JPH10161901A - Ｓｔｂの診断方法とｉｃカードおよびｐｃｍｃｉａカード - Google Patents
Ｓｔｂの診断方法とｉｃカードおよびｐｃｍｃｉａカードInfo
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- JPH10161901A JPH10161901A JP8319007A JP31900796A JPH10161901A JP H10161901 A JPH10161901 A JP H10161901A JP 8319007 A JP8319007 A JP 8319007A JP 31900796 A JP31900796 A JP 31900796A JP H10161901 A JPH10161901 A JP H10161901A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＳＴＢのメモリ上のユーザー環境に影響を与
えずに、ＳＴＢのＬＳＩの機能診断およびＬＳＩ間の結
線の診断を厳密に漏れなく実施可能にする。 【解決手段】 テスト装置１２のテストデータ生成手段
１７で生成されたバウンダリスキャンテストデータをＳ
ＴＢ１へ送信し、ＳＴＢ１の中継手段３からＬＳＩの入
力用バウンダリスキャンテストポートに供給し、ＬＳＩ
内部の機能テストおよびＬＳＩ間の結線テストを実施
し、ＬＳＩの出力用バウンダリスキャンテストポートか
ら出力されるテスト結果を中継手段３を介し診断結果デ
ータとしてテスト装置１２へ送出し、診断結果分析手段
１５で診断結果データを分析する。テスト装置１２で生
成されたバウンダリスキャンテストデータは、中継手段
３によって、ＳＴＢ内のメモリ上のデータに影響を与え
ることなく、ＬＳＩのバウンダリスキャンテストポート
に供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結線を診断
できる。
えずに、ＳＴＢのＬＳＩの機能診断およびＬＳＩ間の結
線の診断を厳密に漏れなく実施可能にする。 【解決手段】 テスト装置１２のテストデータ生成手段
１７で生成されたバウンダリスキャンテストデータをＳ
ＴＢ１へ送信し、ＳＴＢ１の中継手段３からＬＳＩの入
力用バウンダリスキャンテストポートに供給し、ＬＳＩ
内部の機能テストおよびＬＳＩ間の結線テストを実施
し、ＬＳＩの出力用バウンダリスキャンテストポートか
ら出力されるテスト結果を中継手段３を介し診断結果デ
ータとしてテスト装置１２へ送出し、診断結果分析手段
１５で診断結果データを分析する。テスト装置１２で生
成されたバウンダリスキャンテストデータは、中継手段
３によって、ＳＴＢ内のメモリ上のデータに影響を与え
ることなく、ＬＳＩのバウンダリスキャンテストポート
に供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結線を診断
できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、バウンダリスキャ
ンを用いたＳＴＢの診断方法と、それに用いるＩＣカー
ドおよびＰＣＭＣＩＡカードに関する。
ンを用いたＳＴＢの診断方法と、それに用いるＩＣカー
ドおよびＰＣＭＣＩＡカードに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＡＴＶや衛星放送のような有料放送サ
ービスでは、ＳＴＢ（セットトップボックス）の信頼性
が重要で、万一故障した際には迅速な修理が必要とな
る。したがって、加入者がサービスを利用していない時
間帯にサービス提供センター側が遠隔からＳＴＢの状態
を診断してメンテナンス情報を獲得したり、加入者から
のクレームを受けた際には、迅速な修理を実現するため
にＳＴＢの厳密な診断を容易に実現できる環境が望まれ
ている。
ービスでは、ＳＴＢ（セットトップボックス）の信頼性
が重要で、万一故障した際には迅速な修理が必要とな
る。したがって、加入者がサービスを利用していない時
間帯にサービス提供センター側が遠隔からＳＴＢの状態
を診断してメンテナンス情報を獲得したり、加入者から
のクレームを受けた際には、迅速な修理を実現するため
にＳＴＢの厳密な診断を容易に実現できる環境が望まれ
ている。
【０００３】このような要求から、従来、ＳＴＢのＲＯ
Ｍ上に通常動作用プログラムに加えて自己診断プログラ
ムを出荷時に格納しておき、通常はＣＰＵが通常動作用
プログラムに従って周辺のＬＳＩを制御していて、診断
が必要な時にはＣＰＵが自己診断プログラムに従って周
辺のＬＳＩを診断する方法が採用されている。また、診
断が必要な時に、ＳＴＢのＲＡＭ上に診断プログラムを
ＳＴＢの外部からダウンロードして、このダウンロード
されたプログラムに従ってＣＰＵが周辺ＬＳＩを診断す
る方法も採用されている。この方法では、双方向ＣＡＴ
Ｖの様に下り経路と上り経路の両方を有したサービスな
どでは、下り経路を利用してセンター側から診断プログ
ラムをＳＴＢにダウンロードして、診断結果データを上
り経路を利用してＳＴＢからセンター側に返送するのが
一般的である。
Ｍ上に通常動作用プログラムに加えて自己診断プログラ
ムを出荷時に格納しておき、通常はＣＰＵが通常動作用
プログラムに従って周辺のＬＳＩを制御していて、診断
が必要な時にはＣＰＵが自己診断プログラムに従って周
辺のＬＳＩを診断する方法が採用されている。また、診
断が必要な時に、ＳＴＢのＲＡＭ上に診断プログラムを
ＳＴＢの外部からダウンロードして、このダウンロード
されたプログラムに従ってＣＰＵが周辺ＬＳＩを診断す
る方法も採用されている。この方法では、双方向ＣＡＴ
Ｖの様に下り経路と上り経路の両方を有したサービスな
どでは、下り経路を利用してセンター側から診断プログ
ラムをＳＴＢにダウンロードして、診断結果データを上
り経路を利用してＳＴＢからセンター側に返送するのが
一般的である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の診断方法で
は、診断プログラムに従ってＣＰＵが周辺ＬＳＩを診断
するので、ＣＰＵバスに接続されたＬＳＩしか診断でき
ない。つまり、ＣＰＵバスと接続されていないＬＳＩに
ついては厳密な診断は不可能になってしまう。また、Ｌ
ＳＩ間の結線のオープンやショートの診断はできない。
は、診断プログラムに従ってＣＰＵが周辺ＬＳＩを診断
するので、ＣＰＵバスに接続されたＬＳＩしか診断でき
ない。つまり、ＣＰＵバスと接続されていないＬＳＩに
ついては厳密な診断は不可能になってしまう。また、Ｌ
ＳＩ間の結線のオープンやショートの診断はできない。
【０００５】更に、従来の方法ではメモリ上に診断プロ
グラムを格納することによる様々な問題点を生ずる。Ｒ
ＯＭ上に診断プログラムを格納する場合には、新たな診
断項目を追加できない。他方、ＲＡＭに診断プログラム
をダウンロードする方法であれば新たな診断項目の追加
は可能だが、ユーザー環境に関する問題が生ずる。すな
わち、ＲＡＭ上にユーザーの重要な環境が存在する場
合、例えば、使用途中のゲームソフトがＲＡＭ上に存在
する場合、ユーザーはその途中の状態から再度ゲームを
再開するので、再開前にＲＡＭ上に診断プログラムがダ
ウンロードされてしまうとゲームソフトの一部が破壊さ
れて正常な再開ができなくなってしまう。つまり、ＲＡ
Ｍ上のユーザー環境の一部は診断プログラムのダウンロ
ードによって書換えられてユーザーが予期せぬ状態にな
ってしまう危険がある。
グラムを格納することによる様々な問題点を生ずる。Ｒ
ＯＭ上に診断プログラムを格納する場合には、新たな診
断項目を追加できない。他方、ＲＡＭに診断プログラム
をダウンロードする方法であれば新たな診断項目の追加
は可能だが、ユーザー環境に関する問題が生ずる。すな
わち、ＲＡＭ上にユーザーの重要な環境が存在する場
合、例えば、使用途中のゲームソフトがＲＡＭ上に存在
する場合、ユーザーはその途中の状態から再度ゲームを
再開するので、再開前にＲＡＭ上に診断プログラムがダ
ウンロードされてしまうとゲームソフトの一部が破壊さ
れて正常な再開ができなくなってしまう。つまり、ＲＡ
Ｍ上のユーザー環境の一部は診断プログラムのダウンロ
ードによって書換えられてユーザーが予期せぬ状態にな
ってしまう危険がある。
【０００６】本発明は、ＳＴＢの主要回路を構成するＬ
ＳＩの機能診断およびＬＳＩ間の結線の診断を厳密に漏
れなく実施でき、かつメモリ上のユーザー環境に影響を
与えないＳＴＢの診断方法と、それに用いるＩＣカード
およびＰＣＭＣＩＡカードとを提供することを目的とす
る。
ＳＩの機能診断およびＬＳＩ間の結線の診断を厳密に漏
れなく実施でき、かつメモリ上のユーザー環境に影響を
与えないＳＴＢの診断方法と、それに用いるＩＣカード
およびＰＣＭＣＩＡカードとを提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載のＳＴＢの
診断方法は、入力用および出力用バウンダリスキャンテ
ストポートを有したＬＳＩで構成された主要回路と、バ
ウンダリスキャンテストデータを受信する受信制御手段
と、受信制御手段で受信したバウンダリスキャンテスト
データを主要回路のＬＳＩの入力用バウンダリスキャン
テストポートに供給するとともにＬＳＩの出力用バウン
ダリスキャンテストポートから診断結果データを受信す
る中継手段と、中継手段が受信した診断結果データを送
信する送信制御手段とを備えたＳＴＢの診断を行う際、
バウンダリスキャンテストデータを生成するテストデー
タ生成手段と、テストデータ生成手段で生成されたバウ
ンダリスキャンテストデータをＳＴＢの受信制御手段に
送信する送信手段と、ＳＴＢの送信制御手段から送信さ
れた診断結果データを受信する受信手段と、受信手段が
受信した診断結果データを分析する診断結果分析手段と
を備えたテスト装置を用いて、テストデータ生成手段で
生成されたバウンダリスキャンテストデータを、送信手
段，受信制御手段および中継手段を介して主要回路のＬ
ＳＩの入力用バウンダリスキャンテストポートに供給
し、ＬＳＩ内部の機能テストおよびＬＳＩ間の結線テス
トを実施し、ＬＳＩの出力用バウンダリスキャンテスト
ポートから出力されるテスト結果を診断結果データとし
て、中継手段，送信制御手段および受信手段を介して診
断結果分析手段へ入力し、診断結果分析手段で診断結果
データを分析することを特徴とする。
診断方法は、入力用および出力用バウンダリスキャンテ
ストポートを有したＬＳＩで構成された主要回路と、バ
ウンダリスキャンテストデータを受信する受信制御手段
と、受信制御手段で受信したバウンダリスキャンテスト
データを主要回路のＬＳＩの入力用バウンダリスキャン
テストポートに供給するとともにＬＳＩの出力用バウン
ダリスキャンテストポートから診断結果データを受信す
る中継手段と、中継手段が受信した診断結果データを送
信する送信制御手段とを備えたＳＴＢの診断を行う際、
バウンダリスキャンテストデータを生成するテストデー
タ生成手段と、テストデータ生成手段で生成されたバウ
ンダリスキャンテストデータをＳＴＢの受信制御手段に
送信する送信手段と、ＳＴＢの送信制御手段から送信さ
れた診断結果データを受信する受信手段と、受信手段が
受信した診断結果データを分析する診断結果分析手段と
を備えたテスト装置を用いて、テストデータ生成手段で
生成されたバウンダリスキャンテストデータを、送信手
段，受信制御手段および中継手段を介して主要回路のＬ
ＳＩの入力用バウンダリスキャンテストポートに供給
し、ＬＳＩ内部の機能テストおよびＬＳＩ間の結線テス
トを実施し、ＬＳＩの出力用バウンダリスキャンテスト
ポートから出力されるテスト結果を診断結果データとし
て、中継手段，送信制御手段および受信手段を介して診
断結果分析手段へ入力し、診断結果分析手段で診断結果
データを分析することを特徴とする。
【０００８】この診断方法によれば、テスト装置のテス
トデータ生成手段によって生成されたバウンダリスキャ
ンテストデータは、ＳＴＢに送信され、中継手段によっ
て、ＳＴＢ内のメモリ上のデータに影響を与えることな
く、ＬＳＩの入力用バウンダリスキャンテストポートに
供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結線を診断可
能である。また、ＳＴＢ内のＣＰＵが関与しないため、
ＣＰＵバスに接続しているＬＳＩもＣＰＵバスに接続し
ていないＬＳＩも診断可能である。したがって、ＳＴＢ
のユーザーの環境に影響を与えることなく、厳密でもれ
のない診断が可能である。
トデータ生成手段によって生成されたバウンダリスキャ
ンテストデータは、ＳＴＢに送信され、中継手段によっ
て、ＳＴＢ内のメモリ上のデータに影響を与えることな
く、ＬＳＩの入力用バウンダリスキャンテストポートに
供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結線を診断可
能である。また、ＳＴＢ内のＣＰＵが関与しないため、
ＣＰＵバスに接続しているＬＳＩもＣＰＵバスに接続し
ていないＬＳＩも診断可能である。したがって、ＳＴＢ
のユーザーの環境に影響を与えることなく、厳密でもれ
のない診断が可能である。
【０００９】請求項２記載のＳＴＢの診断方法は、請求
項１記載のＳＴＢの診断方法において、ＳＴＢの主要回
路のＬＳＩの入力用および出力用バウンダリスキャンテ
ストポートは、ＪＴＡＧ規格のバウンダリスキャンテス
トポートであり、バウンダリスキャンテストをＪＴＡＧ
規格に準拠して行うようにする。このように、ＬＳＩの
入力用および出力用バウンダリスキャンテストポートが
ＪＴＡＧ規格のバウンダリスキャンテストポートであ
り、バウンダリスキャンテストをＪＴＡＧ規格に準拠し
て行うことにより、バウンダリスキャンテストデータ作
成時に、ＪＴＡＧ規格に準拠した既存の開発支援装置を
利用したり、工場出荷検査用のＩＣＴ（インサーキット
テスタ）のＪＴＡＧ規格に準拠したテストパターンをそ
のまま利用するなど、バウンダリスキャンテストデータ
の作成が容易にでき、かつ資産の継承も容易になる。
項１記載のＳＴＢの診断方法において、ＳＴＢの主要回
路のＬＳＩの入力用および出力用バウンダリスキャンテ
ストポートは、ＪＴＡＧ規格のバウンダリスキャンテス
トポートであり、バウンダリスキャンテストをＪＴＡＧ
規格に準拠して行うようにする。このように、ＬＳＩの
入力用および出力用バウンダリスキャンテストポートが
ＪＴＡＧ規格のバウンダリスキャンテストポートであ
り、バウンダリスキャンテストをＪＴＡＧ規格に準拠し
て行うことにより、バウンダリスキャンテストデータ作
成時に、ＪＴＡＧ規格に準拠した既存の開発支援装置を
利用したり、工場出荷検査用のＩＣＴ（インサーキット
テスタ）のＪＴＡＧ規格に準拠したテストパターンをそ
のまま利用するなど、バウンダリスキャンテストデータ
の作成が容易にでき、かつ資産の継承も容易になる。
【００１０】請求項３記載のＳＴＢの診断方法は、請求
項１または請求項２記載のＳＴＢの診断方法において、
テスト装置をＩＣカードで構成し、ＳＴＢにＩＣカード
インターフェースを設け、このＩＣカードインターフェ
ースを介してテスト装置とＳＴＢ間でバウンダリスキャ
ンテストデータおよび診断結果データの送受信を行うよ
うにする。
項１または請求項２記載のＳＴＢの診断方法において、
テスト装置をＩＣカードで構成し、ＳＴＢにＩＣカード
インターフェースを設け、このＩＣカードインターフェ
ースを介してテスト装置とＳＴＢ間でバウンダリスキャ
ンテストデータおよび診断結果データの送受信を行うよ
うにする。
【００１１】このように、テスト装置をＩＣカードで構
成することにより、テスト装置を容易に携帯することが
できる。請求項４記載のＳＴＢの診断方法は、請求項１
または請求項２記載のＳＴＢの診断方法において、テス
ト装置をＰＣＭＣＩＡカードで構成し、ＳＴＢにＰＣＭ
ＣＩＡカードインターフェースを設け、このＰＣＭＣＩ
Ａカードインターフェースを介してテスト装置とＳＴＢ
間でバウンダリスキャンテストデータおよび診断結果デ
ータの送受信を行うようにする。
成することにより、テスト装置を容易に携帯することが
できる。請求項４記載のＳＴＢの診断方法は、請求項１
または請求項２記載のＳＴＢの診断方法において、テス
ト装置をＰＣＭＣＩＡカードで構成し、ＳＴＢにＰＣＭ
ＣＩＡカードインターフェースを設け、このＰＣＭＣＩ
Ａカードインターフェースを介してテスト装置とＳＴＢ
間でバウンダリスキャンテストデータおよび診断結果デ
ータの送受信を行うようにする。
【００１２】このように、テスト装置をＰＣＭＣＩＡカ
ードで構成することにより、テスト装置を容易に携帯す
ることができる。請求項５記載のＳＴＢの診断方法は、
請求項１または請求項２記載のＳＴＢの診断方法におい
て、テスト装置とＳＴＢとの間を、光ファイバー，同軸
ケーブル，光ファイバーと同軸ケーブルの混在構成，ツ
イストペア線または電波などの接続手段で接続し、この
接続手段を介してテスト装置とＳＴＢ間でバウンダリス
キャンテストデータおよび診断結果データの送受信を行
うようにする。
ードで構成することにより、テスト装置を容易に携帯す
ることができる。請求項５記載のＳＴＢの診断方法は、
請求項１または請求項２記載のＳＴＢの診断方法におい
て、テスト装置とＳＴＢとの間を、光ファイバー，同軸
ケーブル，光ファイバーと同軸ケーブルの混在構成，ツ
イストペア線または電波などの接続手段で接続し、この
接続手段を介してテスト装置とＳＴＢ間でバウンダリス
キャンテストデータおよび診断結果データの送受信を行
うようにする。
【００１３】これにより、テスト装置をセンターに設
け、センター側からテストを実施することができる。請
求項６記載のＩＣカードは、入力用および出力用バウン
ダリスキャンテストポートを有したＬＳＩで構成された
主要回路と、バウンダリスキャンテストデータを受信す
る受信制御手段と、受信制御手段で受信したバウンダリ
スキャンテストデータを主要回路のＬＳＩの入力用バウ
ンダリスキャンテストポートに供給するとともにＬＳＩ
の出力用バウンダリスキャンテストポートから診断結果
データを受信する中継手段と、中継手段が受信した診断
結果データを送信する送信制御手段とを備えたＳＴＢの
診断を行う際に用い、バウンダリスキャンテストデータ
を生成するテストデータ生成手段と、テストデータ生成
手段で生成されたバウンダリスキャンテストデータをＳ
ＴＢの受信制御手段に送信する送信手段と、ＳＴＢの送
信制御手段から送信された診断結果データを受信する受
信手段と、受信手段が受信した診断結果データを分析す
る診断結果分析手段とを備えている。
け、センター側からテストを実施することができる。請
求項６記載のＩＣカードは、入力用および出力用バウン
ダリスキャンテストポートを有したＬＳＩで構成された
主要回路と、バウンダリスキャンテストデータを受信す
る受信制御手段と、受信制御手段で受信したバウンダリ
スキャンテストデータを主要回路のＬＳＩの入力用バウ
ンダリスキャンテストポートに供給するとともにＬＳＩ
の出力用バウンダリスキャンテストポートから診断結果
データを受信する中継手段と、中継手段が受信した診断
結果データを送信する送信制御手段とを備えたＳＴＢの
診断を行う際に用い、バウンダリスキャンテストデータ
を生成するテストデータ生成手段と、テストデータ生成
手段で生成されたバウンダリスキャンテストデータをＳ
ＴＢの受信制御手段に送信する送信手段と、ＳＴＢの送
信制御手段から送信された診断結果データを受信する受
信手段と、受信手段が受信した診断結果データを分析す
る診断結果分析手段とを備えている。
【００１４】これにより、ＩＣカードをＳＴＢのテスト
装置として容易に携帯することができる。請求項７記載
のＰＣＭＣＩＡカードは、入力用および出力用バウンダ
リスキャンテストポートを有したＬＳＩで構成された主
要回路と、バウンダリスキャンテストデータを受信する
受信制御手段と、受信制御手段で受信したバウンダリス
キャンテストデータを主要回路のＬＳＩの入力用バウン
ダリスキャンテストポートに供給するとともにＬＳＩの
出力用バウンダリスキャンテストポートから診断結果デ
ータを受信する中継手段と、中継手段が受信した診断結
果データを送信する送信制御手段とを備えたＳＴＢの診
断を行う際に用い、バウンダリスキャンテストデータを
生成するテストデータ生成手段と、テストデータ生成手
段で生成されたバウンダリスキャンテストデータをＳＴ
Ｂの受信制御手段に送信する送信手段と、ＳＴＢの送信
制御手段から送信された診断結果データを受信する受信
手段と、受信手段が受信した診断結果データを分析する
診断結果分析手段とを備えている。
装置として容易に携帯することができる。請求項７記載
のＰＣＭＣＩＡカードは、入力用および出力用バウンダ
リスキャンテストポートを有したＬＳＩで構成された主
要回路と、バウンダリスキャンテストデータを受信する
受信制御手段と、受信制御手段で受信したバウンダリス
キャンテストデータを主要回路のＬＳＩの入力用バウン
ダリスキャンテストポートに供給するとともにＬＳＩの
出力用バウンダリスキャンテストポートから診断結果デ
ータを受信する中継手段と、中継手段が受信した診断結
果データを送信する送信制御手段とを備えたＳＴＢの診
断を行う際に用い、バウンダリスキャンテストデータを
生成するテストデータ生成手段と、テストデータ生成手
段で生成されたバウンダリスキャンテストデータをＳＴ
Ｂの受信制御手段に送信する送信手段と、ＳＴＢの送信
制御手段から送信された診断結果データを受信する受信
手段と、受信手段が受信した診断結果データを分析する
診断結果分析手段とを備えている。
【００１５】これにより、ＰＣＭＣＩＡカードをＳＴＢ
のテスト装置として容易に携帯することができる。
のテスト装置として容易に携帯することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１を用いて説明する。図１は本発明の実施の形態
におけるＳＴＢの診断方法を説明するためのブロック図
である。図１において、１はＳＴＢ、２は主要回路、３
は中継手段、４は送信制御手段、５はＩＣカードインタ
ーフェース、６は受信制御手段、７，９，１１はＬＳ
Ｉ、８，１０は分岐手段、１２はテスト装置、１３はＩ
Ｃカードインターフェース、１４は受信手段、１５は診
断結果分析手段、１６は送信手段、１７はテストデータ
生成手段、１８，１９は分岐入力、２０，２１は分岐出
力、２２，２３は分岐スイッチ、２４は診断結果デー
タ、２５はバウンダリスキャンテストデータ、２６〜２
８は入力用のバウンダリスキャンテストポート、２９〜
３１は出力用のバウンダリスキャンテストポートであ
る。なお、分岐手段１０の内部構成は図示していない
が、分岐手段８と同様である。また、ＳＴＢ１内のＣＰ
Ｕやメモリ等は、この実施の形態における診断方法に関
与しないため図示していない。
て、図１を用いて説明する。図１は本発明の実施の形態
におけるＳＴＢの診断方法を説明するためのブロック図
である。図１において、１はＳＴＢ、２は主要回路、３
は中継手段、４は送信制御手段、５はＩＣカードインタ
ーフェース、６は受信制御手段、７，９，１１はＬＳ
Ｉ、８，１０は分岐手段、１２はテスト装置、１３はＩ
Ｃカードインターフェース、１４は受信手段、１５は診
断結果分析手段、１６は送信手段、１７はテストデータ
生成手段、１８，１９は分岐入力、２０，２１は分岐出
力、２２，２３は分岐スイッチ、２４は診断結果デー
タ、２５はバウンダリスキャンテストデータ、２６〜２
８は入力用のバウンダリスキャンテストポート、２９〜
３１は出力用のバウンダリスキャンテストポートであ
る。なお、分岐手段１０の内部構成は図示していない
が、分岐手段８と同様である。また、ＳＴＢ１内のＣＰ
Ｕやメモリ等は、この実施の形態における診断方法に関
与しないため図示していない。
【００１７】この実施の形態では、テスト装置１２をＩ
Ｃカードで構成し、ＳＴＢ１にＩＣカードインターフェ
ース５を備えている。テスト装置１２は、テストデータ
生成手段１７，送信手段１６，ＩＣカードインターフェ
ース１３，受信手段１４および診断結果分析手段１５を
備え、テストデータ生成手段１７によりバウンダリスキ
ャンテストデータを生成し、生成されたバウンダリスキ
ャンテストデータは送信手段１６でテストデータ自身と
搬送クロックと診断項目毎の付加情報とからなる３系統
の信号として、ＳＴＢ１に供給される。以下、ＳＴＢ１
に供給されるバウンダリスキャンテストデータ２５は上
記の３系統の信号を総称していることとする。
Ｃカードで構成し、ＳＴＢ１にＩＣカードインターフェ
ース５を備えている。テスト装置１２は、テストデータ
生成手段１７，送信手段１６，ＩＣカードインターフェ
ース１３，受信手段１４および診断結果分析手段１５を
備え、テストデータ生成手段１７によりバウンダリスキ
ャンテストデータを生成し、生成されたバウンダリスキ
ャンテストデータは送信手段１６でテストデータ自身と
搬送クロックと診断項目毎の付加情報とからなる３系統
の信号として、ＳＴＢ１に供給される。以下、ＳＴＢ１
に供給されるバウンダリスキャンテストデータ２５は上
記の３系統の信号を総称していることとする。
【００１８】ＩＣカードであるテスト装置１２をＳＴＢ
１のＩＣカードスロットに挿入することで実際の診断が
開始される。ＳＴＢ１のＩＣカードインターフェース５
は物理的にはＩＣカードスロットとインターフェース回
路を意味している。ＳＴＢ１に供給されるバウンダリス
キャンテストデータ２５は、ＩＣカードインターフェー
ス５を介して受信制御手段６に入力され、適宜タイミン
グで中継手段３に渡される。
１のＩＣカードスロットに挿入することで実際の診断が
開始される。ＳＴＢ１のＩＣカードインターフェース５
は物理的にはＩＣカードスロットとインターフェース回
路を意味している。ＳＴＢ１に供給されるバウンダリス
キャンテストデータ２５は、ＩＣカードインターフェー
ス５を介して受信制御手段６に入力され、適宜タイミン
グで中継手段３に渡される。
【００１９】中継手段３は、バウンダリスキャンテスト
データ２５中の付加情報に従って特定のＬＳＩにテスト
データと搬送クロックを供給する。中継手段３は、分岐
手段８，１０の分岐スイッチ２２，２３を制御すること
により、診断項目毎に指定されたバウンダリスキャンチ
ェインを主要回路２上に構成する。例えば、ＬＳＩ７の
みの機能診断をする場合、バウンダリスキャンテストデ
ータ２５は、ＬＳＩ７のバウンダリスキャンテストポー
ト２６に入力され、ＬＳＩ７内部の機能診断が完了する
と診断結果はＬＳＩ７のバウンダリスキャンテストポー
ト２９から分岐手段８の分岐入力１９に入力される。中
継手段３は、分岐手段８の分岐スイッチ２２を分岐入力
１９側に倒すとともに分岐スイッチ２３を分岐出力２０
側に倒すことで、ＬＳＩ９，１１の状態に影響を与える
ことなく、ＬＳＩ７の機能診断結果データを分岐手段８
の分岐出力２０から直接受取る。
データ２５中の付加情報に従って特定のＬＳＩにテスト
データと搬送クロックを供給する。中継手段３は、分岐
手段８，１０の分岐スイッチ２２，２３を制御すること
により、診断項目毎に指定されたバウンダリスキャンチ
ェインを主要回路２上に構成する。例えば、ＬＳＩ７の
みの機能診断をする場合、バウンダリスキャンテストデ
ータ２５は、ＬＳＩ７のバウンダリスキャンテストポー
ト２６に入力され、ＬＳＩ７内部の機能診断が完了する
と診断結果はＬＳＩ７のバウンダリスキャンテストポー
ト２９から分岐手段８の分岐入力１９に入力される。中
継手段３は、分岐手段８の分岐スイッチ２２を分岐入力
１９側に倒すとともに分岐スイッチ２３を分岐出力２０
側に倒すことで、ＬＳＩ９，１１の状態に影響を与える
ことなく、ＬＳＩ７の機能診断結果データを分岐手段８
の分岐出力２０から直接受取る。
【００２０】また、例えば、ＬＳＩ９のみの機能診断を
する場合は、分岐手段８の分岐スイッチ２２を分岐入力
１８側に、分岐スイッチ２３を分岐出力２１側に接続
し、分岐手段１０の分岐スイッチ（図示せず）をＬＳＩ
９のバウンダリスキャンテストポート３０から入力され
るデータが中継手段３へ出力されるように接続すること
により、ＬＳＩ７，１１の状態に影響を与えることな
く、ＬＳＩ９の機能診断結果データが分岐手段１０から
中継手段３へ渡される。
する場合は、分岐手段８の分岐スイッチ２２を分岐入力
１８側に、分岐スイッチ２３を分岐出力２１側に接続
し、分岐手段１０の分岐スイッチ（図示せず）をＬＳＩ
９のバウンダリスキャンテストポート３０から入力され
るデータが中継手段３へ出力されるように接続すること
により、ＬＳＩ７，１１の状態に影響を与えることな
く、ＬＳＩ９の機能診断結果データが分岐手段１０から
中継手段３へ渡される。
【００２１】また、例えば、ＬＳＩ７とＬＳＩ９との結
線を診断する場合には、分岐手段８の分岐スイッチ２
２，２３をそれぞれ分岐入力１９側，分岐出力２１側に
接続することで、バウンダリスキャンテストポート２
６，２９，２７，３０を結ぶスキャンチェインを構成す
る。ＬＳＩ９のバウンダリスキャンテストポート３０か
らの結線診断結果データは、同様にして分岐手段１０か
ら中継手段３に渡される。
線を診断する場合には、分岐手段８の分岐スイッチ２
２，２３をそれぞれ分岐入力１９側，分岐出力２１側に
接続することで、バウンダリスキャンテストポート２
６，２９，２７，３０を結ぶスキャンチェインを構成す
る。ＬＳＩ９のバウンダリスキャンテストポート３０か
らの結線診断結果データは、同様にして分岐手段１０か
ら中継手段３に渡される。
【００２２】なお、バウンダリスキャンテストポートを
備えたＬＳＩは、前提として図２のようなモードを備え
ている。すなわち、ＬＳＩの内部回路の良／不良とは無
関係に、バウンダリスキャンテストポートから与えられ
たデータを任意の出力ピンから唯出力するというモード
と、ＬＳＩの内部回路の良／不良とは無関係に、入力ピ
ンに入力されたデータをバウンダリスキャンテストポー
トから吸い上げるモードとを備えている。図２に示すよ
うに、ＬＳＩ７において、スイッチＳＷをオープンにし
て内部回路と出力ピンを切り離し、ＬＳＩ９において、
スイッチＳＷをオープンにして内部回路と入力ピンを切
り離すことにより、ＬＳＩ７，９の機能とは無関係にＬ
ＳＩ７とＬＳＩ９との結線を診断することができる。こ
の図２のように、ＬＳＩ７のバウンダリスキャンテスト
ポートに入力されるデータ列“１００１０”と、ＬＳＩ
９のバウンダリスキャンテストポートから出力されるデ
ータ列“１００１０”とが同じであれば、ＬＳＩ７とＬ
ＳＩ９との結線は正しいと診断される。異なれば結線が
悪いと診断される。
備えたＬＳＩは、前提として図２のようなモードを備え
ている。すなわち、ＬＳＩの内部回路の良／不良とは無
関係に、バウンダリスキャンテストポートから与えられ
たデータを任意の出力ピンから唯出力するというモード
と、ＬＳＩの内部回路の良／不良とは無関係に、入力ピ
ンに入力されたデータをバウンダリスキャンテストポー
トから吸い上げるモードとを備えている。図２に示すよ
うに、ＬＳＩ７において、スイッチＳＷをオープンにし
て内部回路と出力ピンを切り離し、ＬＳＩ９において、
スイッチＳＷをオープンにして内部回路と入力ピンを切
り離すことにより、ＬＳＩ７，９の機能とは無関係にＬ
ＳＩ７とＬＳＩ９との結線を診断することができる。こ
の図２のように、ＬＳＩ７のバウンダリスキャンテスト
ポートに入力されるデータ列“１００１０”と、ＬＳＩ
９のバウンダリスキャンテストポートから出力されるデ
ータ列“１００１０”とが同じであれば、ＬＳＩ７とＬ
ＳＩ９との結線は正しいと診断される。異なれば結線が
悪いと診断される。
【００２３】このようにして中継手段３が獲得したデー
タは、診断結果データ２４として、送信制御手段４およ
びＩＣカードインターフェース５を経てテスト装置１２
に送信される。診断結果データ２４は、ＩＣカードイン
ターフェース１３および受信手段１４を経て診断結果分
析手段１５により分析される。この分析は、“０１”パ
ターンの照合により、つまり、“１０１０”を送信した
場合、例えば“１１００”を受信すれば正常、“１１１
０”を受信すればＬＳＩ７が不良というように、極めて
簡単な判定アルゴリズムにより行うことができる。ま
た、その分析結果の表示は、例えば、ＩＣカード（テス
ト装置１２）を、ケーブルを介して分析結果が表示可能
な表示ボックスに接続して行えばよい。表示ボックスに
は、複数個のＬＥＤやＬＣＤ等により「ＯＫ（正常）」
「ＮＧ（不良）」等を表示できるようにしている。
タは、診断結果データ２４として、送信制御手段４およ
びＩＣカードインターフェース５を経てテスト装置１２
に送信される。診断結果データ２４は、ＩＣカードイン
ターフェース１３および受信手段１４を経て診断結果分
析手段１５により分析される。この分析は、“０１”パ
ターンの照合により、つまり、“１０１０”を送信した
場合、例えば“１１００”を受信すれば正常、“１１１
０”を受信すればＬＳＩ７が不良というように、極めて
簡単な判定アルゴリズムにより行うことができる。ま
た、その分析結果の表示は、例えば、ＩＣカード（テス
ト装置１２）を、ケーブルを介して分析結果が表示可能
な表示ボックスに接続して行えばよい。表示ボックスに
は、複数個のＬＥＤやＬＣＤ等により「ＯＫ（正常）」
「ＮＧ（不良）」等を表示できるようにしている。
【００２４】なお、ＩＣカードは、ユーザーが所持して
いる場合と、サービス提供センターで所持している場合
とが考えられるが、一般に、端末機器はユーザーにメン
テナンスを一切させないという契約によることが多いた
め、サービス提供センターの診断員が所持してユーザー
宅へ出掛けてテストを行うことになる。このようにし
て、テスト装置１２からＳＴＢ１に送られたバウンダリ
スキャンテストデータ２５は、中継手段３によって各Ｌ
ＳＩ７，９，１１に供給されるが、分岐手段８，１０を
制御することにより、その通信経路を選択可能なので診
断項目に応じて様々なスキャンチェインを構成すること
ができる。したがって、不具合個所を厳密に特定するこ
とができる。
いる場合と、サービス提供センターで所持している場合
とが考えられるが、一般に、端末機器はユーザーにメン
テナンスを一切させないという契約によることが多いた
め、サービス提供センターの診断員が所持してユーザー
宅へ出掛けてテストを行うことになる。このようにし
て、テスト装置１２からＳＴＢ１に送られたバウンダリ
スキャンテストデータ２５は、中継手段３によって各Ｌ
ＳＩ７，９，１１に供給されるが、分岐手段８，１０を
制御することにより、その通信経路を選択可能なので診
断項目に応じて様々なスキャンチェインを構成すること
ができる。したがって、不具合個所を厳密に特定するこ
とができる。
【００２５】この実施の形態によれば、テスト装置１２
のテストデータ生成手段１７によって生成されたバウン
ダリスキャンテストデータは、ＳＴＢ１に送信され、中
継手段３によって、メモリ（図示せず）上のデータに影
響を与えることなく、ＬＳＩのバウンダリスキャンテス
トポートに供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結
線を診断可能である。また、ＣＰＵ（図示せず）が関与
しないため、ＣＰＵバスに接続しているＬＳＩもＣＰＵ
バスに接続していないＬＳＩも診断可能である。したが
って、ＳＴＢ１のユーザーの環境に影響を与えることな
く、厳密でもれのない診断が可能である。
のテストデータ生成手段１７によって生成されたバウン
ダリスキャンテストデータは、ＳＴＢ１に送信され、中
継手段３によって、メモリ（図示せず）上のデータに影
響を与えることなく、ＬＳＩのバウンダリスキャンテス
トポートに供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結
線を診断可能である。また、ＣＰＵ（図示せず）が関与
しないため、ＣＰＵバスに接続しているＬＳＩもＣＰＵ
バスに接続していないＬＳＩも診断可能である。したが
って、ＳＴＢ１のユーザーの環境に影響を与えることな
く、厳密でもれのない診断が可能である。
【００２６】なお、ＩＣカード側に、ダウンロードデー
タ受信機能を設ければ、ＩＣカードに新規データ列を登
録することで新たな診断項目の追加が容易に可能とな
る。例えば、ＩＣカードにデータ受信ポートを設け、Ｐ
Ｃなどから新規データ列を送る。この場合、ＩＣカード
内のデータ格納メモリには、不揮発性で書き込み可能な
メモリ（フラッシュメモリ）等が適当である。
タ受信機能を設ければ、ＩＣカードに新規データ列を登
録することで新たな診断項目の追加が容易に可能とな
る。例えば、ＩＣカードにデータ受信ポートを設け、Ｐ
Ｃなどから新規データ列を送る。この場合、ＩＣカード
内のデータ格納メモリには、不揮発性で書き込み可能な
メモリ（フラッシュメモリ）等が適当である。
【００２７】また、ＳＴＢ１のＬＳＩ８〜１１として、
ＪＴＡＧ規格のバウンダリスキャンテストポートを備え
たＬＳＩを用い、バウンダリスキャンテストをＪＴＡＧ
規格に準拠して行うことにより、バウンダリスキャンテ
ストデータ作成時に、ＪＴＡＧ規格に準拠した既存の開
発支援装置を利用したり、工場出荷検査用のＩＣＴ（イ
ンサーキットテスタ）のＪＴＡＧ規格に準拠したテスト
パターンをそのまま利用するなど、バウンダリスキャン
テストデータの作成が容易にでき、かつ資産の継承も容
易になる。
ＪＴＡＧ規格のバウンダリスキャンテストポートを備え
たＬＳＩを用い、バウンダリスキャンテストをＪＴＡＧ
規格に準拠して行うことにより、バウンダリスキャンテ
ストデータ作成時に、ＪＴＡＧ規格に準拠した既存の開
発支援装置を利用したり、工場出荷検査用のＩＣＴ（イ
ンサーキットテスタ）のＪＴＡＧ規格に準拠したテスト
パターンをそのまま利用するなど、バウンダリスキャン
テストデータの作成が容易にでき、かつ資産の継承も容
易になる。
【００２８】また、この実施の形態では、テスト装置１
２をＩＣカードとしたので容易に携帯可能である。な
お、ＳＴＢ１にＰＣＭＣＩＡカードインターフェースを
備えてあり、テスト装置１２をＰＣＭＣＩＡカードとし
て構成しても同様の効果が得られる。また、テスト装置
１２とＳＴＢ１との間が、光ファイバー，同軸ケーブ
ル，光ファイバーと同軸ケーブルの混在構成，ツイスト
ペア線，または電波などの接続手段で接続され、これら
の接続手段を介してバウンダリスキャンテストデータお
よび診断結果データの送受信を行うようにしてもよい。
この場合、テスト装置１２をサービス提供センターに設
けてあり、センター側からテストを実施するものであ
る。
２をＩＣカードとしたので容易に携帯可能である。な
お、ＳＴＢ１にＰＣＭＣＩＡカードインターフェースを
備えてあり、テスト装置１２をＰＣＭＣＩＡカードとし
て構成しても同様の効果が得られる。また、テスト装置
１２とＳＴＢ１との間が、光ファイバー，同軸ケーブ
ル，光ファイバーと同軸ケーブルの混在構成，ツイスト
ペア線，または電波などの接続手段で接続され、これら
の接続手段を介してバウンダリスキャンテストデータお
よび診断結果データの送受信を行うようにしてもよい。
この場合、テスト装置１２をサービス提供センターに設
けてあり、センター側からテストを実施するものであ
る。
【００２９】なお、図１では、診断を行うＳＴＢ１の主
要回路２内に、３個のＬＳＩ７，９，１１と２個の分岐
手段８，１０を示したが、主要回路２内のＬＳＩの数や
分岐手段の数に制限がないことは言うまでもない。
要回路２内に、３個のＬＳＩ７，９，１１と２個の分岐
手段８，１０を示したが、主要回路２内のＬＳＩの数や
分岐手段の数に制限がないことは言うまでもない。
【００３０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、テスト装
置のテストデータ生成手段によって生成されたバウンダ
リスキャンテストデータは、ＳＴＢに送信され、中継手
段によって、ＳＴＢ内のメモリ上のデータに影響を与え
ることなく、ＬＳＩの入力用バウンダリスキャンテスト
ポートに供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結線
を診断可能である。また、ＳＴＢ内のＣＰＵが関与しな
いため、ＣＰＵバスに接続しているＬＳＩもＣＰＵバス
に接続していないＬＳＩも診断可能である。したがっ
て、ＳＴＢのユーザーの環境に影響を与えることなく、
厳密でもれのない診断が可能であるという効果が得られ
る。また、テスト装置をＩＣカードまたはＰＣＭＣＩＡ
カードで構成することにより、テスト装置を容易に携帯
することができる。
置のテストデータ生成手段によって生成されたバウンダ
リスキャンテストデータは、ＳＴＢに送信され、中継手
段によって、ＳＴＢ内のメモリ上のデータに影響を与え
ることなく、ＬＳＩの入力用バウンダリスキャンテスト
ポートに供給され、ＬＳＩの機能およびＬＳＩ間の結線
を診断可能である。また、ＳＴＢ内のＣＰＵが関与しな
いため、ＣＰＵバスに接続しているＬＳＩもＣＰＵバス
に接続していないＬＳＩも診断可能である。したがっ
て、ＳＴＢのユーザーの環境に影響を与えることなく、
厳密でもれのない診断が可能であるという効果が得られ
る。また、テスト装置をＩＣカードまたはＰＣＭＣＩＡ
カードで構成することにより、テスト装置を容易に携帯
することができる。
【図１】本発明の実施の形態におけるＳＴＢの診断方法
を説明するためのブロック図。
を説明するためのブロック図。
【図２】本発明の実施の形態におけるＳＴＢ内のＬＳＩ
間の結線の診断方法を説明するための図。
間の結線の診断方法を説明するための図。
１ ＳＴＢ ２ 主要回路 ３ 中継手段 ４ 送信制御手段 ５ ＩＣカードインターフェース ６ 受信制御手段 ７，９，１１ ＬＳＩ ８，１０ 分岐手段 １２ テスト装置 １３ ＩＣカードインターフェース １４ 受信手段 １５ 診断結果分析手段 １６ 送信手段 １７ テストデータ生成手段 １８，１９ 分岐入力 ２０，２１ 分岐出力 ２２，２３ 分岐スイッチ ２４ 診断結果データ ２５ バウンダリスキャンテストデータ ２６〜３１ バウンダリスキャンテストポート
Claims (7)
- 【請求項１】 入力用および出力用バウンダリスキャン
テストポートを有した半導体集積回路（以下「ＬＳＩ」
と記述する）で構成された主要回路と、バウンダリスキ
ャンテストデータを受信する受信制御手段と、前記受信
制御手段で受信したバウンダリスキャンテストデータを
前記主要回路の前記ＬＳＩの入力用バウンダリスキャン
テストポートに供給するとともに前記ＬＳＩの出力用バ
ウンダリスキャンテストポートから診断結果データを受
信する中継手段と、前記中継手段が受信した診断結果デ
ータを送信する送信制御手段とを備えたＣＡＴＶ等の双
方向サービスの端末装置（以下「ＳＴＢ」と記述する）
の診断を行う際、 バウンダリスキャンテストデータを生成するテストデー
タ生成手段と、前記テストデータ生成手段で生成された
バウンダリスキャンテストデータを前記ＳＴＢの受信制
御手段に送信する送信手段と、前記ＳＴＢの送信制御手
段から送信された診断結果データを受信する受信手段
と、前記受信手段が受信した診断結果データを分析する
診断結果分析手段とを備えたテスト装置を用いて、 前記テストデータ生成手段で生成されたバウンダリスキ
ャンテストデータを、前記送信手段，前記受信制御手段
および前記中継手段を介して前記主要回路のＬＳＩの入
力用バウンダリスキャンテストポートに供給し、前記Ｌ
ＳＩ内部の機能テストおよび前記ＬＳＩ間の結線テスト
を実施し、前記ＬＳＩの出力用バウンダリスキャンテス
トポートから出力されるテスト結果を診断結果データと
して、前記中継手段，前記送信制御手段および前記受信
手段を介して前記診断結果分析手段へ入力し、前記診断
結果分析手段で前記診断結果データを分析することを特
徴とするＳＴＢの診断方法。 - 【請求項２】 ＳＴＢの主要回路のＬＳＩの入力用およ
び出力用バウンダリスキャンテストポートは、ＪＴＡＧ
規格のバウンダリスキャンテストポートであり、バウン
ダリスキャンテストをＪＴＡＧ規格に準拠して行う請求
項１記載のＳＴＢの診断方法。 - 【請求項３】 テスト装置をＩＣカードで構成し、ＳＴ
ＢにＩＣカードインターフェースを設け、このＩＣカー
ドインターフェースを介して前記テスト装置と前記ＳＴ
Ｂ間でバウンダリスキャンテストデータおよび診断結果
データの送受信を行う請求項１または請求項２記載のＳ
ＴＢの診断方法。 - 【請求項４】 テスト装置をＰＣＭＣＩＡカードで構成
し、ＳＴＢにＰＣＭＣＩＡカードインターフェースを設
け、このＰＣＭＣＩＡカードインターフェースを介して
前記テスト装置と前記ＳＴＢ間でバウンダリスキャンテ
ストデータおよび診断結果データの送受信を行う請求項
１または請求項２記載のＳＴＢの診断方法。 - 【請求項５】 テスト装置とＳＴＢとの間を、光ファイ
バー，同軸ケーブル，光ファイバーと同軸ケーブルの混
在構成，ツイストペア線または電波などの接続手段で接
続し、この接続手段を介して前記テスト装置と前記ＳＴ
Ｂ間でバウンダリスキャンテストデータおよび診断結果
データの送受信を行う請求項１または請求項２記載のＳ
ＴＢの診断方法。 - 【請求項６】 入力用および出力用バウンダリスキャン
テストポートを有したＬＳＩで構成された主要回路と、
バウンダリスキャンテストデータを受信する受信制御手
段と、前記受信制御手段で受信したバウンダリスキャン
テストデータを前記主要回路の前記ＬＳＩの入力用バウ
ンダリスキャンテストポートに供給するとともに前記Ｌ
ＳＩの出力用バウンダリスキャンテストポートから診断
結果データを受信する中継手段と、前記中継手段が受信
した診断結果データを送信する送信制御手段とを備えた
ＳＴＢの診断を行う際に用い、 バウンダリスキャンテストデータを生成するテストデー
タ生成手段と、前記テストデータ生成手段で生成された
バウンダリスキャンテストデータを前記ＳＴＢの受信制
御手段に送信する送信手段と、前記ＳＴＢの送信制御手
段から送信された診断結果データを受信する受信手段
と、前記受信手段が受信した診断結果データを分析する
診断結果分析手段とを備えたＩＣカード。 - 【請求項７】 入力用および出力用バウンダリスキャン
テストポートを有したＬＳＩで構成された主要回路と、
バウンダリスキャンテストデータを受信する受信制御手
段と、前記受信制御手段で受信したバウンダリスキャン
テストデータを前記主要回路の前記ＬＳＩの入力用バウ
ンダリスキャンテストポートに供給するとともに前記Ｌ
ＳＩの出力用バウンダリスキャンテストポートから診断
結果データを受信する中継手段と、前記中継手段が受信
した診断結果データを送信する送信制御手段とを備えた
ＳＴＢの診断を行う際に用い、 バウンダリスキャンテストデータを生成するテストデー
タ生成手段と、前記テストデータ生成手段で生成された
バウンダリスキャンテストデータを前記ＳＴＢの受信制
御手段に送信する送信手段と、前記ＳＴＢの送信制御手
段から送信された診断結果データを受信する受信手段
と、前記受信手段が受信した診断結果データを分析する
診断結果分析手段とを備えたＰＣＭＣＩＡカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8319007A JPH10161901A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Ｓｔｂの診断方法とｉｃカードおよびｐｃｍｃｉａカード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8319007A JPH10161901A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Ｓｔｂの診断方法とｉｃカードおよびｐｃｍｃｉａカード |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10161901A true JPH10161901A (ja) | 1998-06-19 |
Family
ID=18105467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8319007A Pending JPH10161901A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Ｓｔｂの診断方法とｉｃカードおよびｐｃｍｃｉａカード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10161901A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012213168A (ja) * | 2001-03-20 | 2012-11-01 | Thomson Licensing | 遠隔診断の方法および遠隔診断を実行するセットトップ・ボックス |
| CN105357578A (zh) * | 2015-12-24 | 2016-02-24 | 深圳市九洲电器有限公司 | 一种机顶盒测试方法与装置 |
| US11409858B2 (en) | 2019-05-13 | 2022-08-09 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Authorized device or component determinations |
-
1996
- 1996-11-29 JP JP8319007A patent/JPH10161901A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012213168A (ja) * | 2001-03-20 | 2012-11-01 | Thomson Licensing | 遠隔診断の方法および遠隔診断を実行するセットトップ・ボックス |
| JP2015228681A (ja) * | 2001-03-20 | 2015-12-17 | トムソン ライセンシングＴｈｏｍｓｏｎ Ｌｉｃｅｎｓｉｎｇ | 遠隔診断の方法および遠隔診断を実行するセットトップ・ボックス |
| US9369701B2 (en) | 2001-03-20 | 2016-06-14 | Thomson Licensing | Method and system for remote diagnostics |
| US10659774B2 (en) | 2001-03-20 | 2020-05-19 | Interdigital Ce Patent Holdings | Method and system for remote diagnostics |
| CN105357578A (zh) * | 2015-12-24 | 2016-02-24 | 深圳市九洲电器有限公司 | 一种机顶盒测试方法与装置 |
| CN105357578B (zh) * | 2015-12-24 | 2018-07-24 | 深圳市九洲电器有限公司 | 一种机顶盒测试方法与装置 |
| US11409858B2 (en) | 2019-05-13 | 2022-08-09 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Authorized device or component determinations |
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