の試験光
ファイバのＯＴＤＲ測定条件設定を指示した後で、かつ
ＣＰＵ７が動作中（例えば、動作指示、動作確認、計算
中等）以外の時間に、１心目の試験光ファイバ３ａの測
定データを解析しその結果を表示する。これにより、１
心目の試験光ファイバ３ａの光パルス試験を終了する。

【００４８】図２において、ＯＴＤＲ６は、２心目の試
験光ファイバ３ｂのオートアッテネータ動作終了後に２
心目の試験光ファイバ３ｂの加算平均化処理を行う。２
心目の試験光ファイバ３ｂの加算平均化処理終了後に、
ＣＰＵ７が心線選択装置５に対して３心目の試験光ファ
イバ（光ファイバ３ｃ）の光ＳＷの動作の指示をするこ
とにより、３心目の試験光ファイバ３ｃの光パルス試験
を開始する。ＯＴＤＲ６は、３心目の試験光ファイバ３
ｃの光ＳＷの動作指示後に、ＣＰＵ７に対して２心目の
試験光ファイバ３ｂの測定データ転送処理を開始する。

【００４９】図３のステップＳＢ３において、心線選択
装置５は指定された３心目の試験光ファイバ３ｃ）の選
択を行い、ＯＴＤＲ６との接続を開始する。この場合、
心線選択装置５は光ＳＷのポートＡを光ＳＷのポートｗ
に接続し光路を設定する。これにより、ＯＴＤＲ６から
送出された光パルスは心線選択装置５のポートＡ、ポー
トｗ、光分岐モジュール４を介して試験光ファイバ３ｃ
に挿入される。

【００５０】図２において、ＣＰＵ７は２心目の試験光
ファイバ３ｂのデータ転送処理終了後に、ＯＴＤＲ６に
対して３心目の試験光ファイバ３ｃのＯＴＤＲ測定条件
設定を指示する。以降の３心目の試験光ファイバ３ｃの
処理動作は第２実施例の光ファイバ３ｂを光パルス試験
する場合と同様である。ＣＰＵ７は３心目の試験光ファ
イバのＯＴＤＲ測定条件設定指示後で、かつＣＰＵ７が
動作中（例えば、動作指示、動作確認、計算中等）以外
の時間に、２心目の試験光ファイバ３ｂの測定データを
解析しその結果を表示する。これにより、２心目の試験
光ファイバ３ｂの光パルス試験を終了する。

【００５１】図２において、ＯＴＤＲ６は、３心目の試
験光ファイバ３ｃのオートアッテネータ動作終了後に３
心目の試験光ファイバ３ｃの加算平均化処理を行う。３
心目の試験光ファイバ３ｃの加算平均化処理終了後に、
ＯＴＤＲ６はＣＰＵ７に対して３心目の試験光ファイバ
３ｃの測定データのデータ転送処理を開始する。ＣＰＵ
７は、データ転送処理終了後に波形解析および結果表示
を行うことにより３心目の試験光ファイバ３ｃの光パル
ス試験を終了し、これにより、光ファイバ３ａ、３ｂお
よび３ｃの３心の光パルス連続試験を終了する。

【００５２】ここで、光パルス連続試験時間は光ファイ
バ１心当たりの光パルス試験時間（（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋
ｅ＋ｆ）と、光ＳＷ動作（処理の単位時間ａ）およびＯ
ＴＤＲ測定条件設定（処理の単位時間ｂ）が並列で実行
されている重複時間αとの差）と試験光ファイバ心数
（ｎ）との積から、データ転送（処理の単位時間ｅ）な
らびに波形解析および結果表示（処理の単位時間ｆ）の
和の単位時間βの和を差引いた差で表され、この場合の
光パルス連続試験時間は３・（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋
ｆ）−（３α＋２β）である。ここでは、データ転送の
単位時間ｅは光スイッチ動作ａに比べて非常に小さいの
で、２心目以降についても、光ＳＷ動作とＯＴＤＲ測定
条件設定とが並列で実行されている重複時間はαに等し
い。

【００５３】図４は第１実施例において光ファイバ１心
に対して光パルス試験を実施した場合の試験時間（同図
（ｂ））と、従来の技術を用いた場合の試験時間（同図
（ａ））との比較を示した図である。同図（ｂ）におい
て本発明による光ファイバ１心当たりの光パルス試験時
間は（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ）−αであり、同図
（ａ）における従来の光パルス試験時間（ａ＋ｂ＋ｃ＋
ｄ＋ｅ＋ｆ）と較べて、光ＳＷ動作（処理の単位時間
ａ）およびＯＴＤＲ測定条件設定（処理の単位時間ｂ）
が並列で実行されている重複時間αが短縮されている。

【００５４】また、図５は第２実施例において光ファイ
バ３心に対して光パルス連続試験を実施した場合の試験
時間（同図（ｂ））と、従来の技術を用いた場合の試験
時間（同図（ａ））との比較を示した図である。同図
（ｂ）において本発明による光ファイバ３心の光パルス
連続試験時間は３・（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ）−γで
あり、同図（ａ）における従来の光パルス連続試験時間
３・（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ）と較べてγが短縮され
ている。ここで、γは光ＳＷ動作（処理の単位時間ａ）
およびＯＴＤＲ測定条件設定（処理の単位時間ｂ）が並
列で実行されている重複時間αの和３αと、データ転送
（処理の単位時間ｅ）ならびに波形解析および結果表示
（処理の単位時間ｆ）の和の単位時間βの和２βとの和
で、γ＝３α＋２βで表される。

【００５５】

【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、複数の装置に対して同時に動作を指示することによ
り複数の装置を効率良く、かつ、並列に動作させること
がでるので、装置の動作時間が短縮し、試験時間が短縮
される。また、既に処理を実行中でも、他の処理を並列
で、かつ、効率良く実行させることができるので、処理
時間が短縮し、試験時間の短縮を図ることができる。さ
らに、複数の光ファイバに対して連続で光パルス試験を
行う場合、該試験光ファイバの加算平均化終了後に次試
験光ファイバの光パルス試験を開始することにより、光
パルス連続試験時間の大幅な短縮が容易に実現でき、試
験コストの低減を図ることができるという利点が得られ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】光伝送システムおよび光線路試験システムの構
成を示すブロック図である。

【図２】本発明の第１および第２実施例の、光パルス試
験方法の処理手順を示すブロック図である。

【図３】本発明の第１および第２実施例の、特に、光Ｓ
Ｗ動作およびＯＴＤＲ測定条件設定の動作の一例を示す
フローチャートである。

【図４】本発明の第１実施例における評価結果を示す説
明図である。

【図５】本発明の第２実施例における評価結果を示す説
明図である。

【図６】従来の光パルス試験方法の処理手順を示すブロ
ック図である。

【図７】従来の光パルス試験方法の処理手順において、
特に、光ＳＷ動作およびＯＴＤＲ測定条件設定の動作の
一例を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１ 局内側伝送装置 １ａ 光源部 １ｂ 受光部 ２ 局外側伝送装置 ２ａ 受光部 ２ｂ 光源部 ３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ 光ファイバ ４ 光分岐モジュール ５ 心線選択装置 ６ 光パルス試験装置（ＯＴＤＲ） ７ ＣＰＵ（制御処理装置） ８ データベース ９ 光フィルタ １０ 光フィルタ型反射器

フロントページの続き (72)発明者 中西 功 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平６−249746（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−240537（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−177838（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04B 10/00 - 10/28 H04J 14/00 - 14/08 G01M 11/00 G02B 6/00 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光伝送路を構成する光ファイバの試験を
   行う単一の光パルス試験装置（ＯＴＤＲ）と、１×ｎ型
   のポートを有し、一方の側のポートが光パルス試験装置
   に接続され他方の側の複数個のポートが試験すべき光フ
   ァイバに接続され、選択された光ファイバを光パルス試
   験装置に接続する心線選択装置と、試験すべき光ファイ
   バについて測定条件の設定を行うと共に測定データの解
   析を行う単一のＣＰＵ（制御処理装置）と、光ファイバ
   の各種試験条件情報を格納したデータベースとを具える
   光線路試験システムを用い、光伝送路を構成する複数の
   光ファイバを連続して試験する光線路試験方法であっ
   て、 ＣＰＵの制御のもとで、試験すべき光ファイバを光パル
   ス試験装置に接続する光スイッチ工程と、 ＣＰＵの制御のもとで、前記データベースに格納されて
   いるデータを読み出して光パルス試験装置に接続した光
   ファイバについてＯＴＤＲ試験条件を設定する工程と、 設定されたＯＴＤＲ試験条件で光パルス試験を実行する
   工程と、 前記光パルス試験により得られた測定データについて転
   送処理を実行する工程と、 転送された測定データについて、前記ＣＰＵにより解析
   処理を行う工程とを具え、 同一の光ファイバについて、前記光スイッチ工程とＯＴ
   ＤＲ試験条件の設定工程とを部分的に並列して実行し、
   試験中の光ファイバの転送処理工程中に次に試験される
   光ファイバの光スイッチ工程を実行することを特徴とす
   る光線路試験方法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の光線路試験方法におい
   て、前記ＣＰＵは、試験中の光ファイバの測定データの
   転送処理工程が終了した後直ちに次に試験される光ファ
   イバについてＯＴＤＲ試験条件の設定工程を実行し、当
   該ＯＴＤＲ試験条件設定工程の終了後直ちに試験中の光
   ファイバの測定データについて解析処理を実行すること
   を特徴とする光線路試験方法。