JP5458515B2 - 光線路監視装置 - Google Patents
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Description
また、近年、このような光パルス試験器と光パワーメータ(OPM:Optical Power Meter)とパーソナルコンピュータとを組み合わせた光線路監視システムが実用化されている。この光線路監視システムは、光パルス試験器と光パワーメータとをパーソナルコンピュータによって制御するものであり、光通信用の光線路に適用されるものである。すなわち、この光線路監視システムは、パーソナルコンピュータによる制御の下で、光パワーメータが光線路から受光される光通信信号のレベルを検出し、この光信号レベルが異常な場合に光パルス試験器が光線路の異常個所を特定するものである。
例えば下記特許文献1には、上記光パルス試験器の詳細が開示されている。
また、光線路測定装置は、監視対象である光線路に光パルスを照射すると共に当該光パルスによって得られる後方散乱光に基づいて測定データを生成し、コンピュータは、光線路測定装置から測定データを取得し、測定データに所定の演算処理を施すことにより光線路の異常個所を特定するので、つまり光線路測定装置とコンピュータとで測定処理と当該測定処理によって得られた測定データに対する演算処理とを分散処理するので、光線路測定装置の処理速度が遅い場合であっても、短期的な異常現象の異常個所を確実に特定することが可能である。
図1は、本実施形態に係る光線路監視システムの機能構成を示すシステム構成図である。本光線路監視システムは、図示するようにコンピュータA、光パルス試験機B(OTDR:Optical Time Domain Reflectometer)及び通信線Cから構成されている。
上記動作説明では、測定データに基づくステップ4〜S9の処理を光パルス試験機BのCPU5が実行することを述べたが、CPU5の処理速度が遅い場合には、ステップS3〜S9の一連の処理を上述した200msの間に実行することができない場合が考えられる。本変形例は、このような状況に対処するために、測定データ格納用メモリ4aに記憶された測定データを通信線Cを介してコンピュータAに転送し、測定データに基づくステップ4〜S9の処理をコンピュータAで実行するものである。
Claims (2)
- 監視対象である光線路に光パルスを照射すると共に当該光パルスによって得られる後方散乱光を取得して平均化することにより測定データを生成する測定部と、
該測定部の動作を制御すると共に、当該測定部から取得した前記測定データに所定の演算処理を施すことにより前記光線路の異常個所を特定する演算処理部とを備え、
前記演算処理部は、前記測定部から前記測定データを取得すると前記測定部に次の測定の開始を指示し、前記測定部が前記平均化を予め規定された回数行うのに必要な時間内に前記演算処理を行うことを特徴とする光線路監視装置。 - 前記演算処理部は、光線路が健全なときに得られた測定データである基準データと監視時において得られた測定データとの差分データにおいて所定のしきい値を超える箇所を異常箇所として特定することを特徴とする請求項1記載の光線路監視装置。
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